JPH0535292A - 動的計画法照合装置 - Google Patents

動的計画法照合装置

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JPH0535292A
JPH0535292A JP3187157A JP18715791A JPH0535292A JP H0535292 A JPH0535292 A JP H0535292A JP 3187157 A JP3187157 A JP 3187157A JP 18715791 A JP18715791 A JP 18715791A JP H0535292 A JPH0535292 A JP H0535292A
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    • G10L15/12Speech classification or search using dynamic programming techniques, e.g. dynamic time warping [DTW]

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Abstract

(57)【要約】 【目的】あるしきい値によってDPパスの枝刈りを行う
音声認識に用いる動的計画法照合装置に関し,候補を記
憶するメモリを効率よく使い,照合性能の低下を防ぐこ
とを目的としている。 【構成】DP照合を行う際に各時刻での累積距離としき
い値とを比較し,以降のDPパスを制限する動的計画法
照合装置において,入力の各時刻で残ったDPパスの個
数を,監視部15により監視し,しきい値変更部16により
しきい値を変更する。DPパスの候補個数が多くなり過
ぎた場合には,しきい値を大きくし候補数を減らすこと
でメモリ容量を節約する。一方,DPパスの候補個数が
少なくなり過ぎた場合には,しきい値を小さくし候補数
を増やすことで照合性能を上げる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,あるしきい値によって
DP(DynamicProgramming) パスの枝刈りを行う音声認
識に用いる動的計画法(DP)照合装置であって,累積
距離メモリの容量を小さくし,また照合性能を向上させ
ることができるようにした動的計画法照合装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図9は従来の動的計画法照合装置の構成
図,図10は本発明に関係するDPパスの制限説明図,
図11は従来技術のブロック図,図12は従来のDP照
合処理フローチャートである。
【0003】従来の動的計画法照合装置では,音声認識
等にあたって,入力音声から抽出した音声の特徴量を,
入力時系列パターン読み込み部10により入力し,入力
時系列パターン記憶部11に記憶する。これと,あらか
じめ標準時系列パターン記憶部12に記憶している標準
時系列パターンとを動的計画法(DP)によって照合
し,累積距離の小さいものを照合結果とする。
【0004】具体的には,以下のとおりである。入力パ
ターンに関して各時刻での特徴量をai として,入力時
系列パターン読み込み部10により入力時系列パターン
記憶部11に読み込み,あらかじめ標準時系列パターン
記憶部12に記憶している標準パターンに関して,各時
刻の特徴量bj との距離d(i,j) の最適累積値G(i,j)
を計算し,照合結果を得る。累積値G(i,j) は例えば, G(1,1) =d(1,1) G(i,j) =d(i,j) + min{G(i-1,j) ,G(i-1,j-1) }・・・(式1) に基づき計算される。これにより全経路中の最適値を求
めることができる。
【0005】図10の(イ)は,その累積値を計算する
ための経路を図示したものである。その際に計算量を減
らすために,各時刻iにおいて以降に計算すべき経路を
制限する方法がある。これを図10の(ロ)に示す。
【0006】例えば図10の(ロ)では,時刻i−1の
累積距離中で,あるしきい値より小さいもの(G(i-1,
j) ,G(i-1,j+3) )に関してのみ以降の経路を計算す
るようにしている。このため,例えば時刻iにおいて
は,G(i,j+2) (図中×)は計算せず,計算量を削減す
ることができる。その際に各時刻において記憶すべき累
積距離は大幅に削減することができる。したがって,実
現の際には累積距離メモリを節約することができる。
【0007】これを実現するブロック構成を図11に示
し,その処理フローチャートを図12に示す。ここで,
G(i-1,k) は前時刻i−1において候補として残った累
積距離メモリ29中の累積距離のk番目の値であり,J
P(k) はその際の標準パターン中の特徴番号である。以
下,図12に示す(1) 〜(16)に従って説明する。
【0008】(1) 〜(2) 初めに入力パターン,標準パタ
ーンに関しての変数i,kの初期化を行う。 (3) 次いで計算すべき経路を選択する。
【0009】(4) 図11に示す局所距離計算部22によ
り,局所距離d(i,j) を計算する。(5) 続いて上記(式
1)を展開した際の, G(i,j) = min{d(i,j) +G(i,j) ,d(i,j) +G(i,j-1) } のいずれか一方である一時累積距離g(i,j) を,一時累
積距離計算部23により計算する。
【0010】(6) その後,もう一方の一時累積距離が計
算されていればそれと比較し,小さい方を最終累積距離
G(i,j) とし,まだ計算されていない場合には,これを
最終累積距離G(i,j) としてバッファ25に格納する。
【0011】(7) 〜(8) 計算すべき経路を全て終えたな
らば,次の処理(9) へ進む。 (9) しきい値θ(i) を,しきい値計算部26によって計
算する。ここで,しきい値は例えば, θ(i) = min{G(i,j) }+λ のように,各時刻における最小の累積距離に一定の余裕
分λを加えたものとする。
【0012】(10)バッファ25内のカウンタを初期化す
る。 (11)〜(14)累積距離判定部28により,バッファ25中
の累積距離のうち,しきい値より小さいものを選び,累
積距離メモリ29に格納する。
【0013】(15)〜(16)全入力パターンに関して計算を
終えると,結果抽出部31により,最終的な照合結果を
出力する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】以上の従来技術のよう
に,入力の各時刻での累積値をしきい値と比較し,計算
するDPパスの枝刈りを行うことにより,計算すべき経
路を大幅に減らし,計算量を削減することができる。
【0015】しかし,計算すべき経路が減ってもその個
数が一定でないため,次のような問題がある。累積距離
メモリ29の容量を小さくした場合には,各時刻でのD
Pパスの候補数が多くなり過ぎたときに,メモリが足り
なくなり,オーバフローすることが起こりうる。
【0016】また逆に,各時刻でのDPパスの候補数が
少なくなり過ぎたときに,以降の時刻において計算すべ
き経路が少なくなり,照合性能が低下することが起こり
うる。
【0017】本発明は上記問題点の解決を図り,候補を
記憶するメモリを効率よく使い,また照合性能の低下を
防ぐことを目的としている。
【0018】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理構成
図である。図1において,入力時系列パターン読み込み
部10は,入力時系列パターンを読み込み,入力時系列
パターン記憶部11に格納するものである。標準時系列
パターン記憶部12には,あらかじめ照合対象となる標
準時系列パターンが記憶されている。DP照合部13
は,入力の各時刻での各パターン間距離の最適累積値を
動的計画法に基づき計算するものである。制御部14
は,DP照合部13の動的計画法を制御する手段であ
る。
【0019】DP照合部13は,制御部14の制御のも
とに,入力の各時刻での累積値をしきい値と比較し,以
降に計算するDPパスを制限することにより,計算量の
削減を行う。特に,本発明では,入力の各時刻で残った
DPパスの個数を監視する監視部15と,DPパスの個
数によってしきい値を変更するしきい値変更部16とを
備えている。
【0020】しきい値の変更では,次のような手段を採
ることができる。請求項2記載の発明では,しきい値変
更部16は,監視部15によって得た入力の前時刻にお
けるDPパスの個数と,現時刻におけるDPパスの個数
との関係によってしきい値を変更するように構成されて
いる。
【0021】請求項3記載の発明では,DP照合部13
は,しきい値変更部16によってしきい値を変更した
後,制御部14の制御により再度同時刻に関しての計算
を行う。
【0022】請求項4記載の発明では,さらに,しきい
値変更部16は,現時刻のしきい値と現時刻におけるし
きい値変更分との関係によって,次時刻のしきい値を変
更するように構成されている。
【0023】請求項5記載の発明では,しきい値変更部
16は,標準時系列パターンの各時刻においてしきい値
を変更するように構成されている。
【0024】
【作用】本発明では,各時刻でのDPパスの候補数(す
なわち累積距離メモリ)を監視し,候補数によってしき
い値を変更する。これにより,DPパスの候補数を制御
する。
【0025】DPパスの候補数が多くなり過ぎた場合に
は,しきい値を大きくする。しきい値を大きくすること
で,DPパスの候補数を少なくすることができ,メモリ
容量を小さくすることができる。
【0026】また,DPパスの候補数が少なくなり過ぎ
た場合には,しきい値を小さくする。しきい値を小さく
することで,DPパスの候補数を多くすることができ,
照合性能を向上させることができる。
【0027】
【実施例】図2は本発明の一実施例ブロック図,図3は
本発明の実施例の処理フローチャートである。
【0028】図2に示す入力パターンメモリ20,標準
パターンメモリ21は,それぞれ図1に示す入力時系列
パターン記憶部11,標準時系列パターン記憶部12に
対応する。局所距離計算部22は,局所距離d(i,j) を
計算する部分である。一時累積距離計算部23は,一時
累積距離g(i,j) を計算する部分である。最終累積距離
計算部24は,最終累積距離G(i,j)を計算する部分で
ある。バッファ25は,その最終累積距離G(i,j) を記
憶するメモリである。
【0029】しきい値計算部26は,計算すべき経路を
削減するためのしきい値θ(i) を計算する部分である。
しきい値メモリ27は,計算されたしきい値θ(i) を記
憶する。しきい値変更部16は,DPパスの候補数に応
じて,しきい値θ(i) を変更する処理を行うものであ
る。累積距離判定部28は,バッファ25に記憶されて
いる最終累積距離G(i,j) と,しきい値θ(i) とを比較
し,しきい値θ(i) より小さい最終累積距離G(i,j)
を,累積距離メモリ29に格納するものである。
【0030】メモリ監視部30は,図1に示す監視部1
5に相当し,累積距離メモリ29の使用量,すなわちD
Pパスの個数を監視する部分である。結果抽出部31
は,累積距離メモリ29から最終的な結果を抽出し,照
合結果として出力する部分である。
【0031】以下,図3に示す(1) 〜(16)に従って説明
する。 (1) 〜(2) 初めに入力パターン,標準パターンに関して
の変数i,kの初期化を行う。
【0032】(3) 次いで計算すべき経路を選択する。 (4) 図2に示す局所距離計算部22により,局所距離d
(i,j) を計算する。 (5) 続いて従来技術で説明した経路中の最適値を求める
(式1)を展開した際の, G(i,j) = min{d(i,j) +G(i,j) ,d(i,j) +G(i,j-1) } のいずれか一方である一時累積距離g(i,j) を,一時累
積距離計算部23により計算する。
【0033】(6) その後,もう一方の一時累積距離が計
算されていればそれと比較し,小さい方を最終累積距離
G(i,j) とし,まだ計算されていない場合には,これを
最終累積距離G(i,j) としてバッファ25に格納する。
【0034】(7) 〜(8) 計算すべき経路を全て終えたな
らば,次の処理(9) へ進む。 (9) しきい値θ(i) を,しきい値計算部26によって計
算する。ここで,しきい値は例えば, θ(i) = min{G(i,j) }+λ のように,各時刻における最小の累積距離に一定の余裕
分λを加えたものとする。
【0035】(10)バッファ内のカウンタを初期化する。 (11)〜(14)累積距離判定部28により,バッファ25中
の累積距離の内,しきい値より小さいものを選び,累積
距離メモリ29に格納する。
【0036】(a) ここで,累積距離メモリ29内のDP
パスの候補数が適切であるかどうかをチェックし,適切
であれば,次の処理(b) をスキップする。 (b) DPパスの候補数が適切でなければ,しきい値変更
部16により,しきい値を変更する。このしきい値の変
更では,例えばしきい値メモリ27内の値を, θ(i) ←θ(i) ×0.9 あるいは θ(i) ←θ(i) ×1.1 のように更新する。
【0037】(15)〜(16)全入力パターンに関して計算を
終えると,結果抽出部31により,最終的な照合結果を
出力する。 [実施例1]図3に示す処理(b) において,しきい値を
変更する際に,前時刻でのDPパスの候補数と現時刻で
のDPパスの候補数との関係から,次時刻のDPパスの
個数を予測し,しきい値を変更する。例えば, NDP-pre:前時刻でのDPパスの候補個数 NDP-now:現時刻でのDPパスの候補個数 NDP-nxt:次時刻でのDPパスの候補個数 とした場合, NDP-nxt=NDP-now+(NDP-now−NDP-pre) のように次時刻のDPパスの個数を予測することができ
る。その際にNDP-nxtが多過ぎたり,少な過ぎたりしな
いようにしきい値を変更する。
【0038】[実施例2]図3に示す処理では,しきい
値の変更は次時刻以降に影響を与える。しかし,例えば
現時刻でのDPパスの候補数が少ない場合には,しきい
値を変更することにより,次時刻以降でDPパスの候補
数を多くし,照合性能の低下を防ぐよりは,現時刻での
DPパスを多くした方が,より早い時点で照合性能の低
下を防ぐことができる。
【0039】そこで,図4の(イ)の(10)〜(14),(a),
(b)に示すように,図3に示す同じ部分の処理(10)〜(1
4),(a),(b)を一部変更し,処理(b) でしきい値を変更し
た後に,再度,処理(10)へ戻り,現時刻において計算を
やり直す。
【0040】[実施例3]図4の(イ)に示すような処
理では,DPパスの候補数が多くなり過ぎると,累積距
離メモリ29がオーバフローすることが起こりうる。そ
こで,メモリに書き込む前に常にオーバフローを監視
し,オーバフローを検出した時点でしきい値を大きく
し,再度同時刻において計算を行う。この実施例の処理
部分を,図4の(ロ)に示す。他の部分の処理について
は,図3と同様である。
【0041】[実施例4]実施例3において,しきい値
を変更した後,次時刻にはしきい値を元に戻すものとす
る。ここでしきい値として,例えば, θ(i) = min{G(i,j) }+λ のように各時刻での最小累積距離に一定の余裕分を加え
たものとした場合,しきい値の変更は, λ’←λ×0.9 とすることで,しきい値θ(i) の変更を実現する。次時
刻ではこの変更された余裕分λを用いるのではなく,再
度 λ←λ’/0.9 のように初期化する。これにより各時刻において同条件
で計算することができる。なお,これは図2中のしきい
値メモリ27内に変更前のλを記憶しておくことで実現
する。この処理の例を図5に示す。他の部分の処理につ
いては,図3と同様である。
【0042】[実施例5]実施例4において,しきい値
を元に戻す際に全く元に戻すのではなく,現時刻でのし
きい値の変更分を考慮して若干の修正を加えて戻すもの
とする。例えば,しきい値の変更の際に, λ’←λ×0.9 とした場合には変更分は, Δλ=λ−λ’ となる。しきい値を元にもどす際にはこれを考慮して λ←λ’/0.9−Δλ/2 のようにする。
【0043】〔実施例6〕入力の各時刻においてしきい
値を変更するのではなく,標準パターンの各時刻につい
てしきい値を変更するものとする。この処理を,図6に
示す。
【0044】以下,図6に示す処理(1) 〜(16)に従って
説明する。 (1) 〜(2) 初めに入力パターン,標準パターンに関して
の初期化を行う。 (3) 次いで計算すべき経路を選択する。
【0045】(4) 〜(6) 局所距離,一時累積距離,最終
累積距離を計算する。 (7) バッファ25に格納する。 (8) 計算すべき経路を全て終えたならば,次の処理(9)
へ進む。
【0046】(9) 〜(10) しきい値を計算し,バッファ
内のカウンタを初期化する。 (11)〜(14) バッファ25中の累積距離のうち,しきい
値より小さいものを,累積距離メモリ29に格納する。
【0047】(a) メモリ内のDPパスの候補数が適切か
チェックする。 (b) 適切でない場合には,しきい値を変更する。 (15)〜(16) 全入力パターンに関して計算を終えると,
最終的な照合結果が得られる。
【0048】図7および図8は,本実施例の効果を説明
するためのDPパスの候補数変化説明図である。図7の
(イ)は,従来技術の場合の例であって,入力時刻と各
時刻におけるDPパスの候補数との関係を示している。
【0049】図7の(イ)に示すの場合には時刻iに
おいてメモリ容量MAX を超えることになる。の場合に
は時刻i’とi”の間において候補数が少なくなり過
ぎ,照合性能が悪くなることがある。
【0050】これに対し,前述した本発明による実施例
1では,次時刻の候補数を予測することにより,図7の
(ロ)に示すようになる。以上の例では,候補数がMAX
,MIN のいずれかに近いほど効率がよくなる。すなわ
ち,MAX に近い場合はメモリを最も効率よく使ってお
り,照合性能も高くなる。MIN に近い場合は照合性能が
低下する直前で最も処理量を少なくすることができる。
【0051】前述の実施例2,3の場合には,図7の
(ハ)に示すように,候補数がボーダラインを超えて初
めて修正する。これにより,実施例1に比べてメモリ容
量,処理量を,より効率よく高めることが可能になる。
【0052】ところで,実施例2,3では,変更したし
きい値は以降そのままであるため,性能限界を引き出す
までの時間が徐々に遅くなることになる。前述の実施例
4では,しきい値を元に戻すため性能限界を引き出すタ
イムラグをより小さくすることができる。これを図8の
(イ)に示す。
【0053】この実施例4では,ほぼ性能限界を維持し
ていることになるが,しきい値を変更する回数が非常に
多くなり,オーバヘッドが大きくなることになる。実施
例5は,実施例4のオーバヘッドを解決するものであ
り,入力時刻による候補数の変化は,例えば図8の
(ロ)に示すようになる。
【0054】
【発明の効果】以上説明したように,本発明によれば,
DPパスの候補数によってしきい値を変更し,候補を記
憶するメモリを効率よく使用し,また照合の低下を防ぐ
ことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理構成図である。
【図2】本発明の一実施例ブロック図である。
【図3】本発明の実施例の処理フローチャートである。
【図4】本発明の実施例の処理フローチャートである。
【図5】本発明の実施例の処理フローチャートである。
【図6】本発明の実施例の処理フローチャートである。
【図7】本発明の実施例を説明するためのDPパスの候
補数変化説明図である。
【図8】本発明の実施例を説明するためのDPパスの候
補数変化説明図である。
【図9】従来の動的計画法照合装置の構成図である。
【図10】本発明に関係するDPパスの制限説明図であ
る。
【図11】従来技術のブロック図である。
【図12】従来のDP照合処理フローチャートである。
【符号の説明】
10 入力時系列パターン読み込み部 11 入力時系列パターン記憶部 12 標準時系列パターン記憶部 13 DP照合部 14 制御部 15 監視部 16 しきい値変更部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力時系列パターン読み込み部(10)と,
    入力時系列パターン記憶部(11)と,標準時系列パターン
    記憶部(12)と,入力の各時刻での各パターン間距離の最
    適累積値を動的計画法に基づき計算するDP照合部(13)
    と,動的計画法を制御する制御部(14)を有し,入力の各
    時刻での累積値をしきい値と比較し,以降に計算するD
    Pパスを制限する動的計画法照合装置において, 入力の各時刻で残ったDPパスの個数を監視する監視部
    (15)と, DPパスの個数によってしきい値を変更するしきい値変
    更部(16)とを備えたことを特徴とする動的計画法照合装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の動的計画法照合装置にお
    いて, 前記しきい値変更部(16)は,前記監視部(15)によって得
    た入力の前時刻におけるDPパスの個数と,現時刻にお
    けるDPパスの個数との関係によってしきい値を変更す
    るように構成されていることを特徴とする動的計画法照
    合装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の動的計画
    法照合装置において, 前記DP照合部(13)は,前記しきい値変更部(16)によっ
    てしきい値を変更した後,前記制御部(14)の制御により
    再度同時刻に関しての計算を行うように構成されている
    ことを特徴とする動的計画法照合装置。
  4. 【請求項4】 請求項1,請求項2または請求項3記載
    の動的計画法照合装置において, 前記しきい値変更部(16)は,現時刻のしきい値と現時刻
    におけるしきい値変更分との関係によって次時刻のしき
    い値を変更するように構成されていることを特徴とする
    動的計画法照合装置。
  5. 【請求項5】 請求項1,請求項2,請求項3または請
    求項4記載の動的計画法照合装置において, 前記しきい値変更部(16)は,標準時系列パターンの各時
    刻においてしきい値を変更するように構成されているこ
    とを特徴とする動的計画法照合装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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