JPH053913B2 - - Google Patents
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- JPH053913B2 JPH053913B2 JP60036147A JP3614785A JPH053913B2 JP H053913 B2 JPH053913 B2 JP H053913B2 JP 60036147 A JP60036147 A JP 60036147A JP 3614785 A JP3614785 A JP 3614785A JP H053913 B2 JPH053913 B2 JP H053913B2
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 20
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に挿着して検査す
る両面の回路基板検査装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a mounted circuit board (hereinafter simply referred to as a circuit board) as an object to be inspected, which is assembled by mounting various electronic components on a flat circuit board. The present invention relates to a circuit board testing device that performs a final continuity test on a circuit board, and particularly relates to a double-sided circuit board testing device that tests various electronic components inserted onto both sides of a circuit board.
既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体として回路基板を多数のコンタクト
ピン（コンタクトプローブともいう）で導通検査
している。
This type of circuit board testing equipment, which has already been proposed, uses a large number of contact pins (also called contact probes) to test the circuit board for continuity, with various electronic components inserted on only one side of the circuit board. There is.
即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボー
ド上に多数のコンタクトピンを弾発的に植設し、
この各コンタクトピンを回路基板の一面に挿着さ
れた各電子部品から突出する回路基板の他面の導
体部分に上方又は下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて、電気的導通検査を施すようになつて
いる。 That is, the circuit board inspection device described above elastically plants a large number of contact pins on a pin board,
Each contact pin is brought into pressure contact with the conductor portion of the other side of the circuit board protruding from each electronic component inserted on one side of the circuit board by moving it up and down from above or below, thereby performing an electrical continuity test. It's becoming like that.
このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトピンを被検査体の他面側か
ら回路基板に接触導通させて測定検査が行われ
る。 In this way, the circuit board as the object to be inspected has protrusions made of various electronic components on only one side, and the other side of the circuit board forms the inspection circuit surface, so the contact pins are not placed under inspection. Measurement and inspection are performed by contacting and conducting the circuit board from the other side of the body.
しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の表裏、つまり、両面にそれぞれ各電子部品を挿
着して使用されれるため、これらの両面回路基板
の導通検査は、両面回路基板の上・下方向から同
時に、しかも、一挙に一工程で導通検査すること
が望まれている。 However, in order to miniaturize the various electronic components used in recent circuit boards, they are forced to be arranged in high-density arrangements. Because these double-sided circuit boards are used by inserting them, it is desirable to conduct continuity tests on these double-sided circuit boards from above and below simultaneously, and all at once in one process.
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもの
であつて、回路基板の両面に挿着された各種の電
子部品を基板の上・下方向から一工程で一挙に、
しかも、確実に導通検査して検査作業の能率化及
び信頼性の向上を図るようにしたことを目的とす
る回路基板検査装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to simultaneously remove various electronic components inserted on both sides of a circuit board from the top and bottom of the board in one process.
Furthermore, the present invention provides a circuit board testing device which aims to improve the efficiency and reliability of testing work by performing continuity testing reliably.
本発明は、支持基板に複数の案内支柱を植設
し、この各案内支柱の上部に上部ピンボードを備
えた固定板を設け、この固定板の下位の上記各案
内支柱に上向きのコンタクトピを有する下部ピン
ボードを設け、この下部ピンボードの上位の上記
各案内支柱に保持部材を各ばねを介して浮動状態
に嵌装し、上記保持部材の両側に各一対のブラケ
ツトを付設し、この両ブラケツトに被検査体を載
せる抽出板と一体の各ガイド軸を水平に摺動自在
に設けて、被検査体としての両面回路基板を一工
程で確実に導通検査し得るように構成したもので
ある。
In the present invention, a plurality of guide columns are installed on a support substrate, a fixed plate with an upper pin board is provided on the upper part of each guide column, and an upward contact pin is provided on each of the guide columns below this fixed plate. A lower pin board is provided, a holding member is fitted in a floating state to each of the guide columns above the lower pin board via each spring, a pair of brackets are attached to both sides of the holding member, and both Each guide shaft, which is integrated with the extraction plate on which the object to be inspected is placed on the bracket, is provided so as to be able to slide horizontally, so that continuity testing can be carried out reliably in one step on a double-sided circuit board as the object to be inspected. .
以下、本発明を図示の一実施例について説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to an illustrated embodiment.
第１図乃至第５図において、符号１は、扁平な
支持基板であつて、この支持基板１の一側には、
下部コネクタ２が検査表示器３にリード線を介し
て接続するようにして設けられており、上記支持
基板１の他側には、電源に接続した電源スイツチ
４が付設されている。又、上記支持基板１上の各
角隅部には、複数（図では４本）の案内支柱５が
植設されており、この案内支柱５の上部には固定
板６が水平にして固着されている。さらに、この
固定板６には、上部コネクタ７が上記検査表示器
３にリード線を介して接続されており、この上部
コネクタ７および上記下部コネクタ２からの電流
が上記検査表示器３に流れて導通検査表示するよ
うになつている。 In FIGS. 1 to 5, reference numeral 1 denotes a flat support substrate, and on one side of this support substrate 1,
A lower connector 2 is provided to be connected to the inspection display 3 via a lead wire, and a power switch 4 connected to a power source is attached to the other side of the support substrate 1. Further, a plurality of (four in the figure) guide columns 5 are planted in each corner of the support substrate 1, and a fixing plate 6 is horizontally fixed to the upper part of the guide columns 5. ing. Furthermore, an upper connector 7 is connected to the above-mentioned inspection display 3 via a lead wire to this fixed plate 6, and current from this upper connector 7 and the above-mentioned lower connector 2 flows to the above-mentioned inspection display 3. It is designed to display a continuity test.
一方、第２図に示されるように、上記固定板６
の下位の上記各案内支柱５には、下部ピンボード
８が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の下部ピンボード８の上面には多数のコンタクト
ピン９が上向きに、しかも弾発的に昇降するよう
にして設けられている。なお、この各コンタクト
ピン９は、上記下部コネクタ２に各導電線を通し
て連結されている。又、上記下部ピンボード８の
上位の上記各案内支柱５には、扁平な保持部材１
０が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の保持部材１０と上記下部ピンボード８とは、後
述する各コイルばね１４と１５とによつて浮動状
態に保持されている。即ち、上記下部ピンボール
８の中程には、第２図に示されるように、各一対
をなすガイドピン１が立設されており、この各ガ
イドピン１１の直上に位置する上記保持部材１０
には各一対をなすガイドピン１２が貫通して植設
されている。さらに、この各ガイドピン１２の直
上に位置する上記固定板６には、各一対をなすガ
イドピン１３が垂設されている。さらに又、この
各ガイドピン１１と１２との間に位置する上記下
部ピンボード８と上記保持部材１０との間には、
各コイルばね１４が弾発的に介装されており、上
記各ガイドピン１２と１３との間に位置する上記
保持部材１０と上記固定板６との間には、各コイ
ルばね１５が弾発的に介装されており、特に、上
記各コイルばね１４は他のコイルばね１５の弾力
より強く形成されている。 On the other hand, as shown in FIG.
A lower pin board 8 is fitted into each of the lower guide columns 5 so as to be able to slide upwardly and downwardly, and a large number of contact pins 9 are arranged upwardly on the upper surface of the lower pin board 8. It is installed so that it can rise and fall elastically. The contact pins 9 are connected to the lower connector 2 through conductive wires. Further, each of the guide columns 5 above the lower pin board 8 is provided with a flat holding member 1.
The holding member 10 and the lower pin board 8 are held in a floating state by coil springs 14 and 15, which will be described later. That is, as shown in FIG. 2, a pair of guide pins 1 are provided upright in the middle of the lower pinball 8, and the holding member 10 located directly above each guide pin 11
A pair of guide pins 12 are implanted therethrough. Further, a pair of guide pins 13 are vertically provided on the fixed plate 6 located directly above each guide pin 12. Furthermore, between the lower pin board 8 and the holding member 10 located between the guide pins 11 and 12,
Each coil spring 14 is elastically interposed, and each coil spring 15 is elastically interposed between the holding member 10 and the fixed plate 6, which are located between the guide pins 12 and 13. In particular, each coil spring 14 is formed to have a stronger elasticity than the other coil springs 15.
他方、第１図および第３図に示されるように、
上記両案内支柱５に近接した上記保持部材１０上
の両側には、軸受１６ａを備えた各ブラケツト１
６が並設されており、この各軸受１６ａには、把
手１７を有する抽出板１８と一体をなす各ガイド
軸１９が水平にして摺動自在に設けられている。
又、略四角形をなす上記抽出板１８の上面の対角
線上には、一対の案内ピン２０が被検査体として
の回路基板Ｗを着脱自在に嵌合して位置規制する
ようにして植設されている。 On the other hand, as shown in FIGS. 1 and 3,
On both sides of the holding member 10 close to both the guide columns 5, each bracket 1 is provided with a bearing 16a.
6 are arranged in parallel, and each guide shaft 19, which is integral with an extraction plate 18 having a handle 17, is horizontally and slidably provided on each bearing 16a.
Further, a pair of guide pins 20 are implanted on the diagonal lines of the upper surface of the extraction plate 18, which has a substantially rectangular shape, so as to removably fit the circuit board W as the object to be inspected to regulate its position. There is.
なお、上記回路基板Ｗの両面には、前述したよ
うに、その両面に、各種の電子部品が添設されて
おり、上記回路基板Ｗの下面は、前記各コンタク
トピン９に弾発的に当接し得るようになつてい
る。（第３図参照）。 As mentioned above, various electronic components are attached to both sides of the circuit board W, and the bottom surface of the circuit board W elastically contacts each of the contact pins 9. It's becoming more accessible. (See Figure 3).
又一方、上記被検査体Ｗを載せた上記抽出板１
８の直上前記固定板６には、上部ピンボード２１
が垂設されており、この上部ピンボード２１の下
面には、多数のコンタクトピン２２がユニツト化
されて、しかも、着脱自在に付設されており、こ
の各コンタクトピン２２は、上記被検査体ｗの導
通接触部に弾発的に接触するようになつている。
又、上記上部ピンボード２１の下面には、複数の
押圧ピン２３が上記被検査体Ｗの上面を押圧し得
るようにして設けられており、この各押圧ピン２
３は上記被検査体Ｗの浮上りを防止するようにな
つている。又、上記多数のコンタクトピン２２
は、上記上部コネクタ７に各導電線を介して接続
されており、この上部コネクタ７は、上述したよ
うに前記検査表示器３にリード線で接続されてい
る。さらに、上記両ガイド軸１９の両端部には、
第２図に示されるように、各ストツパ２４，２５
が付設されており、この両ストツパ２４と２５
は、抽出板１８を把手１７で抽出したとき及び挿
入したときの位置規制をし得るようになつてい
る。さらに、上記抽出板１８の正面両側には、第
１図及び第４図に示されるように、一対の軸受２
６が垂直方向に嵌装されており、この両軸受２６
の頂面には、各係合孔２６ａが垂直に穿設されて
いる。又、この両軸受２６には、各ロツクハンド
ル２７が抜け出ないようにして摺動自在にして嵌
装されており、この各ロツクハンドル２７の偏倚
した位置に垂下した各係合ピン２８は、上記各係
合孔２６ａに係合するようになつている。さら
に、上記各ロツクハンドル２７の支軸２７ａの直
下に位置する上記保持部材１０の管軸１０ａに
は、近接スイツチからなる各作動スイツチS1，S2
が、第５図に示される作動開始用のタイマT1に
通電し得るようにして設けられている。従つて、
上記両ロツクハンドル２７は、抽出板１８を挿入
した後、両軸受２６の周りに回動することによ
り、上記各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合
すると、上記各支軸２７ａの下端部は上両管軸１
０ａに嵌合して抽出板１８の移動を一時的に固定
すると共、各作動スイツチS1S2をonし、これに
よつてタイマT1を作動して、導通検査を開始す
るようになつている。 On the other hand, the extraction plate 1 on which the object W to be inspected is mounted
An upper pin board 21 is mounted on the fixed plate 6 directly above the pin board 8.
A large number of contact pins 22 are attached to the lower surface of the upper pin board 21 as a unit and are detachably attached. It is designed to resiliently come into contact with the conductive contact part of.
Further, a plurality of pressing pins 23 are provided on the lower surface of the upper pin board 21 so as to be able to press the upper surface of the object W to be inspected.
3 is designed to prevent the object W to be inspected from floating up. In addition, the large number of contact pins 22
are connected to the upper connector 7 through conductive wires, and the upper connector 7 is connected to the inspection display 3 through lead wires as described above. Furthermore, at both ends of the guide shafts 19,
As shown in FIG. 2, each stopper 24, 25
are attached, and both stoppers 24 and 25
The handle 17 can control the position of the extraction plate 18 when extracted and inserted. Furthermore, a pair of bearings 2 are provided on both front sides of the extraction plate 18, as shown in FIGS. 1 and 4.
6 is fitted in the vertical direction, and both bearings 26
Each engagement hole 26a is perpendicularly bored in the top surface of. Further, each lock handle 27 is slidably fitted into both bearings 26 so as not to come off, and each engagement pin 28 hanging down at a biased position of each lock handle 27 is fitted in the above-mentioned manner. It is designed to engage with each engagement hole 26a. Further, on the tube shaft 10a of the holding member 10 located directly below the support shaft 27a of each of the lock handles 27, there are operating switches S 1 , S 2 each consisting of a proximity switch.
is provided so as to be able to energize the timer T1 for starting the operation shown in FIG. Therefore,
After the extraction plate 18 is inserted, the lock handles 27 are rotated around the bearings 26, and when the engagement pins 28 are engaged with the engagement holes 26a, the lock handles 27 are rotated around the bearings 26, and when the engagement pins 28 are engaged with the engagement holes 26a, the support shafts 27a are rotated. The lower end is the upper tube shaft 1
0a to temporarily fix the movement of the extraction plate 18, and turn on each operating switch S1S2 , thereby activating timer T1 and starting the continuity test . ing.
他方、第１図及び第２図において、上記支持基
板１の後部上面には、ブレーキ付のモータ２９が
設置されており、このモータ２９の出力軸２９ａ
には、第１カム部材３０、及び第２カム部材３１
が軸装されている。又この第１カム部材３０の回
転通路上に位置する上記支持基板１には、各ブラ
ケツト３２が付設されており、この各ブラケツト
３２には各作動槓杆３３が各支軸３４によつて軸
装されている。さらに、この各作動槓杆３３の一
端部３３ａは上記第１カム部材３０の一部に接触
しており、上記各作動槓杆３３の他端部３３ａ
は、上記下部ピンボード８の底面に付設された各
当接杆８ａに前記各コイルばね１４，１５の弾力
によつて弾発的に当接している。さらに又、上記
第２カム部材３１の回転通路上には、上限スイツ
チS3と下限スイツチS4とが設けられており、この
上限スイツチS3は、上記下部ピンボード８が最上
位置に扛上したとき、上記モータ２９の回転を停
止するものであり、上記下限スイツチS4は、導通
検査用のタイマT2が動作し、その終了後に、再
び、上記モータ２９を駆動して約180°回動して上
記回動して上記下部ピンボード８を最上位置に降
下したときに作動するようになつている。 On the other hand, in FIGS. 1 and 2, a motor 29 with a brake is installed on the rear upper surface of the support substrate 1, and an output shaft 29a of this motor 29
includes a first cam member 30 and a second cam member 31.
is mounted on the shaft. Further, each bracket 32 is attached to the support substrate 1 located on the rotation path of the first cam member 30, and each operating lever 33 is mounted on each bracket 32 by a respective support shaft 34. has been done. Further, one end 33a of each operating lever 33 is in contact with a part of the first cam member 30, and the other end 33a of each operating lever 33 is in contact with a portion of the first cam member 30.
are resiliently abutted against respective contact rods 8a attached to the bottom surface of the lower pin board 8 by the elasticity of the respective coil springs 14 and 15. Furthermore, an upper limit switch S 3 and a lower limit switch S 4 are provided on the rotation path of the second cam member 31, and the upper limit switch S 3 is activated when the lower pin board 8 is lifted to the uppermost position. When this occurs, the rotation of the motor 29 is stopped, and the lower limit switch S4 operates the timer T2 for continuity testing, and after that, the motor 29 is driven again approximately 180 degrees. It is designed to operate when the lower pin board 8 is lowered to the uppermost position by rotating and lowering the lower pin board 8 to the uppermost position.
第５図に示される電気回路は、本発明に組込ま
れる電気回路であつて、この電気回路の給電回路
には、作動開始時のタイマT1を作動する作動ス
イツチS1，S2、上記タイマT1によるリレーで作
動するモータ２９、上記上限スイツチS3の作動に
よつて作動開始し、しかも導通検査所要時間を規
制するタイマT2、上記下限スイツチS4の作動に
よつて上記モータ２９の動作を制御する各リレー
R1，R2，R3がそれぞれ付設されている。 The electric circuit shown in FIG. 5 is an electric circuit incorporated in the present invention, and the power supply circuit of this electric circuit includes actuating switches S 1 and S 2 that actuate the timer T 1 at the start of operation, and the above-mentioned timer T 1 . The motor 29 is activated by the relay T1 , starts operation by the operation of the upper limit switch S3 , and is started by the operation of the timer T2 , which regulates the time required for the continuity test, and the lower limit switch S4 . Each relay that controls the operation
R 1 , R 2 and R 3 are attached respectively.
以下、本発明の作用について説明する。 Hereinafter, the effects of the present invention will be explained.
従つて、今、被検査体としての両面回路基板Ｗ
を抽出板１８に挿着するには、予め、上記両ロツ
クハンドル２７を上方へ引き上げて僅かに外方へ
回動することにより、上記各係合孔２６ａから各
係合ピン２８を引き抜く。これによつて、上記両
ロツクハンドル２７の支軸２７ａは保持部材１０
の管軸１０ａから引き抜かれると共に、両作動ス
イツチS1，S2をOFFする。 Therefore, now the double-sided circuit board W as the object to be inspected
In order to insert the lock handles 27 into the extraction plate 18, the lock handles 27 are first pulled up and rotated slightly outward, thereby pulling out the engagement pins 28 from the engagement holes 26a. As a result, the support shafts 27a of both lock handles 27 are attached to the holding member 10.
is pulled out from the tube shaft 10a, and both operating switches S 1 and S 2 are turned OFF.
次に、上記抽出板１８の把手１７を手で前方へ
引き出すことにより、この抽出板１８と一体の両
ガイド軸１９は、各ブラケツト１６の軸受１６ａ
に案内されて前方へ摺動する。 Next, by manually pulling out the handle 17 of the extractor plate 18 forward, both guide shafts 19 integrated with the extractor plate 18 can be attached to the bearings 16a of each bracket 16.
It slides forward as it is guided by.
このようにして前方へ引き出された上記抽出板
１８の各案内ピン２０には、第３図に示されるよ
うに、両面回路基板Ｗが挿着される。次に再び、
上記抽出板１８を原位置に挿入すると共に、前記
両ロツクハンドル２７を互に内がわたに向つて回
動することにより、この両ロツクハンドル２７の
各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合して降下
すると同時に、各作動スイツチS1，S2をONす
る。すると、タイマT1が作動して、数秒後に、
モータ２９が駆動する。すると、このモータ２９
の出力軸２９ａに軸装された第１カム部材３０と
第２カム部材３１は共に回転するので、この第１
カム部材３０は、作動槓杆３３を支軸３４の周り
に右旋する。これによつて、この作動槓杆３３の
他端部３３ａが下部ピンボード８及び保持部材１
０を上記各コイルばね１４，１５の弾力に抗して
扛上する。 As shown in FIG. 3, a double-sided circuit board W is inserted into each guide pin 20 of the extraction plate 18 that has been pulled forward in this manner. Then again,
By inserting the extraction plate 18 into the original position and rotating both the lock handles 27 toward each other, each engagement pin 28 of both lock handles 27 is inserted into each engagement hole 26a. At the same time as it engages and descends, each operating switch S 1 and S 2 is turned on. Then, timer T 1 is activated and after a few seconds,
Motor 29 is driven. Then, this motor 29
Since the first cam member 30 and the second cam member 31, which are mounted on the output shaft 29a of the
The cam member 30 rotates the operating lever 33 to the right around the support shaft 34. As a result, the other end 33a of the operating lever 33 is connected to the lower pin board 8 and the holding member 1.
0 is lifted up against the elasticity of each of the coil springs 14 and 15.
なお、こゝで注目すべき点は、上記コイルばね
１５は他のコイルばね１４よりも、弱い弾力で形
成されている関係上、上部ピンボード２１の各コ
ンタクトピン２２に対し、両面回路基板Ｗの各電
子部品の導通接点を軽く接触させる。これによつ
て、被検査体として回路基板Ｗに無理な応力を与
えないようにしている。次に、上記下部ピンボー
ド８の各コンタクトピン９を上記両面回路基板Ｗ
の裏面の導通接点に圧接させる。このとき、第２
カム部材３１が上限スイツチS3をONする。する
と、タイマT2が設定時間中作動して前記検査表
示器３に導通検査による結果を表示する。しかし
て、タイマT2が一定時間経過すると、リレーが
作動して上記モータ２９を駆動するので、上記第
１カム部材３０が作動槓杆３３を支軸３４の周り
に左旋するので、上記下部ピンボード８及び保持
部材１０は、共に自重によつて下限位置に降下す
ると同時に、第２カム部材３１が下限スイツチS4
を作動するので、上記モータ２９の駆動は停止す
る。次に、上記両ロツクハンドル２７を上方へ引
き上げて外方へ回動することにより、保持部材１
０の管軸１０ａから支軸２７ａを引き抜き、これ
によつて、ロツク解除した後、上記抽出板１８の
把手１７を手で前方へ引き出すことにより、上記
両面回路基板Ｗを取出すことができる。 Note that the coil spring 15 has a weaker elasticity than the other coil springs 14, so that the contact pins 22 of the upper pin board 21 are attached to the double-sided circuit board W. Lightly touch the conductive contacts of each electronic component. This prevents excessive stress from being applied to the circuit board W as the object to be inspected. Next, each contact pin 9 of the lower pin board 8 is connected to the double-sided circuit board W.
Press the conductive contact on the back side of the At this time, the second
The cam member 31 turns on the upper limit switch S3 . Then, the timer T2 operates for a set period of time and displays the result of the continuity test on the test display 3. When the timer T2 has elapsed for a certain period of time, the relay is activated to drive the motor 29, and the first cam member 30 rotates the operating lever 33 to the left around the support shaft 34, so that the lower pin board 8 and the holding member 10 both descend to the lower limit position by their own weight, and at the same time, the second cam member 31 moves the lower limit switch S 4
, the drive of the motor 29 is stopped. Next, by pulling up both lock handles 27 and rotating them outward, the holding member 1
After pulling out the support shaft 27a from the tube shaft 10a of the double-sided circuit board W to release the lock, the double-sided circuit board W can be taken out by manually pulling out the handle 17 of the extraction plate 18 forward.
このようにして、上記両面回路基板Ｗの導通検
査は、反復継続して行われるようになつている。 In this way, the continuity test of the double-sided circuit board W is repeatedly and continuously performed.
以上述べたように本発明によれば、支持基板１
に複数の案内支柱５を植設し、この各案内支柱５
の上部に上部ピンボード２１を備えた固定板６を
設け、この固体板６の下位の上記各案内支柱５に
上向きのコンタクトピン９を有する下部ピンボー
ド８を設け、この下部ピンボード８の上位の上記
各案内支柱５に保持部材１０を各ばね１４，１５
を介して浮動状態に嵌装し、上記保持部材１０の
両側に各一対のブラケツト１６を付設し、この両
ブラケツト１６に被検査体Ｗを載せる抽出板１８
と一体の各ガイド１９を水平にして摺動自在に設
けてあるので、被検査体ｗとして両面回路基板の
導通検査を一工程で一挙に、しかも、確実に行う
ことができるばかりでなく、取扱い操作も簡単で
あるとともに、上部ピンボード２１や下部ピンボ
ード８の微細な各コンタクトピン９，２２を折曲
げたり、損傷することなく長期に亘つて使用する
ことができる。
As described above, according to the present invention, the support substrate 1
A plurality of guide posts 5 are installed in the
A fixed plate 6 with an upper pin board 21 is provided on the upper part of the solid plate 6, and a lower pin board 8 with upward contact pins 9 is provided on each of the guide columns 5 below the solid plate 6. The holding member 10 is attached to each of the springs 14 and 15 on each of the guide columns 5.
A pair of brackets 16 are attached to both sides of the holding member 10, and an extraction plate 18 is fitted in a floating state via a
Since each guide 19 integrated with the board is installed horizontally and slidably, it is not only possible to conduct continuity tests on double-sided circuit boards as objects to be tested w in one step, but also to ensure ease of handling. It is easy to operate and can be used for a long period of time without bending or damaging the fine contact pins 9 and 22 of the upper pin board 21 and the lower pin board 8.
第１図は、本発明による回路基板検査装置の正
面図、第２図は同上側面図、第３図は、本発明の
要部を取出して示す拡大断面図、第４図は、第１
図中の鎖円Ａ部の拡大断面図、第５図は、本発明
に組込まれる電気回路図である。
１……支持基板、３……検査表示器、５……案
内支柱、６……固定板、８……下部ピンボード、
９……コンタクトピン、１０……保持部材、１６
……ブラケツト、１８……抽出板、２１……上部
ピンボード、２２……コンタクトピン、２７……
ロツクハンドル、２８……係合ピン、２９……モ
ータ、３０……第１カム部材、３１……第２カム
部材、３３……作動槓杆。
FIG. 1 is a front view of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the same, FIG. 3 is an enlarged sectional view showing main parts of the present invention, and FIG.
FIG. 5, which is an enlarged sectional view of chain circle A in the figure, is an electric circuit diagram incorporated in the present invention. 1... Support board, 3... Inspection display, 5... Guide column, 6... Fixed plate, 8... Lower pin board,
9... Contact pin, 10... Holding member, 16
... Bracket, 18 ... Extraction board, 21 ... Upper pin board, 22 ... Contact pin, 27 ...
Lock handle, 28...engaging pin, 29...motor, 30...first cam member, 31...second cam member, 33...operating lever.
Claims (1)
案内支柱の上部に下向きのコンタクトピンを有す
る上部ピンボードを備えた固定板を設け、この固
定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタク
トピンを有する下部ピンボードを上下に移動自在
に支持し、この下部ピンボードの上位で、しかも
前記上部ピンボードの下位において上記各案内支
柱に保持部材を各ばねを介して浮動状態に嵌装
し、上記保持部材の両側に各一対のブラケツトを
付設し、この両ブラケツトに被検査体を載せる抽
出板と一体の各ガイド軸を水平にして摺動自在に
設け、上記下部ピンボード及び保持部材をカム部
材で昇降可能にしたことを特徴とする回路基板検
査装置。 ２ 下部ピンボードに位置するコイルばねを保持
部材の位置するコイルばねより強いばねにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の回路
基板検査装置。[Claims] 1. A plurality of guide columns are installed on a support substrate, a fixing plate having an upper pin board having downward contact pins is provided on top of each guide column, and the above-mentioned guide columns below the fixing plate are provided. A lower pin board having upward contact pins is supported on each guide column so as to be movable up and down, and a holding member is attached to each guide column via each spring above the lower pin board and below the upper pin board. A pair of brackets are attached to each side of the holding member, and guide shafts integral with the extraction plate on which the object to be inspected is placed on both brackets are horizontally provided and slidably mounted. A circuit board inspection device characterized in that a lower pin board and a holding member can be raised and lowered by a cam member. 2. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein the coil spring located on the lower pin board is made stronger than the coil spring located on the holding member.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61195367A JPS61195367A (en) | 1986-08-29 |
| JPH053913B2 true JPH053913B2 (en) | 1993-01-18 |
Family
ID=12461677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60036147A Granted JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61195367A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104111386A (en) * | 2013-04-18 | 2014-10-22 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | PCB test device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP60036147A patent/JPS61195367A/en active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61195367A (en) | 1986-08-29 |
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