JPH05283817A - Manufacture of semiconductor laser - Google Patents

Manufacture of semiconductor laser

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JPH05283817A
JPH05283817A JP10533492A JP10533492A JPH05283817A JP H05283817 A JPH05283817 A JP H05283817A JP 10533492 A JP10533492 A JP 10533492A JP 10533492 A JP10533492 A JP 10533492A JP H05283817 A JPH05283817 A JP H05283817A
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JP
Japan
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mesa
layer
groove
forming
semiconductor laser
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JP10533492A
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Japanese (ja)
Inventor
Minoru Yamada
実 山田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Abstract

PURPOSE:To realize the manufacture of a semiconductor laser which has limited side etching, and can make slim and deep mesa grooves. CONSTITUTION:A buffer layer 2, block layers 3, 4, and a mask layer are crystallized and made to grow on a P-InP crystal substrate 1 where the projected part is formed. The projected part is etched by HC1, and mesa-forming grooves 12 are made. After that, an arrow-head type groove 13 is made, and the mask layer is eliminated. Then, a clad layer 5, an active layer 6, a clad layer 7, and a cap layer 8 are buried and made to grow. After forming an insulating film, a stripe-type electrical window is opened, and a p-type electrode 10 and an n-type electrode 11 are formed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、高速の光通信用の光源
などに使用して好適な半導体レーザの製造方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor laser suitable for use as a light source for high speed optical communication.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザにおいて、立ち上がり、立
ち下がり時間の短い、高速な応答特性を実現するため
に、半導体レーザの素子(チップ)の寄生容量を減らす
ことが考えられている。その手法として、例えば半導体
レーザの光導波路の両側に、平行にメサ形成溝を掘り、
メサを形成する方法が一般的に用いられている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor laser, it has been considered to reduce the parasitic capacitance of an element (chip) of the semiconductor laser in order to realize high-speed response characteristics with short rise and fall times. As a method thereof, for example, on both sides of an optical waveguide of a semiconductor laser, a mesa forming groove is formed in parallel,
The method of forming mesas is commonly used.

【0003】図6は、従来の半導体レーザの一例の断面
図である。図中、1はp−InP単結晶基板、2はp−
InPバッファ層、3はn−InPブロック層、4はp
−InPブロック層、5はp−InPクラッド層、6は
InGaAsP活性層、7はn−InPクラッド層、8
はn−InGaAsPキャップ層、9はSiNx絶縁
膜、10はp電極、11はn電極、12はメサ形成溝、
13はアローヘッド型溝である。
FIG. 6 is a sectional view of an example of a conventional semiconductor laser. In the figure, 1 is a p-InP single crystal substrate and 2 is a p-InP substrate.
InP buffer layer, 3 is n-InP block layer, 4 is p
-InP block layer, 5 is p-InP clad layer, 6 is InGaAsP active layer, 7 is n-InP clad layer, 8
Is an n-InGaAsP cap layer, 9 is a SiNx insulating film, 10 is a p-electrode, 11 is an n-electrode, 12 is a mesa formation groove,
Reference numeral 13 is an arrow head type groove.

【0004】図6に図示されている従来の半導体レーザ
の製造方法を説明する。まず、p−InP単結晶基板1
上に、p−InPバッファ層2、n−InPブロック層
3、p−InPブロック層4を液相成長によりエピタキ
シャル結晶成長させる。次に、メサ頭頂部にあたる部分
にアローヘッド型溝13をエッチングにより作製する。
さらに、p−InPクラッド層5、InGaAsP活性
層6、n−InPクラッド層7、n−InGaAsPキ
ャップ層8の4層を液相成長により埋め込み成長を行な
う。その後、先に作製したアローヘッド型溝13の両側
に、活性層6より深いメサ形成溝12を掘り、メサを形
成する。そして、SiNx絶縁膜9を成膜後、導波路上
にストライプ型の電流窓を開け、p、n両側にp電極1
0およびn電極11を成膜する。ついで、劈開して個々
のチップに分離し、半導体レーザ素子が完成する。
A method of manufacturing the conventional semiconductor laser shown in FIG. 6 will be described. First, p-InP single crystal substrate 1
The p-InP buffer layer 2, the n-InP block layer 3, and the p-InP block layer 4 are epitaxially grown thereon by liquid phase growth. Next, the arrow head type groove 13 is formed by etching in a portion corresponding to the top of the mesa.
Further, four layers of the p-InP clad layer 5, the InGaAsP active layer 6, the n-InP clad layer 7, and the n-InGaAsP cap layer 8 are embedded and grown by liquid phase growth. Then, on both sides of the arrow head type groove 13 produced previously, the mesa forming groove 12 deeper than the active layer 6 is dug to form a mesa. After forming the SiNx insulating film 9, a stripe type current window is opened on the waveguide, and the p electrode 1 is formed on both sides of p and n.
The 0 and n electrodes 11 are deposited. Then, the semiconductor laser device is completed by cleaving and separating into individual chips.

【0005】埋め込み成長のウエハは、比較的小さいの
でその小さなウエハ1枚1枚にメサ形成溝12を作製
し、メサを形成するよりも、例えばエッチングなどの手
法によって、大きな基板に1回のプロセスでメサを形成
すれば、製造コストを下げるのにも有益であり、従来よ
りこの手法が用いられている。
Since the wafer of embedded growth is relatively small, the mesa forming groove 12 is formed in each small wafer, and a process for forming a large substrate is performed once by a method such as etching rather than forming a mesa. Forming mesas in (1) is also useful in reducing manufacturing costs, and this method has been used conventionally.

【0006】上述のような、従来の製造方法では、メサ
形成溝12を掘り、メサを形成するのは、全ての結晶の
作製が終わった後に行なっていた。そのために、メサ形
成溝12を掘るには、複数の異なる層をエッチングしな
ければならないために、エッチャントにBrメタノール
など、必要以上にサイドエッチングが大きくなってしま
うものを使用せざるを得なかった。その結果、ワイヤボ
ンディングのためのボンディングパット、あるいは、メ
サ頭頂部が非常に小さくなってしまい、ワイヤボンディ
ングや電流窓の窓開け加工が困難になるという欠点があ
った。また、Brメタノールの代わりにサイドエッチン
グの小さな酸を用いようとすれば、各層のエッチング特
性の違いから、何種類ものエッチャントによって、数回
にわたってエッチングしなければならない。さらに、使
用する酸の、素子に対する残留性にも問題があった。
In the conventional manufacturing method as described above, the mesa forming groove 12 is dug and the mesa is formed after all the crystals have been manufactured. Therefore, in order to dig the mesa formation groove 12, it is necessary to etch a plurality of different layers, and therefore, an etchant such as Brmethanol, which causes an excessively large side etching, must be used. .. As a result, the bonding pad for wire bonding or the top of the mesa becomes very small, which makes it difficult to perform wire bonding and window opening of the current window. If a small acid for side etching is used instead of Br-methanol, it must be etched several times by various kinds of etchants due to the difference in etching characteristics of each layer. Further, there is a problem in the residual property of the acid used for the device.

【0007】また、全ての結晶の作製が終わった後に、
メサを形成するためのメサ形成溝を作製した場合、埋め
込み成長終了後の導波路は、上部からは見えず、キャッ
プ層の表面は平坦になっているため、導波路の場所は容
易に見分けがつかない。しかし、SiNx絶縁膜に電流
窓を開け、また、従来の方法ではメサを形成する2本の
溝を作るためには、正確な導波路の場所を把握する必要
がある。そのために、従来は、導波路の位置の基板の裏
側にガイドラインを作製しておかなければならなかっ
た。
Further, after the production of all the crystals,
In the case of forming a mesa forming groove for forming a mesa, the waveguide after completion of the buried growth cannot be seen from above and the surface of the cap layer is flat, so that the location of the waveguide can be easily identified. Not stick. However, in order to open a current window in the SiNx insulating film and to form two grooves for forming a mesa by the conventional method, it is necessary to grasp the exact location of the waveguide. Therefore, conventionally, the guideline had to be prepared on the back side of the substrate at the position of the waveguide.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、サイドエッ
チングが少なく、ボンディングパットやメサ頭頂部が小
さくなることなく、また、エッチャントとして用いる酸
の素子に対する残留性が問題とならず、簡単にメサ形成
溝を作製することができる、半導体レーザの製造方法を
提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is little side etching, the bonding pad and the top of the mesa do not become small, and the residue of the acid used as an etchant on the element does not pose a problem, and the mesa can be easily formed. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a semiconductor laser capable of forming a formation groove.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、請求項1の発
明においては、活性領域の両側にメサ形成溝を有する半
導体レーザの製造方法において、メサ形成溝を形成する
位置に凸状部が形成された基板を用い、該基板上に所定
の層を形成した後、前記凸状部をエッチングすることに
よりメサ形成溝を作製することを特徴とするものであ
り、請求項2の発明においては、活性領域の両側にメサ
形成溝を有する半導体レーザの製造方法において、ブロ
ック層を形成した半導体ウェハに、矢尻型溝またはV字
溝を形成するとともに、その両側にメサ形成溝を形成し
た後、埋め込み成長を行なうことを特徴とするものであ
る。
According to a first aspect of the present invention, in a method for manufacturing a semiconductor laser having a mesa forming groove on both sides of an active region, a convex portion is formed at a position where the mesa forming groove is formed. The invention is characterized in that the formed substrate is used, and after forming a predetermined layer on the substrate, the mesa forming groove is formed by etching the convex portion. In a method of manufacturing a semiconductor laser having mesa forming grooves on both sides of an active region, after forming arrowhead-shaped grooves or V-shaped grooves on a semiconductor wafer on which a block layer is formed and forming mesa forming grooves on both sides thereof, It is characterized by performing buried growth.

【0010】ブロック層ウエハにアローヘッド型溝ある
いはV字型溝を形成し、その後活性層を埋め込み成長し
て作製する半導体レーザの製造方法においては、あらか
じめ基板に凹凸をつけ、該基板上にブロック層を成長さ
せ、エッチングによりメサを形成するための溝を作製
し、アローヘッド型溝あるいはV字型溝を形成し、埋め
込み成長することができる。
In a method of manufacturing a semiconductor laser in which an arrow head type groove or a V-shaped groove is formed in a block layer wafer and then an active layer is embedded and grown, a substrate is made to have irregularities and the block is formed on the substrate. It is possible to grow a layer, form a groove for forming a mesa by etching, form an arrow head type groove or a V-shaped groove, and perform embedded growth.

【0011】[0011]

【作用】請求項1に記載の発明によれば、活性領域の両
側にメサ形成溝を有する半導体レーザの製造方法におい
て、あらかじめ基板にメサ形成溝を形成する位置に凸状
部を形成しておき、その基板上に所定の層を形成し、そ
の後、基板の凸状部に対してのエッチングによってメサ
を形成するための溝を作製することができるから、残留
性の少ない一種類のエッチャントを用いることができ、
サイドエッチングが小さく、細く、深いメサ形成溝を作
製することができる。
According to the first aspect of the present invention, in the method of manufacturing a semiconductor laser having the mesa forming grooves on both sides of the active region, the convex portion is previously formed on the substrate at a position where the mesa forming groove is formed. , A predetermined layer is formed on the substrate, and then a groove for forming a mesa can be formed by etching the convex portion of the substrate, so that one kind of etchant with less residual property is used. It is possible,
Side etching is small, and it is possible to form a thin and deep mesa forming groove.

【0012】請求項2に記載の発明によれば、活性領域
の両側にメサ形成溝を有する半導体レーザの製造方法に
おいて、ブロック層を形成した段階の半導体ウェハに、
溝形成を行なうことにより、残留性の少ない一種類のエ
ッチャントを用いることができ、サイドエッチングが小
さく、細く、深いメサ形成溝を作製することができる。
According to the second aspect of the invention, in the method of manufacturing a semiconductor laser having the mesa forming grooves on both sides of the active region, the semiconductor wafer at the stage where the block layer is formed,
By forming the groove, it is possible to use one kind of etchant having a low residual property, and it is possible to form a thin and deep mesa forming groove with small side etching.

【0013】[0013]

【実施例】図1は、本発明の製造方法で作製された半導
体レーザの一実施例の断面図である。また、図2乃至図
5は、本発明の製造方法の一実施例の工程図である。図
中、図6と同様な部分には同じ符号を付して説明を省略
する。14は凸状部、15はInGaAsPマスク層で
ある。
1 is a sectional view of an embodiment of a semiconductor laser manufactured by the manufacturing method of the present invention. 2 to 5 are process diagrams of one embodiment of the manufacturing method of the present invention. In the figure, the same parts as those in FIG. 6 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. Reference numeral 14 is a convex portion, and 15 is an InGaAsP mask layer.

【0014】この実施例は、図6で説明した従来例と同
様に、アローヘッド型溝を有する端面発光ダイオードの
製造に本発明を適用したものであり、活性領域の両側に
作製されたメサ形成溝によって、メサが形成されている
ものである。
In this embodiment, like the conventional example described in FIG. 6, the present invention is applied to the manufacture of an end face light emitting diode having an arrow head type groove, and a mesa formed on both sides of an active region is formed. The mesa is formed by the groove.

【0015】図1の半導体レーザの製造方法を説明す
る。 必要とする基板より厚さよりも厚い厚さのp−In
P単結晶基板1を用いる。この(100)面上にSiN
x膜を成膜し、結晶の〈011〉方向に沿って、SiN
x膜をストライプ状にエッチングする。SiNx膜はエ
ッチングの際のマスクとなる。SiNx膜が残った部分
が、後にメサ形成溝となる位置に相当する。
A method of manufacturing the semiconductor laser of FIG. 1 will be described. P-In thicker than the required substrate
A P single crystal substrate 1 is used. SiN on this (100) plane
An x film is formed, and SiN is formed along the <011> direction of the crystal.
The x film is etched into stripes. The SiNx film serves as a mask during etching. The portion where the SiNx film remains corresponds to a position which will later become a mesa formation groove.

【0016】 HCl+2HNO3 をエッチャント
し、p−InP単結晶基板1のエッチングを行なう。エ
ッチング終了後、SiNx膜を除去する(図2)。この
工程により、メサ形成溝となる位置に凸状部14が形成
されたp−InP単結晶基板1が作製できる。凸状部1
4が、後のメサ形成溝となる部分に相当する。
Using HCl + 2HNO 3 as an etchant, the p-InP single crystal substrate 1 is etched. After the etching is completed, the SiNx film is removed (FIG. 2). Through this step, the p-InP single crystal substrate 1 in which the convex portion 14 is formed at the position to be the mesa formation groove can be manufactured. Convex part 1
4 corresponds to a portion to be a mesa forming groove later.

【0017】 凸状部が形成されたp−InP単結晶
基板1上に、p−InPバッファ層2、n−InPブロ
ック層3、p−InPブロック層4を液晶成長でエピタ
キシャル結晶成長させる。さらにその上に、InGaA
sPマスク層15を結晶成長させる(図3)。
The p-InP buffer layer 2, the n-InP block layer 3, and the p-InP block layer 4 are epitaxially grown by liquid crystal growth on the p-InP single crystal substrate 1 on which the convex portions are formed. On top of that, InGaA
Crystals of the sP mask layer 15 are grown (FIG. 3).

【0018】 HClをエッチャントとして用い、エ
ッチングを行なう。これにより、p−InP単結晶基板
1上に作製しておいた凸状部がエッチングされ、メサ形
成溝12が作製される。このエッチングにおけるサイド
エッチングは小さく、作製されたメサ形成溝12は、下
方へ向けて多少広がる程度である。
Etching is performed using HCl as an etchant. As a result, the convex portion formed on the p-InP single crystal substrate 1 is etched, and the mesa forming groove 12 is formed. Side etching in this etching is small, and the manufactured mesa forming groove 12 is slightly expanded downward.

【0019】 作製されたメサ形成溝12にレジスト
をかけ、InGaAsPマスク層15をパターニング
し、エッチングによりメサ頭頂部にアローヘッド型溝1
3を作製する。ついで、レジストおよびInGaAsP
マスク層15を取り除く(図4)。エッチャントはHC
lを用いることができるが、他のエッチャントでもよ
い。
A resist is applied to the formed mesa forming groove 12, the InGaAsP mask layer 15 is patterned, and the arrow head type groove 1 is formed on the top of the mesa by etching.
3 is produced. Then, resist and InGaAsP
The mask layer 15 is removed (FIG. 4). HC is the etchant
1 can be used, but other etchants may be used.

【0020】 p−InPクラッド層5、InGaA
sP活性層6、n−InPクラッド層7、n−InGa
AsPキャップ層8の4層を埋め込み成長する(図
5)。
P-InP clad layer 5, InGaA
sP active layer 6, n-InP clad layer 7, n-InGa
Four layers of AsP cap layer 8 are embedded and grown (FIG. 5).

【0021】 n−InGaAsPキャップ層8上に
SiNx絶縁膜9を成膜後、導波路上(アローヘッド型
溝13上)にストライプ型の電流窓を開け、p電極10
およびn電極11を形成し、個々のチップに劈開する
(図1)。以上の手順によって、半導体レーザが完成す
る。
After forming the SiNx insulating film 9 on the n-InGaAsP cap layer 8, a stripe type current window is opened on the waveguide (on the arrow head type groove 13), and the p electrode 10 is formed.
Then, the n-electrode 11 is formed and cleaved into individual chips (FIG. 1). The semiconductor laser is completed by the above procedure.

【0022】なお、上述の製造過程において、エッチ
ャントとしてHClを用いているが、HClはBrメタ
ノールなどと比べ、残留性が少なく、サイドエッチング
も小さいので、本発明には好適である。また、エッチン
グの際にマスクとして用いているInGaAsPマスク
層15は、エッチャントに対してのマスクとなれば他の
物質でもよい。
Although HCl is used as an etchant in the above manufacturing process, HCl is suitable for the present invention because it has less residual properties and less side etching than Br methanol or the like. Further, the InGaAsP mask layer 15 used as a mask during etching may be made of another substance as long as it serves as a mask for the etchant.

【0023】製造過程におけるアローヘッド型溝13
の形成工程は、におけるメサ形成溝12と同時の工程
で行なうこともできる。しかし、この実施例では、メサ
形成溝12の方がエッチング時間が長い。したがって、
まず、メサ形成溝12のエッチングを開始して、メサ形
成溝12の一部が形成された段階で、ひとまずエッチン
グを中断し、InGaAsPマスク層15にアローヘッ
ド型溝13のためのパターニングを施した後、再度エッ
チングを行ない、中断後のメサ形成溝12を引き続いて
形成するとともに、アローヘッド型溝の形成を同時に行
なうようにすればよい。
Arrowhead groove 13 in the manufacturing process
The forming step of can also be performed in the same step as the mesa forming groove 12 in. However, in this embodiment, the mesa forming groove 12 has a longer etching time. Therefore,
First, the etching of the mesa forming groove 12 is started, and when the part of the mesa forming groove 12 is formed, the etching is interrupted and the InGaAsP mask layer 15 is patterned for the arrow head type groove 13. After that, etching may be performed again to continuously form the mesa forming groove 12 after the interruption, and simultaneously form the arrow head type groove.

【0024】また、メサ形成溝12を形成するためのエ
ッチングは、埋め込み成長工程の後に行なうこともでき
る。例えば、n−InGaAsPキャップ層8を形成し
た段階で、レジストをかけて、凸状部をエッチングする
ようにしてもよい。この方法でも、メサ形成溝12は、
凸状部のエッチングにより形成されるから、細く、深い
メサ形成溝を作製することができる。
The etching for forming the mesa forming groove 12 can also be performed after the embedded growth step. For example, at the stage where the n-InGaAsP cap layer 8 is formed, a resist may be applied to etch the convex portions. Also in this method, the mesa forming groove 12 is
Since the convex portion is formed by etching, a thin and deep mesa forming groove can be formed.

【0025】上述した実施例では、凸状部を形成した基
板を用いたが、凸状部を形成しない基板を用いて、製造
過程で説明したように、バッファ層、ブロック層を形
成した後に、の工程、すなわち、メサ形成溝とメサ
溝を形成する場合は、単結晶基板、バッファ層、ブロッ
ク層が同一材料で形成できるから、一種類のエッチャン
トを用いることができる。また、サイドエッチングの小
さいHClを用いることができるから、上述した実施例
と同様に、溝幅が狭く、深いメサ形成溝を作製すること
ができる。
In the above-mentioned embodiment, the substrate having the convex portion is used, but after the buffer layer and the block layer are formed using the substrate having no convex portion, as described in the manufacturing process, In the step (1), that is, in the case of forming the mesa formation groove and the mesa groove, the single crystal substrate, the buffer layer, and the block layer can be formed of the same material, so that one kind of etchant can be used. Further, since HCl, which has a small side etching, can be used, it is possible to form a deep mesa forming groove having a narrow groove width as in the above-described embodiment.

【0026】これら上述した実施例において、ブロック
層、クラッド層、活性層、キャップ層等の半導体レーザ
を構成する各層に用いる材料としても、上述した材料に
限られるものではなく、他の適当な材料を用いたとして
も、本発明の製造方法が適用できることはいうまでもな
い。
In the above-mentioned embodiments, the materials used for the respective layers constituting the semiconductor laser such as the block layer, the clad layer, the active layer and the cap layer are not limited to the above-mentioned materials, and other suitable materials are used. Needless to say, even if the above method is used, the production method of the present invention can be applied.

【0027】上述の実施例では、p型の基板をベースに
したが、各層のp型をn型に、n型をp型に変えること
により、n型基板をベースにした半導体レーザを作製す
ることができる。
Although the p-type substrate is used as the base in the above-described embodiments, a semiconductor laser based on the n-type substrate is manufactured by changing the p-type of each layer to n-type and n-type to p-type. be able to.

【0028】また、上述した実施例は、アローヘッド型
の端面発光ダイオードに本発明を適用した場合について
説明したものであるが、他の形式の端面発光ダイオード
にも本発明を適用することができることは明らかであ
る。
Further, although the above-described embodiments have been described with respect to the case where the present invention is applied to the arrow head type end face light emitting diode, the present invention can be applied to other types of end face light emitting diodes. Is clear.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、予め基板に凸状部を設け、所定の層を形成さ
せたのち、エッチングによりメサを形成するための溝
を、作製するようにしたことにより、溝幅が狭く、深い
溝を作ることができ、またメサ部分の幅を著しく狭くす
ることがないという効果がある。そのため、従来Brメ
タノール等を用いてメサを形成するための溝を作製する
方法に比べ、同じ大きさのチップを作製した場合、ワイ
ヤボンディングを行なうボンディングパットの大きさを
大きくすることができ、ワイヤボンディングが簡単にな
る。同様に、SiNx絶縁膜の導波路上にストライプ型
の電流窓を開ける際に、その加工が容易となる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a convex portion is provided on a substrate in advance, a predetermined layer is formed, and then a groove for forming a mesa is formed by etching. By doing so, there is an effect that the groove width is narrow, a deep groove can be formed, and the width of the mesa portion is not significantly narrowed. Therefore, compared with the conventional method of forming a groove for forming a mesa using Br methanol or the like, when a chip of the same size is manufactured, the size of a bonding pad for wire bonding can be increased, Bonding becomes easy. Similarly, when the stripe type current window is opened on the waveguide of the SiNx insulating film, the processing becomes easy.

【0030】また、メサを形成するための溝をエッチン
グする際に、HClのような残留性が少なく、サイドエ
ッチングの小さい酸を用いることができるから、上述の
効果を一層高めることができるとともに、残留性などの
問題も解消する。
Further, when etching the groove for forming the mesa, an acid such as HCl, which has a low residual property and a small side etching, can be used, so that the above-mentioned effect can be further enhanced. It also solves problems such as persistence.

【0031】さらに、従来、正確な導波路の場所を把握
するために必要であった、基板の裏側のガイドライン
は、本考案の適用により不要となり、基板の裏側のガイ
ドラインを作製するプロセスが省ける、という効果もあ
る。
Furthermore, the guideline on the back side of the substrate, which was conventionally required to grasp the exact location of the waveguide, is not necessary by applying the present invention, and the process for producing the guideline on the back side of the substrate can be omitted. There is also the effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の製造方法で作製された半導体レーザの
一実施例の断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of an embodiment of a semiconductor laser manufactured by a manufacturing method of the present invention.

【図2】〜[Figure 2]

【図5】本発明の製造方法の一実施例の工程図である。FIG. 5 is a process drawing of an example of the manufacturing method of the present invention.

【図6】従来の半導体レーザの断面図である。FIG. 6 is a sectional view of a conventional semiconductor laser.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 p−InP単結晶基板 2 p−InPバッファ層 3 n−InPブロック層 4 p−InPブロック層 5 p−InPクラッド層 6 InGaAsP活性層 7 n−InPクラッド層 8 n−InGaAsPキャップ層 9 SiNx絶縁膜 10 p電極 11 n電極 12 メサ形成溝 13 アローヘッド型溝 14 凸状部 15 InGaAsPマスク層 1 p-InP single crystal substrate 2 p-InP buffer layer 3 n-InP block layer 4 p-InP block layer 5 p-InP clad layer 6 InGaAsP active layer 7 n-InP clad layer 8 n-InGaAsP cap layer 9 SiNx insulation Film 10 p electrode 11 n electrode 12 mesa forming groove 13 arrow head type groove 14 convex portion 15 InGaAsP mask layer

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 活性領域の両側にメサ形成溝を有する半
導体レーザの製造方法において、メサ形成溝を形成する
位置に凸状部が形成された基板を用い、該基板上に所定
の層を形成した後、前記凸状部をエッチングすることに
よりメサ形成溝を作製することを特徴とする半導体レー
ザの製造方法。
1. A method of manufacturing a semiconductor laser having a mesa forming groove on both sides of an active region, wherein a substrate having a convex portion formed at a position where the mesa forming groove is formed is used, and a predetermined layer is formed on the substrate. And then forming the mesa forming groove by etching the convex portion.
【請求項2】 活性領域の両側にメサ形成溝を有する半
導体レーザの製造方法において、ブロック層を形成した
半導体ウェハに、矢尻型溝またはV字溝を形成するとと
もに、その両側にメサ形成溝を形成した後、埋め込み成
長を行なうことを特徴とする半導体レーザの製造方法。
2. A method of manufacturing a semiconductor laser having mesa forming grooves on both sides of an active region, wherein arrowhead-shaped grooves or V-shaped grooves are formed on a semiconductor wafer on which a block layer is formed, and mesa forming grooves are formed on both sides thereof. A method for manufacturing a semiconductor laser, which comprises performing buried growth after the formation.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002521828A (en) * 1998-07-23 2002-07-16 ウイスコンシン アラムニ リサーチ ファンデーション Lateral anti-guided high-power semiconductor with reduced lateral optical confinement
JP2006261340A (en) * 2005-03-16 2006-09-28 Fujitsu Ltd Semiconductor device and its manufacturing method

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