JPH0524037A - Cutting method for electronic part ceramic base and its device - Google Patents

Cutting method for electronic part ceramic base and its device

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JPH0524037A
JPH0524037A JP20621291A JP20621291A JPH0524037A JP H0524037 A JPH0524037 A JP H0524037A JP 20621291 A JP20621291 A JP 20621291A JP 20621291 A JP20621291 A JP 20621291A JP H0524037 A JPH0524037 A JP H0524037A
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JP
Japan
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ceramic substrate
cutting
electronic parts
cut
section
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JP20621291A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Odaka
建次 小高
Katsuhisa Uchida
勝久 内田
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To prevent the generation of defects such as crack, break and the like when an electronic part ceramic base is cut into chips. CONSTITUTION:Boundaries on both sides of a section 4 to be cut of an electronic part ceramic base 100 are cut simultaneously by using a plurality of disc-shaped rotating whetstones 60 mounted on a spindle 52 and rotationally driven thereon.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品用セラミック
基板を高精度でしかも割れや欠けを発生させずに効率的
に切断可能な電子部品用セラミック基板の切断方法及び
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for cutting a ceramic substrate for electronic parts, which is capable of cutting the ceramic substrate for electronic parts with high accuracy and without causing cracks or chips.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
特開昭63−172401号等において、スリット穴を
形成することによって複数の棒状部を一体に形成してな
るセラミック基板の前記棒状部の各区画に電子部品素子
をそれぞれ形成した後、各区画毎に切断、分離してチッ
プ部品を作製することが提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, the problems to be solved by the invention
In Japanese Patent Laid-Open No. 63-172401, etc., an electronic component element is formed in each section of the rod-shaped portion of a ceramic substrate formed by integrally forming a plurality of rod-shaped portions by forming slit holes. It has been proposed that the chip component be manufactured by cutting and separating.

【0003】図13はスリット穴あきのセラミック基板
の1例であり、1はセラミック基板、2点鎖線で囲まれ
た領域Eは多数の平行なスリット穴2により多数の棒状
部3を形成した部分である。各棒状部3は多数の区画4
を持ち、各区画4にチップ抵抗素子、チップ容量素子等
の電子部品素子がそれぞれ形成される。電子部品素子を
各区画4に形成後、各区画4の境界Hを切断する必要が
あるが、従来はその切断動作を1枚の円盤状回転砥石で
実行していた。
FIG. 13 shows an example of a ceramic substrate having slit holes. Reference numeral 1 denotes a ceramic substrate, and region E surrounded by a two-dot chain line is a portion where a large number of rod-shaped portions 3 are formed by a large number of parallel slit holes 2. is there. Each bar 3 has a number of compartments 4
And electronic component elements such as a chip resistance element and a chip capacitance element are formed in each section 4. It is necessary to cut the boundary H of each partition 4 after forming the electronic component element in each partition 4, but in the past, the cutting operation was performed with one disk-shaped rotary grindstone.

【0004】図14及び図15で1枚の円盤状回転砥石
による切断動作及びその欠点について説明する。図14
中、1はセラミック基板であり、その裏面に粘着ビニー
ルテープ10が貼り付けられている。そして、粘着ビニ
ールテープ上のセラミック基板1に対して円盤状回転砥
石11を押し当てて電子部品素子が形成された各切断区
画の境界を切削していくが、図14中矢印Fのように切
断途中の区画に対して逃げ方向の力が働く。このため、
回転砥石11が完全に基板下面に到達する前に図15の
ように切断区画がチップ部品15として分離していた。
このため、切断後に得られたチップ部品15に割れ、欠
け等が多数発生していた。
The cutting operation by one disc-shaped rotary grindstone and its defects will be described with reference to FIGS. 14 and 15. 14
Inside, 1 is a ceramic substrate, and an adhesive vinyl tape 10 is attached to the back surface thereof. Then, the disc-shaped rotary grindstone 11 is pressed against the ceramic substrate 1 on the adhesive vinyl tape to cut the boundary of each cutting section in which the electronic component element is formed. The force in the escape direction acts on the section on the way. For this reason,
Before the rotary grindstone 11 completely reached the lower surface of the substrate, the cutting section was separated as the chip component 15 as shown in FIG.
For this reason, the chip component 15 obtained after cutting had many cracks and chips.

【0005】図16乃至図30は従来の切断動作による
不良品の発生例であり、図16乃至図18はチップ部品
15の一方の切断面に60〜70μmの段差aが発生
し、また角部に欠けbが発生した様子を示している。図
19乃至図21はチップ部品15の両方の切断面に段差
が発生した様子を示している。図22乃至図24はチッ
プ部品15の両方の切断面に段差が発生し、かつ切断条
痕(往復)cが発生した様子を示している。図25乃至
図27はチップ部品15の切断面に反りdや破面eが発
生した様子を示している。図28乃至図30はチップ部
品15の切断面に反りfや段差gが発生した様子を示し
ている。
FIGS. 16 to 30 show examples of generation of defective products by the conventional cutting operation. FIGS. 16 to 18 show a step a of 60 to 70 μm on one cut surface of the chip component 15 and a corner portion. It shows a state where a chip b is generated. 19 to 21 show a state in which a step is formed on both cut surfaces of the chip component 15. 22 to 24 show a state in which a step is generated on both cut surfaces of the chip component 15 and a cutting striation (reciprocating) c is generated. 25 to 27 show how the warp d and the fracture surface e occur on the cut surface of the chip component 15. 28 to 30 show how a warp f and a step g occur on the cut surface of the chip component 15.

【0006】なお、1枚の回転砥石11で電子部品用セ
ラミック基板1を切断する際に、各切断すべき区画4の
境界と回転砥石11の切断方向との平行度にずれがある
と高精度の切断は不可能になる。とくに、電子部品素子
を形成した各区画4の形状寸法が小さくなると前記平行
度のずれが無視できなくなり、この点においても何らか
の対策が必要になる。
When cutting the ceramic substrate 1 for electronic parts with one rotating grindstone 11, it is highly accurate if there is a deviation in the parallelism between the boundaries of the sections 4 to be cut and the cutting direction of the rotating grindstone 11. Can't be cut off. In particular, when the shape and size of each section 4 in which the electronic component element is formed becomes small, the deviation of the parallelism cannot be ignored, and some measure is required also in this respect.

【0007】本発明は、上記の点に鑑み、高精度で電子
部品用セラミック基板を切断でき、しかも割れ、欠け等
の不良発生を防止できる電子部品用セラミック基板の切
断方法及び装置を提供することを目的とする。
In view of the above points, the present invention provides a method and apparatus for cutting a ceramic substrate for an electronic component, which can cut the ceramic substrate for an electronic component with high accuracy and prevent the occurrence of defects such as cracks and chips. With the goal.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の電子部品用セラミック基板の切断方法は、
相互に平行な複数の円盤状回転砥石を用いて電子部品用
セラミック基板の切断すべき区画の両側の境界を同時に
切断するようにしている。
In order to achieve the above object, a method of cutting a ceramic substrate for electronic parts according to the present invention comprises:
A plurality of disc-shaped rotary grindstones parallel to each other are used to simultaneously cut the boundaries on both sides of the section to be cut of the ceramic substrate for electronic parts.

【0009】また、本発明の電子部品用セラミック基板
の切断装置は、複数の円盤状回転砥石を相互に平行に取
り付けたスピンドルと、電子部品用セラミック基板とス
ピンドル相互の位置関係をX−Y−Z−θ方向に変化さ
せる移動手段と、前記電子部品用セラミック基板の切断
すべき区画の境界に平行な直線上に配列された当該基板
上の複数のマーカーを撮像して前記境界と前記回転砥石
の切断方向との平行度のずれを検出する画像処理手段
と、該画像処理手段の検出出力を受けて前記平行度のず
れを補正する如く前記移動手段を作動させる制御手段と
を備えた構成としている。
Further, in the cutting device for a ceramic substrate for electronic parts of the present invention, the spindle in which a plurality of disk-shaped rotary grindstones are mounted in parallel with each other and the positional relationship between the ceramic substrate for electronic parts and the spindle are XY-. The moving means for changing in the Z-θ direction and a plurality of markers on the substrate arranged on a straight line parallel to the boundary of the section to be cut in the ceramic substrate for electronic parts are imaged to pick up the boundary and the rotary grindstone. The image processing means for detecting the deviation of the parallelism from the cutting direction, and the control means for operating the moving means so as to correct the deviation of the parallelism by receiving the detection output of the image processing means. There is.

【0010】[0010]

【作用】本発明においては、複数の円盤状回転砥石を用
いて電子部品用セラミック基板の切断すべき区画の両側
の境界を同時に切断するので、切断中の区画に逃げは発
生せず、円盤状回転砥石が電子部品用セラミック基板下
面に到達するまで切断区画が分離することはない。従っ
て、電子部品用セラミック基板の切断で得られたチップ
部品に割れや欠けは発生しにくい。また、複数の回転砥
石で切断するため、電子部品用セラミック基板の切断を
能率的に行うことができ、製造コスト低減にも有利であ
る。さらに、切断すべき区画の境界に平行な直線上に配
列された複数のマーカーを前記電子部品用セラミック基
板に設け、それらのマーカーを撮像する構成を採用すれ
ば、前記回転砥石の切断方向と前記境界との間の平行度
のずれを検出でき、該平行度のずれを補正後に切断動作
を実行可能であり、電子部品用セラミック基板を微小寸
法(1.0×0.5mm程度)のチップ部品に高精度(±10
μm以内の誤差)で切断することができる。
In the present invention, since the boundaries on both sides of the section to be cut of the ceramic substrate for electronic parts are cut at the same time by using a plurality of disk-shaped rotary grindstones, no escape occurs in the section being cut and the disk-shaped section is cut. The cutting section does not separate until the rotary grindstone reaches the lower surface of the ceramic substrate for electronic parts. Therefore, cracks and chips are unlikely to occur in the chip component obtained by cutting the ceramic substrate for electronic components. Further, since the cutting is performed with a plurality of rotary grindstones, the ceramic substrate for electronic parts can be cut efficiently, which is also advantageous in reducing the manufacturing cost. Furthermore, if a plurality of markers arranged on a straight line parallel to the boundary of the section to be cut are provided on the ceramic substrate for electronic parts, and a configuration is adopted in which these markers are imaged, the cutting direction of the rotary grindstone and the It is possible to detect the deviation of the parallelism with the boundary and execute the cutting operation after correcting the deviation of the parallelism, and to make the ceramic substrate for electronic parts into a chip part having a minute dimension (about 1.0 × 0.5 mm). High accuracy (± 10
It can be cut with an error of less than μm.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明に係る電子部品用セラミック基
板の切断方法及び装置の実施例を図面に従って説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a method and apparatus for cutting a ceramic substrate for electronic parts according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1及び図5は本発明の実施例である電子
部品用セラミック基板の切断装置の主要構成部分、図2
乃至図4は全体構成をそれぞれ示し、図6は実施例の制
御系統を示す。
FIG. 1 and FIG. 5 are main components of a cutting device for a ceramic substrate for electronic parts, which is an embodiment of the present invention, and FIG.
4 to 4 show the overall configuration, and FIG. 6 shows the control system of the embodiment.

【0013】まず、図2乃至図4で全体構成の説明を行
う。これらの図において、20は装置フレームであり、
該装置フレーム20の右側面に供給取り出し部21が配
設されている。該供給取り出し部21は装置フレーム2
0の右側面に対してY軸方向(X軸に垂直でかつ図2の
紙面に垂直)に摺動自在に取り付けられたマガジン移動
台22と、該マガジン移動台22上に固定された供給側
基板収納マガジン23A及び取り出し側基板収納マガジ
ン23Bとを有している。各基板収納マガジン23A,
23Bは図4のように2個ずつ前後に配置されている。
なお、各基板収納マガジン23A,23Bには収納され
た電子部品用セラミック基板(粘着ビニールテープを底
面に貼り付けたもの)を所定の高さ位置に押し上げるた
めの機構が設けられている。
First, the overall structure will be described with reference to FIGS. In these figures, 20 is a device frame,
A supply / removal section 21 is arranged on the right side surface of the apparatus frame 20. The supply / removal unit 21 is the device frame 2
A magazine movable base 22 slidably attached to the right side surface of 0 in the Y-axis direction (perpendicular to the X-axis and perpendicular to the paper surface of FIG. 2), and a supply side fixed on the magazine movable base 22. It has a substrate storage magazine 23A and a take-out side substrate storage magazine 23B. Each board storage magazine 23A,
Two 23Bs are arranged at the front and rear, as shown in FIG.
Each of the substrate storage magazines 23A and 23B is provided with a mechanism for pushing up the stored electronic component ceramic substrate (having an adhesive vinyl tape attached to the bottom surface) to a predetermined height position.

【0014】前記装置フレーム20のX軸方向に沿って
往復移動自在にX軸方向移動ヘッド31が支持機構32
で装置フレーム20上に支持され、前記供給側基板収納
マガジン23A内の電子部品用セラミック基板を真空吸
引にて吸着保持可能な吸着盤33A及び前記取り出し側
基板収納マガジン23Bへ電子部品用セラミック基板を
吸着保持して移送可能な吸着盤33Bが前記X軸方向移
動ヘッド31にそれぞれ取り付けられている。X軸方向
移動ヘッド31の移動範囲上部はカバー34で覆われて
いる。これは、後述の電子部品用セラミック基板の切断
工程で使用する研削液がX軸方向移動ヘッド31で移送
中の電子部品用セラミック基板にかからないようにする
為である。なお、マガジン移動台22のY軸方向の移動
によって図4に示す各2個の基板収納マガジン23A,
23Bの前後いずれかを選択して電子部品用セラミック
基板の取り出し、収納のための吸着盤33A,33Bに
対向させることができる。
An X-axis direction moving head 31 is supported by a support mechanism 32 so as to be reciprocally movable along the X-axis direction of the apparatus frame 20.
The ceramic board for electronic parts is supported on the device frame 20 by the suction board 33A capable of sucking and holding the ceramic board for electronic parts in the supply side board housing magazine 23A by vacuum suction and the ceramic board for electronic parts in the takeout side board housing magazine 23B. Suction discs 33B capable of suction-holding and transferring are attached to the X-axis direction moving heads 31, respectively. The upper part of the moving range of the X-axis direction moving head 31 is covered with a cover 34. This is so that the grinding liquid used in the cutting step of the ceramic substrate for electronic parts described later does not reach the ceramic substrate for electronic parts being transferred by the X-axis direction moving head 31. It should be noted that by moving the magazine moving table 22 in the Y-axis direction, each of the two substrate storage magazines 23A shown in FIG.
It is possible to select either the front or the back of 23B to face the suction plates 33A and 33B for taking out and storing the ceramic substrate for electronic parts.

【0015】図3に示すように、装置フレーム20には
X軸方向に移動自在なXテーブル40が設置され、該X
テーブル40上にθテーブル41が設置されている。該
θテーブル41はX−Y平面(水平面)に垂直なZ軸に
平行となっている回転中心軸を持ち所要角度回転自在で
あり、θテーブル41上に切断加工すべき電子部品用セ
ラミック基板が載置固定されるようになっている。
As shown in FIG. 3, the apparatus frame 20 is provided with an X table 40 movable in the X-axis direction.
A θ table 41 is installed on the table 40. The θ table 41 has a central axis of rotation that is parallel to the Z axis perpendicular to the XY plane (horizontal plane) and is rotatable at a required angle. The θ table 41 has a ceramic substrate for electronic parts to be cut. It is designed to be placed and fixed.

【0016】前記装置フレーム20上にはY軸方向に摺
動自在なYスライダ50が支持され、該Yスライダ50
の前面にZ軸方向に摺動自在にZスライダ51が支持さ
れている。Zスライダ51の下部には高速回転するスピ
ンドル52の先端部が突出している。図1及び図5に示
す如く、複数枚の円盤状回転砥石60はスペーサ61を
介して一定間隔で交互に平行に重ねられてフランジ53
に装着されかつ砥石押え54を介してナット55で固定
され、さらに、円盤状回転砥石60を取り付けたフラン
ジ53はスピンドル52に嵌められてナット56で固定
される。なお、円盤状回転砥石60の配置箇所の上部は
開閉式の透視窓付きカバー57で覆われるようになって
いる。
A Y-slider 50 slidable in the Y-axis direction is supported on the device frame 20, and the Y-slider 50 is supported.
A Z slider 51 is supported on the front surface of the slider so as to be slidable in the Z-axis direction. The tip of a spindle 52, which rotates at a high speed, projects below the Z slider 51. As shown in FIGS. 1 and 5, a plurality of disk-shaped rotary grindstones 60 are alternately stacked in parallel at regular intervals via spacers 61 to form flanges 53.
And is fixed by a nut 55 via a grindstone retainer 54, and a flange 53 to which a disk-shaped rotary grindstone 60 is attached is fitted on a spindle 52 and fixed by a nut 56. The upper part of the location where the disk-shaped rotary grindstone 60 is arranged is covered with an openable cover 57 with a transparent window.

【0017】図6で電子部品用セラミック基板の切断装
置の制御系統について説明する。図6の制御系統は、画
像処理回路70、電子部品用セラミック基板を撮像する
ためのテレビカメラ71、画像処理回路70の画像処理
出力を表示するモニターテレビ72、マイクロプロセッ
サー73、X軸モータードライバー74、Y軸モーター
ドライバー75、Z軸モータードライバー76、θ軸モ
ータードライバー77、取り出し供給モータードライバ
ー78、スピンドルモータードライバー79、装置に取
り付けられた各センサー81、各モータードライバー7
4乃至79及び各センサー81とマイクロプロセッサー
73とを接続するインターフェイス82、及び操作スイ
ッチパネル83を具備している。
A control system of the cutting device for a ceramic substrate for electronic parts will be described with reference to FIG. The control system of FIG. 6 includes an image processing circuit 70, a television camera 71 for capturing an image of a ceramic substrate for electronic parts, a monitor television 72 for displaying the image processing output of the image processing circuit 70, a microprocessor 73, an X-axis motor driver 74. , Y-axis motor driver 75, Z-axis motor driver 76, θ-axis motor driver 77, take-out supply motor driver 78, spindle motor driver 79, each sensor 81 attached to the apparatus, each motor driver 7
4 to 79, an interface 82 for connecting each sensor 81 and the microprocessor 73, and an operation switch panel 83.

【0018】ここで、前記テレビカメラ71は取付アー
ム85を介して前記Yスライダ50に固定され、モニタ
ーテレビ72及び操作スイッチパネル83は制御系統が
格納された制御筺体90の前面に配設されている。X軸
モータードライバー74はXテーブル40をX軸方向に
移動させるモーターを駆動制御するものであり、Y軸モ
ータードライバー75はYスライダ50をY軸方向に移
動させるモーターを駆動制御するものであり、Z軸モー
タードライバー76はZスライダ51をZ軸方向に移動
させるモーターを駆動制御するものであり、θ軸モータ
ードライバー77はθテーブル41を回転移動させるモ
ーターを駆動制御するものであり、取り出し供給モータ
ードライバー78は電子部品用セラミック基板を移送す
るためのX軸方向移動ヘッド31を移動させるモーター
を駆動制御するものであり、スピンドルモータードライ
バー79はスピンドル52を回転させるモーターを駆動
制御するものである。これらのモータードライバー74
乃至79はインターフェイス82を介してマイクロプロ
セッサー73で制御されるようになっている。
Here, the TV camera 71 is fixed to the Y slider 50 via a mounting arm 85, and the monitor TV 72 and the operation switch panel 83 are arranged on the front surface of a control housing 90 in which a control system is stored. There is. The X-axis motor driver 74 drives and controls a motor that moves the X table 40 in the X-axis direction, and the Y-axis motor driver 75 drives and controls a motor that moves the Y slider 50 in the Y-axis direction. The Z-axis motor driver 76 drives and controls the motor that moves the Z slider 51 in the Z-axis direction, and the θ-axis motor driver 77 drives and controls the motor that rotates and moves the θ-table 41. The driver 78 drives and controls the motor that moves the X-axis direction moving head 31 for transferring the ceramic substrate for electronic parts, and the spindle motor driver 79 drives and controls the motor that rotates the spindle 52. These motor drivers 74
79 to 79 are controlled by the microprocessor 73 via the interface 82.

【0019】次に、図7及び他の図を用いて電子部品用
セラミック基板の切断工程及びその前後の工程について
説明する。多数の区画にチップ抵抗素子、容量素子等の
電子部品素子を形成した後の電子部品用セラミック基板
100は、図7のように、まずテープ貼付機101の供
給側マガジン102に移送される。供給側マガジン10
2の電子部品用セラミック基板100は吸着盤103で
吸着されてテープ貼付テーブル104上に移載され(但
し裏返し状態)、電子部品用セラミック基板100の裏
面に、昇降部材105で保持された所定長さの粘着ビニ
ールテープ106が当該昇降部材105の下降動作で貼
り付られ、さらに加圧ローラー107で加圧される。そ
して、粘着ビニールテープ106が裏面に貼り付けられ
た電子部品用セラミック基板(以下テープ付き電子部品
用セラミック基板と略称する)100はテープ貼付機1
01の取り出し側マガジン108に排出される。
Next, the step of cutting the ceramic substrate for electronic parts and the steps before and after it will be described with reference to FIG. 7 and other figures. The electronic component ceramic substrate 100 on which electronic component elements such as chip resistance elements and capacitance elements have been formed in a large number of sections is first transferred to the supply-side magazine 102 of the tape sticking machine 101, as shown in FIG. Supply magazine 10
The ceramic substrate 100 for electronic parts of 2 is sucked by the suction plate 103 and transferred onto the tape sticking table 104 (in the state of being turned upside down), and is held on the back surface of the ceramic substrate 100 for electronic parts by the elevating member 105 for a predetermined length. The adhesive vinyl tape 106 is attached by the lowering operation of the elevating member 105, and is further pressed by the pressure roller 107. Then, the ceramic substrate for electronic parts (hereinafter, abbreviated as a ceramic substrate for electronic parts with tape) 100 to which the adhesive vinyl tape 106 is attached on the back surface is the tape applying machine 1.
No. 01 is ejected to the take-out magazine 108.

【0020】テープ付き電子部品用セラミック基板10
0を切断処理する前に、図2乃至図4で全体構成を説明
した電子部品用セラミック基板の切断装置110はテス
ト基板を切断する工程を行う。すなわち、図8のテスト
基板111をθテーブル41上に位置決め載置し、既知
のYスライダ50の位置でスピンドル52を回転させ、
Xテーブル40を移動させてテスト基板111を切削
し、該テスト基板上に付いた複数の円盤状回転砥石60
の切削跡Tをテレビカメラ71で撮像し、画像処理回路
70にて画像処理して切削跡Tの位置(Y座標)を認識
しマイクロプロセッサー73で記憶する。これにより、
既知のYスライダ50の位置と円盤状回転砥石60の位
置関係を正確に知ることができる。その後、テスト基板
111はθテーブル41から外しておく。
Ceramic substrate 10 for electronic parts with tape
Before the cutting process of 0, the cutting device 110 for a ceramic substrate for electronic parts, whose overall configuration has been described with reference to FIGS. 2 to 4, performs a step of cutting a test substrate. That is, the test board 111 of FIG. 8 is positioned and placed on the θ table 41, and the spindle 52 is rotated at the known position of the Y slider 50.
The X table 40 is moved to cut the test substrate 111, and a plurality of disc-shaped rotary grindstones 60 attached to the test substrate are cut.
The cutting trace T is imaged by the television camera 71, the image processing circuit 70 performs image processing to recognize the position (Y coordinate) of the cutting trace T, and the microprocessor 73 stores it. This allows
It is possible to accurately know the known positional relationship between the Y slider 50 and the disk-shaped rotary grindstone 60. After that, the test board 111 is removed from the θ table 41.

【0021】さて、前記テープ貼付機101で作製した
テープ付き電子部品用セラミック基板100はテープ貼
付機101の取り出し側マガジン108から電子部品用
セラミック基板の切断装置110の供給側基板収納マガ
ジン23Aに移送される。そして、吸着盤33Aの昇降
動作により供給側基板収納マガジン23A内のテープ付
き電子部品用セラミック基板100は吸着盤33Aにて
吸着保持され、X軸方向移動ヘッド31の移動及び吸着
盤33Aの下降動作にてテレビカメラ71の真下に位置
するθテーブル41上に移載され、クランプ手段にて該
θテーブル41に対し位置決め固定される。
By the way, the ceramic substrate 100 for electronic parts with tape produced by the tape applying machine 101 is transferred from the take-out side magazine 108 of the tape applying machine 101 to the supply side substrate storing magazine 23A of the cutting device 110 for electronic part ceramic substrate. To be done. Then, the ceramic board 100 for electronic components with tape in the supply side substrate storage magazine 23A is sucked and held by the suction board 33A by the lifting operation of the suction board 33A, and the movement of the X-axis direction moving head 31 and the lowering operation of the suction board 33A. Is transferred onto the θ table 41 located directly below the television camera 71, and is positioned and fixed to the θ table 41 by the clamp means.

【0022】図9乃至図11に示すように、電子部品用
セラミック基板100は、多数の平行なスリット穴2に
より多数の棒状部3を形成した領域Eを有し、各棒状部
3は多数の区画4を持ち、各区画4にチップ抵抗素子、
チップ容量素子等の電子部品素子がそれぞれ形成されて
いる。前記スピンドル52に取り付けられた円盤状回転
砥石60の配列間隔は、チップ部品として切断すべき区
画4の配列間隔(各区画の境界の配列間隔)に一致する
ように予め設定されている。また、前記切断すべき区画
4の境界に平行な直線に沿って2個のマーカー、すなわ
ち第1方形マーカー120A及び第2方形マーカー12
0Bが前記電子部品用セラミック基板100上に形成さ
れている。それらのマーカー120A,120Bは、抜
き穴であっても基板面を着色したものであってもカメラ
で撮像可能なものであればよい。
As shown in FIGS. 9 to 11, the electronic component ceramic substrate 100 has a region E in which a large number of rod-shaped portions 3 are formed by a large number of parallel slit holes 2, and each rod-shaped portion 3 has a large number of portions. Each section 4 has a chip resistance element,
Electronic component elements such as chip capacitance elements are formed respectively. The array interval of the disk-shaped rotary grindstones 60 attached to the spindle 52 is set in advance so as to match the array interval of the partitions 4 to be cut as chip parts (array interval of boundaries of each partition). In addition, two markers, that is, a first rectangular marker 120A and a second rectangular marker 12 are arranged along a straight line parallel to the boundary of the section 4 to be cut.
0B is formed on the ceramic substrate 100 for electronic parts. The markers 120A and 120B may be holes or colored substrate surfaces as long as they can be imaged by a camera.

【0023】さて、前記θテーブル41上にある電子部
品用セラミック基板100の各方形マーカー120A,
120Bをテレビカメラ71で順次撮像し、画像処理回
路70で画像処理することにより、2個の方形マーカー
120A,120BのY座標及び図9の如き両マーカー
のY座標のずれΔYを検出し、マイクロプロセッサー7
3で必要とするθテーブル41の回転量を算出してθテ
ーブル41を補正回転する。すなわち、図12のフロー
チャートのステップ#1乃至#3を実行する。θテーブ
ル41の補正回転後、テレビカメラ71で第1方形マー
カー120Aを再度撮像して図10のように両マーカー
120A,120BのY座標が一致しているかどうかを
確認する動作、すなわちステップ#4,#5を実行す
る。その後、最もスピンドル52の基部側にある円盤状
回転砥石60の位置Pを図11の第1及び第2方形マー
カー120A,120Bの上縁のY座標Qに一致させる
ことでステップ#6を実行し、さらに前記マーカー上縁
のY座標Qと切断対象となる区画4のうち最もマーカー
に近いものについての境界HのY座標Rとの間のY軸方
向の距離Ystepだけスピンドル52(Yスライダ50)
を前進させることでステップ#7を実行する。その後、
Zスライダ51を作動させて電子部品用セラミック基板
100の全厚みを切断可能な高さにまスピンドル52を
下げ、この状態でXテーブル40を図2、図3の左方向
に移動させて電子部品用セラミック基板100の回転砥
石60による切断を実行する。すなわち、ステップ#8
を実行する。
Now, each rectangular marker 120A of the ceramic substrate 100 for electronic parts on the θ table 41,
120B are sequentially captured by the television camera 71, and the image processing circuit 70 performs image processing to detect the Y-coordinates of the two rectangular markers 120A and 120B and the deviation ΔY between the Y-coordinates of the two markers as shown in FIG. Processor 7
The rotation amount of the θ table 41 required in 3 is calculated and the θ table 41 is corrected and rotated. That is, steps # 1 to # 3 of the flowchart of FIG. 12 are executed. After the correction rotation of the θ table 41, the television camera 71 takes an image of the first rectangular marker 120A again to confirm whether or not the Y coordinates of both markers 120A and 120B match, as shown in FIG. 10, that is, step # 4. , # 5 is executed. Then, step # 6 is executed by matching the position P of the disk-shaped rotary grindstone 60 closest to the base of the spindle 52 to the Y coordinate Q of the upper edges of the first and second rectangular markers 120A and 120B in FIG. Further, the spindle 52 (Y slider 50) is separated by the distance Ystep in the Y-axis direction between the Y coordinate Q of the upper edge of the marker and the Y coordinate R of the boundary H of the section 4 to be cut that is closest to the marker.
To execute step # 7. afterwards,
The Z slider 51 is operated to lower the spindle 52 to a height at which the entire thickness of the electronic component ceramic substrate 100 can be cut. In this state, the X table 40 is moved to the left in FIGS. The ceramic substrate 100 for cutting is cut by the rotary grindstone 60. That is, step # 8
To execute.

【0024】この場合、図1に示すように、切断すべき
各区画4の両方の境界が、当該境界と同じ配列間隔の円
盤状回転砥石60で同時に切削されることになるため、
1枚の円盤状回転砥石で切削する場合に生じた切断途中
の区画の逃げは発生せず、各区画4を円滑に切断するこ
とができる(実験では板厚0.1mm乃至5.0mmまで切断
可能)。また、2個のマーカー120A,120Bの位
置を検出し、θテーブル41の補正回転やYスライダ5
0の所定量の移動を実施することで、電子部品用セラミ
ック基板100の切断すべき区画4の境界と円盤状回転
砥石60の切断方向とを高精度で一致させることができ
る。
In this case, as shown in FIG. 1, both boundaries of each section 4 to be cut are simultaneously cut by the disk-shaped rotary grindstone 60 having the same arrangement interval as the boundaries.
It is possible to smoothly cut each section 4 without any relief of the section in the middle of cutting that occurs when cutting with one disk-shaped rotary grindstone (in the experiment, cut to a plate thickness of 0.1 mm to 5.0 mm). Possible). Further, the positions of the two markers 120A and 120B are detected, and the correction rotation of the θ table 41 and the Y slider 5 are performed.
By performing the movement of a predetermined amount of 0, the boundary of the section 4 of the ceramic substrate 100 for electronic parts to be cut and the cutting direction of the disk-shaped rotary grindstone 60 can be matched with high accuracy.

【0025】図7の如く、切断後のテープ付き電子部品
用セラミック基板100AはXテーブル40の右方向へ
の移動によってテレビカメラ71の下方位置に移動さ
れ、さらに吸着盤33Bの下降により吸着保持され、X
軸方向移動ヘッド31の移動で取り出し側基板収納マガ
ジン23Bの上方に移され、吸着盤33Bの吸着解除に
より該取り出し側基板収納マガジン23Bに収納され
る。
As shown in FIG. 7, the ceramic substrate 100A for electronic parts with tape after cutting is moved to the lower position of the television camera 71 by the movement of the X table 40 to the right, and further sucked and held by the lowering of the suction plate 33B. , X
It is moved to the upper side of the take-out side substrate storage magazine 23B by the movement of the axial moving head 31, and is stored in the take-out side substrate storage magazine 23B by the suction release of the suction plate 33B.

【0026】これらの電子部品用セラミック基板の切断
装置110の一連の動作はマイクロプロセッサー73の
プログラムに従い全自動で実行することが可能である。
A series of operations of the ceramic substrate cutting device 110 for electronic parts can be automatically executed according to the program of the microprocessor 73.

【0027】切断後の電子部品用セラミック基板100
Aは裏面の粘着ビニールテープ106で各区画4の切断
で得られたチップ部品をそのまま保持している。このた
め、電子部品用セラミック基板の切断装置110の取り
出し側基板収納マガジン23Bの電子部品用セラミック
基板100Aはワーク剥離機130の供給側基板収納マ
ガジン131に移され、さらに吸着盤132にて紫外線
照射部133に移載される。紫外線照射部133は紫外
線を発生する水銀灯134とマスク135とを有し、チ
ップ部品が位置する領域(図11の領域Eに対応)のみ
に紫外線を照射してビニールテープ106の粘着性を失
わせるようにしている。その後、吸着盤132で電子部
品用セラミック基板100Aはベルトコンベア136上
に移載され、そしてナイロン毛等のロールブラシ137
の回転領域に送られる。これによって切断で得られたチ
ップ部品15を電子部品用セラミック基板100Aから
分離させて箱141内に落下させる。なお、ロールブラ
シ137にてチップ部品15を掻き落とす際に電子部品
用セラミック基板100Aがベルトコンベア136から
落下しないように押えベルト142がベルトコンベア1
36に沿って走行するようになっており、チップ部品取
り出し後の電子部品用セラミック基板の残部100Bは
排出箱143に排出される。
Ceramic substrate 100 for electronic parts after cutting
In A, the adhesive vinyl tape 106 on the back side holds the chip components obtained by cutting each section 4 as they are. Therefore, the electronic component ceramic substrate 100A of the take-out side substrate storage magazine 23B of the electronic component ceramic substrate cutting device 110 is transferred to the supply side substrate storage magazine 131 of the work peeling machine 130, and further irradiated with ultraviolet rays by the suction plate 132. Transferred to section 133. The ultraviolet irradiation unit 133 has a mercury lamp 134 that emits ultraviolet rays and a mask 135, and irradiates only the area where the chip parts are located (corresponding to the area E in FIG. 11) with ultraviolet rays to lose the adhesiveness of the vinyl tape 106. I am trying. Then, the ceramic board 100A for electronic parts is transferred onto the belt conveyor 136 by the suction board 132, and the roll brush 137 such as nylon bristles is used.
Sent to the rotating area of. As a result, the chip component 15 obtained by cutting is separated from the electronic component ceramic substrate 100A and dropped into the box 141. The pressing belt 142 prevents the electronic component ceramic substrate 100A from dropping from the belt conveyor 136 when the chip component 15 is scraped off by the roll brush 137.
The remaining portion 100B of the electronic component ceramic substrate after the chip components are taken out is discharged to the discharge box 143.

【0028】なお、テレビカメラ71で電子部品用セラ
ミック基板100を撮像する際にマーカー120A,1
20B等の影像を正確にとらえるために、傾光照明手段
により基板面の反射率を高めるようにすると良い。ま
た、切断後の研削液や削りかすを吹き飛ばすために切断
後の電子部品用セラミック基板100Aをカバー57外
に取り出す前に圧縮空気を吹き付ける工程を実行しても
良い。
When the television camera 71 takes an image of the ceramic substrate 100 for electronic parts, the markers 120A, 1A
In order to accurately capture the image of 20B or the like, it is advisable to increase the reflectance of the substrate surface by the tilted illumination means. In addition, a step of blowing compressed air may be performed before the cut ceramic substrate 100A for electronic parts is taken out of the cover 57 in order to blow away the grinding liquid and shavings after cutting.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数の円盤状回転砥石を用いて電子部品用セラミック基
板の切断すべき区画の両側の境界を同時に切断するので
以下の如き効果を奏することができる。 (1) 切断で得られたチップ部品に割れや欠け等が発
生しにくく、製造上の歩留りが良好である。 (2) 多数のチップ部品を同時に切断するため、効率
が良く、製造原価の低減ができる。 (3) 画像処理で円盤状回転砥石と切断対象の境界と
を平行にかつ位置ずれが生じないように設定でき、微小
寸法(例えば1.0×0.5mm程度)にかつ高精度(誤差
10μm以内)で切断動作を実施できる。
As described above, according to the present invention,
Since a plurality of disc-shaped rotary grindstones are used to simultaneously cut the boundaries on both sides of the section to be cut of the ceramic substrate for electronic components, the following effects can be obtained. (1) Cracks and chips are unlikely to occur in the chip parts obtained by cutting, and the manufacturing yield is good. (2) Since a large number of chip parts are cut at the same time, efficiency is improved and manufacturing cost can be reduced. (3) The disk-shaped rotary grindstone and the boundary of the object to be cut can be set parallel to each other by image processing so as not to cause misalignment, and the size is small (for example, about 1.0 × 0.5 mm) and highly accurate (error 10 μm The cutting operation can be performed at (within).

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る電子部品用セラミック基板の切断
方法及び装置の実施例の要部構成であって電子部品用セ
ラミック基板切断中の要部側断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view of an essential part of an embodiment of a method and an apparatus for cutting a ceramic substrate for electronic parts according to the present invention during cutting of a ceramic substrate for electronic parts.

【図2】実施例の電子部品用セラミック基板の切断装置
の全体構成を示す正面図である。
FIG. 2 is a front view showing the overall configuration of a cutting device for a ceramic substrate for electronic parts according to an embodiment.

【図3】同平面図である。FIG. 3 is a plan view of the same.

【図4】同側面図である。FIG. 4 is a side view of the same.

【図5】実施例の要部構成を示す要部側断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of the main part showing the configuration of the main part of the embodiment.

【図6】実施例の制御系統を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing a control system of the embodiment.

【図7】実施例による切断工程及びその前後の工程を示
す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory view showing a cutting process and processes before and after the cutting process according to the embodiment.

【図8】テスト基板を切断する工程を説明する要部平断
面図である。
FIG. 8 is a main-portion cross-sectional view illustrating a step of cutting a test substrate.

【図9】実施例で用いる電子部品用セラミック基板の第
1及び第2の方形マーカーのY座標がずれている状態を
示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a state where the Y-coordinates of the first and second rectangular markers of the ceramic substrate for electronic parts used in the examples are deviated.

【図10】電子部品用セラミック基板の第1及び第2の
方形マーカーのY座標が一致した状態を示す平面図であ
る。
FIG. 10 is a plan view showing a state where the Y-coordinates of the first and second rectangular markers of the ceramic substrate for electronic parts are matched.

【図11】電子部品用セラミック基板の要部拡大平面図
である。
FIG. 11 is an enlarged plan view of an essential part of a ceramic substrate for electronic parts.

【図12】実施例の電子部品用セラミック基板の切断装
置の動作を説明するフローチャートである。
FIG. 12 is a flow chart for explaining the operation of the cutting device for a ceramic substrate for electronic parts of the embodiment.

【図13】従来の電子部品用セラミック基板の1例を示
す要部拡大平面図である。
FIG. 13 is an enlarged plan view of an essential part showing an example of a conventional ceramic substrate for electronic parts.

【図14】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断動作
を説明する説明図である。
FIG. 14 is an explanatory view for explaining a cutting operation by a conventional one disk-shaped rotary grindstone.

【図15】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断に伴
い、割れや欠けが発生する理由を示す説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing the reason why cracking or chipping occurs along with cutting with a conventional single disk-shaped rotary grindstone.

【図16】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断で得
られたチップ部品の第1例であって一方の切断面を示す
斜視図である。
FIG. 16 is a perspective view showing a first example of a chip component obtained by cutting with a conventional single disk-shaped rotary grindstone and showing one cut surface.

【図17】同じく第1例の他方の切断面を示す斜視図で
ある。
FIG. 17 is a perspective view showing the other cross section of the first example.

【図18】同じく第1例の横断面図である。FIG. 18 is a transverse sectional view of the first example.

【図19】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断で得
られたチップ部品の第2例であって一方の切断面を示す
斜視図である。
FIG. 19 is a perspective view showing one cut surface of a second example of a chip component obtained by cutting with a conventional single disk-shaped rotary grindstone.

【図20】同じく第2例の他方の切断面を示す斜視図で
ある。
FIG. 20 is a perspective view showing the other cross section of the second example.

【図21】同じく第2例の横断面図である。FIG. 21 is a transverse sectional view of the same as the second example.

【図22】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断で得
られたチップ部品の第3例であって一方の切断面を示す
斜視図である。
FIG. 22 is a perspective view showing one cutting surface of a third example of a chip component obtained by cutting with a conventional one disk-shaped rotary grindstone.

【図23】同じく第3例の他方の切断面を示す斜視図で
ある。
FIG. 23 is a perspective view showing the other cross section of the third example.

【図24】同じく第3例の横断面図である。FIG. 24 is a transverse sectional view of the same as the third example.

【図25】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断で得
られたチップ部品の第4例であって一方の切断面を示す
斜視図である。
FIG. 25 is a perspective view showing one cut surface of a fourth example of a chip component obtained by cutting with a conventional one disk-shaped rotary grindstone.

【図26】同じく第4例の他方の切断面を示す斜視図で
ある。
FIG. 26 is a perspective view showing the other cross section of the fourth example.

【図27】同じく第4例の横断面図である。FIG. 27 is likewise a transverse sectional view of the fourth example.

【図28】従来の1枚の円盤状回転砥石による切断で得
られたチップ部品の第5例であって一方の切断面を示す
斜視図である。
FIG. 28 is a perspective view showing one cutting surface of a fifth example of a chip component obtained by cutting with a conventional one disk-shaped rotary grindstone.

【図29】同じく第5例の他方の切断面を示す斜視図で
ある。
FIG. 29 is a perspective view showing the other cross section of the fifth example.

【図30】同じく第5例の横断面図である。FIG. 30 is a transverse sectional view of the fifth example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,100 電子部品用セラミック基板 2 スリット穴 3 棒状部 4 区画 15 チップ部品 20 装置フレーム 21 供給取り出し部 22 マガジン移動台 23A,23B 基板収納マガジン 31 X軸方向移動ヘッド 33A,33B 吸着盤 40 Xテーブル 41 θテーブル 50 Yスライダ 51 Zスライダ 52 スピンドル 60 円盤状回転砥石 70 画像処理回路 71 テレビカメラ 73 マイクロプロセッサー 106 粘着ビニールテープ Ceramic substrate for electronic parts 2 slit holes 3 bar 4 divisions 15 Chip parts 20 equipment frame 21 Supply / Detach 22 Magazine transfer stand 23A, 23B substrate storage magazine 31 X-axis direction moving head 33A, 33B suction plate 40 X table 41 θ table 50 Y slider 51 Z slider 52 spindle 60 disk-shaped rotary whetstone 70 Image processing circuit 71 TV camera 73 microprocessors 106 Adhesive vinyl tape

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 相互に平行な複数の円盤状回転砥石を用
いて電子部品用セラミック基板の切断すべき区画の両側
の境界を同時に切断することを特徴とする電子部品用セ
ラミック基板の切断方法。
1. A method for cutting a ceramic substrate for electronic parts, which comprises simultaneously cutting the boundaries on both sides of a section to be cut in the ceramic substrate for electronic parts by using a plurality of disk-shaped rotary grindstones parallel to each other.
【請求項2】 前記切断すべき区画の境界に平行な直線
上に配列される如く複数のマーカーを前記電子部品用セ
ラミック基板に設け、それらのマーカーを撮像すること
により前記回転砥石の切断方向と前記境界との間の平行
度のずれを検出し、該平行度のずれを補正後に切断動作
を実行する請求項1記載の電子部品用セラミック基板の
切断方法。
2. A plurality of markers are provided on the ceramic substrate for electronic parts so as to be arranged on a straight line parallel to the boundary of the section to be cut, and the cutting direction of the rotary grindstone is determined by imaging the markers. The method of cutting a ceramic substrate for an electronic component according to claim 1, wherein a deviation in parallelism with the boundary is detected, and the cutting operation is executed after correcting the deviation in parallelism.
【請求項3】 複数の円盤状回転砥石を相互に平行に取
り付けたスピンドルと、電子部品用セラミック基板とス
ピンドル相互の位置関係をX−Y−Z−θ方向に変化さ
せる移動手段と、前記電子部品用セラミック基板の切断
すべき区画の境界に平行な直線上に配列された当該基板
上の複数のマーカーを撮像して前記境界と前記回転砥石
の切断方向との平行度のずれを検出する画像処理手段
と、該画像処理手段の検出出力を受けて前記平行度のず
れを補正する如く前記移動手段を作動させる制御手段と
を備えたことを特徴とする電子部品用セラミック基板の
切断装置。
3. A spindle having a plurality of disk-shaped rotary grindstones mounted in parallel to each other, a moving means for changing the positional relationship between the ceramic substrate for electronic parts and the spindle in the XYZ-θ directions, and the electronic device. Image of imaging a plurality of markers on the substrate arranged on a straight line parallel to the boundary of the section to be cut of the ceramic substrate for parts to detect a deviation in parallelism between the boundary and the cutting direction of the rotary grindstone A cutting device for a ceramic substrate for electronic parts, comprising: a processing means; and a control means for receiving the detection output of the image processing means and operating the moving means so as to correct the deviation of the parallelism.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015088558A (en) * 2013-10-29 2015-05-07 Towa株式会社 Device and method of manufacturing electronic components

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JP2015088558A (en) * 2013-10-29 2015-05-07 Towa株式会社 Device and method of manufacturing electronic components

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