JPH05215639A - レーザビームの光軸調整用検査装置 - Google Patents

レーザビームの光軸調整用検査装置

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JPH05215639A
JPH05215639A JP4042358A JP4235892A JPH05215639A JP H05215639 A JPH05215639 A JP H05215639A JP 4042358 A JP4042358 A JP 4042358A JP 4235892 A JP4235892 A JP 4235892A JP H05215639 A JPH05215639 A JP H05215639A
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JP
Japan
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laser beam
optical axis
receiving surface
light receiving
mechanical
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JP4042358A
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Ryoji Koseki
良治 小関
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Shibuya Corp
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Shibuya Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 レーザビームの光軸をレーザ加工機等の機械
的光軸に一致させるための光軸調整用検査装置。 【構成】 レーザビームの光軸調整用検査装置は、レー
ザビームLが照射される受光面2を備えている。相互に
接続された多数の熱伝対エレメント4が上記受光面2の
周囲を取り巻いて配置され、この熱伝対エレメント4は
円周方向に4等分されて4つの区間A〜Dを備えてい
る。上記受光面2の中心Oをレーザ加工機の機械的光軸
に一致させた状態でレーザビームLを受光面2に照射す
ると、その熱によって各区間A〜Dに出力(電圧)が発
生する。各区間A〜Dの出力は検出手段7によって検出
され、各区間A〜Dの出力が等しくなるようにレーザビ
ームLの照射位置を調整すれば、レーザビームLの光軸
を機械的光軸に一致させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビームの光軸を
レーザ加工機等の機械的光軸に一致させるための光軸調
整用検査装置に関するものである。
【従来の技術】従来、4分割された光検出器を用いた光
軸調整用検査装置は公知である(特開昭60−2236
88号公報)。この装置は、4分割された光検出器の中
心を機械的光軸に一致させ、かつ4分割された光検出器
に直接レーザビームを照射するようにしている。かかる
装置によれば、各分割部分における受光量が等しくなる
ようにレーザビームの光軸をずらすことにより、該レー
ザビームの光軸を上記機械的光軸に一致させることがで
きる。また従来、温度センサを利用した光軸調整用検査
装置も公知知られている(特開昭61−123492号
公報)。この装置は、4本の針状の温度センサを等間隔
で放射状に配置するとともに、それらの中心を機械的光
軸に一致させ、かつそれらの中心にレーザビームを通す
ようにしている。かかる装置によれば、各温度センサに
よって検出される温度が等しくなるようにレーザビーム
の光軸をずらすことにより、該レーザビームの光軸を上
記機械的光軸に一致させることができる。
【発明が解決しようとする課題】上述した前者の装置で
は、光検出器を用いているため直接レーザビームを照射
してその光量を計測する必要があるが、そのため光検出
器のレーザビームによる損傷という問題を解決する必要
がある。レーザ発振器として炭酸ガスレーザ発振器のよ
うに大出力のレーザ発振器を用いた場合には、仮にその
出力を最小に絞ったとしても光検出器は簡単に破損され
てしまう。このような場合には、レーザビームの光軸上
に分光器等を設けてレーザビームの大部分を分光させ、
僅かなレーザビームだけを上記光検出器に照射させれば
よい。しかしながら、そのような分光器等の配置は、実
用上困難である。これに対し、後者の装置では、光検出
器よりも強度的に優れた温度センサを用いていること、
および各温度センサに直接レーザビームを照射するので
はなく、各温度センサの先端をレーザビームの外周面に
接触させるようにしているので、各温度センサによって
検出される温度はさほど大きくはならず、したがって大
出力のレーザ発振器を用いた場合でも温度センサの破損
という問題は殆ど生じない。しかしながら、レーザビー
ムの断面は必ずしも奇麗な円形とはならないので、各温
度センサによって検出される温度が等しくなるようにレ
ーザビームの光軸をずらしても、必ずしも該レーザビー
ムの光軸が機械的光軸に一致したことにはならず、高精
度な調整は行なえなかった。本発明はそのような事情に
鑑み、センサの破損の虞がなく、しかも高精度な調整を
行なうことができるレーザビームの光軸調整用検査装置
を提供するものである。
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、レー
ザビームが照射される受光面と、この受光面の周囲を取
り巻いて配置され、かつ相互に接続された多数の熱伝対
エレメントと、上記相互に接続された熱伝対エレメント
を円周方向に少なくとも3分割以上に等分割し、それぞ
れの分割区間の出力を検出する検出手段とを設けたもの
である。
【作用】上記構成の検査装置は、上記受光面の中心、す
なわちこれを取り巻く多数の熱伝対エレメントの中心が
レーザ加工機等の機械的光軸に一致するように該レーザ
加工機等に組込まれる。この状態でレーザビームが受光
面に照射されると該受光面が加熱され、この受光面の周
囲を取り巻いて配置された熱伝対エレメントの受光面側
と反対面側との間に温度差が生じてその温度差に応じた
出力が得られる。この熱伝対エレメントは上記受光面の
周囲を取り巻いて配置され、かつ3分割以上に等分割さ
れているので、それぞれの分割区間の出力が等しくなる
ようにレーザビームの光軸を調整すれば、該レーザビー
ムの光軸を機械的光軸に一致させることができる。この
際、熱伝対エレメントに直接レーザビームを照射してい
るのではないので、該熱伝対エレメントが損傷されるこ
とを防止できる。また、レーザビームの外周面を基準と
して該レーザビームの光軸を推定するのではなく、レー
ザビームを受光面に照射させ、それによって生じる熱か
らレーザビームの光軸を推定しているので、断面形状が
円形とはならないレーザビームであってもその光軸を高
精度に推定でき、したがって高精度な調整を行なうこと
が可能となる。
【実施例】以下図示実施例について本発明を説明する
と、図1、図2において、アルミニウムで製造した円板
状の基板1は、その中心部にレーザビームLが照射され
る円形薄肉の受光面2を備えており、その外周部はリン
グ状厚肉の取付け部3となっている。この取付け部3
は、例えば上記受光面2の中心Oをレーザ加工機の機械
的光軸に一致させた状態で該レーザ加工機のノズル部分
に着脱自在に取付けられるようになっている。上記受光
面2と取付け部3と段部の内周面には、相互に接続され
た多数の熱伝対エレメント4が配置されて受光面2の周
囲を取り巻いており、この多数の熱伝対エレメント4
は、円周方向に4等分の区間A、B、C、Dに分割して
いる。そして各区間A〜Dにはそれぞれ感度調整用の抵
抗5を並列に接続してあり、レーザビームLの光軸と受
光面2の中心Oとが一致した際には各区間A〜Dの出力
が同一となるように調整してある。そしてさらに、各分
割区間の出力はそれぞれアンプ6を介して検出手段7に
入力させてあり、この検出手段7によって各区間A〜D
の出力の大きさを検出することができるようにしてい
る。以上の構成において、上記受光面2の中心Oをレー
ザ加工機の機械的光軸に一致させた状態で取付け部3を
該レーザ加工機のノズル部分に取付けたら、該レーザ加
工機のレーザ発振器から上記受光面2にレーザビームL
を照射させる。これにより受光面2が加熱されると、そ
の熱は熱伝導により周囲に拡散冷却されるので、それに
より受光面2側の熱伝対(温接点)とそれより外周側の
熱伝対(冷接点)からなる熱伝対エレメント4に温度勾
配が生じて電位差が発生する。このとき、例えば図1の
位置にレーザビームLが照射された場合、上下方向の出
力(電圧)の大きさが区間Aと区間Dとで異なるので
(D>A)、先ず両者の出力が一致するように上記レー
ザビームLの照射位置を調整する。そして次に水平方向
のバランスを取るために、区間Aと区間B(又は区間A
+Dと区間B+C)との出力が同一となるようにレーザ
ビームLの照射位置を調整する。このようにして全ての
区間A〜Dの出力の大きさが等しくすることにより、レ
ーザビームLの光軸を受光面2の中心Oに、したがって
レーザ加工機の機械的光軸に一致させることができる。
この際、熱伝対エレメント4に直接レーザビームLを照
射しているのではないので、該熱伝対エレメント4が損
傷されることを防止できる。また、従来装置のようにレ
ーザビームLの外周面を基準として該レーザビームLの
光軸を推定するのではなく、レーザビームLを受光面2
に照射させ、それによって生じる熱からレーザビームL
の光軸を推定しているので、断面形状が円形とはならな
いレーザビームであってもその光軸を高精度に推定で
き、したがって高精度な調整を行なうことができる。な
お、上記実施例では2挙動でレーザビームLの光軸を機
械的光軸に一致させるようにしているが、上記各区間A
〜Dの出力の大きさからX−Y座標系におけるレーザビ
ームLの位置を算出し、この算出値から一挙動でレーザ
ビームLの光軸を機械的光軸に一致させるようにしても
よい。また、上記相互に接続された多数の熱伝対エレメ
ント4は必ずしも4分割である必要はなく、3分割以上
であればよい。
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、熱伝対
エレメントの損傷を防止できるとともに、高精度な調整
を行なうことができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す平面図。
【図2】図1のII−II線に沿う基板1の断面図。
【符号の説明】
1…基板 2…受光面 3…取付け部
4…熱伝対エレメント 7…検出手段 A〜D…区間 L…レーザビーム
O…中心

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザビームが照射される受光面と、こ
    の受光面の周囲を取り巻いて配置され、かつ相互に接続
    された多数の熱伝対エレメントと、上記相互に接続され
    た熱伝対エレメントを円周方向に少なくとも3分割以上
    に等分割し、それぞれの分割区間の出力を検出する検出
    手段とを備えたレーザビームの光軸調整用検査装置。
JP4042358A 1992-01-31 1992-01-31 レーザビームの光軸調整用検査装置 Expired - Lifetime JP2775015B2 (ja)

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JPH05215639A true JPH05215639A (ja) 1993-08-24
JP2775015B2 JP2775015B2 (ja) 1998-07-09

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013173176A (ja) * 2012-02-27 2013-09-05 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013173176A (ja) * 2012-02-27 2013-09-05 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置

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