JPH0529845B2 - - Google Patents

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JPH0529845B2
JPH0529845B2 JP62241872A JP24187287A JPH0529845B2 JP H0529845 B2 JPH0529845 B2 JP H0529845B2 JP 62241872 A JP62241872 A JP 62241872A JP 24187287 A JP24187287 A JP 24187287A JP H0529845 B2 JPH0529845 B2 JP H0529845B2
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JP
Japan
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value
memory
values
lower limit
measured values
Prior art date
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Masaaki Taguchi
Atsushi Mizuno
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Hioki EE Corp
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Hioki EE Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、測定値の比較表示方法に係り、さ
らに詳しくは、取り込んだ全測定値につきて、予
め設定してある基準値に対する許容範囲の上限値
と下限値との関係でその許容範囲内と許容範囲外
とにある構成割合をデジタルコンパレータ等の測
定値比較表示装置により各別に表示するための測
定値の比較表示方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for comparing and displaying measured values, and more specifically, for all the measured values taken in, the permissible range with respect to a preset reference value is determined. The present invention relates to a method for comparing and displaying measured values for separately displaying the constituent proportions within and outside the permissible range in relation to upper and lower limit values using a measured value comparison and display device such as a digital comparator.

[従来の技術] デジタルコンパレータ等の測定値比較表示装置
は、抵抗測定器などの各種測定器から得られる具
体的な個別測定値が予め設定されている基準値に
対する許容範囲の上限値と下限値との関係でその
許容範囲内にあるか否かを比較し、判別し、その
結果を表示するものであり、これにより被測定抵
抗値が規格内にあるか否かをを知ることができる
ようになつている。
[Prior Art] Measured value comparison display devices such as digital comparators display specific individual measured values obtained from various measuring instruments such as resistance measuring instruments as upper and lower limits of a tolerance range with respect to a preset reference value. It compares and determines whether the measured resistance value is within the allowable range or not, and displays the results.This allows you to know whether the measured resistance value is within the standard. It's getting old.

従来からあるこの種の装置については、測定値
が基準値に対する許容範囲の上限値と下限値との
関係で許容範囲内にあるか否かを演算制御手段を
介して判定し、その結果を個別の測定値毎に表示
する構成をとつている。この場合、測定毎に得ら
れる測定値が基準値に対する許容範囲の上限値と
下限値との関係でその都度比較され、許容範囲内
(以下、INと略称する)にあるか、前記上限値を
上回つている(以下、Hiと略称する)か、前記
下限値を下回つている(以下、Loと略称する)
かをLEDランプの点灯位置により一目で判別す
ることができるようになつている。
Conventional devices of this type use arithmetic control means to determine whether or not the measured value is within the permissible range in relation to the upper and lower limits of the permissible range relative to the reference value, and the results are individually calculated. The system is configured to display each measured value. In this case, the measured value obtained for each measurement is compared with the upper and lower limits of the tolerance range with respect to the reference value, and is checked to see if it is within the tolerance range (hereinafter abbreviated as IN). is above the lower limit value (hereinafter abbreviated as Hi) or is below the lower limit value (hereinafter abbreviated as Lo)
You can tell at a glance by the lighting position of the LED lamp.

[発明の解決しようとする問題点] しかし、1つ1つの測定値が許容範囲内にある
か否かを知ることができても、取り込んだ全測定
値のうち、結果的にHi,IN,Loのそれぞれ属す
ることになつた測定値の占める構成割合がどのよ
うになつているかを知ることはできなかつた。も
ちろん、測定の都度、Hi,IN,Loの別に測定値
をカウントしておき、全ての測定を終了した後、
全測定件数でHi,IN,Loに属するそれぞれの合
計数を除することで構成割合を求めることはでき
る。しかし、このような事後的な算出作業は作業
的に煩雑であるのみならず、正確な数値を得るこ
とが必ずしも容易ではないという問題もあつた。
[Problems to be solved by the invention] However, even if it is possible to know whether each measured value is within the allowable range, out of all the measured values taken, Hi, IN, It was not possible to know what the proportions of the measured values that belonged to each Lo were. Of course, each time you make a measurement, count the measured values separately for Hi, IN, and Lo, and after completing all measurements,
The composition ratio can be determined by dividing the total number of Hi, IN, and Lo categories by the total number of measurements. However, such ex-post calculation work is not only complicated, but also has the problem that it is not always easy to obtain accurate numerical values.

[発明の目的] この発明は、従来装置にみられたの上記問題点
に鑑みてなされたものであり、その目的は、測定
の都度、その測定値がHi,IN,Loのいずれに属
するものであるかを知ることができるのみなら
ず、デジタルコンパレータ等の測定値比較表示装
置を介することで、測定した全件数に占めるHi,
IN,Loのそれぞれの構成割合も併せて数値表示
することができると同時に、一度設定した上限値
及び/又は下限値を事後的に設定変更する必要が
生じた場合であつても、設定変更後における測定
した全件数に占めるHi,IN,Loのそれぞれの構
成割合を改めて数値表示することができる測定値
の比較表示方法を提供することにある。
[Purpose of the invention] This invention was made in view of the above-mentioned problems found in conventional devices, and its purpose is to determine whether the measured value belongs to Hi, IN, or Lo each time a measurement is performed. Not only can you know whether Hi,
The composition ratio of IN and Lo can also be displayed numerically, and even if it becomes necessary to change the upper limit and/or lower limit after the setting has been changed, The object of the present invention is to provide a comparative display method for measured values that can display numerically the proportions of each of Hi, IN, and Lo in the total number of measurements.

[問題点を解決するための手段] この発明は、上記目的を達成すべくなされたも
のであり、測定値が基準値に対する許容範囲の上
限値と下限値との関係で許容範囲内にあるか否か
を第1のメモリと第2のメモリとを備える演算制
御手段を介して判定し、その結果を表示する測定
値の比較表示方法であつて、第1のメモリに順次
格納させながら取り込まれる測定値を前記許容範
囲の上限値と下限値とに対する関係でそれぞれの
許容範囲内にあるか否かを判定し、その結果を各
別に第2のメモリに格納し、測定値の取り込みを
全て終了した後、全測定件数に対するそれぞれの
構成割合を各別に算出して数値表示するととも
に、事後的に前記上限値及び/又は下限値を設定
変更する必要がある場合には、既に第1のメモリ
に格納されている全測定値につき設定変更後の上
限値及び/又は下限値に対応する全測定件数に対
するそれぞれの構成割合を各別に再度算出してそ
の結果を数値表示することにその構成上の特徴が
ある。
[Means for Solving the Problems] The present invention has been made to achieve the above object, and it is possible to determine whether a measured value is within a permissible range in relation to the upper limit and lower limit of the permissible range with respect to a reference value. A method for comparing and displaying measured values, in which the measured values are sequentially stored and captured in the first memory, and the results are displayed. Determine whether the measured value is within the respective tolerance ranges in relation to the upper and lower limits of the tolerance range, store the results separately in the second memory, and complete the import of all the measurement values. After that, the composition ratio of each to the total number of measurements is calculated and numerically displayed, and if it is necessary to change the settings of the upper limit and/or lower limit after the fact, it is already stored in the first memory. Its configuration features include recalculating the proportion of each stored measurement value to the total number of measurements corresponding to the upper limit and/or lower limit after setting changes and displaying the results numerically. There is.

[実施例] 以下、図面に基づいてこの発明の実施例につい
て説明する。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は、この発明方法を実施し、デジタルコ
ンパレータ等の測定値比較表示装置に設けられた
表示パネル1を介することで得られた表示例を示
すものである。
FIG. 1 shows an example of a display obtained by carrying out the method of the present invention through a display panel 1 provided in a measured value comparison display device such as a digital comparator.

すなわち、LEDランプ等からなる表示パネル
1には、基準値に対する許容範囲の上限値として
「Hi 1900」のように設定表示されている上限値
表示部2と、基準値に対する許容範囲の下限値と
して「Lo 1500」のように表示されている下限値
表示部3と、取り込まれた測定値の件数として
「N=158」のようにして表示される件数表示部4
が設けられている。また、それらの下段に位置す
る部位には、Hiに属する測定値の件数が占める
構成割合として「H:25.0%」のように表示され
ているHi割合表示部5と、許容範囲内にある測
定値の件数が占める構成割合として「I:61.3
%」のように表示されているIN割合表示部6と、
Loに属する測定値の件数が占める構成割合とし
て「L:13.7%」のように表示されているLo割合
表示部7とが設けられている。
That is, a display panel 1 consisting of an LED lamp, etc. has an upper limit display section 2 that displays a setting such as "Hi 1900" as the upper limit of the allowable range for the reference value, and a display panel 2 that displays the lower limit of the allowable range for the reference value. The lower limit value display section 3 is displayed as "Lo 1500," and the number display section 4 is displayed as the number of imported measurement values as "N=158."
is provided. In addition, in the lower part of these, there is a Hi percentage display section 5 that displays the composition ratio of the number of measurement values belonging to Hi, such as "H: 25.0%", and the measurement values within the allowable range. The composition ratio of the number of values is “I: 61.3
%” is displayed in the IN percentage display section 6,
A Lo ratio display section 7 is provided in which the composition ratio occupied by the number of measurement values belonging to Lo is displayed as "L: 13.7%".

なお、この発明方法の実施に供される表示パネ
ル1の構成については、上記実施例に限定される
ものではなく、他の構成要素として測定毎に当該
測定値がHi,IN,Loのいずれに属するものであ
るかを知ることができる表示部を設けるなど、必
要に応じて他の構成要素を付加したものであつて
もよい。
Note that the configuration of the display panel 1 used for implementing the method of this invention is not limited to the above embodiment, and other components may be used to determine whether the measured value is Hi, IN, or Lo for each measurement. Other components may be added as necessary, such as by providing a display section that allows you to know whether the item belongs to the item.

次に、このようにして構成されている表示パネ
ル1に対するこの発明による表示方法をフローチ
ヤート図に従つて説明する。
Next, a display method according to the present invention for the display panel 1 configured as described above will be explained with reference to a flowchart.

第2図は、この発明方法の望ましい実施例を示
すフローチヤート図であり、まず、コンパレータ
等の測定値比較表示装置を操作することで、表示
パネル1の上限値表示部2と下限値表示部3との
それぞれに所望する基準値に対する許容範囲の上
限値と下限値とを設定する。
FIG. 2 is a flow chart showing a preferred embodiment of the method of the present invention. First, by operating a measured value comparison display device such as a comparator, the upper limit value display section 2 and the lower limit value display section of the display panel 1 are The upper limit and lower limit of the allowable range for the desired reference value are set for each of 3 and 3.

しかる後、取り込まれた具体的な第1番目の測
定値を入力するとともに、前記上限値表示部2と
下限値表示部3とに表示されている上限値と下限
値との関係で、当該測定値がHi,IN,Loのいず
れに属するものであるかを比較処理し、その属す
べきHi,IN,Loのデータとともにメモリに格納
される。
After that, the specific first measurement value that has been taken in is input, and the measurement value is determined based on the relationship between the upper limit value and the lower limit value displayed on the upper limit value display section 2 and the lower limit value display section 3. A comparison process is performed to determine whether the value belongs to Hi, IN, or Lo, and the value is stored in memory together with the Hi, IN, or Lo data to which it belongs.

この際におけるメモリへの具体的な格納パター
ンは、例えば、取り込まれる測定値のすべてを第
1のメモリに順次格納し、比較処理後のHi,IN,
Loのデータを第2のメモリに格納することで行
われる。
A specific storage pattern in the memory at this time is, for example, sequentially storing all the measured values to be taken into the first memory, Hi, IN,
This is done by storing the Lo data in the second memory.

以下、測定すべき対象に対する全ての測定が終
了するまで、同様の処理が繰り返し行なわれる。
Thereafter, similar processing is repeated until all measurements on the object to be measured are completed.

このようにして取り込まれる全ての測定値を第
1のメモリに格納した後は、既に第2のメモリに
格納されているデータを取り出し、Hi,IN,Lo
の別に全測定件数に対するそれぞれの構成割合を
求め、Hi割合表示部5と、IN割合表示部6と、
Lo割合表示部7とに各別に数値表示することで
行なわれる。
After all the measured values acquired in this way are stored in the first memory, the data already stored in the second memory is retrieved and the Hi, IN, Lo
The composition ratio of each to the total number of measurements is calculated separately, and the Hi ratio display section 5, the IN ratio display section 6,
This is done by displaying numerical values separately on the Lo ratio display section 7.

また、測定値を取り込む毎に、その時点での測
定件数との関係でHi,IN,Loのそれぞれに属す
るものの構成割合を求め、その結果をHi割合表
示部5とIN割合表示部6とLo割合表示部7とに
各別に数値表示するようにすることもできる。
In addition, each time a measurement value is taken in, the composition ratio of items belonging to each of Hi, IN, and Lo is determined in relation to the number of measurements at that time, and the results are displayed in the Hi percentage display section 5, IN percentage display section 6, and Lo. It is also possible to display numerical values separately on the ratio display section 7.

しかも、Hi,IN,Loの別にそれぞれの構成割
合を求め、Hi割合表示部5と、IN割合表示部6
と、Lo割合表示部7とに各別に数値表示した後、
都合により前記上限値表示部2及び/又は下限値
表示部3に設定表示してある数値を変更する必要
が生じた場合には、第1のメモリに格納されてい
る全測定値を変更後の設定値に基づき再び比較処
理し、Hi,IN,Loの別にそれぞれの構成割合を
求め、Hi割合表示部5と、IN割合表示部6と、
Lo割合表示部7とに各別に再度数値表示するこ
とにより行なうことができる。
Moreover, the composition ratios of Hi, IN, and Lo are calculated separately, and the Hi ratio display section 5 and the IN ratio display section 6 are displayed.
After displaying the values separately on the and Lo ratio display section 7,
If it becomes necessary to change the numerical values set and displayed on the upper limit value display section 2 and/or lower limit value display section 3 due to circumstances, all measured values stored in the first memory will be changed. Comparison processing is performed again based on the set values, and the respective composition ratios of Hi, IN, and Lo are determined, and the Hi ratio display section 5, the IN ratio display section 6,
This can be done by displaying the numerical values again on each Lo ratio display section 7.

したがつて、当初の設定条件のもとで行われる
製品検査で実施されている通常の合否試験に加
え、この合否試験において不良品とされたものに
ついては、設定条件を変更して再度演算させるこ
とのみによつて、高価な情報処理システムを用い
て行われるヒストグラム処理による度数分布情報
と同様に、不良品のバラツキの幅を数値表示する
ことができる。
Therefore, in addition to the normal pass/fail test that is performed during product inspection under the original set conditions, for products that are determined to be defective in this pass/fail test, the set conditions will be changed and the calculation will be performed again. This alone makes it possible to numerically display the width of variation in defective products, similar to frequency distribution information obtained by histogram processing performed using an expensive information processing system.

[発明の効果] 以上述べたようにこの発明によれば、当初設定
された基準値に対する許容範囲の上限値と下限値
との関係で、全測定件数中に占めるHi,IN,Lo
の別の構成割合を求め、その結果を数値表示する
ことができると同時に、当初の設定条件を事後的
に変更する必要が生じた場合であつても、設定変
更後における全測定件数に占めるHi,IN,Loの
それぞれの構成割合に改めて数値表示することが
でるので、測定作業に付随する煩雑なカウント作
業を一掃することができるほか、事後的な状況変
化にも即応させながら所望する設定条件のもとで
の全測定件数中に占めるHi,IN,Loの別の構成
割合をデジタルコンパレータ等の測定値比較表示
装置により各別に数値表示することができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, Hi, IN, and Lo in the total number of measurements are
At the same time, even if it becomes necessary to change the initial setting conditions after the fact, Hi , IN, and Lo can be displayed again, so you can eliminate the complicated counting work that accompanies measurement work, and also adjust the desired setting conditions while quickly responding to subsequent situational changes. The composition ratios of Hi, IN, and Lo in the total number of measurements can be displayed numerically separately using a measurement value comparison display device such as a digital comparator.

このため、製品検査で実施されている通常の合
否試験に加え、この合否試験において不良品とさ
れたものについては、設定条件を変更して再度演
算させるのみで、高価な情報処理システムを用い
てのヒストグラム処理と同様に不良品のバラツキ
の幅を知ることができる。
Therefore, in addition to the normal pass/fail tests carried out in product inspections, for products that are found to be defective in this pass/fail test, all that is required is to change the setting conditions and perform the calculation again, using an expensive information processing system. Similar to the histogram processing, it is possible to find out the range of variation in defective products.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明により行なわれるデータ処
理の結果を表示パネルに表示した一例を示す正面
図、第2図は、この発明による処理手順の実施例
を示すフローチヤート図である。 1…表示パネル、2……上限値表示部、3……
下限値表示部、4……件数表示部、5……Hi割
合表示部、6……IN割合表示部、7……Lo割合
表示部。
FIG. 1 is a front view showing an example of the display panel displaying the results of data processing according to the present invention, and FIG. 2 is a flowchart showing an embodiment of the processing procedure according to the present invention. 1... Display panel, 2... Upper limit value display section, 3...
Lower limit value display section, 4...Number display section, 5...Hi ratio display section, 6...IN percentage display section, 7...Lo percentage display section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 測定値が基準値に対する許容範囲の上限値と
下限値との関係で許容範囲内にあるか否かを第1
のメモリと第2のメモリとを備える演算制御手段
を介して判定し、その結果を表示する測定値の比
較表示方法において、第1のメモリに順次格納さ
せながら取り込まれる測定値を前記許容範囲の上
限値と下限値とに対する関係でそれぞれの許容範
囲内にあるか否かを判定し、その結果を各別に第
2のメモリに格納し、測定値の取り込みを全て終
了した後、全測定件数に対するそれぞれの構成割
合を各別に算出して数値表示するとともに、事後
的に前記上限値及び/又は下限値を設定変更する
必要がある場合には、既に第1のメモリに格納さ
れている全測定値につき設定変更後の上限値及
び/又は下限値に対応する全測定件数に対するそ
れぞれの構成割合を各別に再度算出してその結果
を数値表示することを特徴とする測定値の比較表
示方法。
1 First check whether the measured value is within the tolerance range in relation to the upper and lower limits of the tolerance range with respect to the reference value.
In the method for comparing and displaying measured values in which the results are displayed through an arithmetic control means comprising a memory and a second memory, the measured values are sequentially stored in the first memory and taken in, and the measured values are stored within the tolerance range. Determine whether or not the relationship between the upper limit value and the lower limit value is within the respective allowable ranges, store the results separately in the second memory, and after all measurement values have been imported, In addition to calculating and numerically displaying each composition ratio separately, if it is necessary to change the settings of the upper limit and/or lower limit after the fact, all measured values already stored in the first memory A method for comparing and displaying measured values, characterized in that the composition ratio of each of the upper limit values and/or lower limit values to the total number of measurements corresponding to the upper limit value and/or lower limit value after the setting change is calculated again for each, and the results are displayed numerically.
JP24187287A 1987-09-25 1987-09-25 Comparative display of measured value Granted JPS6483108A (en)

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0357933A (en) * 1989-07-26 1991-03-13 Riken Corp Pressure detector
JP5320691B2 (en) 2007-06-11 2013-10-23 オムロンヘルスケア株式会社 Weight scale

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS534559A (en) * 1976-07-02 1978-01-17 Oki Electric Ind Co Ltd Summed probability measuring system
JPS59161702A (en) * 1983-03-04 1984-09-12 Nippon Denso Co Ltd Setting method of critical value to optional reference value
JPS60169712A (en) * 1984-02-14 1985-09-03 Nippon Denso Co Ltd Measured value outputting apparatus for vehicle

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS534559A (en) * 1976-07-02 1978-01-17 Oki Electric Ind Co Ltd Summed probability measuring system
JPS59161702A (en) * 1983-03-04 1984-09-12 Nippon Denso Co Ltd Setting method of critical value to optional reference value
JPS60169712A (en) * 1984-02-14 1985-09-03 Nippon Denso Co Ltd Measured value outputting apparatus for vehicle

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