JPH0532753Y2 - - Google Patents

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JPH0532753Y2
JPH0532753Y2 JP1986167324U JP16732486U JPH0532753Y2 JP H0532753 Y2 JPH0532753 Y2 JP H0532753Y2 JP 1986167324 U JP1986167324 U JP 1986167324U JP 16732486 U JP16732486 U JP 16732486U JP H0532753 Y2 JPH0532753 Y2 JP H0532753Y2
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Description

【考案の詳細な説明】
技術分野 本考案は、ナフタリン試料を加熱するための装
置に関する。 背景技術 このようなナフタリン試料の加熱装置は、日本
工業規格JIS K2422の95%ナフタリンの不揮発分
定量分析作業を行なうために必要となる。このよ
うなナフタリンの不揮発分定量分析操作のため
に、第6図の装置が従来から用いられている。ガ
ラスなどの容器1内に、不揮発分が分析されるべ
き試料であるナフタリン2が収納され、この容器
1内には管路3から送風機によつて空気が3/
分で30分間供給される。この容器1は、硫酸また
はグリセリンなどの液体4が貯留されている貯留
槽5の浴に浸漬されて間接加熱される。この液体
4内には、いわゆる投込みヒータ6が設けられ
て、液体4が加熱される。液体4はたとえば150
℃±5℃に保たれる。こうして試料2が蒸発され
る。 このような蒸発操作の後に、容器1を液浴から
取出し、その容器1の外壁に付着している液体を
拭き取る。その後、電気乾燥器内に容器1を収納
して、電気ヒータによつて恒量となるまで乾燥す
る。この乾燥には、たとえば120分程度の長時間
を必要とする。この乾燥の後、秤量を行なつて試
料の残分である不揮発分の重量を計算して求め
る。 考案が解決すべき問題点 このような先行技術では、容器1は液浴を用い
て間接加熱されるので、容器1を取出して乾燥す
るに当たり、その容器1に付着している液体を拭
取る必要があり面倒である。またこの容器1の外
壁に付着した液体が、拭取つた後において残つて
いると、不揮発分の秤量値に誤差を生じることに
なる。 またこの先行技術では、液浴から発生する気体
によつて作業環境が悪化するという問題がある。 さらにまたこの先行技術では、液浴の温度分布
が不均一になる恐れがあり、したがつて容器1を
希望する温度の下で正確に加熱することができ
ず、これによつてナフタリンの不揮発分の定量分
析を高精度で行うことができない。 本考案の目的は、作業性が良好であり、ナフタ
リン試料を均一な温度分布で測定することがで
き、しかも作業環境を良好に維持することができ
るようにした試料の加熱装置を提供することであ
る。 問題点を解決するための手段 本考案は(a)ナフタリン試料を収納するガラス製
の容器17であつて、 (a−1) 上部に着脱自在の蓋23があり、
蓋23を装着したとき不活性ガスを容器17
に通過させ、 (a−2) 蓋23の下部に円筒状の大径筒部
18と、 (a−3) 大径筒部18の下方に連なる底板
20を有する円筒状の小径筒部19とからな
る容器17と、 (b) 一定量の不活性ガスを容器に通過させるガス
流通手段40と、 (c) 水平断面が正方形であつて、偏平な板状に構
成された鋳造アルミニウム製の基台7であつ
て、 (c−1) 仮想正方形の各頂点位置に、基台
7の厚み方向に延びる直線上に軸線を有し、
軸直角断面が円形であつて、容器17が着脱
自在に嵌合される大径凹部12と小径凹部1
3とを有する4つの凹所8〜11と、 (c−2) 大径凹部12と小径凹部13とに
沿う形状を有するコイル状の電気ヒータ14
と、 (c−3) 前記仮想正方形の図心位置にあつ
て、基台7の厚み方向に延びる取付孔15と
を有する基台7と、 (d) 前記取付孔15に嵌入される温度検出素子1
6と、 (e) 基台7の上面を覆い、容器17の大径筒部1
8と温度検出素子16とが嵌入する孔を有する
石綿製の板39と、 (f) 基台7の下方のケーシング41の側壁に設け
られた制御盤とを含むことを特徴とするナフタ
リン試料の加熱装置である。 作 用 本考案に従えば、基台に形成されている大径凹
部と小径凹部とからなる凹所に大径凹部と小径凹
部とに沿う形状を有するコイル状の電気ヒータが
設けられ、この電気ヒータによつてガラス製容器
が周辺部から加熱され、底部が直接電気ヒータに
よつて加熱されないのでナフタリン試料は分解さ
れない。また容器内を不活性ガスたとえば空気が
通過する。そのため容器内のナフタリン試料は加
熱されて気化し、空気と共に外部へ放出される。
こうした簡便な作業で容器内のナフタリン試料を
加熱して、ナフタリン中の不揮発分の定量分析を
することができる。また前述の先行技術における
ように、液浴によるガスの発生などがなく、作業
環境が良好に保たれる。さらにまた基台は金属製
であり、この基台の凹所に沿うように電気ヒータ
が設けられているので、基台の熱容量を電気ヒー
タだけのときに比べて大きくすることができ、こ
れによつて容器を均一な温度分布で、しかも高精
度で希望する温度で加熱することができる。 実施例 第1図は本考案の一実施例の縦断面図であり、
第2図はその平面図である。基台7は、鋳造アル
ミニウムから成り、熱伝導が良好である。この基
台7の外形は、その水平断面が正方形であつて、
偏平な板状に構成される。この基台7には、仮想
正方形の各頂点位置に軸線を有する4つの凹所8
〜11が形成される。凹所8は、大径凹部12
と、その下方に連なる小径凹部13とからなる。
大径凹部12と小径凹部13とは、基台7の厚み
方向(第1図の上下方向、第2図の紙面に垂直な
方向)に延びる共通の直線上に軸線を有し、垂直
角断面が円形である。凹所8内には、その大径凹
部12と小径凹部13とに沿う形状を有する第3
図に示されるコイル状の電気ヒータ14が嵌め込
まれて設けられる。この電気ヒータ14は、たと
えば熱を発生する抵抗線の外周に電気絶縁性被覆
層が形成されたいわゆるシースヒータである。残
余の凹所9,10,11もまた同様な構成となつ
ている。これらの凹所8〜11の軸線は、前述の
ように仮想正方形の頂点位置にあり、その仮想正
方形の図心位置には、基台7の厚み方向に延びる
取付孔15が形成される。この取付孔15には、
熱電対などの温度検出素子16が嵌入されて固定
される。 電気ヒータ14が設けられた凹所8には、ナフ
タリン試料を収納するための容器17が着脱自在
に嵌合される。この容器17は、ガラス製であ
り、大径凹部12に嵌合する大径筒部18と、小
径凹部13に嵌合する小径筒部19と底板20と
を有し、容器17内には、底板20上に、95%ナ
フタリンの試料21が設けられる。容器17の口
部22には、蓋23が着脱自在に嵌合される。こ
の蓋23には、一定量の空気を容器に通過させる
ガス流通手段40の一部である管路24,25が
取付けられる。ガス流通手段40は、管路27か
ら容積10のびん28を経て、さらに管路29か
ら流量計30を経て、送風機26からの空気を管
路24に供給する。 基台7は、ケーシング41の上部に設けられて
おり、このケーシング41の側壁は制御盤を構成
し、これには電源スイツチ31、温度設定器3
2、温度表示器33およびその他の制御つまみ3
4などが設けられる。基台7上には、石綿などの
断面材39が設けられ、これによつて放熱を抑制
するとともに、火傷などに対する安全性を向上す
る。 第4図は、第1図〜第3図に示された実施例の
電気的構成を示すブロツク図である。処理回路3
5は、温度検出素子16からの出力を受信し、温
度表示器33に測定温度を表示する。温度設定器
32の出力はまた、処理回路35に与えられる。
処理回路35は、基台7の凹所8に設けられた電
気ヒータ14および残余の凹所9〜11に設けら
れた電気ヒータ36〜38の電力を制御して、温
度検出素子16によつて検出される温度が、温度
設定器32によつて設定された温度たとえば150
℃となるように制御する。 試料としての95%ナフタリンの不揮発分定量分
析においては、まず第5図のステツプn1におい
て、その試料21を容器17内に入れて秤量を行
なう。次にステツプn2において第2図に示され
るように、容器17を凹所8に嵌合し、電気ヒー
タ14によつて150℃に加熱し、送風機26から
管路24を経て、容器17に空気を3/分で供
給し、この状態を30分間持続する。これによつて
試料21の蒸発操作を行なう。 ステツプn3では、容器17を凹所8から取外
し、蓋23を容器17から取つた状態で、乾燥器
に収納し、マイクロ波加熱とガス燃料の燃焼排ガ
スによる加熱とを併せて行なつて乾燥を行なう。
このマイクロ波出力はたとえば500Wである。試
料21は、220℃に加熱され、その状態が5分間
持続される。 その後ステツプn4では、容器17がデシケー
タに移され、約90分間放冷される。その後ステツ
プn5において容器17とともに秤量が行なわれ
る。こうしてステツプn6において不揮発分の重
量の算出が行なわれる。不揮発分が残つている容
器17を前述のように乾燥器に入れて乾燥を行な
うとき、マイクロ波の照射による加熱と、ガスの
燃焼による熱風加熱とを併用しているので、マイ
クロ波照射による分子の発熱を利用することによ
つて、乾燥速度を向上することができ、またガス
燃焼による高温度の排ガスを循環して、不揮発分
の表面を均一に加熱乾燥することが可能となり、
しかもまたこのようなマイクロ波とガス加熱との
併用によつて、乾燥時間を一層短縮することが可
能となる。したがつて前述の先行技術において
は、乾燥時に不揮発分が恒量となるまでの乾燥時
間に、約120分もの長時間を必要としていたのに
比べて、本考案ではその乾燥時間が前述のように
5分間ですみ、大幅に時間を短縮することが可能
である。 上述の実施例では、ステツプn2における分析
誤差要因がなくなり、分析精度を向上することが
でき、また液浴を用いることはなく、作業環境を
良好に保つことができる。また上述のようにステ
ツプn3における乾燥時間を短縮することができ
る。 さらにまた基台7の凹所8〜11の周辺部に設
けた電気ヒータ14,36〜38を用いて、基台
7に嵌着された容器17をその周辺から加熱する
ので、容器17の底部20上のナフタリン試料2
1は、電気ヒータ14,36〜38によつて過熱
されることはなく、ナフタリン試料21は分解せ
ずに蒸発する。また基台7が鋳造アルミニウム製
であるので、前述の先行技術における液浴よりも
温度調整の精度が高く、たとえば本件実施例で
は、±1℃の範囲で温度を調整することができる。
これに対して前述の先行技術における液浴では、
温度は±5℃の誤差が生じる。 さらにまたこの実施例では、容器17の温度を
均一に加熱することができ、前述の液浴に比べ
て、その均一性が優れている。 さらにまたこの実施例では、容器17の昇温速
度を向上することができ、このことによつてもま
た前述の液浴よりも作業時間を短縮することがで
きる。 またステツプn3の乾燥時には、マイクロ波加
熱と高温度の排ガスによる加熱とを行なうので、
熱効率の向上を行なうことも可能となる。 本件考案者の実験によれば、次の第1表に示す
ように、大幅な時間の短縮を図ることが可能にな
ることが確認された。
【表】 第1表においてJISと記載してあるのは、日本
工業規格JIS K2422に従う従来の第6図に示され
た構成による実験結果を示す。 次の第2表は、同一人によつて、同一の試料を
繰返して定量分析した実験結果を示す。
【表】 このことから本件実施例では、標準偏差を小さ
くして、ばらつきを小さくすることが可能である
ことが判る。 効 果 以上のように本考案によれば、作業性が良好で
あり、ナフタリン試料を高精度で均一に加熱し、
それによつて生じたナフタリン蒸気を不活性ガス
で外部へ放出することができるとともに、作業環
境を良好に保つことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の断面図、第2図は
基台7の平面図、第3図は電気ヒータ14の斜視
図、第4図は電気的構成を示すブロツク図、第5
図は定量分析手順を示すフローチヤート、第6図
は先行技術を示す断面図である。 7……基台、8〜11……凹所、14……電気
ヒータ、16……温度検出素子、17……容器、
21……ナフタリン試料、35……処理回路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (a) ナフタリン試料を収納するガラス製の容器1
    7であつて、 (a−1) 上部に着脱自在の蓋23があり、
    蓋23を装着したとき不活性ガスを容器17
    に通過させ、 (a−2) 蓋23の下部に円筒状の大径筒部
    18と、 (a−3) 大径筒部18の下方に連なる底板
    20を有する円筒状の小径筒部19とからな
    る容器17と、 (b) 一定量の不活性ガスを容器に通過させるガス
    流通手段40と、 (c) 水平断面が正方形であつて、偏平な板状に構
    成された鋳造アルミニウム製の基台7であつ
    て、 (c−1) 仮想正方形の各頂点位置に、基台
    7の厚み方向に延びる直線上に軸線を有し、
    軸直角断面が円形であつて、容器17が着脱
    自在に嵌合される大径凹部12と小径凹部1
    3とを有する4つの凹所8〜11と、 (c−2) 大径凹部12と小径凹部13とに
    沿う形状を有するコイル状の電気ヒータ14
    と、 (c−3) 前記仮想正方形の図心位置にあつ
    て、基台7の厚み方向に延びる取付孔15と
    を有する基台7と、 (d) 前記取付孔15に嵌入される温度検出素子1
    6と、 (e) 基台7の上面を覆い、容器17の大径筒部1
    8と温度検出素子16とが嵌入する孔を有する
    石綿製の板39と、 (f) 基台7の下方のケーシング41の側壁に設け
    られた制御盤とを含むことを特徴とするナフタ
    リン試料の加熱装置。
JP1986167324U 1986-10-30 1986-10-30 Expired - Lifetime JPH0532753Y2 (ja)

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JPS6372548U JPS6372548U (ja) 1988-05-14
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