JPH0548576B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0548576B2 JPH0548576B2 JP59204960A JP20496084A JPH0548576B2 JP H0548576 B2 JPH0548576 B2 JP H0548576B2 JP 59204960 A JP59204960 A JP 59204960A JP 20496084 A JP20496084 A JP 20496084A JP H0548576 B2 JPH0548576 B2 JP H0548576B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- ions
- flight
- chamber
- flight section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 94
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 15
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 14
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 14
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 22
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010220 ion permeability Effects 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/005—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は飛行時間型衝突解離質量分析装置に
関し、とくに飛行時間型質量分析装置と電場セク
タとを用いて衝突解離により質量分析をおこなう
飛行時間型衝突解離質量分析装置に関する。
関し、とくに飛行時間型質量分析装置と電場セク
タとを用いて衝突解離により質量分析をおこなう
飛行時間型衝突解離質量分析装置に関する。
(ロ) 従来技術
質量分析において有機化合物の分子量や分子構
造解析をおこなう場合、質量スペクトルの中にそ
の親イオンと娘イオンとが現われて、重要な分子
構造情報を与えるものである。しかしながら紙料
が混合物であつたり不純物が紙料に含まれている
場合には、混合物などのイオンもスペクトル中に
現われ、信頼できる分子構造を得る事が困難であ
る。
造解析をおこなう場合、質量スペクトルの中にそ
の親イオンと娘イオンとが現われて、重要な分子
構造情報を与えるものである。しかしながら紙料
が混合物であつたり不純物が紙料に含まれている
場合には、混合物などのイオンもスペクトル中に
現われ、信頼できる分子構造を得る事が困難であ
る。
そこでスペクトルに現われる特定のイオンの選
び、そのイオンをヘリウムなどの希ガスと衝突解
離させて得られるイオンから分子構造情報を得よ
うとする試みがなされている。（これを衝突解離
質量分析法という）実際には第４図Ａ，Ｂに示す
ような２台の質量分析装置を直結したものや、二
重収束型の質量分析装置などにより質量分析がお
こなわれている。第４図Ａ，Ｂにおいてａはイオ
ン化室、ｂは磁場セクタ、ｃは衝突室、ｄは電場
セクタ、ｅはイオン検出器である。
び、そのイオンをヘリウムなどの希ガスと衝突解
離させて得られるイオンから分子構造情報を得よ
うとする試みがなされている。（これを衝突解離
質量分析法という）実際には第４図Ａ，Ｂに示す
ような２台の質量分析装置を直結したものや、二
重収束型の質量分析装置などにより質量分析がお
こなわれている。第４図Ａ，Ｂにおいてａはイオ
ン化室、ｂは磁場セクタ、ｃは衝突室、ｄは電場
セクタ、ｅはイオン検出器である。
しかしながらこれらの質量分析装置において
は、磁場セクタｂを用いているため通常高質量数
のイオンに対応するためには磁界を強くしたり、
イオン加速電圧を下げる必要があり、そのため磁
場セクタｂが非常に大型になつたりイオン透過立
が低下するといつた不都合があつた。さらに磁場
セクタｂでのイオンの選別は、磁界強度を走査し
てなされるため、イオンの全量を測定することが
できず、したがつて試料の量がおおくなる傾向に
あつた。
は、磁場セクタｂを用いているため通常高質量数
のイオンに対応するためには磁界を強くしたり、
イオン加速電圧を下げる必要があり、そのため磁
場セクタｂが非常に大型になつたりイオン透過立
が低下するといつた不都合があつた。さらに磁場
セクタｂでのイオンの選別は、磁界強度を走査し
てなされるため、イオンの全量を測定することが
できず、したがつて試料の量がおおくなる傾向に
あつた。
(ハ) 目的
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、分析質量数域に制限がなく、高感度測定が可
能である飛行時間型衝突解離質量分析装置を提供
しようとするものである。
で、分析質量数域に制限がなく、高感度測定が可
能である飛行時間型衝突解離質量分析装置を提供
しようとするものである。
(ニ) 構成
そしてこの発明は、飛行時間型質量分析装置を
用いて衝突解離質量分析をおこなうよう構成さ
れ、そのさらに詳しい構成は、試料をイオン化す
るイオン化室と、一方端をそのイオン化室に相対
させるとともに一部に電圧印可時に内部を飛行す
るイオンをその運動エネルギーの差違によつて選
択するエネルギー選択手段の組み込まれたイオン
の第一飛行部と、第一飛行部のイオン化室側端部
近傍に設けられる第一引き出し電極とイオン化室
とに電気的に接続されるパルス電圧発生手段とで
構成されるイオンを等運動加速する第一イオン加
速手段と、第一飛行部その他方端に相対するよう
に設けられ上記エネルギー選択手段の非電圧印可
時に飛行イオンの至る第一検出器と、同じく第一
飛行部の他方端に第一飛行部の軸方向において偏
心する位置において相対するように設けられ内部
に希ガスが充填され上記エネルギー選択手段の電
圧印可時に飛行イオンの至る衝突室と、一方端で
その衝突室に相対するよう設けられるイオンの第
二飛行部と、衝突室と第二飛行部の衝突室側端部
近傍に設けられる第二引き出し電極と衝突室と第
二引き出し電極とに電気的に接続される直流電源
とで構成される第二イオン加速手段と、第二飛行
部の他方端に相対するように設けられ飛行イオン
の至る第二イオン検出器とからなることを特徴と
する飛行時間型衝突解離質量分析装置である。
用いて衝突解離質量分析をおこなうよう構成さ
れ、そのさらに詳しい構成は、試料をイオン化す
るイオン化室と、一方端をそのイオン化室に相対
させるとともに一部に電圧印可時に内部を飛行す
るイオンをその運動エネルギーの差違によつて選
択するエネルギー選択手段の組み込まれたイオン
の第一飛行部と、第一飛行部のイオン化室側端部
近傍に設けられる第一引き出し電極とイオン化室
とに電気的に接続されるパルス電圧発生手段とで
構成されるイオンを等運動加速する第一イオン加
速手段と、第一飛行部その他方端に相対するよう
に設けられ上記エネルギー選択手段の非電圧印可
時に飛行イオンの至る第一検出器と、同じく第一
飛行部の他方端に第一飛行部の軸方向において偏
心する位置において相対するように設けられ内部
に希ガスが充填され上記エネルギー選択手段の電
圧印可時に飛行イオンの至る衝突室と、一方端で
その衝突室に相対するよう設けられるイオンの第
二飛行部と、衝突室と第二飛行部の衝突室側端部
近傍に設けられる第二引き出し電極と衝突室と第
二引き出し電極とに電気的に接続される直流電源
とで構成される第二イオン加速手段と、第二飛行
部の他方端に相対するように設けられ飛行イオン
の至る第二イオン検出器とからなることを特徴と
する飛行時間型衝突解離質量分析装置である。
(ホ) 実施例
以下この発明の実施例を図面にて詳述するが、
この発明が以下の実施例に限定されるものではな
い。
この発明が以下の実施例に限定されるものではな
い。
第１図においてこの発明の２つの飛行時間型質
量分析装置を用いた実施例の構成について説明す
る。
量分析装置を用いた実施例の構成について説明す
る。
１は飛行時間型質量分析装置で、イオン化室
２、第一飛行部であるドリフト管３と、ドリフト
管３のイオン化室２側の端部近傍に設けられる第
一引き出し電極４と、イオン化室２と第一引き出
し電極４とに接続されるパルス電圧発生手段５
と、ドリフト管３の他方端に相対するように設け
られる第一イオン検出器６とで構成される。パル
ス電圧発生手段５は、観測すべき最小質量数のイ
オンがドリフト管３へ到達する時間より短かいパ
ルス幅のパルス電圧Voを発生させる。そしてパ
ルス電圧Voによりイオン化室２にて発生したイ
オンは、等運動量加速される。そして上記におい
て第一引き出し電極４とバルス電圧発生手段５が
第一イオン加速手段７である。８はエネルギー選
択手段である電場セクタで、イオンの持つ運動エ
ネルギの違いにより特定のイオンを選別し、選別
したイオンをヘリウムなどの希ガスが充満された
衝突室９へ放出する。１０は間隙で飛行時間型質
量分析装置１の軸ｚと同軸上に設けられ、特定の
イオンを電場セクタ８を動作させない時に通過さ
せるために設けられるものである。
２、第一飛行部であるドリフト管３と、ドリフト
管３のイオン化室２側の端部近傍に設けられる第
一引き出し電極４と、イオン化室２と第一引き出
し電極４とに接続されるパルス電圧発生手段５
と、ドリフト管３の他方端に相対するように設け
られる第一イオン検出器６とで構成される。パル
ス電圧発生手段５は、観測すべき最小質量数のイ
オンがドリフト管３へ到達する時間より短かいパ
ルス幅のパルス電圧Voを発生させる。そしてパ
ルス電圧Voによりイオン化室２にて発生したイ
オンは、等運動量加速される。そして上記におい
て第一引き出し電極４とバルス電圧発生手段５が
第一イオン加速手段７である。８はエネルギー選
択手段である電場セクタで、イオンの持つ運動エ
ネルギの違いにより特定のイオンを選別し、選別
したイオンをヘリウムなどの希ガスが充満された
衝突室９へ放出する。１０は間隙で飛行時間型質
量分析装置１の軸ｚと同軸上に設けられ、特定の
イオンを電場セクタ８を動作させない時に通過さ
せるために設けられるものである。
１１はもう一つの飛行時間型質量分析装置で、
一方端がその衝突室８に相対するように設けられ
るイオンの第二飛行部であるドリフト管１２と、
ドリフト管１２の衝突室８側端部に設けられる第
２引き出し電極１３と衝突室８と第２引き出し電
極１３間に直流電圧を印可する直流電源１４で構
成される第二イオン加速手段１６と、ドリフト管
１２の他方端に相対して設けられる第二イオン検
出器１５とで構成される従来公知のものである。
一方端がその衝突室８に相対するように設けられ
るイオンの第二飛行部であるドリフト管１２と、
ドリフト管１２の衝突室８側端部に設けられる第
２引き出し電極１３と衝突室８と第２引き出し電
極１３間に直流電圧を印可する直流電源１４で構
成される第二イオン加速手段１６と、ドリフト管
１２の他方端に相対して設けられる第二イオン検
出器１５とで構成される従来公知のものである。
次に第２図もまじえて動作について説明する。
まず最初に等運動量加速について説明する。
イオン化室２と第一引き出し電極４との間に距
離をＤ、イオンの質量をｍ、イオンの飛行方向を
ｚ、イオンの電荷量をｅ、パルス電圧発生装置手
段５が出力するパルス電圧Ｖを(t)とすると、この
イオンの運動方程式は、 ｍd2z／dt2＝eE(t)＝ｅ／ＤＶ(t)……（１−１
） ただしＥ(t)はパルス電圧をＶ(t)によつて発生す
る電界である。
離をＤ、イオンの質量をｍ、イオンの飛行方向を
ｚ、イオンの電荷量をｅ、パルス電圧発生装置手
段５が出力するパルス電圧Ｖを(t)とすると、この
イオンの運動方程式は、 ｍd2z／dt2＝eE(t)＝ｅ／ＤＶ(t)……（１−１
） ただしＥ(t)はパルス電圧をＶ(t)によつて発生す
る電界である。
となる。そしてこのイオンの時刻ｔでの速度ｖは
ｖ＝dz／dt＝ｅ／mD∫t pＶ(t)dt ……（１−２）
となる。すなわちこのイオンが距離Ｄを飛行する
時間により短い時間のパルス幅Δtをもつパルス
電圧Voにて加速されると、速度ｖは ｖ＝ｅ／mDVoΔt ……（１−３） となり、すべてのイオンにおいてイオンのもつ運
動量が等しくeVoΔt／Ｄになる事を示している。
さらに等運動加速されたイオンのもつ運動エネル
ギＷは、 Ｗ＝e2Vo2Δt2／2mD2 ……（１−４） となる。これは加速されたイオンのもつ運動エネ
ルギｗがイオンの質量によつて異なることを示し
ている。したがつてドリフト管３を出たイオン
は、次式を満足する特定のイオンのみが電場セク
タ８を通過する。
時間により短い時間のパルス幅Δtをもつパルス
電圧Voにて加速されると、速度ｖは ｖ＝ｅ／mDVoΔt ……（１−３） となり、すべてのイオンにおいてイオンのもつ運
動量が等しくeVoΔt／Ｄになる事を示している。
さらに等運動加速されたイオンのもつ運動エネル
ギＷは、 Ｗ＝e2Vo2Δt2／2mD2 ……（１−４） となる。これは加速されたイオンのもつ運動エネ
ルギｗがイオンの質量によつて異なることを示し
ている。したがつてドリフト管３を出たイオン
は、次式を満足する特定のイオンのみが電場セク
タ８を通過する。
ｍ＝eVO2Δt2／ReE1D2 ……（１−５）
ただしReは電場セクタ８内のイオン軌跡の半
径、E1は電場セクタ８内の電界である。
径、E1は電場セクタ８内の電界である。
電場セクタ８で選択されたイオンは、その後に
配置された衝突室９にて希ガスと衝突して衝突解
離される。衝突解離にて得られる娘イオンの質量
をm1、その親イオンの質量をm0とすると、衝突
解離はm0→m1＋（m0−m1）と表わせ、それぞれ
イオンの運動エネルギはそれぞれ Wo＝１／２movo2 ……（１−６） W1＝１／２m1vo2 ……（１−７） ただしVoは最初に質量moのイオンが加速され
た速度となる。つまり衝突解離されてもイオンの
速度は変化しないものである。したがつて飛行時
間型質量分析装置１１においては、等エネルギ加
速をおこなう。この時親イオンと娘イオンとは、
それぞれ次式に示す速度にてドリフト管１２内を
飛行したのち、第二イオン検出器１５に達するも
のである。
配置された衝突室９にて希ガスと衝突して衝突解
離される。衝突解離にて得られる娘イオンの質量
をm1、その親イオンの質量をm0とすると、衝突
解離はm0→m1＋（m0−m1）と表わせ、それぞれ
イオンの運動エネルギはそれぞれ Wo＝１／２movo2 ……（１−６） W1＝１／２m1vo2 ……（１−７） ただしVoは最初に質量moのイオンが加速され
た速度となる。つまり衝突解離されてもイオンの
速度は変化しないものである。したがつて飛行時
間型質量分析装置１１においては、等エネルギ加
速をおこなう。この時親イオンと娘イオンとは、
それぞれ次式に示す速度にてドリフト管１２内を
飛行したのち、第二イオン検出器１５に達するも
のである。
ただしV2は飛行時間型質量分析装置１１の加
速電圧 上式からわかるように、ドリフト管１２内を飛
行する時間は、質量に依存するところとなり第二
イオン検出器１５に達する時間からそれぞれの質
量の区別が可能となる。
速電圧 上式からわかるように、ドリフト管１２内を飛
行する時間は、質量に依存するところとなり第二
イオン検出器１５に達する時間からそれぞれの質
量の区別が可能となる。
ここで親イオンの電場セクタ８までの飛行時間
T1と、電場セクタ８内の飛行時間T2と、娘イオ
ンの飛行時間型質量分析装置１１内の飛行時間
T3とを求めると、 T1＝moDL1／eVoΔt ……（１−10） T2＝Reα／vo＝moDαRe／eVoΔt……（１−11
） ただしL1は第一引き出し電極４からの電場セ
クタ８までの距離、L2は第二引き出し電極１３
から第にイオン検出器１５までの距離、αは電場
セクタ８の入口と出口とのなす角度である。
T1と、電場セクタ８内の飛行時間T2と、娘イオ
ンの飛行時間型質量分析装置１１内の飛行時間
T3とを求めると、 T1＝moDL1／eVoΔt ……（１−10） T2＝Reα／vo＝moDαRe／eVoΔt……（１−11
） ただしL1は第一引き出し電極４からの電場セ
クタ８までの距離、L2は第二引き出し電極１３
から第にイオン検出器１５までの距離、αは電場
セクタ８の入口と出口とのなす角度である。
となる。
この飛行時間型衝突解離質量分析装置において
は、まず電場セクタ８を作動させずに、飛行時間
型質量分析装置１にて飛行時間（T1＋T2）を測
定し親イオンの質量を求める。このとき、親イオ
ンは間隙１０を通過し、電場セクタ８内のイオン
飛行時間距離と同一距離離れた位置に設けられる
第一イオン検出器６に達するものである。このと
き観測されるスペクトルS1を第２図に示す。そし
て娘イオンの質量は、電場セクタ８に親イオンが
通過するように電圧を印加し、第二イオン検出器
１５にて飛行時間T3を測定して求める。この場
合に親イオンが完全に解離しない場合には、第二
イオン検出器１５にて観測される最高質量イオン
すなわちもつとも飛行時間の長いイオンが親イオ
ンであるので、上記の娘イオンだけを単独で測定
する操作は不必要となる。このときに観測される
スペクトルS2を第２図に示す。
は、まず電場セクタ８を作動させずに、飛行時間
型質量分析装置１にて飛行時間（T1＋T2）を測
定し親イオンの質量を求める。このとき、親イオ
ンは間隙１０を通過し、電場セクタ８内のイオン
飛行時間距離と同一距離離れた位置に設けられる
第一イオン検出器６に達するものである。このと
き観測されるスペクトルS1を第２図に示す。そし
て娘イオンの質量は、電場セクタ８に親イオンが
通過するように電圧を印加し、第二イオン検出器
１５にて飛行時間T3を測定して求める。この場
合に親イオンが完全に解離しない場合には、第二
イオン検出器１５にて観測される最高質量イオン
すなわちもつとも飛行時間の長いイオンが親イオ
ンであるので、上記の娘イオンだけを単独で測定
する操作は不必要となる。このときに観測される
スペクトルS2を第２図に示す。
次にこの発明の他の実施例につい第３図に説明
する。
する。
この実施例では上記実施例のドリフト管３と電
場セクタ８を用いずに、かわりに偏向板１６，１
６を用いたものである。すなわちイオン化室２の
イオンは、第一引き出し電極４とパルス電圧発生
手段５とで構成される第一イオン加速手段７にて
等運動量加速されたのち、偏向板１６，１６にて
形成される電界により特定のイオンが選択されて
衝突室９へ導かれるものである。ここで偏向板１
６，１６と、電界を形成するために偏向板１６，
１６に接続される直流電源（図示しない）とがエ
ネルギ選択手段を構成する。そして衝突室９にて
衝突解離したイオンは、飛行時間型質量分析装置
１１にて測定されるものである。
場セクタ８を用いずに、かわりに偏向板１６，１
６を用いたものである。すなわちイオン化室２の
イオンは、第一引き出し電極４とパルス電圧発生
手段５とで構成される第一イオン加速手段７にて
等運動量加速されたのち、偏向板１６，１６にて
形成される電界により特定のイオンが選択されて
衝突室９へ導かれるものである。ここで偏向板１
６，１６と、電界を形成するために偏向板１６，
１６に接続される直流電源（図示しない）とがエ
ネルギ選択手段を構成する。そして衝突室９にて
衝突解離したイオンは、飛行時間型質量分析装置
１１にて測定されるものである。
(ハ) 効果
この発明によれば、飛行時間型質量分析装置と
電場セクタとを用いているため、磁場セクタによ
るものにある制約がないので、分析質量数域に制
限のない飛行時間型衝突解離質量分析装置が得ら
れる。またスリツトなどをもちいる必要がないた
め、イオン光学系が開放的であり高感度測定が可
能である。さらに走査の必要がない全量測定であ
るため、高速測定が可能で、しかも試料が微量で
よいものである。このことは高分子量有機化合物
などにおいて、試料が多量に得られない場合に特
に有効である。
電場セクタとを用いているため、磁場セクタによ
るものにある制約がないので、分析質量数域に制
限のない飛行時間型衝突解離質量分析装置が得ら
れる。またスリツトなどをもちいる必要がないた
め、イオン光学系が開放的であり高感度測定が可
能である。さらに走査の必要がない全量測定であ
るため、高速測定が可能で、しかも試料が微量で
よいものである。このことは高分子量有機化合物
などにおいて、試料が多量に得られない場合に特
に有効である。
第１図はこの発明の実施例構成略図、第２図は
実施例によつて観測されるスペクトル図、第３図
は他実施例の構成略図、第４図Ａ，Ｂは２つの質
量分析装置を直結したものと、二重収束型質量分
析装置による従来例構成略図である。 ２……イオン化室、３……ドリフト管（第一飛
行部）、６……第一イオン検出器、７……第一イ
オン加速手段、８……電場セクタ（エネルギ選択
手段）、９……衝突室、１２……ドリフト管（第
二飛行部）、１５……第二イオン検出器、１７…
…第二イオン加速手段。
実施例によつて観測されるスペクトル図、第３図
は他実施例の構成略図、第４図Ａ，Ｂは２つの質
量分析装置を直結したものと、二重収束型質量分
析装置による従来例構成略図である。 ２……イオン化室、３……ドリフト管（第一飛
行部）、６……第一イオン検出器、７……第一イ
オン加速手段、８……電場セクタ（エネルギ選択
手段）、９……衝突室、１２……ドリフト管（第
二飛行部）、１５……第二イオン検出器、１７…
…第二イオン加速手段。
Claims (1)
- １ 試料をイオン化するイオン化室と、一方端を
そのイオン化室に相対させるとともに一部に電圧
印可時に内部を飛行するイオンをその運動エネル
ギーの差違によつて選択するエネルギー選択手段
の組み込まれたイオンの第一飛行部と、第一飛行
部のイオン化室側端部近傍に設けられる第一引き
出し電極とイオン化室とに電気的に接続されるパ
ルス電圧発生手段とで構成されるイオンを等運動
加速する第一イオン加速手段と、第一飛行部その
他方端に相対するように設けられ上記エネルギー
選択手段の非電圧印可時に飛行イオンの至る第一
検出器と、同じく第一飛行部の他方端に第一飛行
部の軸方向において偏心する位置において相対す
るように設けられ内部に希ガスが充填され上記エ
ネルギー選択手段の電圧印可時に飛行イオンの至
る衝突室と、一方端でその衝突室に相対するよう
設けられるイオンの第二飛行部と、衝突室と第二
飛行部の衝突室側端部近傍に設けられる第二引き
出し電極と衝突室と第二引き出し電極とに電気的
に接続される直流電源とで構成される第二イオン
加速手段と、第二飛行部の他方端に相対するよう
に設けられ飛行イオンの至る第二イオン検出器と
からなることを特徴とする飛行時間型衝突解離質
量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204960A JPS6182652A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 飛行時間型衝突解離質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204960A JPS6182652A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 飛行時間型衝突解離質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182652A JPS6182652A (ja) | 1986-04-26 |
| JPH0548576B2 true JPH0548576B2 (ja) | 1993-07-21 |
Family
ID=16499153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59204960A Granted JPS6182652A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 飛行時間型衝突解離質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6182652A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1989006044A1 (en) * | 1987-12-24 | 1989-06-29 | Unisearch Limited | Mass spectrometer |
| DE3920566A1 (de) * | 1989-06-23 | 1991-01-10 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Ms-ms-flugzeit-massenspektrometer |
| US5180914A (en) * | 1990-05-11 | 1993-01-19 | Kratos Analytical Limited | Mass spectrometry systems |
| US5202563A (en) * | 1991-05-16 | 1993-04-13 | The Johns Hopkins University | Tandem time-of-flight mass spectrometer |
| US6933497B2 (en) * | 2002-12-20 | 2005-08-23 | Per Septive Biosystems, Inc. | Time-of-flight mass analyzer with multiple flight paths |
-
1984
- 1984-09-29 JP JP59204960A patent/JPS6182652A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6182652A (ja) | 1986-04-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1249381A (en) | Low noise tandem quadrupole mass spectrometers and method | |
| US6348688B1 (en) | Tandem time-of-flight mass spectrometer with delayed extraction and method for use | |
| US5206508A (en) | Tandem mass spectrometry systems based on time-of-flight analyzer | |
| US7429728B2 (en) | Distance of flight spectrometer for MS and simultaneous scanless MS/MS | |
| US7564026B2 (en) | Linear TOF geometry for high sensitivity at high mass | |
| US5032722A (en) | MS-MS time-of-flight mass spectrometer | |
| EP1099237B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| JPH0468740B2 (ja) | ||
| US7148473B2 (en) | Time of flight mass spectrometer | |
| Tsai et al. | Multimass ion imaging detection: Application to photodissociation | |
| EP0456517B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| US4672204A (en) | Mass spectrometers | |
| JPS6229049A (ja) | 質量分析計 | |
| JP4790507B2 (ja) | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 | |
| JP2007509356A (ja) | 改善された質量分解能を有する飛行時間型質量分析装置及びその動作方法 | |
| JPH0548576B2 (ja) | ||
| JP2007005307A (ja) | 直交パルスイオンを検出する飛行時間質量分析計 | |
| EP2439764A2 (en) | Tandem time-of-flight mass spectrometer | |
| JPH0470735B2 (ja) | ||
| Geno et al. | 252Cf Plasma desorption mass spectrometry at low acceleration voltages using the electrostatic particle guide | |
| JPS63276860A (ja) | 表面解析装置 | |
| JP4273917B2 (ja) | 質量分析装置 | |
| US7381945B2 (en) | Non-linear time-of-flight mass spectrometer | |
| US6806467B1 (en) | Continuous time-of-flight ion mass spectrometer | |
| Toyoda et al. | A tandem time-of-flight mass spectrometer: combination of a multi-turn time-of-flight and a quadratic field mirror |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |