JPH05250872A - Random access memory - Google Patents

Random access memory

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JPH05250872A
JPH05250872A JP4050866A JP5086692A JPH05250872A JP H05250872 A JPH05250872 A JP H05250872A JP 4050866 A JP4050866 A JP 4050866A JP 5086692 A JP5086692 A JP 5086692A JP H05250872 A JPH05250872 A JP H05250872A
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JP
Japan
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output
input
buffer
write
signal
Prior art date
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Withdrawn
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JP4050866A
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Japanese (ja)
Inventor
Naoki Miura
直樹 三浦
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • GPHYSICS
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
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    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Abstract

PURPOSE:To reduce the power consumption at the time of the output of a RAM having the I/O terminal of multi-bit. CONSTITUTION:Not only an input controlling transfer gate 60 is operated on/off based on an output signal WC1-0 outputted from an access control circuit 90 at the time of the fall of a RASN but also an output controlling transfer gate 70, as well is operated on/off by using the output signal WC1-0 effectively. By the transfer gate 70, only the read data of an optional bit is outputted from an output buffer 50 to the I/O terminal 100 and the power consumption at a data reading operation time is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多ビットの入/出力
(以下、I/Oという)端子を持つランダム・アクセス
・メモリ(以下、RAMという)、特にライトパービッ
トモード動作時の出力制御に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a random access memory (hereinafter referred to as RAM) having multi-bit input / output (hereinafter referred to as I / O) terminals, and in particular, output control during a write per bit mode operation. It is about.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、多ビットのI/O端子を持つRA
Mに関する技術としては、例えば特開昭60−1799
84号公報に記載されるものがある。図2は、前記文献
に記載された従来の多ビットI/O端子を持つRAMの
構成例を示すブロック図である。このRAMは、行制御
信号RASN (但し、Nは逆相を意味する)と列制御信
号CASN によるマルチアドレス型のメモリであり、行
制御信号RASN により制御されて外部から供給される
アドレスA0 ,A1 ,…,An から行アドレスを取込む
行アドレスバッファ1を有し、その出力側には、行アド
レスデコーダ2を介してメモリセルアレイ3が接続され
ている。行アドレスデコーダ2は、行アドレスバッファ
1の出力をデコードする回路である。メモリセルアレイ
3は、複数のワード線WL及びそれと交差配置された複
数のビット線BL対を有し、その各交差箇所にはMOS
トランジスタからなるメモリセル3aが接続されると共
に、その各ビット線BL対には該メモリセル3aからの
読出しデータの検知、増幅を行う図示しないセンスアン
プが接続されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an RA having a multi-bit I / O terminal
As a technique relating to M, for example, JP-A-60-1799
There is one described in Japanese Patent Publication No. 84. FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of a RAM having a conventional multi-bit I / O terminal described in the above document. This RAM is a multi-address type memory that uses a row control signal RAS N (where N means an opposite phase) and a column control signal CAS N , and is an address supplied from outside controlled by the row control signal RAS N. A row address buffer 1 for taking in row addresses from A 0 , A 1 , ..., A n is provided, and a memory cell array 3 is connected to an output side thereof via a row address decoder 2. The row address decoder 2 is a circuit that decodes the output of the row address buffer 1. The memory cell array 3 has a plurality of word lines WL and a plurality of bit line BL pairs arranged so as to intersect therewith, and a MOS is provided at each intersection.
A memory cell 3a made of a transistor is connected, and a sense amplifier (not shown) for detecting and amplifying read data from the memory cell 3a is connected to each bit line BL pair.

【0003】また、列制御信号CASN により制御され
アドレスA0 ,A1 ,…,An 中の列アドレスを取込む
列アドレスバッファ4が設けられ、その出力側には、列
デコーダ5及びトランスファゲート回路6を介してメモ
リセルアレイ3が接続されている。列デコーダ5は、列
アドレスバッファ4の出力をデコードする回路である。
トランスファゲート回路6は、列デコーダ5の出力に基
づき、メモリセルアレイ3内の例えば4組のビット線B
L対と4組のI/Oバスライン70 ,71 ,72 ,73
との導通/非導通を制御する複数のスイッチで構成され
ている。
[0003] The address A 0 is controlled by a column control signal CAS N, A 1, ..., the column address buffer 4 is provided for taking the column address in A n, to its output side, the column decoder 5 and the transfer The memory cell array 3 is connected via the gate circuit 6. The column decoder 5 is a circuit that decodes the output of the column address buffer 4.
The transfer gate circuit 6 receives, for example, four sets of bit lines B in the memory cell array 3 based on the output of the column decoder 5.
L pairs and four pairs of I / O bus lines 7 0 , 7 1 , 7 2 , 7 3
It is composed of a plurality of switches for controlling conduction / non-conduction with and.

【0004】各I/Oバスライン70 ,71 ,72 ,7
3 には、そのI/Oバスライン上の差信号を増幅するデ
ータアンプ80 ,81 ,82 ,83 がそれぞれ接続され
ると共に、I/Oバッファ回路90 ,91 ,92 ,93
がそれぞれ接続されている。各I/Oバッファ回路
0 ,91 ,92 ,93 には、書込みデータ及び読出し
データの入/出力を行うI/O端子100 ,101 ,1
2 ,103 が接続されている。次に、メモリセルアレ
イ3へのデータの書込み、及び該メモリセルアレイ3か
らのデータの読出し動作について説明する。メモリセル
アレイ3からデータの読出しを行う場合、外部からアド
レスA0 〜An を行アドレスバッファ1及び列アドレス
バッファ4へ供給する。すると、行制御信号RASN
制御される行アドレスバッファ1により、アドレスA0
〜An から行アドレスが取込まれ、その取込まれた行ア
ドレスが行アドレスデコーダ2でデコードされ、メモリ
セルアレイ3内の一本のワード線WLが活性化される。
一本のワード線WLが活性化されると、それに接続され
た複数のメモリセル3aから記憶データが読出されて複
数のビット線BL対へ出力される。この各ビット線BL
対に読出されたデータは、図示しないセンスアンプによ
って増幅される。
Each I / O bus line 7 0 , 7 1 , 7 2 , 7
3, together with the data amplifier 8 for amplifying a difference signal on the I / O bus lines 0, 8 1, 8 2, 8 3 are respectively connected, I / O buffer circuits 9 0, 9 1, 9 2 , 9 3
Are connected respectively. Each I / O buffer circuit 9 0 , 9 1 , 9 2 , 9 3 has an I / O terminal 10 0 , 10 1 , 1 for inputting / outputting write data and read data.
0 2 and 10 3 are connected. Next, a data write operation to the memory cell array 3 and a data read operation from the memory cell array 3 will be described. When data is read from the memory cell array 3, addresses A 0 to A n are externally supplied to the row address buffer 1 and the column address buffer 4. Then, the row address buffer 1 controlled by the row control signal RAS N causes the address A 0
To A n row address is taken from the preparative incorporated row address is decoded by row address decoder 2, one word line WL of the memory cell array 3 is activated.
When one word line WL is activated, stored data is read from the plurality of memory cells 3a connected thereto and output to the plurality of bit line BL pairs. Each bit line BL
The data read to the pair is amplified by a sense amplifier (not shown).

【0005】一方、列制御信号CASN で制御される列
アドレスバッファ4により、アドレスA0 〜An から行
アドレスが取込まれ、その取込まれた行アドレスが列デ
コーダ5でデコードされる。このデコード結果によって
トランスファゲート回路6内の4組のスイッチがオン
し、列デコーダ出力によって選択された4組のビット線
BL対と4組のI/Oバスライン70 〜73 とが導通
し、該4組のビット線BL対上の読出しデータがI/O
バスライン70 〜73 へ出力される。I/Oバスライン
0 〜73 上の読出しデータは、データアンプ80 〜8
3 で増幅された後、I/Oバッファ回路90 〜94 を介
してI/O端子100 〜103 から出力される。
On the other hand, the column address buffer 4 controlled by the column control signal CAS N fetches the row address from the addresses A 0 to A n , and the fetched row address is decoded by the column decoder 5. As a result of this decoding, four sets of switches in the transfer gate circuit 6 are turned on, and the four sets of bit line BL pairs selected by the column decoder output and the four sets of I / O bus lines 7 0 to 7 3 are conducted. , Read data on the four pairs of bit lines BL is I / O.
It is output to the bus line 7 0-7 3. I / O read data on the bus line 7 0-7 3, data amplifier 8 0-8
After being amplified by 3, it is outputted from the I / O terminal 10 0 - 10 3 via the I / O buffer circuits 9 0-9 4.

【0006】データの書込みを行う場合、書込むべきデ
ータをI/O端子100 〜103 に供給すると、それが
I/Oバッファ回路90 〜94 に取込まれてI/Oバス
ライン70 〜73 へ送られる。すると、列デコーダ5の
出力によってトランスファゲート回路6内の4組のスイ
ッチがオンし、4組のI/Oバスライン70 〜73 とメ
モリセルアレイ3内の4組のビット線BL対とが導通
し、行アドレスデコーダ2によって選択されたワード線
WLと該4組のビットBL対との交差箇所に接続された
メモリセル3aにデータの書込みが行われる。図3は、
図2に示すI/Oバッファ回路90 の回路図である。こ
のI/Oバッファ回路90 は、他のI/Oバッファ回路
1 〜93 と同一の回路構成であり、I/O端子100
とI/Oバスライン70 との間に接続された入力バッフ
ァ21と、該I/Oバスライン70 とI/O端子100
との間に接続された出力バッファ22とを、備えてい
る。入力バッファ21とI/Oバスライン70 との間に
は、その両者の導通/非導通を制御する入力制御用トラ
ンスファゲート23が接続されている。トランスファゲ
ート23は、アクセス制御回路である書込み禁止レジス
タ24の出力によってオン,オフ制御される。この書込
み禁止レジスタ24は、書込み禁止感知回路24Aとバ
ッファ24Bとで構成されている。
[0006] When writing data, when supplying data to be written to I / O pins 10 0 - 10 3, it is incorporated into the I / O buffer circuits 9 0 to 9 4 I / O bus lines 7 0 to 7 3 . Then, four sets of switches of the transfer gate circuit 6 is turned on by the output of the column decoder 5, the four sets of I / O bus line 7 0-7 3 4 pairs of the memory cell array 3 of the bit line BL pairs Data is written to the memory cell 3a which is conductive and connected to the intersection of the word line WL selected by the row address decoder 2 and the four pairs of bit BL pairs. Figure 3
Is a circuit diagram of the I / O buffer circuits 9 0 shown in FIG. This I / O buffer circuit 9 0 has the same circuit configuration as the other I / O buffer circuits 9 1 to 9 3 and has an I / O terminal 10 0.
The input buffer 21 connected between the I / O bus line 7 0 and the I / O bus line 70, and the I / O bus line 7 0 and the I / O terminal 10 0.
And an output buffer 22 connected between and. Between the input buffer 21 and the I / O bus lines 7 0, input control transfer gate 23 for controlling conduction / non-conduction of both of them are connected. The transfer gate 23 is on / off controlled by the output of a write inhibit register 24 which is an access control circuit. The write inhibit register 24 is composed of a write inhibit sensing circuit 24A and a buffer 24B.

【0007】図4は、図2及び図3の各種の制御信号を
発生する制御信号発生回路の構成例を示す回路図であ
る。この制御信号発生回路30では、行制御信号RAS
N がインバータ311 で反転されて信号RASとなり、
それがバッファ321 ,322 ,323 ,324 で順次
駆動されて信号RAS1 ,RAS2 ,RA,SEとな
る。さらに、信号RASがインバータ312 で反転され
てプリチャージ信号PX0 となり、それがバッファ32
5 で反転されてプリチャージ信号PX1 となる。ワード
線活性化信号RAと列制御信号CASN の反転信号と
が、ANDゲート331 で論理積が取られて信号CAS
となり、その信号CASがバッファ332 ,333 ,3
4 ,335 で順次駆動されて信号CAS1 ,CA
2 ,RE,OE1 となる。また、信号CASがインバ
ータ34で反転されてプリチャージ信号PY0 となり、
そのプリチャージ信号PY0 がバッファ336 で駆動さ
れてプリチャージ信号PY1 となる。さらに、プリチャ
ージ信号PY1 の反転信号と書込み制御信号WEN の反
転信号とが、ANDゲート35で論理積が取られて信号
0 となり、その信号W0 がバッファ36で駆動されて
信号W1 となる。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of a control signal generation circuit for generating various control signals of FIGS. 2 and 3. In the control signal generation circuit 30, the row control signal RAS
N is inverted by the inverter 31 1 to become the signal RAS,
It is sequentially driven by the buffers 32 1 , 32 2 , 32 3 , 32 4 to become signals RAS 1 , RAS 2 , RA, SE. Further, the signal RAS is inverted by the inverter 31 2 to become the precharge signal PX 0 , which is the buffer 32.
It is inverted at 5 to become the precharge signal PX 1 . The word line activation signal RA and the inverted signal of the column control signal CAS N are logically ANDed by the AND gate 33 1 to obtain the signal CAS.
And the signal CAS becomes the buffers 33 2 , 33 3 , and 3.
The signals CAS 1 and CA are sequentially driven by 3 4 and 33 5.
S 2 , RE, OE 1 . Further, the signal CAS is inverted by the inverter 34 to become the precharge signal PY 0 ,
The precharge signal PY 0 is driven by the buffer 33 6 and becomes the precharge signal PY 1 . Further, the inversion signal of the precharge signal PY 1 and the inversion signal of the write control signal WE N are ANDed by the AND gate 35 and become the signal W 0 , and the signal W 0 is driven by the buffer 36 and the signal W 0. Becomes 1 .

【0008】なお、図3において入力バッファ21中の
REFは基準信号、書込み禁止レジスタ24内のWC0
−0は書込み禁止感知回路24Aの出力信号、WC1
0はバッファ24Bの出力信号である。図5は図2及び
図3のタイミングチャートであり、この図を参照しつ
つ、図3の動作を説明する。読出し動作では、信号W1
によって入力バッファ21が非活性、書込み制御信号W
N によって書込み禁止感知回路24Aが非活性、及び
バッファ24Bの出力信号WC1 −0によって入力制御
用トランスファゲート23がオフのため、任意のビット
線BL対上の読出しデータがI/Oバスライン70 へ出
力され、それが出力バッファ22によってI/O端子1
0 から外部へ出力される。
In FIG. 3, REF in the input buffer 21 is a reference signal and WC 0 in the write inhibit register 24.
-0 is an output signal of the write inhibit sensing circuit 24A, WC 1
0 is the output signal of the buffer 24B. FIG. 5 is a timing chart of FIGS. 2 and 3, and the operation of FIG. 3 will be described with reference to this figure. In the read operation, the signal W 1
The input buffer 21 is deactivated by the write control signal W
Since write inhibit sensing circuit 24A is inactive, and the input control transfer gate 23 by the output signal WC 1 -0 buffer 24B is off by E N, the read data on any bit line BL pairs I / O bus lines It is output to 7 0, I / O terminal 1 thereby output buffer 22
It is output from 0 0 to the outside.

【0009】書込み動作では、書込み禁止感知回路24
Aが、行制御信号RASN の立下り時の書込み制御信号
WEN と、I/O端子100 のレベル及び列制御信号C
ASN の立下り以降の書込み制御信号WEN のレベルと
の、2つの組合わせによって書込みサイクルの識別が行
われ、その出力信号WC0 −0がバッファ24Bで駆動
される。そして、バッファ24Bの出力信号WC1 −0
で入力制御用トランスファゲート23がオンし、データ
の書込みが行われる。即ち、行制御信号RASN の立下
り時に書込み制御信号WEN 及びI/O端子100
“L”レベルにすることにより、書込み禁止感知回路2
4Aの出力信号WC0 −0が“H”レベルとなり、それ
がバッファ24Bで駆動され、その“H”レベルの出力
信号WC1 −0によってトランスファゲート23がオン
する。これにより、入力バッファ21の出力側とI/O
バスライン70 とが導通し、通常の書込み動作が可能と
なる。
In the write operation, the write inhibit sensing circuit 24
A is row control signal RAS and the write control signal WE N during the fall of the N, I / O level of the terminal 10 0 and column control signals C
The write cycle is identified by two combinations with the level of the write control signal WE N after the fall of AS N , and the output signal WC 0 -0 is driven by the buffer 24B. The output signal WC 1 -0 buffer 24B
Then, the input control transfer gate 23 is turned on and data is written. That is, when the row control signal RAS N falls, the write control signal WE N and the I / O terminal 10 0 are set to the “L” level, so that the write inhibit sensing circuit 2
The output signal WC 0 -0 of 4A becomes "H" level, it is driven by the buffer 24B, the transfer gate 23 is turned on by the output signal WC 1 -0 of the "H" level. As a result, the output side of the input buffer 21 and the I / O
Bus line 7 0 and is rendered conductive, thereby enabling normal write operation.

【0010】行制御信号RASN の立下り時に書込み制
御信号WEN を“L”レベル、I/O端子100
“H”レベルにすると、バッファ24Bの出力信号WC
1 −0が“L”レベルを維持する。バッファ24Bの出
力信号WC1 −0が“L”レベルとなると、トランスフ
ァゲート23により、I/Oバスライン70 と入力バッ
ファ21とが切り離された状態となり、たとえ書込みサ
イクルに入ったとしても、I/Oバスライン70 、ビッ
ト線BL対、及びメモリセル3aへのデータの書込みが
禁止される。例えば、図3に示す書込み禁止レジスタ2
4が設けられていない場合、任意ビットのみの書込みを
行うには、リード・モディファイ・ライトの機能によ
り、一度読出したデータを不必要な書込みをすることに
より、使用することはできる。ところが、リード・モデ
ィファイ・ライトという特定のタイミングでしか使用す
ることができない上に、本来なら行わなくてもよい書込
みも必要となり、消費電力が増大する等の欠点がある。
[0010] row control signal RAS N falling when the write control signal WE N "L" level, when the "H" level to the I / O terminal 10 0, the output signal WC of the buffer 24B
1 -0 is to maintain the "L" level. When the output signal WC 1 -0 buffer 24B becomes "L" level, the transfer gate 23, a state in which the input buffer 21 is disconnected from the I / O bus lines 7 0, even if entering the write cycle, I / O bus lines 7 0, the bit line BL pairs, and writing data into the memory cell 3a is prohibited. For example, the write inhibit register 2 shown in FIG.
When 4 is not provided, in order to write only arbitrary bits, the read-modify-write function can be used by unnecessarily writing once read data. However, there are drawbacks such as read-modify-write, which can be used only at a specific timing, and writing which may not be performed is necessary, which increases power consumption.

【0011】そこで、前記文献の技術では、図3に示す
書込み禁止レジスタ24を設け、この書込み禁止レジス
タ24及びトランスファゲート23の機能により、多ビ
ットのI/O端子100 〜103 を持つRAMにおい
て、その各I/O端子100 〜103 毎の独立した書込
み/読出し制御を、本来のメモリ機能を損うことなく実
現している。
[0011] Therefore, in the literature of the art, providing a write inhibit register 24 shown in FIG. 3, by the function of the write-inhibit register 24 and transfer gate 23, RAM with I / O pins 10 0 - 10 3 multibit in has been achieved without the independent writing / reading control of the I / O pins 10 0 - 10 every 3, impairing inherent memory function.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成のRAMでは、各I/O端子100 〜103 毎の独立
した書込み/読出し制御を、本来のメモリ機能を損うこ
となく実現できるものの、動作モードの多様化を図るた
め、リード・モディファイ・ライトのような特定のタイ
ミングを使用した場合、書込み動作を行わないI/O端
子100 〜103に対しても不要なデータ出力を行うこ
とになる。そのため、出力時の消費電力の増大という問
題が生じ、それを解決することが困難であった。
However [0007] In the RAM of the above-described configuration, an independent writing / reading control of the I / O pins 10 0 - 10 every 3, although can be realized without impairing the inherent memory function, order to diversify the operation mode, when using a specific timing, such as a read-modify-write, to perform an unnecessary data output also to the I / O terminal 10 0 - 10 3 not to perform the write operation become. Therefore, there arises a problem that the power consumption at the time of output increases, and it is difficult to solve it.

【0013】本発明は、前記従来技術が持っていた課題
として、出力時の消費電力が増大するという点について
解決した多ビットのI/O端子を持つRAMを提供する
ものである。
The present invention provides a RAM having a multi-bit I / O terminal, which solves the problem that the power consumption at the time of output increases as the problem of the prior art.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するために、メモリセルに対する書込みデータ及び読
出しデータの伝送を行う複数のI/Oバスラインと、前
記各I/Oバスラインに接続され、I/O端子から入力
される前記書込みデータを前記I/Oバスラインへ送
り、かつ該I/Oバスライン上の書込みデータをI/O
端子へ出力する複数のI/Oバッファ回路とを備え、書
込み制御信号によって前記メモリセルへの書込み動作の
制御を行うRAMにおいて、前記各I/Oバッファ回路
を次のように構成している。即ち、前記各I/Oバッフ
ァ回路は、前記I/O端子から入力される前記書込みデ
ータを駆動して前記I/Oバスラインへ送る入力バッフ
ァと、前記I/Oバスライン上の前記書込みデータを駆
動して前記I/O端子へ出力する出力バッファと、前記
入力バッファと前記I/Oバスラインとの間を導通/非
導通にする入力制御用トランスファゲートと、前記I/
Oバスラインと前記出力バッファとの間を導通/非導通
にする出力制御用トランスファゲートと、アクセス制御
回路とを、備えている。アクセス制御回路は、制御信号
の立下り時または立上り時の前記書込み制御信号、及び
前記I/O端子のレベルに基づき、書込み/読出しサイ
クルの識別を行い、書込みサイクル時には前記入力制御
用トランスファゲートを導通状態にし、読出しサイクル
時には前記出力制御用トランスファゲートを導通状態に
する機能を有している。
In order to solve the above problems, the present invention provides a plurality of I / O bus lines for transmitting write data and read data to / from a memory cell and each of the I / O bus lines. The write data connected to and input from the I / O terminal is sent to the I / O bus line, and the write data on the I / O bus line is transferred to the I / O.
In a RAM having a plurality of I / O buffer circuits for outputting to terminals and controlling the write operation to the memory cells by a write control signal, each I / O buffer circuit is configured as follows. That is, each I / O buffer circuit drives the write data input from the I / O terminal and sends the write data to the I / O bus line, and the write data on the I / O bus line. An output buffer for driving the I / O terminal to output to the I / O terminal; an input control transfer gate for connecting / disconnecting between the input buffer and the I / O bus line;
An output control transfer gate for connecting / disconnecting the O bus line and the output buffer and an access control circuit are provided. The access control circuit identifies a write / read cycle based on the write control signal at the time of falling or rising of the control signal and the level of the I / O terminal, and at the time of the write cycle, the input control transfer gate is used. It has the function of bringing the output control transfer gate into the conductive state during the read cycle.

【0015】[0015]

【作用】本発明によれば、以上のように、多ビットのI
/O端子を持つRAMのI/Oバッファ回路を構成した
ので、制御信号の立下り時または立上り時にアクセス制
御回路から出力信号が出力され、その出力信号に基づき
入力制御用トランスファゲートがオン,オフ動作すると
共に、出力制御用トランスファゲートもオン,オフ動作
する。この出力制御用トランスファゲートのオン,オフ
動作により、任意のビットの読出しデータのみを出力バ
ッファから出力でき、データ読出し動作時の消費電力の
低減化が図れる。従って、前記課題を解決できるのであ
る。
According to the present invention, as described above, the multi-bit I
Since the RAM I / O buffer circuit having the / O terminal is configured, an output signal is output from the access control circuit when the control signal falls or rises, and the input control transfer gate is turned on and off based on the output signal. In addition to operating, the output control transfer gate also turns on and off. By turning the output control transfer gate on and off, only the read data of an arbitrary bit can be output from the output buffer, and the power consumption during the data read operation can be reduced. Therefore, the above problem can be solved.

【0016】[0016]

【実施例】図1は、本発明の実施例を示すI/Oバッフ
ァ回路90 の回路図である。このI/Oバッファ回路9
0 は、従来の図2に示すRAMに設けられるもので、該
RAM中の他のI/Oバッファ回路91 〜93 も同一の
回路構成となっている。
DETAILED DESCRIPTION FIG. 1 is a circuit diagram of the I / O buffer circuits 9 0 showing an embodiment of the present invention. This I / O buffer circuit 9
0 is provided in the conventional RAM shown in FIG. 2, and the other I / O buffer circuits 9 1 to 9 3 in the RAM have the same circuit configuration.

【0017】I/Oバッファ回路90 は、従来の図3と
同様にMOSトランジスタで構成され、I/O端子10
0 とI/Oバスライン70 との間に接続された入力バッ
ファ40と、該I/Oバスライン70 とI/O端子10
0 との間に接続された出力バッファ50とを備えてい
る。I/Oバスライン70 と入力バッファ40との間に
は、入力制御用トランスファゲート60が接続されると
共に、該I/Oバスライン70 と出力バッファ50との
間に、出力制御用トランスファゲート70及びイコライ
ズ回路80が接続されている。入力制御用トランスファ
ゲート60、出力制御用トランスファゲート70、及び
イコライズ回路80は、アクセス制御回路90によって
オン,オフ制御されるようになっている。アクセス制御
回路90は、書込み禁止感知回路100及びバッファ1
10より構成されている。
[0017] I / O buffer circuits 9 0 is composed similarly MOS transistor and the conventional FIG. 3, I / O pin 10
0 and the I / O bus line 7 0 , the input buffer 40, the I / O bus line 7 0 and the I / O terminal 10
And an output buffer 50 connected between 0 and 0 . Between the I / O bus lines 7 0 and the input buffer 40, the transfer gate 60 is connected for input control, between the I / O bus lines 7 0 and the output buffer 50, output control transfer The gate 70 and the equalize circuit 80 are connected. The input control transfer gate 60, the output control transfer gate 70, and the equalize circuit 80 are controlled to be turned on and off by an access control circuit 90. The access control circuit 90 includes a write inhibit sensing circuit 100 and a buffer 1
It is composed of 10.

【0018】入力バッファ40は、従来の図3と同様
に、プリチャージ信号PY1 によりプリチャージされ、
信号W1 によって活性化される回路であり、基準信号R
EFによりオン,オフ動作する入力トランジスタ41
と、I/O端子100 からの書込みデータによってオ
ン,オフ動作する入力トランジスタ42とを備えてい
る。この入力トランジスタ41,42から入力された信
号が、トランジスタ43,44,45,46で増幅さ
れ、I/O端子100 からの書込みデータが相補的な信
号に変換されて入力制御用トランスファゲート60へ送
られるようになっている。出力バッファ50は、図3と
同様に、プリチャージ信号PY1 によってプリチャージ
され、信号OE1 によって活性化される回路である。こ
の出力バッファ50では、I/Oバスライン70 からの
相補的な信号を入力トランジスタ51,52で入力し、
トランジスタ53,54,55,56で差動増幅して出
力トランジスタ57,58をオン,オフ動作させること
により、該I/Oバスライン70 上の読出しデータを駆
動してI/O端子100 へ出力する機能を有している。
The input buffer 40 is precharged by the precharge signal PY 1 as in FIG.
A circuit activated by a signal W 1 and a reference signal R
Input transistor 41 that is turned on and off by EF
When, a ON, an input transistor 42 off operation by writing data from the I / O pins 10 0. Signal input from the input transistors 41 and 42, the transistor is amplified by 43, 44, 45, 46, I / O terminals 10 0 Write data from is converted into complementary signals input control transfer gate 60 To be sent to. The output buffer 50, similarly to FIG. 3, it is precharged by the precharge signal PY 1, a circuit which is activated by the signal OE 1. In the output buffer 50 receives complementary signals from I / O bus lines 7 0 at the input transistors 51 and 52,
On the output transistors 57 and 58 and differential amplifier with transistors 53, 54, 55, 56, by turning off operation, the I / O bus lines 7 by driving the read data on the 0 I / O pin 10 0 It has a function to output to.

【0019】入力制御用トランスファゲート60は、ア
クセス制御回路90の出力信号WC1 −0によってオ
ン,オフ動作する一対のトランジスタ61,62で構成
され、該トランジスタ61,62によって入力バッファ
40の出力側とI/Oバスライン70 との間を導通/非
導通にする機能を有している。出力制御用トランスファ
ゲート70は、アクセス制御回路70の出力信号WC1
−0によってオン,オフ動作する一対のトランジスタ7
1,72で構成され、該トランジスタ71,72によっ
てI/Oバスライン70 と出力バッファ50の入力側と
のを導通/非導通にする機能を有している。
The input control transfer gate 60 is turned on by the output signal WC 1 -0 access control circuit 90 is composed of a pair of transistors 61 and 62 off operation, the output side of the input buffer 40 by the transistors 61 and 62 It has a function of the conduction / non-conduction between the I / O bus lines 7 0. The output control transfer gate 70 outputs the output signal WC 1 of the access control circuit 70.
A pair of transistors 7 that are turned on and off by -0
It is composed of 1,72, and has a function of the conduction / non-conduction of the input side of the I / O bus lines 7 0 and the output buffer 50 by the transistors 71 and 72.

【0020】イコライズ回路80は、I/Oバスライン
0 を構成する2本の信号線間に接続されたトランジス
タ81で構成され、出力信号WC1 −0がインバータ7
5で反転されて該反転信号によって該トランジスタ81
がオン,オフ動作することにより、出力ディスエーブル
時にその2本の信号線間を同一レベルにする機能を有し
ている。アクセス制御回路90は、図3の書込み禁止レ
ジスタ24と同様に、書込み禁止感知回路100とバッ
ファ110とで構成されている。書込み禁止感知回路1
00は、行制御信号RASN の立下り時の書込み制御信
号WEN とI/O端子100 のレベルによって書込みサ
イクル/読出しサイクルを識別して書込み禁止を感知す
る機能を有している。この書込み禁止感知回路100
は、プルアップ用のトランジスタ101,102と、ワ
ード線活性化信号RAによってオン,オフ動作するトラ
ンジスタ103、I/O端子100 のレベルによってオ
ン,オフ動作するトランジスタ104、行制御信号RA
N によってオン,オフ動作するトランジスタ105、
及び書込み制御信号WEN によってオン,オフ動作する
トランジスタ106とで、構成されている。トランジス
タ103,104,105,106は、4入力NORゲ
ートを構成し、その出力信号WC0 −0がバッファ11
0へ送られる。
The equalizing circuit 80 is constituted by the I / O bus lines 7 0 connected between the two signal lines constituting the transistors 81, the output signal WC 1 -0 inverter 7
And the transistor 81 is inverted by the inverted signal.
Has a function of making the two signal lines have the same level when the output is disabled by turning on and off. The access control circuit 90 is composed of a write inhibit sensing circuit 100 and a buffer 110, like the write inhibit register 24 of FIG. Write protect sensing circuit 1
00 has a function to identify the write cycle / read cycle by the row control signal RAS N falling time of the write control signal WE N and I / O pins 10 0 level sensing a write-protected. This write inhibit sensing circuit 100
It includes a transistor 101 and 102 of the pull-up on the word line activation signal RA, on the off operation to the transistor 103, I / O terminals 10 0 level, the transistor 104 to OFF operation, the row control signal RA
A transistor 105 that is turned on and off by S N ,
And a transistor 106 that is turned on and off by the write control signal WE N. The transistors 103, 104, 105 and 106 constitute a 4-input NOR gate, and the output signal WC 0-0 thereof is the buffer 11.
Sent to 0.

【0021】バッファ110は、書込み禁止感知回路1
00の出力信号WC0 −0を駆動してその駆動した出力
信号WC1 −0をトランスファゲート60,70及びイ
コライズ回路80へ出力する機能を有している。このバ
ッファ110は、プリチャージ信号PX1 によりプリチ
ャージされ、書込み禁止感知回路100の出力信号WC
0 −0を入力トランジスタ111,112から入力し、
その入力を駆動して出力トランジスタ113,114か
ら出力信号WC1 −0を出力する回路構成になってい
る。図6は、図1及び図2の動作を示すタイミングチャ
ートである。図1の各制御信号等は、従来の図4に示す
制御信号発生回路30から発生される。この図6を参照
しつつ、図1のI/Oバッファ回路90 を含めた図2の
RAMの動作を説明する。
The buffer 110 is a write inhibit sensing circuit 1
The output signal WC 0 -0 00 by driving and has a function of outputting an output signal WC 1 -0 which is driving the transfer gates 60, 70 and the equalizer circuit 80. This buffer 110 is precharged by the precharge signal PX 1 and outputs the output signal WC of the write inhibit sensing circuit 100.
0-0 is input from the input transistors 111 and 112,
It has a circuit configuration for outputting an output signal WC 1 -0 from the output transistors 113 and 114 to drive the input. FIG. 6 is a timing chart showing the operation of FIGS. 1 and 2. Each control signal shown in FIG. 1 is generated from the conventional control signal generating circuit 30 shown in FIG. With reference to FIG. 6, the operation of the RAM 2, including the I / O buffer circuits 9 0 in FIG.

【0022】まず、書込み動作を説明する。書込み動作
では、従来と同様に、書込み禁止感知回路100が、行
制御信号RASN の立下り時の書込み制御信号WE
N と、I/O端子100 のレベル及び列制御信号CAS
N の立下り以降の書込み制御信号WEN のレベルとによ
る、2つの組合わせによって書込みサイクルを識別す
る。行制御信号RASN の立下り時に、書込み制御信号
WEN 及びI/O端子100を“L”レベルにすること
により、書込み禁止感知回路100の出力信号WC0
0がバッファ110で駆動され、その出力信号WC1
0が“H”レベルとなる。出力信号WC1 −0が“H”
レベルになると、入力制御用トランスファゲート60及
び出力制御用トランスファゲート70がオンする。この
とき、出力バッファ50は信号OE1 によって非活性状
態となっている。これに対し、入力バッファ40は信号
1 によって活性化されているため、I/O端子100
から入力された書込みデータが、該入力バッファ40で
相補的な信号に変換され、それが入力制御用トランスフ
ァゲート60を介してI/Oバスライン70 へ送られ
る。I/Oバスライン70 へ送られた書込みデータは、
従来と同様に、図2のトランスファゲート回路6を介し
てメモリセル3aに書込まれる。
First, the write operation will be described. In the write operation, as in the conventional case, the write inhibit sensing circuit 100 causes the write control signal WE at the fall of the row control signal RAS N.
N and, I / O level of the terminal 10 0 and column address strobe signal CAS
The write cycle is identified by a combination of the two depending on the level of the write control signal WE N after the fall of N. During the falling of the row control signal RAS N, the write control signal WE by the N and I / O pin 10 0 "L" level, the output signal WC 0 of write inhibit sensing circuit 100 -
0 is driven by the buffer 110, and its output signal WC 1
0 becomes "H" level. Output signal WC 1 -0 is "H"
When the level is reached, the input control transfer gate 60 and the output control transfer gate 70 are turned on. At this time, the output buffer 50 is inactivated by the signal OE 1 . On the other hand, since the input buffer 40 is activated by the signal W 1 , the I / O terminal 10 0
Write data input from is converted into complementary signals in the input buffer 40, it is sent through the input control transfer gate 60 to the I / O bus lines 7 0. Write data sent to the I / O bus line 7 0,
As in the conventional case, the data is written in the memory cell 3a via the transfer gate circuit 6 of FIG.

【0023】次に、読出し動作を説明する。この読出し
時の動作では、行制御信号RASNの立下り時の書込み
制御信号WEN が“L”レベルで、かつI/O端子10
0 が“L”レベルであるとき、アクセス制御回路90の
出力信号WC1 −0が“H”レベルとなり、入力制御用
トランスファゲート60及び出力制御用トランスファゲ
ート70がオンすると共に、イコライズ回路80内のト
ランジスタ81がオフする。このとき、入力制御用トラ
ンスファゲート60がオンするが、信号W1 によって入
力バッファ40が非活性状態となっている。列制御信号
CASN が立下るとき、図4の制御信号発生回路30か
ら出力された信号OE1 により、出力バッファ50が活
性化される。そのため、出力制御用トランスファゲート
70を介して、I/Oバスライン70 上の読出しデータ
が該出力バッファ50で駆動され、出力トランジスタ5
7,58を介して、該I/Oバスライン70 上の電位差
に対応した読出しデータが、I/O端子100 から出力
される。
Next, the read operation will be described. In the operation at the time of reading, the row control signal RAS N falling time of the write control signal WE N is "L" level, and the I / O terminal 10
When 0 is at "L" level, the output signal WC 1 -0 access control circuit 90 becomes the "H" level, the transfer gate 70 is turned on for the transfer gate 60 and the output control input control, the equalizer circuit 80 within Transistor 81 turns off. At this time, the input control transfer gate 60 is turned on, but the input buffer 40 is deactivated by the signal W 1 . When the column control signal CAS N falls, the output buffer 50 is activated by the signal OE 1 output from the control signal generation circuit 30 of FIG. Therefore, through the output control transfer gates 70, the read data on the I / O bus lines 7 0 is driven by the output buffer 50, the output transistor 5
The read data corresponding to the potential difference on the I / O bus line 7 0 is output from the I / O terminal 10 0 via 7, 58.

【0024】一方、行制御信号RASN の立下り時の書
込み制御信号WEN が“L”レベルで、かつI/O端子
100 が“H”レベルであるとき、アクセス制御回路9
0の出力信号WC1 −0が“L”レベルを維持するた
め、出力制御用トランスファゲート70がオフすると共
に、イコライズ回路80内のトランジスタ81がオン
し、I/Oバスライン70 を構成する2本の信号線の電
位が同一レベルとなる。そのため、列制御信号CASN
が立下っても、I/Oバスライン70 の信号が出力バッ
ファ50へ伝送されず、かつ出力バッファ50の2本の
入力線同士が同一レベルとなるので、I/O端子100
には読出しデータが出力されない。
On the other hand, when the row controlled by a signal RAS N of fall-time write control signal WE N is "L" level, and I / O pins 10 0 is at "H" level, the access control circuit 9
To maintain the output signal WC 1 -0 is "L" level of 0, turns off the output control transfer gate 70, transistor 81 of the equalizing circuit 80 is turned on, constituting the I / O bus lines 7 0 The potentials of the two signal lines are at the same level. Therefore, the column control signal CAS N
It is but down standing, not transmitted signals of the I / O bus lines 7 0 to the output buffer 50, and since the two input lines of the output buffer 50 becomes the same level, I / O pins 10 0
No read data is output to.

【0025】以上のように、本実施例では、I/Oバス
ライン70 と出力バッファ50の入力側との間に、出力
制御用トランスファゲート70を設けたので、多ビット
のI/O端子100 〜103 を持つRAMにおいて、ア
クセス制御回路90の出力信号WC1 −0によって該ト
ランスファゲート70をオン,オフ制御することによ
り、任意のビットのI/O端子100 〜103 のみから
読出しデータを出力することができる。従って、読出し
動作時の消費電流を減少できる。
[0025] As described above, in this embodiment, I / O between the bus line 7 0 and the input side of the output buffer 50, is provided with the output control transfer gates 70, the multi-bit I / O pin in RAM with 10 0 - 10 3, the transfer gate 70 by the output signal WC 1 -0 access control circuit 90 on, by turning off the control, only I / O pins 10 0 - 10 3 of an arbitrary bit Read data can be output. Therefore, the current consumption during the read operation can be reduced.

【0026】なお、本発明は上記実施例に限定されず、
種々の変形が可能である。その変形例としては、例えば
次のようなものがある。 (a) 上記実施例では、図2に示すように、4ビット
のI/O端子100 〜103 の場合について説明した
が、それらは任意のビット数でよい。 (b) 図1のI/Oバッファ回路90 を構成する入力
バッファ40、出力バッファ50、トランスファゲート
60,77、イコライズ回路80、及びアクセス制御回
路90は、他のトランジスタを用いて構成したり、ある
いは図示以外の回路構成に変更してもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment,
Various modifications are possible. Examples of such modifications include the following. (A) In the above embodiment, the case of 4-bit I / O terminals 10 0 to 10 3 has been described as shown in FIG. 2, but they may have an arbitrary number of bits. (B) an input buffer 40 of the I / O buffer circuits 9 0 in FIG. 1, the output buffer 50, the transfer gates 60,77, the equalizing circuit 80 and the access control circuit 90, is or constructed using other transistors Alternatively, a circuit configuration other than that shown may be changed.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、I/Oバス
ラインと出力バッファの入力側との間に、アクセス制御
回路の出力によって制御される出力制御用トランスファ
ゲートを設けたので、多ビットのI/O端子を持つRA
Mにおいて、アクセス制御回路から出力される制御信号
を用いて入力制御用トランスファゲートの他に、該出力
制御用トランスファゲートの制御も行えるので、該出力
制御用トランスファゲートによって任意のビットの読出
しデータのみをI/O端子から出力できる。そのため、
読出し動作時の消費電力を低減できる。
As described in detail above, since the transfer gate for output control controlled by the output of the access control circuit is provided between the I / O bus line and the input side of the output buffer, multi-bits are provided. RA with I / O terminal
In M, not only the transfer gate for input control but also the transfer gate for output control can be controlled by using the control signal output from the access control circuit, so that only the read data of any bit is read by the transfer gate for output control. Can be output from the I / O terminal. for that reason,
Power consumption during the read operation can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例を示す多ビットI/O端子を持
つRAM内に設けられるI/Oバッファ回路の回路図で
ある。
FIG. 1 is a circuit diagram of an I / O buffer circuit provided in a RAM having multi-bit I / O terminals according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来のRAMの構成ブロック図である。FIG. 2 is a configuration block diagram of a conventional RAM.

【図3】図2のI/Oバッファ回路の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of the I / O buffer circuit of FIG.

【図4】図2及び図3の制御信号発生回路の回路図であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram of the control signal generation circuit of FIGS. 2 and 3.

【図5】図2及び図3の動作を示すタイミングチャート
である。
FIG. 5 is a timing chart showing the operation of FIGS. 2 and 3.

【図6】図1及び図2の動作を示すタイミングチャート
である。
FIG. 6 is a timing chart showing the operation of FIGS. 1 and 2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 行アドレスバッファ 2 行アドレスデコーダ 3 メモリセルアレイ 4 列アドレスバッファ 5 列デコーダ 6 トランスファゲート回路 90 〜94 I/Oバッファ回路 100 〜103 I/O端子 40 入力バッファ 50 出力バッファ 60 入力制御用トランスファゲート 70 出力制御用トランスファゲート 80 イコライズ回路 90 アクセス制御回路 100 書込み禁止感知回路 110 バッファ1 row address buffer 2 row address decoder 3 memory cell array 4 column address buffer 5 column decoder 6 transfer gate circuit 9 0 to 9 4 I / O buffer circuit 10 0 to 10 3 I / O terminal 40 input buffer 50 output buffer 60 input control Transfer gate 70 Output control transfer gate 80 Equalize circuit 90 Access control circuit 100 Write inhibit sensing circuit 110 Buffer

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 メモリセルに対する書込みデータ及び読
出しデータの伝送を行う複数の入/出力バスラインと、
前記各入/出力バスラインに接続され、入/出力端子か
ら入力される前記書込みデータを前記入/出力バスライ
ンへ送り、かつ該入/出力バスライン上の書込みデータ
を入/出力端子へ出力する複数の入/出力バッファ回路
とを備え、書込み制御信号によって前記メモリセルへの
書込み動作の制御を行うランダム・アクセス・メモリに
おいて、 前記各入/出力バッファ回路は、 前記入/出力端子から入力される前記書込みデータを駆
動して前記入/出力バスラインへ送る入力バッファと、 前記入/出力バスライン上の前記書込みデータを駆動し
て前記入/出力端子へ出力する出力バッファと、 前記入力バッファと前記入/出力バスラインとの間を導
通/非導通にする入力制御用トランスファゲートと、 前記入/出力バスラインと前記出力バッファとの間を導
通/非導通にする出力制御用トランスファゲートと、 制御信号の立下り時または立上り時の前記書込み制御信
号、及び前記入/出力端子のレベルに基づき、書込み/
読出しサイクルの識別を行い、書込みサイクル時には前
記入力制御用トランスファゲートを導通状態にし、読出
しサイクル時には前記出力制御用トランスファゲートを
導通状態にするアクセス制御回路とを、 備えたことを特徴とするランダム・アクセス・メモリ。
1. A plurality of input / output bus lines for transmitting write data and read data to a memory cell,
The write data connected to each of the input / output bus lines and input from the input / output terminal is sent to the input / output bus line, and the write data on the input / output bus line is output to the input / output terminal. A plurality of input / output buffer circuits for controlling a write operation to the memory cell by a write control signal, wherein each input / output buffer circuit receives an input from the input / output terminal. An input buffer for driving the write data to be sent to the input / output bus line; an output buffer for driving the write data on the input / output bus line to output to the input / output terminal; An input control transfer gate for connecting / disconnecting between a buffer and the input / output bus line, the input / output bus line and the output An output control transfer gate to conduction / non-conduction between the Ffa, based on the level of the write control signal falling at or during the rise, and the entering / output terminal of the control signal, the write /
An access control circuit for identifying a read cycle, bringing the transfer gate for input control into a conductive state during a write cycle, and bringing the transfer gate for output control into a conductive state during a read cycle; Access memory.
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