JPH052869A - Storage element - Google Patents

Storage element

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JPH052869A
JPH052869A JP3153665A JP15366591A JPH052869A JP H052869 A JPH052869 A JP H052869A JP 3153665 A JP3153665 A JP 3153665A JP 15366591 A JP15366591 A JP 15366591A JP H052869 A JPH052869 A JP H052869A
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transistor
gate electrode
electrode
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storage
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Mitsuhiro Shimamoto
光裕 島本
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NEC Kyushu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To realize a storage element suppressing the increase of a storage element number even if the storage capacity of a storage device increases. CONSTITUTION:A first transistor Q1 having a first and second gate electrodes G1 and G2 is provided. The second transistor Q2 controlling the storage of a charge is provided in the second gate electrode G2. The second gate electrode G2 stores the positive and negative charges or stores nothing so that ternary information is stored. The storage element number is reduced by the portion which comes to be ternary as against binary.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は記憶素子に関し、特に電
気的情報を記憶する記憶素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a storage element, and more particularly to a storage element that stores electrical information.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のこの種の記憶素子としては、図4
(a)〜(d)に示すように、コンデンサC11とスイ
ッチング用のトランジスタQ11とで形成され情報をコ
ンデンサC11に電荷量で蓄積する1トランジスタ1キ
ャパシタ型,ダイナミック型の記憶素子MC11、2つ
のインバータIV11,IV12と2つのスイッチング
用のトランジスタQ12,Q13とで形成されフリップ
フロップ型,スタティック型の記憶素子MC12、拡散
層の状態でエンハンスメント型,ディプレッション型と
することにより情報を記憶する書換え不能で不揮発性の
記憶素子MC13〜MC15、及び制御ゲート電極G
1,浮遊ゲート電極G2を備え浮遊ゲート電極G2に蓄
積される電荷量で情報を記憶する書換え可能で不揮発性
の記憶素子MC16等がある。
2. Description of the Related Art A conventional memory element of this type is shown in FIG.
As shown in (a) to (d), one-transistor / one-capacitor type memory element MC11, which is formed of a capacitor C11 and a switching transistor Q11 and accumulates information in the capacitor C11 by a charge amount, two inverters IV11, IV12 and two switching transistors Q12, Q13, which are flip-flop type, static type storage element MC12, and enhancement type and depletion type in the diffusion layer state, which are non-rewritable and nonvolatile. Storage elements MC13 to MC15 and control gate electrode G
1. There is a rewritable and non-volatile memory element MC16 or the like that includes a floating gate electrode G2 and stores information by the amount of charge accumulated in the floating gate electrode G2.

【0003】これら記憶素子はすべて、2値の情報を記
憶するものであった。
All of these storage elements store binary information.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の記憶素
子は、2値の情報を記憶する構成となっているので、記
憶装置に組込んだとき、この記憶装置に記憶する情報量
が増大すると記憶素子数が増大するという欠点があり、
また図4(a)の例ではリフレッシュが必要となり、図
4(b)の例では回路素子数が多くなり、図4(c)の
例では情報の書換えができないという欠点があった。
Since the above-described conventional storage element is configured to store binary information, when incorporated in a storage device, if the amount of information stored in this storage device increases. There is a drawback that the number of memory elements increases,
Further, in the example of FIG. 4A, refresh is necessary, in the example of FIG. 4B, the number of circuit elements is large, and in the example of FIG. 4C, there is a drawback that information cannot be rewritten.

【0005】本発明の目的は、記憶装置の記憶容量増大
に対する記憶素子数の増大を抑え、かつリフレッシュが
不要で回路素子数も少なく、情報の書換えが容易な記憶
素子を提提することにある。
An object of the present invention is to provide a storage element which suppresses an increase in the number of storage elements with respect to an increase in storage capacity of a storage device, does not require refreshing, has a small number of circuit elements, and can easily rewrite information. .

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】第1の発明の記憶素子
は、第1の制御信号を入力する第1のゲート電極と、ソ
ース電極及びドレイン電極と、これらソース電極及びド
レイン電極と前記第1のゲート電極との間に形成された
第2のゲート電極とを備えた第1のトランジスタと、ソ
ース電極及びドレイン電極の一方を前記第1のトランジ
スタの第2のゲート電極と接続しゲート電極に第2の制
御信号を入力してオン,オフする第2のトランジスタ
と、ソース電極及びドレイン電極の一方を前記第1のト
ランジスタのソース電極及びドレイン電極の一方と接続
しゲート電極に第3の制御信号を入力してオン,オフす
る第3のトランジスタとを有している。
According to another aspect of the present invention, there is provided a memory element including a first gate electrode for inputting a first control signal, a source electrode and a drain electrode, the source electrode and the drain electrode, and the first electrode. A first transistor having a second gate electrode formed between the first gate electrode and the second gate electrode, and one of the source electrode and the drain electrode is connected to the second gate electrode of the first transistor to form a gate electrode. A second transistor which is turned on / off by inputting a second control signal, and one of a source electrode and a drain electrode is connected to one of a source electrode and a drain electrode of the first transistor, and a gate electrode is controlled by a third And a third transistor which is turned on and off by inputting a signal.

【0007】第2の発明の記憶素子は、一端に第1の制
御信号を入力するコンデンサと、ゲート電極を前記コン
デンサの他端と接続する第1のトランジスタと、ソース
電極及びドレイン電極の一方を前記第1のトランジスタ
のゲート電極と接続しゲート電極に第2の制御信号を入
力してオン,オフする第2のトランジスタと、ソース電
極及びドレイン電極の一方を前記第1のトランジスタの
ソース電極及びドレイン電極の一方と接続しゲート電極
に第3の制御信号を入力してオン,オフする第3のトラ
ンジスタとを有している。
According to another aspect of the present invention, there is provided a memory element, which comprises a capacitor for inputting a first control signal to one end, a first transistor for connecting a gate electrode to the other end of the capacitor, and one of a source electrode and a drain electrode. A second transistor which is connected to the gate electrode of the first transistor and is turned on and off by inputting a second control signal to the gate electrode; and one of a source electrode and a drain electrode, which is the source electrode of the first transistor, A third transistor which is connected to one of the drain electrodes and is turned on / off by inputting a third control signal to the gate electrode.

【0008】[0008]

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の第1の実施例を示す回路図
である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.

【0010】この実施例は、第1の制御信号CNT1を
入力する第1のゲート電極G1と、ソース電極及びドレ
イン電極と、これらソース電極及びドレイン電極と第1
のゲート電極G1との間に形成された第2のゲート電極
G2とを備えた第1のトランジスタQ1と、ソース電極
及びドレイン電極の一方を第1のトランジスタQ1の第
2のゲート電極G2と接続しゲート電極に第2の制御信
号CNT2を入力してオン,オフする第2のトランジス
タQ2と、ソース電極及びドレイン電極の一方を第1の
トランジスタQ1のソース電極及びドレイン電極の一方
と接続しゲート電極に第3の制御信号CNT3を入力し
てオン,オフする第3のトランジスタとを有する構成と
なっている。
In this embodiment, a first gate electrode G1 for inputting a first control signal CNT1, a source electrode and a drain electrode, a source electrode and a drain electrode, and a first electrode
A first transistor Q1 having a second gate electrode G2 formed between the first gate electrode G1 and the second gate electrode G1, and one of a source electrode and a drain electrode connected to the second gate electrode G2 of the first transistor Q1. A second transistor Q2 that turns on and off by inputting a second control signal CNT2 to the gate electrode, and one of the source electrode and the drain electrode is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the first transistor Q1 and the gate is connected. It is configured to have a third transistor that is turned on / off by inputting the third control signal CNT3 to the electrode.

【0011】次にこの実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

【0012】トランジスタQ2が導通状態になるような
制御信号CNT2をそのゲート電極に与えると、書込デ
ータDw1が低レベルの場合、ゲート電極G2の電荷は
クリアされて初期状態となり、書込データDw1が高レ
ベルの場合には正の電荷がゲート電極G2に蓄えられる
(第1の書込状態)。
When a control signal CNT2 for turning on the transistor Q2 is applied to its gate electrode, when the write data Dw1 is at a low level, the charge of the gate electrode G2 is cleared to the initial state, and the write data Dw1. Is high level, positive charges are stored in the gate electrode G2 (first writing state).

【0013】その後、トランジスタQ2が非導通になる
ような制御信号CNT2をゲート電極に与えれば情報が
保持される。またトランジスタQ3が導通状態になるよ
うな制御信号CNT3をそのゲート電極に与え、制御信
号CNT2でトランジスタQ2を非導通にしておき、書
込データDw2と制御信号CNT1とを高電圧にする
と、ホットエレクトロン注入によってゲート電極G2に
負の電荷が蓄えられる(第2の書込状態)。
After that, if a control signal CNT2 for turning off the transistor Q2 is applied to the gate electrode, the information is held. Further, when a control signal CNT3 that makes the transistor Q3 conductive is applied to its gate electrode, the transistor Q2 is made non-conductive by the control signal CNT2, and the write data Dw2 and the control signal CNT1 are set to a high voltage, hot electrons are generated. Negative charges are stored in the gate electrode G2 by the injection (second write state).

【0014】以上の動作により、ゲート電極G2に電荷
がない、正の電荷がある、負の電荷がある、という3つ
の情報を保持することができる。
By the above operation, it is possible to retain three pieces of information that the gate electrode G2 has no charge, has positive charge, and has negative charge.

【0015】これらの情報は次のようにして読出すこと
ができる。まず制御信号CNT3によりトランジスタQ
3を導通状態にする。制御信号CNT1を高レベルから
低レベル、又は低レベルから高レベルへと変化させた場
合、トランジスタQ1は常に導通、常に非導通、導通→
非導通もしくは非導通→導通と変化する、のいずれかの
状態となり、ゲート電極G2に保持された3値の情報を
判別することができる。
These pieces of information can be read as follows. First, the control signal CNT3 causes the transistor Q
3 is made conductive. When the control signal CNT1 is changed from a high level to a low level or from a low level to a high level, the transistor Q1 is always conductive, always non-conductive, conductive →
Either the non-conduction state or the non-conduction state changes to the conduction state, and the three-valued information held in the gate electrode G2 can be discriminated.

【0016】すなわち3値の情報を記憶することができ
る。従って、2値から3値になった分だけ、記憶装置に
組込んだときの記憶素子数を低減することができる。ま
たリフレッシュの必要がなく、図4(b)より回路素子
数が少なく、しかも情報の書換えも容易である。
That is, ternary information can be stored. Therefore, the number of storage elements when incorporated in a storage device can be reduced by the amount of change from binary to ternary. Further, there is no need for refreshing, the number of circuit elements is smaller than that in FIG. 4B, and information can be easily rewritten.

【0017】図2は本発明の第2の実施例を示す回路図
である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.

【0018】この実施例は、第1の実施例のトランジス
タQ1の部分をトランジスタQ4とコンデンサC1とで
置換えたもので、基本的な動作及び効果は第1の実施例
と同様である。
In this embodiment, the transistor Q1 portion of the first embodiment is replaced with a transistor Q4 and a capacitor C1, and the basic operation and effect are similar to those of the first embodiment.

【0019】図3は本発明の第3の実施例を示す回路図
である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a third embodiment of the present invention.

【0020】この実施例は第1の実施例の記憶素子を2
つ直列に接続し、かつこれら2つの記憶素子に対する書
込み、読出しができるようにしたものである。
In this embodiment, two memory elements of the first embodiment are used.
The two storage elements are connected in series and writing and reading can be performed on these two storage elements.

【0021】動作は次の通りである。The operation is as follows.

【0022】制御信号CNT2を高レベルにして制御信
号CNT1−1又はCNT1−2を高レベルにする。ト
ランジスタQ2−1又はQ2−2が導通状態となり、書
込データDw1が高レベルであればトランジスタQ1−
1又はQ1−2が書込状態となり、書込データDw1が
低レベルであればトランジスタQ1−1又はQ1−2が
初期状態になり、情報を蓄えることができる。
The control signal CNT2 is set to high level and the control signal CNT1-1 or CNT1-2 is set to high level. If the transistor Q2-1 or Q2-2 becomes conductive and the write data Dw1 is at high level, the transistor Q1-
If 1 or Q1-2 is in the write state and the write data Dw1 is at the low level, the transistor Q1-1 or Q1-2 is in the initial state and information can be stored.

【0023】読出し時には制御信号CNT3によりトラ
ンジスタQ3を導通状態にする。トランジスタQ1−
1,Q1−2がN型トランジスタの場合、制御信号CN
T1−1,CNT1−2のうち選択した方を低レベル、
他方を高レベルにすると、トランジスタQ1−1,Q1
−2のうち非選択の方は導通状態となり、選択された方
は第2のゲート電極の状態によって導通か非導通とな
る。これをトランジスタQ3を介して判定して情報の読
出しを行う。
At the time of reading, the transistor Q3 is rendered conductive by the control signal CNT3. Transistor Q1-
1 and Q1-2 are N-type transistors, the control signal CN
Select the lower one of T1-1 and CNT1-2,
When the other is set to high level, the transistors Q1-1 and Q1
-2, the non-selected one becomes conductive, and the selected one becomes conductive or non-conductive depending on the state of the second gate electrode. This is judged through the transistor Q3 to read information.

【0024】この実施例では、トランジスタQ3が共用
となるので、回路素子数を低減することができる。
In this embodiment, since the transistor Q3 is shared, the number of circuit elements can be reduced.

【0025】これら実施例における記憶素子の製造は、
現存の製造工程等を何ら変えることなく実施することが
できる。
The manufacture of the memory element in these examples is as follows.
It can be implemented without changing the existing manufacturing process.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、第1のト
ランジスタの第2のゲート電極、又は第1のトランジス
タのゲート電極とコンデンサとの接続点に蓄積される電
荷を制御する構成とすることにより、3値の情報を記憶
することができるので2値から3値になった分だけ記憶
装置の記憶素子数を低減することができ、しかもリフレ
ッシュの必要がなく回路素子も少なくて書換え容易な記
憶素子を得ることができる効果がある。
As described above, the present invention is configured to control the charge accumulated at the second gate electrode of the first transistor or the connection point between the gate electrode of the first transistor and the capacitor. As a result, since three-valued information can be stored, the number of storage elements in the storage device can be reduced by the amount of change from two-valued to three-valued information. Moreover, refreshing is not necessary and the number of circuit elements is small, which facilitates rewriting. There is an effect that various storage elements can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図4】従来の記憶素子の第1〜第4の例を示す回路図
である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing first to fourth examples of conventional memory elements.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

AG1,AG2 ANDゲート C1,C2 コンデンサ IV11,IV12 インバータ MC11,MC16 記憶素子 Q1,Q1−1,Q1−2,Q2,Q2−1,Q2−
2,Q3,Q4,Q11〜Q13 トランジスタ
AG1, AG2 AND gates C1, C2 Capacitors IV11, IV12 Inverters MC11, MC16 Storage elements Q1, Q1-1, Q1-2, Q2, Q2-1, Q2-
2, Q3, Q4, Q11 to Q13 transistors

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の制御信号を入力する第1のゲート
電極と、ソース電極及びドレイン電極と、これらソース
電極及びドレイン電極と前記第1のゲート電極との間に
形成された第2のゲート電極とを備えた第1のトランジ
スタと、ソース電極及びドレイン電極の一方を前記第1
のトランジスタの第2のゲート電極と接続しゲート電極
に第2の制御信号を入力してオン,オフする第2のトラ
ンジスタと、ソース電極及びドレイン電極の一方を前記
第1のトランジスタのソース電極及びドレイン電極の一
方と接続しゲート電極に第3の制御信号を入力してオ
ン,オフする第3のトランジスタとを有することを特徴
とする記憶素子。
1. A first gate electrode for inputting a first control signal, a source electrode and a drain electrode, and a second gate electrode formed between the source electrode and the drain electrode and the first gate electrode. A first transistor having a gate electrode and one of a source electrode and a drain electrode
A second transistor connected to the second gate electrode of the transistor and turning on / off by inputting a second control signal to the gate electrode; and one of a source electrode and a drain electrode of the first transistor and the source electrode of the first transistor. A memory element comprising a third transistor which is connected to one of drain electrodes and is turned on / off by inputting a third control signal to a gate electrode.
【請求項2】 一端に第1の制御信号を入力するコンデ
ンサと、ゲート電極を前記コンデンサの他端と接続する
第1のトランジスタと、ソース電極及びドレイン電極の
一方を前記第1のトランジスタのゲート電極と接続しゲ
ート電極に第2の制御信号を入力してオン,オフする第
2のトランジスタと、ソース電極及びドレイン電極の一
方を前記第1のトランジスタのソース電極及びドレイン
電極の一方と接続しゲート電極に第3の制御信号を入力
してオン,オフする第3のトランジスタとを有すること
を特徴とする記憶素子。
2. A capacitor for inputting a first control signal to one end, a first transistor for connecting a gate electrode to the other end of the capacitor, and one of a source electrode and a drain electrode for the gate of the first transistor. A second transistor connected to the electrode and turned on / off by inputting a second control signal to the gate electrode, and one of the source electrode and the drain electrode is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the first transistor. A memory element having a third transistor which is turned on and off by inputting a third control signal to a gate electrode.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021099895A (en) * 2009-11-06 2021-07-01 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
JP2022518712A (en) * 2019-01-21 2022-03-16 アトラス パワー テクノロジーズ インコーポレイテッド Systems and methods for the storage, processing and communication of bidirectional electrical information

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