JPH05303923A - 光位置検出センサ - Google Patents
光位置検出センサInfo
- Publication number
- JPH05303923A JPH05303923A JP9520992A JP9520992A JPH05303923A JP H05303923 A JPH05303923 A JP H05303923A JP 9520992 A JP9520992 A JP 9520992A JP 9520992 A JP9520992 A JP 9520992A JP H05303923 A JPH05303923 A JP H05303923A
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- Japan
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Arc-Extinguishing Devices That Are Switches (AREA)
- Switch Cases, Indication, And Locking (AREA)
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光位置検出センサの異常を常時自己点検可能
とし、信頼性を向上させた光位置検出センサを提供す
る。 【構成】 互いに波長が異なり、互いに発光する位相の
異なる、位置検出用の光源10と自己点検用の光源11
を設け、位置検出用の光源の波長を遮光、自己点検用光
源の波長を透過するフィルタ5を光路中の位置検出部1
2に出入りさせ、この光路からの光を受光手段7により
受光し、位置検出用光源の位相と、受光手段による信号
との比較により、位置を検出し、自己点検用光源の位相
と受光手段による信号との比較により、装置の異常を検
出する。
とし、信頼性を向上させた光位置検出センサを提供す
る。 【構成】 互いに波長が異なり、互いに発光する位相の
異なる、位置検出用の光源10と自己点検用の光源11
を設け、位置検出用の光源の波長を遮光、自己点検用光
源の波長を透過するフィルタ5を光路中の位置検出部1
2に出入りさせ、この光路からの光を受光手段7により
受光し、位置検出用光源の位相と、受光手段による信号
との比較により、位置を検出し、自己点検用光源の位相
と受光手段による信号との比較により、装置の異常を検
出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、可動接触子の
位置を検出することにより、開閉装置のオン・オフ状態
を検知するために用いられる位置検出センサにおいて、
光を利用することにより、無接触で位置を検出すること
ができるようにした光位置検出センサに関するものであ
る。
位置を検出することにより、開閉装置のオン・オフ状態
を検知するために用いられる位置検出センサにおいて、
光を利用することにより、無接触で位置を検出すること
ができるようにした光位置検出センサに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来より、光を利用して無接触で位置を
検出することのできる光位置検出センサは種々提案され
ている。その一例を図3を用いて説明する。
検出することのできる光位置検出センサは種々提案され
ている。その一例を図3を用いて説明する。
【0003】図3において、31はプリズム、32は、
図示しない開閉装置の可動接触子の位置の変化に連動し
て、プリズムの光路39中の位置検出部40に出入りす
る反射板、33は投光ファイバ、34、35は受光ファ
イバ、36は発光ダイオード、37、38はフォトトラ
ンジスタである。
図示しない開閉装置の可動接触子の位置の変化に連動し
て、プリズムの光路39中の位置検出部40に出入りす
る反射板、33は投光ファイバ、34、35は受光ファ
イバ、36は発光ダイオード、37、38はフォトトラ
ンジスタである。
【0004】いま、図3aに示すように、反射板32が
位置検出部40の外の位置にあると、発光ダイオード3
6による光は、一方のフォトトランジスタ38に受光さ
れる。また、反射板32が光路39中に挿入されると、
光路39は変更されて、発光ダイオード36による光
は、他方のフォトトランジスタ37に受光される。した
がって、フォトトランジスタ37と38からそれぞれ出
力を取り出すことにより、位置検出を行うことが可能で
ある。
位置検出部40の外の位置にあると、発光ダイオード3
6による光は、一方のフォトトランジスタ38に受光さ
れる。また、反射板32が光路39中に挿入されると、
光路39は変更されて、発光ダイオード36による光
は、他方のフォトトランジスタ37に受光される。した
がって、フォトトランジスタ37と38からそれぞれ出
力を取り出すことにより、位置検出を行うことが可能で
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上の従来の光位置検
出センサにおいては、反射板32の位置にかかわらず、
フォトトランジスタ37、38のいずれかが常に受光し
ている。このため、発光ダイオード36が正常動作をし
ていること、投光ファイバ33および現在受光している
側の受光ファイバ34または35に断線がないことは、
現在受光しているフォトトランジスタ37または38の
電気信号の存在により確認することができる。しかしな
がら、現在受光していない側の受光ファイバ35または
34が断線していても、それを検出することは不可能で
あるという問題点があった。
出センサにおいては、反射板32の位置にかかわらず、
フォトトランジスタ37、38のいずれかが常に受光し
ている。このため、発光ダイオード36が正常動作をし
ていること、投光ファイバ33および現在受光している
側の受光ファイバ34または35に断線がないことは、
現在受光しているフォトトランジスタ37または38の
電気信号の存在により確認することができる。しかしな
がら、現在受光していない側の受光ファイバ35または
34が断線していても、それを検出することは不可能で
あるという問題点があった。
【0006】本発明は、検出位置に関係なく、光位置検
出センサの異常を常時センサ自身が点検する自己点検を
可能とし、信頼性を向上させた光位置検出センサを提供
することを目的とする。
出センサの異常を常時センサ自身が点検する自己点検を
可能とし、信頼性を向上させた光位置検出センサを提供
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、互いに波長が異なり、互いに発光する位相
の異なる、位置検出用の光源と自己点検用の光源を設
け、位置検出用の光源の波長を遮光し、前記自己点検用
光源の波長を透過するフィルタを光路中の位置検出部に
出入りさせ、この光路からの光を受光手段により受光
し、位置検出用光源の位相と受光手段による信号との比
較により、位置を検出し、自己点検用光源の位相と受光
手段による信号との比較により、装置の異常を検出す
る。
成するため、互いに波長が異なり、互いに発光する位相
の異なる、位置検出用の光源と自己点検用の光源を設
け、位置検出用の光源の波長を遮光し、前記自己点検用
光源の波長を透過するフィルタを光路中の位置検出部に
出入りさせ、この光路からの光を受光手段により受光
し、位置検出用光源の位相と受光手段による信号との比
較により、位置を検出し、自己点検用光源の位相と受光
手段による信号との比較により、装置の異常を検出す
る。
【0008】
【作用】上記した手段によれば、位置検出用の波長の光
が、干渉フィルタの光路中への出入りに応じて透過ある
いは遮光される。これに対し、自己点検用の波長の光
は、干渉フィルタの光路中への出入りに関係なく常時透
過される。したがって、位置検出用光源と受光手段によ
る信号との比較により位置を検出し、自己点検用光源と
受光手段による信号との比較により装置の異常の有無を
常時点検する自己点検が可能となる。
が、干渉フィルタの光路中への出入りに応じて透過ある
いは遮光される。これに対し、自己点検用の波長の光
は、干渉フィルタの光路中への出入りに関係なく常時透
過される。したがって、位置検出用光源と受光手段によ
る信号との比較により位置を検出し、自己点検用光源と
受光手段による信号との比較により装置の異常の有無を
常時点検する自己点検が可能となる。
【0009】
【実施例】本発明の実施例を図1、図2を用いて説明す
る。図1は、本例の全体を示すブロック図であり、図2
は、図1における各ブロックの出力波形を示す。
る。図1は、本例の全体を示すブロック図であり、図2
は、図1における各ブロックの出力波形を示す。
【0010】1はパルス発生器で、図2aに示すパルス
を発生する。このパルスは、デコーダ2により、図2b
と図2cに示すように、位相が180°異なった交互に
発生する2つのパルス列に分けられる。この2つのパル
ス列は、2波長発光ダイオード3とコンパレータ8に入
力される。
を発生する。このパルスは、デコーダ2により、図2b
と図2cに示すように、位相が180°異なった交互に
発生する2つのパルス列に分けられる。この2つのパル
ス列は、2波長発光ダイオード3とコンパレータ8に入
力される。
【0011】2波長発光ダイオード3は、波長660nm
の赤色光を発光する発光ダイオード10と、波長890
nmの赤外光を発光する発光ダイオード11を有してい
る。図2bのパルス列を赤色光を発光する位置検出用の
パルス列とし、図2cのパルス列を赤外光を発光する自
己点検用のパルス列とする。これにより、2波長発光ダ
イオード3は赤色光と赤外光の2波長光を交互にパルス
状に発光する。
の赤色光を発光する発光ダイオード10と、波長890
nmの赤外光を発光する発光ダイオード11を有してい
る。図2bのパルス列を赤色光を発光する位置検出用の
パルス列とし、図2cのパルス列を赤外光を発光する自
己点検用のパルス列とする。これにより、2波長発光ダ
イオード3は赤色光と赤外光の2波長光を交互にパルス
状に発光する。
【0012】この2波長光は、投光ファイバ4と受光フ
ァイバ6により受光素子7へ導かれる。そして、干渉フ
ィルタ5が、図示しない開閉装置の可動接触子の位置の
変化に応じて位置検出部12に出入りする。この干渉フ
ィルタ5は、波長890nmの赤外光のみを透過するもの
で、波長660nmの赤色光は遮光する。いま、干渉フィ
ルタ5が位置検出部12中に挿入された位置をa位置と
し、干渉フィルタ5が光路から外れた位置をb位置とす
る。
ァイバ6により受光素子7へ導かれる。そして、干渉フ
ィルタ5が、図示しない開閉装置の可動接触子の位置の
変化に応じて位置検出部12に出入りする。この干渉フ
ィルタ5は、波長890nmの赤外光のみを透過するもの
で、波長660nmの赤色光は遮光する。いま、干渉フィ
ルタ5が位置検出部12中に挿入された位置をa位置と
し、干渉フィルタ5が光路から外れた位置をb位置とす
る。
【0013】干渉フィルタ5がb位置にある透光時に
は、赤色光と赤外光は共に受光素子7に導かれ、受光素
子7の出力波形は、図2dに示すものとなる。また、干
渉フィルタ5がa位置にある遮光時には、赤外光のみが
受光素子7に導かれ、その出力波形は、図2eに示すも
のとなる。
は、赤色光と赤外光は共に受光素子7に導かれ、受光素
子7の出力波形は、図2dに示すものとなる。また、干
渉フィルタ5がa位置にある遮光時には、赤外光のみが
受光素子7に導かれ、その出力波形は、図2eに示すも
のとなる。
【0014】コンパレータ8は、デコーダ2からの2つ
のパルス列と受光素子7の出力波形とを比較して、位置
検出および自己点検を行う。
のパルス列と受光素子7の出力波形とを比較して、位置
検出および自己点検を行う。
【0015】まず、位置検出について説明をする。コン
パレータ8は図2bの位置検出用パルス列と受光素子7
の出力波形との比較を行う。干渉フィルタ5が位置検出
部12外のb位置にある透光時には、受光素子7の出力
波形は、図2dに示すものとなり、この出力波形は、図
2bの位置検出用パルスと同位相のパルスを含む。干渉
フィルタ5が位置検出部12内のa位置にある遮光時に
は、受光素子7の出力波形は、図2eに示すものとな
り、この出力波形は、図2bの位置検出用パルスと同位
相のパルスを含まない。
パレータ8は図2bの位置検出用パルス列と受光素子7
の出力波形との比較を行う。干渉フィルタ5が位置検出
部12外のb位置にある透光時には、受光素子7の出力
波形は、図2dに示すものとなり、この出力波形は、図
2bの位置検出用パルスと同位相のパルスを含む。干渉
フィルタ5が位置検出部12内のa位置にある遮光時に
は、受光素子7の出力波形は、図2eに示すものとな
り、この出力波形は、図2bの位置検出用パルスと同位
相のパルスを含まない。
【0016】したがって、コンパレータ8は、受光素子
7の出力波形に図2bの位置検出用パルスが含まれてい
るか否かを判断することにより、干渉フィルタ5の位置
を検出することができる。すなわち、受光素子7の出力
波形が図2dの場合は、位置検出用パルス列が含まれて
いるから、位置検出部12外のb位置と判断し、図gに
示すように出力9を出す。また、受光素子7の出力波形
が図2eの場合は、位置検出用パルス列が含まれていな
いから、位置検出部12内a位置と判断し、図2fに示
すように出力9を出さない。
7の出力波形に図2bの位置検出用パルスが含まれてい
るか否かを判断することにより、干渉フィルタ5の位置
を検出することができる。すなわち、受光素子7の出力
波形が図2dの場合は、位置検出用パルス列が含まれて
いるから、位置検出部12外のb位置と判断し、図gに
示すように出力9を出す。また、受光素子7の出力波形
が図2eの場合は、位置検出用パルス列が含まれていな
いから、位置検出部12内a位置と判断し、図2fに示
すように出力9を出さない。
【0017】次に、自己点検について説明をする。コン
パレータ8は、図2cの自己点検用パルス列と受光素子
7の出力波形との比較を行う。センサに異常がない場
合、干渉フィルタ5がa位置にある遮光時およびb位置
にある透光時のいずれにも、受光素子7の出力波形は、
図2dまたは図2eに示すように、図2cの自己点検用
パルスと同位相のパルスを含む。
パレータ8は、図2cの自己点検用パルス列と受光素子
7の出力波形との比較を行う。センサに異常がない場
合、干渉フィルタ5がa位置にある遮光時およびb位置
にある透光時のいずれにも、受光素子7の出力波形は、
図2dまたは図2eに示すように、図2cの自己点検用
パルスと同位相のパルスを含む。
【0018】これに対し、波長890nmの赤外光を発光
する発光ダイオード11から受光素子7迄の間に異常が
ある場合、受光素子7の出力波形は、図2cの自己点検
用パルス列と同一位相のパルスを含まないこととなる。
する発光ダイオード11から受光素子7迄の間に異常が
ある場合、受光素子7の出力波形は、図2cの自己点検
用パルス列と同一位相のパルスを含まないこととなる。
【0019】したがって、コンパレータ8は、受光素子
7の出力波形に図2cの自己点検用パルス列のパルスが
含まれているか否かを判断することにより、センサの異
常の有無を判断することができる。すなわち、受光素子
7の出力波形が図2cまたは図2dの場合は、自己点検
用パルス列と同一位相のパルスが含まれているから、セ
ンサに異常無しと判断し、図2hに示すように出力9を
出さない。また、受光素子7の出力波形に図2cの自己
点検用パルス列が含まれていない場合は、センサに異常
ありとして、図2iに示すように出力9を出す。
7の出力波形に図2cの自己点検用パルス列のパルスが
含まれているか否かを判断することにより、センサの異
常の有無を判断することができる。すなわち、受光素子
7の出力波形が図2cまたは図2dの場合は、自己点検
用パルス列と同一位相のパルスが含まれているから、セ
ンサに異常無しと判断し、図2hに示すように出力9を
出さない。また、受光素子7の出力波形に図2cの自己
点検用パルス列が含まれていない場合は、センサに異常
ありとして、図2iに示すように出力9を出す。
【0020】また、本発明においては、光ファイバは、
投光ファイバ、受光ファイバそれぞれ1本ずつ使用する
のみであるから、光ファイバの数を2本にできる。した
がって、前記従来例のものにおいては光ファイバを3本
使用しているが、これと比較して光ファイバの数を低減
するという効果も奏する。
投光ファイバ、受光ファイバそれぞれ1本ずつ使用する
のみであるから、光ファイバの数を2本にできる。した
がって、前記従来例のものにおいては光ファイバを3本
使用しているが、これと比較して光ファイバの数を低減
するという効果も奏する。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、光を利用した位置検出
センサにおいて、位置検出が確実にできることはもとよ
り、常時自己点検を行いセンサの異常を点検できるか
ら、センサに異常が生じた場合、即時に故障検出が可能
となる。
センサにおいて、位置検出が確実にできることはもとよ
り、常時自己点検を行いセンサの異常を点検できるか
ら、センサに異常が生じた場合、即時に故障検出が可能
となる。
【0022】また、使用する光ファイバの数を従来のも
のより、低減することが可能となる。
のより、低減することが可能となる。
【図1】 本発明のブロック図。
【図2】 本発明を説明するための波形を示すグラフ。
【図3】 従来例を示す概略図。
1…パルス発生器、2…デコーダ、3…2波長発光ダイ
オード、4…投光ファイバ、5…干渉フィルタ、6…受
光ファイバ、7…受光素子、8…コンパレータ、9…出
力。
オード、4…投光ファイバ、5…干渉フィルタ、6…受
光ファイバ、7…受光素子、8…コンパレータ、9…出
力。
Claims (1)
- 【請求項1】 互いに波長が異なる光を、互いに位相を
異にしてパルス状に発光する、位置検出用の光源と自己
点検用の光源と、前記両光源による光を受光し、電気信
号に変換する手段と、前記両光源と前記受光手段との間
の光路中の位置検出部と、該位置検出部に挿入された位
置または位置検出部から離脱した位置をとり、前記位置
検出用の光源の波長を遮光し、前記自己点検用光源の波
長を透過するフィルタと、前記位置検出用光源に対応す
る位相と前記受光手段による電気信号との比較により、
位置を検出する手段と、前記自己点検用光源に対応する
位相と前記受光手段による電気信号との比較により、装
置の異常を検出する手段を備えたことを特徴とする光位
置検出センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04095209A JP3135352B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 光位置検出センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04095209A JP3135352B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 光位置検出センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05303923A true JPH05303923A (ja) | 1993-11-16 |
JP3135352B2 JP3135352B2 (ja) | 2001-02-13 |
Family
ID=14131363
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04095209A Expired - Fee Related JP3135352B2 (ja) | 1992-04-15 | 1992-04-15 | 光位置検出センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3135352B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012103147A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | ▲がい▼笛森光電股▲ふん▼有限公司 | 相異発光素子を有する傾斜検出器及びその操作方法 |
CN114121546A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-01 | 国网重庆市电力公司电力科学研究院 | 一种光纤监测开关动触头位置的装置及其监测方法 |
-
1992
- 1992-04-15 JP JP04095209A patent/JP3135352B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012103147A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | ▲がい▼笛森光電股▲ふん▼有限公司 | 相異発光素子を有する傾斜検出器及びその操作方法 |
CN114121546A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-01 | 国网重庆市电力公司电力科学研究院 | 一种光纤监测开关动触头位置的装置及其监测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3135352B2 (ja) | 2001-02-13 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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