JPH05240729A - Leakage inspection device - Google Patents

Leakage inspection device

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JPH05240729A
JPH05240729A JP4043638A JP4363892A JPH05240729A JP H05240729 A JPH05240729 A JP H05240729A JP 4043638 A JP4043638 A JP 4043638A JP 4363892 A JP4363892 A JP 4363892A JP H05240729 A JPH05240729 A JP H05240729A
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JP
Japan
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leak
vacuum chamber
master
trace gas
master leak
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Yoshikuni Kanematsu
良州 兼松
Nobuhiko Yamada
信彦 山田
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Denso Corp
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NipponDenso Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a leakage inspection device which prevents contamination of a master leak used in correcting sensitivity and can reduce the workload of a worker in handling the master leak. CONSTITUTION:The leakage from a master leak is measured in order to correct the sensitivity of a leakage inspection device and check the condition of the device, by evacuating a vacuum chamber 1 to a predetermined vacuum pressure by means of vacuum chamber exhaust pumps 12, 13, causing trace gases to leak from a trace gas supply source 7 into the vacuum chamber 1 through the master leak at a constant rate and for a predetermined time, and measuring the trace gas concentration of the vacuum chamber 1 using a gas sensor (mass spectrometer)5. The master leak 2 through which the trace gases are periodically made to leak at a constant rate is provided between the trace gas supply source and the vacuum chamber, so as to prevent contamination of the master leak and enable significant reduction in the workload of a worker in handling the master leak.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ラジェ−タ、ヒータ、
コンデンサ、エバポレータなどの中空被試験品の漏れを
検査する漏れ検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a radiator, heater,
The present invention relates to a leak inspection device for inspecting a hollow device under test such as a condenser and an evaporator for leaks.

【0002】[0002]

【従来技術】従来の中空被試験品の漏れ検査装置を説明
すると、まず中空被試験品を真空室の中に入れた後、中
空被試験品の内部にトレースガスを充填する。次に真空
室から排気し、真空室中のトレースガス濃度を質量分析
計などのガスセンサで測定して中空被試験品の漏れを調
べる。
2. Description of the Related Art A conventional leak test apparatus for a hollow test object is described. First, the hollow test object is placed in a vacuum chamber, and then the hollow test object is filled with a trace gas. Then, the vacuum chamber is evacuated, and the trace gas concentration in the vacuum chamber is measured by a gas sensor such as a mass spectrometer to check for leakage of the hollow test product.

【0003】しかしながら、上記した漏れ検査装置は、
環境温度その他、装置各部の微妙な変化により測定値が
影響を受けるので、従来では作業者が一定時間毎(例え
ば4時間毎)に中空被試験品の試験を中断して、中空被
試験品の代わりに中空被試験品の漏れ基準値と同等の漏
れ量を有するマスターリークと呼ばれる基準漏れ品を真
空室に入れ、このマスターリークから真空室への漏れを
ガスセンサで測定し、得た漏れ測定値(今回値)と前回
のマスターリークの漏れ測定値(前回値)とを比較し、
比較結果に応じて感度校正及び漏れ検査装置の良否のチ
ェックを行なっている。
However, the above-mentioned leak inspection device is
Since the measured value is affected by environmental temperature and other subtle changes in each part of the device, conventionally, the operator interrupts the test of the hollow DUT at regular intervals (for example, every 4 hours), and Instead, put a standard leak product called a master leak that has a leak amount equivalent to the leak standard value of the hollow DUT into the vacuum chamber, measure the leak from this master leak to the vacuum chamber with a gas sensor, and obtain the leak measurement value. Compare (current value) with the previous master leak measurement value (previous value),
According to the comparison result, the sensitivity is calibrated and the quality of the leak inspection device is checked.

【0004】このマスターリーク漏れ量の測定の順序
は、真空室を大気に開放し、マスターリークを真空室に
挿入し、マスターリークを真空室内のトレースガス封入
チューブ(中空被試験品の内部にトレースガスを充填す
るための配管)に接続してマスターリーク内部へトレー
スガスを充填し、真空室を密閉し、真空室を所定の真空
圧まで掃引し、漏れ測定を行い、真空室を大気に開放
し、マスターリークをトレースガス封入チューブから分
離し、マスターリークを真空室から取り出す一連の工程
からなる。
The order of measuring the leak amount of the master leak is as follows: the vacuum chamber is opened to the atmosphere, the master leak is inserted into the vacuum chamber, and the master leak is traced into the vacuum chamber. (Pipe for filling gas) to fill the trace gas into the master leak, seal the vacuum chamber, sweep the vacuum chamber to a predetermined vacuum pressure, measure the leak, and open the vacuum chamber to the atmosphere. Then, the master leak is separated from the trace gas sealing tube, and the master leak is taken out from the vacuum chamber.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た漏れ検査装置の感度校正又は装置良否チェックのため
のマスターリーク漏れ量の測定においては、マスターリ
ークを保管場所から取り出して真空室に挿入し、通常は
上記トレースガス封入チューブに接続してマスターリー
ク内部にトレースガスを充填し、測定後、上記チューブ
からマスターリークを取り外し、真空室から取り出して
再び保管場所に保管するという一連の作業を必要とする
が、マスターリークは破損し易く汚れを嫌う精密部品で
ありその取扱いが作業者に大きな負担となっていた。
However, in the measurement of the master leak leak amount for the sensitivity calibration of the leak inspection device or the device pass / fail check described above, the master leak is usually taken out from the storage place and inserted into the vacuum chamber. Requires a series of operations to connect to the trace gas sealing tube, fill the trace gas inside the master leak, remove the master leak from the tube after measurement, remove it from the vacuum chamber, and store it again in the storage location. However, the master leak is a precision component that is easily damaged and dislikes dirt, and the handling of it is a heavy burden on the operator.

【0006】また、マスターリークはフィルタは備える
ものの極めて小さい漏れ孔を有する部品であるので、こ
れら作業中及び保管中においてフィルタを透過して漏れ
孔付近に塵や結露が付着すると、マスターリークの漏れ
量が変動してしまうという不具合があった。なお、強力
なフィルタをマスターリークに装着することによりその
漏れ孔への塵の到達を妨害することができるが、余りに
強力な(目の細かい)フィルタの採用はマスターリーク
の漏れ量に影響を与えるとともに、その汚れの進行が加
速されるので頻繁なフィルタ交換が必要となるという新
たな不具合を生じた。
Further, since the master leak is a component which has a filter but has an extremely small leak hole, if dust or dew condensation is caused near the leak hole through the filter during the operation and storage, the master leak leaks. There was a problem that the amount fluctuated. Although a strong filter can be attached to the master leak to prevent dust from reaching the leak hole, the use of an excessively strong (fine-grained) filter affects the leak amount of the master leak. At the same time, since the progress of the dirt is accelerated, a new problem arises in that frequent filter replacement is required.

【0007】本発明は上記の問題点に鑑みなされたもの
であり、感度校正などに用いるマスターリークの汚損を
防止するとともにその取扱いにおける作業者の負担軽減
が可能な漏れ検査装置を提供することを目的としてい
る。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a leak inspection apparatus capable of preventing the master leak used for sensitivity calibration and the like from being contaminated and reducing the burden on the operator in handling the leak. Has a purpose.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の漏れ検査装置
は、内部に所定圧力のトレースガスが注入される中空被
試験品を収容する真空室と、該各真空室を所定の真空圧
まで掃引する真空室排気ポンプと、前記各真空室中のト
レースガスを順次検出するガスセンサとを備える漏れ検
査装置において、トレースガス供給源と前記各真空室と
を配管及びバルブを通じて連結するとともに、前記トレ
ースガス供給源から供給されるトレースガスを前記真空
室へ定期的に所定の漏れ流量でリークさせるマスターリ
ークを備えることを特徴としている。
SUMMARY OF THE INVENTION A leak inspection apparatus according to the present invention comprises a vacuum chamber for accommodating a hollow DUT into which a trace gas having a predetermined pressure is injected, and each of the vacuum chambers is swept up to a predetermined vacuum pressure. In a leak inspection device comprising a vacuum chamber exhaust pump for controlling and a gas sensor for sequentially detecting trace gas in each vacuum chamber, a trace gas supply source and each vacuum chamber are connected through a pipe and a valve, and the trace gas It is characterized in that it is provided with a master leak for periodically leaking the trace gas supplied from the supply source into the vacuum chamber at a predetermined leak flow rate.

【0009】[0009]

【作用】この漏れ検査装置の感度校正及び装置良否チェ
ックのためのマスターリーク漏れ量の測定は、真空室排
気ポンプにより真空室を所定の真空圧まで掃引した後、
トレースガス供給源からマスターリークにより真空室へ
トレースガスを定流量で所定時間リークさせ、ガスセン
サにより真空室のトレースガス濃度を測定することによ
りなされる。
The master leak leakage amount for the sensitivity calibration and the device quality check of this leak inspection device is measured by sweeping the vacuum chamber to a predetermined vacuum pressure with a vacuum chamber exhaust pump,
This is done by leaking the trace gas from the trace gas supply source to the vacuum chamber by a master leak at a constant flow rate for a predetermined time, and measuring the trace gas concentration in the vacuum chamber with a gas sensor.

【0010】なお、感度校正及び装置良否チェックは、
従来同様に人手により又は自動データ処理装置により測
定値の今回値をその前回値や所定の基準値と比較して実
施できる。
The sensitivity calibration and the device quality check are
As in the conventional case, the current value of the measured value can be compared with the previous value or a predetermined reference value manually or by an automatic data processor.

【0011】[0011]

【発明の効果】以上説明したように本発明の漏れ検査装
置は、トレースガスを定期的に定流量でリークさせるマ
スターリークを配管及びバルブを通じてトレースガス供
給源と真空室との間に設けているので、感度校正などに
用いるマスターリークの汚損を防止するとともにその取
扱いにおける作業者の負担の格段の軽減が可能になると
いう優れた効果を奏することができる。
As described above, in the leak inspection apparatus of the present invention, the master leak for periodically leaking the trace gas at a constant flow rate is provided between the trace gas supply source and the vacuum chamber through the pipe and the valve. Therefore, it is possible to prevent the contamination of the master leak used for sensitivity calibration and the like, and to significantly reduce the burden on the operator in handling the master leak.

【0012】[0012]

【実施例】本発明の漏れ検査装置の一実施例を図面を参
照して説明する。図1は一部配管図を示し、図2はマス
ターリークの平面図を示し、図3はマスターリークの断
面図を示す。この漏れ検査装置は図1に示すように、6
台のテストチャンバー部(図1ではそのNo.1テスト
チャンバー部のみを示す)Aと、各テストチャンバー部
Aに圧力調整弁6を通じてトレースガス(ここではヘリ
ウムガス)を供給するトレースガスボンベ(本発明でい
うトレースガス供給源)7と、各テストチャンバー部A
から排気するマスターリーク排気ポンプ9及び真空室排
気ポンプ12、13と、各テストチャンバー部A内の真
空室1中のトレースガス濃度(漏れ量)を測定する質量
分析計(本発明でいうガスセンサ)5とを備えている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the leak inspection apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 shows a partial piping diagram, FIG. 2 shows a plan view of a master leak, and FIG. 3 shows a cross-sectional view of a master leak. As shown in FIG.
1 test chamber section (only No. 1 test chamber section is shown in FIG. 1) A, and a trace gas cylinder for supplying trace gas (here, helium gas) to each test chamber section A through a pressure regulating valve 6 (the present invention) Trace gas supply source 7) and each test chamber A
A master leak exhaust pump 9 and vacuum chamber exhaust pumps 12 and 13 exhausted from the chamber, and a mass spectrometer (gas sensor in the present invention) for measuring the trace gas concentration (leakage amount) in the vacuum chamber 1 in each test chamber section A. 5 and.

【0013】以下、各テストチャンバー部Aの構成は同
一であるので、No.1テストチャンバー部の構成を説
明する。真空室1は一端開口の金属缶体とこの金属缶体
の開口を開閉する扉とからなり、この扉の閉鎖により真
空室1は外部から気密とされる。真空室1の天井部には
トレースガス封入チューブ16の先端部が突出してお
り、トレースガス封入チューブ16はトレースガス封入
バルブ15を通じて圧力調整弁6の出口に接続されてい
る。また真空室1は、縦続接続された真空室排気ポンプ
12、13に真空室排気バルブ10を通じて接続されて
おり、更に真空室1はテストバルブ11を通じて質量分
析計5に接続されている。
Since the test chambers A have the same structure, the number of the test chambers A is the same. 1 The configuration of the test chamber section will be described. The vacuum chamber 1 is composed of a metal can body having an opening at one end and a door that opens and closes the opening of the metal can body. By closing the door, the vacuum chamber 1 is made airtight from the outside. A tip end portion of a trace gas sealing tube 16 projects from the ceiling of the vacuum chamber 1, and the trace gas sealing tube 16 is connected to an outlet of the pressure adjusting valve 6 through a trace gas sealing valve 15. Further, the vacuum chamber 1 is connected to vacuum chamber exhaust pumps 12 and 13 which are connected in cascade through a vacuum chamber exhaust valve 10, and the vacuum chamber 1 is connected to a mass spectrometer 5 through a test valve 11.

【0014】トレースガスボンベ7には高圧ヘリウムガ
スが充填されており、この高圧ヘリウムガスは圧力調整
弁6で減圧されて各バルブ15に送られる。質量分析計
5はヘリウムを選択的に検出するガスセンサであって、
導入した被測定ガスをイオン化して静電加速、磁界偏向
して成分ガスの質量差による偏向程度により特定のイオ
ンを電極に集めるものであって、周知であるのでその詳
細説明は省略する。
The trace gas cylinder 7 is filled with high-pressure helium gas, and this high-pressure helium gas is decompressed by the pressure adjusting valve 6 and sent to each valve 15. The mass spectrometer 5 is a gas sensor that selectively detects helium,
The introduced gas to be measured is ionized to be electrostatically accelerated, and the magnetic field is deflected to collect specific ions on the electrode according to the degree of deflection due to the mass difference of the component gases. Since this is well known, detailed description thereof will be omitted.

【0015】本発明の特徴部分を以下に説明する。圧力
調整弁6はトレースガス供給バルブ4を通じてマスター
リーク2の吸入口に接続され、マスターリーク2の漏出
口は校正バルブ3を通じて真空室1の天井部に接続され
ている。またマスターリーク2はトレースガス掃引バル
ブ8を通じてマスターリーク排気ポンプ9に接続されて
いる。
The characteristic part of the present invention will be described below. The pressure adjusting valve 6 is connected to the suction port of the master leak 2 through the trace gas supply valve 4, and the leak port of the master leak 2 is connected to the ceiling of the vacuum chamber 1 through the calibration valve 3. The master leak 2 is connected to a master leak exhaust pump 9 through a trace gas sweep valve 8.

【0016】マスターリーク2の詳細を図2及び図3に
より説明する。マスターリーク2は外部ハウジング20
及び内部ハウジング30を有し、外部ハウジング20
は、底板23、穴板24、中板25、穴板26及び天板
27を順番に積み重ねて長ボルト28で締結して構成さ
れている。底板23及び中板25で上下区画される穴板
24の内部空間S1はマスターリークの上流側空間とな
っており、同様に中板25及び天板27で上下区画され
る穴板26の内部空間S2はマスターリークの下流側空
間となっている。天板27に貫設された円孔には下端開
口の円缶状ケース28の下端部が嵌入、溶接され、上記
円孔により円缶状ケース28の内部は内部空間S2と連
通している。
Details of the master leak 2 will be described with reference to FIGS. Master leak 2 is external housing 20
And an outer housing 20 having an inner housing 30.
The bottom plate 23, the hole plate 24, the middle plate 25, the hole plate 26, and the top plate 27 are sequentially stacked and fastened with long bolts 28. The inner space S1 of the hole plate 24 vertically divided by the bottom plate 23 and the middle plate 25 is an upstream space of the master leak, and similarly the inner space of the hole plate 26 vertically divided by the middle plate 25 and the top plate 27. S2 is a space on the downstream side of the master leak. A lower end portion of a circular can-shaped case 28 having a lower end opening is fitted into and welded to a circular hole penetrating the top plate 27, and the inside of the circular can-shaped case 28 communicates with the internal space S2 by the circular hole.

【0017】また、中板25の中央部にも上下に貫通孔
が穿設されており、この貫通孔に内部ハウジング30が
立設されている。内部ハウジング30は、フィルタ抑え
筒31、フィルタ32、下筒33、リーク部34、上筒
35、フィルタ36、フィルタ抑え筒37を順番に重ね
て構成されている。すなわち、中板25の上記貫通孔に
は下筒33の下端部が螺入されており、下筒33の下端
開口にはフィルタ32が挿入された後、フィルタ抑え筒
31が螺入されている。リーク部34は下筒33の上端
に載置された後、上筒35の下端部が下筒33の上端部
に螺着され、リーク部34は下筒33と上筒35とによ
り挟持される。上筒35の上端開口にはフィルタ36が
挿入された後、フィルタ抑え筒37が螺入されている。
A through hole is also vertically formed in the central portion of the intermediate plate 25, and an inner housing 30 is erected in the through hole. The inner housing 30 is formed by sequentially stacking a filter holding cylinder 31, a filter 32, a lower cylinder 33, a leak portion 34, an upper cylinder 35, a filter 36, and a filter holding cylinder 37. That is, the lower end portion of the lower cylinder 33 is screwed into the through hole of the intermediate plate 25, and the filter 32 is inserted into the lower end opening of the lower cylinder 33, and then the filter holding cylinder 31 is screwed. .. After the leak portion 34 is placed on the upper end of the lower cylinder 33, the lower end portion of the upper cylinder 35 is screwed onto the upper end portion of the lower cylinder 33, and the leak portion 34 is sandwiched between the lower cylinder 33 and the upper cylinder 35. .. After the filter 36 is inserted into the upper end opening of the upper cylinder 35, the filter holding cylinder 37 is screwed.

【0018】リーク部34は下筒33と上筒35とによ
り挟持されるとともに中央に上下に貫通する中央孔(図
示せず)を有するベース34aと、ベース34aの中央
部から下方に伸びる先細のガラスチューブ34bとから
なり、ガラスチューブ34bの上端部はベース34aに
ハーメチックシールされている。更に図2に示すよう
に、内部空間S1はバルブ4及びバルブ5の出口に配管
接続され、内部空間S2はバルブ3の出口に配管接続さ
れている。ガラスチューブ34bの下端の微小孔(図示
せず)がこのマスターリーク2の漏れ量を決定する。
The leak portion 34 is sandwiched between the lower cylinder 33 and the upper cylinder 35 and has a base 34a having a central hole (not shown) vertically penetrating in the center thereof, and a tapered portion extending downward from the central portion of the base 34a. The glass tube 34b and the upper end of the glass tube 34b are hermetically sealed to the base 34a. Further, as shown in FIG. 2, the internal space S1 is connected to the outlets of the valves 4 and 5 by piping, and the internal space S2 is connected to the outlet of the valve 3 by piping. Minute holes (not shown) at the lower end of the glass tube 34b determine the leak amount of the master leak 2.

【0019】このマスターリークでは、トレースガスボ
ンベ7から、バルブ4、内部空間S1、フィルタ32、
ガラスチューブ34b、フィルタ36、内部空間S2、
バルブ3を通じて真空室1にトレースガスが定流量で漏
れ出る。また、バルブ3、4閉、バルブ5開としてマス
ターリーク排気ポンプ9を運転すると、マスターリーク
2内部のトレースガスは排気ポンプ9により外部に排出
される。
In this master leak, from the trace gas cylinder 7, the valve 4, the internal space S1, the filter 32,
Glass tube 34b, filter 36, internal space S2,
The trace gas leaks to the vacuum chamber 1 through the valve 3 at a constant flow rate. When the master leak exhaust pump 9 is operated with the valves 3 and 4 closed and the valve 5 opened, the trace gas inside the master leak 2 is exhausted to the outside by the exhaust pump 9.

【0020】以下、この漏れ検査装置による中空被試験
品の漏れ試験の手順を説明する。なお、真空室排気ポン
プ12、13及びマスターリーク排気ポンプ9は常時運
転しているものとする。まず中空被試験品14を真空室
1内に入れ、中空被試験品14のガス注入部(図示せ
ず)をトレースガス封入チュ−ブ16に接続する。次に
真空室1の扉を閉め、バルブ10を開いて真空室1内を
真空排気する。また、バルブ15を開いて中空被試験品
14内へトレースガスを封入する。なお、中空被試験品
14によってはその内部にトレースガスを封入してから
真空室1内へ投入する場合もある。
The procedure of the leak test of the hollow DUT by the leak inspection apparatus will be described below. The vacuum chamber exhaust pumps 12 and 13 and the master leak exhaust pump 9 are assumed to be constantly operating. First, the hollow DUT 14 is placed in the vacuum chamber 1, and the gas injection portion (not shown) of the hollow DUT 14 is connected to the trace gas sealing tube 16. Next, the door of the vacuum chamber 1 is closed, the valve 10 is opened, and the inside of the vacuum chamber 1 is evacuated. Further, the valve 15 is opened and the trace gas is enclosed in the hollow DUT 14. Depending on the hollow DUT 14, the trace gas may be charged into the vacuum chamber 1 after being filled therein.

【0021】その結果、中空被試験品14に漏れがあれ
ば、トレースガスが真空室1内に漏出するので、バルブ
11を開けるとトレースガスが質量分析計5へ導入さ
れ、質量分析計5の検出イオン電流を所定時間積分する
ことによりその漏れ量が計測される。なおバルブ11は
測定に必要な時間だけ開くようになっている。このよう
な漏れ検査装置は、質量分析計5や真空系の微妙な変化
により測定感度が変動するので、以下に説明するマスタ
ーリーク漏れ量の測定を行い、この測定結果に基づいて
装置の性能確認と感度校正とを4時間毎に行う。
As a result, if there is a leak in the hollow DUT 14, the trace gas leaks into the vacuum chamber 1. Therefore, when the valve 11 is opened, the trace gas is introduced into the mass spectrometer 5, and the mass spectrometer 5 The leak amount is measured by integrating the detected ion current for a predetermined time. The valve 11 is designed to open only for the time required for measurement. Since the measurement sensitivity of such a leak inspection device varies due to subtle changes in the mass spectrometer 5 and the vacuum system, the master leak leakage amount described below is measured, and the performance of the device is confirmed based on this measurement result. And sensitivity calibration are performed every 4 hours.

【0022】以下、このマスターリーク漏れ量の測定に
ついて説明する。なお、このマスターリーク漏れ量の測
定前にはバルブ3、4、10、11、15は閉じ、バル
ブ8は開いておく。まず測定済みの中空被試験品14を
真空室1から取り出して扉を閉鎖した後、バルブ10を
開けて真空室1を基準圧まで排気してバルブ10を閉
じ、次に、バルブ3、4を開き、バルブ8を閉じると、
ボンベ7からマスターリーク2を通じてトレースガスが
真空室1へ基準のタイミング、一定漏れ量で導入され
る。そこでバルブ11を開いて質量分析計5によりトレ
ースガスの漏れ量を測定する。
The measurement of the master leak leakage amount will be described below. The valves 3, 4, 10, 11, 15 are closed and the valve 8 is opened before the measurement of the master leak leakage amount. First, the measured hollow device under test 14 is taken out of the vacuum chamber 1 and the door is closed. Then, the valve 10 is opened, the vacuum chamber 1 is evacuated to the reference pressure, and the valve 10 is closed. Open and close valve 8,
Trace gas is introduced from the cylinder 7 through the master leak 2 into the vacuum chamber 1 at a standard timing and a constant leak amount. Then, the valve 11 is opened and the amount of trace gas leakage is measured by the mass spectrometer 5.

【0023】この測定後、バルブ3、4、10、11、
15を閉じ、バルブ8は開き、かつ図示しないバルブに
より真空室1に大気を導入し、扉を開いて次の中空被試
験品14を受け入れる。質量分析計5から出力されたマ
スターリーク漏れ量の今回値は不図示のデータ処理装置
により一定の許容範囲内にあるかどうかを調べ、その範
囲内にあればこのデータ処理装置は装置作動良好と判断
してその後の測定を許可し、もし範囲外であれば警報を
発報してその後の測定を中断させる。また、デ−タ処理
装置はマスターリーク漏れ量の前回値(4時間前に測
定)と今回値とを比較し、その比率を今後の測定値に掛
けることにより感度校正を行う。
After this measurement, the valves 3, 4, 10, 11,
15 is closed, the valve 8 is opened, the atmosphere is introduced into the vacuum chamber 1 by a valve (not shown), the door is opened, and the next hollow DUT 14 is received. The master leak leak amount output from the mass spectrometer 5 is checked by a data processing device (not shown) to see if it is within a certain allowable range. If it is within that range, this data processing device is considered to be in good operation. It judges and permits the subsequent measurement. If it is out of the range, an alarm is issued and the subsequent measurement is interrupted. Further, the data processing device compares the previous value (measured 4 hours before) with the current value of the master leak leakage amount, and multiplies the ratio by the future measured value to perform sensitivity calibration.

【0024】以上によりNo.1テストチャンバー部A
のマスターリーク漏れ量の測定及び感度校正について説
明したが、上記動作は他の5台のテストチャンバー部A
に対しても順番に行う。1台のテストチャンバー部Aに
対する上記作業は通常の中空被試験品に対する漏れ量測
定作業と同一時間範囲(たとえば20秒)に充分実施で
きるので、結局全テストチャンバー部Aに対して20×
6=120秒でマスターリーク漏れ量の測定作業を終了
することができる。
From the above, the No. 1 Test chamber part A
Although the measurement of the master leak leakage amount and the sensitivity calibration of the above have been described, the above operation is performed for the other five test chamber parts A.
Also do in order. Since the above-mentioned work for one test chamber A can be sufficiently performed in the same time range (for example, 20 seconds) as the work for measuring the leak amount for a normal hollow DUT, 20 × for all test chambers A after all.
The work of measuring the master leak leakage amount can be completed in 6 = 120 seconds.

【0025】以上述べた実施例では、マスターリーク2
として微小な漏れ穴を有する部品を使用しているが、ガ
ラス壁のガス浸透等によっても一定の漏れ量を得ること
ができ、この場合でもマスターリーク2の汚損を防止す
ることができる。以上説明したように漏れ検査装置は、
トレースガスを定期的に定流量でリークさせるマスター
リーク2をボンベ7と真空室1との間に開閉可能に設け
ているので、マスターリーク2の汚損を防止することが
でき、またマスターリーク2の取扱いが不要となるので
作業者への負担軽減が可能となる。
In the embodiment described above, the master leak 2
Although a component having a minute leak hole is used as the above, a constant leak amount can be obtained by gas permeation of the glass wall and the like, and even in this case, the master leak 2 can be prevented from being soiled. As described above, the leak inspection device
Since the master leak 2 that periodically leaks the trace gas at a constant flow rate is provided between the cylinder 7 and the vacuum chamber 1 so as to be openable and closable, the master leak 2 can be prevented from being contaminated, and the master leak 2 can be prevented. Since the handling is unnecessary, the burden on the operator can be reduced.

【0026】すなわち、本発明のマスターリークの両端
は配管及びバルブを通じてトレースガス供給源及び真空
室との間に接続されており、従来のように真空室外に保
管し、かつ人手により真空室に出し入れする場合に比べ
て格段に汚染されにくい。唯一の汚染源としては、真空
室の扉を開いたときに外部から真空室へ流入する空気中
の塵や水分であるが、真空室に流入した上記空気は扉閉
鎖後、真空室排気ポンプによりただちに排気されるの
で、真空室内に随伴したこれら塵や水分はこの排気気流
により外部に排出されまた直ちに蒸発し、真空室内は殆
どの時間において清潔である。 更に、作業者はマスタ
ーリーク漏れ量の測定に際して、マスターリークの取扱
いが不要となるのでその負担軽減が可能となり、マスタ
ーリークの保管場所も要らないので省スペースも実現で
きる。
That is, both ends of the master leak of the present invention are connected between the trace gas supply source and the vacuum chamber through pipes and valves, stored outside the vacuum chamber as in the conventional case, and manually put in and taken out from the vacuum chamber. It is much less likely to be polluted than when it is used. The only source of pollution is dust and moisture in the air that flows into the vacuum chamber from the outside when the door of the vacuum chamber is opened, but the air that has flowed into the vacuum chamber is immediately closed by the vacuum chamber exhaust pump after the door is closed. As it is evacuated, these dust and water that accompany the vacuum chamber are discharged to the outside by this exhaust gas stream and immediately evaporated, and the vacuum chamber is clean most of the time. Furthermore, the operator does not need to handle the master leak when measuring the leak amount of the master leak, so that the burden can be reduced, and a space for storing the master leak is not required, so that space can be saved.

【0027】以下、本実施例の他の効果について説明す
る。 (1)まず、本実施例ではマスターリーク2と真空室1
とをバルブ3を通じて連結し、マスターリーク漏れ量の
測定時にのみバルブ3を開いている。このようにすれ
ば、真空室1を大気開放する期間に、真空室1から汚れ
た外気がマスターリーク2に侵入することが防止でき、
マスターリーク2の詰まりやフィルタ汚損を防止するこ
とができる。
Other effects of this embodiment will be described below. (1) First, in this embodiment, the master leak 2 and the vacuum chamber 1
Are connected through the valve 3, and the valve 3 is opened only when measuring the master leak leakage amount. By doing this, it is possible to prevent the dirty air from the vacuum chamber 1 from entering the master leak 2 while the vacuum chamber 1 is open to the atmosphere.
It is possible to prevent clogging of the master leak 2 and damage to the filter.

【0028】(2)次に、本実施例ではマスターリーク
2と真空室1とをバルブ3を通じて連結し、マスターリ
ーク2とボンベ7とをバルブ4を通じて連結し、更にマ
スターリーク2とマスターリーク排気ポンプ9とをバル
ブ8を通じて連結し、マスターリーク漏れ量の測定終了
後は、バルブ3、4を閉じ、バルブ8を開いてマスター
リーク2の内部及びマスターリーク2に連結される配管
中の残存トレースガスを排気している。
(2) Next, in this embodiment, the master leak 2 and the vacuum chamber 1 are connected through the valve 3, the master leak 2 and the cylinder 7 are connected through the valve 4, and the master leak 2 and the master leak exhaust are further connected. After the measurement of the master leak leakage amount is completed by connecting the pump 9 to the valve 8, the valves 3 and 4 are closed, the valve 8 is opened, and the remaining traces in the master leak 2 and in the pipe connected to the master leak 2 are traced. Exhausting gas.

【0029】このようにすれば、次回のマスターリーク
漏れ量の測定に際してマスターリーク2の内部及びマス
ターリーク2に連結される配管中の残存トレースガスが
次回の漏れ量測定値に測定されるという不具合を回避す
ることができ、校正精度を向上することができる。な
お、上記実施例ではバルブ8はマスターリーク2の微小
孔より上流部に設けたが、下流部に設けてもよく、更に
両方に設けてもよい。
With this arrangement, the residual trace gas inside the master leak 2 and in the pipe connected to the master leak 2 is measured as the next leak amount measurement value when the next master leak amount is measured. Can be avoided and the calibration accuracy can be improved. Although the valve 8 is provided upstream of the minute holes of the master leak 2 in the above-described embodiment, it may be provided downstream, or both.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の漏れ検査装置の一実施例を示すブロッ
ク図、
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a leak inspection device of the present invention,

【図2】図1のマスターリークの平面図、FIG. 2 is a plan view of the master leak shown in FIG.

【図3】図1のマスターリークの断面図、3 is a sectional view of the master leak of FIG. 1,

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1は真空室、2はマスターリーク、5は質量分析計(ガ
スセンサ)、7はトレースガスボンベ(トレースガス供
給源)、14は中空被試験品、12、13は真空室排気
ポンプ、
1 is a vacuum chamber, 2 is a master leak, 5 is a mass spectrometer (gas sensor), 7 is a trace gas cylinder (trace gas supply source), 14 is a hollow DUT, 12 and 13 are vacuum chamber exhaust pumps,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】内部に所定圧力のトレースガスが注入され
る中空被試験品を収容する真空室と、該各真空室を所定
の真空圧まで掃引する真空室排気ポンプと、前記各真空
室中のトレースガスを順次検出するガスセンサとを備え
る漏れ検査装置において、 トレースガス供給源と前記各真空室とを配管及びバルブ
を通じて連結するとともに、前記トレースガス供給源か
ら供給されるトレースガスを前記真空室へ定期的に所定
の漏れ流量でリークさせるマスターリークを備えること
を特徴とする漏れ検査装置。
1. A vacuum chamber for accommodating a hollow DUT into which a trace gas having a predetermined pressure is injected, a vacuum chamber exhaust pump for sweeping each vacuum chamber to a predetermined vacuum pressure, and each of the vacuum chambers. In a leak inspection apparatus including a gas sensor for sequentially detecting the trace gas, a trace gas supply source and each of the vacuum chambers are connected through a pipe and a valve, and the trace gas supplied from the trace gas supply source is connected to the vacuum chamber. A leak inspection device comprising: a master leak that periodically leaks to a predetermined leak flow rate.
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