JPH05215547A - ステレオ画像間対応点決定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】左右ステレオ濃淡画像間の対応点決定に於い
て、ステレオ濃淡画像間の対応点決定を、探索対象物の
物理的特性とステレオ撮像条件を活かし、自動的にかつ
効率良く正確に行う。 【構成】濃淡画像を用いたステレオ画像間で対応点を決
定する方法に於いて、探索対象物体の物理的特性とステ
レオ撮像条件を予め認知すると共に、前記探索対象物体
の一部又は全部の存在可能領域を撮像画面上で限定する
限定ステップと、当該限定ステップにて限定された探索
領域中で前記探索対象物体の物理的特性を利用し、探索
対象物体を認識する認識ステップと、当該認識ステップ
の左右画面中の認識結果を基に、前記ステレオ撮像条件
より帰結される条件を利用した左右画像間の対応を求め
る対応ステップと、当該対応ステップでの対応結果を仮
定して実空間に於ける寸法を求め、当該寸法が前記探索
対象物体の物理的特性を満足するか否かを吟味する吟味
ステップを順次段階経由して取捨判断して行き最終的に
正しい対応点に選択絞り込むことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ステレオ濃淡画像に於
いて、左右画像間の自動対応を決定するステレオ画像間
対応点決定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一対のステレオ画像より３次元情報を抽
出するには、一方の画面上での一点（特徴点）が他方の
画面上のどの点に対応するかを検出することが必要であ
るが、写真など濃淡画像を用いたステレオ画像計測に於
いては、前記他方の画面上に於ける対応点の決定が困難
で、特に複雑なシーンでは弱い特徴点に対して誤対応を
含んだ多くの対応候補点が現れるという問題が生じる。

【０００３】前記ステレオ濃淡画像計測技術は、一対の
撮影画像を基に複数の対称物点の３次元座標を算出出来
るため、解析写真測量として主に航空写真による地形図
作成に用いられている。この場合、実際問題として、自
動化に際しての最大の課題は一対のステレオ濃淡画面上
での対称点の検出である。しかしながら、当該対称点の
決定は現時点では諸問題があり、逐一人手に依存してい
るのが現状である。

【０００４】前記ステレオ濃淡画像に於ける対称点は、
通常左右画面間の類似性を調べることで得られる。即
ち、一方の画面上の一点（特徴点）に対応した他方の画
像上の対応点は、当該対応点が存在する可能性のある直
線に沿った、ある小領域に付いて画像の類似性を調べる
ことで見いだされる。ここで、最も確実と思われる類似
性評価法は両画面上の画像の相互相関値を調べることで
ある。

【０００５】左右のステレオ濃淡画像上に於いて、それ
ぞれ任意の小領域を同一のｍ×ｎの大きさの矩形領域に
とり、前記左右のステレオ画面上に於ける当該小領域内
部の各々の特徴点の明るさをそれぞれＩ_a （ｉ，ｊ），
Ｉ_b （ｉ，ｊ）とする。いま、それぞれの小領域に付い
て明るさの平均と分散をμ_a ，μ_b ，σ _a ² ，σ _b ² と
すると、前記左右のステレオ濃淡画面上の小領域間の相
互相関値ｃは次式で与えられる。

【数１】

【０００６】よって、一方のステレオ濃淡画面上に於い
て、他方の特徴点の対応点が存在する可能性のある領域
に沿って前記式（１）にて相互相関値ｃを計算し、当該
相互相関値ｃが最大となる点を対応点とする。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法は確実ではあるが、多くの演算処理時間を要するのが
欠点であり、さらに左右ステレオ濃淡画像間で対称点が
存在しない場合には、無駄な演算処理と誤対応が行われ
ることとなる。こゝに於いて、本発明は、前記従来の課
題に鑑み、ステレオ濃淡画像に於いて対称点を検出して
その３次元距離を算出するプロセスを全自動化し、画像
処理を用いた測量のための稼働を大幅に削減しようとす
るもので、検出した特徴量の採否に用いる閾値として、
物理的に根拠のある値を用いることにより、従来の紙上
計算のみの閾値に依存する結果の曖昧さを解消し、かつ
対称点候補の限定による処理の効率化を図ったステレオ
画像間対応点決定方法を提供せんとするものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記課題の解決は、本発
明が次の新規な特徴的構成手法を採用することにより達
成される。即ち、本発明の特徴は、濃淡画像を用いたス
テレオ画像間で対応点を決定する方法に於いて、探索対
象物体の物理的特性とステレオ撮像条件を予め認知する
と共に、前記探索対象物体の一部又は全部の存在可能領
域を撮像画面上で限定する限定ステップと、当該限定ス
テップにて限定された探索領域中で前記探索対象物体の
物理的特性を利用し、探索対象物体を認識する認識ステ
ップと、当該認識ステップの左右画面中の認識結果を基
に、前記ステレオ撮像条件より帰結される条件を利用し
た左右画像間の対応を求める対応ステップと、当該対応
ステップでの対応結果を仮定して実空間に於ける寸法を
求め、当該寸法が前記探索対象物体の物理的特性を満足
するか否かを吟味する吟味ステップを順次段階経由して
取捨判断して行き最終的に正しい対応点に選択絞り込ん
でなるステレオ画像間対応点決定方法である。

【０００９】

【作用】本発明は、前記の様な手段を講じたので、画像
撮像時のステレオ撮像条件及び計測対象たる探索対象物
の物理的特性を利用する。先ず、ステレオ左右各画面上
に於いて、適宜手段にて探索対象物の探索領域の限定を
行い、次に、当該探索領域に於いて前記探索対象物の認
識を物理的特性を利用して行う。

【００１０】更に、ステレオ左右各画像間の対応に於い
て、前記ステレオ撮像条件を利用して可能な組合せを制
限し、最後に当該組合せに対し、実空間上での寸法を算
出し、前記探索対象物体の物理的特性を満足するか否か
の吟味を行う。以上、限定，認識，対応，吟味の四ステ
ップを順次踏むことにより、前記探索対象物のステレオ
左右各画面上での対応及びその３次元距離を自動的かつ
効率的に求める。

【００１１】

【実施例】本発明の実施例を図面につき詳説する。図１
は本実施例に使用するフローチャートで、大きく（１）
限定，（２）認識，（３）対応，（４）吟味の４ステッ
プに分割される、図２は同・限定ステップで使用する２
つの空間微分オペレータ、図３は同・認識ステップに於
ける電柱の幅の条件を示す説明図、図４は同・対応ステ
ップに於ける左右画像間の最大誤差を示す説明図であ
る。

【００１２】先ず本実施例のステレオ画像間対応点決定
方法の概略作業手順を説明する。尚、本実施例では、電
柱Ｐを例にとり順次図１のフローチャートに則ってステ
ップ別に説明を進めるが、これは計測系の光軸を水平に
保つという通常の撮影条件のもとで、撮像画面内の電柱
Ｐは直線エッジが比較的長く、しかも鉛直方向に直立し
ており、その特徴量が際立っていること、亦、人工物で
あるため、直径，高さなどの規格，設置条件が既知であ
るという理由による。

【００１３】（１）限定ステップ 通常の撮影条件のもとでは、電柱Ｐの輪郭線を表すエッ
ジＰ１の大部分は、視線より上方、即ち画面の上半分に
存在することから、電柱Ｐの探索領域をこの領域に限定
出来る。これにより地上構造物等による雑音を大幅に排
除することが出来る。

【００１４】前記電柱Ｐを構成する直線エッジＰ１の探
索領域を画面の上半分より更に限定した領域に絞るた
め、ステレオ計測により得られた画像データに対し、図
２（ａ）（ｂ）に示す様な２つの３×３の微分オペレー
タを作用させ、各画像α毎に２種類のオペレータ（ａ）
（ｂ）の作用値の大きい方を採用し、当該作用値が一定
の閾値を越えるときエッジ画素と判定する。

【００１５】前記手順にて得たエッジ画素のみで構成さ
れる画像αを、ここでは鉛直線抽出微分画像αと呼称す
る。当該鉛直線抽出微分画像αを用いて、画像α内の鉛
直線成分の分布状況を以下の手順により把握出来る。即
ち、当該鉛直線抽出微分画像αの上半分の全画素に付い
て、水平軸へ投影してエッジＰ１画素数を集計した分布
（周辺分布）を求めることにより、垂直方向のエッジＰ
１が集中している領域を抽出・限定することが可能とな
る。

【００１６】前記周辺分布の度数がある閾値より大きい
領域では、当然垂直エッジの存在する確率が大きいこと
から、これらの矩形領域を垂直エッジの探索領域として
検出・限定する。尚、前記の如く電柱Ｐは垂直に立設さ
れるものであるから、この方法は極めて有効である。

【００１７】（２）認識ステップ 本ステップでは、前記限定ステップで求めた各探索領域
に対して、先ず電柱Ｐの輪郭線の候補となる直線エッジ
を取り出し、次に電柱Ｐを構成する直線エッジ対を決定
する。

【００１８】直線エッジの検出は、大きく分けて以下の
４つの段階からなる。 一．エッジの追跡：前記垂直エッジの探索領域に於い
て、エッジの強度がある閾値より大きい画素をエッジ画
素と呼称するが、ここでは、エッジの強度として水平方
向の隣接画素差分の絶対値で示す。これらのエッジ画素
に対して追跡処理を行い、エッジ画素列を求める。各エ
ッジ画素は、水平軸方向の隣接画素差分分布に正規分布
を当てはめ、その頂点位置をエッジ位置としてサブピク
セル精度で算出しておく。

【００１９】二．直線成分の取り出し：本段階では、前
段階で得られたエッジ画素列から直線成分を取り出す。
前段階の追跡結果のエッジ列の始めの３画素に対して最
小二乗近似直線を求め、同様のプロセスを繰り返す。追
加した画素が連続して不採用になった場合、直線エッジ
画素列の終端とする。残りのエッジ列に付いて別の直線
エッジとして同様のプロセスを繰り返す。更に、同様の
処理を追跡エッジ画素列の順逆二方向に対して行う。こ
の過程により追跡結果は直線成分に分解される。

【００２０】三．直線成分の結合：前段階で得られた各
エッジ列に対して、その最小二乗近似直線からある閾値
以内の距離にある他のエッジ列のエッジ画素を取り組
む。当該取り組まれたエッジ画素を含めて新たに最小二
乗近似直線を求め、以下同様のプロセスを繰り返し、取
り組むエッジ画素が無くなれば終了する。本段階は前段
階で分解した直線エッジを統合する段階であり、この処
理によって看板等の遮蔽物による誤認識等の悪影響を減
少せしめることが出来る。

【００２１】四．代表直線の選抜：全段階での直線エッ
ジの統合結果は、理想的には少数の異なる直線エッジに
収束すべきものであるが、現実にはその直線の角度及び
位置が類似し、大部分のエッジ画素を共有する複数の直
線で構成されるグループが形成される。これらのグルー
プの内の各直線は本来同一直線を表すものと考えられる
ので、当該各直線グループから画素数最大のものを代表
として決定する。尚、抽出された全ての直線エッジにラ
ベル付けを行う。

【００２２】次に、電柱Ｐの認識に付いて述べる。前記
の方法で検出した直線エッジに付いて、その属性から電
柱Ｐの輪郭線を構成する二本の直線エッジＰ１を決定す
る。前記直線エッジ検出の際、エッジの端点位置，エッ
ジの向き及び構成画素数等の属性を格納しておく。

【００２３】ここで、画像中で、電柱Ｐの輪郭線を構成
する二本の直線エッジＰ１の条件に付いて以下に述べ
る。 一．エッジの向き：電柱Ｐの輪郭線を構成する左右二本
の直線エッジＰ１の向きは反対であり、２通りの直線エ
ッジの組合せが考えられる。これは背景の状況に応じて
電柱Ｐの左右の輪郭線をなす直線エッジＰ１の向きが代
わり得ることを考慮するためである。

【００２４】二．電柱Ｐの幅：図３に示す様、撮像画面
上で電柱Ｐの頂上が観測出来る場合、電柱Ｐの幅をＤ
（pixel ），カメラ視線より上方の電柱Ｐの長さをＨ
（pixel）とすると、実空間上の電柱Ｐと画像中の電柱
Ｐ像とが相似であるという条件より、次の関係式が成立
する。

【数２】

【００２５】但し、ｄ，ｈはそれぞれ実空間上の電柱Ｐ
の直径，計測系の二本のカメラ光軸のなす平面より上方
にある電柱Ｐの長さを表し、亦、Ｎ_y は撮像画像の縦方
向の総画素数，ｄ_max は電柱Ｐの規格値の最大直径であ
る。ｈ_min はｈの最小値であるが、以下のように求めら
れる。先ず、ｈを表す式は次式である。

【数３】

【００２６】式（３）中、図４（ｂ）に示す様、Ｌ₀ は
電柱の総長，ｈ₀ はカメラ視点の地面からの高さ，ｂは
電柱Ｐの地面Ｇに埋もれている長さであり、軟弱地盤の
場合に最大値ｂ_max ＝Ｌ₀ ／５である。更に、Ｌ₀ に対
しても最短の規格があり、これをＬ_min で表すと、次式
になる。

【数４】 従って、計測系の視点の高さにより、前記計測系の二本
のカメラ光軸の成す平面より上方にある電柱Ｐの長さの
最小値ｈ_min が決定出来る。

【００２７】三．電柱Ｐの縦横比：撮像画像上で電柱Ｐ
の頂上が観測出来る場合、即ち、電柱Ｐを構成する二本
の輪郭線の上端点が共に画像内に十分に収まっている場
合を考える。この場合、電柱Ｐの幅をＤ（pixel ）と
し、カメラ視線より上方の電柱の長さをＨ（pixel ）と
すれば、電柱の縦横比Ｈ／Ｄの最小値は、ｈ_min ／ｄ
_max で与えられる。以上の属性は、ステレオ撮像系及び
電柱Ｐの規格から決定される内容であり、電柱Ｐを構成
する輪郭線のエッジＰ１列は前記条件を全て満足しなけ
ればならない。

【００２８】（３）対応ステップ 本工程では、左右各画像で認識された電柱Ｐの中心線に
対して、左右画像間で対応の可能な電柱Ｐが満足すべき
条件に付いて述べる。 一．左右画像間最大誤差：図４（ａ）に示す様、カメラ
から電柱Ｐまでの距離の短い方をＬとし、電柱Ｐの中心
線を２台のカメラから見込む角度をφとすると、

【数５】 尚、式（５）に於いて、２ａ《Ｌとした。

【００２９】一方、図４（ｂ）に示す様に、カメラの視
野角の半値をθ，視線より上方の電柱Ｐの高さをｈとす
ると、電柱Ｐの頂上が視野内にあるという条件は、

【数６】 尚、式（６）に於いても、ｈ《Ｌとした。

【００３０】前記式（５），（６）より、全視野角２θ
に対する電柱視差φの割合は次式を満足する。

【数７】

【００３１】従って、左右画像間の最大視差画素数Ｉ_dp
＝Ｎ_u （φ／２θ）_max は次式で与えられる。

【数８】

【００３２】式（８）に於いて、Ｎ_u は撮像画像の横方
向の総画素数を表し、ｈ_min は視線より上方の電柱Ｐの
高さｈの最小値で、前記式（４）で与られる。亦、同一
電柱Ｐ中心位置の左眼及び右眼座標系でのｕ座標値をそ
れぞれｕ₁ ，ｕ_r で表すと、これらは次の関係式を満足
する。

【数９】

【００３３】二．電柱Ｐを構成するエッジＰ１の向き：
同一の電柱Ｐならば、左右画像間で、それを構成する直
線エッジの向きは同一でなければならない。尚、左右画
像間で対応のとれる電柱Ｐ中心位置の画面上の位置は式
（９）を満足しなければならない。よって、式（９）を
満足しないものは誤対応として除外出来る。

【００３４】（４）吟味ステップ 前ステップ（１）〜（３）迄で、左右画像間の電柱Ｐの
対応が決定されるのであるが、全てが正しい組合せとは
限らない。そこで、本ステップ（４）では得られた組合
せを用いた結果が、実空間上での電柱Ｐの属性の条件を
満足しているかどうかを吟味する。

【００３５】一．電柱Ｐの空間座標に付いての属性：各
電柱Ｐ候補に対して視点・電柱Ｐ間距離Ｌを求める。画
面上で電柱Ｐ幅が占める画素数をＤとすると実空間上で
の電柱幅ｄは、実空間上での視野角と画面上での画素数
との関係から次式で求められる。

【数１０】

【００３６】上式を用いて、実空間上での電柱幅ｄを求
めるが、これが電柱Ｐ直径の規格を満足しない場合、そ
の組合せは誤りであることが分かる。左右電柱幅ｄの測
定誤差変化の方向は一致するという測定知識も当該吟味
ステップに用いることが出来る。

【００３７】二．実現可能な組合せ：画面上での電柱Ｐ
の認識ステップ（２）で、同一の直線エッジを複数の電
柱候補が共有することを認めているため、電柱Ｐ直径の
規格を満たすだけではそれが現実に正しいとは限らな
い。従って、同時に成立可能な電柱Ｐの組み合わせを考
慮して、最終的な認識結果とする。

【００３８】（具体的計算例）本実施例のステレオ画像
間対応点決定方法の概略手順は、この様な作業段階を経
て行われるが、次に数値を用いて具体的に計算を行う。
図５（ａ），（ｂ）はステレオ画像計測の対象画像で、
これらの画像は５１２×４８０画素，ＲＧＢ各２５６の
階調を持つカラー画像である。図６は本計算例の限定ス
テップ（１）に於ける垂直エッジの周辺分布を示すグラ
フ、図７は同・探索領域の検出結果を示すグラフ、図８
は同・直線エッジの検出結果を示すグラフである。

【００３９】但し、ここでは画像の濃淡値として、Ｒ成
分，Ｇ成分，Ｂ成分の３つの平均値を用いた。亦、計測
条件は、焦点距離１６．１ｍｍ，ステレオカメラ間距離
０．８ｍ，表示画面の１画素の大きさは１２．８μｍに
相当する。以下、限定，認識，対応，吟味それぞれのス
テップ段階に従って、処理結果に付いて述べる。

【００４０】（１）限定ステップ：対象濃淡画像の左画
面，図５（ａ）に対する微分画像を求め、その上半分画
面内画素をｕ軸（水平軸）上へ投影することにより得た
周辺分布を図６に示す。尚、当該図６では、横軸は撮像
画面の横軸を示し、縦軸はエッジ画素の度数を表す。

【００４１】本計算例では、図中破線で示す度数２０を
越える領域を探索領域とし、その探索領域の検出結果を
図７に示す。図７（ａ），（ｂ）に於いて、外枠は画面
全体を表し、その中の矩形領域が探索領域を表す。尚、
本計算例では、探索領域は左画面（ａ）６個，右画面
（ｂ）７個で、合計１３個求められた。

【００４２】（２）認識ステップ：認識過程の第１段階
として、図７に示した各探索領域に対し、垂直方向の垂
直エッジの抽出を行った。例として、探索領域５，６で
の直線エッジ検出過程を表１に示す。

【表１】

【００４３】どちらの探索領域５，６に於いても、エッ
ジ画素列数が途中で増加しているが、最終的には７本以
内となった。亦、エッジ追跡過程の後で直線線分を取り
出していくことから、正確な追跡結果を必要としないこ
と、障害物等で分断されたエッジも一つのエッジ列とし
て検出出来る等の特徴があり、濃淡画面に於いて確実な
直線エッジの検出が可能である。

【００４４】次に、各探索領域に付いて直線エッジの検
出を行った結果を表２に示す。

【表２】

【００４５】ここでは構成画素数５０以上の直線エッジ
を採用し、最終的には左画面（ａ），右画面（ｂ）に於
いて、それぞれ８本，１０本の直線エッジが求められ
た。この結果を図８（ａ），（ｂ）及び以下の表３に示
す。

【表３】

【００４６】表３中のエッジ番号は、図８中の番号に対
応する。尚、表３で（ｕtop ，ｖtop ）は直線エッジの
上端点位置，（ｕbtm ，ｖbtm）は下端点位置で、画面
左上を原点（０，０），右下を（５１１，４７９）とす
る座標系での位置を表している。亦、図８（ａ），
（ｂ）に於いて矢印の向きはエッジの方向を示してい
る。直線エッジの検出レベルでは、電柱Ｐを構成する直
線エッジ候補がこの様に求められた。

【００４７】当該認定ステップの第２段階として、上記
検出された直線エッジに対し、電柱Ｐの認識を行う。前
記本実施例の認識ステップ（２）の規定（［００２２］
〜［００２７］）を適用した結果を表４に示す。

【表４】

【００４８】表３と比して分かるように、直線エッジ
１，２，９，１０は端点位置が大きく異なるため電柱Ｐ
の対を構成し得ないので除去されており、亦、直線エッ
ジ１７，１８は傾きが異常に大きい為に除去されてい
る。更に、同一の直線エッジが重複して電柱候補となっ
ているが、左右の画像で直線エッジ番号５と８及び１３
と１６の組合せが電柱として採用されていない理由は、
電柱Ｐの縦横比が小さ過ぎるからである。即ち、ｈ_min
＝３．３ｍ，ｄ_max ＝０．３９ｍであるので、現実の最
小縦横比は１０．６となるが、前記直線エッジ番号５と
８及び１３と１６の組合せの場合の縦横比は９．５で条
件を満たしていないからである。

【００４９】（３）対応ステップ：左右両画面（ａ）
（ｂ）間での電柱Ｐの対応結果を表５に示す。

【表５】

【００５０】表５に於いては、左右各画面（ａ）（ｂ）
中の電柱Ｐを直線エッジのペアとして（３，４）の様に
表している。前記本実施例の視差に関する規定（［００
２８］〜［００３３］）により、電柱Ｐ（３，４）は電
柱Ｐ（１１，１２）としか対応せず正しい結果を与え
る。これ以外の直線エッジペアは、他の直線エッジペア
と同一の直線エッジを重複して含んでいるため、同時に
は実現しない組合せとなっているが、全部で６通りの解
が得られた。

【００５１】（４）吟味ステップ：前記対応ステップ
（３）に於いて左右画面（ａ）（ｂ）の対応を求める
際、同時には存在し得ない電柱Ｐが認識されていると、
本吟味ステップ（４）に於ける左右画面（ａ）（ｂ）間
の対応に付いても、直線エッジペアの組合せは正しくな
いものが含まれることになる。表５の対応結果をもと
に、電柱Ｐの３次元位置算出結果と当該３次元位置算出
結果と画面上の電柱幅Ｄにより導かれる現実の電柱幅ｄ
の算出結果を表６に示す。

【００５２】

【表６】

【００５３】表６に於いて、どの対応電柱番号に対して
も左右の電柱幅の差があるのは、左右画像間で全体の階
調変化が大きい為であり、撮影時の天候の変化が原因と
思われる。次に本吟味ステップ（４）での最終良否判定
結果を表７に示す。

【００５４】

【表７】

【００５５】表７に於いて、対応電柱番号４｛（６，
７），（１４，１５）｝は、左右の電柱幅の大小関係が
他の組合せと逆転していることから除外される。亦、対
応電柱番号３｛（５，６），（１５，１６）｝に付いて
は、右電柱直径０．５２ｍが電柱規格最大値ｄ_max （＝
０．３９ｍ）を越えていることから除外すべきものであ
ることがわかる。これらの良否判定結果からして、表７
に示す同時に実現し得る３通りの組合せの中から、対応
電柱番号１，２，６の３本の電柱の組合せ（組合せ番号
１）が最終的に得られる。

【００５６】

【発明の効果】かくして、本発明によれば、左右ステレ
オ濃淡画像間の対応点決定に於いて、確実ではあるが多
くの演算処理時間を要したり、亦、左右ステレオ濃淡画
像間で対称点が存在しない場合に、無駄な演算処理と誤
対応が行われることがあった従来の方法と比して、ステ
レオ濃淡画像間の対応点決定を効率良くかつ正確に行え
る等優れた効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例の作業手順を示すフローチャー
トである。

【図２】同上、限定ステップで使用する２つの空間微分
オペレータであって（ａ）（ｂ）はそれぞれのオペレー
タを示す。

【図３】同上、認識ステップに於ける電柱の幅の条件を
示す説明図である。

【図４】同上、対応ステップに於ける左右画像間の最大
視差を示す説明図であって（ａ）は平面図，（ｂ）は側
面図である。

【図５】本発明の具体的計算例の計測対象たる５１２×
４８０画素，ＲＧＢ各２５６の階調を持つカラーステレ
オ画像であって（ａ）は左画面，（ｂ）は右画面であ
る。

【図６】同上、限定ステップに於ける垂直エッジの周辺
分布を示すグラフである。

【図７】同上、探索領域の検出結果を示すグラフであっ
て、（ａ）は左画面，（ｂ）は右画面である。

【図８】同上、直線エッジの検出結果を示すグラフであ
って、（ａ）は左画面，（ｂ）は右画面である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野引 敦 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】濃淡画像を用いたステレオ画像間で対応点
   を決定する方法に於いて、探索対象物体の物理的特性と
   ステレオ撮像条件を予め認知すると共に、前記探索対象
   物体の一部又は全部の存在可能領域を撮像画面上で限定
   する限定ステップと、当該限定ステップにて限定された
   探索領域中で前記探索対象物体の物理的特性を利用し、
   探索対象物体を認識する認識ステップと、当該認識ステ
   ップの左右画面中の認識結果を基に、前記ステレオ撮像
   条件より帰結される条件を利用した左右画像間の対応を
   求める対応ステップと、当該対応ステップでの対応結果
   を仮定して実空間に於ける寸法を求め、当該寸法が前記
   探索対象物体の物理的特性を満足するか否かを吟味する
   吟味ステップを順次段階経由して取捨判断して行き最終
   的に正しい対応点に選択絞り込むことを特徴とするステ
   レオ画像間対応点決定方法