JPH05296842A - Confocal polarization scanning microscope - Google Patents

Confocal polarization scanning microscope

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JPH05296842A
JPH05296842A JP9777092A JP9777092A JPH05296842A JP H05296842 A JPH05296842 A JP H05296842A JP 9777092 A JP9777092 A JP 9777092A JP 9777092 A JP9777092 A JP 9777092A JP H05296842 A JPH05296842 A JP H05296842A
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JP
Japan
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light
polarization
fiber
sample
analyzer
Prior art date
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JP9777092A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeji Kimura
茂治 木村
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To obtain a confocal scanning microscope capable of observing the polarized state of light and using an optical fiber. CONSTITUTION:The light from a light source 1 is collimated by a lens 10 and turned to a linearly polarized light by a polarizer 31. The light in the linearly polarized state passes through a beam splitter 20 and is condensed by a lens 11 to an end face 401 of an optical fiber 40 which preserves the polarized light. The light projecting from the other end face 402 of the fiber 40 is condensed as a convergent light onto the surface of a sample 80 by lenses 13 and 12. The reflecting light from the sample 80 is, through the lenses 12, 13, the end face 402, the fiber 40, the end face 401 and the lens 11, reflected by the beam splitter 20 and displayed at a display device 60 through an analyzer 32.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、試料からの応答光の偏
光状態の変化を検出するのに適した偏光共焦点走査顕微
鏡に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polarization confocal scanning microscope suitable for detecting changes in the polarization state of response light from a sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の偏光走査顕微鏡は、試料を偏光し
た光で照射し、検光子を通して試料を観察することによ
って実現される。この装置における光学系の構成は、光
学技術ハンドブック(久保田等編集、朝倉書店、昭和5
5年)の855頁に記載されている。
A conventional polarization scanning microscope is realized by illuminating a sample with polarized light and observing the sample through an analyzer. The configuration of the optical system in this device is described in Optical Technology Handbook (edited by Kubota et al., Asakura Shoten, Showa 5).
5 years), page 855.

【0003】また、光学ファイバを用いた共焦点顕微鏡
の例としては、特開平3−87804号がある。上記例
は光源および光検出器と顕微鏡とをフレキシブルな光フ
ァイバで結ぶことにより、これらをそれぞれ自在な位置
に設けるようにしたものである。
As an example of a confocal microscope using an optical fiber, there is JP-A-3-87804. In the above example, the light source, the photodetector, and the microscope are connected to each other by flexible optical fibers so that they can be provided at arbitrary positions.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、光
学的に円形なコアを有する一般の光学ファイバを用いる
ので、外部からの曲げや振動によって偏波面が容易に回
転し、このため偏波面の保存が悪く、偏光状態の解析を
するのが非常に困難である。
In the above-mentioned prior art, since a general optical fiber having an optically circular core is used, the polarization plane easily rotates due to bending or vibration from the outside. Storage is poor and it is very difficult to analyze the polarization state.

【0005】本発明は、光ファイバを用いた共焦点顕微
鏡において、試料の偏光依存性が観察できる装置を得る
ことを目的とする。
An object of the present invention is to obtain an apparatus capable of observing the polarization dependence of a sample in a confocal microscope using an optical fiber.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的は、光源と、該
光源からの光を特定の偏光状態にする偏光子と、偏波面
保存光学ファイバと、上記偏光状態の光を上記偏波面保
存光学ファイバに入射させる光学系と、上記ファイバか
らの出射光を集光する光学系と、該光学系の焦点位置に
配置した試料と、該試料または上記収束光を走査する走
査機構と、上記試料からの散乱光あるいは反射光やラマ
ン散乱光や蛍光等の応答光を上記同一ファイバの出射端
面に集光する光学系と、上記ファイバを通過した応答光
の一部あるいは全部を反射する光学素子と、反射された
応答光の光路に設けた検光子と、該検光子からの出射光
を検出する光検出器と、上記試料における光の照射場所
と上記光検出器の出力とを対応付けて表示する表示装置
とを備えることにより達成される。
The above-mentioned object is to provide a light source, a polarizer for converting the light from the light source into a specific polarization state, a polarization-maintaining optical fiber, and a polarization-maintaining optical fiber for maintaining the polarization state of the light. From the sample, an optical system for entering the fiber, an optical system for collecting the light emitted from the fiber, a sample arranged at the focal point of the optical system, a scanning mechanism for scanning the sample or the convergent light, An optical system that collects response light such as scattered light or reflected light, Raman scattered light, or fluorescence on the emission end face of the same fiber, and an optical element that reflects a part or all of the response light that has passed through the fiber, An analyzer provided in the optical path of the reflected response light, a photodetector for detecting light emitted from the analyzer, an irradiation location of light on the sample, and an output of the photodetector are displayed in association with each other. With a display device Ri is achieved.

【0007】[0007]

【作用】光源から出射し偏光子を経た直線偏光状態の光
は、レンズにより偏波面保存光学ファイバの端面に集光
される。上記偏波面保存光学ファイバを伝搬しもう一方
の端面から出射する光は、上記ファイバの主軸の方向を
調整することにより、安定した直線偏光状態の光にな
る。上記出射光は光学系を経て試料上に収束光として集
光され、該集光はステージ上の試料を走査する。上記試
料からの散乱光あるいは反射光は、光学系を経て上記偏
波面保存光学ファイバの上記出射端に入射し、上記ファ
イバの入射端から出射してくる光は、上記試料の表面状
態により偏光方向が変化しており、ビームスプリッタで
反射し検光子により特定の偏光方向の光だけが光検出器
に入射する。上記光検出器の出力は試料の走査位置と対
応付けて表示されるので、上記検光子の偏光軸を回転さ
せることにより種々の偏光方向の像を表示することがで
きる。偏光子の偏光軸に対し、検光子の偏光軸を垂直方
向に設定すると、暗視野顕微鏡が実現できる。
The light in the linearly polarized state emitted from the light source and passing through the polarizer is condensed by the lens on the end face of the polarization-maintaining optical fiber. The light propagating through the polarization-maintaining optical fiber and emitted from the other end face becomes light in a stable linear polarization state by adjusting the direction of the principal axis of the fiber. The emitted light is condensed as convergent light on the sample through the optical system, and the condensed light scans the sample on the stage. The scattered light or reflected light from the sample is incident on the exit end of the polarization-maintaining optical fiber through an optical system, and the light emitted from the entrance end of the fiber is polarized depending on the surface state of the sample. Changes, and only light of a specific polarization direction is reflected by the beam splitter and enters the photodetector by the analyzer. Since the output of the photodetector is displayed in association with the scanning position of the sample, it is possible to display images in various polarization directions by rotating the polarization axis of the analyzer. A dark field microscope can be realized by setting the polarization axis of the analyzer perpendicular to the polarization axis of the polarizer.

【0008】[0008]

【実施例】つぎに本発明の実施例を図面とともに説明す
る。図1は本発明による偏光共焦点走査顕微鏡の第1実
施例を示す概略構成図、図2は本発明の第2実施例を示
す概略構成図、図3は本発明の第3実施例を示す概略構
成図である。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a polarization confocal scanning microscope according to the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a third embodiment of the present invention. It is a schematic block diagram.

【0009】第1実施例 本発明の第1実施例を示す図1において、光源1からの
光をレンズ10によりコリメートする。光源1からの光
の偏光度が小さい場合は偏光子31を挿入して直線偏光
とする。上記直線偏光状態の光はビームスプリッタ20
を透過し、レンズ11により偏波面保存光学ファイバ4
0の端面401に集光される。上記ファイバ40のもう
一方の端面402からの出射光も、偏波面保存光学ファ
イバ40の主軸の方向を調整することにより、直線偏光
状態の光が出射しているものとする。出射した光はレン
ズ13および12により試料80の表面上に収束光とし
て集光される。上記試料80はステージ90の上に載っ
ており、上記ステージ90の走査機構により、xおよび
y、z方向に走査される。上記試料80からの散乱光あ
るいは反射光は、レンズ12および13からなる集光光
学系により偏波面保存光学ファイバの端面402へ入射
する。上記端面401から出射してくる光は試料80の
表面状態により偏光方向が変化している。上記端面40
1からの出射光はビームスプリッタ20により反射さ
れ、該反射光は検光子32を透過し特定の偏光方向の光
が選択されて、光検出器50に入射する。上記光検出器
50からの出力は、試料80の走査位置と対応を付けて
表示装置60に表示される。上記検光子32の偏光軸を
回転させることにより種々の偏光方向の像を表示装置6
0に出すことが可能であり、偏光子31の偏光軸に対し
て垂直方向に設定すると暗視野顕微鏡が実現される。本
実施例ではステージ90によって試料80を走査する例
を示したが、レンズ12および13の間にガルバノミラ
ーあるいはAOディフレクタ等を使用して、レーザ光を
走査してもよい。
First Embodiment In FIG. 1 showing a first embodiment of the present invention, light from a light source 1 is collimated by a lens 10. When the degree of polarization of the light from the light source 1 is small, a polarizer 31 is inserted to make linearly polarized light. The linearly polarized light is beam splitter 20.
And the polarization-preserving optical fiber 4 is transmitted by the lens 11.
It is focused on the end surface 401 of 0. It is assumed that the light emitted from the other end face 402 of the fiber 40 is also in a linearly polarized state by adjusting the direction of the principal axis of the polarization-maintaining optical fiber 40. The emitted light is condensed by the lenses 13 and 12 on the surface of the sample 80 as converged light. The sample 80 is placed on the stage 90, and is scanned in the x, y, and z directions by the scanning mechanism of the stage 90. The scattered light or the reflected light from the sample 80 is incident on the end face 402 of the polarization-maintaining optical fiber by the condensing optical system including the lenses 12 and 13. The light emitted from the end face 401 has its polarization direction changed depending on the surface state of the sample 80. The end face 40
The emitted light from 1 is reflected by the beam splitter 20, the reflected light passes through the analyzer 32, the light of a specific polarization direction is selected, and enters the photodetector 50. The output from the photodetector 50 is displayed on the display device 60 in association with the scanning position of the sample 80. By rotating the polarization axis of the analyzer 32, images of various polarization directions are displayed on the display device 6.
The dark field microscope can be realized by setting it in the direction perpendicular to the polarization axis of the polarizer 31. In the present embodiment, the example in which the sample 80 is scanned by the stage 90 is shown, but a galvanometer mirror, an AO deflector or the like may be used between the lenses 12 and 13 to scan the laser beam.

【0010】第2実施例 上記第1実施例では、ビームスプリッタ20を使用し
て、偏光子31の出射光を透過させ、偏波面保存光学フ
ァイバ40の端面401に入射させるとともに、試料8
0の表面で反射し上記ファイバ40を透過し再び出射し
た光を、反射させて検光子32に入射させているが、図
2に示す第2実施例のように、偏波面保存光学ファイバ
を使用した光ファイバカプラ41を使用しても、上記第
1実施例と同様の効果を得ることができる。
Second Embodiment In the first embodiment, the beam splitter 20 is used to allow the light emitted from the polarizer 31 to pass therethrough and to be incident on the end face 401 of the polarization-maintaining optical fiber 40.
The light reflected on the surface of No. 0, transmitted through the fiber 40, and emitted again is reflected and made incident on the analyzer 32. However, as in the second embodiment shown in FIG. Even if the optical fiber coupler 41 described above is used, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

【0011】第3実施例 図3に示す第3実施例においては、1/4波長板33を
光路中に挿入し、偏波面保存光学ファイバ40の端面4
02から出射した直線偏光状態の光を円偏光状態に変換
する。試料80が鏡面であるならば、上記試料80から
反射されて上記1/4波長板33に戻ってくる光は、出
射光とは逆方向に回転する円偏光状態になっているた
め、上記波長板33を透過した光の偏光方向は入射光の
偏光方向に対して直交方向になっている。もし、試料8
0が鏡面状態でない場合は、反射された光は楕円偏光状
態になる可能性があり、上記波長板33を透過した光は
入射光の偏光方向と同じ方向の振幅成分を持つことがで
きる。もし、検光子32の偏光軸を偏光子31の偏光軸
と同じ方向に設定してあるならば、上記成分が光検出器
50に入射することになる。上記光検出器50の検出信
号を使用して画像を形成すると暗視野画像になる。
Third Embodiment In a third embodiment shown in FIG. 3, a quarter-wave plate 33 is inserted in the optical path, and an end face 4 of a polarization-maintaining optical fiber 40 is inserted.
The linearly polarized light emitted from 02 is converted into a circularly polarized light. If the sample 80 is a mirror surface, the light reflected from the sample 80 and returning to the quarter-wave plate 33 is in the circular polarization state in which the light is rotated in the direction opposite to the direction of the emitted light. The polarization direction of the light transmitted through the plate 33 is orthogonal to the polarization direction of the incident light. If sample 8
When 0 is not a mirror surface state, the reflected light may be in an elliptically polarized state, and the light transmitted through the wave plate 33 may have an amplitude component in the same direction as the polarization direction of the incident light. If the polarization axis of the analyzer 32 is set in the same direction as the polarization axis of the polarizer 31, the above component will enter the photodetector 50. When the image is formed using the detection signal of the photodetector 50, a dark field image is formed.

【0012】なお、上記第1実施例を示す図1および上
記第3実施例を示す図3におけるビームスプリッタ20
は、光源1からの光を透過し、光検出器50に入射する
検出光を反射する役割をするが、上記光源1と上記光検
出器50との位置を置き換えても発明の効果は変らな
い。
The beam splitter 20 in FIG. 1 showing the first embodiment and FIG. 3 showing the third embodiment.
Plays a role of transmitting the light from the light source 1 and reflecting the detection light incident on the photodetector 50, but the effect of the invention does not change even if the positions of the light source 1 and the photodetector 50 are replaced. .

【0013】[0013]

【発明の効果】上記のように本発明による偏光共焦点走
査顕微鏡は、光源と、該光源からの光を特定の偏光状態
にする偏光子と、偏波面保存光学ファイバと、上記偏光
状態の光を上記偏波面保存光学ファイバに入射させる光
学系と、上記ファイバからの出射光を集光する光学系
と、該光学系の焦点位置に配置した試料と、該試料また
は上記収束光を走査する走査機構と、上記試料からの散
乱光あるいは反射光やラマン散乱光や蛍光等の応答光を
上記同一ファイバの出射端面に集光する光学系と、上記
ファイバを通過した応答光の一部あるいは全部を反射す
る光学素子と、反射された応答光の光路に設けた検光子
と、該検光子からの出射光を検出する光検出器と、上記
試料における光の照射場所と上記光検出器の出力とを対
応付けて表示する表示装置とを備えたことにより、上記
偏波面保存光学ファイバを使用して偏光共焦点走査顕微
鏡が実現される。上記方式は、上記偏波面保存光学ファ
イバの端面を共焦点走査顕微鏡の実質的な光源開口であ
ると同時に、光検出器の実質的な開口としているので、
上記ファイバの端面は自動的に共焦点の位置になってい
る。このため、共焦点光学系を容易に構成することが可
能であるという効果も合わせもっている。
As described above, the polarization confocal scanning microscope according to the present invention comprises a light source, a polarizer for converting the light from the light source into a specific polarization state, a polarization-maintaining optical fiber, and a light of the polarization state. An optical system for making the polarization-preserving optical fiber incident on the optical system, an optical system for condensing light emitted from the fiber, a sample arranged at a focal position of the optical system, and a scan for scanning the sample or the converged light. Mechanism, an optical system that collects the response light such as scattered light or reflected light from the sample, Raman scattered light, or fluorescence on the emission end face of the same fiber, and part or all of the response light that has passed through the fiber. An optical element that reflects light, an analyzer provided in the optical path of the reflected response light, a photodetector that detects light emitted from the analyzer, a light irradiation location in the sample, and an output of the photodetector. The table that displays By providing a device, a polarizing confocal scanning microscope is implemented using the polarization maintaining optical fiber. The above method uses the end face of the polarization-maintaining optical fiber as a substantial light source aperture of the confocal scanning microscope and at the same time as a substantial aperture of the photodetector.
The end face of the fiber is automatically in the confocal position. Therefore, the confocal optical system can be easily constructed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による偏光共焦点走査顕微鏡の第1実施
例を示す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a polarization confocal scanning microscope according to the present invention.

【図2】本発明の第2実施例を示す概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施例を示す概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 20 ビームスプリッタ(応答光の一部あるいは全部
を反射する光学素子) 31 偏光子 32 検光子 40 偏波面保存光学ファイバ 401、402 光学ファイバ端面 41 ファイバカップラ 50 光検出器 60 表示装置 80 試料
1 Light Source 20 Beam Splitter (Optical Element that Reflects Part or All of Response Light) 31 Polarizer 32 Analyzer 40 Polarization Preserving Optical Fibers 401, 402 Optical Fiber End Face 41 Fiber Coupler 50 Photodetector 60 Display Device 80 Sample

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源と、該光源からの光を特定の偏光状態
にする偏光子と、偏波面保存光学ファイバと、上記偏光
状態の光を上記偏波面保存光学ファイバに入射させる光
学系と、上記ファイバからの出射光を集光する光学系
と、該光学系の焦点位置に配置した試料と、該試料また
は上記収束光を走査する走査機構と、上記試料からの散
乱光あるいは反射光やラマン散乱光や蛍光等の応答光を
上記同一ファイバの出射端面に集光する光学系と、上記
ファイバを通過した応答光の一部あるいは全部を反射す
る光学素子と、反射された応答光の光路に設けた検光子
と、該検光子からの出射光を検出する光検出器と、上記
試料における光の照射場所と上記光検出器の出力とを対
応付けて表示する表示装置とを備えた偏光共焦点走査顕
微鏡。
1. A light source, a polarizer for converting light from the light source into a specific polarization state, a polarization-maintaining optical fiber, and an optical system for causing light in the polarization state to enter the polarization-maintaining optical fiber. An optical system that collects the light emitted from the fiber, a sample that is arranged at the focal point of the optical system, a scanning mechanism that scans the sample or the converged light, and scattered light or reflected light or Raman from the sample. An optical system that collects response light such as scattered light or fluorescence on the emission end face of the same fiber, an optical element that reflects a part or all of the response light that has passed through the fiber, and an optical path of the reflected response light. A polarization detector provided with an analyzer, a photodetector that detects light emitted from the analyzer, and a display device that displays the irradiation location of light on the sample and the output of the photodetector in association with each other. Focus scanning microscope.
【請求項2】上記検光子は、偏光軸を上記偏光子の偏光
軸に対し90度回転させて、暗視野像を得ることを特徴
とする請求項1記載の偏光共焦点走査顕微鏡。
2. The polarization confocal scanning microscope according to claim 1, wherein the analyzer rotates the polarization axis by 90 degrees with respect to the polarization axis of the polarizer to obtain a dark field image.
【請求項3】上記応答光の一部あるいは全部を反射する
光学素子は、偏波面保存光学ファイバを用いたファイバ
カップラを使用することを特徴とする請求項1記載の偏
光共焦点走査顕微鏡。
3. The polarization confocal scanning microscope according to claim 1, wherein a fiber coupler using a polarization-maintaining optical fiber is used as the optical element that reflects a part or all of the response light.
JP9777092A 1992-04-17 1992-04-17 Confocal polarization scanning microscope Pending JPH05296842A (en)

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