JPH11153487A - Photometer - Google Patents

Photometer

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JPH11153487A
JPH11153487A JP9318185A JP31818597A JPH11153487A JP H11153487 A JPH11153487 A JP H11153487A JP 9318185 A JP9318185 A JP 9318185A JP 31818597 A JP31818597 A JP 31818597A JP H11153487 A JPH11153487 A JP H11153487A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
predetermined
integrating capacitor
voltage
voltage value
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9318185A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Maeno
均 前野
Kiyotetsu Sadanao
清哲 定直
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP9318185A priority Critical patent/JPH11153487A/en
Publication of JPH11153487A publication Critical patent/JPH11153487A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a convenient photometer in which release time lag will not be prolonged even if the subject of photography is of low brightness. SOLUTION: In this photometer, photocurrents proportional to the amounts of incident light beams are integrated by an integrating capacitor 33, and the voltage of the integrating capacitor 33 is detected by an A/D converting circuit 34 in a CPU 1. Measurement time from the start of integration by the integrating capacitor 33 is measured by a timer in the CPU 1. If the integrated voltage has reached a predetermined voltage value before a predetermined measuring time has elapsed, data about the brightness of the subject of photography are computed in the CPU 1 according to the timer count data. If the predetermined time has elapsed before the integrated voltage has reached the predetermined voltage value, the data about the brightness of the subject of photography are computed from the predetermined voltage value, the predetermined time, and the voltage value detected by the timer.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は測光装置に関し、
より詳細にはカメラ等の光学機器に使用される測光装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photometric device,
More specifically, the present invention relates to a photometric device used for an optical device such as a camera.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、カメラ等の光学機器の測光回路に
於いては、フォトダイオードを用いて入射光束を光電流
に変換し、これを対数圧縮電圧に変換したり、光電流を
コンデンサに蓄えてA/D変換している。これらの場
合、圧縮のためにA/D変換用のコンパレータ及び基準
電圧発生回路が必要となり、バイポーラICが用いられ
てきた。
2. Description of the Related Art In recent years, in a photometric circuit of an optical device such as a camera, an incident light beam is converted into a photocurrent using a photodiode, and this is converted into a logarithmic compression voltage, or the photocurrent is stored in a capacitor. A / D conversion is performed. In these cases, a comparator for A / D conversion and a reference voltage generating circuit are required for compression, and a bipolar IC has been used.

【0003】こうした測光回路では、測光用のICとカ
メラ内のCPUとを用いて測光を行うようになっていた
が、回路規模が大きくなったり、開発のプロセスが複雑
でコストが高くなる等の問題を有していた。
In such a photometric circuit, photometry is performed using an IC for photometry and a CPU in a camera. However, the circuit scale becomes large, the development process becomes complicated, and the cost becomes high. Had a problem.

【0004】そして、この問題を解決するため、例えば
特開平4−181128号公報に、CPUの入出力兼用
ポートにフォトダイオードと積分コンデンサを接続し
て、該積分コンデンサを光電流で充電(放電)した際
に、入力ゲートが反転するまでの時間から被写体輝度を
求めて、バイポーラICを用いずに簡素化して低コスト
を実現した測光装置の技術が開示されている。
In order to solve this problem, a photodiode and an integrating capacitor are connected to an input / output port of a CPU, and the integrating capacitor is charged (discharged) with a photocurrent, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 4-181128. In such a case, there is disclosed a photometric device technology that obtains the subject brightness from the time until the input gate is inverted, and realizes a simplified and low-cost photometric device without using a bipolar IC.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記特開平4−181
128号公報により開示された技術では、オープンドレ
イントランジスタがオンされて、積分用のコンデンサの
電荷が放電された後に充電されて所定の値まで達したな
らば入力ゲートが反転されるようになっている。そし
て、上記トランジスタがオンしてからこのゲートが反転
されるまでに要した時間がレリーズタイムラグとなって
いる。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-181 is disclosed.
In the technique disclosed in Japanese Patent No. 128, the open drain transistor is turned on, the charge of the integrating capacitor is discharged, and then the input gate is inverted when the charge reaches a predetermined value. I have. The time required from when the transistor is turned on until the gate is inverted is a release time lag.

【0006】しかしながら、上記特開平4−18112
8号公報により開示された技術では、被写体が低輝度の
場合、光電流が小さくなるので、入力ゲートが反転する
まで積分するためには、非常に長い時間を要するもので
あった。したがって、このような場合はレリーズタイム
ラグが長くなり、使用者にとって使いにくいものとなっ
ていた。
[0006] However, Japanese Patent Laid-Open No. Hei 4-18112 discloses
In the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8 (1996) -1996, when the subject has low luminance, the photocurrent becomes small, so that it takes a very long time to integrate until the input gate is inverted. Therefore, in such a case, the release time lag is long, and it is difficult for the user to use.

【0007】したがってこの発明は、上記課題に鑑みて
なされたものであり、被写体が低輝度であってもレリー
ズタイムラグが長くなることなく、使い勝手の良い測光
装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a photometric device which is easy to use without increasing the release time lag even if the subject has low luminance.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、入
射光量に応じた光電流を積分する積分コンデンサと、こ
の積分コンデンサの電圧を検出する検出手段と、上記積
分コンデンサの積分開始からの計測時間を計測する計時
手段と、この計時手段による計測が所定時間経過する以
前に上記積分電圧が所定電圧値に達した場合には上記計
時手段の計時データに基いて被写体輝度データを演算
し、上記積分電圧が上記所定電圧値に達する以前に上記
所定時間が経過した場合には上記所定電圧値と上記所定
時間と上記検出手段による検出電圧値とから上記被写体
輝度データを演算する演算手段とを具備することを特徴
とする。
That is, the present invention provides an integrating capacitor for integrating a photocurrent according to the amount of incident light, a detecting means for detecting a voltage of the integrating capacitor, and a measuring time from the start of integration of the integrating capacitor. Means for measuring the subject brightness data based on the time measurement data of the time measurement means, when the integrated voltage reaches a predetermined voltage value before the measurement by the time measurement means elapses a predetermined time. And calculating means for calculating the subject luminance data from the predetermined voltage value, the predetermined time, and the voltage value detected by the detecting means when the predetermined time has elapsed before the voltage reaches the predetermined voltage value. It is characterized by the following.

【0009】またこの発明は、受光素子から出力される
光電流を積分コンデンサで積分し、その積分電圧が所定
電圧値に達するまでの時間データに基いて被写体輝度デ
ータを出力する測光装置に於いて、上記積分の開始から
所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積分電圧が
上記所定値に達しない場合には、上記所定時間値とその
時点での積分電圧値とから上記所定電圧に達するまでの
時間を予測演算する予測演算手段と、この予測演算手段
で演算された時間に基いて被写体輝度データを演算する
輝度演算手段とを具備することを特徴とする。
Further, the present invention relates to a photometric device for integrating a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputting subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, the integration voltage is calculated from the predetermined time value and the integrated voltage value at that time until the predetermined voltage is reached. And a brightness calculation means for calculating subject brightness data based on the time calculated by the prediction calculation means.

【0010】更にこの発明は、受光素子から出力される
光電流を積分コンデンサで積分し、その積分電圧が所定
電圧値に達するまでの時間データに基いて被写体輝度デ
ータを出力する測光装置に於いて、上記積分の開始から
所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積分電圧が
上記所定電圧値に達しない場合には、その時点での積分
電圧に基いて上記被写体輝度データを演算する輝度演算
手段を具備することを特徴とする。
Further, the present invention relates to a photometric device for integrating a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputting subject brightness data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined voltage value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, a brightness calculating means for calculating the subject brightness data based on the integrated voltage at that time. It is characterized by having.

【0011】この発明の測光装置にあっては、入射光量
に応じた光電流が積分コンデンサで積分され、この積分
コンデンサの電圧は検出手段で検出される。また、上記
積分コンデンサの積分開始からの計測時間は計時手段に
よって計測される。そして、演算手段では、この計時手
段による計測が所定時間経過する以前に上記積分電圧が
所定電圧値に達した場合に、上記計時手段の計時データ
に基いて被写体輝度データが演算される。一方、上記積
分電圧が上記所定電圧値に達する以前に上記所定時間が
経過した場合には、上記所定電圧値と上記所定時間と上
記検出手段による検出電圧値とから上記被写体輝度デー
タが演算される。
In the photometric device according to the present invention, the photocurrent corresponding to the amount of incident light is integrated by the integrating capacitor, and the voltage of the integrating capacitor is detected by the detecting means. The measuring time from the start of the integration of the integrating capacitor is measured by a timer. Then, the arithmetic means calculates the subject luminance data based on the time data of the clock means when the integrated voltage reaches a predetermined voltage value before the measurement by the clock means elapses a predetermined time. On the other hand, if the predetermined time has elapsed before the integrated voltage reaches the predetermined voltage value, the subject brightness data is calculated from the predetermined voltage value, the predetermined time, and the voltage value detected by the detection means. .

【0012】またこの発明にあっては、受光素子から出
力される光電流を積分コンデンサで積分し、その積分電
圧が所定電圧値に達するまでの時間データに基いて被写
体輝度データを出力する測光装置に於いて、上記積分の
開始から所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積
分電圧が上記所定値に達しない場合には、予測演算手段
によって、上記所定時間値とその時点での積分電圧値と
から上記所定電圧に達するまでの時間が予測演算手段で
予測演算される。そして、この予測演算手段で演算され
た時間に基いて、輝度演算手段により被写体輝度データ
が演算される。
Further, according to the present invention, a photometric device for integrating a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputting subject brightness data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. In the above, when the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, the predicting operation means calculates the predetermined time value and the integrated voltage value at that time. And the time until the above-mentioned predetermined voltage is reached is predicted by the prediction calculation means. Then, the subject brightness data is calculated by the brightness calculation means based on the time calculated by the prediction calculation means.

【0013】更にこの発明にあっては、受光素子から出
力される光電流を積分コンデンサで積分し、その積分電
圧が所定電圧値に達するまでの時間データに基いて被写
体輝度データを出力する測光装置に於いて、上記積分の
開始から所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積
分電圧が上記所定電圧値に達しない場合には、輝度演算
手段によって、その時点での積分電圧に基いて上記被写
体輝度データが演算される。
Further, according to the present invention, a photometric device for integrating a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputting subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. In the above, when the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined voltage value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, the luminance calculating means uses the integrated voltage at that time as the subject. The luminance data is calculated.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。図1は、この発明の第1の実施
の形態を示す測光装置を有したカメラのブロック構成図
である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a camera having a photometric device according to a first embodiment of the present invention.

【0015】図1に於いて、CPU1はその内部に設け
られたROMに記憶されたプログラムに基いて逐次シー
ケンシャル制御を実行し、これによって周辺のIC等の
動作を司るようになっている。CPU1には、AF(オ
ートフォーカス)用IC2、EEPROM6、インター
フェース7、エンコーダ13、14、16、DX回路1
7、ストロボユニット18、液晶表示パネル19、日付
写し込み回路20及びリセットIC21等が結合されて
いる。
In FIG. 1, a CPU 1 sequentially executes sequential control based on a program stored in a ROM provided therein, thereby controlling operations of peripheral ICs and the like. The CPU 1 includes an AF (autofocus) IC 2, an EEPROM 6, an interface 7, encoders 13, 14, 16, and a DX circuit 1.
7, a strobe unit 18, a liquid crystal display panel 19, a date imprint circuit 20, a reset IC 21, and the like are connected.

【0016】上記AF用IC2は、被写体までの距離を
赤外光アクティブ方式で計測し、これによって得られた
被写体距離情報を8ビットシリアル通信でCPU1に転
送するものである。このAF用IC2には、投光用とし
て3連のIRED3と受光用として1個のPSD4によ
って構成された投受光器5が接続されており、これによ
り撮影画面中の3点をそれぞれ測距することができるよ
うになっている。
The AF IC 2 measures the distance to the subject by an infrared active method, and transfers the obtained subject distance information to the CPU 1 by 8-bit serial communication. The AF IC 2 is connected to a light emitter / receiver 5 composed of three IREDs 3 for light emission and one PSD 4 for light reception, thereby measuring the distances of three points on the shooting screen. You can do it.

【0017】ところで、これらの投受光器5に於いて
は、その構成要素であるIRED3とPSD4間の基線
長にばらつきがあると、測距として得られた被写体距離
情報は、基線長のばらつきがない場合に得られる測距デ
ータより乖離してしまう。そこで、以下に述べるEEP
ROM6に記憶されているデータによって、補正演算を
行い、適宜修正するようにしている。
In these projectors 5, if there is a variation in the base line length between the constituent elements IRED 3 and PSD 4, the subject distance information obtained as a distance measurement indicates that the base line length does not vary. If it does not exist, it deviates from the distance measurement data obtained. Therefore, the following EEP
Correction calculation is performed based on the data stored in the ROM 6, and the correction is appropriately made.

【0018】このEEPROM6は、不揮発性の記憶素
子により構成されており、上記速記よデータのばらつき
や、測距データをレンズ一データに変換する際のレンズ
一の機械的なぱらつき等により発生する誤差を、生産時
に補正するための調整データ等が記憶されているもので
ある。
The EEPROM 6 is constituted by a nonvolatile storage element, and the error caused by the dispersion of the shorthand data and the mechanical fluctuation of the lens when converting the distance measurement data into the data of the lens. Is stored in the memory for adjusting the data during production.

【0019】上記インターフェース7は、IRED3
と、CPU電源VDDの電源安定化回路8と、モータドラ
イバ9及びプランジャードライバ10のプリドライバの
駆動を行う。モータドライバ9は、フィルム給送用モー
タ11及び撮影レンズ駆動用モータ12をそれぞれ駆動
するものである。そして、フィルム給送状態はエンコー
ダ13により、また撮影レンズの駆動位置はエンコーダ
14により、それぞれ検出される。これらの検出結果
は、CPU1に供給されるようになっている。
The interface 7 is an IRED3
Then, the power supply stabilizing circuit 8 of the CPU power supply VDD and the pre-drivers of the motor driver 9 and the plunger driver 10 are driven. The motor driver 9 drives the film feeding motor 11 and the taking lens driving motor 12, respectively. The film feeding state is detected by the encoder 13, and the driving position of the photographing lens is detected by the encoder 14. These detection results are supplied to the CPU 1.

【0020】また、図示されないカメラのシャッタは、
プランジャー15によって駆動されるもので、エンコー
ダ16によりシャッタ開口開始が検出されてCPU1に
供給される。
The shutter of a camera (not shown)
Driven by the plunger 15, the start of the shutter opening is detected by the encoder 16 and supplied to the CPU 1.

【0021】上記DX回路17は、フィルムのISO感
度を検出するためのもので、ここで検出された値はCP
U1に供給される。また、ストロボユニット18と、液
晶表示パネル19及び日付写し込み回路20は、CPU
1の信号に基いて、それぞれ閃光発光と、モード、フィ
ルム駒数等の表示と、日付写し込みを行う。
The DX circuit 17 is for detecting the ISO sensitivity of the film.
It is supplied to U1. The strobe unit 18, the liquid crystal display panel 19 and the date imprinting circuit 20
Based on the signal of No. 1, flash light emission, display of a mode, the number of film frames, and the like, and date imprinting are performed.

【0022】リセットIC21は、CPU1のパワーオ
ンリセット用ICである。このリセット用IC21は、
電源電池投入時にCPU1の電源VDDがCPU1の動作
可能電圧に達するまで、CPU1をリセット状態にして
おくためのもので、電源VDDが一時的に瞬断した場合に
もCPU1が暴走するのを未然に防止するようになって
いる。
The reset IC 21 is a power-on reset IC for the CPU 1. This reset IC 21
This is for keeping the CPU 1 in a reset state until the power supply V DD of the CPU 1 reaches the operable voltage of the CPU 1 when the power supply battery is turned on. Even if the power supply V DD is temporarily interrupted, the CPU 1 does not run away. It is designed to prevent it.

【0023】更に、上記CPU1には、各種スイッチ2
2〜28及び発光ダイオード29〜30と、測光用の受
光素子であるフォトダイオード32及びコンデンサ33
が接続されている。
Further, the CPU 1 includes various switches 2
2-28 and light emitting diodes 29-30, photodiode 32 and capacitor 33 which are light receiving elements for photometry
Is connected.

【0024】すなわち、ファーストレリーズスイッチ
(R1SW)22は、レリーズ釦が半押しされたときに
作動するスイッチである。このファーストレリーズスイ
ッチ21がオンされると測距が行われ、このときの測距
値がCPU1に記憶される。
That is, the first release switch (R1SW) 22 is a switch that operates when the release button is half-pressed. When the first release switch 21 is turned on, the distance measurement is performed, and the measured distance value at this time is stored in the CPU 1.

【0025】セカンドレリーズスイッチ(R2SW)2
3は、レリーズ釦が全押しされたときに作動するスイッ
チである。このセカンドレリーズスイッチ23がオンさ
れると、測距値に基いて撮影レンズの繰り出し、そして
測光値に基いて露出の制御が行われる。
Second release switch (R2SW) 2
Reference numeral 3 denotes a switch that operates when the release button is fully pressed. When the second release switch 23 is turned on, the taking lens is extended based on the distance measurement value, and the exposure is controlled based on the photometry value.

【0026】ストロボモード切換スイッチ(FLSS
W)24は、赤目発光モード、ストロボオフモード、ス
トロボ強制発光モードを切換えるためのスイッチであ
る。ここで、赤目発光モードとは、後述する赤目現象を
防止できるようにしたストロボ撮影機能を有するモード
のことである。
A flash mode switch (FLSS)
W) 24 is a switch for switching between a red-eye emission mode, a strobe off mode, and a strobe forced emission mode. Here, the red-eye emission mode is a mode having a flash photography function that can prevent a red-eye phenomenon described later.

【0027】また、セルフタイマスイッチ(SLSW)
25はセルフタイマモードで撮影する際に使用されるス
イッチであり、強制巻戻しスイッチ(RWMSW)26
はカメラ内に装填されたフィルムを途中で巻戻す場合等
に動作させてフィルムを巻戻すスイッチである。更に、
バリアスイッチ(BRSW)27は撮影レンズ前面に設
けられたバリアを開閉する際に動作されるスイッチであ
り、裏蓋スイッチ(BKSW)はカメラの背面部の裏蓋
を開閉する際に動作されるスイッチである。
A self-timer switch (SLSW)
Reference numeral 25 denotes a switch used for photographing in the self-timer mode, and a forced rewind switch (RWMSW) 26
A switch is operated to rewind the film when the film loaded in the camera is rewound halfway. Furthermore,
A barrier switch (BRSW) 27 is a switch that is operated when opening and closing a barrier provided on the front surface of the photographing lens, and a back cover switch (BKSW) is a switch that is operated when opening and closing the back cover on the back of the camera. It is.

【0028】更に、発光ダイオード29及び30は、フ
ァインダ内表示灯であり、AF測距終了及び近距離警
告、ストロボ発光警告及び赤目発生警告等を行う。、そ
して、発光ダイオード31は、セルフモード表示用の発
光ダイオードである。
Further, the light emitting diodes 29 and 30 are indicator lights in the viewfinder, and perform an AF ranging end and a short distance warning, a strobe light emission warning, a red-eye occurrence warning, and the like. The light emitting diode 31 is a light emitting diode for self-mode display.

【0029】尚、上述した赤目とは、被写体をストロボ
ユニット18により閃光発光させて撮影した際に、被写
体の目が赤く写る、いわゆる赤目現象のことである。そ
れ故、上記赤目発生警告とは、上記赤目現象の発生が前
もって検出されたときにストロボモード切換スイッチ2
4により、赤目モードにモードを切換えることを促す警
告である。
The above-mentioned red-eye is a so-called red-eye phenomenon in which the subject's eyes appear red when the subject is flashed by the flash unit 18 and photographed. Therefore, the above-mentioned red-eye occurrence warning means that when the occurrence of the above-mentioned red-eye phenomenon is detected in advance, the flash mode changeover switch 2
4 is a warning urging the user to switch the mode to the red-eye mode.

【0030】また、上記フォトダイオード32は、被写
体の輝度を測光するためのものである。このフォトダイ
オード32のアノード端子は、積分コンデンサ33に接
続されると共に、CPU1内のA/D変換回路34及び
Nチャンネル(以下、Nchと略記する)オープンドレイ
ントランジスタ35に接続されている。一方、フォトダ
イオード32のカソード端子は、基準電圧Vccに接続さ
れている。
The photodiode 32 is for measuring the luminance of a subject. The anode terminal of the photodiode 32 is connected to an integration capacitor 33 and to an A / D conversion circuit 34 and an N-channel (hereinafter abbreviated as Nch) open drain transistor 35 in the CPU 1. On the other hand, the cathode terminal of the photodiode 32 is connected to the reference voltage Vcc.

【0031】この測光装置では、フォトダイオード32
にて入射光量に応じて発生する光電流で積分コンデンサ
33が充電されることにより発生される電圧が、A/D
変換回路34で検出される。そして、その積分電圧が所
定の電圧に達するまでの時間が計測されて、その計時デ
ータが被写体輝度データに換算されるようにしたもので
ある。
In this photometric device, the photodiode 32
The voltage generated by charging the integration capacitor 33 with the photocurrent generated according to the amount of incident light at A / D
It is detected by the conversion circuit 34. The time until the integrated voltage reaches a predetermined voltage is measured, and the measured data is converted into subject brightness data.

【0032】次に、図2のタイミングチャートを参照し
て、被写体輝度が低輝度でない場合と低輝度の場合につ
いての測光装置の動作を説明する。図2(a)は被写体
輝度が低輝度でない、通常の輝度の場合の動作を説明す
るタイミングチャートである。
Next, with reference to the timing chart of FIG. 2, the operation of the photometric device when the subject brightness is not low and when the subject brightness is low will be described. FIG. 2A is a timing chart for explaining the operation when the subject brightness is not low and the brightness is normal.

【0033】リセット信号がローレベル(L)1からハ
イレベル(H)に変化すると、積分トランジスタ35が
オンされる。これにより、積分コンデンサ33に蓄積さ
れていた電荷が放電される。その後、所定時間が経過し
てリセット信号がローレベルに復帰すると、積分トラン
ジスタ35は再びオフされる。
When the reset signal changes from low level (L) 1 to high level (H), the integration transistor 35 is turned on. As a result, the electric charge stored in the integrating capacitor 33 is discharged. Thereafter, when the reset signal returns to the low level after a predetermined time has elapsed, the integrating transistor 35 is turned off again.

【0034】この時点より、積分コンデンサ33がフォ
トダイオード32の光電流によって充電され始める。す
なわち、積分開始となる。積分コンデンサ33の充電電
圧(以下、積分電圧と記す)の変化は、A/D変換回路
34によりモニタされている。上記積分電圧の変化率
は、フォトダイオード32からの光電流、つまり被写体
輝度に応じて変化するので、積分電圧が所定の閾値電圧
THに達するまでの時間tを計測すれば、被写体輝度が
求められる。
At this point, the integration capacitor 33 starts to be charged by the photocurrent of the photodiode 32. That is, integration starts. A change in the charging voltage of the integration capacitor 33 (hereinafter, referred to as integration voltage) is monitored by an A / D conversion circuit 34. Since the rate of change of the integrated voltage changes according to the photocurrent from the photodiode 32, that is, the subject brightness, the subject brightness can be obtained by measuring the time t until the integrated voltage reaches a predetermined threshold voltage VTH. Can be

【0035】次に、被写体輝度が低い場合について、図
2(b)のタイミングチャートを参照して説明する。被
写体が非常に暗い場合、すなわち、光電流が少ない場
合、積分電圧は図2(b)に示されるように、ゆっくり
と上昇する。したがって、この積分電圧が閾値電圧VTH
に達するまでの時間は、非常に長くなる。しかしなが
ら、この時間は撮影シーケンスに於けるタイムラグに関
係しているので、長くなることは好ましくない。
Next, the case where the subject brightness is low will be described with reference to the timing chart of FIG. When the subject is very dark, that is, when the photocurrent is small, the integrated voltage rises slowly as shown in FIG. Therefore, this integrated voltage is equal to the threshold voltage V TH
The time to reach is very long. However, since this time is related to the time lag in the photographing sequence, it is not preferable to increase the time.

【0036】そこで、この測光装置に於いては、積分開
始から所定時間(制限時間tlim )が経過しても積分電
圧がVTHに到達しない場合は、その時点の積分電圧(図
2(b)の場合はVlim )からVTHに達するまでの時間
(tcal )を、下記(1)式から予測演算するようにす
る。 tcal =(tlim /Vlim )・VTH …(1) ここで、Vlim は制限時間tlim 時点での積分電圧であ
る。
Therefore, in this photometric device, if the integrated voltage does not reach V TH even after a lapse of a predetermined time (limit time t lim ) from the start of integration, the integrated voltage at that time (FIG. In the case of), the time (t cal ) from V lim ) to V TH is calculated by the following equation (1). t cal = (t lim / V lim ) · V TH (1) Here, V lim is an integrated voltage at the time limit time t lim .

【0037】これによって、測光に費やされる時間はt
lim を越えることはないので、タイムラグを短くするこ
とが可能になる。尚、上述した制限時間tlim は例えば
7msec.程度であり、この値に限られずに設定変更
は可能である。
Thus, the time spent for photometry is t
Since it does not exceed lim , the time lag can be reduced. The above-mentioned time limit t lim is, for example, 7 msec. And the setting can be changed without being limited to this value.

【0038】ここで、図3のフローチャートを参照し
て、第1の実施の形態に於ける測光動作について説明す
る。初めに、ステップS1に於いて、CPU1内の図示
されないタイマがリセットされる。次いで、ステップS
2にて、リセット信号がローレベルからハイレベルに変
化して所定時間出力される。それと共に、積分トランジ
スタ35が所定時間オンされる。これによって、積分コ
ンデンサ33がリセット、すなわち電荷が放電される。
Here, the photometric operation in the first embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. First, in step S1, a timer (not shown) in the CPU 1 is reset. Then, step S
At 2, the reset signal changes from a low level to a high level and is output for a predetermined time. At the same time, the integration transistor 35 is turned on for a predetermined time. As a result, the integration capacitor 33 is reset, that is, the electric charge is discharged.

【0039】その後、ステップS3で上記タイマがスタ
ートされると、ステップS4に進んで上記積分コンデン
サ33の値がA/D変換されて、積分電圧が読込まれ
る。ここで、ステップS5に於いて、上記タイマがスタ
ートされてから上述した制限時間tlim が経過したか否
かが判断される。制限時間tlim が経過していなけれ
ば、ステップS6に進んで、積分電圧が所定の閾値電圧
THに達したか否かが判断される。閾値電圧VTHに達し
ていない場合には上記ステップS4に戻り、上述したス
テップS4〜S6が繰り返される。
Thereafter, when the timer is started in step S3, the process proceeds to step S4, where the value of the integration capacitor 33 is A / D converted, and the integration voltage is read. Here, in step S5, it is determined whether or not the above-described time limit t lim has elapsed since the start of the timer. If the time limit t lim has not elapsed, the process proceeds to step S6, and it is determined whether or not the integrated voltage has reached a predetermined threshold voltage V TH . If it does not reach the threshold voltage V TH is returned to step S4, steps are repeated S4~S6 described above.

【0040】一方、上記ステップS6で閾値電圧VTH
達したと判断された場合には、ステップS7に進んで、
その時点でのタイマ値tが読込まれる。一方、積分コン
デンサ33の充電中で積分電圧が上記閾値電圧VTHに達
するより前に制限時間tlim に達してしまった場合は、
ステップS5からステップS8に移行する。
On the other hand, if it is determined in step S6 that the threshold voltage VTH has been reached, the process proceeds to step S7,
The timer value t at that time is read. On the other hand, when the integration voltage reaches the time limit t lim before the integration voltage reaches the threshold voltage V TH during charging of the integration capacitor 33,
The process moves from step S5 to step S8.

【0041】そして、このステップS8に於いて、積分
コンデンサ33の充電完了時間が予測演算時間として、
上記(1)式により求められる。次いで、ステップS9
にて、予測演算時間tcal がタイマ値tに置換えられて
読込まれる。
In step S8, the charging completion time of the integrating capacitor 33 is calculated as a predicted calculation time.
It is obtained by the above equation (1). Next, step S9
, The predicted operation time t cal is read in place of the timer value t.

【0042】こうしてタイマ値tが読込まれたならば、
ステップS10に進んでタイマ値tが被写体輝度値BV
に変換される。すなわち、タイマ値tが対数圧縮された
後に、被写体輝度値BVに換算される。
When the timer value t is read in this way,
Proceeding to step S10, the timer value t becomes the subject brightness value BV
Is converted to That is, after the timer value t is logarithmically compressed, it is converted into the subject brightness value BV.

【0043】このようにして、積分コンデンサ33の充
電時間を、所定の制限時間を越えた場合には演算により
求めるようにしたので、低輝度時でもタイムラグが長く
なることなく測光が可能となる。
As described above, when the charging time of the integrating capacitor 33 exceeds the predetermined time limit, the charging time is obtained by the calculation, so that the photometry can be performed without increasing the time lag even at a low luminance.

【0044】尚、上述した実施の形態では、積分コンデ
ンサを一旦放電した後に光電流で充電するようにしてい
るが、これに限られるものではない。例えば、Vccで一
旦充電した後に光電流で放電(逆積分)し、所定電圧ま
で低下する時間を計測するようにしても良い。
In the above-described embodiment, the integration capacitor is once discharged and then charged with the photocurrent. However, the present invention is not limited to this. For example, the battery may be charged once at Vcc, then discharged (inversely integrated) with a photocurrent, and the time required to decrease to a predetermined voltage may be measured.

【0045】また、第1の実施の形態では所定の閾値電
圧VTHや制限時間tlim を固定値としてCPU内部の図
示されないROMに記憶するようにしているが、フォト
ダイオードや積分コンデンサのばらつきを考慮して、装
置毎に設定しても良い。
In the first embodiment, the predetermined threshold voltage V TH and the limit time t lim are stored as fixed values in a ROM (not shown) inside the CPU. Considering this, the setting may be made for each device.

【0046】例えば、所定輝度の被写体に対する積分特
性を測定し、それに応じて最適の閾値電圧VTHや制限時
間tlim を設定すると共に、その値をEEPROMに記
憶して於いて測光プログラムの初期段階で読出すように
しても良い。
For example, an integral characteristic of a subject having a predetermined luminance is measured, and an optimum threshold voltage V TH and a limit time t lim are set in accordance with the measured characteristics. May be read.

【0047】また、撮影状況や露出モードによっては、
タイムラグよりも測光精度の方を重視したい場合もあ
る。この場合は、撮影モードに応じて閾値電圧VTHや制
限時間tlim の値を設定するようにすれば、撮影者にと
って、より使いやすいものとなる。
Also, depending on the shooting conditions and the exposure mode,
In some cases, it may be desirable to give more importance to photometric accuracy than to time lag. In this case, if the values of the threshold voltage V TH and the time limit t lim are set according to the shooting mode, it becomes easier for the photographer to use.

【0048】第2の実施の形態は、こうした撮影モード
等を考慮した場合の制限時間tlimの設定の一例であ
る。図4は、この発明の第2の実施の形態で、測光装置
の制限時間tlim 設定動作の一例を説明するフローチャ
ートである。
The second embodiment is an example of the setting of the time limit t lim in consideration of such a photographing mode and the like. FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of the operation of setting the time limit t lim of the photometric device according to the second embodiment of the present invention.

【0049】ステップS11〜S13に於いて、カメラ
の設定モードが、夜景モードであるか(ステップS1
1)、ストロボオフモードであるか(ステップS1
2)、セルフリモコンモードであるか(ステップS1
3)が判断される。上記ステップS11〜S13に於い
て何れかのモードに該当する場合は、ステップS18に
進んで、制限時間tlim が所定の“C”という時間に設
定される。
In steps S11 to S13, it is determined whether the setting mode of the camera is the night scene mode (step S1).
1) Whether the flash mode is off (step S1)
2) Whether the mode is the self-remote control mode (step S1)
3) is determined. If any of the modes in steps S11 to S13 is applicable, the process proceeds to step S18, and the time limit t lim is set to a predetermined time “C”.

【0050】上記ステップS11〜S13の各ステップ
で、何れのモードでもない場合は、次にステップS14
にて連写モードであるか否かが判断される。ここで、連
写モードでない場合は、続くステップS15にてタイム
ラグ短縮モードであるか否かが判断される。
If it is determined in each of the steps S11 to S13 that the mode is not any of the modes, the process proceeds to the step S14.
It is determined whether is in the continuous shooting mode. Here, if the mode is not the continuous shooting mode, it is determined in a succeeding step S15 whether or not the mode is the time lag reduction mode.

【0051】上記ステップS14及びS15に於いて、
何れかのモードに該当する場合は、ステップS16に進
んで、制限時間tlim が所定の“A”という時間に設定
される。一方、上記ステップS14及びS15に於い
て、何れのモードにも該当しない場合は、ステップS1
7に進んで、制限時間tlim が所定の“B”という時間
に設定される。
In steps S14 and S15,
If it corresponds to any of the modes, the process proceeds to step S16, and the time limit t lim is set to a predetermined time “A”. On the other hand, if it is determined in steps S14 and S15 that none of the modes is applicable, step S1
Proceeding to 7, the time limit t lim is set to a predetermined time “B”.

【0052】このように、この制限時間tlim 設定のル
ーチンでは、ステップS16〜S18に於いて、各種モ
ードに応じて3種類の設定時間が変更可能である。この
場合、通常の積分制限時間をB[msec.]として、
A<B<Cの関係に設定される。
As described above, in the routine for setting the time limit t lim , three types of set times can be changed in steps S16 to S18 according to various modes. In this case, the normal integration limit time is set to B [msec. ]
The relationship is set as A <B <C.

【0053】この後、測光のルーチンが開始されるが、
図3のフローチャートを実行すれば良いので、ここでの
説明は省略する。尚、上記制限時間tlim の設定を変更
可能な各種モードは、上述した例に限定されないのは勿
論である。
Thereafter, a photometry routine is started.
Since the flowchart of FIG. 3 may be executed, the description thereof will be omitted. The various modes in which the setting of the time limit t lim can be changed are not limited to the above examples.

【0054】次に、図5のフローチャートを参照して、
この発明の第3の実施の形態について説明する。上述し
た第2の実施の形態では、カメラモードに応じて積分コ
ンデンサの制限時間tlim を切換えた後に測光を行うよ
うにしていが、この第3の実施の形態では、被写体輝度
に応じて再測光を行うようにしたものである。
Next, referring to the flowchart of FIG.
A third embodiment of the present invention will be described. In the above-described second embodiment, photometry is performed after switching the limiting time t lim of the integration capacitor according to the camera mode. However, in the third embodiment, photometry is performed again according to the subject brightness. Is performed.

【0055】先ず、ステップS21にて、通常の積分制
限時間であるBがtlim に設定される。次いで、ステッ
プS22にて測光が開始される。この場合、上述した図
3の測光ルーチンを実行すれば良いので、ここでの説明
は省略する。
First, in step S21, B, which is a normal integration limit time, is set to t lim . Next, photometry is started in step S22. In this case, the photometry routine of FIG. 3 described above may be executed, and a description thereof will be omitted.

【0056】そして、ステップS23に於いて、積分制
限時間tlim が経過したか否かが判断される。ここで、
まだ積分制限時間tlim が経過していないと判断されれ
ば、測光値が確定したものとして測光が完了する。ま
た、積分制限時間tlim が経過した場合は、ステップS
24に進んで再測光が行われたか否かが判断される。
Then, in step S23, it is determined whether or not the integration limit time t lim has elapsed. here,
If it is determined that the integration limit time t lim has not yet elapsed, the photometry is completed assuming that the photometric value has been determined. If the integration limit time t lim has elapsed, step S
Proceeding to 24, it is determined whether re-photometry has been performed.

【0057】このステップS24で再測光済と判断され
た場合は、測光が完了する。一方、再測光済でない場合
は、ステップS25に進んで積分制限時間tlim に低輝
度時の値“D”が設定される。この後、ステップS22
に戻って再測光が開始される。
If it is determined in step S24 that the photometry has been completed, the photometry is completed. On the other hand, if the photometry has not been performed again, the process proceeds to step S25, and the value “D” at the time of low luminance is set to the integration limit time t lim . Thereafter, step S22
And the photometry is started again.

【0058】このように、一旦測光が行われた後、被写
体輝度に応じて積分制限時間を再設定することもでき
る。尚、この発明の上記実施態様によれば、以下の如き
構成を得ることができる。
As described above, once the photometry is performed, the integration limit time can be reset according to the luminance of the subject. According to the above embodiment of the present invention, the following configuration can be obtained.

【0059】すなわち、(1) 入射光量に応じた光電
流を出力する受光素子と、 この受光素子から出力される光電流を積分する積分コン
デンサと、この積分コンデンサの積分電圧を検出する検
出手段と、上記積分コンデンサの積分開始からの時間を
計測する計時手段と、この計時手段による計測中で所定
時間が経過する以前に上記積分電圧が所定電圧値に達し
た場合には、上記計時手段の計時データに基いて被写体
輝度データを演算し、上記積分電圧が上記所定電圧値に
達する以前に上記計時手段による計測が上記所定時間を
経過した場合には、上記所定電圧値と上記所定時間と上
記検出手段による検出電圧値とから上記被写体輝度デー
タを演算する演算手段と、を具備することを特徴とする
測光装置。
That is, (1) a light receiving element for outputting a photocurrent corresponding to the amount of incident light, an integrating capacitor for integrating the photocurrent output from the light receiving element, and a detecting means for detecting an integrated voltage of the integrating capacitor. A timer for measuring the time from the start of integration of the integrating capacitor; and, when the integrated voltage reaches a predetermined voltage value before a predetermined time elapses during the measurement by the timer, the timer of the timer is used. Subject brightness data is calculated based on the data, and if the measurement by the timing means has passed the predetermined time before the integrated voltage reaches the predetermined voltage value, the predetermined voltage value, the predetermined time, and the detection Calculating means for calculating the subject luminance data from the voltage detected by the means.

【0060】(2) 上記所定時間は、測光モードに応
じて設定変更可能であることを特徴とする上記(1)に
記載の測光装置。 (3) 受光素子から出力される光電流を積分コンデン
サで積分し、その積分電圧が所定値に達するまでの時間
データに基いて被写体輝度データを出力する測光装置に
於いて、上記積分の開始から所定時間が経過しても上記
積分コンデンサの積分電圧が上記所定値に達しない場合
には、上記所定時間値とその時点での積分電圧値とから
上記所定電圧に達するまでの時間を予測演算する予測演
算手段を具備することを特徴とする測光装置。
(2) The photometric device according to (1), wherein the predetermined time can be changed according to a photometric mode. (3) In a photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined value, from the start of the integration. When the integral voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after the lapse of the predetermined time, a time until the predetermined voltage is reached is calculated from the predetermined time value and the integrated voltage value at that time. A photometric device comprising a predictive calculation means.

【0061】(4) 上記所定時間は、測光モードに応
じて設定変更可能であることを特徴とする上記(3)に
記載の測光装置。 (5) 受光素子から出力される光電流を積分コンデン
サで積分し、その積分電圧が所定値に達するまでの時間
データに基いて被写体輝度データを出力する測光装置に
於いて、上記積分の開始から所定時間が経過しても上記
積分コンデンサの積分電圧が上記所定値に達しない場合
には、その時点での積分電圧に基いて上記被写体輝度デ
ータを演算する輝度演算手段を具備することを特徴とす
る測光装置。
(4) The photometric device according to (3), wherein the predetermined time can be changed according to the photometric mode. (5) In a photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined value, from the start of the integration. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed, the image processing apparatus further includes a luminance calculating unit that calculates the subject luminance data based on the integrated voltage at that time. Photometric device.

【0062】(6) 上記所定時間は、測光モードに応
じて設定変更可能であることを特徴とする上記(5)に
記載の測光装置。 (7) 受光素子から出力される光電流を積分コンデン
サで積分し、その積分電圧が所定電圧値に達するまでの
時間データに基いて被写体輝度データを出力する測光方
法に於いて、上記積分電圧が上記所定電圧値に達する以
前に、上記積分コンデンサによる積分の開始から所定時
間が経過した場合には、上記所定時間値とその時点での
積分電圧値とから上記所定電圧値に達するまでの時間を
予測演算することを特徴とする測光方法。
(6) The photometric device according to (5), wherein the predetermined time can be changed according to the photometric mode. (7) In a photometry method in which a photocurrent output from a light receiving element is integrated by an integration capacitor and subject brightness data is output based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value, the integrated voltage is If a predetermined time has elapsed from the start of the integration by the integrating capacitor before reaching the predetermined voltage value, the time required to reach the predetermined voltage value from the predetermined time value and the integrated voltage value at that time is determined. A photometric method characterized by performing a prediction operation.

【0063】(8) 上記所定時間は、測光モードに応
じて設定変更可能であることを特徴とする上記(7)に
記載の測光方法。 (9) 上記所定時間は、上記被写体輝度に応じて再設
定可能であることを特徴とする上記(8)に記載の測光
方法。
(8) The photometric method according to (7), wherein the setting of the predetermined time can be changed according to a photometric mode. (9) The photometric method according to (8), wherein the predetermined time can be reset according to the subject brightness.

【0064】(10) 受光素子から出力される光電流
を積分コンデンサで積分し、その積分電圧が所定電圧値
に達するまでの時間データに基いて被写体輝度データを
得る測光方法に於いて、上記積分コンデンサの積分電圧
をリセットして、所定の計測時間を開始させる第1のス
テップと、上記積分電圧が上記所定電圧値に達する以前
に、上記積分コンデンサによる積分の開始から所定時間
が経過したか否かを判断する第2のステップと、この第
2のステップにて上記所定時間が経過した場合に、その
時点での積分電圧値に基いて上記積分電圧が上記所定電
圧値に達するまでの時間を予測演算する第3のステップ
とを具備することを特徴とする測光方法。
(10) In the photometry method, a photocurrent output from a light receiving element is integrated by an integration capacitor, and subject brightness data is obtained based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. A first step of resetting an integrated voltage of a capacitor and starting a predetermined measuring time; and determining whether a predetermined time has elapsed from the start of integration by the integrating capacitor before the integrated voltage reaches the predetermined voltage value. A second step of judging whether the predetermined time has elapsed in the second step and a time until the integrated voltage reaches the predetermined voltage value based on the integrated voltage value at that time. A third step of performing a prediction operation.

【0065】(11) 上記所定時間は、測光モードに
応じて設定変更可能であることを特徴とする上記(1
0)に記載の測光方法。 (12) 上記所定時間は、上記被写体輝度に応じて再
設定可能であることを特徴とする上記(10)に記載の
測光方法。
(11) The predetermined time can be changed according to the photometry mode.
The photometric method according to 0). (12) The photometric method according to (10), wherein the predetermined time can be reset according to the brightness of the subject.

【0066】(13) 受光素子から出力される光電流
を積分コンデンサで積分し、その積分電圧が所定値に達
するまでの時間データに基いて被写体輝度データを出力
する測光装置を有するカメラに於いて、上記積分の開始
から所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積分電
圧が上記所定値に達しない場合には、上記所定時間値と
その時点での積分電圧値とから上記所定電圧に達するま
での時間を予測演算する予測演算手段を具備することを
特徴とするカメラ。
(13) In a camera having a photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined value. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, the integration voltage is calculated from the predetermined time value and the integrated voltage value at that time until the predetermined voltage is reached. A prediction calculation means for predicting calculation of the time.

【0067】(14) 上記所定時間は、カメラの撮影
モードに応じて設定変更可能であることを特徴とする上
記(13)に記載のカメラ。 (15) 上記所定時間は、被写体輝度に応じて再設定
可能であることを特徴とする上記(13)に記載のカメ
ラ。
(14) The camera according to (13), wherein the setting of the predetermined time can be changed according to the shooting mode of the camera. (15) The camera according to (13), wherein the predetermined time can be reset according to a subject luminance.

【0068】(16) 受光素子から出力される光電流
を積分コンデンサで積分し、その積分電圧が所定値に達
するまでの時間データに基いて被写体輝度データを出力
する測光装置を有するカメラに於いて、上記積分の開始
から所定時間が経過しても上記積分コンデンサの積分電
圧が上記所定値に達しない場合には、その時点での積分
電圧に基いて上記被写体輝度データを演算する輝度演算
手段を具備することを特徴とする測光装置。
(16) In a camera having a photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined value. If the integration voltage of the integration capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed from the start of the integration, the brightness calculation means for calculating the subject brightness data based on the integration voltage at that time is provided. A photometric device, comprising:

【0069】(17) 上記所定時間は、カメラの撮影
モードに応じて設定変更可能であることを特徴とする上
記(16)に記載のカメラ。 (18) 上記所定時間は、被写体輝度に応じて再設定
可能であることを特徴とする上記(16)に記載のカメ
ラ。
(17) The camera according to (16), wherein the setting of the predetermined time can be changed according to a shooting mode of the camera. (18) The camera according to (16), wherein the predetermined time can be reset according to a subject luminance.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、被写体
が低輝度であってもレリーズタイムラグが長くなること
なく、使い勝手の良い測光装置を提供することができ
る。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide an easy-to-use photometric device without increasing the release time lag even if the subject has low luminance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の第1の実施の形態を示す測光装置を
有したカメラのブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a camera having a photometric device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】測光装置の動作を説明するもので、(a)は被
写体輝度が低輝度でない、通常の輝度の場合の動作を説
明するタイミングチャート、(b)は被写体輝度が低輝
度の場合の動作を説明するフローチャートである。
FIGS. 2A and 2B are diagrams illustrating an operation of the photometric device, in which FIG. 2A is a timing chart illustrating an operation when the subject brightness is not low and the brightness is normal, and FIG. It is a flowchart explaining an operation.

【図3】第1の実施の形態に於ける測光動作を説明する
フローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a photometry operation according to the first embodiment.

【図4】この発明の第2の実施の形態で、測光装置の制
限時間tlim 設定動作の一例を説明するフローチャート
である。
FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of a time limit setting operation of a photometric device according to a second embodiment of the present invention.

【図5】この発明の第3の実施の形態で、被写体輝度に
応じて再測光を行う動作を説明するフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart illustrating an operation of performing re-photometry according to a subject luminance in the third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CPU、 2 AF用IC、 3 IRED、 4 PSD、 5 投受光器、 6 EEPROM、 7 インターフェース、 8 電源安定化回路、 9 モータドライバ、 10 プランジャードライバ、 11 フィルム給送用モータ、 12 撮影レンズ駆動用モータ、 13、14、16 エンコーダ、 15 プランジャー、 17 DX回路、 18 ストロボユニット、 19 液晶表示パネル、 20 日付写し込み回路、 21 リセットIC、 22 ファーストレリーズスイッチ(R1SW)、 23 セカンドレリーズスイッチ(R2SW)、 24 ストロボモード切換スイッチ(FLSSW)、 25 セルフタイマスイッチ(SLSW)、 26 強制巻戻しスイッチ(RWMSW)、 27 バリアスイッチ(BRSW)、 28 裏蓋スイッチ(BKSW)、 29、30、31 発光ダイオード、 32 フォトダイオード、 33 積分コンデンサ、 34 A/D変換回路、 35 積分トランジスタ。 1 CPU, 2 AF IC, 3 IRED, 4 PSD, 5 Emitter / Receiver, 6 EEPROM, 7 Interface, 8 Power Supply Stabilizing Circuit, 9 Motor Driver, 10 Plunger Driver, 11 Film Feeding Motor, 12 Photographing Lens Drive motor, 13, 14, 16 encoder, 15 plunger, 17 DX circuit, 18 strobe unit, 19 liquid crystal display panel, 20 date imprinting circuit, 21 reset IC, 22 first release switch (R1SW), 23 second release switch (R2SW), 24 strobe mode switch (FLSSW), 25 self-timer switch (SLSW), 26 forced rewind switch (RWMSW), 27 barrier switch (BRSW), 28 back cover switch (BKSW), 29, 30 , 31 light emitting diode, 32 photodiode, 33 integrating capacitor, 34 A / D conversion circuit, 35 integrating transistor.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入射光量に応じた光電流を積分する積分
コンデンサと、 この積分コンデンサの電圧を検出する検出手段と、 上記積分コンデンサの積分開始からの計測時間を計測す
る計時手段と、 この計時手段による計測が所定時間経過する以前に上記
積分電圧が所定電圧値に達した場合には上記計時手段の
計時データに基いて被写体輝度データを演算し、上記積
分電圧が上記所定電圧値に達する以前に上記所定時間が
経過した場合には上記所定電圧値と上記所定時間と上記
検出手段による検出電圧値とから上記被写体輝度データ
を演算する演算手段と、 を具備することを特徴とする測光装置。
1. An integrating capacitor for integrating a photocurrent according to the amount of incident light, a detecting means for detecting a voltage of the integrating capacitor, a time measuring means for measuring a measuring time from the start of integration of the integrating capacitor; If the integrated voltage has reached a predetermined voltage value before the measurement by the means has passed a predetermined time, subject brightness data is calculated based on the time measurement data of the time measurement means, and before the integrated voltage reaches the predetermined voltage value. And a calculating means for calculating the subject brightness data from the predetermined voltage value, the predetermined time, and the voltage value detected by the detecting means when the predetermined time has elapsed.
【請求項2】 受光素子から出力される光電流を積分コ
ンデンサで積分し、その積分電圧が所定電圧値に達する
までの時間データに基いて被写体輝度データを出力する
測光装置に於いて、 上記積分の開始から所定時間が経過しても上記積分コン
デンサの積分電圧が上記所定値に達しない場合には、上
記所定時間値とその時点での積分電圧値とから上記所定
電圧に達するまでの時間を予測演算する予測演算手段
と、 この予測演算手段で演算された時間に基いて被写体輝度
データを演算する輝度演算手段と、 を具備することを特徴とする測光装置。
2. A photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined value even after a predetermined time has elapsed since the start of the operation, the time required to reach the predetermined voltage from the predetermined time value and the integrated voltage value at that time is determined. A photometric device, comprising: a prediction calculation unit that performs a prediction calculation; and a luminance calculation unit that calculates subject brightness data based on the time calculated by the prediction calculation unit.
【請求項3】 受光素子から出力される光電流を積分コ
ンデンサで積分し、その積分電圧が所定電圧値に達する
までの時間データに基いて被写体輝度データを出力する
測光装置に於いて、 上記積分の開始から所定時間が経過しても上記積分コン
デンサの積分電圧が上記所定電圧値に達しない場合に
は、その時点での積分電圧に基いて上記被写体輝度デー
タを演算する輝度演算手段を具備することを特徴とする
測光装置。
3. A photometric device that integrates a photocurrent output from a light receiving element with an integrating capacitor and outputs subject luminance data based on time data until the integrated voltage reaches a predetermined voltage value. If the integrated voltage of the integrating capacitor does not reach the predetermined voltage value even after a predetermined time has elapsed from the start of the process, a brightness calculating means for calculating the subject brightness data based on the integrated voltage at that time is provided. A photometric device, characterized in that:
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008241511A (en) * 2007-03-28 2008-10-09 Epson Imaging Devices Corp Optical detector and electro-optical apparatus
JP2009508102A (en) * 2005-09-08 2009-02-26 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Low current measurement with high dynamic range for optical imaging
JP2011257296A (en) * 2010-06-10 2011-12-22 Hioki Ee Corp Image sensor, spectral instrument, and method of operating image sensor

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