JPH0534111A - End part detecting apparatus - Google Patents
End part detecting apparatusInfo
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- JPH0534111A JPH0534111A JP21291491A JP21291491A JPH0534111A JP H0534111 A JPH0534111 A JP H0534111A JP 21291491 A JP21291491 A JP 21291491A JP 21291491 A JP21291491 A JP 21291491A JP H0534111 A JPH0534111 A JP H0534111A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、投光部と受光部の間に
被測定物を挿入し、端部位置を検出する端部検出装置に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an edge detecting device for inserting an object to be measured between a light projecting portion and a light receiving portion to detect an edge position.
【０００２】[0002]
【従来の技術】走行中のウェブなどの端部位置や中心位
置を測定する方法として、投光部と受光部の間にウェブ
を走行させ、ウェブによって遮光された遮光量を計測す
ることにより、ウェブの端部位置や中心位置を検出する
方法が広く用いられている。2. Description of the Related Art As a method for measuring the end position or center position of a running web or the like, by running the web between a light projecting portion and a light receiving portion and measuring the amount of light blocked by the web, A method of detecting the edge position and the center position of the web is widely used.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】このような検出方法の
場合、投光部の光源の輝度は、光源および周囲の温度変
化や経年変化により変化し、また外乱光なども存在す
る。これらは受光部にとっては受光量の変化となって測
定され、この変化がウェブによる受光量の変化と区別で
きず、ウェブの端部位置や中心位置の検出誤差となって
表れる。In the case of such a detection method, the brightness of the light source of the light projecting portion changes due to the temperature change and the secular change of the light source and the surroundings, and there is also ambient light. These are measured as a change in the amount of light received by the light receiving section, and this change cannot be distinguished from the change in the amount of light received by the web, and appears as an error in the detection of the end position or center position of the web.
【０００４】なお、これらを解決するため、いくつかの
技術が開示されている。特開昭６３−２６１１０１号公
報には受光器から出力される制御信号を常に一定に保
ち、帯状物の光の透過率や反射率の変化を保証する技術
が開示されているが、適切な大きさの帯状物が存在しな
いと校正できない。また、特開平２−９１５１６号公報
には検出長が短く、１個のみの投光器の発光素子それ自
体の光度を検出し、その発光周波数を制御して輝度を一
定に保つ技術が開示されている。Several techniques have been disclosed to solve these problems. Japanese Unexamined Patent Publication No. 63-261101 discloses a technique for always keeping the control signal output from the light receiver constant so as to guarantee the change of the light transmittance and the reflectance of the band-shaped material. It cannot be calibrated if there is no band of sand. Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-91516 discloses a technique in which the detection length is short and the luminous intensity of the light emitting element itself of only one projector is detected and the emission frequency is controlled to keep the brightness constant. .
【０００５】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、温度変化による発光部の輝度変化を少なくし、
検出長が長くても外乱光の影響を受けにくく、かつ、パ
スライン変動による影響が小さく、かつ帯状物の存在や
大きさに関係なくオンラインで自動校正する端部検出装
置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and reduces the change in luminance of the light emitting portion due to the change in temperature,
An object of the present invention is to provide an edge detection device that is not easily affected by ambient light even if the detection length is long, is less affected by path line variations, and automatically calibrates online regardless of the presence or size of band-shaped objects. And
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、投光部と受光部の間に被測定物を挿入し、被測定物
による遮光量からこの被測定物の端部を検出する端部検
出装置において、投光部の光度を制御する光度制御部を
設け、前記投光部を直列に結合した発光ダイオードで構
成し、この発光ダイオードと直列に接続された光度検知
用発光ダイオードを光電変換素子と対向して配置し、こ
の光電変換素子の電流が所定値となるよう前記発光ダイ
オードの電流を制御する。In order to achieve the above object, an object to be measured is inserted between a light projecting portion and a light receiving portion, and an end portion of the object to be measured is detected from a light shielding amount of the object to be measured. In the part detection device, a light intensity control unit for controlling the light intensity of the light projecting unit is provided, and the light projecting unit is composed of a light emitting diode connected in series, and a light intensity detecting light emitting diode connected in series with the light emitting diode is photoelectrically operated. It is arranged so as to face the conversion element, and the current of the light emitting diode is controlled so that the current of the photoelectric conversion element becomes a predetermined value.
【０００７】また、前記投光部は発光を間歇的に行うと
共に前記受光部はこの発光に同期して受光する。Further, the light projecting section intermittently emits light, and the light receiving section receives light in synchronization with this light emission.
【０００８】また、前記受光部の前面に、近赤外付近の
波長のみを通す可視光カットフィルタを設ける。In addition, a visible light cut filter that passes only wavelengths in the near infrared region is provided on the front surface of the light receiving portion.
【０００９】[0009]
【作用】直列に接続された発光ダイオードの１つを光電
変換素子と対向させ、この光電変換素子の電流が所定値
を保持するよう発光ダイオードの電流を制御するので、
発光ダイオードの輝度は温度変化や経年変化による変化
が補償され、一定に保たれる。Since one of the light emitting diodes connected in series faces the photoelectric conversion element and the current of the light emitting diode is controlled so that the current of the photoelectric conversion element holds a predetermined value,
The brightness of the light emitting diode is kept constant by compensating for changes due to temperature changes and aging changes.
【００１０】また、発光部と受光部を同期して間歇的に
発光、受光を行うことにより発光時間が少ないため、発
光部における温度上昇を防止して、外乱光の影響を少な
くする。Also, since the light emitting section and the light receiving section intermittently emit light and receive light, the light emission time is short, so that the temperature rise in the light emitting section is prevented and the influence of ambient light is reduced.
【００１１】また、受光部前面に近赤外付近の波長（90
0nm 付近の波長）のみを通す可視光カットフィルタを設
けることにより可視光による外乱を防ぐことができる。In addition, a wavelength near the near infrared (90
Disturbance due to visible light can be prevented by providing a visible light cut filter that passes only (wavelengths near 0 nm).
【００１２】[0012]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本実施例の帯状体センター位置検出装置の
構成図である。投光部１より照射された光は一部帯状体
３に遮られ、遮光されない光が受光部２へ到達し、入光
量として検知される。この入光量をＡ1 ，Ａ2 として検
出し、帯状体3 の端部位置や中心位置を検出する演算制
御部４へ送信する。演算・制御部４では帯状体３を走行
させて搬送するラインのセンターと帯状体３のセンター
のずれ量Ｄを次式より求める。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a belt-shaped center position detecting device of this embodiment. The light emitted from the light projecting unit 1 is partially blocked by the band-shaped body 3, and the light that is not shielded reaches the light receiving unit 2 and is detected as the amount of incident light. The amount of incident light is detected as A 1 and A 2 , and is transmitted to the arithmetic control unit 4 which detects the end position and the center position of the band 3. The calculation / control unit 4 obtains the deviation amount D between the center of the line on which the belt-shaped body 3 is run and conveyed and the center of the belt-shaped body 3 by the following equation.
【００１３】Ｄ＝（Ｌ1 −Ａ1)−（Ｌ2 −Ａ2)
このＤが零となる様に、すなわちラインセンターと帯状
体３のセンターが一致する様に帯状体３を制御する。D = (L 1 -A 1 )-(L 2 -A 2 ) The strip 3 is controlled so that this D becomes zero, that is, the line center and the center of the strip 3 coincide.
【００１４】図２は図１に示す投光部１と受光部２の詳
細構造を示す図である。図２において、投光部１のＬ1
〜Ｌn は発光ダイオードで直列に接続されており、個々
の発光ダイオードから受光部２の対応するシリコン・フ
ォト・ダイオードに向かって、狭い範囲にしぼられた光
を投射している。Ｓ1 〜Ｓn はシリコン・ホト・ダイオ
ードで出力電流が加算されるよう並列に接続されてい
る。ＳＬは光度検知用発光ダイオードで発光ダイオード
Ｌ1 〜Ｌn と直列に接続されており、このダイオードの
投光範囲は任意でよい。ＳＳは光度検知用シリコン・ホ
ト・ダイオードでＳＬと対向して配置され、ＳＬの発光
を受光して光度を検出する。図３はプリント基板上に配
置されたＳＳ，ＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn の構成を示す。FIG. 2 is a diagram showing a detailed structure of the light projecting section 1 and the light receiving section 2 shown in FIG. In FIG. 2, L 1 of the light projecting unit 1
~L n are connected in series with the light emitting diode, from the individual light emitting diodes to the corresponding silicon photodiode of the light receiving portion 2, and projects the light narrowed down to a narrow range. S 1 to S n are silicon photodiodes connected in parallel so that the output currents are added. SL is a light emitting diode for detecting luminous intensity, which is connected in series with the light emitting diodes L 1 to L n, and the light projecting range of this diode may be arbitrary. SS is a light intensity detecting silicon photodiode, which is arranged to face SL and receives the light emitted from SL to detect the light intensity. Figure 3 shows SS disposed on the printed circuit board, SL, the structure of L 1 ~L n.
【００１５】11はＳＳの出力電流を電圧に変換する電流
／電圧変換アンプ、12は電流／電圧変換アンプ11の交流
電圧を保持するサンプル・ホールドアンプ、13はサンプ
ル・ホールドアンプ12の出力を正規化するゼロ／スパン
調整アンプ、14は発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の光度を設
定する光度設定器、15はゼロ／スパン調整アンプ13と光
度設定器14との差を検出する光度変動検知アンプ、16は
光度変動検出アンプ15の検出した差を零とするよう制御
して発光ダイオードＬ1 〜Ｌn の出力を一定に保持する
パルス点灯電流制御回路、17はサンプル・ホールドアン
プ12のサンプルするタイミングとパルス点灯電流制御回
路16のパルス点灯タイミングを決定するパルス点灯タイ
ミング回路である。Reference numeral 11 is a current / voltage conversion amplifier for converting the SS output current into voltage, 12 is a sample / hold amplifier for holding the AC voltage of the current / voltage conversion amplifier 11, and 13 is a normal output of the sample / hold amplifier 12. Zero / span adjustment amplifier, 14 is a light intensity setting device for setting the light intensity of the light emitting diodes L 1 to L n , 15 is a light intensity variation detection amplifier for detecting the difference between the zero / span adjustment amplifier 13 and the light intensity setting device 14, Reference numeral 16 is a pulse lighting current control circuit for holding the output of the light emitting diodes L 1 to L n constant by controlling the difference detected by the light intensity fluctuation detection amplifier 15 to be zero, and 17 is a timing for sampling by the sample and hold amplifier 12. And a pulse lighting timing circuit that determines the pulse lighting timing of the pulse lighting current control circuit 16.
【００１６】21はシリコン・ホト・ダイオードＳ1 〜Ｓ
nの出力電流を電圧に変換する電流／電圧変換アンプ、2
2は電流／電圧変換アンプ21の出力をパルス点灯タイミ
ング回路17のタイミングによりサンプル・ホールドする
サンプル・ホールドアンプ、23は入力を正規化して出力
するゼロ／スパン調整アンプである。５は可視光カット
フィルタで近赤外900nm 近傍の波長のみ通過させる。Reference numeral 21 is a silicon photodiode S 1 to S
Current / voltage conversion amplifier that converts n output current to voltage, 2
Reference numeral 2 is a sample and hold amplifier that samples and holds the output of the current / voltage conversion amplifier 21 at the timing of the pulse lighting timing circuit 17, and 23 is a zero / span adjustment amplifier that normalizes and outputs the input. Reference numeral 5 is a visible light cut filter that passes only wavelengths in the near infrared region of 900 nm.
【００１７】次に動作について説明する。まず投光部１
において、パルス点灯タイミング回路17から点灯タイミ
ング・パルスが出てパルス点灯電流制御回路16によっ
て、全ての発光ダイオードＬ1 〜Ｌn , ＳＬがパルス点
灯する。光度検知用発光ダイオードＳＬが発光すると、
その発光光度を光度検知用シリコン・ホト・ダイオード
ＳＳが受光して、その受光量に応じた電流を発生する。Next, the operation will be described. First, the light projecting section 1
At, the lighting timing pulse is output from the pulse lighting timing circuit 17, and the pulse lighting current control circuit 16 causes all the light emitting diodes L 1 to L n , SL to perform pulse lighting. When the luminous intensity detection light emitting diode SL emits light,
The emitted light intensity is received by the light intensity detecting silicon photo diode SS, and a current corresponding to the amount of light received is generated.
【００１８】この発生した電流は電流／電圧変換アンプ
11で電圧信号となり、コンデンサＣにより直流成分をカ
ットしてサンプル・ホールドアンプ12でパルス点灯タイ
ミング回路17の点灯タイミング・パルスによりホールド
する。The generated current is a current / voltage conversion amplifier.
The voltage signal is generated at 11, and the DC component is cut by the capacitor C, and the sample / hold amplifier 12 holds the voltage signal by the lighting timing pulse of the pulse lighting timing circuit 17.
【００１９】図４はサンプル・ホールドアンプによって
保持される状態を示す図で、ａはＬ1 〜Ｌn の点灯信
号、ｂは電流／電圧変換アンプ11の出力、ｃは同期信号
となる点灯タイミング・パルス、ｄはサンプル・ホール
ドアンプ12の保持した電圧である。FIG. 4 is a diagram showing a state of being held by the sample and hold amplifier, in which a is a lighting signal of L 1 to L n , b is an output of the current / voltage conversion amplifier 11, and c is a lighting timing as a synchronizing signal. -Pulse, d is the voltage held by the sample and hold amplifier 12.
【００２０】保持した信号は、ゼロ／スパン調整アンプ
13で正規化され、光度変動検知アンプ15で、光度設定器
14に設定された値と突き合わし、発光光度の偏差を求め
る。この偏差信号はパルス点灯電流制御回路16で、次の
点灯タイミング時に、光度偏差を打ち消す方向に電流を
制御して、発光ダイオードＳＬ，Ｌ1 〜Ｌn を点灯す
る。The held signal is a zero / span adjustment amplifier.
Normalized by 13, the light intensity fluctuation detection amplifier 15, the light intensity setting device
Match the value set in 14 to find the deviation of the luminous intensity. This deviation signal is pulsed lighting current control circuit 16, at the next turn-on timing, by controlling the current in the direction of canceling the luminosity difference, the light emitting diodes SL, to light the L 1 ~L n.
【００２１】この様に投光部１は発光ダイオードにパル
ス点灯電流を流し、それによる発光光度を測定して輝度
が常に一定となる様に制御されている。In this way, the light projecting unit 1 is controlled so that the pulse lighting current is passed through the light emitting diode, the luminous intensity of the light is measured, and the luminance is always constant.
【００２２】受光部２においては、光電変換素子である
ホト・ダイオードＳ1 〜Ｓn を並列に接続し、各ホト・
ダイオードの受光量に応じた起電流の総和を電流／電圧
変換アンプ21で電圧信号に変換し、コンデンサＣで直流
をカットし、交流成分のみを取り出し、サンプル・ホー
ルドアンプ22で保持する。In the light receiving section 2, the photo diodes S 1 to S n , which are photoelectric conversion elements, are connected in parallel to each other.
The sum of electromotive currents according to the amount of light received by the diode is converted into a voltage signal by the current / voltage conversion amplifier 21, the direct current is cut by the capacitor C, only the alternating current component is taken out, and held by the sample and hold amplifier 22.
【００２３】サンプル・ホールドするタイミングは、パ
ルス点灯タイミング回路17の同期信号によって行われ
る。図４のｅは、この同期信号によってホールドされた
電流と、次の同期信号によってリセットされた状態を示
す。保持された信号はゼロ／スパン調整アンプ23によっ
て正規化され、帯状体３の端部位置出力信号となって演
算・制御部４へ出力される。The timing of sampling and holding is performed by the synchronizing signal of the pulse lighting timing circuit 17. 4e shows the current held by this synchronizing signal and the state of being reset by the next synchronizing signal. The held signal is normalized by the zero / span adjustment amplifier 23 and output as an end position output signal of the strip 3 to the arithmetic / control unit 4.
【００２４】次に発光ダイオードの温度特性について説
明する。図５（ａ）は横軸を発光ダイオードのケース温
度、縦軸を相対光度とし、片対数目盛りを用いて表す。
ケース温度は点灯電流による自己発熱と周囲温度によっ
て決まる温度で、パルス点灯方式の場合、パルス点灯時
間の約150 倍の時間は消灯しているので、点灯電流によ
る自己発熱は小さく、周囲温度による影響が最も大き
い。Next, the temperature characteristics of the light emitting diode will be described. In FIG. 5A, the horizontal axis represents the case temperature of the light emitting diode and the vertical axis represents the relative luminous intensity, which is represented using a semilogarithmic scale.
The case temperature is a temperature determined by the self-heating due to the lighting current and the ambient temperature.In the case of the pulse lighting method, the lamp is off for about 150 times the pulse lighting time, so the self-heating due to the lighting current is small, and the effect of the ambient temperature Is the largest.
【００２５】本実施例の帯状体センター位置検出器が使
用される周囲温度を10℃〜35℃とすると、25℃の時の光
度を１とした場合、約0.3 の相対光度変化がある。Assuming that the ambient temperature at which the band center position detector of this embodiment is used is 10 ° C. to 35 ° C., there is a relative luminous intensity change of about 0.3 when the luminous intensity at 25 ° C. is 1.
【００２６】図５（ｂ）は、受光部２の光電変換素子で
あるホト・ダイオードの光起電流（光電流）と周囲温度
との関係を示す。25℃のときの相対光電流を１とした場
合、周囲温度が10℃〜35℃変化すると、相対光電流変化
は0.04である。FIG. 5B shows the relationship between the photocurrent (photocurrent) of the photodiode, which is the photoelectric conversion element of the light receiving section 2, and the ambient temperature. Assuming that the relative photocurrent at 25 ° C. is 1, when the ambient temperature changes by 10 ° C. to 35 ° C., the relative photocurrent change is 0.04.
【００２７】このようにホト・ダイオードの温度変化は
発光ダイオードの温度変化の１割程度なので、発光ダイ
オードの光量を一定にするよう制御を行う。なお、発光
ダイオードの温度変化による光量の変化は、帯状体３に
遮光されることによる光量変化と区別することはできな
いので、この発光ダイオードの光量変化は、そのまま帯
状体３の端部位置検出の誤差となって表れる。As described above, since the temperature change of the photo diode is about 10% of the temperature change of the light emitting diode, the light quantity of the light emitting diode is controlled to be constant. Since the change in the light amount due to the temperature change of the light emitting diode cannot be distinguished from the change in the light amount due to being shielded by the strip 3, the change in the light amount of the light emitting diode is directly detected by the end position detection of the strip 3. It appears as an error.
【００２８】次に本実施例のテストデータについて説明
する。図６はテストに用いた投光器１、受光器２、帯状
体３の寸法を示す。各寸法は次の通りである。
Ｘ１（測定視野） ：600mm
Ｘ２（帯状体測定域） ：300mm
Ｙ１（投受光間隔） ：600mm
Ｙ２（帯状体パスライン位置）：300mm
なお、テストは図２に示すように発光ダイオードの輝度
を一定に制御した場合と、制御を行わない場合につき実
施した。テストは投受光部を恒温槽に入れ、全体の周囲
温度を10〜35℃まで変化させて、図２に示す出力電圧を
求めた。
周囲温度 10℃ 25℃ 35℃
輝度補正あり 2.55Ｖ 2.52Ｖ 2.48Ｖ
輝度補正なし 2.65Ｖ 2.55Ｖ 2.35Ｖ
出力電圧は全遮光の場合０Ｖ、全入光で５Ｖである。Next, the test data of this embodiment will be described. FIG. 6 shows the dimensions of the light projector 1, the light receiver 2, and the strip 3 used in the test. The respective dimensions are as follows. X1 (measurement field of view): 600mm X2 (band measurement area): 300mm Y1 (light emitting and receiving interval): 600mm Y2 (band path line position): 300mm In addition, the brightness of the light emitting diode is constant as shown in Fig. 2. It was carried out with and without control. In the test, the light emitting / receiving unit was put in a constant temperature bath, the entire ambient temperature was changed from 10 to 35 ° C., and the output voltage shown in FIG. 2 was obtained. Ambient temperature 10 ℃ 25 ℃ 35 ℃ With brightness correction 2.55V 2.52V 2.48V Without brightness correction 2.65V 2.55V 2.35V The output voltage is 0V in the case of full shading, and 5V in the total incoming light.
【００２９】本実施例の輝度補正ありの場合、10〜35℃
の変化で0.07Ｖ、輝度補正がない場合は0.3 Ｖの温度ド
リフトが出ている。故に本実施例は輝度補正がない場合
に対して、10〜35℃の周囲温度変化によるドリフトが1/
4 になった。With the brightness correction of this embodiment, 10 to 35 ° C.
The temperature drift is 0.07V due to the change of, and 0.3V without the brightness correction. Therefore, in this embodiment, the drift due to the ambient temperature change of 10 to 35 ° C. is 1/100 as compared with the case where there is no brightness correction.
Became 4.
【００３０】なお、本実施例では発光ダイオードの点灯
をパルス点灯タイミング回路17のタイミング信号に同期
して点灯しているが、このように間歇的に点灯すること
により、ノイズの防止に役立ち、エネルギを節約し、し
かもピーク信号レベルが大きく、自己加熱を防止する。In this embodiment, the lighting of the light emitting diode is lit in synchronization with the timing signal of the pulse lighting timing circuit 17, but by intermittently lighting in this way, it is useful for noise prevention and energy saving. , And the peak signal level is large to prevent self-heating.
【００３１】また、可視光カットフィルタ５により、外
部の可視光の照明などによる影響を除く。パルス点灯す
る発光ダイオートの信号に同期して、検出信号を処理す
ることにより、外乱を除去できる。また、光検知用発光
ダイオードＳＬを別に設け、一方、投光部１から受光部
２へ投光するダイオードＬ1 〜Ｌn は投光に方向性があ
るものを用いることにより、帯状体のパスライン（図６
のＹ２の値）が変動しても測定値の変化が少ない。投光
部の輝度の自動校正を行うので、オンラインの状態で帯
状物の有無や大きさに関係なく校正できる。The visible light cut filter 5 eliminates the influence of external visible light illumination. Disturbance can be removed by processing the detection signal in synchronization with the pulsed light emitting diode signal. Further, by separately providing the light-emitting diode SL for light detection, while the diodes L 1 to L n for projecting light from the light projecting unit 1 to the light receiving unit 2 have directivity in light projection, Line (Fig. 6
Even if the value of Y2) changes, the change in the measured value is small. Since the brightness of the projection unit is automatically calibrated, it can be calibrated online regardless of the presence or size of the band.
【００３２】[0032]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、発光ダイオードの輝度を所定の値に保持することに
より、被測定物の端部検出を精度よく行うことができ
る。さらに発光を間歇的に行い、また、可視光カットフ
ィルタを設けることにより外乱の影響を少なくすること
ができる。As is apparent from the above description, according to the present invention, the edge portion of the object to be measured can be accurately detected by maintaining the brightness of the light emitting diode at a predetermined value. Furthermore, the effect of disturbance can be reduced by intermittently emitting light and providing a visible light cut filter.
【図１】本発明の実施例の全体構成図である。FIG. 1 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention.
【図２】投光部と受光部の詳細構成図である。FIG. 2 is a detailed configuration diagram of a light projecting unit and a light receiving unit.
【図３】光度検知用シリコン・ホト・ダイオードと光度
検知用発光ダイオードの配置図である。FIG. 3 is a layout view of a light intensity detecting silicon photodiode and a light intensity detecting light emitting diode.
【図４】本実施例の構成機器のタイミングチャートを示
す図である。FIG. 4 is a diagram showing a timing chart of the constituent devices of the present embodiment.
【図５】発光ダイオードとホトダイオードの温度特性を
示す図である。FIG. 5 is a diagram showing temperature characteristics of a light emitting diode and a photodiode.
【図６】テスト装置の構成、寸法を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a configuration and dimensions of a test apparatus.
１ 投光部 ２ 受光部 ３ 帯状体 ４ 演算・制御部 ５ 可視光カットフィルタ 11,21 電流／電圧変換アンプ 12,22 サンプル・ホールドアンプ 13,23 ゼロ／スパン調整アンプ 14 光度設定器 15 光度変動検知アンプ 16 パルス点灯電流制御回路 17 パルス点灯タイミング回路 ＳＬ 光度検知用発光ダイオード ＳＳ 光度検知用シリコン・ホト・ダイオード Ｌ1 〜Ｌn 発光ダイオード Ｓ1 〜Ｓn シリコン・ホト．ダイオード1 Light emitting unit 2 Light receiving unit 3 Band 4 Computing / controlling unit 5 Visible light cut filter 11,21 Current / voltage conversion amplifier 12,22 Sample and hold amplifier 13,23 Zero / span adjustment amplifier 14 Luminous intensity setting device 15 Luminous intensity fluctuation sensing amplifier 16 pulse lighting current control circuit 17 pulse lighting timing circuit SL intensity detecting light-emitting diode SS intensity detection silicon photo diode L 1 ~L n light emitting diodes S 1 to S n silicon photo. diode
Claims (3)
し、被測定物による遮光量からこの被測定物の端部を検
出する端部検出装置において、投光部の光度を制御する
光度制御部を設け、前記投光部を直列に結合した発光ダ
イオードで構成し、この発光ダイオードと直列に接続さ
れた光度検知用発光ダイオードを光電変換素子と対向し
て配置し、この光電変換素子の電流が所定値となるよう
前記発光ダイオードの電流を制御することを特徴とする
端部検出装置。1. An edge detecting device for inserting an object to be measured between a light projecting section and a light receiving section and detecting an end of the object to be measured from a light shielding amount of the object to be measured, the luminous intensity of the light projecting section being measured. A light intensity control unit for controlling is provided, and the light projecting unit is composed of a light emitting diode connected in series, and a light intensity detecting light emitting diode connected in series with the light emitting diode is arranged to face a photoelectric conversion element. An edge detecting device, characterized in that the current of the light emitting diode is controlled so that the current of the conversion element becomes a predetermined value.
に、前記受光部はこの発光に同期して受光するようにし
たことを特徴とする請求項１記載の端部検出装置。2. The edge detecting device according to claim 1, wherein the light emitting section intermittently emits light, and the light receiving section receives light in synchronization with the light emission.
のみを通す可視光カットフィルタを設けたことを特徴と
する請求項１または２記載の端部検出装置。3. The edge detecting device according to claim 1, wherein a visible light cut filter that allows only wavelengths in the near infrared region to pass therethrough is provided on the front surface of the light receiving unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH0534111A true JPH0534111A (en) | 1993-02-09 |
| JP2513095B2 JP2513095B2 (en) | 1996-07-03 |
Family
ID=16630373
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3212914A Expired - Fee Related JP2513095B2 (en) | 1991-07-30 | 1991-07-30 | Edge detection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2513095B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2759594C2 (en) * | 1977-03-02 | 1993-05-13 | Tetsuya Tokio/Tokyo Jp Tada | Spray gun assembly with trigger |
| CN106392187A (en) * | 2016-06-22 | 2017-02-15 | 河北钢铁股份有限公司邯郸分公司 | Position-based steel rail length measurement system and measurement method |
| JP2018132344A (en) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | ウインテック株式会社 | Position detector |
Citations (2)
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| JPS61148305A (en) * | 1984-12-24 | 1986-07-07 | Kawasaki Steel Corp | Width measuring apparatus of travelling plate |
| JPH0317508A (en) * | 1989-06-15 | 1991-01-25 | Nippon Steel Corp | Measuring apparatus for camber and squareness of plate material |
-
1991
- 1991-07-30 JP JP3212914A patent/JP2513095B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
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| CN106392187B (en) * | 2016-06-22 | 2017-10-17 | 河北钢铁股份有限公司邯郸分公司 | A kind of measuring method of location-based rail length measuring system |
| JP2018132344A (en) * | 2017-02-14 | 2018-08-23 | ウインテック株式会社 | Position detector |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2513095B2 (en) | 1996-07-03 |
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