JPH0522163B2 - - Google Patents

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JPH0522163B2
JPH0522163B2 JP56118412A JP11841281A JPH0522163B2 JP H0522163 B2 JPH0522163 B2 JP H0522163B2 JP 56118412 A JP56118412 A JP 56118412A JP 11841281 A JP11841281 A JP 11841281A JP H0522163 B2 JPH0522163 B2 JP H0522163B2
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JP
Japan
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capacitance
capacitor
counter
measuring
circuit
Prior art date
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JP56118412A
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Japanese (ja)
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JPS5821104A (en
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Takeshi Yasuhara
Eiichi Nabeta
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Priority to CA000408285A priority patent/CA1220835A/en
Priority to BR8204472A priority patent/BR8204472A/en
Priority to EP82106917A priority patent/EP0071912B1/en
Priority to DE8484114777T priority patent/DE3279510D1/en
Priority to EP84114777A priority patent/EP0159401B1/en
Priority to DE8282106917T priority patent/DE3274495D1/en
Priority to DE19823229010 priority patent/DE3229010A1/en
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Publication of JPH0522163B2 publication Critical patent/JPH0522163B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/12Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/248Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains by varying pulse repetition frequency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/252Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques using analogue/digital converters of the type with conversion of voltage or current into frequency and measuring of this frequency

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この発明は物理的または機械的変位を静電容量
の変化に変えて測定する変位測定装置、特にマイ
クロプロセツサ等のデイジタル処理装置を用いて
検出量をデイジタル量に変換して測定する測定装
置に関するものである。
The present invention relates to a displacement measuring device that measures physical or mechanical displacement by converting it into a change in capacitance, and particularly relates to a measuring device that converts a detected amount into a digital amount and measures it using a digital processing device such as a microprocessor. It is something.

【従来の技術】[Conventional technology]

一般に容量を検出する場合においては、電極間
の誘電率または浮遊容量の影響等によつて検出結
果に誤差が生じるという欠点を有している。そこ
で、上記のような影響を受けないようにした容量
検出方式が既に提案されている。 第1図はこのような検出方式の原理を説明する
ための原理図である。 同図Aには、2つの固定電極ELF間に可動電極
ELVが配置され、該可動電極ELVは圧力等の物理
量または機械量の変位に応じて図の左、右(矢印
R参照)方向に移動する。この場合、各電極間の
容量CA1,CA2は一方が増大すれば他方は減少す
る、つまり差動的に変化する。ここで、各電極の
面積をS、電極間の誘電率をε、可動電極ELV
固定電極ELFとの間隔をdとし、例えば同図Aの
点線で示される如く可動電極ELVがΔdだけ変位
したときの容量CA1,CA2は CA1=εA/(d−Δd) CA2=εA/(d+Δd) として求められる。こゝで、これら容量の和およ
び差を考えると、 CA1+CA2=εA・2d/(d2−(Δd)2) CA1−CA2=εA・2Δd/(d2−(Δd)2) となり、したがつてその比をとると、 (CA1−CA2)/(CA1+CA2)=Δd/d が得られ、変位量Δdを容量値(CA1−CA2)/
(CA1+CA2)によつて求めることができる。 同様にして、第1図Bでは2つの固定電極ELF
に対して可動電極ELVが図の如く配置され、外部
圧力等の変位によつて図の点線位置にΔdだけ変
位した場合は次のようになる。この場合、容量
CA1は固定、CA2は可変であつて、その値は上記
と同様にして、 CA1−εA/d、CA2=εA/(d+Δd) と表わすことができる。そこで、これらの差を考
えると、 CA1−CA2=εA・Δd/d(d+Δd) であり、したがつてCA1−CA2とCA2との比をと
ると、 (CA1−CA2)/CA2=Δd/d となり、変位量Δdを静電容量値の変化として検
出することができる。これらの式からも明らかな
ように、変位量は静電容量のみの関数であるか
ら、電極間の誘電率や浮遊容量の影響を受けず、
このため容量によつて物理的変位量を正確に検出
することが可能となる。ところで、このようなコ
ンデンサ容量を検出するのに、従来は被測定コン
デンサに高周波の交流を印加し、そのときコンデ
ンサに流れる電流が周波数、電源電圧および容量
に比例することを利用して静電容量を求め、該検
出電流を差動増巾器等により増巾、演算して変位
に変換する等の方法がとられていた。
Generally, when detecting capacitance, there is a drawback that errors occur in the detection results due to the influence of the dielectric constant or stray capacitance between the electrodes. Therefore, capacitance detection methods that are not affected by the above-mentioned effects have already been proposed. FIG. 1 is a principle diagram for explaining the principle of such a detection method. Figure A shows a movable electrode between two fixed electrodes EL F.
A movable electrode ELV is arranged, and the movable electrode ELV moves to the left or right (see arrow R) in the figure in response to displacement of a physical quantity such as pressure or a mechanical quantity. In this case, when one of the capacitances CA 1 and CA 2 between the electrodes increases, the other decreases, that is, they change differentially. Here, the area of each electrode is S, the dielectric constant between the electrodes is ε, and the distance between the movable electrode EL V and the fixed electrode EL F is d. For example, as shown by the dotted line in Figure A, the movable electrode EL V is Δd. The capacitances CA 1 and CA 2 when the capacitance is displaced by the same amount are calculated as CA 1 =εA/(d−Δd) CA 2 =εA/(d+Δd). Now, considering the sum and difference of these capacitances, CA 1 + CA 2 = εA・2d/(d 2 − (Δd) 2 ) CA 1 − CA 2 = εA・2Δd/(d 2 − (Δd) 2 ), and therefore, by taking the ratio, (CA 1 − CA 2 )/(CA 1 + CA 2 )=Δd/d is obtained, and the displacement Δd is expressed as the capacitance value (CA 1 − CA 2 )/
It can be obtained by (CA 1 + CA 2 ). Similarly, in FIG. 1B, two fixed electrodes EL F
On the other hand, if the movable electrode ELV is arranged as shown in the figure and is displaced by Δd to the dotted line position in the figure due to displacement due to external pressure, etc., the following will occur. In this case, the capacity
CA 1 is fixed and CA 2 is variable, and its value can be expressed as CA 1 −εA/d, CA 2 =εA/(d+Δd) in the same way as above. Therefore, considering these differences, CA 1 − CA 2 = εA・Δd/d(d+Δd), and therefore, taking the ratio of CA 1 − CA 2 and CA 2 , (CA 1 − CA 2 )/CA 2 =Δd/d, and the displacement amount Δd can be detected as a change in capacitance value. As is clear from these equations, the amount of displacement is a function only of capacitance, so it is not affected by the dielectric constant or stray capacitance between the electrodes.
Therefore, it becomes possible to accurately detect the amount of physical displacement using the capacitance. By the way, conventional methods for detecting capacitor capacitance include applying high-frequency alternating current to the capacitor under test, and using the fact that the current flowing through the capacitor at that time is proportional to the frequency, power supply voltage, and capacitance to determine the capacitance. A method has been used in which the detected current is amplified using a differential amplifier or the like, and then calculated and converted into a displacement.

【発明が解決しようとする課題】[Problem to be solved by the invention]

しかるに、このような方法は、一般にアナログ
回路を使用するものであるから必然的にノイズや
温度等の外乱による変動が大きく、このため検出
精度に限界があつた。また、容量や抵抗等のイン
ピーダンスは電源周波数または電圧によつて影響
を受けるため、電源電圧または周波数の変動によ
り測定誤差が生じるという欠点があつた。 この発明は上記に鑑みなされたもので、上記の
如き機械的変位量を静電容量値に変換して測定す
る測定装置をデイジタル化することによつて測定
精度を向上させ、あわせて低消費電力化をはかる
ことを目的とするものである。
However, since such methods generally use analog circuits, they are inevitably subject to large fluctuations due to disturbances such as noise and temperature, which limits the detection accuracy. Furthermore, since impedance such as capacitance and resistance is affected by the power supply frequency or voltage, there is a drawback that measurement errors occur due to fluctuations in the power supply voltage or frequency. This invention was made in view of the above, and by digitizing the measuring device that converts the mechanical displacement amount into a capacitance value, it improves measurement accuracy and reduces power consumption. The purpose is to increase the

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

このような目的を達成するために、本発明は、
機械的な変位に応じて少なくとも容量値の一方が
変化する2つの測定コンデンサC1,C2を有して
なる変位測定装置において、 各測定コンデンサを充電し一定時間で放電する
充放電回路を持ち、該充放電に要する時間からそ
の容量に応じた周波数のパルス信号に変換する容
量−周波数変換回路と、 この容量−周波数変換回路からのパルス数を計
数し、該計数値が所定の値に達したとき計数出力
を出す第1の計数器と、 クロツクパルスを発生するクロツク信号源と、 各コンデンサの充電または放電開始と共にクロ
ツク信号源からのクロツクパルスの計数を開始
し、第1の計数器からの計数出力によつて該クロ
ツクパルスの計数を停止する第2の計数器と、 第1の計数器からの計数出力を受けて第2の計
数器の計数結果を読取り、この計数結果に基づい
て所定の演算を行うデイジタル演算回路と、 を設け、その演算結果から機械的な変位を測定す
ることを特徴とする。
In order to achieve such an objective, the present invention
A displacement measuring device comprising two measuring capacitors C 1 and C 2 whose capacitances at least one of which changes in response to mechanical displacement has a charging/discharging circuit that charges each measuring capacitor and discharges it over a fixed period of time. , a capacitance-frequency conversion circuit that converts the time required for charging and discharging into a pulse signal with a frequency corresponding to the capacity; and a capacitance-frequency conversion circuit that counts the number of pulses from this capacitance-frequency conversion circuit until the counted value reaches a predetermined value. a first counter that outputs a count output when the clock pulse is reached; a clock signal source that generates clock pulses; and a clock signal source that starts counting clock pulses from the clock signal source when each capacitor starts charging or discharging; a second counter that stops counting the clock pulses upon output; and a second counter that receives the count output from the first counter, reads the count result of the second counter, and performs a predetermined calculation based on the count result. The present invention is characterized in that it is equipped with a digital arithmetic circuit that performs the following, and measures mechanical displacement based on the arithmetic results.

【実施例】【Example】

以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。 第2図はこの発明の実施例を示すブロツク構成
図、第3図は第2図のブロツク内を詳細に示す回
路構成図、第4図はこの発明の検出動作を説明す
るためのタイムチヤート、第5図は容量検出部の
他の実施例を示す回路構成図である。 第2図において1は容量検出部、2は該検出部
1の選択回路、3は容量−周波数変換回路、4は
カウンタ、5はタイマー、6は基準クロツク発生
回路、7はマイクロプロセツサ(以下、μ−
COM演算回路ともいう。)、8は光伝送回路、9
はバツテリを用いた電源回路、10はキーボード
である。 第3図に示されるように、検出部1はコンデン
サC1,C2によつて構成され、検出部選択回路2
はコンデンサC1,C2および測温用のコンデンサ
CS、サーミスタRSの選択を行なうC−MOS(相補
形MOS)タイプのアナログスイツチSW2,SW
21,SW22より構成され、容量−周波数変換
回路3はコンデンサC1,C2の充放電の切換えお
よびフリツプフロツプQ1のクリアまたはリセツ
トを行なうアナログスイツチSW1,SW11,
SW12と、コンデンサC1またはC2の充電々圧が
所定の電圧レベル(スレツシユホールドレベル)
を超えたときセツトされ、所定の時定数(抵抗
Rf、コンデンサCf)によつて決まる一定時間後に
リセツトされるフリツプフロツプQ1(D型)と
から構成されている。なお、従来の一般的なD形
フリツプフロツプを使用する場合は、その前段に
スレツシユホールドレベルを判別するための回路
(例えば、シユミツト回路)が必要となるが、C
−MOS形のフリツプフロツプを使用する場合は
このような回路を必要とせず、その切り替わり電
圧をそのままシユレツシユホールド電圧として使
用することができる。同様に、タイマー5は2段
のカウンタCT2,CT3から構成され、μ−
COM演算回路7からのリセツト信号PO3の解除
によつて基準クロツク発生回路6から与えられる
クロツク信号の計数を開始し、カウンタ(CT1)
4からのカウントアツプ信号によつて計数を停止
する。μ−COM演算回路7は基準クロツク発生
回路6からのクロツク信号によつて駆動され種々
の演算、制御動作を行なう。例えば、検出部選択
回路2のアナログスイツチSW2にモード選択信
号PO1,PO2を送出してコンデンサC1測定モー
ド、コンデンサC2測定モードまたは温度測定モ
ード(抵抗RS、コンデンサCSによる測定)の選
択を行ない、非測定時にはカウンタ4およびタイ
マー5に対してリセツト信号PO3を与えてこれ
らのリセツトを行なうとともに、測定時には該リ
セツト信号PO3を解除して計数動作を行なわせ、
カウンタ4からのカウントアツプ信号を割込信号
IRQとして受け、タイマー5からの計数出力を端
子PI0〜PI15を介して読取り、所定の演算処
理を行なう。μ−COM演算回路7には、測定誤
差を回避すべくゼロ点またはスパンの調整を行な
うための操作を指示するキーボード10、また省
電力化を図るべく基準クロツク発生回路6または
μ−COM演算回路7を間欠的に作動させるため
のスタンバイモード回路12、さらには管理室側
の上位計算機との間で光による情報の授受を行な
うための光伝送回路8および該回路8における発
光ダイオードLEDの異常検出回路11等が接続
されている。これらの回路はここでは特に関係が
ないので、その詳細は省略する。なお、9は所要
の各部へ電源を供給するためのデツテリ電源回路
である。 以下、容量の測定動作について、主に第3,4
図を参照して説明する。 初期状態においては、μ−COM演算回路7か
らはモード選択信号PO1,PO2は与えられず、
リセツト信号PO3によつてカウンタ(CT1)4
およびタイマー5はリセツト状態にある。こゝ
で、第4図イの如きコンデンサC1の測定モード
信号が与えられ、第4図ロの如くリセツト信号
PO3が解除されると、コンデンサC1、スイツチ
SW21,SW11、抵抗R、電源VDDなる径路が
形成されるので、コンデンサC1が第4図ハで示
されるように充電される。t1時間後にこの充電々
圧がフリツプフロツプQ1のスレツシユホールド
電圧VTHを超えると、該フリツプフロツプQ1が
セツトされ、その出力端子Qより出力が得られ
る。この出力は抵抗RfおよびコンデンサCfに与え
られるとともに、アナログスイツチSW1にも与
えられる。その結果、スイツチSW12が開放さ
れて抵抗RfとコンデンサCfによる充電回路が形成
される。なお、このときスイツチSW11が点線
の位置へ切替えられ、コンデンサC1の放電が行
なわれる。コンデンサCfの充電々圧が第4図ホで
示されるように、所定時間tc後に所定の値になる
と、フリツプフロツプQ1はクリアされ、その結
果、フリツプフロツプQ1からは第4図ニの如き
一定幅(tc)の出力パルスが得られる。なお、フ
リツプフロツプQ1のリセツトによつてアナログ
スイツチSW1もオフとなるので、スイツチSW
12は第3図の如き状態に復帰し、コンデンサCf
の放電回路を形成する。上記の時間t1はコンデン
サC1および抵抗Rの大きさに比例するから、フ
リツプフロツプQ1の出力からはコンデンサC1
の容量に比例した周波数のパルス信号が得られる
ことになる。このパルス信号はカウンタ4によつ
て計数され、所定数に達すると第4図ヘに示され
る如きパルス(カウントUP出力)を発してタイ
マー5を第4図トの如く計数停止させる。タイマ
ー5は先のリセツト信号PO3の解除とともにパ
ルス発生回路6からのクロツクパルスを計数して
おり、該計数結果がカウンタ4からのカウント
UP信号を受けたμ−COM演算回路7により端子
PI0〜PI15を介して読取られる。 こゝで、上記フリツプフロツプQ1のスレツシ
ユホールド電圧をVTHとすれば、 VTH=VDD(1−e-t1/RC1) として表わされ、したがつてコンデンサC1の充
電時間t1(第4図ニを参照)は、 t1=−RC1loge(1−VTH/VDD) の如く表わされる。 また、上記の時間tCも同様にして tC=−RfCfloge(1−VTH/VDD) として表わされる。なお、RfおよびCfの値が知ら
れているので、上記tCは一定値に選ばれる。 したがつて、コンデンサC1の充、放電動作を
n回カウントする迄の基準クロツク発生回路6か
らのクロツクパルスを数えることにより、すなわ
ちタイマー5からの出力によつてコンデンサC1
による充放電時間T1を求めることができる。こ
の充放電時間T1は第4図ニからも明らかなよう
に、充電t1はn回であるのに対して放電tCは(n
−1)回であるから T1=nt1+(n−1)tC …(1) として求めることができる。なお、このようにn
回カウントするのは、時間測定カウンタCT2,
CT3の分解能を上げるためであり、その数nは
基準クロツク発生回路6の出力周波数、抵抗Rの
抵抗値またはコンデンサC1の容量値等に応じて
適宜選択される。一例ではn=256に選定された。 このようにして、コンデンサC1の充放電時間
T1を求めた後、μ−COM演算回路7は信号PO
1またはPO2によつてスイツチSW21を切換
えてコンデンサC2の検出モードとし、コンデン
サC2の充放電時間T2を測定する。この場合の動
作態様は上記と全く同様であり、そのタイムチヤ
ートは第4図の右半分に示されている。なお、充
放電時間T2は(1)式と同様にして T2=nt2+(n−1)tC …() となる。 μ−COM演算回路7では、上記()、()式よ
り次の如き演算を行なう。 T1+T2−2(n−1)tC =−R(C1+C2)loge(1−VTH/VDD) T1−T2=−R(C1−C2)loge(1−VTH/VDD) T1−T2/T1+T2−2(n−1)tC=C1−C2/C1+C2
…() この式は先の原理図における説明からも明ら
かなように、変位に比例するから、μ−COM演
算回路7では上記の如き演算を行なうことによつ
てその変位を測定することができる。 なお、上記ではコンデンサC1,C2の容量を差
動的に変化させることにより物理的な変位量、例
えば差圧ΔPを測定するようにしたが、第5図に
示されるように、コンデンサの一方C2を固定と
し、他方C1を可変とするものについても同様に
適用しうることは、先の原理図の説明からも明ら
かである。ただし、この場合は上記の差圧ΔPの
かわりに圧力Pを求めることとなり、その演算式
は上記と同様にして次のように表わされる。 P=C1−C2/C2=T1−T2/T2−(n−1)tC …() また、検出部1において、浮遊容量CSTが被測
定コンデンサC1,C2にそれぞれ並列に含まれる
ような場合には、C1→C1+CST、C2→C2+CSTとな
り、C1−C2の項は浮遊容量CSTの影響はなくなる
が、C1+C2の項には2CSTが余分に加わることにな
るから、これを補正するために、(C1−C2)/
(C1+C2−2CST)なる演算、すなわち、上記()
式のかわりに、次式の如く一定値Kを減算する。 T1−T2/T1+T2−2(n−1)tC−K 同様にして圧力Pを求める()式については、 (C1−C2)/(C2−CST)の演算、すなわち T1−T2/T2−(n−1)tC−K なる演算を行なう。 次に、温度補正を行なう場合について説明す
る。この場合は、μ−COM演算回路7より信号
PO1,PO2によつてスイツチSW21を選択す
ることにより、温度測定モードとする。これによ
つて、コンデンサCS、スイツチSW21,SW1
1,SW22、サーミスタ測温抵抗体RSを介する
充放電径路がコンデンサC1,C2の測定モードの
場合と同様に形成される。なお、抵抗Rがサーミ
スタRSと並列に挿入されるが、RS≪Rとなるよ
うに選ばれているため抵抗Rによる影響を無視す
ることができる。 したがつて、コンデンサCSによる充電時間t3は t3=−RSCSloge(1−VTH/VDD) であり、そのトータルの充放電時間T3は T3=nt3+(n−1)tC として与えられる。この充放電時間T3と温度と
の対応関係を予めμ−COM演算回路7の記憶部
(図示なし)に記憶させておくことにより、温度
を測定することができる。この場合、電圧VDD
よびVTHの変動による影響を直接受けることにな
るが、補正量に対する誤差であるから、それ程問
題になることはない。 なお、容量を周波数信号に変換する場合に、所
定時間tC(=−RfCfloge(1−VTH/VDD))の変動によ る誤差が考えられるが、充電時間t1,t2をそれぞ
れt1≫tC,t2≫tCとなるようにすることによつて
上記の如き影響を無視することができる。また、
上記()式または()式からも明らかなように、
抵抗Rおよび電圧VDD,VTH等の因子は上、下辺
にあつて割り算が行なわれているので、これらの
変動による影響も無視することができるものであ
る。なお、上記においてはコンデンサの充放電動
作のうち、特に充電時間を測定して変位量を検出
するようにしたが、上記と同様にしてその放電時
間から変位量を検出することも可能であることは
云う迄もない。 また、上記第3図に示される実施例において、
抵抗RおよびフリツプフロツプQ1をコンデンサ
C1,C2の容量検出時に共用するようにしたが、
これをそれぞれ別個に設けて検出することも勿論
可能である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a block configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing the inside of the block in FIG. 2 in detail, and FIG. 4 is a time chart for explaining the detection operation of the present invention. FIG. 5 is a circuit configuration diagram showing another embodiment of the capacitance detection section. In FIG. 2, 1 is a capacitance detection section, 2 is a selection circuit for the detection section 1, 3 is a capacitance-frequency conversion circuit, 4 is a counter, 5 is a timer, 6 is a reference clock generation circuit, and 7 is a microprocessor (hereinafter referred to as ,μ−
Also called COM operation circuit. ), 8 is an optical transmission circuit, 9
1 is a power supply circuit using a battery, and 10 is a keyboard. As shown in FIG. 3, the detection section 1 is composed of capacitors C 1 and C 2 and the detection section selection circuit 2
are capacitors C 1 , C 2 and temperature measuring capacitor
C-MOS (complementary MOS) type analog switch SW2, SW that selects C S and thermistor R S
21, SW22, and the capacitance -frequency conversion circuit 3 includes analog switches SW1, SW11,
SW12 and the charging voltage of capacitor C 1 or C 2 are at a predetermined voltage level (threshold level)
is set when the resistance exceeds the specified time constant (resistance
R f and a flip-flop Q1 (D type) which is reset after a certain period of time determined by capacitor C f ). Note that when using a conventional general D-type flip-flop, a circuit (for example, a Schmitt circuit) for determining the threshold level is required at the front stage.
When using a -MOS type flip-flop, such a circuit is not required, and the switching voltage can be used as it is as the threshold voltage. Similarly, the timer 5 is composed of two-stage counters CT2 and CT3, and μ-
When the reset signal PO3 from the COM calculation circuit 7 is released, counting of the clock signal given from the reference clock generation circuit 6 is started, and the counter (CT1)
Counting is stopped by the count-up signal from 4. The μ-COM calculation circuit 7 is driven by a clock signal from the reference clock generation circuit 6 and performs various calculations and control operations. For example, send mode selection signals PO1 and PO2 to analog switch SW2 of detection section selection circuit 2 to select capacitor C1 measurement mode, capacitor C2 measurement mode, or temperature measurement mode (measurement using resistor R S and capacitor C S ). When not measuring, a reset signal PO3 is given to the counter 4 and the timer 5 to reset them, and when measuring, the reset signal PO3 is canceled to cause the counting operation to be performed.
The count-up signal from counter 4 is used as an interrupt signal.
It receives it as an IRQ, reads the count output from the timer 5 via terminals PI0 to PI15, and performs predetermined arithmetic processing. The μ-COM arithmetic circuit 7 includes a keyboard 10 for instructing operations to adjust the zero point or span to avoid measurement errors, and a reference clock generation circuit 6 or a μ-COM arithmetic circuit to save power. A standby mode circuit 12 for intermittently operating 7, an optical transmission circuit 8 for transmitting and receiving information by light with a host computer on the control room side, and abnormality detection of a light emitting diode LED in the circuit 8. The circuit 11 etc. are connected. Since these circuits are not particularly relevant here, their details will be omitted. Note that 9 is a battery power supply circuit for supplying power to each required part. Below, we mainly explain the 3rd and 4th steps regarding the capacitance measurement operation.
This will be explained with reference to the figures. In the initial state, the mode selection signals PO1 and PO2 are not given from the μ-COM arithmetic circuit 7,
Counter (CT1) 4 is reset by reset signal PO3.
and timer 5 are in a reset state. Here, the measurement mode signal of capacitor C1 as shown in Figure 4A is given, and the reset signal as shown in Figure 4B is applied.
When PO3 is released, capacitor C 1 and switch
Since a path consisting of SW21, SW11, resistor R, and power supply VDD is formed, capacitor C1 is charged as shown in FIG. 4C. When this charging voltage exceeds the threshold voltage VTH of flip-flop Q1 after one hour t, flip-flop Q1 is set and an output is obtained from its output terminal Q. This output is applied to resistor R f and capacitor C f as well as to analog switch SW1. As a result, switch SW12 is opened and a charging circuit is formed by resistor R f and capacitor C f . At this time, the switch SW11 is switched to the position indicated by the dotted line, and the capacitor C1 is discharged. When the charging voltage of the capacitor C f reaches a predetermined value after a predetermined time t c as shown in FIG. (t c ) output pulse is obtained. Note that analog switch SW1 is also turned off by resetting flip-flop Q1, so switch SW
12 returns to the state shown in Figure 3, and the capacitor C f
form a discharge circuit. Since the above time t 1 is proportional to the size of capacitor C 1 and resistor R, from the output of flip-flop Q1, capacitor C 1
A pulse signal with a frequency proportional to the capacitance is obtained. This pulse signal is counted by the counter 4, and when it reaches a predetermined number, a pulse (count UP output) as shown in FIG. The timer 5 counts the clock pulses from the pulse generation circuit 6 when the reset signal PO3 is released, and the counting result is counted by the counter 4.
After receiving the UP signal, the μ-COM calculation circuit 7 outputs the terminal.
Read via PI0-PI15. Here, if the threshold voltage of the flip-flop Q1 is V TH , it is expressed as V TH = V DD (1-e -t1/RC1 ), and therefore the charging time of the capacitor C1 is t1 ( (see FIG. 4D) is expressed as t 1 =-RC 1 log e (1-V TH /V DD ). Further, the above-mentioned time t C is similarly expressed as t C =-R f C f log e (1-V TH /V DD ). Note that since the values of R f and C f are known, the above t C is selected to be a constant value. Therefore, by counting the clock pulses from the reference clock generation circuit 6 until the charging and discharging operation of the capacitor C1 is counted n times, that is, by the output from the timer 5, the capacitor C1 is
The charging/discharging time T 1 can be determined by As is clear from FIG .
-1) times, it can be determined as T 1 = nt 1 + (n-1) t C (1). In addition, in this way, n
The time measurement counter CT2 counts the times.
This is to improve the resolution of the CT 3, and the number n thereof is appropriately selected depending on the output frequency of the reference clock generating circuit 6, the resistance value of the resistor R, the capacitance value of the capacitor C1 , etc. In one example, n=256 was selected. In this way, the charging and discharging time of capacitor C 1
After determining T 1 , the μ-COM calculation circuit 7 outputs the signal PO
1 or PO2 to set the switch SW21 to the detection mode of the capacitor C2 , and measure the charging/discharging time T2 of the capacitor C2 . The operating mode in this case is exactly the same as above, and the time chart thereof is shown in the right half of FIG. Note that the charging/discharging time T 2 is calculated as T 2 =nt 2 +(n-1)t C () similarly to equation (1). The μ-COM calculation circuit 7 performs the following calculation based on the above equations () and (). T 1 +T 2 -2(n-1)t C = -R (C 1 + C 2 ) log e (1-V TH /V DD ) T 1 - T 2 = -R (C 1 - C 2 ) log e (1-V TH /V DD ) T 1 -T 2 /T 1 +T 2 -2(n-1)t C =C 1 -C 2 /C 1 +C 2
...() As is clear from the explanation in the previous principle diagram, this equation is proportional to the displacement, so the μ-COM calculation circuit 7 can measure the displacement by performing the calculations described above. . In addition, in the above, the amount of physical displacement, for example, the differential pressure ΔP, was measured by differentially changing the capacitance of capacitors C 1 and C 2 , but as shown in Fig. 5, It is clear from the explanation of the principle diagram above that the present invention can be similarly applied to a case where C 2 is fixed on the one hand and C 1 is variable on the other hand. However, in this case, the pressure P is determined instead of the above-mentioned differential pressure ΔP, and the calculation formula thereof is expressed as follows in the same manner as above. P=C 1 -C 2 /C 2 =T 1 -T 2 /T 2 -(n-1)t C ...() In addition, in the detection section 1, the stray capacitance C ST is the capacitor under test C 1 , C 2 are included in parallel with each other, C 1 →C 1 +C ST , C 2 →C 2 +C ST , and the term C 1 −C 2 is not affected by the stray capacitance C ST , but C 1 +C Since 2C ST will be added to the term 2 , in order to correct this, (C 1 − C 2 )/
(C 1 + C 2 −2C ST ), that is, the above ()
Instead of the equation, a constant value K is subtracted as shown in the following equation. T 1 −T 2 /T 1 +T 2 −2(n-1)t C −K In the same way, for formula () to find the pressure P, (C 1 −C 2 )/(C 2 −C ST ) The calculation, ie, the calculation T 1 -T 2 /T 2 -(n-1)t C -K is performed. Next, a case in which temperature correction is performed will be explained. In this case, the signal from μ-COM calculation circuit 7 is
By selecting switch SW21 using PO1 and PO2, the temperature measurement mode is set. By this, capacitor C S , switch SW21, SW1
1. A charging/discharging path via the SW 22 and the thermistor resistance temperature detector R S is formed in the same way as in the measurement mode of the capacitors C 1 and C 2 . Note that although the resistor R is inserted in parallel with the thermistor R S , the influence of the resistor R can be ignored because it is selected so that R S <<R. Therefore, the charging time t 3 by the capacitor C S is t 3 = −RS C S log e (1 − V TH /V DD ), and the total charging and discharging time T 3 is T 3 = nt 3 + It is given as (n-1)t C. The temperature can be measured by storing the correspondence between the charge/discharge time T3 and the temperature in advance in a storage section (not shown) of the μ-COM calculation circuit 7. In this case, it will be directly affected by fluctuations in the voltages V DD and V TH , but since it is an error in the correction amount, it will not be a big problem. Note that when converting the capacitance into a frequency signal, there may be an error due to fluctuations in the predetermined time t C (=-R f C f log e (1-V TH /V DD )), but the charging time t 1 , t 2 such that t 1 ≫t C and t 2 ≫t C , the above effects can be ignored. Also,
As is clear from the above formula () or (),
Since factors such as the resistance R and the voltages V DD and V TH are divided on the upper and lower sides, the influence of these fluctuations can be ignored. In addition, in the above, the amount of displacement was detected by specifically measuring the charging time of the charging and discharging operation of the capacitor, but it is also possible to detect the amount of displacement from the discharging time in the same manner as above. Needless to say. Furthermore, in the embodiment shown in FIG. 3 above,
Connect resistor R and flip-flop Q1 to capacitor
I decided to share it when detecting the capacitance of C 1 and C 2 , but
Of course, it is also possible to provide and detect these separately.

【発明の効果】【Effect of the invention】

以上のように、この発明によれば、測定回路を
デイジタル的に構成するようにしたから、ノイズ
や温度等の影響を回避することができ、したがつ
て測定精度を向上させることが可能になるととも
に、消費電力を節約することができる。特に、コ
ンデンサの放電を既知の一定時間とし、これを上
記()式の如く測定時間から差し引くようにした
ので、放電時間による影響を受けない高精度の測
定が可能となる。また、温度または浮遊容量の影
響を演算によつて補正することができるので、そ
のための補償回路を必要としないという利点を有
するものである。また、差圧のかわり圧力を測定
する場合も、演算式を変更する、つまり適当なプ
ログラムを選択するだけで容易に対処することが
できるので、実用上の効果が極めて大である。特
に、上述した誘電率εおよびフリツプフロツプの
スレツシユホールド電圧VTH、電源電圧VDDは温
度によつて変動するが、上記式、式等の演算
を行うことにより、演算式からこれらの項を消去
することができるので、温度の影響を受けない測
定が可能になる。
As described above, according to the present invention, since the measurement circuit is configured digitally, it is possible to avoid the effects of noise, temperature, etc., and therefore it is possible to improve measurement accuracy. At the same time, power consumption can be saved. In particular, since the discharge of the capacitor is set to a known constant time and this time is subtracted from the measurement time as in the above equation (), highly accurate measurement that is not affected by the discharge time becomes possible. Furthermore, since the influence of temperature or stray capacitance can be corrected by calculation, it has the advantage that a compensation circuit for this purpose is not required. Furthermore, even when measuring pressure instead of differential pressure, this can be easily handled by simply changing the calculation formula, that is, by selecting an appropriate program, so the practical effect is extremely large. In particular, the above-mentioned dielectric constant ε, flip-flop threshold voltage V TH , and power supply voltage V DD vary depending on the temperature, but by performing calculations using the above formulas, etc., these terms can be removed from the calculation formula. This makes it possible to perform measurements unaffected by temperature.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は物理的変位を容量変化に変換して検出
する方法の原理を説明するための原理図、第2図
はこの発明の実施例を示すブロツク図、第3図は
第2図のブロツク内を詳細に示す回路構成図、第
4図はこの発明の検出、変換動作を説明するため
のタイムチヤート、第5図は容量検出部の他の実
施例を示す回路図である。 符号説明 1…検出部、2…検出部選択回路、
3…容量−周波数変換回路、4…カウンタ、5…
タイマー、6…基準クロツク発生回路、7…μ−
COM演算回路、8…光伝送回路、9…バツテリ
電源回路、10…キーボード、11…LED異常
検出回路、12…スタンバイモード回路、C1
C2,CS…コンデンサ、Q1…フリツプフロツプ、
SW1,SW2…アナログスイツチ、CT1〜CT
3…カウンタ。
Fig. 1 is a principle diagram for explaining the principle of a method of detecting a physical displacement by converting it into a capacitance change, Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of this invention, and Fig. 3 is a block diagram of Fig. 2. FIG. 4 is a time chart for explaining the detection and conversion operations of the present invention, and FIG. 5 is a circuit diagram showing another embodiment of the capacitance detection section. Description of symbols 1...detection section, 2...detection section selection circuit,
3...Capacitance-frequency conversion circuit, 4...Counter, 5...
Timer, 6...Reference clock generation circuit, 7...μ-
COM operation circuit, 8... Optical transmission circuit, 9... Battery power supply circuit, 10... Keyboard, 11... LED abnormality detection circuit, 12... Standby mode circuit, C 1 ,
C 2 , C S ... capacitor, Q1 ... flip-flop,
SW1, SW2...Analog switch, CT1~CT
3...Counter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 機械的な変位に応じて容量値が差動的に変化
する2つの測定コンデンサC1,C2を有してなる
変位測定装置において、 各測定コンデンサC1,C2を所定の電圧レベル
まで充電すると共に、該測定コンデンサC1,C2
に応じて予め定めておいた一定時間tc,tc内に該
測定コンデンサC1,C2の放電を行う充放電回路
を持ち、該充放電に要する時間t1,t2,tcからそ
の容量に応じた周波数のパルス信号に変換する容
量−周波数変換回路3と、 この容量−周波数変換回路3からのパルス数を
計数し、該計数値が所定の値nに達したとき計数
出力を出す第1の計数器4と、 クロツクパルスを発生するクロツク信号源6
と、 前記各コンデンサの充電または放電開始と共に
前記クロツク信号源からのクロツクパルスの計数
を開始し、前記第1の計数器からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第2の計
数器5と、 前記第1の計数器からの計数出力を受けて該第
2の計数器の計数結果を読取り、この計数結果に
基づいて下記(1)式の演算を行うデイジタル演算回
路7と、 を設け、その演算結果から機械的な変位を測定す
ることを特徴とする変位測定装置。 記 T1−T2/T1+T2−2(n−1)tc …(1) T1;一方のコンデンサを測定したときの計
数結果 T2;他方のコンデンサを測定したときの計
数結果 2 一方の容量値が固定で、他方の容量値が機械
的な変位に応じて変化する2つの測定コンデンサ
C1,C2を有してなる変位測定装置において、 各測定コンデンサC1,C2を所定の電圧レベル
まで充電すると共に、該測定コンデンサC1,C2
に応じて予め定めておいた一定時間tc,tc内に該
測定コンデンサC1,C2の放電を行う充放電回路
を持ち、該充放電に要する時間t1,t2,tcからそ
の容量に応じた周波数のパルス信号に変換する容
量−周波数変換回路3と、 この容量−周波数変換回路3からのパルス数を
計数し、該計数値が所定の値nに達したとき計数
出力を出す第1の計数器4と、 クロツクパルスを発生するクロツク信号源6
と、 前記各コンデンサの充電または放電開始と共に
前記クロツク信号源からのクロツクパルスの計数
を開始し、前記第1の計数器からの計数出力によ
つて該クロツクパルスの計数を停止する第2の計
数器5と、 前記第1の計数器からの計数出力を受けて該第
2の計数器の計数結果を読取り、この計数結果に
基づいて下記(1)式の演算を行うデイジタル演算回
路7と、 を設け、その演算結果から機械的な変位を測定す
ることを特徴とする変位測定装置。 記 T1−T2/T2−(n−1)tc …(1) T1;一方のコンデンサを測定したときの計
数結果 T2;他方のコンデンサを測定したときの計
数結果
[Scope of Claims] 1. In a displacement measuring device comprising two measuring capacitors C 1 and C 2 whose capacitance values differentially change according to mechanical displacement, each measuring capacitor C 1 and C 2 are charged to a predetermined voltage level, and the measurement capacitors C 1 and C 2
It has a charging/discharging circuit that discharges the measurement capacitors C 1 , C 2 within a predetermined time t c , t c according to A capacitance-frequency conversion circuit 3 that converts into a pulse signal with a frequency corresponding to the capacitance, and a capacitance-frequency conversion circuit 3 that counts the number of pulses from this capacitance-frequency conversion circuit 3, and outputs a count when the counted value reaches a predetermined value n. a first counter 4 that generates clock pulses; and a clock signal source 6 that generates clock pulses.
and a second counter 5 that starts counting clock pulses from the clock signal source when charging or discharging of each capacitor starts, and stops counting the clock pulses according to the count output from the first counter. and a digital calculation circuit 7 that receives the count output from the first counter, reads the count result of the second counter, and calculates the following formula (1) based on the count result. , a displacement measuring device that measures mechanical displacement from the calculation results. T 1 −T 2 /T 1 +T 2 −2(n−1)t c …(1) T 1 ; Counting result when measuring one capacitor T 2 ; Counting result when measuring the other capacitor 2 Two measuring capacitors, one with a fixed capacitance value and the other with a capacitance value that changes according to mechanical displacement.
In a displacement measuring device having C 1 , C 2 , each measuring capacitor C 1 , C 2 is charged to a predetermined voltage level, and the measuring capacitor C 1 , C 2 is charged to a predetermined voltage level.
It has a charging/discharging circuit that discharges the measurement capacitors C 1 , C 2 within a predetermined time t c , t c according to A capacitance-frequency conversion circuit 3 that converts into a pulse signal with a frequency corresponding to the capacitance, and a capacitance-frequency conversion circuit 3 that counts the number of pulses from this capacitance-frequency conversion circuit 3, and outputs a count when the counted value reaches a predetermined value n. a first counter 4 that generates clock pulses; and a clock signal source 6 that generates clock pulses.
and a second counter 5 that starts counting clock pulses from the clock signal source when charging or discharging of each capacitor starts, and stops counting the clock pulses according to the count output from the first counter. and a digital calculation circuit 7 that receives the count output from the first counter, reads the count result of the second counter, and calculates the following formula (1) based on the count result. , a displacement measuring device that measures mechanical displacement from the calculation results. T 1 −T 2 /T 2 −(n−1)t c …(1) T 1 ; Counting result when measuring one capacitor T 2 ; Counting result when measuring the other capacitor
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