JPH0527493Y2 - - Google Patents

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JPH0527493Y2
JPH0527493Y2 JP1986044281U JP4428186U JPH0527493Y2 JP H0527493 Y2 JPH0527493 Y2 JP H0527493Y2 JP 1986044281 U JP1986044281 U JP 1986044281U JP 4428186 U JP4428186 U JP 4428186U JP H0527493 Y2 JPH0527493 Y2 JP H0527493Y2
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chamber
frequency power
high frequency
electrode unit
power block
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【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案はプラズマCVD装置に係り、特に生
成ガス導入機構の改良に関する。
[Detailed description of the invention] Industrial application field This invention relates to a plasma CVD apparatus, and particularly relates to an improvement of the generated gas introduction mechanism.

従来の技術 半導体技術分野等における薄膜形成手段として
プラズマCVD装置が使用されている。
BACKGROUND OF THE INVENTION Plasma CVD apparatuses are used as a thin film forming means in the semiconductor technology field and the like.

このプラズマCVD装置は普通は、内部にプラ
ズマを発生する真空容器であるチヤンバと、チヤ
ンバ内に対向配設される基板ホルダと電極ユニツ
トとを含んでいる。
This plasma CVD apparatus normally includes a chamber, which is a vacuum container in which plasma is generated, and a substrate holder and an electrode unit that are disposed facing each other within the chamber.

一方、チヤンバ内に生成ガスを導入する機構と
して、生成ガス導入機構があり、この生成ガス導
入機構は高周波電力を供給する高周波電力ブロツ
クを貫通するように構成されている。
On the other hand, there is a generated gas introduction mechanism as a mechanism for introducing generated gas into the chamber, and this generated gas introduction mechanism is configured to pass through a high frequency power block that supplies high frequency power.

即ち、外部のガス源に連結された外部導入部と
前記電極ユニツト側に、即ち、チヤンバ内に連通
する内部導入部とから構成されている。
That is, it is composed of an external introduction section connected to an external gas source and an internal introduction section communicating with the electrode unit side, that is, into the chamber.

この内部導入部は従来の技術においては、単に
高周波電力ブロツクの中心部に開けた1本の比較
的大径のくりぬき孔である。
In the prior art, this internal introduction is simply a relatively large diameter hollow hole drilled in the center of the high frequency power block.

考案が解決しようとする問題点 プラズマCVD装置を使用して薄膜を形成する
場合において、もつとも重要なことは、薄膜をい
つも一定の条件にて生成させる必要上、放電その
ものの安定性とその安定領域の広さである。この
ことは実際上は、チヤンバ内に導入する高周波電
力の安定性であり、操作の面からいえば所謂マツ
チングボツクスの調節の容易性である。
Problems that the invention aims to solve When forming thin films using plasma CVD equipment, the most important thing is the stability of the discharge itself and its stable range, since the thin film must always be generated under constant conditions. It is the size of In practice, this refers to the stability of the high frequency power introduced into the chamber, and in terms of operation, it refers to the ease of adjustment of the so-called matching box.

しかしながら、従来のプラズマCVD装置では、
前述したように、導電性材料からなる高周波電力
導入ブロツクに開けた1本の大径の孔そのものを
生成ガス導入孔としている関係上、条件によつて
はプラズマ放電がその孔内に進入する可能性があ
る。プラズマ放電が生成ガス導入孔内に侵入発生
するようになると、そこで高周波電力が急激に増
大することになるので、前記マツチングボツクス
の調節が困難となり、プラズマ放電が安定に行わ
れなくなる。またプラズマ放電領域にて消費する
高周波電力の量が大きくなるので電力ロスにつな
がるという経済的難点がある。
However, with conventional plasma CVD equipment,
As mentioned above, since the single large-diameter hole drilled in the high-frequency power introduction block made of conductive material is itself used as the generated gas introduction hole, depending on the conditions, plasma discharge may enter the hole. There is sex. When the plasma discharge enters the generated gas introduction hole, the high frequency power increases rapidly there, making it difficult to adjust the matching box, and the plasma discharge cannot be performed stably. Furthermore, since the amount of high-frequency power consumed in the plasma discharge region increases, there is an economical disadvantage that this leads to power loss.

この考案は上記した背景の下で創作されたもの
であり、上記した種々の問題が生じないプラズマ
CVD装置を提供することを目的としている。
This idea was created against the above background, and it is a plasma that does not suffer from the various problems mentioned above.
The purpose is to provide CVD equipment.

問題点を解決するための手段 本考案に係るプラズマCVD装置は、チヤンバ
内で基板ホルダに対して平行に配設した中空電極
であつて、基板ホルダの対向面に生成ガス導入孔
を形成した電極ユニツトと、チヤンバ外から電極
ユニツトに高周波電力を導入するための金属部材
であつて、チヤンバに形成した穴を介して電極ユ
ニツトと接触させた高周波電力ブロツクと、高周
波電力ブロツク及び電極ユニツトとチヤンバとを
電気的に絶縁する手段と、高周波電力ブロツクを
貫通して形成されており電極ユニツトの内空間と
連通した複数の細孔と、チヤンバ外から生成ガス
を前記複数の細孔、電極ユニツトの内空間、生成
ガス導入孔を順次的に介してチヤンバ内に導入す
る手段とを具備したことを特徴とする。
Means for Solving the Problems The plasma CVD apparatus according to the present invention has a hollow electrode arranged parallel to the substrate holder in the chamber, and the electrode has a generated gas introduction hole formed on the opposite surface of the substrate holder. a high-frequency power block, which is a metal member for introducing high-frequency power into the electrode unit from outside the chamber and is brought into contact with the electrode unit through a hole formed in the chamber; and a high-frequency power block, the electrode unit, and the chamber. means for electrically insulating the chamber, a plurality of pores formed through the high frequency power block and communicating with the inner space of the electrode unit; It is characterized by comprising a means for introducing the produced gas into the chamber sequentially through the space and the produced gas introduction hole.

作 用 チヤンバ外から送り込まれた生成ガスは高周波
電力ブロツクに形成した複数の細孔、電極ユニツ
トの内空間、生成ガス導入孔を順次的に介してチ
ヤンバ内に導入される。この状態で、チヤンバと
高周波電力ブロツクとの間に高周波電力が印加さ
れると、基板ホルダと電極ユニツトとの間でプラ
ズマ放電が生ずる。高周波電力ブロツクに形成さ
れた細孔の内部の圧力は、チヤンバの内部より高
い。しかも細孔の内部では生成ガスの分子同士が
衝突する頻度より生成ガスの分子が細孔の内壁
(高周波電力ブロツクと同電位)に衝突する頻度
の方が高い。このことから、生成ガスが流通する
複数の細孔の内部では、分子流の条件が確保さ
れ、この部分でのプラズマ放電は生じ難くなる。
Operation The generated gas sent from outside the chamber is introduced into the chamber through the plurality of pores formed in the high frequency power block, the internal space of the electrode unit, and the generated gas introduction hole in sequence. In this state, when high frequency power is applied between the chamber and the high frequency power block, plasma discharge occurs between the substrate holder and the electrode unit. The pressure inside the pores formed in the RF power block is higher than inside the chamber. Moreover, inside the pore, the produced gas molecules collide with the inner wall of the pore (which has the same potential as the high-frequency power block) more frequently than the produced gas molecules collide with each other. Therefore, conditions for molecular flow are ensured inside the plurality of pores through which the generated gas flows, making it difficult for plasma discharge to occur in this portion.

実施例 図において、10はチヤンバであつて、このチ
ヤンバ10には排気口11と、後述する生成ガス
導入機構100が設けられてあり、チヤンバの外
周には図示しない冷却配管が取り巻いている。
Embodiment In the figure, 10 is a chamber, and this chamber 10 is provided with an exhaust port 11 and a generated gas introduction mechanism 100, which will be described later, and a cooling pipe (not shown) surrounds the outer periphery of the chamber.

チヤンバ10内には、ヒータを内蔵した基板ホ
ルダ20と電極ユニツト30が対向して配設され
ている。電極ユニツト30は上部電極板31と下
部電極板32とを含んでおり、両電極板には互い
に位相の異なる複数の生成ガス導入孔311と3
21とをそれぞれ有している。
Inside the chamber 10, a substrate holder 20 having a built-in heater and an electrode unit 30 are disposed facing each other. The electrode unit 30 includes an upper electrode plate 31 and a lower electrode plate 32, and both electrode plates have a plurality of generated gas introduction holes 311 and 3 having different phases from each other.
21, respectively.

詳しくは、前記上部電極板31の形状は円板状
で、その周縁下部には、下部電極板32と一定の
間隔を保持するため、複数のスペーサ312を溶
接してあり、スペーサ312にはネジ孔が設けら
れている。下部電極板32は単に円板状に形成さ
れている。40は略薄皿状に形成された金属から
なるフレームであり、このフレーム40は、その
内周面に前記スペーサ312に対応する位置にス
ペーサ41を形成している。さらにフレーム40
の底板には第2図にて示すように、高周波電力ブ
ロツク50に固定するためのねじ孔42が開けら
れており、中心部分には高周波電力ブロツク50
に設けた複数個の細孔51に連通する細孔43が
同一円周上に例えば8個設けられている。なお、
高周波電力ブロツク50にはマツチングボツクス
からの高周波ケーブルがターミナル52に印加さ
れるようになつている。
Specifically, the shape of the upper electrode plate 31 is a disk, and a plurality of spacers 312 are welded to the lower part of the periphery in order to maintain a constant distance from the lower electrode plate 32, and the spacers 312 are screwed. A hole is provided. The lower electrode plate 32 is simply formed into a disk shape. Reference numeral 40 denotes a frame made of metal and formed into a substantially thin plate shape, and this frame 40 has spacers 41 formed on its inner peripheral surface at positions corresponding to the spacers 312. Furthermore frame 40
As shown in FIG. 2, a screw hole 42 for fixing to the high frequency power block 50 is drilled in the bottom plate of the high frequency power block 50.
For example, eight pores 43 are provided on the same circumference, communicating with the plurality of pores 51 provided on the same circumference. In addition,
The high frequency power block 50 is adapted to have a high frequency cable from a matching box applied to a terminal 52.

前記フレーム40の外周には絶縁材料からな
り、その中心部に大径の開口部63を有する電極
ホルダー60がフレーム40を2重皿のように取
り囲んで設けられている。そして、電極ホルダー
60の外側は、金属ブラケツト61によりチヤン
バ10のベースにボルト62でもつて接地されて
いる。
An electrode holder 60 made of an insulating material and having a large-diameter opening 63 at its center is provided on the outer periphery of the frame 40 so as to surround the frame 40 like a double plate. The outside of the electrode holder 60 is grounded to the base of the chamber 10 with a bolt 62 via a metal bracket 61.

即ち、上部電極板31と下部電極板32は、フ
レーム40により図示する如く平行に配置され、
前記フレーム40は前記電極ホルダー60により
取り囲まれた状態にて、チヤンバ10の底板に取
りつけられている。
That is, the upper electrode plate 31 and the lower electrode plate 32 are arranged in parallel by the frame 40 as shown in the figure.
The frame 40 is attached to the bottom plate of the chamber 10 while being surrounded by the electrode holder 60.

70は絶縁スペーサであり、この絶縁スペーサ
70は、絶縁ブツシング80とともに、前記高周
波電力ブロツク50をチヤンバ10から絶縁する
ために設けられている。即ち、絶縁スペーサ70
は高周波電力ブロツク50とともに、ボルト7
1、絶縁ブツシング72によりチヤンバ10の底
板にその外側から気密に固定されている。なお、
絶縁ブロツク90は、外部導入部110のフラン
ジ111と高周波電力ブロツク50との間に介在
し、ボルト93、シール94でもつて両者を気密
に接合している。
70 is an insulating spacer, and this insulating spacer 70, together with the insulating bushing 80, is provided to insulate the high frequency power block 50 from the chamber 10. That is, the insulating spacer 70
together with the high frequency power block 50, the bolt 7
1. It is airtightly fixed to the bottom plate of the chamber 10 from the outside by an insulating bushing 72. In addition,
The insulating block 90 is interposed between the flange 111 of the external introduction part 110 and the high frequency power block 50, and the bolts 93 and seals 94 hermetically connect the two.

100は、生成ガス導入機構であつて、この生
成ガス導入機構100は外部導入部110と、外
部導入部110に連通する内部導入部120とを
含む。
100 is a generated gas introduction mechanism, and this generated gas introduction mechanism 100 includes an external introduction section 110 and an internal introduction section 120 that communicates with the external introduction section 110.

外部導入部110は図示するように締め付けね
じでもつて生成ガス源に接続されている。
The external inlet 110 is also connected to a source of product gas with a tightening screw as shown.

内部導入部120は前記フレーム40に繰り抜
いた複数の細孔43と、高周波電力ブロツク50
に繰り抜いた複数の細孔51と、絶縁ブロツク9
0内に繰り抜いた複数の細孔91とを含む。これ
ら細孔は連通して内部導入部120を構成し、内
部導入部120は外部導入部110と連通する。
The internal introduction part 120 has a plurality of pores 43 cut out in the frame 40 and a high frequency power block 50.
A plurality of pores 51 cut out in the insulating block 9
It includes a plurality of pores 91 hollowed out within 0. These pores communicate with each other to form an internal introduction section 120, and the internal introduction section 120 communicates with the external introduction section 110.

しかして、前記各細孔はひとつの実施例として
は、直径約0.8mmであり、いずれも同心円状に形
成されている。
In one embodiment, each of the pores has a diameter of about 0.8 mm, and is formed concentrically.

このように構成したプラズマCVD装置の操作
について以下説明する。
The operation of the plasma CVD apparatus configured in this way will be explained below.

基板ホルダ20に所望の基板をセツトして、
生成ガス導入機構100を閉じ、チヤンバ10
内を図示しない排気装置により、所定の真空度
にまで排気する。
Set the desired substrate on the substrate holder 20,
Close the generated gas introduction mechanism 100 and open the chamber 10.
The interior is evacuated to a predetermined degree of vacuum using an exhaust device (not shown).

つぎに生成ガス導入機構100のコツクを開
き、図示しないニードル弁を調節するととも
に、排気装置のメインバルブを僅かに開いた状
態にして、チヤンバ10内に流れ込む生成ガス
を所定の値に設定する。
Next, the lid of the generated gas introduction mechanism 100 is opened, a needle valve (not shown) is adjusted, and the main valve of the exhaust system is slightly opened to set the generated gas flowing into the chamber 10 to a predetermined value.

高周波電力を投入し、マツチングボツクスを
調節することにより、前記基板ホルダ20と電
極ユニツト30間にプラズマを発生させる。プ
ラズマの発生により、前記基板には薄膜が堆積
する。
Plasma is generated between the substrate holder 20 and the electrode unit 30 by applying high frequency power and adjusting the matching box. Due to the generation of plasma, a thin film is deposited on the substrate.

上記したような構造のプラズマCVD装置を使
用して、種々の実験を行つた結果、高周波電力ブ
ロツク50に形成した内部導入部120にプラズ
マ放電が発生せず、従来装置を使用した場合とは
異なり、この部分にプラズマが侵入しないこと確
かめられた。よつて、プラズマ放電が安定化し、
高周波電力が急激に増大することがなく、マツチ
ングボツクスの調節も大変容易となつた。のみな
らず、プラズマ放電領域にて消費する高周波電力
のロスも小さくすることができた。
As a result of conducting various experiments using the plasma CVD apparatus having the structure described above, it was found that no plasma discharge was generated in the internal introduction part 120 formed in the high frequency power block 50, unlike when using the conventional apparatus. It was confirmed that plasma did not enter this area. Therefore, the plasma discharge is stabilized,
The high frequency power does not increase suddenly, and the adjustment of the matching box becomes very easy. In addition, the loss of high frequency power consumed in the plasma discharge region was also reduced.

考案の効果 本考案にかかるプラズマCVD装置による場合
には、生成ガスが流通する複数の細孔の部分での
プラズマ放電が生じ難いような構造となつている
ので、基板ホルダと電極ユニツトとの間のプラズ
マ放電の安定性を高めることができる。よつて、
マツチングボツクスの調節が容易となるばかり
か、高周波電力のロスも小さくなる。
Effects of the invention In the case of the plasma CVD apparatus according to the invention, the structure is such that plasma discharge is difficult to occur in the portions of the plurality of pores through which the generated gas flows, so that there is a gap between the substrate holder and the electrode unit. The stability of plasma discharge can be improved. Then,
Not only is it easier to adjust the matching box, but the loss of high frequency power is also reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの考案の一実施例の概略断面図、第
2図は、第1図における内部導入部と電極ユニツ
トの詳細断面図である。 10……チヤンバ、20……基板ホルダ、30
……電極ユニツト、50……高周波電力ブロツ
ク、、100……生成ガス導入機構、110……
外部導入部、120……内部導入部。
FIG. 1 is a schematic sectional view of one embodiment of this invention, and FIG. 2 is a detailed sectional view of the internal introduction part and electrode unit in FIG. 1. 10...Chamber, 20...Substrate holder, 30
... Electrode unit, 50 ... High frequency power block, 100 ... Generated gas introduction mechanism, 110 ...
External introduction part, 120...internal introduction part.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] チヤンバ内に設けた基板ホルダと、チヤンバ内
で基板ホルダに対して平行に配設した中空電極で
あつて、基板ホルダの対向面に生成ガス導入孔を
形成した電極ユニツトと、チヤンバ外から電極ユ
ニツトに高周波電力を導入するための金属部材で
あつて、チヤンバに形成した穴を介して電極ユニ
ツトと接触させた高周波電力ブロツクと、高周波
電力ブロツク及び電極ユニツトとチヤンバとを電
気的に絶縁する手段と、高周波電力ブロツクを貫
通して形成されており電極ユニツトの内空間と連
通した複数の細孔と、チヤンバ外から生成ガスを
前記複数の細孔、電極ユニツトの内空間、生成ガ
ス導入孔を順次的に介してチヤンバ内に導入する
手段とを具備したことを特徴とするプラズマ
CVD装置。
A substrate holder provided in the chamber, an electrode unit which is a hollow electrode arranged parallel to the substrate holder in the chamber and has a generated gas introduction hole formed on the opposite surface of the substrate holder, and an electrode unit that is inserted from outside the chamber. A metal member for introducing high frequency power into the chamber, the high frequency power block being brought into contact with the electrode unit through a hole formed in the chamber, and means for electrically insulating the high frequency power block, the electrode unit, and the chamber. , a plurality of pores are formed through the high frequency power block and communicate with the inner space of the electrode unit, and the produced gas is introduced from outside the chamber through the plurality of pores, the inner space of the electrode unit, and the produced gas introduction hole in sequence. and a means for introducing the plasma into the chamber through the plasma.
CVD equipment.
JP1986044281U 1986-03-25 1986-03-25 Expired - Lifetime JPH0527493Y2 (en)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58163432A (en) * 1982-03-24 1983-09-28 Fujitsu Ltd Plasma chemical vapor deposition apparatus
JPS5948138A (en) * 1982-07-29 1984-03-19 エクセロ・コ−ポレ−シヨン Polyurethane reaction injection molding system
JPS6137969A (en) * 1984-07-31 1986-02-22 Canon Inc Plasma cvd device for manufacturing thin film

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58163432A (en) * 1982-03-24 1983-09-28 Fujitsu Ltd Plasma chemical vapor deposition apparatus
JPS5948138A (en) * 1982-07-29 1984-03-19 エクセロ・コ−ポレ−シヨン Polyurethane reaction injection molding system
JPS6137969A (en) * 1984-07-31 1986-02-22 Canon Inc Plasma cvd device for manufacturing thin film

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