JPH0529159B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0529159B2
JPH0529159B2 JP62158476A JP15847687A JPH0529159B2 JP H0529159 B2 JPH0529159 B2 JP H0529159B2 JP 62158476 A JP62158476 A JP 62158476A JP 15847687 A JP15847687 A JP 15847687A JP H0529159 B2 JPH0529159 B2 JP H0529159B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic components
parts
groups
group
centistokes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP62158476A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS641762A (en
JPH011762A (en
Inventor
Yoshio Fujimura
Tetsuo Yoshida
Minoru Takei
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
Priority to JP62-158476A priority Critical patent/JPH011762A/en
Priority claimed from JP62-158476A external-priority patent/JPH011762A/en
Priority to KR1019880007639A priority patent/KR940004097B1/en
Priority to CN88103891A priority patent/CN1027375C/en
Publication of JPS641762A publication Critical patent/JPS641762A/en
Publication of JPH011762A publication Critical patent/JPH011762A/en
Publication of JPH0529159B2 publication Critical patent/JPH0529159B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L83/00Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L83/10Block- or graft-copolymers containing polysiloxane sequences
    • C08L83/12Block- or graft-copolymers containing polysiloxane sequences containing polyether sequences

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Organic Insulating Materials (AREA)
  • Sealing Material Composition (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

産業上の利用分野 本発明は、電子部品と封止樹脂との間の小さな
〓間及び空〓をうめる目的で使用する電子部品用
含浸剤に関する。 従来の技術及び発明が解決しようとする問題点 従来より、トランジスタ、ダイオード、抵抗、
コンデンサーやセラミツクを圧粉したコンデンサ
ー等の電子部品はエポキシ樹脂組成物などにより
樹脂封止することが行なわれているが、封止樹脂
と電子部品との間には通常非常に小さな隙間や空
隙が生じる。 このような隙間や空隙があると、この隙間や空
隙を通つて外部から水、Cl-、Na+などの電子部
品の特性を劣化させるような成分が入り込み、電
子部品の特性を劣化させることが起きる。 このため、この隙間や空隙をうめる目的で従来
からカルナバ等の天然ワツクス類やシリコーンオ
イルが使用されている。中でもシリコーンオイル
は表面張力が小さいため小さな隙間に入り易く、
また電子部品の特性を劣化させるCl-、Na+等の
不純物が少ない上に、耐熱性に優れていることか
ら巾広く使用されている。 しかし、最近、電子部品をプリント基板に取り
付ける際、生産性を上げる目的で予め電子部品を
接着剤でプリント基板に接着させ、その後ハンダ
浴の中に浸し、電子部品をプリント基板に取り付
ける工程が採用されるようになつてきたが、従来
のシリコーンオイルを使用すると電子部品の空隙
や隙間を埋めるだけでなく、表面に若干のシリコ
ーン被膜が生じ、このシリコーン被膜と接着剤と
の接着性が悪いため接着剤が電子部品に付着せ
ず、プリント基板に取り付けることができないと
いう問題が生じる。 従つて、電子部品の隙間に入り易く、Cl-
Na+等の不純物の含有量が少なく、耐熱性が良好
でしかも接着剤との接着性の良好な電子部品用含
浸剤の開発が要望される。 本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、優
れた含浸性を有する上、含浸、硬化させた後の耐
湿性が良好で、しかも接着剤との接着性が良好な
電子部品用含浸剤を提供することを目的とする。 問題点を解決するための手段及び作用 本発明者らは、上記目的を達成するため、特に
シリコーン系含浸剤を電子部品に使用した際の最
大の欠点である電子部品の表面にシリコーンの被
膜が生じ、接着剤に対する接着が非常に弱くなる
点を改善すべく鋭意検討を重ねた結果、アクリル
基含有の特定のシリコーン化合物を使用すると接
着剤とのぬれ性が改善され、接着剤に対する接着
性が良好になること、即ち一分子中にアクリル基
を有している後述する(1)式のシリコーン化合物と
後述する(2)式のアルコキシ基含有のシリコーン化
合物とを反応させて得られる25℃における粘度が
3.5〜50センチストークスのシリコーン化合物が、
電子部品に含浸したときの含浸性に優れ、電子部
品の外部からの影響を確実に防ぎ、かつ接着剤に
対する接着性に優れ、上述したようにこのシリコ
ーン化合物を含浸、硬化させた電子部品をアクリ
ル系等の接着剤によりプリント基板などに接着
し、これを半田浴に浸した場合でも電子部品がプ
リント基板などに確実に保持されることを知見
し、本発明を完成するに至つたものである。 従つて、本発明は、電子部品と封止樹脂との間
の小さな〓間及び空〓をうめる電子部品用含浸剤
において、該含浸剤が (A) 下記一般式(1) R1 aR2 bSi(OR34-a-b ……(1) (但し、式中R1はアクリロキシ基又はメタアク
リロキシ基含有の一価炭化水素基、R2は置換又
は非置換の一価炭化水素基、R3はアルキル基又
は水素原子、aは1又は2、bは0又は1であ
る。) で示される有機けい素化合物と、 (B) 下記一般式(2) R4 2Si(OR52 ……(2) (但し、式中R4は置換又は非置換の一価炭化水
素基又は水素原子、R5は一価有機基である。) で示される有機けい素化合物 との反応モル比(A)/(B)=0.1〜10の反応生成物か
らなり、25℃における粘度が3.5〜50センチスト
ークスの範囲であると共に、Na+及びCl-の含有
量がそれぞれ10ppm以下であることを特徴とする
電子部品用含浸剤を提供する。 以下、本発明を更に詳しく説明する。 本発明の電子部品用含浸剤を得るために用いる
(A)成分の有機けい素化合物は、上述したように下
記一般式(1) R1 aR2 bSi(OR34-a-b ……(1) で示されるものである。ここで、上記式中R1
(メタ)アクリロキシ基含有の一価炭化水素基と
しては、特に制限されないが、例えば
INDUSTRIAL APPLICATION FIELD The present invention relates to an impregnating agent for electronic components used for the purpose of filling small gaps and spaces between electronic components and sealing resin. Problems to be solved by conventional techniques and inventions Conventionally, transistors, diodes, resistors,
Electronic components such as capacitors and capacitors made of compacted ceramic powder are encapsulated with resins such as epoxy resin compositions, but there are usually very small gaps or voids between the encapsulation resin and the electronic components. arise. When such gaps and voids exist, components that degrade the characteristics of electronic components, such as water, Cl - , and Na + , can enter from the outside through these gaps and voids, causing the characteristics of electronic components to deteriorate. get up. For this reason, natural waxes such as carnauba and silicone oil have traditionally been used to fill these gaps and voids. Among them, silicone oil has a low surface tension, so it easily gets into small gaps.
In addition, it is widely used because it contains few impurities such as Cl - and Na + that degrade the characteristics of electronic parts, and has excellent heat resistance. However, recently, in order to increase productivity, when attaching electronic components to a printed circuit board, a process has been adopted in which the electronic components are bonded to the printed circuit board with adhesive in advance, and then immersed in a solder bath to attach the electronic components to the printed circuit board. However, when conventional silicone oil is used, it not only fills the voids and crevices of electronic components, but also creates a slight silicone film on the surface, which has poor adhesion with adhesives. A problem arises in that the adhesive does not adhere to the electronic components and cannot be attached to the printed circuit board. Therefore, it is easy to get into the gaps between electronic components, and Cl - ,
There is a need for the development of an impregnating agent for electronic components that has a low content of impurities such as Na + , has good heat resistance, and has good adhesion to adhesives. The present invention was made in view of the above circumstances, and provides an impregnating agent for electronic components that has excellent impregnation properties, good moisture resistance after impregnation and curing, and good adhesion to adhesives. The purpose is to provide. Means and Action for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present inventors have found that silicone coatings on the surfaces of electronic components are the biggest drawback when using silicone-based impregnation agents for electronic components. As a result of intensive studies to improve the problem that the adhesiveness to adhesives becomes extremely weak, we found that using a specific silicone compound containing an acrylic group improves the wettability with adhesives and improves the adhesiveness to adhesives. That is, at 25°C obtained by reacting a silicone compound of the formula (1) described below having an acrylic group in one molecule with an alkoxy group-containing silicone compound of the formula (2) described below. The viscosity
3.5 to 50 centistokes silicone compound,
It has excellent impregnating properties when impregnated into electronic parts, reliably prevents external influences on the electronic parts, and has excellent adhesion to adhesives.As mentioned above, electronic parts impregnated and cured with this silicone compound can be The inventors discovered that electronic components can be reliably held on a printed circuit board, etc., even when they are adhered to a printed circuit board, etc., using a type of adhesive and immersed in a solder bath, leading to the completion of the present invention. . Therefore, the present invention provides an impregnating agent for electronic components that fills small gaps and spaces between electronic components and a sealing resin, wherein the impregnating agent has (A) the following general formula (1) R 1 a R 2 b Si(OR 3 ) 4-ab ...(1) (However, in the formula, R 1 is a monovalent hydrocarbon group containing an acryloxy group or a methacryloxy group, R 2 is a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group, R 3 is an alkyl group or a hydrogen atom, a is 1 or 2, and b is 0 or 1.) and (B) the following general formula (2) R 4 2 Si(OR 5 ) 2 ...(2) (However, in the formula, R 4 is a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group or hydrogen atom, and R 5 is a monovalent organic group.) Reaction molar ratio with the organosilicon compound represented by (A)/(B) = 0.1 to 10 reaction products, the viscosity at 25°C is in the range of 3.5 to 50 centistokes, and the content of Na + and Cl - is 10 ppm or less each. The present invention provides an impregnating agent for electronic parts with characteristics. The present invention will be explained in more detail below. Used to obtain the impregnating agent for electronic components of the present invention
As mentioned above, the organosilicon compound of component (A) is represented by the following general formula (1) R 1 a R 2 b Si(OR 3 ) 4-ab (1). Here, the (meth)acryloxy group-containing monovalent hydrocarbon group of R 1 in the above formula is not particularly limited, but for example,

【式】(γ−メタアクリロキ シプロピル基)やこの基のメチル基を水素原子と
したγ−アクリロキシプロピル基等が好適に使用
し得る。R2の置換又は非置換の一価炭化水素基
としては、メチル基、エチル基、プロピル基等の
アルキル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル
基等のシクロアルキル基、ビニル基、アリル基等
のアルケニル基、フエニル基、キシリル基等のア
リール基、ベンジル基等のアラルキル基又はこれ
らの基の水素原子が部分的にハロゲン原子、メル
カプト基、グリシドキシ基或いはアミノ基等で置
換された基などを挙げることができる。また、
R3は水素原子又はアルキル基であるが、アルキ
ル基としてはメチル基、エチル基、プロピル基又
はブチル基などが例示される。 具体的には、この(A)成分の有機けい素化合物と
しては、γ−メタアクリロキシプロピルトリエト
キシシラン、α−メタアクリロキシプロピルメチ
ルジメトキシシラン、γ−メタアクリロキシビニ
ルジメトキシシランなどが挙げられる。 この(A)成分の有機けい素化合物は、特に制限さ
れるものではないが、その25℃における粘度が3
〜100センチストークスの範囲であることが好ま
しく、より好ましくは3〜50センチストークスで
ある。この(A)成分の25℃における粘度が3センチ
ストークス未満の場合、本組成物を電子部品など
に含浸し、硬化させたときに揮散し易くなる場合
があり、一方100センチストークスを超える場合
は、含浸性が低下する場合があるので、本発明の
目的からは3〜100センチストークスとすること
が好適である。 また、電子部品の耐湿性の点から、(A)成分中の
Na+、Cl-の含有量はそれぞれ10ppm以下である
ことが好ましく、より好ましくは2ppm以下であ
る。Na+、Cl-の含有量が10ppmを超えると本発
明のシリコーン組成物を電子部品用含浸剤として
適用した場合、電子部品の特性を劣化させる場合
がある。 次に、本発明の組成物に配合される(B)成分の有
機けい素化合物は、上述したように下記一般式(2) R4 2Si(OR52 ……(2) で示されるものである。ここで、R4は置換又は
非置換の一価炭化水素基であり、具体的には、メ
チル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等のア
ルキル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基
等のシクロアルキル基、ビニル基、アリル基等の
アルケニル基、フエニル基、キシリル基等のアリ
ール基、ベンジル基等のアラルキル基又はこれら
の基の水素原子が部分的にハロゲン原子、メルカ
プト基、グリシドキシ基或いはアミノ基等で置換
された基などが挙げられる。また、R5はアルキ
ル基を示すが、好ましくは炭素原子数1〜4の低
級アルキル基であり、これにはメチル基、エチル
基、プロピル基、ブチル基などが例示される。 この(B)成分の有機けい素化合物としては、ジメ
チルジエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラ
ン、フエニルメチルジメトキシシランなどが挙げ
られる。 この(B)成分の有機けい素化合物も(A)成分の有機
けい素化合物と同様に、その25℃における粘度が
3〜100センチストークスの範囲であることが好
ましく、より好ましくは3〜50センチストークス
である。25℃における粘度が3センチストークス
未満の場合、(A)成分と反応させて得られる本発明
のシリコーン組成物を電子部品などに含浸し、硬
化させたときに揮散し易くなる場合があり、一方
100センチストークスを超える場合は含浸性が低
下する場合がある。 また、電子部品の耐湿性の点から、(B)成分中の
Na+及びCl-の含有量はそれぞれ10ppm以下とす
ることが好ましく、より好ましくは2ppm以下で
ある。Na+、Cl-の含有量が10ppmを超えると、
電子部品に含浸させた場合に電子部品の特性が劣
化する場合がある。 本発明の電子部品用含浸剤は、上述した(A)成分
と(B)成分とを反応させることにより得られるもの
であるが、この反応は適当な酸の存在下で25℃の
粘度が3〜100センチストークス、好ましくは3
〜50センチストークスの範囲になるまで重合させ
ることが必要であり、粘度が3.5センチストーク
ス未満の場合は含浸性は良好になるが、電子部品
などに含浸させて硬化させる時に含浸させた電子
部品などに対する接着剤の接着性が低下する。ま
た、粘度が50センチストークスを超えると接着剤
との接着性は良好になるが、細かい隙間への含浸
性が低下する。従つて、接着剤に対する接着性及
び含浸性を併わせ持つた電子部品用含浸剤を得る
には、その粘度を上記の範囲内とすることが特に
重要となる。 ここで、(A)成分と(B)成分との酸の存在下におけ
る反応は周知の縮合反応であり、(A),(B)成分のア
ルコキシ基、水酸基の縮合により重合していくも
のである。 更に、本発明の電子部品用含浸剤は、後述する
使用方法例からもわかるように電子部品の非常に
敏感な部分に直接接触するため、前述したように
その原料である(A)成分及び(B)成分の有機けい素化
合物としては、電子部品に悪い影響を与えるNa+
及びCl-の極力少ないものを使用することが好ま
しいが、反応生成物である本発明のシリコーン組
成物においてもNa+及びCl-の管理は重要であり、
Na+、Cl-を各々10ppm以下とするものであり、
より好ましくは5ppm以下である。更に、(A)成分
及び(B)成分の反応中に混入するおそれのある5μm
以上の固形不純物を本発明含浸剤100g中1mg以
下とすることが好ましく、より好ましくは0.01mg
以下である。 また、(A)成分と(B)成分との反応比は、そのモル
比で(A)/(B)=0.1〜10、好ましくは0.3〜5であ
る。この反応比が0.1未満の場合粘度が著しく上
昇することがあり、また、10を超えると硬化時の
揮発分が多くなり、耐湿性が低下する場合があ
る。 本発明の電子部品用含浸剤には、平滑な表面を
有する皮膜を得る目的で種々の界面活性剤、例え
ばポリオキシエチレングリコールジメチルシロキ
サン、ふつ化アルキル系界面活性剤などを配合し
得、更にコロイダルシリカ等を添加配合すること
は差支えない。 本発明の電子部品用含浸剤は、電子部品に含浸
させた後、これを硬化するが、硬化条件として
は、150〜180℃で1〜4時間で硬化させるといつ
た条件を採用し得る。なお、含浸方法としては公
知の方法でよく、加圧含浸法、真空含浸法、常圧
含浸法などが採用され、特に電子部品の特性を良
くするためには下記の如き真空含浸法がより効果
的である。 真空含浸法 (1) 容器に含浸すべき部品を入れ、次いで部品が
完全に浸るように含浸剤を加え、 (2) 容器を減圧可能な装置に入れ、系全体を減圧
にし(この場合、部品の表面から気泡が発生す
る。気泡は最初全面から出るが、暫くすると部
品の空隙部のみから発生するようになる。な
お、減圧度はできるだけ高い方が好ましいが、
20〜50mmHgで十分である)、 (3) 気泡の発生が無くなるか、殆ど無くなつたら
系を常圧に戻し、 (4) 部品を含浸液から取り出し余滴を切つた後、
トリクロルエチレン、トルエン、アセトン等の
溶剤に浸し、表面に付着した含浸剤を取り除
き、 (5) 溶剤から引き上げ、残存する溶剤を十分室温
で飛ばした後、必要に応じて加熱乾燥し、 (6) 所定の温度で硬化させる。 発明の効果 本発明の電子部品用含浸剤水、Cl-、Na+等の
不純物が電子部品に侵入するのを有効に防止し、
かつ電子部品の表面にシリコーン被膜が生じて
も、本組成物中に含まれるアクリル基のために接
着剤が良く付着する。 以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具体
的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限さ
れるものではない。なお、下記の例において部は
重量部を示す。 実施例 1 γ−メタアクリロキシプロピルトリメトキシシ
ラン(25℃における粘度1.0センチストークス)
150部、ジメチルジメトキシシラン(25℃におけ
る粘度0.3センチストークス)50部、メタノール
50部を加熱可能なフラスコに入れ、撹拌しながら
0.2N−HCl水溶液150部を徐々に滴下し、滴下終
了後室温で3時間撹拌し、次いで加熱リフラツク
スで8時間反応させせ、反応を終了した。 反応液を室温迄冷却した後、プロピレンオキサ
イド0.5部を添加して中和し、ミリポア過し、
80℃/10mmHgの条件で溶媒を除去し、電子部品
含浸用シリコーン組成物を得た(収率85%)。 この組成物の25℃での粘度は4.5センチストー
クス、屈折率1.406、抽出水電導度5.8μ≠/cm、
Na及びKイオン含有量はそれぞれ1ppm以下、Cl
イオンは2ppmであつた。また、このシリコーン
組成物を150℃/1時間で硬化させることにより
強固な被膜が得られた。 実施例 2 γ−メタアクリロキシプロピルトリメトキシシ
ラン100部、メタアクリロキシプロピルジメトキ
シメチルシラン(25℃における粘度1.0センチス
トークス)50部、ジメチルジメトキシシラン50
部、メタノール50部を加熱可能なフラスコに入
れ、撹拌しながら0.5N−HCl水溶液15部を徐々
に滴下し、滴下終了後室温で3時間撹拌し、その
後加熱リフラツクスで8時間反応させ、反応を終
了した。 次に、反応液を室温迄冷却した後、プロピレン
オキサイド0.5部を添加して中和し、ミリポア
過し、80℃/10mmHgの条件で溶媒を除去し、電
子部品含浸用シリコーン組成物を得た(収率87
%)。 この組成物の25℃での粘度は9.0センチストー
クス、屈折率1.4406、抽出水電導度10μ≠/cm、
Na及びKイオン含有量はそれぞれ1ppm以下、Cl
イオンは4ppmであつた。また、このシリコーン
組成物を150℃/1時間で硬化させることにより
強固な被膜が得られた。 実施例 3 γ−メタアクリロキシプロピルトリメトキシシ
ラン100部、ジメトキシメチルフエニルシラン
(25℃における粘度1.0センチストークス)15部、
ジメチルジメトキシシラン85部、メタノール50部
を加熱可能なフラスコに入れ、撹拌しながら
0.5N−HCl水溶液15部を徐々に滴下し、滴下終
了後室温で3時間撹拌し、次いで加熱リフラツク
スで8時間反応させ、反応を終了した。 次に、反応液を室温迄冷却した後、プロピレン
オキサイド0.5部を添加して中和し、ミリポア
過し、80℃/10mmHgの条件で溶媒を除去し、電
子部品含浸用シリコーン組成物を得た(収率92
%)。 この組成物の25℃での粘度は23センチストーク
ス、抽出水電導度は12μ≠/cm、Na及びKイオン
含有量はそれぞれ1ppm以下、Clイオンは2ppmで
あつた。また、このシリコーン組成物を150℃/
1時間で硬化させることにより強固な被膜が得ら
れた。 実施例4〜10、比較例1、2 上記実施例1〜3と同様にして第1表に示す成
分より電子部品含浸用シリコーン組成物を得た。
また比較のため、ジメチルシロキサン、メチルハ
イドロポリシロキサンからなる電子部品含浸用シ
リコーン組成物を得た。 次に、これらのシリコーン組成物の耐熱性及び
接着性を下記に示す測定法により測定した。結果
を第1表に併記する。 測定法 耐湿性:アルミニウム配線(膜厚1μ、線巾5μ)
を施したシリコーンチツプを14ピンDipのフレー
ムにマウントした後、熱硬化性エポキシ樹脂で封
止した電子部品に対し、実施例4〜10の組成物、
比較例1、2の組成物でそれぞれ減圧真空含浸処
理し、次いで180℃/4時間キユアーさせ、P.C.
T(121℃、2気圧)に放置し、アルミニウム配線
のオープン不良率を測定した。 接着性:実施例4〜10及び比較例1、2の組成
物で含浸処理し、これを硬化した電子部品100個
をエポキシ系積層板にアクリル系接着剤で仮止め
し、これを電子部品を下側に、エポキシ系積層板
を上側に向けて260℃の半田浴中に所定回数浸し、
半田浴から引き上げる際にエポキシ系積層板から
とれて半田浴槽に落下する電子部品数を測定し、
その率を調べた。
[Formula] (γ-methacryloxypropyl group) and a γ-acryloxypropyl group in which the methyl group of this group is a hydrogen atom can be suitably used. Substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon groups for R2 include alkyl groups such as methyl, ethyl, and propyl groups, cycloalkyl groups such as cyclohexyl and cycloheptyl groups, and alkenyl groups such as vinyl and allyl groups. , phenyl groups, aryl groups such as xylyl groups, aralkyl groups such as benzyl groups, and groups in which hydrogen atoms of these groups are partially substituted with halogen atoms, mercapto groups, glycidoxy groups, amino groups, etc. can. Also,
R 3 is a hydrogen atom or an alkyl group, and examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and a butyl group. Specifically, examples of the organosilicon compound of component (A) include γ-methacryloxypropyltriethoxysilane, α-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, γ-methacryloxyvinyldimethoxysilane, etc. . The organosilicon compound of component (A) is not particularly limited, but its viscosity at 25°C is 3.
The range is preferably from 100 centistokes to 100 centistokes, more preferably from 3 to 50 centistokes. If the viscosity of component (A) at 25°C is less than 3 centistokes, it may easily volatilize when this composition is impregnated into electronic parts and cured, whereas if it exceeds 100 centistokes, , the impregnating property may be lowered, so for the purpose of the present invention, it is preferable to set it to 3 to 100 centistokes. In addition, from the viewpoint of moisture resistance of electronic parts, component (A)
The contents of Na + and Cl - are each preferably at most 10 ppm, more preferably at most 2 ppm. When the content of Na + and Cl - exceeds 10 ppm, when the silicone composition of the present invention is applied as an impregnating agent for electronic parts, the characteristics of the electronic parts may deteriorate. Next, as mentioned above, the organosilicon compound as the component (B) to be blended into the composition of the present invention is represented by the following general formula (2) R 4 2 Si (OR 5 ) 2 ...(2) It is something. Here, R 4 is a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group, specifically an alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a cycloalkyl group such as a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, etc. alkenyl groups such as vinyl groups and allyl groups, aryl groups such as phenyl groups and xylyl groups, aralkyl groups such as benzyl groups, or hydrogen atoms of these groups are partially halogen atoms, mercapto groups, glycidoxy groups, or amino groups. Examples include groups substituted with, etc. Further, R 5 represents an alkyl group, preferably a lower alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, and the like. Examples of the organic silicon compound of component (B) include dimethyldiethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, and phenylmethyldimethoxysilane. Like the organosilicon compound of component (A), the organosilicon compound of component (B) preferably has a viscosity of 3 to 100 centistokes at 25°C, more preferably 3 to 50 centistokes. It's Stokes. If the viscosity at 25°C is less than 3 centistokes, the silicone composition of the present invention obtained by reacting with component (A) may easily volatilize when it is impregnated into electronic parts and cured.
If it exceeds 100 centistokes, impregnating properties may decrease. In addition, from the viewpoint of moisture resistance of electronic parts, component (B)
The contents of Na + and Cl - are each preferably at most 10 ppm, more preferably at most 2 ppm. When the content of Na + and Cl - exceeds 10 ppm,
When impregnated into electronic parts, the characteristics of the electronic parts may deteriorate. The impregnating agent for electronic components of the present invention is obtained by reacting the above-mentioned components (A) and (B). ~100 centistokes, preferably 3
It is necessary to polymerize until the viscosity is in the range of ~50 centistokes, and if the viscosity is less than 3.5 centistokes, the impregnating property will be good, but when impregnating and curing electronic parts, etc. The adhesive properties of the adhesive are reduced. Furthermore, if the viscosity exceeds 50 centistokes, the adhesion with the adhesive will be good, but the impregnation into small gaps will be reduced. Therefore, in order to obtain an impregnating agent for electronic components that has both adhesion and impregnating properties to adhesives, it is particularly important to keep the viscosity within the above range. Here, the reaction between components (A) and (B) in the presence of an acid is a well-known condensation reaction, and polymerization occurs through condensation of the alkoxy groups and hydroxyl groups of components (A) and (B). be. Furthermore, since the impregnating agent for electronic components of the present invention directly contacts the very sensitive parts of electronic components, as can be seen from the usage example described later, the impregnating agent for electronic components (A) and B) Component organosilicon compounds include Na + , which has a negative effect on electronic components.
Although it is preferable to use a product with as little Na + and Cl - as possible, it is important to control Na + and Cl - in the silicone composition of the present invention, which is a reaction product.
Na + and Cl - are each 10 ppm or less,
More preferably it is 5 ppm or less. In addition, 5μm that may be mixed in during the reaction of component (A) and (B).
The above solid impurities are preferably 1 mg or less, more preferably 0.01 mg in 100 g of the present impregnating agent.
It is as follows. Moreover, the reaction ratio of component (A) and component (B) is (A)/(B)=0.1-10 in molar ratio, preferably 0.3-5. If this reaction ratio is less than 0.1, the viscosity may increase significantly, and if it exceeds 10, the volatile content during curing may increase and the moisture resistance may decrease. The impregnating agent for electronic components of the present invention may contain various surfactants, such as polyoxyethylene glycol dimethyl siloxane, alkyl fluoride surfactants, etc., in order to obtain a film with a smooth surface, and may further contain colloidal surfactants. There is no problem in adding and blending silica or the like. The impregnating agent for electronic components of the present invention is cured after being impregnated into electronic components, and the curing conditions may be curing at 150 to 180° C. for 1 to 4 hours. Note that the impregnation method may be any known method, such as pressure impregnation method, vacuum impregnation method, normal pressure impregnation method, etc. In particular, the following vacuum impregnation method is more effective for improving the characteristics of electronic components. It is true. Vacuum impregnation method (1) Place the parts to be impregnated into a container, then add impregnating agent so that the parts are completely immersed, (2) Place the container in a device that can reduce pressure, and reduce the pressure of the entire system (in this case, the parts Bubbles are generated from the surface of the part. Bubbles initially appear from the entire surface, but after a while they begin to be generated only from the voids of the part. Note that it is preferable that the degree of vacuum is as high as possible;
(20 to 50mmHg is sufficient), (3) When the generation of bubbles has stopped or is almost gone, return the system to normal pressure. (4) After removing the parts from the impregnating liquid and cutting off any excess,
Immerse it in a solvent such as trichloroethylene, toluene, acetone, etc. to remove the impregnating agent attached to the surface. (5) Pull it out of the solvent, thoroughly evaporate the remaining solvent at room temperature, and then heat and dry as necessary. (6) Cure at a predetermined temperature. Effects of the Invention The impregnating water for electronic parts of the present invention effectively prevents impurities such as Cl - and Na + from entering electronic parts,
Moreover, even if a silicone film is formed on the surface of an electronic component, the adhesive adheres well due to the acrylic group contained in the composition. EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically explained with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the Examples below. In addition, in the following examples, parts indicate parts by weight. Example 1 γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane (viscosity 1.0 centistokes at 25°C)
150 parts, dimethyldimethoxysilane (viscosity 0.3 centistokes at 25°C) 50 parts, methanol
Pour 50 parts into a heatable flask and stir while stirring.
150 parts of a 0.2N-HCl aqueous solution was gradually added dropwise, and after the dropwise addition was completed, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours, and then reacted with heating reflux for 8 hours to complete the reaction. After cooling the reaction solution to room temperature, 0.5 part of propylene oxide was added to neutralize it, and it was filtered through Millipore.
The solvent was removed at 80° C./10 mmHg to obtain a silicone composition for impregnating electronic components (yield: 85%). The viscosity of this composition at 25°C is 4.5 centistokes, the refractive index is 1.406, the extracted water conductivity is 5.8μ≠/cm,
Na and K ion contents are less than 1 ppm each, Cl
The ion concentration was 2 ppm. Further, a strong film was obtained by curing this silicone composition at 150° C. for 1 hour. Example 2 100 parts of γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 50 parts of methacryloxypropyldimethoxymethylsilane (viscosity 1.0 centistokes at 25°C), 50 parts of dimethyldimethoxysilane
and 50 parts of methanol were placed in a heatable flask, and 15 parts of a 0.5N HCl aqueous solution was gradually added dropwise while stirring. After the dropwise addition was completed, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours, and then heated and refluxed for 8 hours to stop the reaction. finished. Next, the reaction solution was cooled to room temperature, neutralized by adding 0.5 part of propylene oxide, filtered through Millipore, and the solvent was removed at 80° C./10 mmHg to obtain a silicone composition for impregnating electronic components. (yield 87
%). The viscosity of this composition at 25°C is 9.0 centistokes, the refractive index is 1.4406, the extracted water conductivity is 10μ≠/cm,
Na and K ion contents are less than 1 ppm each, Cl
The ion concentration was 4ppm. Further, a strong film was obtained by curing this silicone composition at 150° C. for 1 hour. Example 3 100 parts of γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 15 parts of dimethoxymethylphenylsilane (viscosity 1.0 centistokes at 25°C),
Put 85 parts of dimethyldimethoxysilane and 50 parts of methanol into a heatable flask, and add while stirring.
15 parts of a 0.5N-HCl aqueous solution was gradually added dropwise, and after the dropwise addition was completed, the mixture was stirred at room temperature for 3 hours, and then reacted by heating reflux for 8 hours to complete the reaction. Next, the reaction solution was cooled to room temperature, neutralized by adding 0.5 part of propylene oxide, filtered through Millipore, and the solvent was removed at 80° C./10 mmHg to obtain a silicone composition for impregnating electronic components. (Yield 92
%). The viscosity of this composition at 25° C. was 23 centistokes, the conductivity of extracted water was 12 μ≠/cm, the contents of Na and K ions were each less than 1 ppm, and the content of Cl ions was 2 ppm. In addition, this silicone composition was heated at 150℃/
A strong film was obtained by curing for 1 hour. Examples 4 to 10, Comparative Examples 1 and 2 Silicone compositions for impregnating electronic components were obtained from the components shown in Table 1 in the same manner as in Examples 1 to 3 above.
For comparison, a silicone composition for impregnating electronic components consisting of dimethylsiloxane and methylhydropolysiloxane was also obtained. Next, the heat resistance and adhesive properties of these silicone compositions were measured using the measurement methods shown below. The results are also listed in Table 1. Measurement method Moisture resistance: Aluminum wiring (film thickness 1μ, line width 5μ)
After mounting the silicone chip on a 14-pin DIP frame, the compositions of Examples 4 to 10 were applied to electronic components sealed with thermosetting epoxy resin.
The compositions of Comparative Examples 1 and 2 were each subjected to vacuum impregnation treatment under reduced pressure, then cured at 180°C for 4 hours, and PC
T (121°C, 2 atm) and the open failure rate of the aluminum wiring was measured. Adhesion: 100 electronic components impregnated with the compositions of Examples 4 to 10 and Comparative Examples 1 and 2 and cured were temporarily fixed to an epoxy laminate using an acrylic adhesive. Dip the epoxy laminate facing upward into a solder bath at 260℃ for a specified number of times.
We measured the number of electronic components that came off the epoxy laminate and fell into the solder bath when we pulled it out of the solder bath.
I looked into that rate.

【表】【table】

【表】【table】

【特許請求の範囲】[Claims]

1 高熱伝導性基板上に形成された酸化膜を介
し、結晶化ガラスを配合した導体ペーストと、結
晶化ガラスを主材とした絶縁ペーストとが交互に
印刷焼成されていることを特徴とする高熱伝導性
厚膜多層配線基板。 2 高熱伝導基板がAlN、SiC/BeO、SiC、
Cu/W、ZrB2等である特許請求の範囲第1項記
載の高熱伝導性厚膜多層配線基板。 3 導体ペーストがAu100重量部に対し、α=
2.5〜4.5×10-6/℃の熱膨張係数を有する結晶化
ガラス2〜5重量部、酸化銅粉末(CuO)0.1〜
1重量部、Ag粉末3重量部以下からなることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の高熱伝導
性厚膜多層配線基板。 4 絶縁ペーストがα=2.5〜4.5×10-6/℃の熱
膨張係数を有する結晶化ガラスを主成分とする特
許請求の範囲第1項記載の高熱伝導性厚膜多層配
線基板。 5 酸化膜が1200〜1450℃、露点−30〜+5℃の
加湿還元雰囲気中で表面処理することにより形成
されている特許請求の範囲第1項記載の高熱伝導
性厚膜多層配線基板。
1 A high-temperature method characterized by printing and firing a conductive paste containing crystallized glass and an insulating paste mainly composed of crystallized glass through an oxide film formed on a highly thermally conductive substrate. Conductive thick film multilayer wiring board. 2 High thermal conductivity substrate is AlN, SiC/BeO, SiC,
The highly thermally conductive thick film multilayer wiring board according to claim 1, which is made of Cu/W, ZrB 2 or the like. 3 When the conductor paste is 100 parts by weight of Au, α=
2 to 5 parts by weight of crystallized glass having a thermal expansion coefficient of 2.5 to 4.5×10 -6 /°C, 0.1 to 0.1 parts by weight of copper oxide powder (CuO)
1 part by weight of Ag powder, and 3 parts by weight or less of Ag powder. 4. The highly thermally conductive thick film multilayer wiring board according to claim 1, wherein the insulating paste is mainly composed of crystallized glass having a coefficient of thermal expansion of α=2.5 to 4.5×10 −6 /°C. 5. The highly thermally conductive thick film multilayer wiring board according to claim 1, wherein the oxide film is formed by surface treatment in a humidified reducing atmosphere with a dew point of -30 to +5°C at 1200 to 1450°C.

Claims (1)

電子部品用含浸剤。 2 (A)成分及び(B)成分中のNa+及びCl-の含有量
がそれぞれ10ppm以下である特許請求の範囲第1
項に記載の電子部品用含浸剤。 3 (A)成分及び(B)成分の25℃における粘度がそれ
ぞれ3〜100センチストークスの範囲である特許
請求の範囲第1項又は第2項に記載の電子部品用
含浸剤。
Impregnating agent for electronic parts. 2. Claim 1 in which the contents of Na + and Cl - in component (A) and component (B) are each 10 ppm or less
Impregnating agent for electronic components as described in . 3. The impregnating agent for electronic components according to claim 1 or 2, wherein the components (A) and (B) each have a viscosity of 3 to 100 centistokes at 25°C.
JP62-158476A 1987-06-25 1987-06-25 Impregnating agent for electronic parts Granted JPH011762A (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-158476A JPH011762A (en) 1987-06-25 Impregnating agent for electronic parts
KR1019880007639A KR940004097B1 (en) 1987-06-25 1988-06-24 Silicone composition
CN88103891A CN1027375C (en) 1987-06-25 1988-06-24 Silicone composition

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-158476A JPH011762A (en) 1987-06-25 Impregnating agent for electronic parts

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPS641762A JPS641762A (en) 1989-01-06
JPH011762A JPH011762A (en) 1989-01-06
JPH0529159B2 true JPH0529159B2 (en) 1993-04-28

Family

ID=

Also Published As

Publication number Publication date
CN1030435A (en) 1989-01-18
CN1027375C (en) 1995-01-11
KR940004097B1 (en) 1994-05-13
KR890000601A (en) 1989-03-15
JPS641762A (en) 1989-01-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0061871B1 (en) Primer composition used for adhesion of silicone rubber and application method
JP5545194B2 (en) Method for producing novel silicone polymer, silicone polymer produced by the method, thermosetting resin composition, resin film, metal foil with insulating material, insulating film with double-sided metal foil, metal-clad laminate, multilayer metal-clad Laminated board and multilayer printed wiring board
EP2061839B1 (en) Curable silicone composition and electronic component
JP5370333B2 (en) Low thermal expansion thermosetting resin composition and resin film
KR101244203B1 (en) Curable silicone composition and cured product therefrom
US4230773A (en) Decreasing the porosity and surface roughness of ceramic substrates
US5973067A (en) Primer composition and adhesion method
US5486565A (en) Organosilicon compounds and low temperature curing organosiloxane compositions containing same
JPS60115661A (en) Primer composition
JP3221718B2 (en) Epoxy-modified silicone resin composition
JPS62296538A (en) Device sealed with silicone
EP0087013B1 (en) Durable primer composition
EP0391163B1 (en) Adherent silicone coating
DE4117471A1 (en) SILICONE RUBBER COMPOSITIONS AND THEIR CURED PRODUCTS
US5002807A (en) Silicone composition for impregnating electric parts
JP2002309089A5 (en)
JPH1149959A (en) Silicone gel composition for flame-retardant heat dissipative sheet and flame-retardant heat dissipative silicone sheet
CN1027375C (en) Silicone composition
JP3057305B2 (en) Impregnating agent for electronic components
KR101159050B1 (en) Curing silicone composition and cured product thereof
JP2743958B2 (en) Composite adhesive
US5346723A (en) Method for curing organosiloxane compositions in the presence of cure inhibiting materials
JP4899280B2 (en) Composite material for wiring board and manufacturing method thereof
JPH011762A (en) Impregnating agent for electronic parts
JPH07300560A (en) Silicon composition

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees