JPH05264357A - Device for correcting sensitivity of infrared image pickup device - Google Patents
Device for correcting sensitivity of infrared image pickup deviceInfo
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- JPH05264357A JPH05264357A JP4060482A JP6048292A JPH05264357A JP H05264357 A JPH05264357 A JP H05264357A JP 4060482 A JP4060482 A JP 4060482A JP 6048292 A JP6048292 A JP 6048292A JP H05264357 A JPH05264357 A JP H05264357A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は赤外線撮像装置、特に、
赤外線検知手段として多素子型赤外線検知器を用いた赤
外線撮像装置において、赤外線検知素子の各々の感度の
バラツキを補正する感度補正装置に関する。近年、赤外
線撮像装置は高性能化し、カメラ、医療機器等、多方面
に使用されている。その普及に伴い、装置の操作や調整
の簡易化と自動化が要望されてきている。一方、この高
性能化はCCD素子で構成された各赤外線検知素子のバ
ラツキを如何に効果的に抑えるかに依存している。即
ち、このバラツキが大きければ大きいほど画像の輝度む
ら、ノイズ等を発生することになる。BACKGROUND OF THE INVENTION This invention relates to infrared imaging devices, and more particularly to
The present invention relates to a sensitivity correction device that corrects variations in sensitivity of infrared detection elements in an infrared imaging device using a multi-element infrared detector as infrared detection means. 2. Description of the Related Art In recent years, infrared imaging devices have become more sophisticated and are used in various fields such as cameras and medical equipment. With the spread thereof, there has been a demand for simplification and automation of operation and adjustment of the device. On the other hand, this improvement in performance depends on how effectively the variation of each infrared detecting element formed of a CCD element is suppressed. That is, the greater this variation is, the more uneven the brightness of the image, the more noise is generated.
【0002】一般に、バラツキを補正するには、ゲイン
補正とオフセット補正があるが、本発明ではオフセット
補正において各赤外線検知素子の感度補正手段に用いる
オフセット補正データを、赤外線検知部の走査手段を駆
動させて高精度のオフセット補正データを取得してい
る。Generally, in order to correct the variation, there are gain correction and offset correction, but in the present invention, the offset correction data used in the sensitivity correction means of each infrared detection element in the offset correction is used to drive the scanning means of the infrared detection section. By doing so, highly accurate offset correction data is acquired.
【0003】[0003]
【従来の技術】従来、多素子型赤外線検知器の感度補正
用のオフセット補正データは、赤外線撮像装置を使用す
る際に、赤外線光路と赤外線撮像装置の光学系との間に
均一温度の熱板を挿入するか、若しくは温度がほぼ均一
な背景を与えて、これらからの均一な熱を利用して取得
している。即ち、このような熱板から全ての赤外線検知
素子に均一な入力を与え、各赤外線検知素子の感度に依
存した出力信号を装置内部の記憶手段に取り込み、実使
用に際しては、この記憶手段に取り込まれた出力信号を
オフセット補正データとして使用している。2. Description of the Related Art Conventionally, offset correction data for sensitivity correction of a multi-element infrared detector is used when a infrared image pickup device is used, and a hot plate having a uniform temperature between an infrared optical path and an optical system of the infrared image pickup device. Insert or insert a background with a nearly uniform temperature, and obtain uniform heat from these. That is, a uniform input is applied to all infrared detecting elements from such a heating plate, and an output signal depending on the sensitivity of each infrared detecting element is taken into a storage means inside the apparatus, and when actually used, it is taken into this storage means. The generated output signal is used as offset correction data.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上記の従来方法でオフ
セット補正データを取得する際に、装置の使用者がその
都度、均一温度熱板を用意するのは面倒が多いし、ま
た、均一温度の背景を確保するのも面倒が多い。従っ
て、本発明の目的は、各赤外線検知素子の感度バラツキ
を補正するデータを容易に取得することができる赤外線
撮像装置の感度補正装置を提供することにある。When acquiring offset correction data by the above-mentioned conventional method, it is troublesome for the user of the apparatus to prepare a uniform temperature heating plate each time, and it is also difficult to obtain a uniform temperature hot plate. It is often troublesome to secure the background. Therefore, an object of the present invention is to provide a sensitivity correction device of an infrared imaging device that can easily acquire data for correcting sensitivity variations of each infrared detection element.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の赤外線
検知素子で構成される多素子型赤外線検知器11を有す
る赤外線検知部1と、赤外線検知部の検知信号を受け各
素子のオフセット補正を行い補正画像を画面表示する赤
外線撮像部2とを備えた赤外線撮像装置において、赤外
線撮像部は、赤外線検知部からの検知信号のフレームを
間引きするフレーム間引き回路22と、フレーム間引き
回路で間引きされたフレームを積分するフレーム積分回
路23と、フレーム積分回路で加算されたデータをオフ
セット補正データとして格納するオフセット補正データ
格納メモリ24と、オフセット補正データに基づいて、
検知信号に含まれる各赤外線検知素子の感度のバラツキ
を補正する感度補正回路21とを備え、赤外線検知器を
視野に対して一周するように走査して得られる複数のフ
レームデータを、間引き及び積分を行うことによりオフ
セット補正データを取得するようにしたことを特徴とす
る。According to the present invention, an infrared detector 1 having a multi-element infrared detector 11 composed of a plurality of infrared detectors, and an offset correction of each element receiving a detection signal of the infrared detector. In the infrared image pickup device including the infrared image pickup unit 2 for displaying the corrected image on the screen, the infrared image pickup unit is thinned by the frame thinning circuit 22 for thinning the frames of the detection signal from the infrared detection unit and the frame thinning circuit. Based on the offset correction data, a frame integration circuit 23 that integrates the frame, an offset correction data storage memory 24 that stores the data added by the frame integration circuit as offset correction data,
A sensitivity correction circuit 21 that corrects variations in the sensitivity of the infrared detection elements included in the detection signal is provided, and a plurality of frame data obtained by scanning the infrared detector so as to make one round with respect to the visual field is thinned and integrated. It is characterized in that the offset correction data is obtained by performing.
【0006】そして、赤外線検知部はジンバル機構を備
え、ジンバル機構によって多素子型赤外線検知器を視野
に対して一周するようにジンバル走査する。The infrared detector has a gimbal mechanism, and the gimbal mechanism gimbals the multi-element infrared detector so as to go around the visual field.
【0007】[0007]
【作用】本発明によれば、各赤外線検知素子の感度バラ
ツキを補正する際に、従来のような均一熱板等を用いる
ことなく、赤外線検知部の走査手段を、対象物に対して
赤外線検知部の視野を一周するように走査させて多数の
データを収集し、これを間引き及び積分してオフセット
補正データを取得している。従って、収集したデータが
多ければ多いほどデータの均一化が図れ、あたかも均一
熱板を配置したのと同等の効果を得ることができる。According to the present invention, when the sensitivity variation of each infrared detecting element is corrected, the scanning means of the infrared detecting section is used to detect infrared rays with respect to the object without using a uniform heating plate as in the prior art. A large number of data are collected by scanning the field of view of the unit so as to make one round, and the data is thinned and integrated to obtain offset correction data. Therefore, the more collected data, the more uniform the data, and the same effect as if the uniform hot plate is arranged.
【0008】ところで、赤外線撮像装置によってはシス
テム上、視野を拡大するために赤外線検知部の走査手段
にジンバル機構を採用している。ジンバル機構とはジャ
イロスコープ等に利用される機構であり、左右方向、上
下方向、円周方向等の動作を可能とする機構である。従
って、ジンバル機構を用いて赤外線検知部の方向を制御
することにより、実際に撮影対象となる背景の非常に広
い視野から温度情報を得ることができるので、得られた
全情報を平均化することで、従来のような別個の熱板等
を用いることなく平均的な光量を容易に得ることがで
き、オフセット補正データを取得することができる。By the way, some infrared image pickup devices employ a gimbal mechanism as a scanning means of the infrared detector in order to enlarge the field of view. The gimbal mechanism is a mechanism used in a gyroscope or the like, and is a mechanism that enables movement in the left-right direction, the vertical direction, the circumferential direction, and the like. Therefore, by controlling the direction of the infrared detector using the gimbal mechanism, it is possible to obtain temperature information from a very wide field of view of the background that is actually the subject to be photographed. Therefore, all the obtained information should be averaged. Thus, the average amount of light can be easily obtained without using a separate heating plate or the like as in the related art, and the offset correction data can be obtained.
【0009】[0009]
【実施例】図1は本発明の赤外線撮像装置の実施例構成
図である。図中、1は赤外線検知部、2は赤外線撮像
部、3はモニターテレビである。赤外線検知部1は多素
子赤外線検知器11と、この多素子赤外線検知器11を
左右方向、上下方向、円周方向等に動作させるジンバル
機構12とを備える。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of an infrared imaging device of the present invention. In the figure, 1 is an infrared detection unit, 2 is an infrared imaging unit, and 3 is a monitor television. The infrared detector 1 includes a multi-element infrared detector 11 and a gimbal mechanism 12 that operates the multi-element infrared detector 11 in the left-right direction, the vertical direction, the circumferential direction, and the like.
【0010】赤外線撮像部2は、感度補正回路21と、
フレーム間引き回路22と、フレーム積分回路23と、
オフセット補正データメモリ24と、スイッチ制御回路
25と、画面表示回路27と、走査制御回路28を備え
る。また、26は操作パネル上のオフセット取得スイッ
チであり、221はフレーム間引き回路22に含まれる
アドレスカウンタである。The infrared image pickup section 2 includes a sensitivity correction circuit 21 and
A frame thinning circuit 22, a frame integrating circuit 23,
An offset correction data memory 24, a switch control circuit 25, a screen display circuit 27, and a scanning control circuit 28 are provided. Further, 26 is an offset acquisition switch on the operation panel, and 221 is an address counter included in the frame thinning circuit 22.
【0011】図2はジンバル機構による赤外線検知器の
走査パターンの説明図である。図中、100はジンバル
機構の走査による赤外線撮像装置の全視野である。中心
位置Oは全視野の中心、即ち、初期光軸の中心である。
Pは赤外線感知器11を中心位置Oから、例えば、角度
10度だけ右方向に振ったときの中心位置であり、斜線
部分101は赤外線検知器11の有効視野である。そし
て、本発明ではオフセット補正データを取得するため
に、ジンバル機構を利用して赤外線検知器を角度10度
の回転半径で矢印方向に一周させて視野を走査する。な
お、赤外線検知器11を円形に一周される走査に限定さ
れるものではなく、同一画面がないように走査するなら
ば四角形等の多角形であってもよい。FIG. 2 is an explanatory diagram of the scanning pattern of the infrared detector by the gimbal mechanism. In the figure, 100 is the entire field of view of the infrared imaging device by scanning with the gimbal mechanism. The center position O is the center of the entire visual field, that is, the center of the initial optical axis.
P is the center position when the infrared sensor 11 is swung from the center position O to the right by, for example, an angle of 10 degrees, and the shaded portion 101 is the effective field of view of the infrared sensor 11. Then, in the present invention, in order to obtain the offset correction data, the infrared detector is rotated in the direction of the arrow with a radius of gyration of 10 degrees to scan the field of view by utilizing the gimbal mechanism. Note that the infrared detector 11 is not limited to a circular scan, but may be a polygon such as a quadrangle as long as the same screen is not scanned.
【0012】そして、赤外線検知器11のジンバル走査
を赤外線撮像部2内の走査制御回路28により予め設定
した走査パターンに沿って行われる。図1及び図2にお
いて、オフセット補正データを取得するための基本シー
ケンスは以下のようになる。即ち、まず、オフセット取
得スイッチ26をオンし、図2に示す走査パターンに従
って赤外線検知器11のジンバル走査を開始する。ジン
バル走査に同期するかたちで得られる画像データはフレ
ーム間引き回路22により一定の間引きを行った後、フ
レーム積分回路23において所定フレームについてフレ
ーム積分を行う。この際、赤外線撮像装置のフレームレ
ートに従って、フレームの取り込み時間を決める。そし
て、フレーム積分した赤外線検知素子の各素子毎のデー
タをオフセット補正データメモリ24に格納し、以降は
この格納データをオフセット補正用データとして使用す
る。Then, the gimbal scanning of the infrared detector 11 is performed by the scanning control circuit 28 in the infrared imaging section 2 in accordance with a preset scanning pattern. 1 and 2, the basic sequence for acquiring offset correction data is as follows. That is, first, the offset acquisition switch 26 is turned on and the gimbal scanning of the infrared detector 11 is started according to the scanning pattern shown in FIG. Image data obtained in synchronization with gimbal scanning is subjected to constant thinning by the frame thinning circuit 22, and then frame integration circuit 23 performs frame integration on a predetermined frame. At this time, the frame capture time is determined according to the frame rate of the infrared imaging device. Then, the frame-integrated data for each element of the infrared detecting element is stored in the offset correction data memory 24, and thereafter, this stored data is used as the offset correction data.
【0013】図3は図1の赤外線撮像部の詳細回路図で
ある。図示のように、感度補正回路21は演算器(AL
U)211と、セレクタ212と、メモリ(ROM)2
13と、減算器214と、セレクタ215で構成され
る。フレーム間引き回路22はゲート回路222と、ア
ドレスカウンタ221で構成される。フレーム積分回路
23は加算器231と減算器232で構成される。さら
に、画面表示回路27は画面表示用メモリ271と、ア
ドレスカウンタ272と、D/A変換器273で構成さ
れる。なお、各線上の数値12,14,24は転送のビ
ット数である。また、FSCはフレーム同期クロックで
あり、IMCは画素クロックである。これらのクロック
はフレーム間引き回路22のアドレスカウンタ221
と、画面表示回路27のアドレスカウンタ272に入力
される。FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the infrared imaging section of FIG. As shown in the figure, the sensitivity correction circuit 21 includes an arithmetic unit (AL
U) 211, selector 212, and memory (ROM) 2
13, a subtractor 214, and a selector 215. The frame thinning circuit 22 includes a gate circuit 222 and an address counter 221. The frame integration circuit 23 includes an adder 231 and a subtractor 232. Further, the screen display circuit 27 includes a screen display memory 271, an address counter 272, and a D / A converter 273. The numbers 12, 14, and 24 on each line are the number of transfer bits. Further, FSC is a frame synchronization clock and IMC is a pixel clock. These clocks are used as the address counter 221 of the frame thinning circuit 22.
Is input to the address counter 272 of the screen display circuit 27.
【0014】ところで、使用者が操作パネル上のオフセ
ット取得スイッチ26をオンすると、この信号は走査制
御回路28とスイッチ制御回路25に入力され、走査制
御回路28の指示に従って赤外線検知部1が図2に示す
ジンバル走査を開始する。スイッチ制御回路25からの
起動信号はアドレスカウンタ221に入力され、アドレ
スカウンタ221は図示しないクロック発生源からのフ
レーム同期クロックFSCに同期して画素クロックIM
Cのカウントを開始する。画素クロックIMCは各赤外
線検知素子を順次に励起するクロックである。この画素
クロックIMCによって各赤外線CCD素子からアナロ
グデータがA/D変換器13に入力され、IMCは同時
にアドレスカウンタ221に入力される。多素子赤外線
検知素子がX方向にNX 素子、Y方向にNY 素子で構成
されるとする。By the way, when the user turns on the offset acquisition switch 26 on the operation panel, this signal is input to the scanning control circuit 28 and the switch control circuit 25, and the infrared detecting section 1 in FIG. The gimbal scanning shown in is started. The activation signal from the switch control circuit 25 is input to the address counter 221, which is synchronized with the frame synchronization clock FSC from a clock source (not shown) to generate the pixel clock IM.
Start counting C. The pixel clock IMC is a clock that sequentially excites each infrared detection element. By this pixel clock IMC, analog data is input to the A / D converter 13 from each infrared CCD element, and the IMC is simultaneously input to the address counter 221. It is assumed that the multi-element infrared detecting element is composed of N X elements in the X direction and N Y elements in the Y direction.
【0015】通常、フレーム間引きを行わない場合は、
オフセット補正データメモリ24にカウント信号を送出
し、オフセット補正データメモリ24はNX ×NY 個の
オフセット補正データの取込みを行う。フレーム間引き
回路22におけるフレーム間引きはこのNX ×NY 個の
カウント数をアドレスカウンタ221で監視し、例えば
2つのフレームに1回の割りで積分を行うとすると、最
初のNX ×NY 個の期間はフレーム積分回路23へのデ
ータの取込みを行い、次のNX ×NY の期間はゲート回
路222によりデータを積分回路23に取り込まないよ
うな操作を行う。Normally, when frame thinning is not performed,
A count signal is sent to the offset correction data memory 24, and the offset correction data memory 24 fetches N X × N Y offset correction data. When the frame skipping in the frame thinning-out circuit 22 monitors at the N X × N Y number of count address counter 221, for example, and performs integration once for every two frames, the first N X × N Y pieces The data is taken into the frame integration circuit 23 during the period of (2), and the gate circuit 222 does not take the data into the integration circuit 23 during the next period of N X × N Y.
【0016】フレーム積分回路23では、加算器231
によりゲート回路222からのフレームデータと減算器
232からのデータを加算してオフセット補正データメ
モリ24に取り込む。減算器232ではオフセット補正
データメモリ24からのデータ24ビットから同じオフ
セット補正データメモリ24からのデータの上位12ビ
ットを減算して加算器231に戻している。また、加算
器231の加算データは感度補正回路21内の減算器2
14に入力される。In the frame integration circuit 23, the adder 231
Thus, the frame data from the gate circuit 222 and the data from the subtractor 232 are added and loaded into the offset correction data memory 24. The subtracter 232 subtracts the upper 12 bits of the data from the same offset correction data memory 24 from the 24 bits of data from the offset correction data memory 24 and returns it to the adder 231. The addition data of the adder 231 is the subtractor 2 in the sensitivity correction circuit 21.
14 is input.
【0017】感度補正回路21では、演算器211はA
/D変換器13からのデジタル値を一方に入力し、セレ
クタ212のデータを他方に入力して減算を行う。この
場合、メモリ213のテーブルには予め各素子を補正す
るための直線補間補正データが格納されており、セレク
タ212はA/D変換器13からの入力データに基づい
てその入力データに適合したテーブルの内容を読出して
演算器211に入力する。減算器214は演算器211
の直線補間補正された演算データとフレーム積分回路2
3内の加算器231の加算データとの間の減算を行い、
演算結果がオーバーフローしていなけれが出力するセレ
クタ215を経て画面表示用メモリ271に格納する。In the sensitivity correction circuit 21, the arithmetic unit 211 is A
The digital value from the / D converter 13 is input to one side, and the data of the selector 212 is input to the other side to perform subtraction. In this case, linear interpolation correction data for correcting each element is stored in advance in the table of the memory 213, and the selector 212 is based on the input data from the A / D converter 13 and is a table adapted to the input data. The content of is read and input to the arithmetic unit 211. The subtractor 214 is the calculator 211
Linear interpolation corrected calculation data and frame integration circuit 2
Subtraction with the addition data of the adder 231 in 3
If the calculation result has overflowed, it is stored in the screen display memory 271 via the selector 215 which outputs.
【0018】画面表示回路27では、フレーム同期クロ
ックFSC及び画素クロックIMCを入力するアドレス
カウンタ272により、前述のアドレスカウンタ221
と同様に、例えばNX をカウントしたときにカウント信
号を送出して画面表示用メモリ271から表示データを
読出し、D/A変換後にモニターテレビに表示する。と
ころで、本実施例では最大4096フレーム分のフレー
ム積分を行う。この場合、最大数は2N フレームで可変
することができる。ここで、フレーム間引きは積分(フ
レーム加算)のサンプリング時間を変更することにより
行う。In the screen display circuit 27, the address counter 221 for inputting the frame synchronization clock FSC and the pixel clock IMC causes the above-mentioned address counter 221.
Similarly, for example, when N X is counted, a count signal is transmitted to read the display data from the screen display memory 271 and display it on the monitor television after D / A conversion. By the way, in this embodiment, frame integration for a maximum of 4096 frames is performed. In this case, the maximum number can be changed in 2 N frames. Here, frame thinning is performed by changing the sampling time of integration (frame addition).
【0019】この赤外線撮像装置のフレームレートをA
(Hz)とすると、1フレーム当たりの取り込み時間は
1/A秒となり、最大4096フレームを取り込むとす
ると、4096/A秒の時定数を有し、時間的なフレー
ム間引きを行い(間引き時間は可変)、例えば2フレー
ムに1回又は4フレームに1回づつ積分し、積分の効果
を変えて使用することができる。The frame rate of this infrared imaging device is A
(Hz), the capture time per frame is 1 / A second, and assuming that a maximum of 4096 frames is captured, it has a time constant of 4096 / A second, and temporal frame thinning is performed (the thinning time is variable. ), For example, once every two frames or once every four frames, the effects of integration can be changed and used.
【0020】フレーム積分回路23は順次入力される最
新のフレームデータと、オフセット補正データメモリ2
4に格納されている過去のフレームデータを、各赤外線
検知素子毎に順次加算していき、各素子毎のオフセット
補正データを求めて行く。全体としての感度補正は、感
度補正回路21において、演算器(ALU)211にて
各素子毎のオフセット補正データに基づいて加減算を行
い、基本的な感度補正を行い、減算器214において前
段階で求まったオフセット補正データを減算し、より精
密な補正を行う。The frame integration circuit 23 receives the latest frame data sequentially input and the offset correction data memory 2
The past frame data stored in No. 4 is sequentially added for each infrared detection element to obtain offset correction data for each element. For sensitivity correction as a whole, in the sensitivity correction circuit 21, the arithmetic unit (ALU) 211 performs addition / subtraction based on the offset correction data for each element, basic sensitivity correction is performed, and the subtractor 214 is used in the previous stage. Subtract the obtained offset correction data to perform more precise correction.
【0021】[0021]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
使用者は各赤外線検知素子の感度バラツキを補正するオ
フセット補正データを、従来のように均一熱板を使用す
ることなく容易に取得することができる効果がある。As described above, according to the present invention,
There is an effect that the user can easily obtain the offset correction data for correcting the sensitivity variation of each infrared detecting element without using a uniform heating plate as in the conventional case.
【図1】本発明の赤外線撮像装置の実施例構成図であ
る。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of an infrared imaging device of the present invention.
【図2】ジンバル機構による赤外線検知器の走査パター
ンの説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a scanning pattern of an infrared detector using a gimbal mechanism.
【図3】図1の赤外線撮像部の詳細回路図である。FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the infrared imaging unit in FIG.
1…赤外線検知部 2…赤外線撮像部 3…モニターテレビ 11…多素子型赤外線検知器 12…ジンバル機構 13…A/D変換器 21…感度補正回路 22…フレーム間引き回路 23…フレーム積分回路 24…オフセット補正データメモリ 25…スイッチ制御回路 26…オフセット取得スイッチ 27…画面表示回路 28…走査制御回路 211…演算器 214,232…減算器 221,272…アドレスカウンタ 222…ゲート 231…加算器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Infrared detection part 2 ... Infrared imaging part 3 ... Monitor television 11 ... Multi-element type infrared detector 12 ... Gimbal mechanism 13 ... A / D converter 21 ... Sensitivity correction circuit 22 ... Frame thinning circuit 23 ... Frame integration circuit 24 ... Offset correction data memory 25 ... Switch control circuit 26 ... Offset acquisition switch 27 ... Screen display circuit 28 ... Scanning control circuit 211 ... Calculators 214,232 ... Subtractor 221,272 ... Address counter 222 ... Gate 231 ... Adder
Claims (2)
子型赤外線検知器(11)を有する赤外線検知部(1)
と、該赤外線検知部の検知信号を受け各素子のオフセッ
ト補正を行い補正画像を画面表示する赤外線撮像部
(2)とを備えた赤外線撮像装置において、 該赤外線撮像部は、 該赤外線検知部からの検知信号のフレームを間引きする
フレーム間引き回路(22)と、 該フレーム間引き回路で間引きされたフレームを積分す
るフレーム積分回路(23)と、 該フレーム積分回路で加算されたデータをオフセット補
正データとして格納するオフセット補正データ格納メモ
リ(24)と、 該オフセット補正データに基づいて、該検知信号に含ま
れる各赤外線検知素子の感度のバラツキを補正する感度
補正回路(21)とを備え、 該赤外線検知器を視野に対して一周するように走査して
得られる複数のフレームデータを、該間引き及び積分を
行うことによりオフセット補正データを取得するように
したことを特徴とする赤外線撮像装置の感度補正装置。1. An infrared detecting section (1) having a multi-element infrared detector (11) comprising a plurality of infrared detecting elements.
And an infrared imaging unit (2) that receives a detection signal of the infrared detection unit and performs offset correction of each element to display a corrected image on the screen, the infrared imaging unit comprising: A frame thinning circuit (22) for thinning out the frames of the detection signal, a frame integrating circuit (23) for integrating the frames thinned by the frame thinning circuit, and the data added by the frame integrating circuit as offset correction data. An infrared correction data storage memory (24) for storing and a sensitivity correction circuit (21) for correcting variations in the sensitivity of the infrared detection elements included in the detection signal based on the offset correction data are provided. Decimation and integration of a plurality of frame data obtained by scanning the vessel around the field of view Sensitivity correction device of the infrared imaging apparatus is characterized in that so as to obtain more offset correction data.
該ジンバル機構によって該多素子型赤外線検知器を視野
に対して一周するように走査する請求項1に記載の赤外
線撮像装置の感度補正装置。2. The infrared detector comprises a gimbal mechanism,
The sensitivity correction device for an infrared imaging device according to claim 1, wherein the multi-element infrared detector is scanned by the gimbal mechanism so as to scan the visual field once.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4060482A JPH05264357A (en) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | Device for correcting sensitivity of infrared image pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4060482A JPH05264357A (en) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | Device for correcting sensitivity of infrared image pickup device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05264357A true JPH05264357A (en) | 1993-10-12 |
Family
ID=13143546
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4060482A Withdrawn JPH05264357A (en) | 1992-03-17 | 1992-03-17 | Device for correcting sensitivity of infrared image pickup device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05264357A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5811808A (en) * | 1996-09-12 | 1998-09-22 | Amber Engineering, Inc. | Infrared imaging system employing on-focal plane nonuniformity correction |
KR101025912B1 (en) * | 2005-08-03 | 2011-03-30 | 삼성탈레스 주식회사 | Apparatus for providing fast non-uniformity correction in uncooled ir system |
JP2012070993A (en) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Fujifilm Corp | Endoscope system |
JP2020030220A (en) * | 2019-11-21 | 2020-02-27 | 日置電機株式会社 | Radiation heat detection device and radiation heat measurement device |
-
1992
- 1992-03-17 JP JP4060482A patent/JPH05264357A/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5811808A (en) * | 1996-09-12 | 1998-09-22 | Amber Engineering, Inc. | Infrared imaging system employing on-focal plane nonuniformity correction |
USRE40249E1 (en) | 1996-09-12 | 2008-04-22 | Amber Engineering, Inc. | Infrared imaging system employing on-focal plane nonuniformity correction |
KR101025912B1 (en) * | 2005-08-03 | 2011-03-30 | 삼성탈레스 주식회사 | Apparatus for providing fast non-uniformity correction in uncooled ir system |
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JP2020030220A (en) * | 2019-11-21 | 2020-02-27 | 日置電機株式会社 | Radiation heat detection device and radiation heat measurement device |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |