JPH05269106A - 磁気共鳴方法および装置 - Google Patents
磁気共鳴方法および装置Info
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- JPH05269106A JPH05269106A JP4211418A JP21141892A JPH05269106A JP H05269106 A JPH05269106 A JP H05269106A JP 4211418 A JP4211418 A JP 4211418A JP 21141892 A JP21141892 A JP 21141892A JP H05269106 A JPH05269106 A JP H05269106A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/561—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/483—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy
- G01R33/485—NMR imaging systems with selection of signals or spectra from particular regions of the volume, e.g. in vivo spectroscopy based on chemical shift information [CSI] or spectroscopic imaging, e.g. to acquire the spatial distributions of metabolites
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 スピンエコー法のパルスシーケンスによりス
ペクトロスコピックのイメージングを行う際、従来より
もＴＥを大幅に短縮することにある。 【構成】 スピンエコー法のパルスシーケンスを実施す
る際、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダウン
され零レベルになった直後に非選択励起パルスを印加
し、この直後にスライス用傾斜磁場を選択励起時と同極
性にとって印加する制御を行うシーケンス制御手段（コ
ンピューシステム１及びシーケンサ２）を、具備するこ
とを特徴とする。
ペクトロスコピックのイメージングを行う際、従来より
もＴＥを大幅に短縮することにある。 【構成】 スピンエコー法のパルスシーケンスを実施す
る際、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダウン
され零レベルになった直後に非選択励起パルスを印加
し、この直後にスライス用傾斜磁場を選択励起時と同極
性にとって印加する制御を行うシーケンス制御手段（コ
ンピューシステム１及びシーケンサ２）を、具備するこ
とを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、静磁場の中に配置され
た被検体に対しＲＦパルス及び傾斜磁場を印加し、これ
により被検体に励起された磁気共鳴信号を収集してスペ
クトロスコピックイメージングや、断層像のイメージン
グを行う磁気共鳴方法および装置に関する。
た被検体に対しＲＦパルス及び傾斜磁場を印加し、これ
により被検体に励起された磁気共鳴信号を収集してスペ
クトロスコピックイメージングや、断層像のイメージン
グを行う磁気共鳴方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気共鳴装置において選択励起を
作ったスペクトロスコピックイメージング（ＭＲＳＩ）
を行う場合、選択励起を使ったＦＩＤ（free induction
decay）法とスピンエコー法を用いたパルスシーンスと
がある。例えば、ＦＩＤ法のパルスシーケンスによるス
ペクトロスコピックイメージングは、直交３軸方向傾斜
磁場のうち、１つをスライス用傾斜磁場とし、他の２つ
を位相エンコード用傾斜磁場とする関係で、選択励起時
に印加されたスライス用傾斜磁場がランプダウンされ零
レベルに達し、その後rephase 用スライス傾斜磁場と同
時に位相エンコード用傾斜磁場を印加してその終了直後
にＦＩＤ信号をデータ収集するものである。この場合、
選択励起パルスの中心から、データ収集開始までの時
間、すなわち、ディレイタイムが生じ、ディレイタイム
の間のＦＩＤ信号を収集できないので、スペクトラにベ
ースラインの歪が生じる。またディレイタイムが長いと
Ｔ2 の短い成分からのシグナルは衰退してしまい、検出
できない。
作ったスペクトロスコピックイメージング（ＭＲＳＩ）
を行う場合、選択励起を使ったＦＩＤ（free induction
decay）法とスピンエコー法を用いたパルスシーンスと
がある。例えば、ＦＩＤ法のパルスシーケンスによるス
ペクトロスコピックイメージングは、直交３軸方向傾斜
磁場のうち、１つをスライス用傾斜磁場とし、他の２つ
を位相エンコード用傾斜磁場とする関係で、選択励起時
に印加されたスライス用傾斜磁場がランプダウンされ零
レベルに達し、その後rephase 用スライス傾斜磁場と同
時に位相エンコード用傾斜磁場を印加してその終了直後
にＦＩＤ信号をデータ収集するものである。この場合、
選択励起パルスの中心から、データ収集開始までの時
間、すなわち、ディレイタイムが生じ、ディレイタイム
の間のＦＩＤ信号を収集できないので、スペクトラにベ
ースラインの歪が生じる。またディレイタイムが長いと
Ｔ2 の短い成分からのシグナルは衰退してしまい、検出
できない。
【０００３】また、スピンエコー法のシーケンスを用い
たスペクトロスコピックイメージングの場合、選択励起
９０°パルスが印加されてＴＥ（エコー時間）／２経過
後に非選択１８０°パルスを入れ、この後ＴＥ／２経過
した後にデータ収を行う。このスピンエコー法のパルス
シーケンスによるスペクトロスコピックイメージングも
直交３軸方向傾斜磁場の取扱いは上記と同様であるが、
非選択励起１８０°パルスの印加後ＴＥ／２経過した後
にスピンエコーをデータ収集するものである。この場
合、磁場の不均一性によって選択励起後に生じるスピン
のDephasing が非選択１８０°パルスによってリフォー
カスされエコー信号のピークからデータ収集することが
できるからベースライン歪がなくなるという利点があ
る。
たスペクトロスコピックイメージングの場合、選択励起
９０°パルスが印加されてＴＥ（エコー時間）／２経過
後に非選択１８０°パルスを入れ、この後ＴＥ／２経過
した後にデータ収を行う。このスピンエコー法のパルス
シーケンスによるスペクトロスコピックイメージングも
直交３軸方向傾斜磁場の取扱いは上記と同様であるが、
非選択励起１８０°パルスの印加後ＴＥ／２経過した後
にスピンエコーをデータ収集するものである。この場
合、磁場の不均一性によって選択励起後に生じるスピン
のDephasing が非選択１８０°パルスによってリフォー
カスされエコー信号のピークからデータ収集することが
できるからベースライン歪がなくなるという利点があ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ようにスピンエコー法のパルスシーケンスを適用してス
ペクトロスコピックイメージングを行った場合において
は、選択励起用スライス傾斜磁場をかけ、その傾斜磁場
によるdephase 分を反対極性の傾斜磁場によりコンペン
セーションした後非選択励起１８０°パルスを入れる関
係となるから、ＴＥを大幅に短縮することができない。
例えば選択励起時のスライス用傾斜磁場の印加時間を可
及的に短縮させても、ＴＥが僅かに短くなるだけであ
る。従って、ＴＥが長いため、Ｔ2 の短い成分のシグナ
ルではＳ／Ｎが低いという不具合があった。
ようにスピンエコー法のパルスシーケンスを適用してス
ペクトロスコピックイメージングを行った場合において
は、選択励起用スライス傾斜磁場をかけ、その傾斜磁場
によるdephase 分を反対極性の傾斜磁場によりコンペン
セーションした後非選択励起１８０°パルスを入れる関
係となるから、ＴＥを大幅に短縮することができない。
例えば選択励起時のスライス用傾斜磁場の印加時間を可
及的に短縮させても、ＴＥが僅かに短くなるだけであ
る。従って、ＴＥが長いため、Ｔ2 の短い成分のシグナ
ルではＳ／Ｎが低いという不具合があった。
【０００５】本発明は、上記事情に着目してなされたも
ので、その目的とするところは、スピンエコー法のパル
スシーケンスによりスペクトロスコピックのイメージン
グを行う際、従来よりもＴＥを大幅に短縮することにあ
る。
ので、その目的とするところは、スピンエコー法のパル
スシーケンスによりスペクトロスコピックのイメージン
グを行う際、従来よりもＴＥを大幅に短縮することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、スピンエコー法のパルスシーケンスを実
施する際、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダ
ウンされ零レベルになった直後に非選択１８０°パルス
を印加し、この直後にrephasing のスライス用傾斜磁場
を選択励起時と同極性にとって印加する制御を行うこと
を特徴とする。
達成するため、スピンエコー法のパルスシーケンスを実
施する際、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダ
ウンされ零レベルになった直後に非選択１８０°パルス
を印加し、この直後にrephasing のスライス用傾斜磁場
を選択励起時と同極性にとって印加する制御を行うこと
を特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明による磁気共鳴方法および装置の構成で
あれば、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダウ
ンされ零レベルとなった直後に非選択１８０°パルスを
入れるので、スピンのＴ2 緩和が小さいきに非選択１８
０°パルスを入れることができる。よって、ＴＥが従来
よりも大幅に短縮され、Ｔ2 の短い成分のシグナルのＳ
／Ｎが改善される。また、選択励起時のスライス用傾斜
磁場によってdephase されたスピンは、非選択１８０°
パルスの印加を直後に選択励起時と同極性のスライス用
傾斜磁場を印加してスピンをリフェーズ（rephase ）す
ることにより補償される。この条件下でスピンエコー法
によるデータ収集がなされるため、データ収集がエコー
のピークから開始されることもあいまってＦＩＤ法のデ
ータ収集の如く信号のピーク付近のデータを収集できな
いということがなくなり、スペクトラにベースラインの
歪は無くなる。
あれば、選択励起時のスライス用傾斜磁場がランプダウ
ンされ零レベルとなった直後に非選択１８０°パルスを
入れるので、スピンのＴ2 緩和が小さいきに非選択１８
０°パルスを入れることができる。よって、ＴＥが従来
よりも大幅に短縮され、Ｔ2 の短い成分のシグナルのＳ
／Ｎが改善される。また、選択励起時のスライス用傾斜
磁場によってdephase されたスピンは、非選択１８０°
パルスの印加を直後に選択励起時と同極性のスライス用
傾斜磁場を印加してスピンをリフェーズ（rephase ）す
ることにより補償される。この条件下でスピンエコー法
によるデータ収集がなされるため、データ収集がエコー
のピークから開始されることもあいまってＦＩＤ法のデ
ータ収集の如く信号のピーク付近のデータを収集できな
いということがなくなり、スペクトラにベースラインの
歪は無くなる。
【０００８】
【実施例】図１は、本発明が適用された磁気共鳴装置の
一実施例の概略構成を示すシステム構成図である。
一実施例の概略構成を示すシステム構成図である。
【０００９】この磁気共鳴装置は、コンピュータシステ
ム１をシステム全体の制御中枢として備えており、コン
ピュータシステム１の制御下でシーケンサ２をシーケン
ス動作させることにより、傾斜磁場電源３及び送信器４
を駆動する。これにより主磁石５の静磁場の中に配置さ
れた被検体Ｐに対し送信コイル６によりＲＦパルスとし
て選択励起９０°パルス及び非選択１８０°パルスを印
加する一方、傾斜磁場コイル７によりＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸
の直交３軸方向の傾斜磁場を印加するようになされてい
る。また、被検体Ｐに励起された磁気共鳴信号（ＭＲ信
号）は、受信コイル８により受信され、受信器９により
検波されてコンピュータシステム１へ送出される。これ
により、コンピュータシステム１において、スペクトロ
スコピックイメージングの場合は、ケミカルシフト情報
が画像としてモニタ１０上に表示され、また断層像を再
構成するイメージングの場合には、再構成された画像が
モニタ１０上に表示される。
ム１をシステム全体の制御中枢として備えており、コン
ピュータシステム１の制御下でシーケンサ２をシーケン
ス動作させることにより、傾斜磁場電源３及び送信器４
を駆動する。これにより主磁石５の静磁場の中に配置さ
れた被検体Ｐに対し送信コイル６によりＲＦパルスとし
て選択励起９０°パルス及び非選択１８０°パルスを印
加する一方、傾斜磁場コイル７によりＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸
の直交３軸方向の傾斜磁場を印加するようになされてい
る。また、被検体Ｐに励起された磁気共鳴信号（ＭＲ信
号）は、受信コイル８により受信され、受信器９により
検波されてコンピュータシステム１へ送出される。これ
により、コンピュータシステム１において、スペクトロ
スコピックイメージングの場合は、ケミカルシフト情報
が画像としてモニタ１０上に表示され、また断層像を再
構成するイメージングの場合には、再構成された画像が
モニタ１０上に表示される。
【００１０】このような各部を備えた構成において、コ
ンピュータシステム１及びシーケンサ２の組合せは、シ
ーケンス制御手段として機能される。即ち、このシーケ
ンス制御手段は、スペクトロスコピックイメージングの
ためにスピンエコー法のパルスシーケンスを実施する
際、選択励起９０°パルスの印加時に、図２のパルスシ
ーケンスのようにスライス用傾斜磁場ＧS を印加し、こ
のスライス用傾斜磁場ＧS がランプダウンされ零レベル
になった直後に、非選択１８０°パルスを印加すること
によりリフォーカスさせる。このように、選択励起９０
°パルスのすぐ後に非選択１８０°パルスを入れること
で、スピンのＴ2 緩和が小さい時にリフォーカスが達成
されるため、ＴＥが短縮される。
ンピュータシステム１及びシーケンサ２の組合せは、シ
ーケンス制御手段として機能される。即ち、このシーケ
ンス制御手段は、スペクトロスコピックイメージングの
ためにスピンエコー法のパルスシーケンスを実施する
際、選択励起９０°パルスの印加時に、図２のパルスシ
ーケンスのようにスライス用傾斜磁場ＧS を印加し、こ
のスライス用傾斜磁場ＧS がランプダウンされ零レベル
になった直後に、非選択１８０°パルスを印加すること
によりリフォーカスさせる。このように、選択励起９０
°パルスのすぐ後に非選択１８０°パルスを入れること
で、スピンのＴ2 緩和が小さい時にリフォーカスが達成
されるため、ＴＥが短縮される。
【００１１】また、非選択励起１８０°パルス直後に選
択励起時と同極性のスライス用傾斜磁場ＧS を印加して
スピンをリフェーズすることで、選択励起時のスライス
用傾斜磁場の補償がなされる。
択励起時と同極性のスライス用傾斜磁場ＧS を印加して
スピンをリフェーズすることで、選択励起時のスライス
用傾斜磁場の補償がなされる。
【００１２】さらに、非選択励起１８０°パルス直後に
入れたスライス用傾斜磁場と同じ時刻に位相エンコード
用傾斜磁場ＧE を他の２軸の一方又は両方の傾斜磁場と
して印加することによりデータ収集期間ＡＣＱにおいて
それぞれ２Ｄおよび３Ｄのケミカルシフトイメージング
のデータ収集を行える。
入れたスライス用傾斜磁場と同じ時刻に位相エンコード
用傾斜磁場ＧE を他の２軸の一方又は両方の傾斜磁場と
して印加することによりデータ収集期間ＡＣＱにおいて
それぞれ２Ｄおよび３Ｄのケミカルシフトイメージング
のデータ収集を行える。
【００１３】このようにしてケミカルシフトイメージン
グのデータ収集を行う際、図２の各タイミング（ａ）〜
（ｄ）において、図３の関心領域ＶＯＩとそのＶＯＩ外
とは図４の（ａ）〜（ｄ）の如くスピンベクトルが変遷
する。
グのデータ収集を行う際、図２の各タイミング（ａ）〜
（ｄ）において、図３の関心領域ＶＯＩとそのＶＯＩ外
とは図４の（ａ）〜（ｄ）の如くスピンベクトルが変遷
する。
【００１４】即ち、図２のタイミング（ａ）の如く選択
励起９０°パルスを印加し、図４の状態（ａ）のスピン
にスライス用傾斜磁場ＧS による位相ずれが生じて図４
の状態（ａ′）となり、ＴＥ／２時間内に更に磁場の不
均一性によるディフェージングにより図４の状態
（ａ′′）となる。この図４の状態（ａ′′）のときに
非選択１８０°パルスを印加して図４の状態（ｂ）の如
くスピン反転後、選択励起時と同極性でスライス用傾斜
磁場ＧS を印加すると、図４の状態（ｃ）の如くリフェ
ーズされ、図２のタイミング（ｄ）では図４の状態
（ｄ）の如くスピンのリフォーカスがなされる。
励起９０°パルスを印加し、図４の状態（ａ）のスピン
にスライス用傾斜磁場ＧS による位相ずれが生じて図４
の状態（ａ′）となり、ＴＥ／２時間内に更に磁場の不
均一性によるディフェージングにより図４の状態
（ａ′′）となる。この図４の状態（ａ′′）のときに
非選択１８０°パルスを印加して図４の状態（ｂ）の如
くスピン反転後、選択励起時と同極性でスライス用傾斜
磁場ＧS を印加すると、図４の状態（ｃ）の如くリフェ
ーズされ、図２のタイミング（ｄ）では図４の状態
（ｄ）の如くスピンのリフォーカスがなされる。
【００１５】そのため、本発明の一実施例によりＴＥ時
間が４ｍｓｅｃに短縮された場合は、従来のスピンエコ
ー法によりＴＥ時間が８〜１０ｍｓｅｃの場合と比較し
て、Ｔ2 緩和による信号強度の減衰が少くなる。即ち、
図５（ａ）に示すように、例えば一定のＴ2 をもつスピ
ンは、τ＝２ｍｓｅｃのとき（ＴＥ＝２τ＝４ｍｓｅｃ
のとき）、２ｍｓｅｃ待つ間にシグナル強度（スピンの
ベクトル量）がＴ2 緩和のため矢印Ａ位置から矢印Ｂ位
置まで減衰する。これに対し、図５（ｂ）に示された従
来技術ではτ＝４ｍｓｅｃのとき（ＴＥ＝２τ＝８ｍｓ
ｅｃのとき）、４ｍｓｅｃ待つ間にシグナル強度がＴ2
緩和のためτ＝２ｍｓｅｃのときよりも更に大きく減衰
し、矢印Ａ位置から矢印Ｃ位置の強度となる。従って、
データ収集時の実質的なシグナル強度は本発明の一実施
例の方が従来よりも大幅に大きくなり、Ｓ／Ｎの改善が
達成される。
間が４ｍｓｅｃに短縮された場合は、従来のスピンエコ
ー法によりＴＥ時間が８〜１０ｍｓｅｃの場合と比較し
て、Ｔ2 緩和による信号強度の減衰が少くなる。即ち、
図５（ａ）に示すように、例えば一定のＴ2 をもつスピ
ンは、τ＝２ｍｓｅｃのとき（ＴＥ＝２τ＝４ｍｓｅｃ
のとき）、２ｍｓｅｃ待つ間にシグナル強度（スピンの
ベクトル量）がＴ2 緩和のため矢印Ａ位置から矢印Ｂ位
置まで減衰する。これに対し、図５（ｂ）に示された従
来技術ではτ＝４ｍｓｅｃのとき（ＴＥ＝２τ＝８ｍｓ
ｅｃのとき）、４ｍｓｅｃ待つ間にシグナル強度がＴ2
緩和のためτ＝２ｍｓｅｃのときよりも更に大きく減衰
し、矢印Ａ位置から矢印Ｃ位置の強度となる。従って、
データ収集時の実質的なシグナル強度は本発明の一実施
例の方が従来よりも大幅に大きくなり、Ｓ／Ｎの改善が
達成される。
【００１６】例えば、ＡＴＰのようなＴ2 が１５ｍｓｅ
ｃの成分の場合、本発明のＴＥ＝４ｍｓｅｃの時と、従
来のＴＥ＝８ｍｓｅｃの時とでは、α＝−２τ／Ｔ2 と
したとき、信号強度［Ｉｎｔ］は、 ［Ｉｎｔ］＝Ａｅα であるので、次のような値となる。
ｃの成分の場合、本発明のＴＥ＝４ｍｓｅｃの時と、従
来のＴＥ＝８ｍｓｅｃの時とでは、α＝−２τ／Ｔ2 と
したとき、信号強度［Ｉｎｔ］は、 ［Ｉｎｔ］＝Ａｅα であるので、次のような値となる。
【００１７】即ち、ＴＥ＝４ｍｓｅｃの時、 ［Ｉｎｔ］A ＝Ａｅ-4msec/15msec ＝０．７７ ＴＥ＝８ｍｓｅｃの時、 ［Ｉｎｔ］B ＝Ａｅ-8msec/15msec ＝０．５９ となる。従って、ノイズレベルが同じと考えると、本発
明の一実施例によると従来よりも、ＴＥ＝１５ｍｓｅｃ
の成分では３０％のＳ／Ｎ向上をなし得ることになる。
また、スピンエコー法を利用してデータ収集するため、
ベースラインの歪補正をしなくても済む。
明の一実施例によると従来よりも、ＴＥ＝１５ｍｓｅｃ
の成分では３０％のＳ／Ｎ向上をなし得ることになる。
また、スピンエコー法を利用してデータ収集するため、
ベースラインの歪補正をしなくても済む。
【００１８】次に、本発明の第２実施例について図６乃
至図８を参照して説明する。
至図８を参照して説明する。
【００１９】第２の実施例のパルスシーケンスは、９０
°−τ−（１８０°−２τ）n-2 −１８０°で表わされ
るＣＰＭＧ（Carr-Purcell-Meiboom-Gill)法とよばれる
パルスシーケンスを本発明に適用したものである。図６
（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）にそれぞれ示すように、繰返し
時間ＴＥをＴＥ1 ，ＴＥ2 ，ＴＥ3 ，…と順次変化させ
て繰り返し、それぞれ信号を収集する。図６ではＴＥ1
＜ＴＥ2 ＜ＴＥ3 ＜…となっている。
°−τ−（１８０°−２τ）n-2 −１８０°で表わされ
るＣＰＭＧ（Carr-Purcell-Meiboom-Gill)法とよばれる
パルスシーケンスを本発明に適用したものである。図６
（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）にそれぞれ示すように、繰返し
時間ＴＥをＴＥ1 ，ＴＥ2 ，ＴＥ3 ，…と順次変化させ
て繰り返し、それぞれ信号を収集する。図６ではＴＥ1
＜ＴＥ2 ＜ＴＥ3 ＜…となっている。
【００２０】ＴＥの長いシーケンスで収集した信号の強
度は、ＴＥの短いシーケスンで収集した信号の強度と比
較して、Ｔ2 緩和の影響により減衰している。この特性
を利用して、第２の実施例では、ＴＥと信号強度の関係
から、次のような計算により各成分ごとのＴ2 値を求め
ることができる。
度は、ＴＥの短いシーケスンで収集した信号の強度と比
較して、Ｔ2 緩和の影響により減衰している。この特性
を利用して、第２の実施例では、ＴＥと信号強度の関係
から、次のような計算により各成分ごとのＴ2 値を求め
ることができる。
【００２１】前述の信号強度を定義した式の両辺の自然
対数をとると、 ｌｎ［Ｉｎｔ］＝ｌｎ［Ａｅ-2τ/T2 ］ ＝ｌｎＡ−ＴＥ／Ｔ2 となる。従って、図７に示すように、横軸にＴＥ、縦軸
にｌｎ［Ｉｎｔ］をとると、プロットした結果は−１／
Ｔ2 を傾きとする直線となる。各成分ごとにこの傾きを
求めることにより、Ｔ2 値を求めることができる。本発
明によれば、従来のパルスシーケンスと比較してＴＥを
短くすることができるので、例えば図８に示したよう
な、リン31Ｐにおけるγ−ＡＴＰ，α−ＡＴＰ，β−Ａ
ＴＰのように、Ｔ2 値が小さく従来のＴＥの長いシーケ
ンスでは検出が困難であった成分についてもＴ2 値を求
めることができる。
対数をとると、 ｌｎ［Ｉｎｔ］＝ｌｎ［Ａｅ-2τ/T2 ］ ＝ｌｎＡ−ＴＥ／Ｔ2 となる。従って、図７に示すように、横軸にＴＥ、縦軸
にｌｎ［Ｉｎｔ］をとると、プロットした結果は−１／
Ｔ2 を傾きとする直線となる。各成分ごとにこの傾きを
求めることにより、Ｔ2 値を求めることができる。本発
明によれば、従来のパルスシーケンスと比較してＴＥを
短くすることができるので、例えば図８に示したよう
な、リン31Ｐにおけるγ−ＡＴＰ，α−ＡＴＰ，β−Ａ
ＴＰのように、Ｔ2 値が小さく従来のＴＥの長いシーケ
ンスでは検出が困難であった成分についてもＴ2 値を求
めることができる。
【００２２】また、上述の本発明の実施例では、スペク
トロスコピックイメージングを行う場合について説明し
たが、本発明は断層像をイメージングする場合にも適用
することができる。この断層像イメージングの場合に
は、位相エンコード用傾斜磁場の印加時にリード用傾斜
磁場ＧR を印加するパルス系列を繰返し実行することに
より行える。但し、この場合は、全エコーを収集できな
いため、図９のように非選択１８０°パルス後、スライ
ス用傾斜磁場ＧS 及び位相エンコード用傾斜磁場ＧE の
印加終了までの間において、リード用傾斜磁場ＧR を負
の方向にランプダウンさせ、そこからクロスさせて正の
方向へランプアップする。そうする事で、半エコー以上
エコーデータを順次収集することになる。
トロスコピックイメージングを行う場合について説明し
たが、本発明は断層像をイメージングする場合にも適用
することができる。この断層像イメージングの場合に
は、位相エンコード用傾斜磁場の印加時にリード用傾斜
磁場ＧR を印加するパルス系列を繰返し実行することに
より行える。但し、この場合は、全エコーを収集できな
いため、図９のように非選択１８０°パルス後、スライ
ス用傾斜磁場ＧS 及び位相エンコード用傾斜磁場ＧE の
印加終了までの間において、リード用傾斜磁場ＧR を負
の方向にランプダウンさせ、そこからクロスさせて正の
方向へランプアップする。そうする事で、半エコー以上
エコーデータを順次収集することになる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明ではスペク
トラのベースライン歪が無いという利点のあるスピンエ
コー法でエコーデータを収集するに際して、非選択１８
０°パルスの印加タイミングを選択励起時のスライス用
傾斜磁場がランプダウンされ零レベルになった直後と
し、また非選択１８０°パルスによりリフォーカスされ
た選択励起時のスライス用傾斜磁場を補償するため、非
選択１８０°パルス直後に選択励起時と同極性のスライ
ス用傾斜磁場を印加してスピンをリフェーズする制御を
行うものである。従って、本発明によれば、スペクトラ
のベースライン補正が不要となり、またＴ2 の短い成分
のＳ／Ｎが従来に比較して大幅に向上される。
トラのベースライン歪が無いという利点のあるスピンエ
コー法でエコーデータを収集するに際して、非選択１８
０°パルスの印加タイミングを選択励起時のスライス用
傾斜磁場がランプダウンされ零レベルになった直後と
し、また非選択１８０°パルスによりリフォーカスされ
た選択励起時のスライス用傾斜磁場を補償するため、非
選択１８０°パルス直後に選択励起時と同極性のスライ
ス用傾斜磁場を印加してスピンをリフェーズする制御を
行うものである。従って、本発明によれば、スペクトラ
のベースライン補正が不要となり、またＴ2 の短い成分
のＳ／Ｎが従来に比較して大幅に向上される。
【図１】本発明が適用された磁気共鳴装置の一実施例の
概略構成を示すシステム構成図である。
概略構成を示すシステム構成図である。
【図２】本発明の第１の実施例で用いたパルスシーケン
スを示すタイミングチャートである。
スを示すタイミングチャートである。
【図３】スペクトロスコピックイメージングにおける関
心領域ＶＯＩの概念を示す図である。
心領域ＶＯＩの概念を示す図である。
【図４】スピンエコー法のパルスシーケンスを実施した
際に現われるスピンベクトルの振る舞いの概念を示す図
である。
際に現われるスピンベクトルの振る舞いの概念を示す図
である。
【図５】Ｔ2 によるシグナル強度の変化を本発明と従来
とで比較するために用いた図である。
とで比較するために用いた図である。
【図６】本発明の第２の実施例で用いたパルスシーケン
スを示すタイミングチャートである。
スを示すタイミングチャートである。
【図７】本発明の第２の実施例におけるｌｎ［Ｉｎｔ］
とＴＥとの関係を示す図である。
とＴＥとの関係を示す図である。
【図８】リン31Ｐのスペクトラムを示す図である。
【図９】本発明の他実施例で用いたパルスシーケンスを
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
１ コンピュータシステム ２ シーケンサ ３ 傾斜磁場電源 ４ 送信器 ５ 主磁石 ６ 送信コイル ７ 傾斜磁場コイル ８ 受信コイル ９ 受信器 １０ モニタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9118−2Ｊ Ｇ０１Ｎ 24/08 Ｙ
Claims (5)
- 【請求項１】 (a) 選択用傾斜磁場を印加するステップ
と、 (b) この選択用傾斜磁場の印加中に高周波励起パルスを
印加するステップと、 (c）前記選択用傾斜磁場の印加後に高周波反転パルスを
印加するステップと、 (d) 前記高周波反転パルス印加後に前記選択用傾斜磁場
と同じ方向にリフェーズ用傾斜磁場を印加するステップ
と、 (e) 発生した磁気共鳴信号を収集するステップとを有す
ることを特徴とする磁気共鳴方法。 - 【請求項２】 ステップ(a) 乃至ステップ(C) の時間間
隔を変えながら前記ステップ(a) 乃至ステップ(e) を繰
返すことを特徴とする請求項１に記載された磁気共鳴方
法。 - 【請求項３】 前記ステップ(d) と同時に、前記選択用
傾斜磁場と直交する２方向に位相エンコード用傾斜磁場
を印加するステップを有することを特徴とする請求項１
に記載された磁気共鳴方法。 - 【請求項４】 前記ステップ(d) と同時に、前記選択用
傾斜磁場と直交する１方向に位相エンコード用傾斜磁場
を印加するステップ、および前記ステップ(e) と同時に
読出し用傾斜磁場を印加するステップとを有することを
特徴とする請求項１に記載された磁気共鳴方法。 - 【請求項５】 静磁場を発生する静磁場発生手段と、 傾斜磁場を発生する傾斜磁場発生手段と、 高周波パルスを送信する送信手段と、 被検体から発生する磁気共鳴信号を受信する受信手段
と、 選択用傾斜磁場と高周波励起パルスを同時に印加し、選
択用傾斜磁場印加後に高周波反転パルスを印加し、高周
波反転パルス印加後に前記選択用傾斜磁場と同じ極性を
有するリフェーズ用傾斜磁場を印加するよう前記傾斜磁
場発生手段および送信手段とを制御する制御手段とを有
することを特徴とする磁気共鳴装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3-201880 | 1991-08-12 | ||
| JP20188091 | 1991-08-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05269106A true JPH05269106A (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=16448389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4211418A Pending JPH05269106A (ja) | 1991-08-12 | 1992-08-07 | 磁気共鳴方法および装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5353794A (ja) |
| EP (1) | EP0527462B1 (ja) |
| JP (1) | JPH05269106A (ja) |
| DE (1) | DE69232532T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2105739A1 (en) | 2008-03-26 | 2009-09-30 | Fujifilm Corporation | Dry analytical element capable of reducing influence of hemolysis for body fluid component measurement |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU7484694A (en) * | 1993-08-13 | 1995-03-14 | Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services, The | Method for magnetic resonance spectroscopic imaging with multiple spin-echoes |
| DE10015265C2 (de) * | 2000-03-28 | 2002-04-11 | Siemens Ag | Spektroskopisches Bildgebungsverfahren für ein Magnetresonanzgerät |
| US6804384B2 (en) | 2001-06-12 | 2004-10-12 | Mclean Hospital Corporation | Color magnetic resonance imaging |
| US10098563B2 (en) * | 2006-11-22 | 2018-10-16 | Toshiba Medical Systems Corporation | Magnetic resonance imaging apparatus |
| US9538936B2 (en) | 2006-11-22 | 2017-01-10 | Toshiba Medical Systems Corporation | MRI apparatus acquires first and second MR data and generates therefrom third image data having higher contrast between blood and background tissues |
| EP2500742A1 (en) * | 2011-03-17 | 2012-09-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Restriction of the imaging region for MRI in an inhomogeneous magnetic field |
| US9687172B2 (en) * | 2012-01-24 | 2017-06-27 | National Institute of Health (NIH), The United States of America, U.S. Dept. of Health and Human Services (DHHS) | System for motion corrected MR diffusion imaging |
| US9008399B2 (en) * | 2013-01-28 | 2015-04-14 | Wisconsin Alumni Research Foundation | System and method for joint reconstruction of spatial and spectral imaging data |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4471306A (en) * | 1982-02-03 | 1984-09-11 | General Electric Company | Method of NMR imaging which overcomes T2 * effects in an inhomogeneous static magnetic field |
| US4484138A (en) * | 1982-07-01 | 1984-11-20 | General Electric Company | Method of eliminating effects of spurious free induction decay NMR signal caused by imperfect 180 degrees RF pulses |
| US4628262A (en) * | 1985-02-05 | 1986-12-09 | Advanced Nmr Systems, Inc. | Multiple echo chemical shift imaging |
| JPS628747A (ja) * | 1985-07-04 | 1987-01-16 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴映像装置 |
| US4714884A (en) * | 1986-06-13 | 1987-12-22 | General Electric Company | Method of eliminating effects of spurious NMR signals caused by imperfect 180 degree RF pulses |
| US4769602A (en) * | 1986-07-02 | 1988-09-06 | Shell Oil Company | Determining multiphase saturations by NMR imaging of multiple nuclides |
| US4740748A (en) * | 1986-12-03 | 1988-04-26 | Advanced Nmr Systems, Inc. | Method of high-speed magnetic resonance imaging |
| JPH0277235A (ja) * | 1988-09-13 | 1990-03-16 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング方法 |
-
1992
- 1992-08-07 JP JP4211418A patent/JPH05269106A/ja active Pending
- 1992-08-10 DE DE69232532T patent/DE69232532T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-08-10 US US07/927,808 patent/US5353794A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-08-10 EP EP92113592A patent/EP0527462B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2105739A1 (en) | 2008-03-26 | 2009-09-30 | Fujifilm Corporation | Dry analytical element capable of reducing influence of hemolysis for body fluid component measurement |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69232532D1 (de) | 2002-05-08 |
| EP0527462A1 (en) | 1993-02-17 |
| EP0527462B1 (en) | 2002-04-03 |
| DE69232532T2 (de) | 2002-11-21 |
| US5353794A (en) | 1994-10-11 |
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