JPH05273457A - Camera with active type range finding device - Google Patents

Camera with active type range finding device

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JPH05273457A
JPH05273457A JP6756292A JP6756292A JPH05273457A JP H05273457 A JPH05273457 A JP H05273457A JP 6756292 A JP6756292 A JP 6756292A JP 6756292 A JP6756292 A JP 6756292A JP H05273457 A JPH05273457 A JP H05273457A
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JP
Japan
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distance measuring
distance
photometric
light
output
Prior art date
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Application number
JP6756292A
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Japanese (ja)
Inventor
Masataka Ide
昌孝 井出
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain the camera with the active type range finding device which prevents range finding precision to a high-brightness subject from decreasing and does not increase shutter release lag. CONSTITUTION:This device is equipped with a deciding means 3 which decides whether or not an object of range finding is the subject with high brightness, a stationary light component storage means 6 for storing a stationary light component, a sequence altering means which alters the sequence of the camera by varying the stable time of the stationary light component storage means 6 according to the output of the deciding means 3, and a control means 5 which executes the sequence of the camera according to the output of the sequence altering means 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明はカメラに関し、特に、
アクティブ型測距装置を有するカメラに関するものであ
る。
FIELD OF THE INVENTION This invention relates to cameras, and in particular
The present invention relates to a camera having an active distance measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】カメラに適用される測距装置には大きく
分けて2つの方式がある。1つは被写体の輝度分布情報
を利用するパッシブ型、他の1つは被写体に向けて投光
し、その反射光によって距離を検出するアクティブ型で
ある。アクティブ型は、構成が簡単でかつ廉価であるた
め広く普及している。以下に従来のアクティブ型の測距
装置について説明する。
2. Description of the Related Art There are roughly two types of distance measuring devices applied to cameras. One is a passive type that uses the brightness distribution information of the subject, and the other is an active type that projects light toward the subject and detects the distance by the reflected light. The active type is popular because of its simple structure and low cost. A conventional active distance measuring device will be described below.

【0003】図17はアクティブ型測距装置の光学系、
受光素子等の配置を示す図である。同図において、IR
ED10から投光レンズ11を介して投射された赤外光
は被写体12によって反射され、受光レンズ13を介し
て、PSD14に入射される。ここで投光レンズ11と
受光レンズ13の間隔をS、投光レンズ11と被写体1
2との距離をl、受光レンズ13とPSD14の距離を
fとし、赤外光の入射位置をxとすると、図示の如く受
光レンズ13の光軸とPSD14の交点を原点として、 x=S・f/l (1)
FIG. 17 shows an optical system of an active distance measuring device,
It is a figure which shows arrangement | positioning of a light receiving element. In the figure, IR
The infrared light projected from the ED 10 through the light projecting lens 11 is reflected by the subject 12 and is incident on the PSD 14 through the light receiving lens 13. Here, the distance between the light projecting lens 11 and the light receiving lens 13 is S, and the light projecting lens 11 and the subject 1 are
2 is 1, the distance between the light receiving lens 13 and the PSD 14 is f, and the incident position of the infrared light is x, as shown in the figure, the intersection of the optical axis of the light receiving lens 13 and the PSD 14 is the origin, and x = S. f / l (1)

【0004】なる関係が成立する。PSD14はその原
理上、信号光電流Ip を発生し、2つの出力端から入射
位置xに依存した信号を出力する。IRED10側のP
SD端から原点までの距離をaとして、 ia ={(a+x)/t}×Ip (2) ここでtはPSD14の長さを表わしている。また I0 +ib =Ip (3) より ia /(ia +ib )=(a+S・f/l)×1/t (4) という関係が成立する。従って、上記(4)式に基づく
比演算を行うことにより、被写体距離lを求めることが
できる。
The following relationship is established. In principle, the PSD 14 generates a signal photocurrent I p and outputs a signal depending on the incident position x from two output ends. P on the IRED10 side
Letting a be the distance from the SD end to the origin, i a = {(a + x) / t} × I p (2) Here, t represents the length of the PSD 14. Further, from I 0 + i b = I p (3), the relationship i a / (i a + i b ) = (a + S · f / l) × 1 / t (4) holds. Therefore, the subject distance 1 can be obtained by performing the ratio calculation based on the equation (4).

【0005】図18は図17のアクティブ型測距装置の
回路構成を示す図である。PSD14からの出力電流I
a 、Ib を処理する回路は同様の構成を有するので、以
下、Ia を処理する回路についてのみ説明する。図17
のPSD14からの出力電流Ia は入力端子31Aを介
してプリアンプ32A、増幅トランジスタ33Aにより
増幅される。この増幅トランジスタ33Aには電流源3
4A、35A、圧縮ダイオード36A及びバッファ43
Aが接続されている。またアンプ37Aの反転入力端に
は上記増幅トランジスタ33Aが、非反転入力端には圧
縮ダイオード38A及び電流源39Aが、また出力端に
はホールドトランジスタ40A、ホールド抵抗41A、
及びホールドコンデンサ42Aが図示のごとく接続され
る。また電流源46Aとともに比演算回路47Aを構成
するトランジスタ44A、45Aには圧縮ダイオード3
6Aの出力がバッファ43Aを介して接続されている。
FIG. 18 is a diagram showing a circuit configuration of the active type distance measuring device of FIG. Output current I from PSD14
Since the circuits that process a and I b have the same configuration, only the circuit that processes I a will be described below. FIG. 17
The output current I a from the PSD 14 is amplified by the preamplifier 32A and the amplification transistor 33A via the input terminal 31A. This amplification transistor 33A has a current source 3
4A, 35A, compression diode 36A and buffer 43
A is connected. The amplification transistor 33A is provided at the inverting input end of the amplifier 37A, the compression diode 38A and the current source 39A are provided at the non-inverting input end, and the hold transistor 40A and the hold resistor 41A are provided at the output end.
And the hold capacitor 42A is connected as shown. In addition, the compression diode 3 is connected to the transistors 44A and 45A that form the ratio calculation circuit 47A together with the current source 46A.
The output of 6A is connected via the buffer 43A.

【0006】次にこのような回路の動作について説明す
る。PSD14からの出力電流iaは入力端子31Aを
介してプリアンプ32A、増幅トランジスタ33Aによ
り増幅されるが、定常光電流Ip も入力されているの
で、これを除去するためにホールドアンプ37Aが作動
している。ここで、圧縮ダイオード36A及び38Aは
同一の特性を有しており、また、電流源34A及び35
Aは同一の電流値に設定されている。
Next, the operation of such a circuit will be described. The output current i a from the PSD 14 is amplified by the preamplifier 32A and the amplification transistor 33A via the input terminal 31A, but since the stationary photocurrent I p is also input, the hold amplifier 37A operates to remove it. ing. Here, the compression diodes 36A and 38A have the same characteristics, and also the current sources 34A and 35A.
A is set to the same current value.

【0007】ホールドアンプ37Aは、圧縮ダイオード
36A及び38Aの出力電圧すなわちホールドアンプ3
7Aの反転入力端と非反転入力端の入力電圧が等しくな
るようにその出力電圧を決定している。定常光電流Ip
がプリアンプ32Aで増幅されると圧縮ダイオード36
Aはその電流により出力電圧を下げ、ホールドアンプ3
7Aの反転入力端の電位も下がる。するとホールドアン
プ37Aの出力電圧は上昇するので、ホールドトランジ
スタ40Aのベース電位が上昇し、定常光電流Ip はコ
レクタ電流としてホールド抵抗41Aを介してグラウン
ドに流れる。すなわち定常光電流Ip は増幅されること
なく、このような帰還作用によって常にグラウンドに流
れてしまう。また、増幅トランジスタ33Aのバイアス
電流は電流源34Aでまかなわれており、IRED10
の非発光時には図中Aのポイントには電流が流れていな
い。
The hold amplifier 37A is the output voltage of the compression diodes 36A and 38A, that is, the hold amplifier 3
The output voltage is determined so that the input voltage of the inverting input terminal of 7A becomes equal to the input voltage of the non-inverting input terminal. Stationary photocurrent I p
Is amplified by the preamplifier 32A, the compression diode 36
A lowers the output voltage due to the current, and the hold amplifier 3
The potential at the inverting input terminal of 7A also drops. Then, the output voltage of the hold amplifier 37A rises, the base potential of the hold transistor 40A rises, and the stationary photocurrent I p flows to the ground via the hold resistor 41A as a collector current. That is, the stationary photocurrent I p is not amplified and always flows to the ground by such a feedback action. The bias current of the amplification transistor 33A is supplied by the current source 34A.
When no light is emitted, current does not flow to the point A in the figure.

【0008】次にIRED10が発光すると、ホールド
信号TH によりホールドアンプ37Aはその機能を停止
する。ここでホールドコンデンサ42Aには定常光除去
用の電荷が保持されているので、定常光電流Ip は除去
されながら、信号電流ia 、ib はプリアンプ32A及
び増幅トランジスタ33Aによって増幅されて圧縮ダイ
オード36Aに信号電流が流れる。またIRED10の
発光時には電流源35Aはホールド信号TH によりオフ
される。従って、圧縮ダイオード36Aの出力電圧Va
は、 Va =VT ln{(K・ia )/IS } (5) VT …熱電圧 IS …逆方向飽和電流 と電源(Vcc)基準で発生する。
Next, when the IRED 10 emits light, the hold signal T H causes the hold amplifier 37A to stop its function. Here, since the hold capacitor 42A holds the electric charge for removing the stationary light, the stationary photocurrent I p is removed, but the signal currents i a and i b are amplified by the preamplifier 32A and the amplification transistor 33A to be compressed diode. A signal current flows through 36A. When the IRED 10 emits light, the current source 35A is turned off by the hold signal T H. Therefore, the output voltage V a of the compression diode 36A
Occurs at V a = V T ln {( K · i a) / I S} (5) V T ... thermal voltage I S ... reverse saturation current and the power supply (Vcc) reference.

【0009】このようにPSD14の出力電流は圧縮ダ
イオードにより圧縮された電圧となるが、以下この圧縮
信号を用いて上述した比ia /(Ia +ib )を求める
回路について説明する。図中のIOUT 、IZ は IOUT +IZ =I0 (6) の関係となり、また Va −Vb =VT ln(ia /IS )−VT ln(ib /IS ) =VT ln(IOUT /IS )−VT ln(IZ /IS ) (7) となる。従って、ia /ib =IOUT /IZ となる。こ
こで、IZ =I0 −IOUT より、 ia /ib =IOUT /(I0 −IOUT )、 ib ・IOUT =ia (I0 −IOUT )となり、 したがって、IOUT ={ia /(ia +ib )}×I0 (8) となる。これに上述の(4)式を代入して IOUT =(a+S・f/l)×1/t (9) となり、このように被写体距離lに依存した出力を得る
ことができる。
As described above, the output current of the PSD 14 becomes a voltage compressed by the compression diode. Hereinafter, a circuit for obtaining the above ratio i a / (I a + i b ) using this compressed signal will be described. I OUT in FIG, I Z is I OUT + I Z = I 0 becomes a relationship of (6), also V a -V b = V T ln (i a / I S) -V T ln (i b / I S ) = V T ln (I OUT / I S ) −V T ln (I Z / I S ) (7) Therefore, i a / i b = I OUT / I Z. Here, from the I Z = I 0 -I OUT, i a / i b = I OUT / (I 0 -I OUT), i b · I OUT = i a (I 0 -I OUT) becomes, therefore, I OUT = {i a / (i a + i b)} × 0 becomes (8). By substituting the equation (4) into this, I OUT = (a + S · f / l) × 1 / t (9), and thus an output depending on the subject distance 1 can be obtained.

【0010】上記(9)式からa/tを除いてグラフ化
すると図19に示される如くなる。図中Xで示される直
線が(9)式に基づく理論線であるが、実際は、遠距離
側では信号光が拡散して信号光量が減少するので、S/
N上精度が劣化して図中Yに示されるように遠距離ほど
誤差が大きくなる傾向にある。さらに高輝度F、すなわ
ち定常光電流Ip が比較的大きい状況では、図中Zに示
されるような大きな乱れを生じ、遠距離lc の被写体と
近距離ld の被写体との判別が不能となる場合が出てく
る。
A graph obtained by excluding a / t from the equation (9) is as shown in FIG. The straight line indicated by X in the figure is a theoretical line based on the equation (9), but in reality, since the signal light diffuses and the signal light amount decreases on the far distance side, S /
The accuracy on N deteriorates and the error tends to increase as the distance increases, as indicated by Y in the figure. Further, when the brightness F is high, that is, when the stationary photocurrent I p is relatively large, a large disturbance occurs as shown by Z in the figure, and it is impossible to distinguish between a subject at a long distance l c and a subject at a short distance l d. There will be cases.

【0011】前述のように図18において、IRED1
0が発光するとホールド信号TH によりホールドアンプ
37Aはその機能を停止し、ホールドコンデンサ42A
に蓄積された電荷をトランジスタ40Aのベース電流と
して放出することにより、定常光電流Ip を上記ベース
電流のhFE倍であるトランジスタ40Aのコレクタ電流
として除去する。ホールドコンデンサ42Aの電圧VH
As described above, in FIG. 18, IRED1
When 0 emits light, the hold signal T H causes the hold amplifier 37A to stop its function and the hold capacitor 42A.
The stationary photocurrent I p is removed as the collector current of the transistor 40A, which is h FE times the base current, by discharging the electric charge stored in the transistor 40A as the base current of the transistor 40A. Hold capacitor 42A voltage V H
Is

【0012】VH =Ip ・RH +VT ln(Ip
S )、(RH :ホールド抵抗の抵抗値)となり、定常
光電流IP が大きいほどすなわち高輝度下では大きい値
となる。
V H = I p · R H + V T ln (I p /
I S ), ( RH : resistance value of the hold resistor), and the larger the steady-state photocurrent I P, that is, the larger the value under high brightness.

【0013】ところで、コンデンサ207(図20
(a))は一般的に図20(b)に示す等価回路で表さ
れ、コンデンサ200に対して抵抗202とコンデンサ
201、抵抗204とコンデンサ203、抵抗206と
コンデンサ205といった寄生素子が並列に接続されて
いる。このため、このようなコンデンサに定電流源IX
を時間tだけ接続するとコンデンサの両端には
By the way, the capacitor 207 (see FIG. 20)
20A is generally represented by an equivalent circuit shown in FIG. 20B, in which parasitic elements such as a resistor 202 and a capacitor 201, a resistor 204 and a capacitor 203, and a resistor 206 and a capacitor 205 are connected in parallel to the capacitor 200. Has been done. Therefore, a constant current source I X
If is connected for a time t, both ends of the capacitor

【0014】VC =IX ・t/C となる電圧VC が一
時的に充電されるが、時間とともにVC は減少し、やが
て安定するという挙動を示す(図20(c))。つま
り、最初にコンデンサ200に充電された電荷の一部が
抵抗202、204、206を介してコンデンサ20
1、203、205に移動するために起こる現象で誘電
体吸収と呼ばれている。
The voltage V C at which V C = I x · t / C is temporarily charged, but the V C decreases with time, and the behavior becomes stable eventually (FIG. 20 (c)). That is, a part of the electric charge initially charged in the capacitor 200 is passed through the resistors 202, 204 and 206 to the capacitor 20.
It is a phenomenon that occurs when it moves to 1, 203, 205 and is called dielectric absorption.

【0015】このような誘電体吸収が図18のホールド
コンデンサ42Aに関して発生する場合、誘電体吸収に
より、Ip →Ip −Δip と変化するならば前述の比演
算結果は
If such dielectric absorption occurs with respect to the hold capacitor 42A of FIG. 18, if the dielectric absorption causes a change of I p → I p −Δi p , the above ratio calculation result is

【0016】 IOUT =(ia +Δip )/(ia +Δip +ib +Δip ) =(ia +Δip )/(ia +ib +2・Δip ) (10) となり、ホールドコンデンサ42Aの誘電体吸収による
誤差電流Δip の影響が比演算結果にあらわれる。
[0016] The I OUT = (i a + Δi p) / (i a + Δi p + i b + Δi p) = (i a + Δi p) / (i a + i b +2 · Δi p) (10) , and the hold capacitor 42A The influence of the error current Δi p due to the dielectric absorption appears in the ratio calculation result.

【0017】誤差電流Δip の値はホールドコンデンサ
42Aの両端電圧VH が高いほど、即ち定常光電流Ip
が大きい高輝度下においてより大きな値となるので、被
写体が遠距離になり信号光電流ia 、ib が小さくなる
と比演算結果は IOUT =Δip /(2・Δip )=1/2 (11) に近づくことになり、図19のZで示す如く測距特性が
劣化することとなる。
The value of the error current Δi p is higher as the voltage V H across the hold capacitor 42A is higher, that is, the steady photocurrent I p.
Because the larger value in a high large luminance, the subject is a long distance signal photocurrent i a, i b decreases the ratio calculation result I OUT = Δi p / (2 · Δi p) = 1/2 As the result approaches (11), the distance measuring characteristic deteriorates as indicated by Z in FIG.

【0018】そこで、本出願人は、高輝度下においては
ホールドコンデンサに定常光成分を記憶させるための安
定時間を長くすることによって、コンデンサ201、2
03、…205に対しても十分な充電を行い、前述の測
距精度の低下を防止する旨の出願を特願平3−3451
64号において行なっている。
Therefore, the applicant of the present invention, by increasing the stabilization time for storing the stationary light component in the hold capacitor under high brightness, the capacitors 201, 2
03, ... 205 is sufficiently charged to prevent the above-mentioned deterioration of the distance measurement accuracy.
No. 64 is doing it.

【0019】[0019]

【発明が解決しようする課題】しかしながら、このよう
に定常光記憶のための安定時間を長くすると次のような
問題点が発生する。即ち、カメラとしてレリーズボタン
を押してからシャッタ動作を行うまでのタイムラグが長
くなってしまう。このようなレリーズタイムラグの増加
はシャッタチャンスを逃すおそれを生じ大きな欠点とな
る。
However, if the stabilization time for stationary optical storage is lengthened in this way, the following problems occur. That is, the time lag from pressing the release button as the camera to performing the shutter operation becomes long. Such an increase in the release time lag causes a risk of missing a photo opportunity, which is a great drawback.

【0020】本発明のアクティブ型測距装置を有するカ
メラはこのような課題に着目してなされたものであり、
その目的とするところは、高輝度な被写体に対する測距
精度の劣化を防止し、かつレリーズタイムラグを増加さ
せることのないアクティブ型測距装置を有するカメラを
提供することにある。
The camera having the active type distance measuring device of the present invention is made by paying attention to such problems.
An object of the invention is to provide a camera having an active distance measuring device which prevents deterioration of distance measuring accuracy for a high-luminance subject and does not increase the release time lag.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のアクティブ型測距装置を有するカメラは
測距対象物に向けて投光し、この測距対象物から上記投
光の反射光を受光し、この受光に基づいて被写体までの
距離を検出する測距手段と、上記測距対象物の輝度を検
出する測光手段と、上記測光手段の出力に基づき、上記
測距対象物が高輝度な被写体であるか否か判定する判定
手段と、上記測距手段において定常光成分を除去するた
めに、定常光成分を記憶するための定常光成分記憶手段
と、上記判定手段の出力に基づいて上記定常光記憶手段
の安定時間を変更し、カメラのシーケンスを変更するシ
ーケンス変更手段と、上記シーケンス変更手段の出力に
基づいてカメラのシーケンスを実行する制御手段とを具
備する。
In order to achieve the above object, a camera having an active distance measuring device of the present invention projects light toward an object to be measured, and the light is projected from the object to be measured. Distance measuring means for receiving the reflected light of the object and detecting the distance to the object based on the received light, light measuring means for detecting the brightness of the distance measuring object, and the distance measuring object based on the output of the light measuring means. Determination means for determining whether or not the object is a high-luminance subject, stationary light component storage means for storing the stationary light component in order to remove the stationary light component in the distance measuring means, and the determination means It comprises sequence changing means for changing the stabilization time of the stationary light storage means based on the output and changing the camera sequence, and control means for executing the camera sequence based on the output of the sequence changing means.

【0022】[0022]

【作用】すなわち、本発明のアクティブ型測距装置を有
するカメラにおいては、測距対象物が高輝度な被写体で
あるか否かを判定し、この判定結果に基づいて定常光成
分を記憶するための定常光成分記憶手段の安定時間を変
更してカメラのシーケンスを変更するものである。
That is, in the camera having the active distance measuring device of the present invention, it is determined whether or not the object to be measured is a high-luminance object, and the stationary light component is stored based on the result of the determination. The sequence of the camera is changed by changing the settling time of the stationary light component storage means.

【0023】[0023]

【実施例】まず、図1を参照して本発明の一実施例の概
念を説明する。
First, the concept of an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0024】同図において、測距手段1は測距対象物に
向けて投光し、この測距対象物から上記投光の反射光を
受光し、この受光に基づいて被写体までの距離を検出す
る。測光手段2は上記測距対象物の輝度を検出する。判
定手段3は上記測光手段2の出力に基づき、上記測距対
象物が誤測距をまねく高輝度な被写体であるか否か判定
する。定常光成分記憶手段6は上記測距手段1において
定常光を除去するために定常光成分を記憶する。シーケ
ンス変更手段4は上記判定手段3の出力に基づいて上記
定常光記憶手段6の安定時間を変更し、またカメラのシ
ーケンスを変更する。制御手段5は上記シーケンス変更
手段4の出力に基づき、カメラのシーケンスを実行す
る。
In the figure, the distance measuring means 1 projects light toward an object to be measured, receives the reflected light of the light projected from the object to be measured, and detects the distance to the object based on the received light. To do. The photometric means 2 detects the brightness of the object to be measured. Based on the output of the photometry unit 2, the determination unit 3 determines whether or not the object to be measured is a high-luminance subject that causes erroneous distance measurement. The stationary light component storage means 6 stores the stationary light component in order to remove the stationary light in the distance measuring means 1. The sequence changing means 4 changes the stabilization time of the stationary light storage means 6 based on the output of the judging means 3, and also changes the sequence of the camera. The control means 5 executes the camera sequence based on the output of the sequence changing means 4.

【0025】すなわち、まず制御手段5は測光手段2に
よる測光を実行させ、被写体輝度を検出する。次に判定
手段3は測光手段2の出力に基づいて被写体か誤測距を
招く高輝度被写体であるか否か判定する。シーケンス変
更手段4は判定手段3の出力に基づいて、高輝度な被写
体に対しては定常光成分記憶手段6の安定時間を長くす
ることを指示する信号を、またカメラのシーケンスの変
更を指示する信号を制御手段5に出力する。制御手段5
はシーケンス変更手段4の出力に基づいて測距手段1に
よる測距を実行させる。
That is, first, the control means 5 causes the photometric means 2 to perform photometry to detect the subject brightness. Next, the determination unit 3 determines whether the subject is a high-luminance subject that causes erroneous distance measurement based on the output of the photometry unit 2. Based on the output of the judging means 3, the sequence changing means 4 gives a signal for increasing the stabilization time of the stationary light component storage means 6 for a high-luminance subject, and also gives an instruction for changing the sequence of the camera. The signal is output to the control means 5. Control means 5
Causes the distance measuring means 1 to perform distance measurement based on the output of the sequence changing means 4.

【0026】上記、シーケンス変更手段4は測距手段1
の動作時間を長くし、またそれと並行して他の動作を実
行するようにシーケンスを変更し、総動作時間を長くし
ないようにしてレリーズタイムラグの増大を防止する。
図2は上記した一実施例に係るアクティブ型測距装置を
カメラに適用したときの電気回路の構成を示す概略構成
図である。
The sequence changing means 4 is the distance measuring means 1
The operation time is increased, and the sequence is changed so as to execute other operations in parallel with the operation time so that the total operation time is not increased and the release time lag is prevented from increasing.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a configuration of an electric circuit when the active distance measuring apparatus according to the above-described embodiment is applied to a camera.

【0027】図2においてCPU15は、その内部に設
けられているROMに記憶されたプログラムに基づいて
このカメラ内の各構成要素を逐次シーケンシャル制御
し、これにより周辺要素の制御を司る。また、このCP
U15はAD変換回路を内蔵しておりアナログ電圧をA
D変換し、演算処理を行うことが可能である。
In FIG. 2, the CPU 15 sequentially and sequentially controls each constituent element in the camera based on a program stored in a ROM provided therein, thereby controlling peripheral elements. Also, this CP
U15 has a built-in AD conversion circuit and converts the analog voltage to A
It is possible to perform D conversion and arithmetic processing.

【0028】測距部1は被写体までの距離を赤外光アク
ティブ方式で計測し、得られた被写体距離情報をCPU
15に出力する。この測距部1は撮影画面内の中央部を
測距することが可能である。測光部2は被写体の輝度の
測定を行うものであり、後述するように撮影画面の中央
部と周辺部を測光し、得られた被写体輝度情報をCPU
15に出力する。
The distance measuring unit 1 measures the distance to the subject by the infrared light active method, and the obtained subject distance information is stored in the CPU.
Output to 15. The distance measuring unit 1 is capable of measuring the distance in the center of the shooting screen. The photometric unit 2 measures the brightness of the subject. As will be described later, the photometric unit 2 measures the central portion and the peripheral portion of the photographing screen, and the obtained subject luminance information is stored in the CPU.
Output to 15.

【0029】モータ駆動部16はズームモータ(MZ
17、レンズ駆動並びにシャッタ駆動モータ用レンズモ
ータ(ML )18、およびフィルム給送用巻上モータ
(MW)19を、CPU15の制御信号であるモータ選
択信号、正転、逆転、ブレーキ、停止信号に従いそれぞ
れ駆動する。
The motor drive unit 16 is a zoom motor (M Z ).
17, the lens drive and the lens motor shutter driving motor (M L) 18, and a film feeding hoist motor (M W) 19, the motor selection signals of a CPU 15, forward, reverse, brake, stop Drive each according to the signal.

【0030】上記ズームモータ17、レンズモータ1
8、巻上モータ19の回転位置はそれぞれズームエンコ
ーダ20、レンズ位置エンコーダ21、巻上エンコーダ
22により検出されてCPU15に供給される。
Zoom motor 17 and lens motor 1
8. The rotational position of the hoisting motor 19 is detected by the zoom encoder 20, the lens position encoder 21, and the hoisting encoder 22, and is supplied to the CPU 15.

【0031】E2 PROM23は不輝発性の記憶素子
で、距離データをレンズ位置データに変換する際のレン
ズ位置の機械的なバラツキ等により発生する誤差を生産
時に補正するための調整データを記憶する。
E 2 The PROM 23 is a non-luminous storage element, and stores adjustment data for correcting an error generated at the time of production, which error occurs due to a mechanical variation of the lens position when converting the distance data into the lens position data.

【0032】ストロボ24は、CPU15からの制御信
号によりその充電を開始する。そして、充電電圧はCP
U15によりモニタされており、所定の充電電圧に達す
るとCPU15はストロボ24に充電停止信号を出力す
る。また、ストロボ24はCPU15からの発光タイミ
ング信号により発光を行う。
The strobe 24 starts its charging in response to a control signal from the CPU 15. And the charging voltage is CP
It is monitored by U15, and when the predetermined charging voltage is reached, the CPU 15 outputs a charging stop signal to the strobe 24. The strobe 24 also emits light in response to a light emission timing signal from the CPU 15.

【0033】DX接点25、26、27はフィルムパト
ローネのDXコードを読取るための接点であり、これら
の接点を介してCPU15によりフィルム感度が読取ら
れる。ファインダ表示部83はCPU15の制御により
ファインダ内の表示を行う。液晶表示部28はCPU1
5の制御信号に基づいて、モード表示、フィルム駒数表
示等の種々の表示を行う。
The DX contacts 25, 26, 27 are contacts for reading the DX code of the film cartridge, and the film sensitivity is read by the CPU 15 via these contacts. The finder display section 83 displays the inside of the finder under the control of the CPU 15. The liquid crystal display unit 28 is the CPU 1
Based on the control signal of No. 5, various displays such as mode display and film frame number display are performed.

【0034】ファーストレリーズスイッチ(以下R1S
Wと略す)29はレリーズボタンが半押されたときに作
動するスイッチで、このR1SW29がオンされると測
距、測光を行い、測距値、測光値はCPU15に記憶さ
れる。セカンドレリーズスイッチ(以下R2SWと略
す)30はレリーズボタンが全押しされた時に作動する
スイッチで、このR2SW30がオンされると、上記測
距値、測光値に基づいて撮影レンズの繰り出しおよび露
出が行なわれる。図3は図2に示す測光部2の電気回路
の構成を示す構成図である。また図4は撮影画面内の測
光領域を示す図である。
First release switch (hereinafter R1S
Reference numeral 29 is an abbreviated W) switch which operates when the release button is half-pushed. When the R1SW 29 is turned on, distance measurement and photometry are performed, and the distance measurement value and photometry value are stored in the CPU 15. A second release switch (hereinafter abbreviated as R2SW) 30 is a switch that operates when the release button is fully pressed. When the R2SW 30 is turned on, the taking lens is extended and exposed based on the distance measurement value and the light measurement value. Be done. FIG. 3 is a configuration diagram showing a configuration of an electric circuit of the photometric unit 2 shown in FIG. Further, FIG. 4 is a diagram showing a photometric area in the photographing screen.

【0035】図3において、受光素子51は図4の中央
部領域67を測光するためのスポット測光用のフォトダ
イオード、受光素子52は図4の周辺部領域68を測光
するための平均測光用フォトダイオードである。フォト
ダイオード51、52のカソードは基準電圧Vr1に接続
され、フォトダイオード51のアノードは、カレントミ
ラーを構成するトランジタ53のコレクタとベース、ト
ランジスタ54のベース及び上記カレントミラーをオン
オフするスイッチング用のトランジスタ55のコレクタ
に接続されている。ここでトランジスタ54のエミッタ
面積はトランジスタ53のエミッタ面積の16倍に設定
されており、トランジスタ54のコレクタ電流は、トラ
ンジスタ53のコレクタ電流、即ちフォトダイオード5
1の光電流ISPの16倍に増幅される。同様にしてフォ
トダイオード52のアノードは、カレントミラーを構成
するトランジスタ56のコレクタとベース、トランジス
タ57のベース、及び上記カレントミラーをオンオフす
るスイッチング用のトランジスタ58のコレクタに接続
されている。ここでトランジスタ56と57のエミッタ
面積は同一であり、トランジスタ57のコレクタ電流は
トランジスタ56のコレクタ電流、即ちフォトダイオー
ド52の光電流IAPと等しい電流値となる。トランジス
タ55、58はベース端子69、70を介してCPU1
5からの制御信号により制御され、フォトダイオード5
1の光電流ISPとフォトダイオード52の光電流IAP
それぞれ独立に後段の処理回路にて処理される。
In FIG. 3, a light receiving element 51 is a photodiode for spot photometry for measuring the central area 67 of FIG. 4, and a light receiving element 52 is an average photometric photo for measuring the peripheral area 68 of FIG. It is a diode. The cathodes of the photodiodes 51 and 52 are connected to the reference voltage V r1, and the anode of the photodiode 51 is the collector and base of the transistor 53 forming a current mirror, the base of the transistor 54, and a switching transistor for turning on / off the current mirror. It is connected to the collector of 55. Here, the emitter area of the transistor 54 is set to 16 times the emitter area of the transistor 53, and the collector current of the transistor 54 is the collector current of the transistor 53, that is, the photodiode 5.
It is amplified to 16 times the photocurrent I SP of 1. Similarly, the anode of the photodiode 52 is connected to the collector and the base of the transistor 56 that forms the current mirror, the base of the transistor 57, and the collector of the switching transistor 58 that turns on and off the current mirror. Here, the emitter areas of the transistors 56 and 57 are the same, and the collector current of the transistor 57 has a current value equal to the collector current of the transistor 56, that is, the photocurrent I AP of the photodiode 52. The transistors 55 and 58 are connected to the CPU 1 via the base terminals 69 and 70.
The photodiode 5 is controlled by the control signal from the photodiode 5.
The photocurrent I SP of 1 and the photocurrent I AP of the photodiode 52 are independently processed by the subsequent processing circuit.

【0036】ダイオード60、61は逆方向飽和電流I
S の除去用のダイオードであり、絶対温度に比例する基
準電圧Vr2にダイオード61のカソード、ダイオード6
1のアノードにダイオード60のカソード、ダイオード
60のアノードには定電流源59が接続されている。定
電流源59の定電流I0 はダイオード60、61を介し
て基準電圧Vr2に流れこみ、定電流I0 を対数圧縮した
以下の電圧を発生する。 V1 =2・VT ln(I0 /IS )+Vr2 (12)
The diodes 60 and 61 have the reverse saturation current I
It is a diode for removing S , and the cathode of the diode 61 and the diode 6 are connected to the reference voltage V r2 proportional to the absolute temperature.
The cathode of the diode 60 is connected to the anode of 1, and the constant current source 59 is connected to the anode of the diode 60. The constant current I 0 of the constant current source 59 flows into the reference voltage V r2 via the diodes 60 and 61 and generates the following voltage obtained by logarithmically compressing the constant current I 0 . V 1 = 2 · V T In (I 0 / I S ) + V r2 (12)

【0037】定電流源59とダイオード60のアノード
の接続点にトランジスタ62のベースが接続され、上記
トランジスタ62のエミッタはダイオード63のアノー
ドに、さらにダイオード63のカソードは上記カレント
ミラーの出力であるトランジスタ54とトランジスタ5
7のコレクタに接続されている。フォトダイオード5
1、および52の光電流出力は、上記カレントミラーを
介してダイオード63、トランジスタ62のエミッタを
流れるので、トランジスタ62及びダイオード63によ
り対数圧縮される。従って次式が成立する。 V2 =V1 −2・VT ln(Ip /I0 ) (13) ダイオード63のカソード出力は演算増幅器64、抵抗
65、66よりなる非反転増幅回路に入力され、出力端
子71の出力電圧VBVは VBV=V2 ・(1+R1 /R2 ) (14) となる。上記(14)式と(12)、(13)式によ
り、
The base of the transistor 62 is connected to the connection point of the constant current source 59 and the anode of the diode 60, the emitter of the transistor 62 is the anode of the diode 63, and the cathode of the diode 63 is the output of the current mirror. 54 and transistor 5
It is connected to 7 collectors. Photodiode 5
The photocurrent outputs of 1 and 52 flow through the diode 63 and the emitter of the transistor 62 via the current mirror, so that they are logarithmically compressed by the transistor 62 and the diode 63. Therefore, the following equation is established. V 2 = V 1 −2 · V T ln (I p / I 0 ) (13) The cathode output of the diode 63 is input to the non-inverting amplifier circuit including the operational amplifier 64 and the resistors 65 and 66, and the output of the output terminal 71. The voltage V BV is V BV = V 2 · (1 + R 1 / R 2 ) (14). From the equations (14) and (12) and (13),

【0038】 VBV=(1+R1 /R2 )・{2・VT ln(I0 /IS )+Vr2} (15) が成立し、逆方向飽和電流IS に依存しない測光出力V
BVを得ることができる。この測光出力電圧VBVはCPU
15に内蔵されているAD変換回路に入力され、デジタ
ル信号に変換されてスポット測光値、平均測光値として
それぞれ記憶される。
V BV = (1 + R 1 / R 2 )  {2V T ln (I 0 / I S ) + V r2 } (15) holds, and the photometric output V that does not depend on the reverse saturation current I S
You can get BV . This photometric output voltage V BV is the CPU
It is input to the AD conversion circuit built in 15, converted into a digital signal, and stored as a spot photometric value and an average photometric value, respectively.

【0039】ところでこの測光部2は低輝度ほど応答性
が遅くなる特性を有している。これは、低輝度時におい
てはフォトダイオード51、52の光電流が非常に微小
なものとなるので、図3に示すフォトダイオード51、
52の接合容量72、73や圧縮ダイオード63、圧縮
トランジスタ62の接合容量74、75等の容量成分を
充放電するのに時間を要するためである。
By the way, the photometric unit 2 has the characteristic that the response becomes slower as the luminance becomes lower. This is because the photocurrents of the photodiodes 51 and 52 are extremely small at low luminance, so that the photodiodes 51 and 52 shown in FIG.
This is because it takes time to charge and discharge the capacitance components such as the junction capacitances 72 and 73 of 52, the compression diode 63, and the junction capacitances 74 and 75 of the compression transistor 62.

【0040】図5は測光出力VBVの応答性を示す図であ
り、高輝度時aに比べて低輝度時bは安定するまでに非
常に長い時間を要する。従って、従来は測光開始から測
光、即ち、CPU15によってA/D変換されて読み取
られるまで、時間tD の待ち時間を設けていた。
FIG. 5 is a diagram showing the response of the photometric output V BV . It takes a very long time to stabilize at low luminance b as compared to at high luminance a. Therefore, conventionally, a waiting time of t D is provided from the start of photometry to the photometry, that is, from the A / D conversion by the CPU 15 to the reading.

【0041】図6(a)、(b)は測距部1の電気回路
の構成を示す図である。前記図18と同一の構成要素に
ついては同一の番号を付し、図18と異なる部分だけ説
明する。
FIGS. 6A and 6B are views showing the configuration of the electric circuit of the distance measuring unit 1. The same components as those in FIG. 18 are designated by the same reference numerals, and only different portions from FIG. 18 will be described.

【0042】タイミング発生回路81(図6(b))は
CPU15よりクロックの供給を受け、これを基本クロ
ックとして動作して、IREDの発光タイミング信号T
I 、電流源46のオン信号TC 、ホールドアンプ32、
電流源35のオン信号TH を出力し、測距部1の動作を
行う。積分コンデンサ80は比演算回路47に接続さ
れ、IREDの発光に同期してタイミング信号TC によ
り電流源46がオンされると、前記(8)式に示す積分
電流IOUT により積分される。積分コンデンサ80の積
分電圧VINT は次式で表わされCPU15に出力され
る。 VINT ={ia /(ia +ib )}×I0 ×n×(τ/C) (16) ここで n…IREDの発光回数 τ…1回の積分時間 C…積分コンデンサ80の容量値
The timing generation circuit 81 (FIG. 6B) is supplied with a clock from the CPU 15 and operates by using this as a basic clock to generate the light emission timing signal T of the IRED.
I , ON signal T C of current source 46, hold amplifier 32,
Outputs an ON signal T H of the current source 35, the operation of the distance measuring unit 1. The integrating capacitor 80 is connected to the ratio calculation circuit 47, and when the current source 46 is turned on by the timing signal T C in synchronization with the light emission of IRED, the integrating capacitor 80 is integrated by the integrated current I OUT shown in the equation (8). The integrated voltage V INT of the integrating capacitor 80 is expressed by the following equation and is output to the CPU 15. Capacity of V INT = {i a / ( i a + i b)} × I 0 × n × (τ / C) (16) where n ... IRED number of emissions tau ... 1 times integration time C ... integrating capacitor 80 value

【0043】リセット回路82は上記積分動作に先立
ち、積分コンデンサ80の電位を初期状態にし、積分電
圧VINT =0とする。所定回数のIRED発光及び積分
動作を終了すると、CPU15は積分コンデンサ80の
積分電圧VINT をAD変換して測距データを読みこむ。
Prior to the integration operation, the reset circuit 82 initializes the potential of the integration capacitor 80 to set the integration voltage V INT = 0. When the IRED emission and the integration operation are completed a predetermined number of times, the CPU 15 AD-converts the integration voltage V INT of the integration capacitor 80 and reads the distance measurement data.

【0044】以下に、本発明の一実施例の動作を説明す
るが、まず、従来のカメラの動作とその欠点について図
21〜図24を参照して説明する。なお、ここでは本発
明に関係するレリーズボタンが半押しされ、R1SW2
9がオンされた後の動作のみについて説明する。
The operation of one embodiment of the present invention will be described below. First, the operation of the conventional camera and its drawbacks will be described with reference to FIGS. Note that, here, the release button related to the present invention is pressed halfway, and R1SW2
Only the operation after 9 is turned on will be described.

【0045】図21はレリーズシーケンスルーチンR1
のフローチャートである。まずレリーズボタンが半押し
され、R1SW29がオンすると、“AFRD”におい
て測光および測距が行なわれる。次に“AFCNV”に
おいて測距データより距離演算が行なわれ被写体距離が
算出される。そして“ZMRCV”でズームが撮影域に
ない場合は撮影域までズームを移動する。“SCHGC
K”ではストロボ充電電圧をチェックしストロボ発光が
可能かを判断する。次に“CALSV”においてフィル
ムパトローネよりDXコードを読み取り、記憶し、“B
VCNV”で上記測光データとともに測光演算を行う。
FIG. 21 shows a release sequence routine R1.
It is a flowchart of. First, when the release button is half pressed and the R1SW 29 is turned on, photometry and distance measurement are performed in "AFRD". Next, in "AFCNV", distance calculation is performed from the distance measurement data to calculate the subject distance. If "ZMRCV" indicates that the zoom is not in the shooting area, the zoom is moved to the shooting area. "SCHGC
In "K", the strobe charging voltage is checked to determine whether strobe emission is possible. Then, in "CALSV", the DX code is read from the film cartridge and stored, and "B" is read.
VCNV "performs the photometric calculation together with the photometric data.

【0046】次に“AECAL”においては、上記測光
演算結果に基づいてシャッタ駆動を行うための露出演算
を行う。“AFCAL”においては、上記被写体距離に
基づいて撮影レンズの繰り出し位置の演算を行う。そし
てセカンドレリーズ(R2SW30オン)待ちのループ
へ移行し、ファインダ内表示“FINDD”を実行して
ファインダ内表示用LED83の点灯・点滅等を実行す
る。次にR2SW30がオンならば、“LDRIV”に
進み撮影レンズの繰り出しを行い、その後“SHUT
R”においてシャッタを駆動して露出を行う。そして
“OWIND”でフィルムを一駒巻上げ、“LENR”
において繰り出された撮影レンズを初期位置へリセット
する。以上でレリーズシーケンスルーチンR1の動作を
終了する。
Next, in "AECAL", an exposure calculation for driving the shutter is performed based on the photometric calculation result. In “AFCAL”, the extension position of the photographing lens is calculated based on the subject distance. Then, the process shifts to a loop waiting for the second release (R2SW30 on), the in-finder display "FINDD" is executed, and the in-finder display LED 83 is turned on or blinked. Next, if the R2SW30 is turned on, the process advances to "LDRIV" to extend the taking lens, and then "SHUT".
At "R", the shutter is driven to perform exposure. Then, at "OWIND", the film is wound up one frame, and "LENR".
The photographing lens extended in is reset to the initial position. This completes the operation of the release sequence routine R1.

【0047】次に上記レリーズシーケンスルーチンR1
中で測距、測光動作を行うサブルーチン“AFRD”に
ついて図24に示すフローチャート、図22、図23に
示すタイミングチャートに基づいて説明する。まず最初
に被写体が通常の測距において誤測距をまねく高輝度被
写体であるか否かの判別を行うために、撮影画面の中央
部においてプリスポット測光を行う。CPU15は測光
部2に対し端子69、70をそれぞれLレベル、Hレベ
ルとし(図22、23の(a)(b))、同時に内部の
タイマ1をスタートさせ(図24のS1)、測光出力の
安定時間TS ´をカウントする。ここでは高輝度か否か
の判定を行うだけなので安定時間TS ´は非常に短時間
に設定されている。タイマ1の出力が安定時間TS ´に
達すると(図24のS2)、CPU15は測光部2の出
力端子71の測光出力電圧VBVをAD変換し、スポット
測光データを読み込む(図22、23の(a)、図24
のS3)。CPU15では予め設定されているデータと
上記スポット測光データを比較し、スポット測光の結果
が高輝度か否かを判定する(図24のS4)。
Next, the release sequence routine R1
A subroutine "AFRD" for performing distance measurement and photometry operations will be described with reference to the flowchart shown in FIG. 24 and the timing charts shown in FIGS. First, in order to determine whether or not the subject is a high-brightness subject that causes erroneous distance measurement in normal distance measurement, pre-spot photometry is performed at the center of the shooting screen. The CPU 15 sets the terminals 69 and 70 to the photometric unit 2 at the L level and the H level ((a) and (b) of FIGS. 22 and 23), and at the same time, starts the internal timer 1 (S1 of FIG. 24) and outputs the photometric output. The stable time T S ′ of is counted. Here, since it is only determined whether or not the brightness is high, the stable time T S ′ is set to a very short time. When the output of the timer 1 reaches the stable time T S ′ (S2 of FIG. 24), the CPU 15 AD-converts the photometric output voltage V BV of the output terminal 71 of the photometric unit 2 and reads the spot photometric data (FIGS. 22 and 23). (A) of FIG.
S3). The CPU 15 compares preset data with the spot photometric data to determine whether or not the result of the spot photometry is high brightness (S4 in FIG. 24).

【0048】その結果、高輝度ではない場合は図24の
S5に進み、通常の測距、測光動作を行う。ここで、前
述のように低輝度時は測光部2の測光出力電圧VBVが安
定するまでに時間を要するので、最低輝度に対する必要
安定時間が待ち時間として設定され、スポット、平均測
光に対しそれぞれTS が約100ms、TA が50msと設
定される。またレリーズタイムラグを減少するためにス
ポット測光のための待ち時間TS 中に測距部1において
測距を行う。
As a result, when the brightness is not high, the process proceeds to S5 of FIG. 24, and the normal distance measuring and photometric operations are performed. Here, as described above, when the brightness is low, it takes time for the photometric output voltage V BV of the photometric unit 2 to stabilize. Therefore, the necessary stabilization time for the minimum brightness is set as a waiting time, and for spot and average photometry, respectively. T S is set to about 100 ms and T A is set to 50 ms. Further, in order to reduce the release time lag, the distance measuring unit 1 performs distance measurement during the waiting time T S for spot light measurement.

【0049】そこでCPU15は測距部1のタイミング
発生回路81へクロック(図23の(i))を供給し、
プリアンプ32がオンする(図23の(d))。またC
PU15の内部のタイマ1をスタートして(図24のS
5)、スポット測光のための安定時間TS をカウントす
る。一方、測距部1ではクロックの入力開始とともに定
常光成分の記憶動作が行なわれ安定時間TC が経過する
と、タイミング発生回路81によりIREDの発光と、
これに同期して電流源46がオンされ、積分動作が行な
われる(23図の(e)、(f)、(g)、図24のS
6)。IREDの発光が所定回数行なわれた後、積分コ
ンデンサ80の積分電圧VINT のAD変換がCPU15
によって行なわれる。CPU15では図示しない定電流
源により積分コンデンサ80を逆積分し(図23の
(g))、その逆積分時間をカウントすることにより測
距データを得て(図23の(i))、クロックの供給を
停止し測距を終了する。
Therefore, the CPU 15 supplies a clock ((i) in FIG. 23) to the timing generation circuit 81 of the distance measuring section 1,
The preamplifier 32 is turned on ((d) of FIG. 23). Also C
Start the timer 1 inside the PU 15 (see S in FIG. 24).
5) Count the stable time T S for spot photometry. On the other hand, in the distance measuring unit 1, when the stable light component is stored as the clock starts to be input and the stable time T C elapses, the timing generator 81 causes the IRED to emit light,
In synchronization with this, the current source 46 is turned on and the integration operation is performed ((e), (f), (g) in FIG. 23, S in FIG. 24).
6). After the IRED emits light a predetermined number of times, the AD conversion of the integration voltage V INT of the integration capacitor 80 is performed by the CPU 15.
Done by. In the CPU 15, the integrating capacitor 80 is inversely integrated by a constant current source (not shown) ((g) in FIG. 23), and the distance measurement data is obtained by counting the inverse integration time ((i) in FIG. 23). Stop the supply and finish the distance measurement.

【0050】次にタイマ1がスポット測光安定時間TS
に達すると( 図24のS7)、CPU15は測光部2の
出力である測光出力電圧VBVのAD変換を行い、スポッ
ト測光データを得る(図23の(c)、図24のS
8)。なお前述の測距動作はスポット測光安定時間TS
(約100ms)より短い時間(約50ms)で終了するよ
うに設定されている。
Next, the timer 1 sets the spot metering stable time T S.
24 (S7 in FIG. 24), the CPU 15 performs AD conversion of the photometric output voltage V BV which is the output of the photometric unit 2 to obtain spot photometric data ((c) in FIG. 23, S in FIG. 24).
8). The distance measuring operation described above is performed by the spot metering stable time T S.
It is set to finish in a shorter time (about 50 ms) than (about 100 ms).

【0051】次にCPU15は端子69、70をそれぞ
れ“H”レベル、“L”レベルに設定し平均測光を選択
し(図23の(a)、(b))、同時にタイマ1をスタ
ートさせ平均測光安定時間TA (約50ms)をカウント
する(図24のS9)。タイマ1がTA に達すると、C
PU15は測光部2の測光出力電圧VBVのAD変換を行
い、平均測光データを得る(図23の(c)、図24の
S11)。以上で測距、測光動作を行うサブルーチン
“AFRD”を終了する。
Next, the CPU 15 sets the terminals 69 and 70 to the "H" level and the "L" level, respectively, and selects the average photometry ((a) and (b) in FIG. 23). At the same time, the timer 1 is started to start the average. The photometric stabilization time T A (about 50 ms) is counted (S9 in FIG. 24). When timer 1 reaches T A , C
The PU 15 performs AD conversion of the photometric output voltage V BV of the photometric unit 2 to obtain average photometric data ((c) of FIG. 23, S11 of FIG. 24). This is the end of the subroutine "AFRD" for performing distance measurement and photometry operations.

【0052】次に図24のS4に戻って、高輝度と判定
された場合は図24のS12に進み、高輝度時の測距精
度の劣化を防止するために、定常光記憶のための安定時
間をより長くとった後、測距動作が行なわれる。晴天の
屋外等の高輝度下においては、十分な測距精度を得るた
めに上記安定時間TC ´は約200ms必要とされる。
Next, returning to S4 of FIG. 24, if it is determined that the brightness is high, the process proceeds to S12 of FIG. 24, and in order to prevent the deterioration of the ranging accuracy at the time of high brightness, the stability for steady light storage is maintained. After taking a longer time, the distance measuring operation is performed. Under high brightness such as outdoors on a sunny day, the stable time T C ′ is required to be about 200 ms in order to obtain sufficient distance measuring accuracy.

【0053】図24のS12においてCPU15の内部
のタイマ1、タイマ2をスタートする。以下、タイマ1
は平均スポット測光安定時間をカウントするために、タ
イマ2は測距動作の時間管理のために使われる。
In S12 of FIG. 24, the timer 1 and the timer 2 inside the CPU 15 are started. Below, timer 1
Is used for counting the average spot photometry stabilization time, and the timer 2 is used for time management of the distance measuring operation.

【0054】測光部2では、端子69、70がLレベ
ル、Hレベルに保持され、スポット測光安定時間TS
カウントされる(図22の(a)、(b))。一方、測
距部1ではCPU15からのクロックにより定常光記憶
動作が行なわれるが、CPU15は安定時間を延長する
ために、タイマ2の所定カウントでクロックの供給を停
止する(図22の(i))。この状態で測距部1は定常
光記憶動作を続行する。
In the photometry unit 2, the terminals 69 and 70 are held at the L level and the H level, and the spot photometry stabilization time T S is counted ((a) and (b) in FIG. 22). On the other hand, in the distance measuring unit 1, the stationary optical storage operation is performed by the clock from the CPU 15, but the CPU 15 stops the clock supply at the predetermined count of the timer 2 in order to extend the stable time ((i) in FIG. 22). ). In this state, the distance measuring unit 1 continues the stationary light storage operation.

【0055】タイマ1がTS に達すると、CPU15は
スポット測光データのAD変換を行った後(図24のS
13、14)、端子69、70をH、Lと設定し、タイ
マ1を再度スタートさせ平均測光安定時間TA をカウン
トする。タイマ1がTA に達するとCPU15は平均測
光データのAD変換を行い測光動作を終了する(図24
のS16、17)。このように測距部1が定常光記憶動
作を行なっている間に測光動作を行いタイムラグの縮小
を計る。
When the timer 1 reaches T S , the CPU 15 performs AD conversion of the spot photometric data (S in FIG. 24).
13 and 14), terminals 69 and 70 are set to H and L, and the timer 1 is restarted to count the average photometry stabilization time T A. When the timer 1 reaches T A , the CPU 15 AD-converts the average photometric data and ends the photometric operation (FIG. 24).
S16, 17). In this way, the distance measuring unit 1 performs the photometric operation while the steady light storage operation is being performed to reduce the time lag.

【0056】次にタイマ2の出力が定常光記憶のための
必要安定時間TC ´に達すると(図24のS18)、C
PU15は測距部1に対して再びクロックの供給を開始
する(図22の(i))。すると、測距部1においては
タイミング発生回路81によりIREDの発光と、これ
に同期して電流源46がオンされ、積分動作が開始され
る(図22の(e)、(f)、(g))。IREDの発
光が所定回数行なわれた後、CPU15は積分コンデン
サ80の積分電圧VINT のAD変換を行ない(図22の
(g))、測距データを得る(図22の(h)、図24
のS19)。以上のようにして定常光記憶のための安定
時間を十分に延長し、高輝度下において、精度劣化のな
い測距データを得ることができる。しかしながら、以上
説明した従来例において高輝度下とそうでない場合のレ
リーズタイムラグの差ΔTは ΔT=(TC ´+Tl )−(TS +TA ) (ただしT
l …測距部1のIRED発光、積分、AD変換時)とな
り、実際に数値を入れると ΔT=(200ms+50ms)−(100ms+50ms)=
100ms となる。このように、従来例では、高輝度時においては
そうでない時に比べて、大きなレリーズタイムラグを有
してしまう。
Next, when the output of the timer 2 reaches the required stable time T C ′ for the stationary light storage (S18 in FIG. 24), C
The PU 15 restarts supplying the clock to the distance measuring unit 1 ((i) in FIG. 22). Then, in the distance measuring unit 1, the timing generation circuit 81 emits light from the IRED and the current source 46 is turned on in synchronization with this, and the integration operation is started ((e), (f), (g in FIG. 22). )). After the IRED emits light a predetermined number of times, the CPU 15 performs AD conversion of the integration voltage V INT of the integration capacitor 80 ((g) of FIG. 22) and obtains distance measurement data ((h) of FIG. 22, FIG. 24).
S19). As described above, it is possible to sufficiently extend the stabilization time for stationary light storage, and to obtain distance measurement data without deterioration in accuracy under high brightness. However, in the conventional example described above, the difference ΔT between the release time lags under high brightness and otherwise is ΔT = (T C ′ + T l ) − (T S + T A ) (where T
l ... IRED emission of the distance measuring unit 1, integration, and AD conversion), and when a numerical value is actually entered, ΔT = (200 ms + 50 ms) − (100 ms + 50 ms) =
It becomes 100ms. As described above, in the conventional example, there is a large release time lag when the brightness is high compared to when the brightness is not high.

【0057】次に本発明の第1の実施例について図7の
フローチャートと図8のタイミングチャートに基づいて
説明する。なお、本実施例の構成は図2に示した概略構
成図と同一であり、測光部、測距部も図3、図6に示す
ものと同一である。従って本実施例の主要部は、図2中
のCPU15が所定のプログラムを実行することによっ
て展開される。
Next, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG. 7 and the timing chart of FIG. The configuration of the present embodiment is the same as the schematic configuration diagram shown in FIG. 2, and the photometry unit and the distance measurement unit are also the same as those shown in FIGS. Therefore, the main part of this embodiment is expanded by the CPU 15 in FIG. 2 executing a predetermined program.

【0058】図7は従来例として上記した図24に対応
する測光、測距動作を行うサブルーチン“AFRD”の
フローチャートである。また図8は高輝度時の測距、測
光タイミングチャートである。最初にCPU15はプリ
スポット測光による高輝度判定の結果を示すフラグFを
クリアする(図7のS50)。
FIG. 7 is a flowchart of a subroutine "AFRD" for performing photometry and distance measurement operations corresponding to FIG. 24 described above as a conventional example. FIG. 8 is a timing chart of distance measurement and photometry at high brightness. First, the CPU 15 clears the flag F indicating the result of high brightness determination by pre-spot photometry (S50 in FIG. 7).

【0059】次に、CPU15は測光部2の端子69、
70をLレベル、Hレベルと設定し(図8の(a)、
(b))、同時にタイマ1をスタートさせ、プリスポッ
ト測光安定時間TS ´をカウントする(図7のS2
1)。タイマ1がTS ´に達すると(図7のS22)、
CPU15は測光部2の出力電圧VBVをAD変換しプリ
スポット測光データを得る(図7のS23、図8の
(c))。次に上記プリスポット測光データを予め記憶
されているデータと比較し、被写体が高輝度か否かの判
定を行う(図7のS24)。被写体が高輝度であると判
定された場合は、フラグFを“1”とする(図7のS5
1)。
Next, the CPU 15 causes the terminal 69 of the photometric unit 2 to
70 is set to L level and H level ((a) of FIG. 8,
(B)), at the same time, the timer 1 is started to count the pre-spot photometry stabilization time T S ′ (S2 in FIG. 7).
1). When the timer 1 reaches T S ′ (S22 in FIG. 7),
The CPU 15 AD-converts the output voltage V BV of the photometric unit 2 to obtain pre-spot photometric data (S23 in FIG. 7, (c) in FIG. 8). Next, the pre-spot photometric data is compared with prestored data to determine whether or not the subject has high brightness (S24 in FIG. 7). When it is determined that the subject has high brightness, the flag F is set to "1" (S5 in FIG. 7).
1).

【0060】次に図7のS32に進みCPU15はタイ
マ1、タイマ2をスタートさせ、同時に測光部2の端子
69、70をHレベル、Lレベルとし平均測光を設定す
る(図8の(a)、(b))。また測距部1に対しては
クロックの供給を開始する。次にタイマ2の所定カウン
トにおいてCPU15は上記クロックの供給を停止し、
測距部1が定常光記憶動作を行っている状態を保持す
る。一方、タイマ1が平均測光時間TA に達すると、C
PU15は測光部2の出力電圧VBVをAD変換し、平均
測光データを読みこむ(図7のS33、S34、図8の
(c))。被写体が高輝度である時はスポット測光はそ
の応答性が十分速いのでプリスポット測光データにより
代用可能である。従って、再度スポット測光を行うこと
はしないでタイムラグの減少を計り測光を終了する。
Next, proceeding to S32 in FIG. 7, the CPU 15 starts the timer 1 and the timer 2 and simultaneously sets the terminals 69 and 70 of the photometric unit 2 to H level and L level to set average photometry ((a) in FIG. 8). , (B)). Further, supply of a clock to the distance measuring unit 1 is started. Next, at the predetermined count of the timer 2, the CPU 15 stops the supply of the clock,
The state where the distance measuring unit 1 is performing the stationary light storage operation is held. On the other hand, when the timer 1 reaches the average photometry time T A , C
The PU 15 AD-converts the output voltage V BV of the photometric unit 2 and reads the average photometric data (S33 and S34 in FIG. 7, (c) in FIG. 8). When the subject has a high luminance, spot photometry has a sufficiently fast response, and thus pre-spot photometry data can be used as a substitute. Therefore, the spot photometry is not performed again, the time lag is reduced, and the photometry is completed.

【0061】次に説明する部分が本実施例のポイントと
なる部分である。前述の従来例においては、図24のフ
ローチャートのS8に示すように、平均測光終了後から
測距部1へのクロックの供給を再度スタートするまでの
間、CPU15はタイマ2による定常光記憶安定時間T
C ´をカウントしているだけであった。一方、図7のフ
ローチャートに示すように本実施例ではフィルムパトロ
ーネのDXコードによりフィルム感度を読み込むサブル
ーチン“CALSV”(図7のS35)、スポット、平
均測光データと上記フィルム感度データにより測光演算
を行うサブルーチン“BVCNV”(図7のS36)、
上記測光演算結果に基づいてシャッタを駆動するための
露出演算を行うサブルーチン“AECAL”(図7のS
37)を実行している。そのため後述するように、レリ
ーズシーケンスルーチンにおいて“CALSV”、“B
VCNV”、“AECAL”を行う必要がなくなるの
で、前記処理分のタイムラグを短縮することができる。
なお“AECAL”では被写体距離に基づき、ストロボ
発光量制御のための演算が行なわれるが、高輝度である
ためストロボを発光する必要はない。従って上記演算は
省略される。
The part to be described below is the point of the present embodiment. In the above-mentioned conventional example, as shown in S8 of the flowchart of FIG. 24, the CPU 15 keeps the steady light storage stable time by the timer 2 from the end of the average photometry to the restart of the supply of the clock to the distance measuring unit 1. T
I was just counting C '. On the other hand, as shown in the flow chart of FIG. 7, in the present embodiment, the photometry calculation is performed by the subroutine "CALSV" (S35 in FIG. 7) for reading the film sensitivity by the DX code of the film cartridge, the spot, the average photometric data and the film sensitivity data. Subroutine "BVCNV" (S36 in FIG. 7),
A subroutine "AECAL" for performing exposure calculation for driving the shutter based on the photometric calculation result (S in FIG. 7).
37) is being executed. Therefore, as will be described later, in the release sequence routine, "CALSV", "B
Since it is not necessary to perform VCNV "and" AECAL ", the time lag for the above processing can be shortened.
In "AECAL", the calculation for controlling the flash emission amount is performed based on the subject distance, but since the brightness is high, it is not necessary to emit the flash. Therefore, the above calculation is omitted.

【0062】その後はタイマ2が定常光記憶安定時間T
C ´に達すると、CPU15は測距部1に対して再びク
ロックを供給する(図7のS38、図8の(i))。す
ると、測距部1ではタイミング発生回路81によってI
REDの発光と電流源46のオンが同期して行なわれ、
積分動作がなされる(図8の(e)、(f)、
(g))。IREDの発光が所定回数行なわれた後、C
PU15は積分コンデンサ80の積分電圧VINT のAD
変換を行い、測距データを得る(図8の(h)、図7の
S39)。
After that, the timer 2 sets the stationary light storage stabilization time T
When reaching C ', the CPU 15 supplies the clock again to the distance measuring unit 1 (S38 in FIG. 7, (i) in FIG. 8). Then, in the distance measuring unit 1, the timing generation circuit 81 causes the I
The light emission of the RED and the turning on of the current source 46 are performed in synchronization with each other,
The integration operation is performed ((e), (f) in FIG.
(G)). After the IRED emits light a predetermined number of times, C
PU15 is the AD of the integration voltage V INT of the integration capacitor 80.
Conversion is performed to obtain distance measurement data ((h) of FIG. 8 and S39 of FIG. 7).

【0063】このように定常光記憶のための安定時間T
C ´を十分に長くとっているので高輝度下においても精
度劣化のない測距データを得ることができる。なおプリ
スポット測光の結果が高輝度ではない場合は(図7のS
24)、従来例と同一の内容(図7のS25〜S31)
であるので説明を省略する。
In this way, the stable time T for stationary optical memory is
Since C ′ is set sufficiently long, it is possible to obtain distance measurement data without deterioration in accuracy even under high brightness. If the result of pre-spot photometry is not high brightness (S in FIG.
24), the same contents as the conventional example (S25 to S31 in FIG. 7)
Therefore, the description is omitted.

【0064】次に図9に示す本実施例のレリーズシーケ
ンスルーチン“R1”のフローチャートについて説明す
る。従来例である図21のフローチャートと同一の部分
の説明は省略し、異なる部分についてのみ説明する。
“AFRD”(図9のS41)については詳細を前述し
た。図9の“AFCNV”〜“ZMRCV”(S42〜
43)については従来例と同一である。
Next, the flow chart of the release sequence routine "R1" of this embodiment shown in FIG. 9 will be described. Description of the same parts as in the flowchart of FIG. 21, which is a conventional example, is omitted, and only different parts will be described.
The details of the “AFRD” (S41 in FIG. 9) have been described above. “AFCNV” to “ZMRCV” in FIG. 9 (S42 to
43) is the same as the conventional example.

【0065】次にCPU15は“AFRD”におけるプ
リスポット測光の結果が高輝度であるか否かをフラグF
をチェックして判別する(図9のS44)。その結果、
高輝度ではない場合は“SCHCK”以後、従来例と同
一の処理を行う。一方、高輝度である場合はストロボ発
光の必要がないので“SCHCK”は省略し、“CAL
SV”、“BVCNV”、“AECAL”(図9のS4
6〜48)の処理は“AFRD”においてすでに行なわ
れているので、“AFCAL”(図9のS49)に進
み、以後従来例と同一の処理を行う。
Next, the CPU 15 determines whether or not the result of the pre-spot photometry in "AFRD" is high brightness, by a flag F.
Is checked to determine (S44 in FIG. 9). as a result,
If the brightness is not high, the same process as the conventional example is performed after "SCHCK". On the other hand, when the brightness is high, it is not necessary to use strobe light, so "SCHCK" is omitted and "CAL" is omitted.
SV ”,“ BVCNV ”,“ AECAL ”(S4 in FIG. 9
Since the processes 6 to 48) have already been performed in "AFRD", the process proceeds to "AFCAL" (S49 in FIG. 9) and the same processes as in the conventional example are performed thereafter.

【0066】以上のように“AFRD”を除いたレリー
ズシーケンス“R1”においては、高輝度時はそうでな
い場合に比較して“SCHCK”、“CALSV”、
“BVCNV”、“AECAL”の処理が減っているの
でその分のタイムラグを短縮することができることにな
る。以上説明した本実施例において、高輝度下とそうで
ない場合のレリーズタイムラグの差ΔT´は ΔT´=(TS ´+TC ´)−(TS ´+TS +TA
SC+TCA+TBV+TAE) =TC ´−TS −TA −TSC−TCA−TBV−TAE となる。ここで TSC…“SCHCK”の処理時間 TCA…“CALSV”の処理時間 TBV…“BVCNV”の処理時間 TAE…“AECAL”の処理時間 実際の数値を入れると、 TSC=10ms、TCA=10ms、TBV=10ms、TAE=2
0ms、 ΔT´=200ms−100ms−50ms−10ms−10ms
−10ms−20ms=0
As described above, in the release sequence "R1" excluding "AFRD", "SCHCK", "CALSV",
Since the processes of "BVCNV" and "AECAL" are reduced, the time lag can be shortened accordingly. In the embodiment described above, the difference ΔT ′ between the release time lags under high brightness and otherwise is ΔT ′ = (T S ′ + T C ′) − (T S ′ + T S + T A +
The T SC + T CA + T BV + T AE) = T C '-T S -T A -T SC -T CA -T BV -T AE. Here, the processing time of T SC ... "SCHCK" T CA ... the processing time of "CALSV" T BV ... the processing time of "BVCNV" T AE ... the processing time of "AECAL" When the actual numerical value is entered, T SC = 10 ms, T CA = 10 ms, T BV = 10 ms, T AE = 2
0 ms, ΔT '= 200 ms-100 ms-50 ms-10 ms-10 ms
-10ms-20ms = 0

【0067】となる。このように高輝度下での従来の大
きなレリーズタイムラグを100ms→0msと大幅に減少
することができ、しかも高輝度下での測距精度を劣化さ
せることも回避できる。
It becomes In this way, the conventional large release time lag under high brightness can be greatly reduced from 100 ms to 0 ms, and it is also possible to avoid deterioration of distance measurement accuracy under high brightness.

【0068】なお実施例では高輝度時の定常光記憶安定
時間TC ´の間に“CALSV”、“BVCNV”、
“AECAL”の処理を行なっているが処理内容はこれ
に限られるものではなく、他の処理であっても何ら問題
はない。
[0068] Note that in the embodiment between the high stationary light storage stabilization time when luminance T C '"CALSV","BVCNV",
Although the processing of "AECAL" is performed, the processing content is not limited to this, and there is no problem even if it is other processing.

【0069】次に第2の実施例として複数の測距ポイン
トを有するマルチAFカメラについて説明する。図10
は測距部1の電気回路の構成を示す図である。前記図6
と同一の構成要素については同一の番号を付すものとし
図6と異なる部分について説明する。
Next, a multi-AF camera having a plurality of distance measuring points will be described as a second embodiment. Figure 10
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of an electric circuit of the distance measuring unit 1. FIG. 6
The same components as those in FIG. 6 are designated by the same reference numerals, and different parts from FIG. 6 will be described.

【0070】図11(b)に示すIRED89、IRE
D90、IRED91と図10のPSD92、PSD9
3、PSD94はそれぞれ対をなしており、図11
(a)に示す撮影画面内の測距ポイント101、10
2、103に対して測距を行う。プリアンプ111A
は、図6のプリアンプ32A、増幅トランジスタ33
A、電流源34Aをまとめて記すものであり、同様にプ
リアンプ111Bは同図のプリアンプ32B、増幅トラ
ンジスタ33B、電流源34Bをまとめて記すものであ
る。またプリアンプ110A、110B、112A、1
12Bについてもまったく同一の回路で構成されてい
る。これらのプリアンプはタイミング発生回路120か
らのタイミング信号T5 、T6 、T7 により選択的に動
作可動となる。アンプ95Aは図6に示すアンプ37
A、電流源35A、39Aをまとめて記すもので、同様
にアンプ95Bも同図アンプ37B、電流源35B、3
9Bをまとめて記すものである。
IRED89 and IRE shown in FIG. 11 (b)
D90, IRED91 and PSD92, PSD9 of FIG.
3 and PSD94 are paired with each other, as shown in FIG.
Distance measuring points 101 and 10 in the photographing screen shown in FIG.
Distance measurement is performed on Nos. 2 and 103. Preamplifier 111A
Is the preamplifier 32A and the amplification transistor 33 of FIG.
A and the current source 34A are collectively described, and similarly, the preamplifier 111B is the collective description of the preamplifier 32B, the amplification transistor 33B, and the current source 34B shown in FIG. Also, the preamplifiers 110A, 110B, 112A, 1
The same circuit is also used for 12B. These preamplifiers can be selectively operated by the timing signals T 5 , T 6 , and T 7 from the timing generation circuit 120. The amplifier 95A is the amplifier 37 shown in FIG.
A and the current sources 35A and 39A are collectively described. Similarly, the amplifier 95B is also the amplifier 37B in the figure, the current sources 35B and 3A.
9B is collectively described.

【0071】アンプ95Aの出力端にはホールドコンデ
ンサ42Aの他、ホールドトランジスタ113A〜11
5Aとホールド抵抗116A〜118Aが図示の如く接
続されている。ホールドトランジスタ113A〜115
Aのコレクタはそれぞれアナログスイッチ96A〜98
Aを介してPSDの出力に接続され、アナログスイッチ
96A〜98Aはタイミング発生回路120のタイミン
グ信号T5 〜T7 により各プリアンプに同期して選択的
にオンされる。圧縮ダイオード36Aから比演算回路4
7までは図6と同一の構成である。積分コンデンサ80
は比演算回路47の出力に接続され、IREDの発光に
同期して電流源46をオンすると、前記(8)式に示す
積分電流IOUT を積分し、積分電圧VINT をCPU15
に出力する。積分電圧VINT は(16)式で示したよう
に、 VINT ={ia /(ia +ib )}×I0 ×n×(τ/
C) となる。ここで、n…IREDの発光回数 τ…1回の積分時間 C…積分コンデンサ80の容量値 である。リセット回路82はIREDの発光に先立って
積分コンデンサ80の電位を初期状態にし、積分電圧V
INT =0とする。
At the output terminal of the amplifier 95A, in addition to the hold capacitor 42A, hold transistors 113A to 11A are provided.
5A and hold resistors 116A to 118A are connected as shown. Hold transistors 113A to 115
The collectors of A are analog switches 96A to 98, respectively.
Through A is connected to the output of the PSD, the analog switch 96A~98A is selectively turned on in synchronism with each preamplifier by the timing signal T 5 through T 7 of the timing generation circuit 120. From the compression diode 36A to the ratio calculation circuit 4
The configuration up to 7 is the same as that in FIG. Integrating capacitor 80
Is connected to the output of the ratio calculation circuit 47, and when the current source 46 is turned on in synchronization with the light emission of IRED, the integrated current I OUT shown in the equation (8) is integrated, and the integrated voltage V INT is set to the CPU 15
Output to. Integration voltage V INT, as indicated at (16), V INT = {i a / (i a + i b)} × I 0 × n × (τ /
C). Here, n ... IRED emission frequency τ ... Single integration time C ... Integral capacitor 80 capacitance value. The reset circuit 82 sets the potential of the integrating capacitor 80 to the initial state before the light emission of the IRED, and the integrated voltage V
Set INT = 0.

【0072】タイミング発生回路120は、CPU15
よりクロックの供給を受け、これを基本クロックとして
動作を行うが、さらにCPU15よりどのIREDとP
SDを選択するか、即ち図11(a)に示す撮影画面内
の複数の測距ポイント101〜103のうち、どのポイ
ントで測距するかの選択信号が供給され、これをデコー
ドしてIRED89〜91の発光タイミング信号T1
3 等のタイミング信号T1 〜T8 を発生し、各部に出
力する。CPU15では前記(16)式に基づく積分電
圧VINT をA/D変換して測距データとして処理を行
う。このようにCPU15は複数の測距ポイントにおい
て選択的に測距を行い、各測距データを得ることが可能
である。
The timing generator circuit 120 includes the CPU 15
A clock is supplied from the CPU, and operation is performed using this as a basic clock.
A selection signal for selecting SD, that is, at which of the plurality of distance measuring points 101 to 103 in the photographing screen shown in FIG. 91 light emission timing signal T 1
Timing signals T 1 to T 8 such as T 3 are generated and output to each section. The CPU 15 A / D-converts the integrated voltage V INT based on the equation (16) and processes it as distance measurement data. In this way, the CPU 15 can selectively perform distance measurement at a plurality of distance measurement points and obtain each distance measurement data.

【0073】なお複数の測距ポイントを有するカメラで
は通常、中央の測距ポイントを重視するため、本実施例
では図11(b)に示す左右の測距ポイントのIRED
89及び91の投光光量を中央測距ポイントのIRED
90に対して低下させており、測距可能な距離を小さく
している。
In a camera having a plurality of distance measuring points, the central distance measuring point is usually emphasized. Therefore, in this embodiment, the left and right distance measuring points IRED shown in FIG. 11B are used.
IRED of the projected light amount of 89 and 91 at the central distance measuring point
The distance is lower than 90, and the distance that can be measured is reduced.

【0074】測光部2については第1の実施例とまった
く同一であるので説明は省略する。またその他のカメラ
内の電気回路についても図2に示す第1の実施例の構成
と同一であるので説明は省略する。
Since the photometric unit 2 is exactly the same as that of the first embodiment, its explanation is omitted. The other electric circuits in the camera are the same as those of the first embodiment shown in FIG.

【0075】次に第2の実施例について図12〜16の
フローチャート及びタイミングチャートに基づいて説明
する。図12のフローチャートはファーストレリーズル
ーチン“R1”を示すものである。まずCPU15はプ
リスポット測光の高輝度フラグF0をクリアし(図12
のS200)、中央の測距ポイント102に対応する
“プリスポット測光”を行い(図12のS201)、被
写体が誤測距を招くような高輝度であるか、測光部2の
測光出力と所定レベルとの比較により判定する(図12
のS202)。高輝度な場合は高輝度フラグF0=1と
して(図12のS203)、“AFRD2”を実行する
(図12のS204)。一方、高輝度でないと判定され
た場合は左右の測距ポイント101、103に対応する
“プリ平均測光”を実行する(図12のS205)。そ
して高輝度か否かを判断し(図12のS206)、高輝
度な場合は“AFRD3”(図12のS208)へ、そ
うでない場合は“AFRD1”へ進む(図12のS20
7)。以下に、測距、測光ルーチン“AFRD1”につ
いて図13のタイミングチャートに基づいて説明する。
Next, the second embodiment will be described with reference to the flow charts and timing charts of FIGS. The flowchart of FIG. 12 shows the first release routine "R1". First, the CPU 15 clears the high brightness flag F0 for pre-spot photometry (see FIG. 12).
S200), "pre-spot photometry" corresponding to the center distance measuring point 102 (S201 in FIG. 12) is performed to determine whether the subject has a high brightness that causes erroneous distance measurement, or the photometric output of the photometry unit 2 and a predetermined value. Judge by comparing with the level (Fig. 12
S202). When the brightness is high, the high brightness flag F0 is set to 1 (S203 in FIG. 12), and “AFRD2” is executed (S204 in FIG. 12). On the other hand, if it is determined that the brightness is not high, the "pre-average photometry" corresponding to the left and right distance measuring points 101 and 103 is executed (S205 in FIG. 12). Then, it is determined whether or not the brightness is high (S206 in FIG. 12). If the brightness is high, the process proceeds to “AFRD3” (S208 in FIG. 12), and if not, the process proceeds to “AFRD1” (S20 in FIG. 12).
7). The distance measurement and photometry routine "AFRD1" will be described below with reference to the timing chart of FIG.

【0076】図13において、前述の“プリスポット測
光”“プリ平均測光”を含めて説明する。CPU15は
測光部2の端子69、70をそれぞれ“L”、“H”と
しスポット測光モードとする(図13の(l)
(m))。ここでは被写体が高輝度か否かの判定を行う
のが目的であるから待ち時間は非常に短かくてよい。次
にCPU15は測光部2の測光出力をAD変換してプリ
スポット測光データDS として取りこむ(図13の
(n))。
In FIG. 13, description will be given including "pre-spot photometry" and "pre-average photometry". The CPU 15 sets the terminals 69 and 70 of the photometry unit 2 to "L" and "H", respectively, to set the spot photometry mode ((l) in FIG. 13).
(M)). Since the purpose here is to determine whether or not the subject has high brightness, the waiting time may be very short. Next, the CPU 15 AD-converts the photometric output of the photometric unit 2 and takes in it as pre-spot photometric data D S ((n) in FIG. 13).

【0077】次にCPU15は端子69、70を
“H”、“L”と設定し(図13の(l)(m))、平
均測光モードとし、プリ平均測光を行いプリ平均測光デ
ータDA を取りこむ(図13の(n))。ここで前述の
ように被写体は誤測距を招くような高輝度ではないの
で、CPU15は上記測光データDS 、DA と所定の判
定レベルとを比較して、高輝度ではないと判断して、
“AFRD1”に進み、測距、測光動作を行う。
Next, the CPU 15 sets the terminals 69 and 70 to "H" and "L" ((l) and (m) of FIG. 13) to enter the average photometry mode to perform pre-average photometry and pre-average photometric data D A. ((N) in FIG. 13). Here, as described above, the subject does not have high brightness that would cause erroneous distance measurement, so the CPU 15 compares the photometric data D S , D A with a predetermined determination level and determines that the brightness is not high. ,
Proceed to "AFRD1" to perform distance measurement and photometry operations.

【0078】ここで前述のように低輝度測光時は測光部
2の測光出力電圧を安定するまでにより長い時間を要す
るので、最低輝度における必要安定時間を満たするよう
に待ち時間が設定されている。またレリーズタイムラグ
減少のため上記待ち時間中に測距部1の測距が行なわれ
る。最初にCPU15は測光部2の端子69をHレベル
→Lレベルとしてスポット測光の待ち時間をスタートす
る(図13の(l)、(m))。
Here, as described above, it takes a longer time to stabilize the photometric output voltage of the photometric unit 2 during low-luminance photometry, so the waiting time is set so as to satisfy the required stable time at the minimum luminance. .. Further, the distance measurement of the distance measuring unit 1 is performed during the waiting time in order to reduce the release time lag. First, the CPU 15 sets the terminal 69 of the photometry unit 2 from the H level to the L level to start the waiting time for spot photometry ((l) and (m) in FIG. 13).

【0079】それと同時に中央の測距ポイント102に
おいて測距を行うために、CPU15はタイミング発生
回路120にクロックを出力して(図13の(k))、
ホールド信号T8 とプリアンプ112A、112B及び
アナログスイッチ97A、97Bのオン信号T6 を出力
させ、PSD93の定常光電流のホールド動作を所定時
間行う(図13の(j))。次にタイミング発生回路1
2よりIRED90からの発光信号T2 とそれに同期し
て比演算回路47の電流源46のオン信号T4を出力し
(図13の(b)、(c))、上記ホールド信号T8
オフする(図13の(j)。IRED90の発光に同期
して積分コンデンサ80に積分が行なわれ(図13の
(d))、IRED90が所定回数の発光を終了する
と、上記IRED90からの発光信号T2 及び電流源4
6、オン信号T4 がオフされ(図13の(b)、
(c))、積分動作を終了する。次にCPU15に上記
積分電圧のAD変換が行なわれる(図13の(e))。
CPU15は、図示しない定電流源により積分コンデン
サ80を逆積分し、その逆積分時間をカウントすること
により、PSD93による測距データDC を得る。その
後、プリアンプ111A、111B及びアナログスイッ
チ97A、97Bはタイミング信号T6 によりオフされ
る(図13の(a))。
At the same time, the CPU 15 outputs a clock to the timing generation circuit 120 to measure the distance at the center distance measuring point 102 ((k) in FIG. 13).
The hold signal T 8 and the ON signals T 6 of the preamplifiers 112A and 112B and the analog switches 97A and 97B are output to hold the steady photocurrent of the PSD 93 for a predetermined time ((j) in FIG. 13). Next, the timing generation circuit 1
The emission signal T 2 of the two from IRED90 in synchronism therewith outputs an ON signal T 4 of the current source 46 of the ratio calculation circuit 47 (FIG. 13 (b), (c)) , off the hold signal T 8 ((J) in FIG. 13). Integrating is performed in the integrating capacitor 80 in synchronization with the light emission of the IRED 90 ((d) in FIG. 13), and when the IRED 90 finishes emitting light for a predetermined number of times, the light emission signal T from the IRED 90 is generated. 2 and current source 4
6, the on signal T 4 is turned off ((b) of FIG. 13,
(C)), the integration operation ends. Next, the CPU 15 performs AD conversion of the integrated voltage ((e) in FIG. 13).
The CPU 15 inversely integrates the integrating capacitor 80 with a constant current source (not shown), and counts the inverse integration time to obtain the distance measurement data D C by the PSD 93. After that, the preamplifiers 111A and 111B and the analog switches 97A and 97B are turned off by the timing signal T 6 ((a) of FIG. 13).

【0080】次に左の測距ポイント101において測距
を行う。同様にして、タイミング発生回路120より、
ホールド信号T8 と、プリアンプ110A、110B及
びアナログスイッチ96A、96Bのオン信号T5 が出
力され(図13の(f))、所定時間ホールド動作を行
った後、IRED89からの発光信号T1 と電流源46
のオン信号T4 によって積分コンデンサ80を積分する
(図13の(g)、(d))。所定回数の発光・積分を
終了すると、CPU15によって積分電圧のAD変換が
同様に行われ(図13の(e))、PSD92による測
距データDL を得る。
Next, distance measurement is performed at the left distance measurement point 101. Similarly, from the timing generation circuit 120,
The hold signal T 8 and the ON signal T 5 of the preamplifiers 110A and 110B and the analog switches 96A and 96B are output ((f) of FIG. 13), and after performing the hold operation for a predetermined time, the light emission signal T 1 from the IRED 89 is output. Current source 46
The integrating capacitor 80 is integrated by the ON signal T 4 of ((g) and (d) of FIG. 13). When light emission / integration has been completed a predetermined number of times, the CPU 15 similarly performs AD conversion of the integrated voltage ((e) in FIG. 13) and obtains the distance measurement data D L by the PSD 92.

【0081】次にスポット測光待ち時間が所定値TS
達すると(図13の(l))、CPU15は測光部2の
測光出力電圧をAD変換して、スポット測光データDS
を得る。この時CPU15からタイミング発生回路12
0へのクロックはオフされており、低輝度時の微小光電
流処理にノイズを与えないようにしている。
Next, when the spot photometric waiting time reaches a predetermined value T S ((l) in FIG. 13), the CPU 15 AD-converts the photometric output voltage of the photometric unit 2 to generate spot photometric data D S.
To get At this time, the CPU 15 causes the timing generation circuit 12 to
The clock to 0 is turned off so as not to give noise to the minute photocurrent processing at low luminance.

【0082】その後、CPU15は端子69をH、70
をLとして平均測光待ち時間のカウントをスタートする
とともに、再度、タイミング発生回路120へクロック
を供給し、同時にタイマをリセットしスタートさせてタ
イミング発生回路120よりホールド信号T8 とプリア
ンプ112A、112B及びアナログスイッチ98A、
98Bのオン信号T7 が出力され(図13の(h))、
所定時間ホールド動作が行なわれる。そして、IRED
91の発光信号T3 及び電流源46のオン信号T4 によ
り積分コンデンサ80に積分が行われる(図13の
(i)(c)(d))。 所定回数の発光積分が終了す
ると、CPU15は上記積分電圧のAD変換を行い、P
SD94による右側測距ポイント103の測距データD
R を得る(図13の(e))。
Thereafter, the CPU 15 sets the terminal 69 to H, 70.
Is set to L and the counting of the average photometric waiting time is started, the clock is again supplied to the timing generation circuit 120, and at the same time, the timer is reset and started, and the hold signal T 8 and the preamplifiers 112A and 112B and the analog are output from the timing generation circuit 120. Switch 98A,
The ON signal T 7 of 98B is output ((h) of FIG. 13),
Hold operation is performed for a predetermined time. And IRED
The light emission signal T 3 of 91 and the ON signal T 4 of the current source 46 cause integration in the integrating capacitor 80 ((i) (c) (d) of FIG. 13). When the light emission integration for a predetermined number of times is completed, the CPU 15 performs AD conversion of the integrated voltage, and P
Distance measurement data D of the right distance measurement point 103 by SD94
R is obtained ((e) of FIG. 13).

【0083】以上で測距を終了する。そして、平均測光
待ち時間のカウントが所定値TA に達すると、CPU1
5は測光部2の測光出力電圧をAD変換して平均測光デ
ータを得る(図13の(n))。以上で測光を終了し、
“AFRD1”を終了する(図12のS207)。
This completes the distance measurement. When the count of the average photometric waiting time reaches the predetermined value T A , the CPU 1
Reference numeral 5 AD-converts the photometric output voltage of the photometric unit 2 to obtain average photometric data ((n) in FIG. 13). With the above, metering is completed,
“AFRD1” is ended (S207 in FIG. 12).

【0084】次にプリスポット測光の結果、被写体が誤
測距を招くような高輝度である場合の測距、測光ルーチ
ン“AFRD2”(図12のS204)について、図1
4に基づき説明する。この場合は前述のように中央測距
ポイント102において十分な測距精度を得るために
は、定常光記憶のために十分に長い安定時間を要する。
また、中央測距ポイントを重要視するという考え方によ
り、中央測距ポイントにおいてのみ測距を行う。
Next, as a result of the pre-spot photometry, the distance measurement and photometry routine "AFRD2" (S204 in FIG. 12) when the subject has a high luminance that causes an erroneous range measurement will be described with reference to FIG.
It will be described based on 4. In this case, in order to obtain sufficient distance measuring accuracy at the central distance measuring point 102 as described above, a sufficiently long stabilization time is required for the stationary light storage.
In addition, since the idea that the central distance measuring point is considered important, distance measurement is performed only at the central distance measuring point.

【0085】図14において最初にCPU15は測光部
2の端子69、70をそれぞれ“L”、“H”としプリ
スポット測光を行う(図14の(h)(i))。ここ
で、プリスポット測光結果は高輝度と判定されるので図
12に示すように高輝度フラグF0を1に設定し、“A
FRD2”に進む。
In FIG. 14, first, the CPU 15 sets the terminals 69 and 70 of the photometry section 2 to "L" and "H", respectively, and performs pre-spot photometry ((h) (i) of FIG. 14). Here, since the pre-spot photometry result is determined to be high brightness, the high brightness flag F0 is set to 1 as shown in FIG.
Proceed to FRD2 ".

【0086】ここから、図16の“AFRD2”フロー
チャートも含めて述べる。CPU15は内部のタイマ
1、2をスタートさせ、それぞれ平均測光待ち時間TA
と定常光記憶動作安定時間TC ´をカウントする(図1
6のS100)。それと同時に測距部1内のタイミング
発生回路120に所定数のクロックを供給し、定常光記
憶動作状態とした後、クロックの供給を停止してこの状
態を保持する(図14の(g))。タイマ1のカウント
が平均測光待ち時間TA に達すると(図16のS10
1)、測光部2の測光出力電圧のAD変換を行い平均測
光データDA を得る(図14の(n)、図16のS10
2)。ここではスポット測光領域が十分高輝度であるた
めスポット測光データDS はプリスポット測光データD
S ´で代用することができ、再度スポット測光を行うこ
とはしない。
From now on, description will be made including the "AFRD2" flow chart of FIG. The CPU 15 starts the internal timers 1 and 2, and the average photometric waiting time T A respectively.
And the stationary optical memory operation stabilization time T C ′ is counted (see FIG. 1
6 S100). At the same time, a predetermined number of clocks are supplied to the timing generation circuit 120 in the distance measuring unit 1 to set the steady optical memory operation state, and then the clock supply is stopped to maintain this state ((g) in FIG. 14). .. When the count of the timer 1 reaches the average photometry waiting time T A (S10 of FIG. 16)
1), AD conversion of the photometric output voltage of the photometric unit 2 is performed to obtain average photometric data D A ((n) of FIG. 14, S10 of FIG. 16).
2). Here, since the spot photometric area has sufficiently high brightness, the spot photometric data D S is the pre-spot photometric data D
S'can be used instead, and spot photometry will not be performed again.

【0087】次に図16のS103において、フィルム
感度を読み込み(“CALSV”)、S104におい
て、スポット平均測光データと上記フィルム感度より測
光演算を行い(“BVCNV”)、そして、S105に
おいて、上記測光演算結果に基づき、シャッタを駆動す
るための露出演算を行う(“AECAL”)。従って後
述するようにレリーズシーケンス“R1”において“C
ALSV”、“BVCNV”、“AECAL”を行う必
要がなくなるので、これらの処理時間のタイムラグを短
縮することができる。なお“AECAL”では被写体距
離に基づくストロボ発光量制御のための演算が行なわれ
るが、スポット測光領域が高輝度であるためのストロボ
を発光する必要はなく、上記演算は省略される。
Next, in S103 of FIG. 16, the film sensitivity is read ("CALSV"), in S104, photometric calculation is performed from the spot average photometric data and the film sensitivity ("BVCNV"), and in S105, the photometric measurement is performed. The exposure calculation for driving the shutter is performed based on the calculation result (“AECAL”). Therefore, as will be described later, in the release sequence “R1”, “C
Since it is not necessary to perform "ALSV", "BVCNV", and "AECAL", the time lag of these processing times can be shortened. In "AECAL", calculation for strobe light emission amount control based on the subject distance is performed. However, since the spot photometric area has high brightness, it is not necessary to emit a strobe light, and the above calculation is omitted.

【0088】その後、タイマ2が定常記憶安定時間TC
´に達すると(図16のS106)、CPU15は測距
部1に対して再びクロックを供給する(図16のS10
7、図14の(g))。すると測距部1ではタイミング
発生回路120によってIRED90を発光、電流源4
6のオンが同期して行なわれ(図14の(b)、
(c))、積分動作がなされる(図14の(d))。I
RED90の発光が所定回数行なわれた後、CPU15
は積分コンデンサ80の積分電圧VINT のAD変換を行
い測距データDC を得る(図14の(e))。
After that, the timer 2 sets the steady memory stable time T C.
16 '(S106 in FIG. 16), the CPU 15 supplies the clock again to the distance measuring unit 1 (S10 in FIG. 16).
7, (g) of FIG. Then, in the distance measuring unit 1, the timing generation circuit 120 causes the IRED 90 to emit light, and
6 is turned on synchronously ((b) of FIG. 14,
(C)), the integration operation is performed ((d) of FIG. 14). I
After the RED 90 emits light a predetermined number of times, the CPU 15
Performs AD conversion of the integrated voltage V INT of the integrating capacitor 80 to obtain distance measurement data D C ((e) in FIG. 14).

【0089】次にスポット測光領域は高輝度ではなく、
平均測光領域が高輝度である場合の測距、測光ルーチン
“AFRD3”について、図15に基づいて説明する。
“AFRD3”では左右の測距ポイント101、103
における測距精度は高輝度であるため信頼性が低く、ま
た定常光記憶安定時間を長くとって測距を行うとタイム
ラグを増大してしまうので、中央の測距ポイント101
においてのみ測距を行う。
Next, the spot metering area does not have high brightness,
The distance measurement and the photometry routine "AFRD3" when the average photometry area has high brightness will be described with reference to FIG.
In “AFRD3”, left and right distance measuring points 101 and 103
Since the distance measurement accuracy in the case of high brightness is low, reliability is low, and if the stationary light storage stabilization time is long and distance measurement is performed, the time lag increases, so the central distance measurement point 101
Distance measurement is performed only in.

【0090】図15においてプリスポット測光・プリ平
均測光を行うのは前記と同様である。CPU15は次に
測光部2の端子69、70を“L”、“H”と設定し、
スポット測光モードとする。この時スポット測光領域は
最低輝度である可能性があるため、所定のスポット測光
待ち時間TS だけ待ち、その間に中央測距ポイント10
1において通常の測距を行う。次にスポット測光待ち時
間TS に達するとスポット測光を行いスポット測光デー
タDS を得る。一方、平均測光データは十分高輝度であ
るためプリ平均測光データDA ´をそのまま使用する。
In FIG. 15, pre-spot photometry and pre-average photometry are performed in the same manner as described above. Next, the CPU 15 sets the terminals 69 and 70 of the photometric unit 2 to "L" and "H",
Set to spot metering mode. At this time, since the spot photometry area may have the lowest luminance, a predetermined spot photometry waiting time T S is waited for, and the central distance measuring point 10
In step 1, normal distance measurement is performed. Next, when the spot photometry waiting time T S is reached, spot photometry is performed and spot photometric data D S is obtained. On the other hand, since the average photometric data has sufficiently high luminance, the pre-average photometric data D A ′ is used as it is.

【0091】以上説明したように、図12のレリーズシ
ーケンス“R1”においては、まずず、“AFRD
1”、“AFRD2”、“AFRD3”のいずれかが実
行される。続いて、“AFCNV”、“ZMRCV”を
実行し(図12のS209、210)、次に高輝度フラ
グF0=1であるか否か判別する(図12のS21
1)。F0=0であれば続いて“SCHGCK”、“C
ALSV”、“BVCNV”、“AECAL”と実行す
るが(図12のS212〜215)、F0=1であれば
“AFRD2”においてすでに“CALSV”、“BV
CNV”、“AECAL”の処理を行なっているので、
とばして次に進む。すなわち上記処理時間のタイムラグ
を減少させることができる。また“SCHGCK”につ
いては、高輝度フラグF0=1でスポット測光領域が高
輝度であるためストロボ発光の必要はなく省略してお
り、この処理時間のタイムラグも同様に減少させてい
る。なおこの場合は“AECAL”におけるストロボ発
光量演算も行う必要はない。“AFCAL”以後の処理
については前述の説明と同様であり省略する。
As described above, in the release sequence "R1" of FIG.
One of "1", "AFRD2", and "AFRD3" is executed, then "AFCNV" and "ZMRCV" are executed (S209 and 210 in FIG. 12), and then the high brightness flag F0 = 1. It is determined whether or not (S21 in FIG. 12)
1). If F0 = 0, then “SCHGCK”, “C
ALSV ”,“ BVCNV ”, and“ AECAL ”are executed (S212 to 215 in FIG. 12), but if F0 = 1, then“ CALSV ”and“ BV ”are already set in“ AFRD2 ”.
Since the processing of "CNV" and "AECAL" is being performed,
Skip and continue. That is, the time lag of the processing time can be reduced. For "SCHGCK", since the high brightness flag F0 = 1 and the spot photometric area has high brightness, strobe light emission is not necessary and is omitted, and the time lag of this processing time is also reduced. In this case, it is not necessary to calculate the flash emission amount in "AECAL". The processing after "AFCAL" is the same as the above description and is omitted.

【0092】以上説明した複数の測距領域を有するマル
チAFカメラにおいて、スポット測光領域または平均測
光領域で高輝度である場合と、スポット平均測光領域の
いずれも高輝度ではない場合とのレリーズタイムラグの
差を求める。スポット平均測光領域のいずれも高輝度で
はない場合のレリーズタイムラグを基準とし、各輝度状
況でのレリーズタイムラグの差を計算して以下に示す。
まず第1にスポット測光領域において高輝度である場合
のレリーズタイムラグ差ΔTR は ΔTR =(TC ´−TSC−TCA−TBV−TAE)−(TS
+TA )=200−10−10−10−20−100−
50=0ms となりレリーズタイムラグの差はない。次にスポット測
光領域において高輝度ではなく、平均測光領域において
高輝度である場合のレリーズタイムラグの差ΔTR2は ΔTR2=TS −(TS +TA )=−TA =−50ms となりタイムラグを減少することができる。
In the multi-AF camera having a plurality of distance measuring areas described above, there is a release time lag between the case where the spot metering area or the average metering area has high brightness and the case where none of the spot average metering areas has high brightness. Find the difference. Based on the release time lag when none of the spot average photometric areas have high brightness, the difference in the release time lag in each brightness situation is calculated and shown below.
First of all, the release time lag difference ΔT R in the case of high brightness in the spot metering area is ΔT R = (T C ′ −T SC −T CA −T BV −T AE ) − (T S
+ T A) = 200-10-10-10-20-100-
There is no difference in release time lag, since it becomes 50 = 0 ms. Next, when the brightness is not high in the spot metering area but high in the average metering area, the difference ΔT R2 of the release time lag is ΔT R2 = T S − (T S + T A ) = − T A = −50 ms. Can be reduced.

【0093】このように高輝度下においてもレリーズタ
イムラグを増大させることがなく、しかも少なくとも中
央測距エリアについては通常の測距精度と同レベルの測
距を行うことができる。
As described above, even under high brightness, the release time lag is not increased, and the distance can be measured at the same level as the normal distance measuring accuracy at least in the central distance measuring area.

【0094】以上述べたように測距精度に大きな劣化を
及ぼすような高輝度の状態を検出し、高輝度被写体に対
しては定常光記憶安定時間を十分に長くとり、測距精度
の劣化を防止するとともにその他のカメラ内のシーケン
スを変更することによってレリーズタイムラグの増大を
も防止することができる。
As described above, the high-brightness state that greatly deteriorates the distance measurement accuracy is detected, and the stationary light storage stabilization time is set sufficiently long for a high-brightness object to reduce the distance measurement accuracy. It is also possible to prevent the release time lag from increasing by changing the sequence in other cameras.

【0095】[0095]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
写体の輝度に応じて測距、測光等のシーケンスを変更す
るので、レリーズタイムラグを増加させずに高輝度被写
体に対して正確に測距を行うことが可能である。
As described above, according to the present invention, since the sequence of distance measurement, photometry, etc. is changed according to the brightness of the object, accurate measurement is performed on a high brightness object without increasing the release time lag. It is possible to perform distance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の概念を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the concept of an embodiment of the present invention.

【図2】一実施例をカメラに適用したときの回路構成図
である。
FIG. 2 is a circuit configuration diagram when one embodiment is applied to a camera.

【図3】図2に示す測光部の回路構成図である。FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a photometric unit shown in FIG.

【図4】撮影画面内の測光領域を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a photometric area in a shooting screen.

【図5】測光出力の応答性を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the response of photometric output.

【図6】測光部の電気回路の構成を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an electric circuit of a photometry unit.

【図7】本発明の第1の実施例に係る“AFRD”サブ
ルーチンを示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing an “AFRD” subroutine according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1の実施例に係る高輝度時の測距、
測光タイミングチャートである。
FIG. 8 is a distance measurement at high brightness according to the first embodiment of the present invention,
It is a photometry timing chart.

【図9】本発明の第1の実施例に係るレリーズルーチン
を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a release routine according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第2の実施例に係る測距部の回路構
成図である。
FIG. 10 is a circuit configuration diagram of a distance measuring unit according to a second embodiment of the present invention.

【図11】第2の実施例に係る測距方法を説明するため
の図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining a distance measuring method according to a second embodiment.

【図12】第2の実施例に係るファーストレリーズルー
チンを示すフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart showing a first release routine according to a second embodiment.

【図13】プリスポットおよびプリ平均測光を説明する
ためのタイミングチャートである。
FIG. 13 is a timing chart for explaining pre-spot and pre-average photometry.

【図14】図12の“AFRD2”ルーチンを説明する
ためのタイミングチャートである。
FIG. 14 is a timing chart for explaining the “AFRD2” routine of FIG.

【図15】図12の“AFRD3”ルーチンを説明する
ためのタイミングチャートである。
FIG. 15 is a timing chart for explaining the “AFRD3” routine of FIG.

【図16】図12の“AFRD2”ルーチンを説明する
ためのタイミングチャートである。
16 is a timing chart for explaining the “AFRD2” routine of FIG.

【図17】従来のアクティブ型測距装置の構成図であ
る。
FIG. 17 is a block diagram of a conventional active distance measuring device.

【図18】図17の回路構成を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing a circuit configuration of FIG. 17.

【図19】被写体距離と比演算結果との関係を示す特性
図である。
FIG. 19 is a characteristic diagram showing a relationship between a subject distance and a ratio calculation result.

【図20】誘電体吸収を説明するための図である。FIG. 20 is a diagram for explaining dielectric absorption.

【図21】従来の装置のレリーズシーケンスルーチンを
示すフローチャートである。
FIG. 21 is a flowchart showing a release sequence routine of a conventional device.

【図22】図21のサブルーチン“AFRD”を説明す
るためのタイムチャートである。
22 is a time chart for explaining the subroutine "AFRD" of FIG. 21. FIG.

【図23】図21のサブルーチン“AFRD”を説明す
るためのタイムチャートである。
FIG. 23 is a time chart for explaining the subroutine “AFRD” of FIG. 21.

【図24】図21のサブルーチン“AFRD”を説明す
るためのフローチャートである。
FIG. 24 is a flowchart for explaining the subroutine “AFRD” of FIG. 21.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…測距手段、2…測光手段、3…判定手段、4…シー
ケンス変更手段、5…制御手段、6…定常光成分記憶手
段。
1 ... Distance measuring means, 2 ... Photometric means, 3 ... Judging means, 4 ... Sequence changing means, 5 ... Control means, 6 ... Steady light component storage means.

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成4年6月29日[Submission date] June 29, 1992

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0004[Correction target item name] 0004

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0004】なる関係が成立する。PSD14はその原
理上、信号光電流Iを発生し、2つの出力端から入射
位置xに依存した信号を出力する。IRED10側のP
SD端から原点までの距離をaとして、 i={(a+x)/t}×I (2) ここでtはPSD14の長さを表わしている。また +i=I (3) より i/(i+i)=(a+S・f/1)×1/t (4) という関係が成立する。従って、上記(4)式に基づく
比演算を行うことにより、被写体距離1を求めることが
できる。
The following relationship is established. In principle, the PSD 14 generates a signal photocurrent I p and outputs a signal depending on the incident position x from two output ends. P on the IRED10 side
Letting a be the distance from the SD end to the origin, i a = {(a + x) / t} × I p (2) Here, t represents the length of the PSD 14. Further, from i a + i b = I p (3), the relationship i a / (i a + i b ) = (a + S · f / 1) × 1 / t (4) holds. Therefore, the subject distance 1 can be obtained by performing the ratio calculation based on the equation (4).

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0005[Correction target item name] 0005

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0005】図18は図17のアクティブ型測距装置の
回路構成を示す図である。PSD14からの出力電流
を処理する回路は同様の構成を有するので、以
下、 を処理する回路についてのみ説明する。図17
のPSD14からの出力電流 は入力端子31Aを介
してプリアンプ32A、増幅トランジスタ33Aにより
増幅される。この増幅トランジスタ33Aには電流源3
4A、35A、圧縮ダイオード36A及びバッファ43
Aが接続されている。またアンプ37Aの反転入力端に
は上記増幅トランジスタ33Aが、非反転入力端には圧
縮ダイオード38A及び電流源39Aが、また出力端に
はホールドトランジスタ40A、ホールド抵抗41A、
及びホールドコンデンサ42Aが図示のごとく接続され
る。また電流源46Aとともに比演算回路47Aを構成
するトランジスタ44A、45Aには圧縮ダイオード3
6Aの出力がバッファ43Aを介して接続されている。
FIG. 18 is a diagram showing a circuit configuration of the active type distance measuring device of FIG. Output current i from PSD14
Since the circuits that process a and i b have the same configuration, only the circuit that processes i a will be described below. FIG. 17
The output current i a from the PSD 14 is amplified by the preamplifier 32A and the amplification transistor 33A via the input terminal 31A. This amplification transistor 33A has a current source 3
4A, 35A, compression diode 36A and buffer 43
A is connected. The amplification transistor 33A is provided at the inverting input end of the amplifier 37A, the compression diode 38A and the current source 39A are provided at the non-inverting input end, and the hold transistor 40A and the hold resistor 41A are provided at the output end.
And the hold capacitor 42A is connected as shown. In addition, the compression diode 3 is connected to the transistors 44A and 45A that form the ratio calculation circuit 47A together with the current source 46A.
The output of 6A is connected via the buffer 43A.

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0009[Correction target item name] 0009

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0009】このようにPSD14の出力電流は圧縮ダ
イオードにより圧縮された電圧となるが、以下この圧縮
信号を用いて上述した比i/(I+i)を求める
回路について説明する。図中のIOUT、Iは IOUT+I=I (6) の関係となり、また V−V=Vln(i/I)−Vln(i/I) =Vln(IOUT/I)−Vln(I/I) (7) となる。従って、i/i=IOUT/Iとなる。
ここで、I=I−IOUTより、 i/i=IOUT/(I−IOUT)、 i・IOUT=i(I−IOUT)となり、 したがって、IOUT={i/(i+i)}×I (8) となる。これに上述の(4)式を代入して IOUT=(a+S・f/1)×1/t×I (9) となり、このように被写体距離lに依存した出力を得る
ことができる。
As described above, the output current of the PSD 14 becomes a voltage compressed by the compression diode, and a circuit for obtaining the above ratio i a / (I a + i b ) using this compressed signal will be described below. I OUT in FIG, I Z is I OUT + I Z = I O becomes a relationship of (6), also V a -V b = V T ln (i a / I S) -V T ln (i b / I S ) = V T ln (I OUT / I S ) −V T ln (I Z / I S ) (7). Therefore, i a / i b = I OUT / I Z.
Here, from the I Z = I O -I OUT, i a / i b = I OUT / (I O -I OUT), i b · I OUT = i a (I O -I OUT) becomes, therefore, I OUT = the {i a / (i a + i b)} × I O (8). By substituting the equation (4) into this, I OUT = (a + S · f / 1) × 1 / t × I O (9), and thus an output depending on the subject distance 1 can be obtained.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0010[Correction target item name] 0010

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0010】上記(9)式からa/tを除いてグラフ化
すると図19に示される如くなる。図中Xで示される直
線が(9)式に基づく理論線であるが、実際は、遠距離
側では信号光が拡散して信号光量が減少するので、S/
N上精度が劣化して図中Yに示されるように遠距離ほど
誤差が大きくなる傾向にある。さらに高輝度、すなわ
ち定常光電流Iが比較的大きい状況では、図中Zに示
されるような大きな乱れを生じ、遠距離lの被写体と
近距離lの被写体との判別が不能となる場合が出てく
る。
A graph obtained by excluding a / t from the equation (9) is as shown in FIG. The straight line indicated by X in the figure is a theoretical line based on the equation (9), but in reality, since the signal light diffuses and the signal light amount decreases on the far distance side, S /
The accuracy on N deteriorates and the error tends to increase as the distance increases, as indicated by Y in the figure. Further high luminance under, that is, relatively large situation stationary light current I p, cause large disturbances as shown in the figure Z, impossible to distinguish between an object of the subject and the short distance l d of the long-distance l c There will be cases.

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0022[Name of item to be corrected] 0022

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0022】[0022]

【作用】すなわち、本発明のアクティブ型測距装置を有
するカメラにおいては、測距対象物が高輝度な被写体で
あるか否かを判定し、この判定結果に基づいて定常光成
分を記憶するための定常光成分記憶手段の安定時間を変
更し、又、カメラのシーケンスを変更するものである。
That is, in the camera having the active distance measuring device of the present invention, it is determined whether or not the object to be measured is a high-luminance object, and the stationary light component is stored based on the result of the determination. The stable time of the stationary light component storage means is changed , and the sequence of the camera is changed.

【手続補正6】[Procedure Amendment 6]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0070[Name of item to be corrected] 0070

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0070】図11(b)に示すIRED89、IRE
D90、IRED91と図10のPSD92、PSD9
3、PSD94はそれぞれ対をなしており、図11
(a)に示す撮影画面内の測距ポイント101、10
2、103に対して測距を行う。プリアンプ111A
は、図6のプリアンプ32A、増幅トランジスタ33
A、電流源34Aをまとめて記すものであり、同様にプ
リアンプ111Bは同図のプリアンプ32B、増幅トラ
ンジスタ33B、電流源34Bをまとめて記すものであ
る。またプリアンプ110A、110B、112A、1
12Bについてもまったく同一の回路で構成されてい
る。これらのプリアンプはタイミング発生回路120か
らのタイミング信号T、T、Tにより選択的に動
可能となる。アンプ95Aは図6に示すアンプ37
A、電流源35A、39Aをまとめて記すもので、同様
にアンプ95Bも同図アンプ37B、電流源35B、3
9Bをまとめて記すものである。
IRED89 and IRE shown in FIG. 11 (b)
D90, IRED91 and PSD92, PSD9 of FIG.
3 and PSD94 are paired with each other, as shown in FIG.
Distance measuring points 101 and 10 in the photographing screen shown in FIG.
Distance measurement is performed on Nos. 2 and 103. Preamplifier 111A
Is the preamplifier 32A and the amplification transistor 33 of FIG.
A and the current source 34A are collectively described, and similarly, the preamplifier 111B is the collective description of the preamplifier 32B, the amplification transistor 33B, and the current source 34B shown in FIG. Also, the preamplifiers 110A, 110B, 112A, 1
The same circuit is also used for 12B. These preamplifiers can be selectively operated by the timing signals T 5 , T 6 , and T 7 from the timing generation circuit 120. The amplifier 95A is the amplifier 37 shown in FIG.
A, the current sources 35A and 39A are collectively shown. Similarly, the amplifier 95B is also shown in FIG.
9B is collectively described.

【手続補正7】[Procedure Amendment 7]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0089[Correction target item name] 0089

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0089】次にスポット測光領域は高輝度ではなく、
平均測光領域が高輝度である場合の測距、測光ルーチン
“AFRD3”について、図15に基づいて説明する。
“AFRD3”では左右の測距ポイント101、103
における測距精度は高輝度であるため信頼性が低く、ま
た定常光記憶安定時間を長くとって測距を行うとタイム
ラグを増大してしまうので、中央の測距ポイント10
においてのみ測距を行う。
Next, the spot metering area does not have high brightness,
The distance measurement and the photometry routine "AFRD3" when the average photometry area has high brightness will be described with reference to FIG.
In “AFRD3”, left and right distance measuring points 101 and 103
Since the distance measurement accuracy in the measurement is high in brightness, reliability is low, and if the stationary light storage stabilization time is long and distance measurement is performed, a time lag increases, so that the center distance measurement point 10 2
Distance measurement is performed only in.

【手続補正8】[Procedure Amendment 8]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図3[Name of item to be corrected] Figure 3

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図3】 [Figure 3]

【手続補正9】[Procedure Amendment 9]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図7[Name of item to be corrected] Figure 7

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図7】 [Figure 7]

【手続補正10】[Procedure Amendment 10]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図24[Name of item to be corrected] Fig. 24

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図24】 FIG. 24

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 測距対象物に向けて投光し、この測距対
象物から上記投光の反射光を受光し、この受光に基づい
て被写体までの距離を検出する測距手段と、 上記測距対象物の輝度を検出する測光手段と、 上記測光手段の出力に基づき、上記測距対象物が高輝度
な被写体であるか否か判定する判定手段と、 上記測距手段において定常光成分を除去するために、定
常光成分を記憶するための定常光成分記憶手段と、 上記判定手段の出力に基づいて上記定常光記憶手段の安
定時間を変更し、カメラのシーケンスを変更するシーケ
ンス変更手段と、 上記シーケンス変更手段の出力に基づいてカメラのシー
ケンスを実行する制御手段とを具備することを特徴とす
るアクティブ型測距装置を有するカメラ。
1. A distance measuring means for projecting light toward an object for distance measurement, receiving reflected light of the light projection from the object for distance measurement, and detecting a distance to a subject based on the received light. A photometric means for detecting the brightness of the distance measuring object, a judging means for judging whether or not the distance measuring object is a high-luminance subject based on the output of the light measuring means, and a stationary light component in the distance measuring means. In order to eliminate the above, the stationary light component storage means for storing the stationary light component, and the sequence changing means for changing the stabilization time of the stationary light storage means based on the output of the judging means to change the camera sequence. And a control means for executing a sequence of the camera based on the output of the sequence changing means, the camera having an active distance measuring device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003730A (en) * 2018-06-29 2020-01-09 エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドSz Dji Technology Co.,Ltd Moving body, focusing control method, program, and recording medium

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