JPH0538791U - IC contactor - Google Patents

IC contactor

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JPH0538791U
JPH0538791U JP9571491U JP9571491U JPH0538791U JP H0538791 U JPH0538791 U JP H0538791U JP 9571491 U JP9571491 U JP 9571491U JP 9571491 U JP9571491 U JP 9571491U JP H0538791 U JPH0538791 U JP H0538791U
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JP
Japan
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contactor
lead
socket
leads
positioning
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Application number
JP9571491U
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Japanese (ja)
Inventor
昌之 亀田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ICをそのリード曲りが生じないようにIC
ソケットに対し位置決めして各リードをICソケットの
ピン等の端子にコンタクトさせることができるようにす
る。 【構成】 ICをそのボディを受けることによって上記
ICソケットに対して位置決めする位置決め手段と、該
位置決め手段により位置決めされた状態のICのボディ
を吸着する吸着手段を設ける。
(57) [Summary] [Purpose] The IC is designed so that the lead bending does not occur.
Positioned with respect to the socket, each lead can be brought into contact with a terminal such as a pin of the IC socket. A positioning means for positioning the IC with respect to the IC socket by receiving the body thereof, and a suction means for sucking the body of the IC positioned by the positioning means are provided.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、ICコンタクタ、特にICをICソケットに電気的に接続するIC コンタクタに関する。 The present invention relates to an IC contactor, and more particularly to an IC contactor for electrically connecting an IC to an IC socket.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

ICの電気的特性の測定をするには、ICのリードと測定機の端子を電気的に 接続しなければならない。そして、そのICのリードと測定機の端子との間を接 続するための中継手段として、ソケット、測子(リーフ)、プローブピンがある が、測定データの信頼性、寿命、価格等の面でソケットが最も優れている。 In order to measure the electrical characteristics of the IC, the leads of the IC and the terminals of the measuring instrument must be electrically connected. There are sockets, probes, and probe pins as relaying means for connecting between the leads of the IC and the terminals of the measuring device. However, in terms of reliability of measurement data, life, price, etc. The socket is the best.

【0003】 図5(A)、(B)はそのようなICソケットの従来例の一を示すもので、( A)は斜視図、(B)はリードガイド部を示す拡大断面図である。 このソケットは、QFPIC用でポリプロピレン等の樹脂でトランスファーモ ールドされたソケット本体aに、レジンモールドICのリードに対応して孔を設 け、該各孔にバネ性のある導電性ピンbを挿入した構造を有している。 そして、ソケット本体aの略中央部の位置決めされるICのボディにあたると ころには、凹部cが設けられ、該凹部cにはICのボディを受ける可動受けdが これを向上きに付勢する図面に現われないスプリングを介して設けられている。 e、e、e、eは該可動受けdの4隅に設けられたリードガイド、f、f、f、 fはソケット本体aに設けられたリードガイドであり、該リードガイドf、f、 f、fは位置が固定であるのに対して、e、e、e、eは可動受けdと一体でソ ケット本体aに対しての位置が移動し得る。FIGS. 5A and 5B show an example of a conventional example of such an IC socket. FIG. 5A is a perspective view and FIG. 5B is an enlarged sectional view showing a lead guide portion. This socket is for QFPIC and is made of resin such as polypropylene. It has holes in the socket body a corresponding to the leads of the resin mold IC, and the conductive pin b with spring property is inserted into each hole. It has a structure. Further, a recess c is provided in the roller, which corresponds to the body of the IC to be positioned substantially in the center of the socket body a, and a movable receiver d for receiving the body of the IC urges the recess c to improve this. It is provided via a spring that does not appear in the drawing. e, e, e, e are lead guides provided at the four corners of the movable receiver d, f, f, f, f are lead guides provided in the socket body a, and the lead guides f, f, f , F are fixed in position, while e, e, e, e are movable with respect to the socket body a together with the movable receiver d.

【0004】 gはICのリードをソケット本体aのピンb、b、…にコンタクトさせるコン タクト用蓋、hはフック、i、i、i、iはICのリードをソケット本体aのピ ンb、b、…にコンタクトさせるべくリードを押えるリード押えである。 このようなICソケットを用いて測定する場合には、ICのボディを可動受け dの稍上方に位置させて落すと自ずとQFP型のICはそのリードがリードガイ ドe、e、e、e及びリードガイドf、f、f、fによって案内されることによ って位置決めされ、ボディが可動受けd上に位置し、そして、ICのリードが対 応するピンb上に位置した状態になる。 次に、蓋gを閉じるとリード押えi、i、i、iがQFP型ICの各辺のリー ドをピンb、b、…に押え付け、各リードとそれに対応するピンとの間をコンタ クトさせるのである。しかして、蓋gはリード曲りの本体aのピンb、b、…に ICのリードをコンタクトさせるICコンタクタといえる。[0004] g is a contact lid for contacting the IC lead with the pins b, b, ... Of the socket body a, h is a hook, and i, i, i, i are the IC leads with the pin b of the socket body a. , B, ... A lead retainer that retains the lead so as to contact it. When measuring with such an IC socket, if the body of the IC is positioned above the movable receiver d and dropped, the leads of the QFP type IC will naturally lead to the lead guides e, e, e, e and the leads. The body is positioned by being guided by the guides f, f, f, f, the body is positioned on the movable receiver d, and the lead of the IC is positioned on the corresponding pin b. Next, when the lid g is closed, the lead retainers i, i, i, i retain the leads on each side of the QFP type IC on the pins b, b, ... And contact between each lead and the corresponding pin. Let them do it. Thus, the lid g can be said to be an IC contactor for contacting the leads of the IC with the pins b, b, ... Of the bent body a.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

ところで、図5(A)、(B)に示すようなICソケットを用いた場合には、 図6(A)乃至(C)に示すようなICにリード曲りが生じた。 図6(A)に示すリード曲りは、ICをソケットに出し入れする際にICのリ ードがリードガイドe、e、e、e及びリードガイドf、f、f、fに触れるこ とによって発生する。 また、図6(B)、(C)に示すリード曲りは、リード押えi、i、i、iの 押え面がきちんとした位置になっていない場合に多い。 By the way, when an IC socket as shown in FIGS. 5A and 5B was used, lead bending occurred in the IC as shown in FIGS. 6A to 6C. The lead bending shown in FIG. 6 (A) is caused by the lead of the IC touching the lead guides e, e, e, e and the lead guides f, f, f, f when the IC is inserted into or removed from the socket. To do. The lead bending shown in FIGS. 6 (B) and 6 (C) is often caused when the pressing surfaces of the lead pressers i, i, i, i are not in the proper positions.

【0006】 本考案はこのような問題点を解決すべく為されたものであり、ICをリード曲 りが生じないようにICソケットに位置決めして各リードをICソケットのピン 等の端子にコンタクトさせることのできる新規なICコンタクタを提供すること を目的とする。The present invention has been made in order to solve such a problem. The IC is positioned in an IC socket so that lead bending does not occur, and each lead contacts a terminal such as a pin of the IC socket. It is an object of the present invention to provide a novel IC contactor that can be operated.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案ICコンタクタは、ICをそのボディを受けることによって上記ICソ ケットに対して位置決めする位置決め手段と、該位置決め手段により位置決めさ れた状態のICのボディを吸着する吸着手段と、からなることを特徴とする。 The IC contactor of the present invention comprises positioning means for positioning the IC with respect to the IC socket by receiving the body thereof, and suction means for sucking the body of the IC positioned by the positioning means. Is characterized by.

【0008】[0008]

【作用】 本考案ICコンタクタによれば、位置決め手段によってICをそのボディを案 内して位置決めをし、吸着手段によってICのボディを吸着するので、ICのリ ードに触れることなく位置決めができる。そして、該ICコンタクタによってボ ディを吸着して位置決めしたICのリードをICソケットの各ピン等の端子に接 触させることによりリード曲りなくコンタクトをとることができる。According to the IC contactor of the present invention, the positioning means positions the IC within its body, and the suction means sucks the body of the IC. Therefore, the IC contactor can be positioned without touching the lead of the IC. .. Then, by contacting the leads of the IC whose body is sucked and positioned by the IC contactor to the terminals such as pins of the IC socket, it is possible to make contact without bending the leads.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

以下、本考案ICコンタクタを図示実施例に従って詳細に説明する。 図1は本考案ICコンタクタの一つの実施例を示す断面図である。 1はICコンタクタの本体で、IC吸着側の面の四辺にリード逃げ抑止片2、 2、2、2(但し、そのうち2個2、2のみが図面に断面として現われる。)が 形成されている。 Hereinafter, the IC contactor of the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the IC contactor of the present invention. Reference numeral 1 is a main body of the IC contactor, and lead escape preventing pieces 2, 2, 2, 2 (however, only two 2, 2 appear as a cross section in the drawing) are formed on four sides of the IC suction side surface. ..

【0010】 3はICコンタクタ本体の中心部に軸方向に形成された位置決め体摺動孔で、 該孔3には位置決め体の支持筒4aが摺動自在に嵌挿されている。 位置決め体4は支持筒4aの先端に一体に形成され、QFPICのボディを上 から見たのと同程度の大きさで略同じ形状を有しており、IC位置決め側の面の 四辺にICのボディを案内する位置決め片5、5、5、5(但し、そのうち2個 5、5のみが断面として現われる。)が形成されている。Numeral 3 is a positioning body sliding hole formed in the central portion of the IC contactor body in the axial direction, and a support cylinder 4a of the positioning body is slidably fitted in the hole 3. The positioning body 4 is integrally formed at the tip of the support cylinder 4a, has a size similar to that of the body of the QFPIC as viewed from above, and has substantially the same shape. Positioning pieces 5, 5, 5, 5 for guiding the body (however, only two pieces 5, 5, 5 appear as a cross section) are formed.

【0011】 6は支持筒4aに外嵌された状態でICコンタクタの本体1と位置決め体4と の間に縮設されたスプリングで、位置決め体4をIC側へ付勢する。7は支持筒 5のICコンタクタ本体1から反IC側(図1における左側)に突出した部分に 取着されたストッパで、ICコンタクタ本体1の反IC側の面に係合することに よって位置決め体5のIC側への移動限界点を規定する。Reference numeral 6 denotes a spring that is contracted between the main body 1 of the IC contactor and the positioning body 4 while being externally fitted to the support cylinder 4 a, and urges the positioning body 4 toward the IC side. A stopper 7 is attached to a portion of the support cylinder 5 protruding from the IC contactor body 1 to the side opposite to the IC side (the left side in FIG. 1), and is positioned by engaging with the surface of the IC contactor body 1 opposite the IC side. The limit of movement of the body 5 to the IC side is defined.

【0012】 8は真空吸着具で、位置決め体4及び支持筒4aに形成された中心孔9に摺動 自在に嵌挿されている。 10はQFPIC、11はレジンからなるボディ(モールドパッケージ)、1 2、12、…はリードである。Reference numeral 8 denotes a vacuum suction tool, which is slidably fitted in a center hole 9 formed in the positioning body 4 and the support cylinder 4a. 10 is a QFPIC, 11 is a body (molded package) made of resin, 12, 12, ... Leads.

【0013】 本ICコンタクタでICをICソケット13にコンタクトさせるには、具体的 には、ICの各リード12、12、…をICソケット13の対応するピン14、 14、…(図面には2個14、14のみ現われる。)とコンタクトさせるには、 例えば次のようにする。 ICコンタクタをQFPIC10のボディ11に臨ませ、位置決め体4の位置 決め片5、5、5、5にICのボディ11の上半部が入り込み得るようにICコ ンタクタとICとの間の位置関係を調整し、そして真空吸着具8によりICのボ ディ11を直接真空吸着する。すると、IC10はそのボディ11にて位置決め 片5、5、5、5によって位置決めされる。In order to bring the IC into contact with the IC socket 13 with the present IC contactor, specifically, each lead 12, 12, ... Of the IC is connected to the corresponding pin 14, 14 ,. For example, the following is made to make contact with the individual 14 and 14). The IC contactor faces the body 11 of the QFPIC 10, and the positional relationship between the IC contactor and the IC is such that the upper half of the body 11 of the IC can enter the positioning pieces 5, 5, 5, 5 of the positioning body 4. Is adjusted, and the body 11 of the IC is directly vacuum-sucked by the vacuum suction tool 8. Then, the IC 10 is positioned on the body 11 by the positioning pieces 5, 5, 5, 5.

【0014】 ところで、ICコンタクタのリード逃げ抑止片2、2、2、2は、位置決めさ れたIC10のリード12、12、…に軽く触れるか、あるいはリード12、1 2、…との間に、例えば数十乃至数百μmの間隙15が生じるようにされている 。尚、図面ではリード逃げ抑止片2、2、2、2によってリード12、12、… をピン14、14、…に押し付けるのでないことを示すため、間隔を実際よりも 大きく描いた。 このようにリード逃げ抑止片2、2、2、2をリード12、12、…に軽く触 れるか、あるいはリード12、12、…との間に小さな間隙15が生じるように するのは、ICをICコンタクタによって位置決めして真空吸着したときリード 12、12、…に曲りが生じないようにするためである。By the way, the lead escape preventing pieces 2, 2, 2, 2 of the IC contactor are lightly touched by the leads 12, 12, ... Of the positioned IC 10, or between the leads 12, 12 ,. For example, a gap 15 of several tens to several hundreds of μm is formed. In the drawing, the lead escape prevention pieces 2, 2, 2, 2 do not press the leads 12, 12, ... On the pins 14, 14 ,. In this way, it is necessary to lightly touch the lead escape preventing pieces 2, 2, 2, 2 with the leads 12, 12, ... Or to make a small gap 15 between the leads 12, 12 ,. This is to prevent the leads 12, 12, ... from being bent when they are positioned by an IC contactor and sucked by vacuum.

【0015】 そして、ICコンタクタによってICを位置決めして真空吸着したら、ICコ ンタクタをソケット13に臨ませる。次に、ICコンタクタのソケット13に対 する位置を合せたら、具体的にはIC10の各リード12、12、…がそれと対 応するところのソケット13のピン14、14、…と位置が整合するようにした ら、ICコンタクタをICソケット13に接近させる。すると、ICの各リード 12、12、…がピン14、14、…に接触する。接触してももう少しICコン タクタを接近させるとピン14、14、…の弾性によってリード12、12、… とピン14、14、…とがある程度の強さをもって接触し、測定可能な状態にな る。 そこで、この状態で電気的特定の測定を行うのである。Then, after the IC is positioned by the IC contactor and sucked by vacuum, the IC contactor is exposed to the socket 13. Next, when the positions of the sockets 13 of the IC contactor are aligned, specifically, the leads 12, 12, ... Of the IC 10 are aligned with the pins 14, 14 ,. After that, the IC contactor is brought close to the IC socket 13. Then, the leads 12, 12, ... Of the IC come into contact with the pins 14, 14 ,. If the IC contactor is brought a little closer to the contact, the elasticity of the pins 14, 14, ... causes the leads 12, 12, ... to come into contact with the pins 14, 14, ... with a certain degree of strength, and the state becomes measurable. It Therefore, electrical specific measurement is performed in this state.

【0016】 尚、本ICコンタクタによれば、ICの各リード12、12、…がピン14、 14、…に接触した後、もう少しICコンタクタを接近させるとピン14、14 、…の弾性力によってリード12、12、…が図1における左側に曲る虞れはな い。というのは、リード逃げ抑止片5、5、5、5によってリード12、12、 …を受けてリード12、12、…の図1における左側に曲るのを抑止するからで ある。尚、ICコンタクタのICソケット12に対する位置を正確に制御できる 場合には、リード12、12、…の図1における左側に曲る虞れはなくすことが できるので、リード逃げ抑止片は不可欠ではない。According to the present IC contactor, when the leads 12, 12, ... Of the IC come into contact with the pins 14, 14, ... And then the IC contactor is moved a little closer, the elastic force of the pins 14, 14 ,. There is no fear that the leads 12, 12, ... Are bent to the left side in FIG. This is because the lead escape preventing pieces 5, 5, 5, 5 prevent the leads 12, 12, ... From being bent to the left side in FIG. If the position of the IC contactor with respect to the IC socket 12 can be accurately controlled, there is no fear that the leads 12, 12, ... Bend to the left side in FIG. 1, so the lead escape prevention piece is not essential. ..

【0017】 本ICコンタクタは、ICの位置決めをICのリードに全く触れることなく行 い、また、リード12、12、…をICコンタクタの一部によって押えることに よってではなく、ICソケット13のピン14、14、…の弾性力によってピン 14、14、…にコンタクトさせるので、リード曲りを発生させないで電気的特 性の測定を行うことができる。The present IC contactor positions the IC without touching the leads of the IC at all, and does not press the leads 12, 12, ... With a part of the IC contactor, but rather the pin of the IC socket 13. Since the pins 14, 14, ... Are brought into contact with each other by the elastic force of 14, 14, ..., Electrical characteristics can be measured without causing lead bending.

【0018】 図2は図1のICコンタクタの変形例を示す断面図である。 本変形例は、リード12、12、…を上側に折り曲げたタイプのQFPIC1 0aの測定ができるようにリード逃げ抑止片2、2、2、2の突出長さを、図1 の場合よりも短かくしたものである。FIG. 2 is a sectional view showing a modification of the IC contactor of FIG. In this modification, the lead escape prevention pieces 2, 2, 2 and 2 have a shorter projecting length than that of FIG. 1 so that the QFPIC 10a of the type in which the leads 12, 12, ... Are bent upward can be measured. It's been hidden.

【0019】 図3は本考案ICコンタクタの他の実施例を示す断面図である。 本実施例は、図1、図2のICコンタクタでは別体にされていたICコンタク タ本体1と、位置決め体4と、真空吸着具8を完全に一体に形成したもので、勿 論、スプリング6、ストッパ7は存在しない。 本考案は図3に示す態様においても実施することができる。FIG. 3 is a sectional view showing another embodiment of the IC contactor of the present invention. In the present embodiment, the IC contactor main body 1, the positioning body 4 and the vacuum suction tool 8 which are separate bodies in the IC contactors shown in FIGS. 1 and 2, are formed integrally as a matter of course. 6, there is no stopper 7. The present invention can also be implemented in the mode shown in FIG.

【0020】 尚、このような態様で実施するとICコンタクタの部品点数が少なくなり、I Cコンタクタの製造価格を低くすることができる。しかしながら、その反面にお いて真空吸着具8の先端面・位置決め片5、5、5、5・位置決め片2、2、2 、2間の位置関係が完全に固定されるので位置精度が悪い場合にはリードピッチ の小さな多ピンIC用には使用が難しくなるという欠点がある。0.5mmより もピッチが相当に小さなIC用の場合には図1に示すようなICコンタクタの方 が実用的と思われる。しかし、加工技術の発達が著しいので相当にリードピッチ の小さなICに対しても図3に示すようなICコンタクタを使用することができ るようになる可能性がある。If implemented in this manner, the number of parts of the IC contactor is reduced, and the manufacturing cost of the IC contactor can be reduced. However, on the other hand, when the positional accuracy between the tip end surface of the vacuum suction tool 8, the positioning pieces 5, 5, 5, 5 and the positioning pieces 2, 2, 2, 2 is completely fixed, the position accuracy is poor. Has a drawback that it is difficult to use for a multi-pin IC with a small lead pitch. For ICs with a pitch considerably smaller than 0.5 mm, the IC contactor as shown in Fig. 1 seems to be more practical. However, due to the remarkable progress in processing technology, there is a possibility that the IC contactor as shown in FIG. 3 can be used even for an IC having a considerably small lead pitch.

【0021】 図4は図3のICコンタクタの変形例を示す断面図である。 本変形例は、リード12、12、…を上側に折り曲げたタイプのQFPIC1 0aの測定ができるようにリード逃げ抑止片2、2、2、2の突出長さを図3の 場合よりも短かくしたものである。FIG. 4 is a sectional view showing a modification of the IC contactor of FIG. In this modification, the lead escape prevention pieces 2, 2, 2 and 2 have a shorter protruding length than that of FIG. 3 so that the QFPIC 10a of the type in which the leads 12, 12, ... It was done.

【0022】[0022]

【考案の効果】[Effect of the device]

本考案ICコンタクタは、ICをICソケットに電気的に接続するICコンタ クタにおいて、ICをそのボディを受けることによって上記ICソケットに対し て位置決めする位置決め手段と、該位置決め手段により位置決めされた状態のI Cのボディを吸着する吸着手段と、からなることを特徴とするものである。 従って、本考案ICコンタクタによれば、位置決め手段によってICをそのボ ディを案内して位置決めをし、吸着手段によってICのボディを吸着するので、 ICのリードに触れることなく位置決めができる。そして、該ICコンタクタに よってボディを吸着して位置決めしたICのリードをICソケットの各ピン等の 端子に接触させることによりリード曲りなくコンタクトをとることができる。 The IC contactor of the present invention is an IC contactor for electrically connecting an IC to an IC socket, and a positioning means for positioning the IC with respect to the IC socket by receiving a body of the IC contactor and a positioning means positioned by the positioning means. And a suction means for suctioning the body of I C. Therefore, according to the IC contactor of the present invention, the IC is positioned by guiding the body by the positioning means and the body of the IC is sucked by the suction means, so that the IC leads can be positioned without touching the leads. Then, by contacting the leads of the IC whose body is attracted and positioned by the IC contactor to the terminals such as pins of the IC socket, it is possible to make contact without bending the leads.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案ICコンタクタの一つの実施例を示す断
面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of an IC contactor of the present invention.

【図2】図1のICコンタクタの変形例を示す断面図で
ある。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a modified example of the IC contactor of FIG.

【図3】本考案ICコンタクタの他の実施例を示す断面
図である。
FIG. 3 is a sectional view showing another embodiment of the IC contactor of the present invention.

【図4】図3のICコンタクタの変形例を示す断面図で
ある。
4 is a cross-sectional view showing a modified example of the IC contactor of FIG.

【図5】(A)、(B)は従来例を示すもので、(A)
は斜視図、(B)はリードガイド部を示す拡大断面図で
ある。
5A and 5B show a conventional example, and FIG.
Is a perspective view, and (B) is an enlarged sectional view showing a lead guide portion.

【図6】(A)乃至(C)は従来の問題点である各別の
リード曲り例を示す図である。
FIG. 6A to FIG. 6C are diagrams showing different examples of lead bending, which are problems in the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 位置決め手段(位置決め体) 5 位置決め手段(位置決め片) 8 吸着手段(真空吸着具) 10 IC 11 ボディ 12 リード 13 ICソケット 14 ピン(端子) 4 positioning means (positioning body) 5 positioning means (positioning piece) 8 suction means (vacuum suction tool) 10 IC 11 body 12 lead 13 IC socket 14 pin (terminal)

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 ICをICソケットに電気的に接続する
ICコンタクタにおいて、 ICをそのボディを受けることによって上記ICソケッ
トに対して位置決めする位置決め手段と、 上記位置決め手段により位置決めされた状態のICのボ
ディを吸着する吸着手段と、 からなることを特徴とするICコンタクタ
1. An IC contactor for electrically connecting an IC to an IC socket, comprising: positioning means for positioning the IC with respect to the IC socket by receiving the body of the IC; and IC in a state of being positioned by the positioning means. An IC contactor comprising: a suction means for sucking a body;
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