JPH05199374A - Light beam scanning method - Google Patents

Light beam scanning method

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JPH05199374A
JPH05199374A JP4031568A JP3156892A JPH05199374A JP H05199374 A JPH05199374 A JP H05199374A JP 4031568 A JP4031568 A JP 4031568A JP 3156892 A JP3156892 A JP 3156892A JP H05199374 A JPH05199374 A JP H05199374A
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light
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直人 中島
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祐司 赤木
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典雄 森田
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Abstract

PURPOSE:To prevent occurrence of position deviation at each picture drawing point by correcting the nonlinearity of a deflection angle of a light deflector. CONSTITUTION:Prescribed sweep signals VT, VM are applied to an AOD 270 to scan a laser beam LB 5. The sweep signals VT, VM are synchronized with a system clock in a picture drawing controller 100. On the other hand, digital modulation control signals VDa, VDb applied to digital AOMs 240, 250 are decided by measuring in advance a position deviation at each picture drawing point caused when a signal synchronous with a sweep signal VT is fed to the digital AOMs 240, 250 and correcting an output timing of a sweep signal VT based on the result of the measurement. As a result, the incident time to the AOD 270 of the laser beam LB 4 is controlled by the digital modulation control signals VDa, VDb.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光偏向素子を用いた
光ビーム走査方法に関するものであり、特に、光ビーム
を感材上に走査することにより描画する装置等に利用さ
れるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light beam scanning method using a light deflecting element, and more particularly to a light beam scanning device for drawing an image by scanning a light beam on a photosensitive material. ..

【0002】[0002]

【従来の技術】光偏向素子(以下、AODと言う。)
は、レーザービームを走査するためのキーデバイスとし
て広く用いられている。このAODは、周知の通り、音
響光学効果を利用した素子の一つであり、素子内に励振
された超音波により回折される光の回折方向が超音波の
周波数に依存して変化することに基づき、周波数変調に
より光の回折方向を制御するものである。この様なAO
Dを用いた走査光学系の従来例の概念図を、図29に示
す。
2. Description of the Related Art Optical deflection element (hereinafter referred to as AOD).
Is widely used as a key device for scanning a laser beam. As is well known, this AOD is one of the elements that utilize the acousto-optic effect, and the diffraction direction of the light diffracted by the ultrasonic wave excited in the element changes depending on the frequency of the ultrasonic wave. Based on this, the diffraction direction of light is controlled by frequency modulation. AO like this
FIG. 29 shows a conceptual diagram of a conventional example of a scanning optical system using D.

【0003】同図に示す通り、走査光学系200Bは、
AOD270BとアナログAOM(光変調素子)220
BとディジタルAOM240Bとを有している。尚、本
図では、説明の便宜上、レンズ等の他の光学系の記載を
省略している。
As shown in the figure, the scanning optical system 200B is
AOD270B and analog AOM (light modulator) 220
B and a digital AOM 240B. It should be noted that, in this figure, for convenience of description, the description of other optical systems such as lenses is omitted.

【0004】ここでアナログAOM220Bとは、一般
的には、回折光の強度が超音波の強度に依存することに
基づき、アナログ変調により光の強度を制御しようとす
る素子であるが、ここではアナログAOM220Bは、
レーザービームLB03の光量を乾板1Bの感度に応じ
た最適な値に設定するための素子として用いられてい
る。即ち、アナログAOM220Bは、固定されたカメ
ラの絞りと同じ様な役割を果たすことになる。従って、
アナログAOM220Bに印加される制御電圧は、一度
設定されたならば、レーザービームLB03の走査中は
変更されることは無い。即ち、制御電圧は一定である。
これにより、アナログAOM220Bに入射したレーザ
ービームLB0は常に所定の光量に減衰され、レーザー
ビームLB01として出射される。
Here, the analog AOM 220B is an element that generally attempts to control the intensity of light by analog modulation based on the fact that the intensity of diffracted light depends on the intensity of ultrasonic waves. AOM220B is
It is used as an element for setting the light amount of the laser beam LB03 to an optimum value according to the sensitivity of the dry plate 1B. That is, the analog AOM 220B plays a role similar to that of a fixed camera diaphragm. Therefore,
The control voltage applied to the analog AOM 220B, once set, is not changed during the scanning of the laser beam LB03. That is, the control voltage is constant.
As a result, the laser beam LB0 incident on the analog AOM 220B is always attenuated to a predetermined light amount and is emitted as a laser beam LB01.

【0005】又、ディジタルAOM240Bとは、回折
光の強度が超音波の強度に依存することに基づき、ディ
ジタル変調により光の有無を制御しようとする素子であ
る。従って、ディジタルAOM240Bは、制御信号V
DOに応じてON/OFF動作を繰り返す。即ち、ディ
ジタルAOM240Bは、カメラのシャッターと同じ様
な役割を果たす。これにより、ディジタルAOM240
BのON動作時に入射したレーザービームLB01はレ
ーザービームLB02として出射し、AOD270Bに
入射する。
The digital AOM 240B is an element for controlling the presence or absence of light by digital modulation based on the fact that the intensity of diffracted light depends on the intensity of ultrasonic waves. Therefore, the digital AOM 240B has the control signal V
The ON / OFF operation is repeated according to DO. That is, the digital AOM 240B plays the same role as the shutter of the camera. This allows the digital AOM240
The laser beam LB01 that is incident upon the ON operation of B is emitted as a laser beam LB02 and is incident on the AOD 270B.

【0006】一方、AOD270Bの動作は、2つの制
御信号VTO、VMOにより制御される。その制御信号
の一つVTOはレーザービームLB03の偏向角を制御
する信号であり、この制御信号VTOにより、乾板1B
上の各描画点の位置が制御される。この制御信号VTO
としては、例えば、鋸波の様な周波数が連続的に且つ周
期的に変化する信号が用いられる。もう一つの制御信号
VMOは、レーザービームLB03の光量を制御する信
号であり、この制御信号VMOにより、各描画点に於け
る光量が制御される。
On the other hand, the operation of the AOD 270B is controlled by the two control signals VTO and VMO. One of the control signals, VTO, is a signal for controlling the deflection angle of the laser beam LB03, and the control signal VTO causes the dry plate 1B to move.
The position of each drawing point above is controlled. This control signal VTO
For example, a signal such as a sawtooth wave whose frequency changes continuously and periodically is used. The other control signal VMO is a signal for controlling the light quantity of the laser beam LB03, and the light quantity at each drawing point is controlled by this control signal VMO.

【0007】しかし、これらの制御信号VTO、VMO
によりレーザービームLB03の偏向角を高精度で制御
するには、実際には、AOD270Bの非線形特性を考
慮しなければならないという問題がある。
However, these control signals VTO and VMO
Therefore, in order to control the deflection angle of the laser beam LB03 with high accuracy, there is a problem that the non-linear characteristic of the AOD 270B must be actually taken into consideration.

【0008】即ち、AODに於ける入力周波数と回折光
の偏向角との関係は、一般に非線形となる。このため、
制御信号VTOを線形に変化させたとしても描画点の位
置がそれに応じて線形に変化せず、実際の各描画点の位
置は、本来描画されるべき位置(理想位置)からずれる
ことになる。以後、この現象を位置ズレと呼ぶ。
That is, the relationship between the input frequency and the deflection angle of the diffracted light in the AOD is generally non-linear. For this reason,
Even if the control signal VTO is changed linearly, the positions of the drawing points do not change linearly accordingly, and the actual positions of the respective drawing points deviate from the positions (ideal positions) to be originally drawn. Hereinafter, this phenomenon will be referred to as position shift.

【0009】従って、位置ズレを発生させること無く画
質の良い描画を行おうとするには、AODの非線形特性
を補正することができる制御信号VTOを定めることが
必要となる。
Therefore, it is necessary to determine the control signal VTO capable of correcting the non-linear characteristic of the AOD in order to perform the drawing with good image quality without causing the positional deviation.

【0010】そこで、その様な最適な制御信号VTOを
得る方法として、従来、次のような技術が用いられてい
た。
Therefore, as a method of obtaining such an optimum control signal VTO, the following technique has been conventionally used.

【0011】即ち、従来技術では、先ず、各描画点毎に
制御信号VTOの値として適当な値を設定する。次に、
これらの制御信号VTO、VMOを実際にAOD270
Bに印加してレーザービームLB03を走査させつつ、
乾板1Bの位置と等価な位置に設置されたCCDカメラ
(図示せず)により、実際のレーザービームLB03の
ビーム位置を測定する。
That is, in the prior art, first, an appropriate value is set as the value of the control signal VTO for each drawing point. next,
These control signals VTO and VMO are actually transferred to the AOD270.
While applying the laser beam to B to scan the laser beam LB03,
A CCD camera (not shown) installed at a position equivalent to the position of the dry plate 1B measures the actual beam position of the laser beam LB03.

【0012】更に、これらの測定結果から、各描画点毎
に、レーザービームLB03の実際のビーム位置を理想
位置に修正する様な補正データを作成する。そして、こ
の補正データを新たな制御信号VMOとしてAOD27
0Bに印加することにより、再度レーザービームLB0
3を走査し、同様にレーザービームLB03の実際のビ
ーム位置をCCDカメラにより測定する。
Further, from these measurement results, correction data for correcting the actual beam position of the laser beam LB03 to the ideal position is created for each drawing point. Then, the correction data is used as a new control signal VMO in the AOD 27.
0B to the laser beam LB0 again.
3 is scanned, and the actual beam position of the laser beam LB03 is similarly measured by the CCD camera.

【0013】そして、各描画点について、レーザービー
ムLB03のビーム位置と理想位置とのズレが許容範囲
内となるまで上記一連の動作を繰り返すことにより、最
適な制御信号VTOを決定していた。尚、制御信号VM
Oもまた、制御信号VTOと同期して変化する。
Then, at each drawing point, the optimum control signal VTO is determined by repeating the above series of operations until the deviation between the beam position of the laser beam LB03 and the ideal position is within the allowable range. The control signal VM
O also changes in synchronization with the control signal VTO.

【0014】以上の通り、従来技術では、一連のプロセ
スを繰返すことにより求められた補正データを制御信号
VTOとして用い、制御信号VMOと共にこの補正済み
の制御信号VTOによりAOD270Bを制御していた
ので、位置ズレの発生を防止することが可能であった。
As described above, in the prior art, the correction data obtained by repeating the series of processes is used as the control signal VTO, and the AOD 270B is controlled by the corrected control signal VTO together with the control signal VMO. It was possible to prevent the displacement.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
技術を用いても、十分にAODの非線形特性を補正する
ことができない場合が生じていた。
However, there have been cases where the conventional technique cannot sufficiently correct the nonlinear characteristic of the AOD.

【0016】即ち、超音波がAOD内を伝播する時間よ
りもAODの制御信号VTOが変化する時間のほうが長
い場合には、確かに従来技術によりAODの非線形特性
を効果的に補正することができ、位置ズレの発生を防止
することが可能であった。
That is, when the time during which the control signal VTO of the AOD changes is longer than the time during which the ultrasonic wave propagates in the AOD, the non-linear characteristic of the AOD can be effectively corrected by the conventional technique. It was possible to prevent the occurrence of positional deviation.

【0017】しかし、逆に、AODの制御信号VTOの
変化時間が超音波の伝播時間よりも短くなる様な高速走
査を行う場合には、従来技術を用いてもなお位置ズレが
発生し、効果的に位置ズレの発生を防止することができ
ないという問題点が新たに生じていた。即ち、高速走査
時には、数μrad.の偏向角のズレ、従って、数μm
の描画点(走査点)の位置ズレが生じていた。この様に
高速走査時に問題点が発生する理由としては、定性的に
は次の様に理解することができる。
However, conversely, when performing high-speed scanning such that the change time of the AOD control signal VTO is shorter than the propagation time of ultrasonic waves, even if the conventional technique is used, a positional deviation still occurs, which is an effect. There has been a new problem that it is impossible to prevent the occurrence of positional deviation. That is, at the time of high-speed scanning, several μrad. Deviation of the deflection angle, therefore, several μm
The drawing point (scanning point) was misaligned. The reason why such a problem occurs during high-speed scanning can be qualitatively understood as follows.

【0018】先ず、AODに入射するレーザービーム自
身は、数ミリ程度の幅を有している。これに対して、超
音波の伝播速度は数百メートル/秒であり、超音波がA
ODの一端からその他端までに伝播するのに要する伝播
時間は数十μ秒である。従って、制御信号VMOが超音
波の伝播時間よりも早く変化する様な場合には、AOD
中のレーザービームは、対応する超音波のみならず、レ
ーザービームの周囲に存在する他の周波数の超音波から
も相互作用を受けることになる。この相互作用を及ぼし
得る超音波の周波数範囲は、制御信号VTOの変化時間
が短い程、広くなると言える。尚、現状のシステムで
は、約150もの異なる周波数/強度を持った超音波か
らの影響を考慮しなければならないことが確認されてい
る。
First, the laser beam itself incident on the AOD has a width of about several millimeters. On the other hand, the propagation velocity of ultrasonic waves is several hundred meters / second,
The propagation time required to propagate from one end of the OD to the other end is several tens of microseconds. Therefore, when the control signal VMO changes faster than the propagation time of ultrasonic waves, the AOD
The inner laser beam will be interacted with not only by the corresponding ultrasonic waves, but also by ultrasonic waves of other frequencies existing around the laser beam. It can be said that the frequency range of ultrasonic waves that can exert this interaction becomes wider as the change time of the control signal VTO becomes shorter. It has been confirmed that in the current system, it is necessary to consider the influence of ultrasonic waves having about 150 different frequencies / intensities.

【0019】ここで、図28は、上記説明の理解をより
一層明確にするために模式的に描かれた説明図である。
同図は、丁度、周波数fiの制御信号VTO、振幅Vi
の制御信号VMOをAOD270Eに印加して、AOD
270E内に周波数fiの超音波を励振した場合を示し
ている。このとき、AOD270Eにより回折されたレ
ーザービームLB03は、描画点Piを照射する。又、
本図には、レーザービームが描画点Pi−2から描画点
Pi−1、描画点Piへと順次走査される様子が示され
ている。しかも、本図は、各描画点Pi−1〜Piに対
応する各周波数の超音波がAOD270E内全体にまで
拡がる前に、制御信号VTO、VMOが変化する場合を
示している。
Here, FIG. 28 is an explanatory diagram schematically drawn to make the understanding of the above description clearer.
The figure shows exactly the control signal VTO of the frequency fi and the amplitude Vi.
The control signal VMO of is applied to the AOD 270E to
The case where ultrasonic waves of frequency fi are excited in 270E is shown. At this time, the laser beam LB03 diffracted by the AOD 270E irradiates the drawing point Pi. or,
This drawing shows a state where the laser beam is sequentially scanned from the drawing point Pi-2 to the drawing point Pi-1 and the drawing point Pi. Moreover, this figure shows a case where the control signals VTO and VMO change before the ultrasonic waves of each frequency corresponding to the drawing points Pi-1 to Pi spread to the entire inside of the AOD 270E.

【0020】同図に示す通り、周波数fiの制御信号V
TO、振幅Viの制御信号VMOをAOD270Eに印
加した際には、周波数fiの超音波の他に、それぞれ先
の描画点Pi−2、Pi−1に対応した周波数fi−
2、fi−1の超音波もAOD270E内に存在するこ
ととなる。このため、AOD270Eに入射したレーザ
ービームLB02のビーム径の範囲内には上記3つの超
音波が存在し、レーザービームLB02はこれらの超音
波それぞれから影響をうけることとなる。従って、レー
ザービームLB03の偏向角は、3つの超音波のそれぞ
れとレーザービームLB02との音響光学効果によって
決定されることになる。
As shown in the figure, the control signal V of the frequency fi
When the control signal VMO of TO and the amplitude Vi is applied to the AOD 270E, in addition to the ultrasonic wave of the frequency fi, the frequency fi− corresponding to the previous drawing points Pi-2 and Pi−1, respectively.
2, fi-1 ultrasonic waves will also be present in the AOD 270E. Therefore, the above three ultrasonic waves exist within the range of the beam diameter of the laser beam LB02 incident on the AOD 270E, and the laser beam LB02 is affected by each of these ultrasonic waves. Therefore, the deflection angle of the laser beam LB03 is determined by the acousto-optic effect of each of the three ultrasonic waves and the laser beam LB02.

【0021】逆に、従来技術が効果を発揮した場合、即
ち、制御信号VTOの変化時間が超音波の伝播時間より
も遅い場合には、レーザービームLB02がAOD27
0Eに入射した際には一種類の超音波(周波数fi)し
か存在しないこととなるため、レーザービームLB03
の偏向角はレーザービームLB02と周波数fiの超音
波との相互作用より決定され、測定したビーム位置から
制御信号VTOを正確に且つ容易に補正することが可能
となるわけである。
On the contrary, when the conventional technique is effective, that is, when the change time of the control signal VTO is slower than the propagation time of the ultrasonic wave, the laser beam LB02 is AOD27.
Since only one kind of ultrasonic wave (frequency fi) exists when it enters 0E, the laser beam LB03
The deflection angle is determined by the interaction between the laser beam LB02 and the ultrasonic wave of frequency fi, and the control signal VTO can be accurately and easily corrected from the measured beam position.

【0022】以上述べた通り、高速走査時には、AOD
の偏向角を適切に補正するには、多数の超音波からの影
響を考慮しなければならないことになる。しかし、その
様な偏向角の補正(制御信号VTOの補正)を全ての描
画点について実際に行うのは、次の通り、極めて困難で
あると考えられる。
As described above, during high speed scanning, the AOD
In order to properly correct the deflection angle of, the influence from many ultrasonic waves must be taken into consideration. However, it is considered extremely difficult to actually perform such correction of the deflection angle (correction of the control signal VTO) for all the drawing points as follows.

【0023】即ち、全描画点の内の一点について制御信
号VTOの補正データを測定結果から変更すると、他の
描画点の制御信号VTOの補正データもその影響を受
け、変更する必要が必然的に生じる。図28の例で言え
ば、描画点Piに関する補正データを修正すると、続い
て描画点Pi−1に関する補正データを、更には描画点
Pi−2に関する補正データをも修正する必要が生じ
る。この様に各描画点で励振される超音波の周波数を変
えていくと、光と各超音波との相互作用も変わるため、
再び描画点Piから順次、補正データを修正してゆかね
ばならないという悪循環に陥ることとなる。
That is, when the correction data of the control signal VTO for one of all the drawing points is changed from the measurement result, the correction data of the control signal VTO for the other drawing points is also affected by the change, and it is necessary to change the correction data. Occurs. In the example of FIG. 28, when the correction data for the drawing point Pi is corrected, it is necessary to subsequently correct the correction data for the drawing point Pi-1 and further the correction data for the drawing point Pi-2. When the frequency of the ultrasonic wave excited at each drawing point is changed in this way, the interaction between light and each ultrasonic wave also changes,
This again leads to a vicious circle in which the correction data must be corrected sequentially from the drawing point Pi.

【0024】しかも、制御信号VTOの発生源として用
いる電圧制御発振器の周波数特性の線形性までが、制御
信号VTの補正を繰返すことによって失われるという悪
循環にも陥る。
Moreover, even the linearity of the frequency characteristic of the voltage controlled oscillator used as the generation source of the control signal VTO is lost by repeating the correction of the control signal VT, which causes a vicious circle.

【0025】又、全描画点の内の一点の偏向角を変化さ
せるためには、制御信号VTOの補正データを格納する
メモリに於いて、そのアドレスの内、どのアドレスに格
納されたデータを修正すればよいのかが不明確となる欠
点もある。
In order to change the deflection angle of one of all the drawing points, in the memory for storing the correction data of the control signal VTO, the data stored at any one of the addresses is corrected. There is also the drawback that it is not clear what to do.

【0026】従って、従来技術の方法では、到底、正確
な制御信号VTOの補正データを得ることが出来ないも
のであると言える。
Therefore, it can be said that the conventional method cannot obtain accurate correction data of the control signal VTO at all.

【0027】更に、光学系の調整状態によっては、レー
ザービームがAODに入射する位置や入射時のビーム径
が微妙に異なる。このことは、制御信号VTOの補正デ
ータが光学系の調整状態にも依存することを意味する。
又、描画点毎にレーザービームのビーム形状が微妙に相
違する場合にも、制御信号VTOの補正データがその影
響を受けることとなる。従って、従来技術では、これら
の影響までも考慮に入れて制御信号VTOを補正しなけ
ればならないこととなる。このような補正は、到底、現
実的でないと言える。
Further, the position where the laser beam is incident on the AOD and the beam diameter at the time of incidence are subtly different depending on the adjustment state of the optical system. This means that the correction data of the control signal VTO also depends on the adjustment state of the optical system.
Further, even when the beam shape of the laser beam is slightly different for each drawing point, the correction data of the control signal VTO will be affected thereby. Therefore, in the conventional technique, the control signal VTO must be corrected in consideration of these influences. It can be said that such a correction is not realistic at all.

【0028】以上より、従来技術の様に、AODの制御
信号を直接的に補正する方法では、高速走査時の位置ズ
レを防止することができないものであった。
As described above, the method of directly correcting the AOD control signal as in the prior art cannot prevent the positional deviation during high speed scanning.

【0029】この発明は、係る問題点を解決すべくなさ
れたものであり、その目的とするところは、低速走査又
は高速走査の如何に係わらず、常に位置ズレの発生を防
止することができ、高品質、高精度な描画を実現できる
光ビームの走査方法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to prevent the occurrence of positional deviation regardless of whether the scanning is slow scanning or high scanning. It is an object of the present invention to provide a light beam scanning method capable of realizing high quality and high precision writing.

【0030】[0030]

【課題を解決するための手段】この発明は、光変調素子
を介して光偏向素子に光ビームを入射することにより光
ビームを走査するものであり、(a)光偏向素子及び光
変調素子にそれぞれ所定の偏向制御信号及び所定の偏向
制御信号に同期した第1のディジタル変調制御信号を印
加し、光偏向素子より出射される光ビームの感材上に於
けるビーム位置を走査範囲内の各走査点について測定す
るとともに、(b)測定されたビーム位置とそのビーム
位置に対応する理想位置との差より定まる位置ズレを、
全ての走査点について算出する。更に(c)その算出結
果に基づき前記第1のディジタル変調制御信号の出力タ
イミングを補正し、補正後の第1のディジタル変調制御
信号を第2のディジタル変調制御信号に決定する。そし
て、(d)光変調素子及び前記光偏向素子にそれぞれ第
2のディジタル変調制御信号及び所定の偏向制御信号を
印加して、光ビームを感材上に走査するようにしたもの
である。
According to the present invention, a light beam is scanned by entering the light beam into the light deflection element via the light modulation element. (A) The light deflection element and the light modulation element A predetermined deflection control signal and a first digital modulation control signal synchronized with the predetermined deflection control signal are applied, and the beam position of the light beam emitted from the optical deflection element on the photosensitive material is set within each scanning range. While measuring the scanning point, (b) the positional deviation determined by the difference between the measured beam position and the ideal position corresponding to the beam position,
Calculate for all scan points. Further, (c) the output timing of the first digital modulation control signal is corrected based on the calculation result, and the corrected first digital modulation control signal is determined as the second digital modulation control signal. Then, (d) a second digital modulation control signal and a predetermined deflection control signal are applied to the light modulation element and the light deflection element, respectively, so that the light beam is scanned on the photosensitive material.

【0031】[0031]

【作用】この発明に於ける光変調素子は、印加された第
2のディジタル変調制御信号に応じて光ビームの有無を
ディジタル変調する。しかも、その第2のディジタル変
調制御信号の出力タイミングは、所定の偏向制御信号に
同期した第1のディジタル変調制御信号の出力タイミン
グに対して補正されている。従って、光変調素子は、光
偏向素子に入射する光ビームの入射タイミングを所定の
偏向制御信号の出力タイミングに対して調整する機能を
発揮する。
The optical modulator according to the present invention digitally modulates the presence or absence of a light beam in accordance with the applied second digital modulation control signal. Moreover, the output timing of the second digital modulation control signal is corrected with respect to the output timing of the first digital modulation control signal synchronized with the predetermined deflection control signal. Therefore, the light modulation element exerts a function of adjusting the incident timing of the light beam incident on the light deflection element with respect to the output timing of a predetermined deflection control signal.

【0032】一方、光偏向素子は、第2のディジタル変
調制御信号の出力タイミングに応じて光変調素子より出
射された光ビームを、所定の偏向制御信号に応じた偏向
角で出射する。
On the other hand, the light deflection element emits the light beam emitted from the light modulation element according to the output timing of the second digital modulation control signal at a deflection angle according to a predetermined deflection control signal.

【0033】[0033]

【実施例】A.描画システムの全体構成とその概略動作 (A−1) 機械的構成 図2は、この発明の一実施例である描画システム10の
機械的構成を示した斜視図である。尚、本図においては
便宜上、後述される描画制御装置やデータ処理部等の記
載が省略されている。
EXAMPLES A. Overall Structure of Drawing System and Its Schematic Operation (A-1) Mechanical Structure FIG. 2 is a perspective view showing the mechanical structure of a drawing system 10 according to an embodiment of the present invention. It should be noted that, for the sake of convenience, a drawing control device, a data processing unit, and the like, which will be described later, are omitted from the drawing.

【0034】同図に示す通り、描画システム10は、基
台15の上に、感材送り機構20と描画機構30とを備
えている。
As shown in FIG. 1, the drawing system 10 includes a photosensitive material feeding mechanism 20 and a drawing mechanism 30 on a base 15.

【0035】ここに感材送り機構20は、吸引テーブル
21と水平Y方向に伸びる一対のガイド22とを有して
おり、この吸引テーブル21はガイド22上にスライド
自在に載置されている。更に、この吸引テーブル21上
には、ガラス乾板などの感材1が吸着されている。又、
吸引テーブル21は、モータ23によって回転するボー
ルスクリュー(図示せず)によって、(±Y)方向に往
復移動する。これにより、感材1もまた(±Y)方向に
往復移動することになる。
The sensitive material feeding mechanism 20 has a suction table 21 and a pair of guides 22 extending in the horizontal Y direction. The suction table 21 is slidably mounted on the guides 22. Further, the photosensitive material 1 such as a glass dry plate is adsorbed on the suction table 21. or,
The suction table 21 is reciprocated in the (± Y) direction by a ball screw (not shown) rotated by a motor 23. As a result, the photosensitive material 1 also reciprocates in the (± Y) direction.

【0036】一方、描画機構30は、水平X方向に伸び
る一対のガイド31を有している。ただし、X方向はY
方向に垂直な方向である。そして、ガイド31上にはハ
ウジング32がスライド可能に載置されており、走査光
学系200がこのハウジング32内に収容されている。
尚、本図中の切欠き部に示された描画ヘッド33は、こ
の走査光学系200の一構成要素である。更にモータ3
4によってボールスクリュー35が回転すると、ハウジ
ング32、従って走査光学系200がX方向または(−
X)方向へ移動する。その結果、描画ヘッド33もま
た、X方向または(−X)方向へ移動する。
On the other hand, the drawing mechanism 30 has a pair of guides 31 extending in the horizontal X direction. However, the X direction is Y
The direction perpendicular to the direction. A housing 32 is slidably mounted on the guide 31, and the scanning optical system 200 is housed in the housing 32.
The drawing head 33 shown in the notch in the figure is one component of the scanning optical system 200. Further motor 3
When the ball screw 35 is rotated by 4, the housing 32, and hence the scanning optical system 200, moves in the X direction or (-
Move in the X direction. As a result, the drawing head 33 also moves in the X direction or the (−X) direction.

【0037】又、基台15の上面には、レーザ−発振器
40A(He−Neレーザ−等)が設けられている。こ
のレーザー発振器40Aからのレーザービーム41は、
ビームスプリッタ42〜45によって2本のレーザービ
ーム41X、41Yに分離される。ただし、ビームスプ
リッタ44、45は、描画ヘッド33に固定されてい
る。更に、吸引テーブル21のX方向端部および(−
Y)方向端部には、それぞれ平面ミラー46X、46Y
が立設されている。その結果、レーザービーム41X、
41Yはこれらのミラー46X、46Yによってそれぞ
れ反射され、ビームスプリッタ44、45の位置へ戻
る。そして、図示しない光干渉検出器によって、レーザ
ービーム41X、41Yそれぞれのミラー反射光路長が
検出される。これにより、描画ヘッド33に対する感材
1の水平面内の相対位置が測定されることになる。以
後、レーザ−発振器40Aや図示しない光干渉検出器等
を含めて、これらの光学系をレーザ−測長器と総称する
ことにする。尚、図示はしないが、感材送り機構20の
全体は、開閉自在な遮光フードの中に収容されている。
A laser-oscillator 40A (He-Ne laser, etc.) is provided on the upper surface of the base 15. The laser beam 41 from this laser oscillator 40A is
The beam splitters 42 to 45 split the laser beams into two laser beams 41X and 41Y. However, the beam splitters 44 and 45 are fixed to the drawing head 33. Furthermore, the X-direction end of the suction table 21 and (-
The plane mirrors 46X and 46Y are provided at the end portions in the Y direction.
Is erected. As a result, the laser beam 41X,
41Y is reflected by these mirrors 46X and 46Y, respectively, and returns to the positions of the beam splitters 44 and 45. Then, the mirror reflection optical path length of each of the laser beams 41X and 41Y is detected by an optical interference detector (not shown). As a result, the relative position of the photosensitive material 1 in the horizontal plane with respect to the drawing head 33 is measured. Hereinafter, these optical systems including the laser-oscillator 40A and an optical interference detector (not shown) will be collectively referred to as a laser-length measuring device. Although not shown, the entire sensitive material feeding mechanism 20 is housed in a light-shielding hood that can be opened and closed.

【0038】更に、感材送り機構20の近傍には、CC
Dカメラ50が図2に示す通り設置されている。このC
CDカメラ50の役割については、後述される。
Further, in the vicinity of the sensitive material feeding mechanism 20, CC
The D camera 50 is installed as shown in FIG. This C
The role of the CD camera 50 will be described later.

【0039】(A−2) 電気的構成 図3は描画システム10の電気的構成を模式的に示した
構成図である。同図に示す通り、その電気的構成は描画
制御装置100を中心として構成される。ここでレーザ
−測長器40は、既述した感材1の相対位置に関する測
定結果を、位置情報Sx(X方向)、Sy(Y方向)と
して描画制御装置100に出力する。そして描画制御装
置100は、位置情報信号Sx、Syに基づき走査信号
を作成するとともに、その走査信号に基づき制御信号V
T、VM、VA、VDを作成する。これらの制御信号V
T、VM、VA、VDは、走査光学系200の各構成要
素の動作を制御する信号である。
(A-2) Electrical Configuration FIG. 3 is a schematic diagram showing the electrical configuration of the drawing system 10. As shown in the figure, the electrical configuration mainly includes the drawing control device 100. Here, the laser-length measuring device 40 outputs the above-mentioned measurement result regarding the relative position of the photosensitive material 1 to the drawing control device 100 as position information Sx (X direction) and Sy (Y direction). Then, the drawing control device 100 creates a scanning signal based on the position information signals Sx and Sy, and also controls the control signal V based on the scanning signal.
Create T, VM, VA, VD. These control signals V
T, VM, VA, and VD are signals that control the operation of each component of the scanning optical system 200.

【0040】又、CCDカメラ50の測定データVPは
ワークステーション300内のCPU310へ伝送さ
れ、所定の処理がなされる他、メモリ(図示せず)に格
納されたデータDiもCPU310を介して描画制御装
置100へ送信される。
Further, the measurement data VP of the CCD camera 50 is transmitted to the CPU 310 in the workstation 300 to be subjected to predetermined processing, and the data Di stored in the memory (not shown) is also controlled through the CPU 310. It is transmitted to the device 100.

【0041】一方、描画制御装置100内のモータコン
トローラ180は、制御信号VC1、VC2をそれぞれ
モータ23及び34へ出力し、これらのモータ23、3
4の回転を制御している。更に、図形入力装置400よ
り画像データSVが、描画制御装置100に与えられ
る。
On the other hand, the motor controller 180 in the drawing control apparatus 100 outputs control signals VC1 and VC2 to the motors 23 and 34, respectively, and the motors 23 and 3 are output.
The rotation of 4 is controlled. Further, the image data SV is given from the figure input device 400 to the drawing control device 100.

【0042】以上述べた描画制御装置100及びデータ
処理部300内に於ける一連の動作の詳細な説明につい
ては、後述される。
A detailed description of a series of operations in the drawing control device 100 and the data processing unit 300 described above will be given later.

【0043】(A−3) 描画の基本的原理 図4は、描画システム10における描画の基本的原理を
示す説明図である。描画ヘッド33からは、(±X)方
向に周期的に偏向した2本のレーザービームLB5a、
LB5bが感材1上に照射される。これらのレーザービ
ームLB5a、LB3bは、共に画像信号SVに基づく
変調を受けている。そして、感材1を例えば(−Y)方
向に移動させつつ、レーザービームLB5a、LB5b
による露光を行なう。この場合には、(±X)方向に延
びた走査線LのY方向の配列に沿って描画が行なわれ
る。又、感材1の描画エリア2は平行ストライプ2a、
2b、・・・に概念的に分割されており、描画は各スト
ライプ2a、2b、・・・ごとに行なわれる。
(A-3) Basic Principle of Drawing FIG. 4 is an explanatory diagram showing the basic principle of drawing in the drawing system 10. From the drawing head 33, two laser beams LB5a periodically deflected in the (± X) direction,
The LB 5b is irradiated onto the photosensitive material 1. These laser beams LB5a and LB3b are both modulated based on the image signal SV. Then, while moving the photosensitive material 1 in the (-Y) direction, for example, the laser beams LB5a, LB5b.
Exposure. In this case, drawing is performed along the array of the scanning lines L extending in the (± X) direction in the Y direction. Further, the drawing area 2 of the photosensitive material 1 is a parallel stripe 2a,
Are conceptually divided into stripes 2b, ... And drawing is performed for each stripe 2a, 2b ,.

【0044】B. 走査光学系の構成 (B−1) 走査光学系の構成の概要 図1は、走査光学系200の主要な構成部分を模式的に
示した図である。本図に示す通り、レーザー発振器21
0より発振したレーザービームLBは、先ずアナログA
OM220に入射する。
B. Configuration of Scanning Optical System (B-1) Outline of Configuration of Scanning Optical System FIG. 1 is a diagram schematically showing main components of the scanning optical system 200. As shown in this figure, the laser oscillator 21
The laser beam LB oscillated from 0 is the analog A first.
It is incident on the OM 220.

【0045】このアナログAOM220は、単にレーザ
ービームLBの光量を感材1の感度に適した光量へ減衰
するものであり、走査中は常に一定の制御電圧VAがア
ナログAOM220上に印加されている。
The analog AOM 220 simply attenuates the light amount of the laser beam LB to a light amount suitable for the sensitivity of the photosensitive material 1, and a constant control voltage VA is always applied to the analog AOM 220 during scanning.

【0046】次にレーザービームLB1はビームスプリ
ッタ230に導入され、2本のレーザービームLB2
a、LB2bに分波される。そしてこれらのレーザービ
ームLB2a、LB2bは、それぞれディジタルAOM
240、250に入射される。ここでディジタルAOM
240及び250は、既述した通り、ディジタル変調に
より回折光の有無を制御しようとする素子である。従っ
てディジタルAOM240及び250は、それぞれ描画
制御装置100より発せられるディジタル変調制御信号
VDa及びVDbに応じて、レーザービームLB2a、
LB2bをオン・オフする。しかもディジタル変調制御
信号VDa及びVDbは共に、画像入力装置400から
描画制御装置100に与えられた画像信号SVに基づき
作成された信号であって、且つ、描画点(走査点に相
当)の位置ズレを防止することができる様に、出力タイ
ミングが後述する掃引信号VT、VMのタイミングに対
して適切に補正された信号である。これらの点の詳細な
説明については、後述される。
Next, the laser beam LB1 is introduced into the beam splitter 230 and the two laser beams LB2.
a and LB2b. The laser beams LB2a and LB2b are respectively digital AOMs.
It is incident on 240 and 250. Where digital AOM
As described above, 240 and 250 are elements for controlling the presence or absence of diffracted light by digital modulation. Therefore, the digital AOMs 240 and 250 are responsive to the digital modulation control signals VDa and VDb issued from the drawing control apparatus 100, respectively, to generate the laser beams LB2a and LB2a.
Turns LB2b on and off. Moreover, both the digital modulation control signals VDa and VDb are signals created based on the image signal SV given from the image input device 400 to the drawing control device 100, and the positional deviation of the drawing point (corresponding to the scanning point). In order to prevent the above, the output timing is a signal appropriately corrected with respect to the timing of the sweep signals VT and VM described later. A detailed description of these points will be given later.

【0047】その結果、レーザービームLB2aは、デ
ィジタル変調制御信号VDaがHレベルにあるときにの
みディジタルAOM240内に励振された超音波によっ
て一定方向へ回折され、レーザービームLB3aとして
ディジタルAOM240より出射する。同じくレーザー
ビームLB2bもまた、ディジタル変調制御信号VDb
がHレベルにあるときにのみレーザービームLB3bと
してディジタルAOM240より出射する。
As a result, the laser beam LB2a is diffracted in a certain direction by the ultrasonic wave excited in the digital AOM 240 only when the digital modulation control signal VDa is at the H level, and is emitted from the digital AOM 240 as the laser beam LB3a. Similarly, the laser beam LB2b also has a digital modulation control signal VDb.
Is emitted from the digital AOM 240 as the laser beam LB3b only when is at the H level.

【0048】その後、両ビームLB3a、LB3bはビ
ームスプリッタ260に導入され、レーザービームLB
4に合成される。即ち、合成後のレーザービームLB4
は、所定の間隔だけ離れて進行する2本のレーザービー
ムLB4a、LB4bからなるビーム束である。従っ
て、ビームスプリッタ260以後は、再び一つの光学系
で走査光学系200が構成される。その様な光学系の詳
細な説明については、後述される。
After that, both the beams LB3a and LB3b are introduced into the beam splitter 260, and the laser beam LB
4 is synthesized. That is, the combined laser beam LB4
Is a beam bundle composed of two laser beams LB4a and LB4b which travel at a predetermined distance. Therefore, after the beam splitter 260, the scanning optical system 200 is constructed again by one optical system. A detailed description of such an optical system will be given later.

【0049】次にレーザービームLB4は、AOD27
0に入力される。このAOD270は、描画制御装置1
00より発せられる掃引信号VT、VMに応じて、AO
D270内で回折されたレーザービームLB5の偏向角
を制御する。尚、レーザービームLB5もまた、2つの
レーザービームLB5a、LB5bのビーム束であり、
両ビームLB5a、LB5bを総称する用語として用い
られている。ここで、AOD270に於ける動作をより
詳細に説明するならば、次の通りとなる。
Next, the laser beam LB4 is emitted from the AOD 27.
Input to 0. This AOD 270 is the drawing control device 1
AO according to the sweep signals VT and VM issued from 00
The deflection angle of the laser beam LB5 diffracted in D270 is controlled. The laser beam LB5 is also a beam bundle of two laser beams LB5a and LB5b,
Both beams LB5a and LB5b are used as a generic term. The operation of the AOD 270 will be described in more detail below.

【0050】先ず掃引信号VTは、例えば鋸波の様に、
その周波数が連続的に且つ周期的に変化する信号であっ
て、予め定められた信号である。その結果、AOD27
0は、掃引信号VTの周波数の変化に応じてレーザービ
ームLB5の偏向角を変える。これにより、レーザービ
ームLB5は、感材1上を±X方向へ走査される。但
し、偏向角は、掃引信号VTの周波数変化に対して非線
形に変化する。即ち、掃引信号VT自身は、AOD27
0の偏向角の非線形特性そのものを補正するものではな
い。
First, the sweep signal VT is, for example, a sawtooth wave.
It is a signal whose frequency changes continuously and periodically and which is a predetermined signal. As a result, AOD27
0 changes the deflection angle of the laser beam LB5 according to the change in the frequency of the sweep signal VT. As a result, the laser beam LB5 scans the photosensitive material 1 in the ± X directions. However, the deflection angle changes non-linearly with respect to the frequency change of the sweep signal VT. That is, the sweep signal VT itself is
It does not correct the non-linear characteristic itself of the deflection angle of 0.

【0051】もう一方の掃引信号VMは、一定の電圧値
を有する信号である。従って、AOD270内に励振さ
れる各超音波の強度は、常に掃引信号VMの電圧値で定
まる一定の値となる。
The other sweep signal VM is a signal having a constant voltage value. Therefore, the intensity of each ultrasonic wave excited in the AOD 270 is always a constant value determined by the voltage value of the sweep signal VM.

【0052】尚、実際には、掃引信号VT及びVMは、
連続的にAOD270に印加されるのではなく、所定の
時間間隔でAOD270に印加される。従って、レーザ
ービームLB5は、少しずつ感材1上を走査されること
となる。
Actually, the sweep signals VT and VM are
Instead of being continuously applied to the AOD 270, it is applied to the AOD 270 at predetermined time intervals. Therefore, the laser beam LB5 scans the photosensitive material 1 little by little.

【0053】以上、本走査光学系200の主要構成要素
とそれらの概略動作について述べた。上記説明で明示さ
れた通り、本走査光学系200における特徴は、従来技
術の様にAOD270自身の非線形特性を直接的に補正
しようとするのではなく、ディジタルAOM240、2
50に印加する制御信号VDa、VDbの出力タイミン
グを掃引信号VT、VMのタイミングに対して補正する
ことにより、AOD270自身の非線形特性による位置
ズレを修正しようとするものである。その様なディジタ
ル変調制御信号VDa、VDbの適切化方法も後程説明
する通り、本発明の特徴とするところである。このよう
な構成を着眼させることとなった基本的な着眼点は、次
の通りである。
The main constituent elements of the scanning optical system 200 and their schematic operations have been described above. As clearly shown in the above description, the feature of the scanning optical system 200 is that the digital AOMs 240, 2 are not intended to directly correct the nonlinear characteristic of the AOD 270 itself as in the conventional technique.
By correcting the output timings of the control signals VDa and VDb applied to the 50 with respect to the timings of the sweep signals VT and VM, it is intended to correct the positional deviation due to the non-linear characteristic of the AOD 270 itself. A method of optimizing such digital modulation control signals VDa and VDb is also a feature of the present invention, as described later. The basic points of interest that have led to such a configuration are as follows.

【0054】即ち、AOD270の掃引信号VTの内、
一つの描画点に対する電圧値を補正すると、他の描画点
に関する掃引信号VTの値も補正する必要が生じ、結
局、全描画点について掃引信号VTの値を正確に補正す
るが困難であった。これは、周波数fの超音波を励振さ
せてレーザービームLB4を所定の方向に偏向させよう
としても、レーザービームLB自身は、周囲に存在する
約150もの周波数を有する超音波からの影響を受ける
ことに起因するものであったことは、記述した通りであ
る。その様な観点に立つならば、レーザービームLB4
のAOD270への入射時刻が、周波数fの超音波の励
振時刻(掃引信号VTの変化時)よりも遅延ないしは進
んでいる場合には、レーザービームLB4自身が周波数
fの超音波以外の超音波から受ける影響は、入射時刻と
励振時刻とが相等しい場合に受ける影響とは全く異なっ
たものになるということである。このことは、逆に、レ
ーザービームLB5の偏向角をレーザービームLB4の
AOD270への入射時刻によって制御できることを意
味している。即ち、AOD270の掃引信号VTを補正
しなくても単にレーザービームLB4の入射時刻を制御
するだけで、位置ズレを補正することができるのであ
る。この様な考察は、以下に説明する図26の考察によ
り、一層明確化されることになる。
That is, of the sweep signal VT of the AOD 270,
When the voltage value for one drawing point is corrected, it is necessary to also correct the value of the sweep signal VT for other drawing points, and it is difficult to correct the value of the sweep signal VT for all the drawing points. This is because even if an ultrasonic wave having a frequency f is excited to deflect the laser beam LB4 in a predetermined direction, the laser beam LB itself is affected by ultrasonic waves having frequencies of about 150 existing in the surroundings. It was as described that it was caused by. From such a viewpoint, the laser beam LB4
When the time of incidence on the AOD 270 is delayed or advanced from the time of excitation of the ultrasonic wave of frequency f (when the sweep signal VT changes), the laser beam LB4 itself changes from ultrasonic waves other than the ultrasonic wave of frequency f. The effect is that it will be completely different from the effect when the incident time and the excitation time are the same. This means that, conversely, the deflection angle of the laser beam LB5 can be controlled by the time of incidence of the laser beam LB4 on the AOD 270. That is, even if the sweep signal VT of the AOD 270 is not corrected, the positional deviation can be corrected by simply controlling the incident time of the laser beam LB4. Such consideration will be further clarified by consideration of FIG. 26 described below.

【0055】図26は、走査時間t(横軸)に対する掃
引信号VTの周波数fの値(右側の縦軸)とレーザービ
ームLB5の偏向角θの値(左側の縦軸)とを模式的に
示した説明図である。同図において、直線(a)は、掃
引信号VTの周波数fが連続的に変化するものと仮定し
た場合の関係を表している。一方、直線(b)は、直線
(a)の様に連続的に変化する掃引信号VTがAOD2
70に印加された場合に、レーザービームLB5の偏向
角θが掃引信号VTに比例すると仮定した場合、従っ
て、走査時間tに比例すると仮定した場合の関係を表し
ている。又、ステップ関数(c)は、掃引信号VTの周
波数fの実際の変化を表している。
FIG. 26 schematically shows the value of the frequency f of the sweep signal VT (vertical axis on the right) and the value of the deflection angle θ of the laser beam LB5 (vertical axis on the left) with respect to the scanning time t (horizontal axis). It is the explanatory view shown. In the same figure, the straight line (a) represents the relationship when it is assumed that the frequency f of the sweep signal VT continuously changes. On the other hand, in the straight line (b), the sweep signal VT that continuously changes like the straight line (a) has the AOD2.
When applied to 70, the relationship is shown when the deflection angle θ of the laser beam LB5 is assumed to be proportional to the sweep signal VT, and thus to the scanning time t. The step function (c) represents the actual change of the frequency f of the sweep signal VT.

【0056】そこで、掃引信号VTの周波数fが周波数
f2から周波数f3へ変化する時間t20に於ける偏向
角θを考えることにする。即ち、AOD270の偏向特
性が本来的に線型性を有するものであれば、時間t20
においては、偏向角θは偏向角θ20となるはずであ
る。
Therefore, let us consider the deflection angle θ at the time t20 when the frequency f of the sweep signal VT changes from the frequency f2 to the frequency f3. That is, if the deflection characteristic of the AOD 270 has a linear characteristic originally, the time t20
In, the deflection angle θ should be the deflection angle θ20.

【0057】しかし、実際には、AOD270の偏向特
性の非線型性によって、偏向角θは偏向角θ2(θ2<
θ20)となる。その結果、描画点の位置は本来あるべ
き位置よりも走査開始原点側へずれることとなる。この
効果は、逆に直線(b)から観れば(線型性の立場に立
てば)、レーザービームLB5があたかも時間t2pに
AOD270に入射し、その時間t2pに偏向を受けた
ものと考えられることになる。即ち、時間t20におい
ては、レーザービームLB4は、見かけ上、時間t20
よりも時間Δτだけ早く入射したのと等価な状態になる
ものと考えられる。従って、時間t20においては、逆
にレーザービームLB4の入射時間を時間Δτだけ遅く
することができるならば(時間t2)、偏向角θを偏向
角θ20にすることができ、描画点の位置ズレを防止す
るものと考えられることとなる。
However, in actuality, the deflection angle θ is set to the deflection angle θ2 (θ2 <θ2 <due to the non-linearity of the deflection characteristic of the AOD 270.
θ20). As a result, the position of the drawing point deviates from the original position to the scanning start origin side. On the contrary, if viewed from the straight line (b) (from the standpoint of linearity), it is considered that the laser beam LB5 is incident on the AOD 270 at the time t2p and is deflected at the time t2p. Become. That is, at the time t20, the laser beam LB4 apparently appears at the time t20.
It is considered that the state will be equivalent to that which is earlier than time by Δτ. Therefore, at the time t20, on the contrary, if the incident time of the laser beam LB4 can be delayed by the time Δτ (time t2), the deflection angle θ can be set to the deflection angle θ20, and the positional deviation of the drawing point is caused. It will be considered to prevent.

【0058】逆に、描画点の位置は本来あるべき位置よ
りも遠ざかる様な場合には、レーザービームLB4の入
射時間を早めるようにすれば、描画点の位置ズレを防止
することができるものと考えられる。
On the contrary, when the position of the drawing point is farther than it should be, it is possible to prevent the position deviation of the drawing point by advancing the incident time of the laser beam LB4. Conceivable.

【0059】そこで、本発明では、レーザービームLB
4の入射時刻を制御する手段として、ディジタルAOM
240、250を用い、しかもディジタル変調制御信号
VDa、VDbの出力タイミングを掃引信号VTの出力
タイミングに対して遅延ないしは進めたものである。
Therefore, in the present invention, the laser beam LB
As a means for controlling the incident time of 4, the digital AOM
240 and 250 are used, and the output timing of the digital modulation control signals VDa and VDb is delayed or advanced with respect to the output timing of the sweep signal VT.

【0060】又、本発明は、ディジタルAOM240、
250に於けるパルス応答時間がAODと比較して数百
倍も速いという点に基礎を置くものである。例えば、デ
ィジタルAOMに於けるパルス応答時間は、9〜12n
sec.である。その様な相違が生じるのは、AODに
於いては横波の超音波が利用されているのに対して、A
OMに於いて利用されている超音波は縦波であるという
ことに起因している。このディジタルAOM240、2
50の特徴は、ディジタル変調制御信号VDa、VDb
のタイミングと描画点の位置ズレとの関係を容易に定め
ることができるという利点をもたらす。
The present invention also provides a digital AOM 240,
It is based on the fact that the pulse response time at 250 is hundreds of times faster than AOD. For example, the pulse response time in digital AOM is 9 to 12n.
sec. Is. Such a difference is caused by the fact that transverse ultrasonic waves are used in AOD, whereas
This is because ultrasonic waves used in OM are longitudinal waves. This digital AOM240, 2
The feature of 50 is that the digital modulation control signals VDa and VDb
This brings an advantage that the relationship between the timing and the positional deviation of the drawing point can be easily determined.

【0061】(B−2) 走査光学系の具体的構成 図5〜図7は、走査光学系200の具体的構成を明示し
た光学的構成図である。先ず、Arイオンレーザー(波
長:488nm)等よりなるレーザー発振器210より
出射したレーザービームLBは、ミラーM1〜M3を介
してアナログAOM220に入射され、感材1の感度に
適した光量に減衰される。そして出射レーザービームL
B1は、ミラーM4で反射された後、ビームスプリッタ
230に導入され、レーザービームLB2aとLB2b
とに分波される。
(B-2) Specific Configuration of Scanning Optical System FIGS. 5 to 7 are optical configuration diagrams clearly showing the specific configuration of the scanning optical system 200. First, a laser beam LB emitted from a laser oscillator 210 composed of an Ar ion laser (wavelength: 488 nm) or the like is incident on the analog AOM 220 via the mirrors M1 to M3 and attenuated to a light amount suitable for the sensitivity of the photosensitive material 1. .. And the emitted laser beam L
B1 is reflected by the mirror M4 and then introduced into the beam splitter 230, where the laser beams LB2a and LB2b.
And are demultiplexed.

【0062】次にレーザービームLB2aは、ミラーM
5、集光用レンズL1aを介してディジタルAOM24
0に入射され、ディジタル変調される。そしてディジタ
ルAOM240のON時に出射したレーザービームLB
3aは、集光用レンズL2a、ミラーM6を介して無偏
光ビームスプリッタ260Aに入射される。一方、レー
ザービームLB2bは、集光用レンズL1bを介してデ
ィジタルAOM250に入射される。そして、ディジタ
ルAOM250のON時に出射したレーザービームLB
3bは、集光用レンズL2bを介して無偏光ビームスプ
リッタ260Aに入射される。無偏光ビームスプリッタ
260Aに入射した両レーザービームLB3a、LB3
bは、当該無偏光ビームスプリッタ260A及びその後
ミラーM7を介して入射される偏光ビームスプリッタ2
60Bによって合成される。
Next, the laser beam LB2a is reflected by the mirror M.
5. Digital AOM 24 through the condenser lens L1a
It is incident on 0 and is digitally modulated. The laser beam LB emitted when the digital AOM 240 is turned on
3a is incident on the non-polarization beam splitter 260A via the condenser lens L2a and the mirror M6. On the other hand, the laser beam LB2b is incident on the digital AOM 250 via the condenser lens L1b. Then, the laser beam LB emitted when the digital AOM 250 is turned on.
3b is incident on the non-polarization beam splitter 260A via the condenser lens L2b. Both laser beams LB3a and LB3 incident on the non-polarization beam splitter 260A
b is the non-polarization beam splitter 260A and the polarization beam splitter 2 which is then incident via the mirror M7.
Is synthesized by 60B.

【0063】その後、レーザービームLB4a、LB4
bは、第1エキスパンダEP1によりビーム間隔が狭め
られた上で、AOD270に入射される(図7参照)。
AOD270における動作は既述した通りである。尚、
第1エキスパンダEP1を構成するロッドレンズL3及
びシリンドリカルレンズL4のレンズ間距離は、いわゆ
る「AODのシリンドリカル効果」を打ち消すために適
切に調整されている。この「AODのシリンドリカル効
果」とは、AODに平行ビームを入射した場合に、AO
Dの掃引信号の周波数が一定の場合には回折光も平行ビ
ームとなるのに対して、AODの掃引信号の周波数が変
化する場合には回折光は平行ビームとはならず、ある拡
がりを持つことになるという現象である。そこで、この
様な現象によるフォーカス位置の位置ズレ発生を未然に
防止する目的で、上記レンズ間距離を変えることにより
絞られ気味のレーザービームLB4a、LB4bをAO
D270に入射し、回折されたレーザービームLB5
a、LB5bそれぞれが平行に出射される様にしたもの
である。
After that, the laser beams LB4a, LB4
The beam interval b is narrowed by the first expander EP1 and then is incident on the AOD 270 (see FIG. 7).
The operation of the AOD 270 is as described above. still,
The inter-lens distances of the rod lens L3 and the cylindrical lens L4 constituting the first expander EP1 are appropriately adjusted to cancel the so-called “AOD cylindrical effect”. This “cylindrical effect of AOD” means that when a parallel beam is incident on the AOD,
When the frequency of the sweep signal of D is constant, the diffracted light also becomes a parallel beam, whereas when the frequency of the sweep signal of AOD changes, the diffracted light does not become a parallel beam and has a certain spread. This is a phenomenon. Therefore, in order to prevent the occurrence of the positional shift of the focus position due to such a phenomenon, the laser beams LB4a and LB4b which are slightly narrowed by changing the distance between the lenses are AO.
Laser beam LB5 incident on D270 and diffracted
a and LB5b are emitted in parallel.

【0064】一方、AOD270より出射されたレーザ
ービームLB5a、LB5bは、第2エキスパンダEP
2によりビーム間隔が拡げられた上で、スキャンレンズ
L7に入射される。即ち、レーザービームLB5a、L
B5bは、第2エキスパンダEP2のロッドレンズL6
を中心に角度θの拡がりを有しており、スキャンレンズ
L7を出射したレーザービームLB5a、LB5bは、
44μm程度のビーム間隔hを有する相互に平行なビー
ムとなる(図7)。
On the other hand, the laser beams LB5a and LB5b emitted from the AOD 270 are the second expander EP.
The beam interval is expanded by 2 and the beam is incident on the scan lens L7. That is, the laser beams LB5a, L
B5b is a rod lens L6 of the second expander EP2
The laser beams LB5a and LB5b emitted from the scan lens L7 have a spread of an angle θ with respect to
The beams are parallel to each other with a beam interval h of about 44 μm (FIG. 7).

【0065】最後に、スキャンレンズL7より出射した
レーザービームLB5a、LB5bは、ミラーM8を介
して既述した描画ヘッド33に導かれる。即ち、レーザ
ービームLB5a、LB5bは、ペチャンプリズムP
Z、リレーレンズL8を介して対物レンズL9へ入射さ
れる。このときのレーザービームLB5a、LB5bの
ビーム間隔は22μm程度であり、各ビームLB5a、
LB5bのビーム径(直径)は20μmである。このビ
ーム間隔は、2本のビームが互いに干渉しないために必
要なビーム間隔20μmを満足するものである。その
後、両ビームLB5a、LB5bは、対物レンズL9に
設定されている所定の倍率に応じてビーム径が縮小され
た上で、感材1へ照射される。尚、本実施例では、対物
レンズL9の倍率として3種類の倍率(2倍、5倍、1
0倍)が用意されている。ここで、対物レンズL9に入
射した際のレーザービームLB5a、LB5bのビーム
径は20μmであるので、倍率を2倍とした場合には各
ビームLB5a、LB5bのビーム径は10μmに縮小
される。同じく倍率をそれぞれ5倍、10倍とした場合
には、ビーム径はそれぞれ4μm、2μmとなる。尚、
以後の説明においては、走査光学系200に於ける倍率
は10倍(ビーム径2μm)であるものとして取り扱わ
れている。又、ビーム径とは、レーザービームのビーム
ウエストの直径を意味している。
Finally, the laser beams LB5a and LB5b emitted from the scan lens L7 are guided to the drawing head 33 described above via the mirror M8. That is, the laser beams LB5a and LB5b are transmitted by the Pechan prism P.
It is incident on the objective lens L9 through Z and the relay lens L8. At this time, the laser beam LB5a, LB5b has a beam interval of about 22 μm.
The beam diameter (diameter) of the LB 5b is 20 μm. This beam interval satisfies the beam interval of 20 μm required for the two beams not to interfere with each other. Thereafter, the beams LB5a and LB5b are irradiated onto the photosensitive material 1 after the beam diameters thereof are reduced in accordance with the predetermined magnification set in the objective lens L9. In this example, three types of magnifications (2 times, 5 times, 1
0 times) is prepared. Here, since the beam diameters of the laser beams LB5a and LB5b upon entering the objective lens L9 are 20 μm, the beam diameters of the respective beams LB5a and LB5b are reduced to 10 μm when the magnification is doubled. Similarly, when the magnification is 5 times and 10 times, the beam diameters are 4 μm and 2 μm, respectively. still,
In the following description, it is assumed that the scanning optical system 200 has a magnification of 10 times (beam diameter 2 μm). In addition, the beam diameter means the diameter of the beam waist of the laser beam.

【0066】又、描画ヘッド33内には、図6に例示す
る様に、対物レンズL9より出射したレーザービームL
B5a、LB5bを感材1上に常にフォーカスするため
のオートフォーカス検出系(レーザーダイオードLD、
位置検出装置PSD)が備えられている。
In the drawing head 33, as shown in FIG. 6, the laser beam L emitted from the objective lens L9.
An autofocus detection system (laser diode LD, B5a, LB5b) for always focusing on the photosensitive material 1
A position detector PSD) is provided.

【0067】C.描画制御装置の電気的構成 (C−1) 描画制御装置の全体構成 図8は、描画制御装置100の全体構成を周辺装置と共
に示したブロック図である。尚、本図には、ディジタル
AOM240、250及びAOD270のそれぞれのド
ライバとして、ディジタルAOMドライバ241、25
1及びAODドライバ271が記載されているが、図1
においては、これらのドライバの記載は便宜上省略され
ていた。
C. Electrical Configuration of Drawing Control Device (C-1) Overall Configuration of Drawing Control Device FIG. 8 is a block diagram showing the overall configuration of the drawing control device 100 together with peripheral devices. In the figure, digital AOM drivers 241 and 25 are shown as respective drivers of the digital AOMs 240 and 250 and the AOD 270.
1 and the AOD driver 271 are shown in FIG.
In, the description of these drivers was omitted for convenience.

【0068】同図に示す通り、描画制御装置100は、
クロック110、走査信号発生部120、ディジタルA
OM制御部140、150、掃引信号発生部160、ラ
スター変換部170及びモーターコントローラ180を
有している。
As shown in the figure, the drawing control device 100 is
Clock 110, scanning signal generator 120, digital A
It has OM control units 140 and 150, a sweep signal generation unit 160, a raster conversion unit 170, and a motor controller 180.

【0069】先ずクロック110より発したシステムク
ロックSCLK(20MHz)は、走査信号発生部12
0に入力される。
First, the system clock SCLK (20 MHz) generated from the clock 110 is used as the scanning signal generator 12
Input to 0.

【0070】走査信号発生部120は、システムクロッ
クSCLKに基づきデータ読出信号DR、データスター
ト信号DST及び走査開始信号STを作成し、データ読
出信号DRを掃引信号発生部160へ出力するととも
に、データスタート信号DST及び走査開始信号STを
ディジタルAOM制御部140、150へ出力する。
又、システムクロックSCLKは、ディジタルAOM制
御部140及び150にも入力される。
The scanning signal generator 120 produces the data read signal DR, the data start signal DST and the scan start signal ST based on the system clock SCLK, outputs the data read signal DR to the sweep signal generator 160, and simultaneously starts the data start. The signal DST and the scan start signal ST are output to the digital AOM control units 140 and 150.
The system clock SCLK is also input to the digital AOM control units 140 and 150.

【0071】更に、クロック110は、ECLクロック
CLK(200MHz)をディジタルAOD制御部14
0及び150に出力する。
Further, the clock 110 uses the ECL clock CLK (200 MHz) as the digital AOD control unit 14.
Output to 0 and 150.

【0072】一方、CPU310は、CCDカメラ50
により測定されたビーム位置データVPOに基づき、最
適なディジタル変調制御信号VDa,VDbを決定する
ための補正データを作成し、その補正データをデータバ
ス350を介してディジタルAOM制御部140及び1
50に送信する。又、CPU310は、掃引信号発生部
160に対しても、掃引信号VT、VMに関するデータ
をデータバス350を介して送信する。
On the other hand, the CPU 310 controls the CCD camera 50.
The correction data for determining the optimum digital modulation control signals VDa and VDb is created based on the beam position data VPO measured by the digital AOM control units 140 and 1 via the data bus 350.
Send to 50. Further, the CPU 310 also transmits data regarding the sweep signals VT and VM to the sweep signal generator 160 via the data bus 350.

【0073】各部140、150、160の概略動作
は、次の通りである。
The general operation of each unit 140, 150, 160 is as follows.

【0074】先ず、ディジタルAOM制御部140は、
走査開始信号STに応じてスタンバイ状態となる。その
後、ディジタルAOM制御部140は、ラスター変換部
170より送られてきたラスター信号SVRa(アナロ
グ信号)を、CPU310により作成された補正データ
に基づき定められるタイミングでドット信号DOT1
(ディジタル信号)に変換する。このタイミング作成に
ついては、後述される。その後、ドット信号DOT1
は、ディジタルAOMドライバ241によりドライブ信
号として適したディジタル変調制御信号VDaに変換さ
れる。尚、ディジタルAOM制御部150もまた、同様
の動作をする。これらのラスター信号SVRa、SVR
bは、ラスター変換部170により画像信号SVからラ
スター変換されて作成された信号である。
First, the digital AOM controller 140
The standby state is set in response to the scan start signal ST. After that, the digital AOM control unit 140 outputs the raster signal SVRa (analog signal) sent from the raster conversion unit 170 to the dot signal DOT1 at a timing determined based on the correction data created by the CPU 310.
(Digital signal). This timing creation will be described later. After that, the dot signal DOT1
Is converted into a digital modulation control signal VDa suitable as a drive signal by the digital AOM driver 241. The digital AOM control unit 150 also performs the same operation. These raster signals SVRa, SVR
b is a signal created by raster conversion of the image signal SV by the raster conversion unit 170.

【0075】又、掃引信号発生部160は、記憶する掃
引信号VT、VMに関するデータをデータ読出信号DR
のタイミングで読み出し、掃引信号VT、VMを作成す
るとともに、掃引信号VT、VMをAODドライバ27
1に出力する。AODドライバ271は、掃引信号V
T、VMをドライブ信号として適した掃引信号VSに変
換する。
Further, the sweep signal generator 160 outputs the data concerning the stored sweep signals VT and VM to the data read signal DR.
And the sweep signals VT and VM are created at the same timing, and the sweep signals VT and VM are also read by the AOD driver 27.
Output to 1. The AOD driver 271 uses the sweep signal V
The T and VM are converted into a sweep signal VS suitable as a drive signal.

【0076】各部の概略動作は、以上の通りである。以
下においては、各部の詳細な構成について説明する。
The general operation of each part is as described above. The detailed configuration of each unit will be described below.

【0077】(C−2) クロック 図9は、クロック110の構成を示したブロック図であ
る。同図に示す通り、クロック110は、ECL発振器
111と分周器112とから構成される。ここでECL
発振器111は、200MHzのECLクロックCLK
を発振する発振器である。そしてECLクロックCLK
は分周器112に入力され、20MHzのシステムクロ
ックSCLKに分周される。
(C-2) Clock FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the clock 110. As shown in the figure, the clock 110 is composed of an ECL oscillator 111 and a frequency divider 112. ECL here
The oscillator 111 uses an ECL clock CLK of 200 MHz.
Is an oscillator that oscillates. And ECL clock CLK
Is input to the frequency divider 112 and is divided into the system clock SCLK of 20 MHz.

【0078】(C−3) 走査信号発生部 図10は、走査信号発生部120の構成を示したブロッ
ク図である。この走査信号発生部120は、レーザー測
長器40より送られて来る位置情報信号Sy(位置パル
ス)から走査開始信号ST及びデータ読出信号DR、D
DRを作成するためのユニットである。
(C-3) Scanning Signal Generating Unit FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the scanning signal generating unit 120. The scanning signal generator 120 uses the position information signal Sy (position pulse) sent from the laser length measuring device 40 to scan start signal ST and data read signals DR and D.
It is a unit for creating a DR.

【0079】先ず、位置情報信号Syは測長パルス補正
回路121により所定の補正を受けた後、ALU(Arit
hmatic Logic Unit)122に入力される。このALU1
22は、レジスタ124に保持されている変換則RUL
に基づき、パルス単位系(時間)で表された補正済み位
置情報信号Sys から長さ(μm)の単位系で表される
信号に変換した上で、走査スタートパルスSPを走査信
号コントローラ123に出力する。
First, the position information signal Sy is subjected to a predetermined correction by the length measurement pulse correction circuit 121, and then the ALU (Arit
hmatic Logic Unit) 122. This ALU1
22 is a conversion rule RUL held in the register 124.
Based on the above, the corrected position information signal Sys expressed in the pulse unit system (time) is converted into a signal expressed in the unit system of length (μm), and then the scanning start pulse SP is output to the scanning signal controller 123. To do.

【0080】又、位置情報信号Syは、Y軸位置カウン
タ125にも送られる。このY軸位置カウンタ125
は、位置情報信号Syより描画ヘッド33のY方向に於
ける現在位置を検出しており、描画ヘッド33が予め定
められたY方向描画開始位置に達したことを検出したと
きに、1ストライプ走査のY方向スタートパルスYSP
を走査信号コントローラ123に出力する。
The position information signal Sy is also sent to the Y-axis position counter 125. This Y-axis position counter 125
Detects the current position of the drawing head 33 in the Y direction from the position information signal Sy, and when detecting that the drawing head 33 has reached a predetermined Y direction drawing start position, one stripe scanning is performed. Y direction start pulse YSP
To the scanning signal controller 123.

【0081】次に、走査信号コントローラ123は、Y
方向スタートパルスYSPがアサートされた時点で初め
て走査スタートパルスSPを出力できる状態となる。そ
して走査信号コントローラ123は、この時点より走査
信号用カウンタ126のカウントを開始し始め、システ
ムクロックSCLKのタイミングに同期してカウントア
ップしてゆく。ここで走査信号用カウンタ126のカウ
ント数は、掃引信号発生部160が有するメモリ(後述
される。)のアドレスに対応している。
Next, the scanning signal controller 123 makes the Y
Only when the direction start pulse YSP is asserted can the scan start pulse SP be output. Then, the scanning signal controller 123 starts to count the scanning signal counter 126 at this point and counts up in synchronization with the timing of the system clock SCLK. Here, the count number of the scanning signal counter 126 corresponds to the address of a memory (described later) included in the sweep signal generation unit 160.

【0082】そして走査信号用カウンタ126は、50
nsec.毎にそのメモリに格納されているデータを読
み出すためのデータ読出信号DRを、システムクロック
SCLKのタイミングに同期して掃引信号発生部160
に出力する。又、データ読出信号DRはデコーダ127
を介して走査信号コントローラ123にフィードバック
される。
The scanning signal counter 126 has 50
nsec. The sweep signal generator 160 outputs the data read signal DR for reading the data stored in the memory every time in synchronization with the timing of the system clock SCLK.
Output to. Further, the data read signal DR is transmitted to the decoder 127.
It is fed back to the scanning signal controller 123 via.

【0083】更にデコーダ127は、データ読出信号D
Rが示すカウント数と予めデコーダ127に与えられて
いるカウント数Sとが等しくなったときに、データスタ
ート信号DSTをディジタルAOM制御部140及び1
50へ出力する。ここで、カウント数Sは、最初の描画
点P1に対応づけられた値である。
Further, the decoder 127 outputs the data read signal D
When the count number indicated by R and the count number S previously given to the decoder 127 become equal, the data start signal DST is sent to the digital AOM control units 140 and 1.
Output to 50. Here, the count number S is a value associated with the first drawing point P1.

【0084】尚、走査信号コントローラ123は、走査
スタートパルスSPを走査開始信号STとしてディジタ
ルAOM制御部140、150へ出力する。
The scanning signal controller 123 outputs the scanning start pulse SP as the scanning start signal ST to the digital AOM control units 140 and 150.

【0085】(C−4) ディジタルAOM制御部 図11は、ディジタルAOM制御部140の電気的構成
を模式的に示したブロック図である。尚、ディジタルA
OM制御部150の構成もディジタルAOM制御部14
0と同一であるため、それらの説明については割愛す
る。
(C-4) Digital AOM Control Unit FIG. 11 is a block diagram schematically showing the electrical configuration of the digital AOM control unit 140. Digital A
The configuration of the OM control unit 150 is also the digital AOM control unit 14.
Since it is the same as 0, its explanation is omitted.

【0086】ここでディジタルAOM制御部140は、
システムクロックSCLKのタイミングを適切に補正し
た出力タイミングを有するデータ読出しクロックSDR
に同期して、ラスター信号化された画像信号SVRaを
ドット信号DOT1(ディジタル信号)に変換するユニ
ットである。従って、画像信号SVRaをシリアルに出
力するために、画像信号SVRaは先ずFIFOメモリ
に格納される。
Here, the digital AOM control unit 140
Data read clock SDR having output timing in which the timing of system clock SCLK is appropriately corrected
Is a unit that converts the rasterized image signal SVRa into a dot signal DOT1 (digital signal). Therefore, in order to output the image signal SVRa serially, the image signal SVRa is first stored in the FIFO memory.

【0087】同図に示す通り、ディジタルAOM制御部
140は、データ読出しクロック発生部141とデータ
読出し制御部149とFIFOメモリ144とから構成
されている。又、データ読出し制御部149は、データ
読出しコントローラ142とドット数カウンタ143と
ドット変換器146とから構成される。
As shown in the figure, the digital AOM control section 140 is composed of a data read clock generation section 141, a data read control section 149 and a FIFO memory 144. The data read control unit 149 includes a data read controller 142, a dot number counter 143, and a dot converter 146.

【0088】ここでデータ読出しクロック発生部141
は、200MHzのECLクロックCLKに同期して、
システムクロックSCLKのタイミングを補正した信号
であるデータ読出しクロックSDRを作成する回路であ
り、ディジタルAOM制御部140の心臓部といえる重
要な構成要素である。尚、システムクロックSCLKの
タイミングの補正量は、予めデータ処理部300からデ
ータ読出クロック発生部141に与えられている位置ズ
レ補正データVPODに基づいて定められる。そこで、
先ず、データ読出しクロック発生部141の詳細な構成
とその動作とについて説明することにする。
Here, the data read clock generator 141
Is synchronized with the 200 MHz ECL clock CLK,
It is a circuit that creates a data read clock SDR that is a signal in which the timing of the system clock SCLK is corrected, and is an important component that can be said to be the heart of the digital AOM control unit 140. The correction amount of the timing of the system clock SCLK is determined based on the positional deviation correction data VPOD given to the data read clock generating unit 141 from the data processing unit 300 in advance. Therefore,
First, the detailed configuration and operation of the data read clock generator 141 will be described.

【0089】 図12は、データ読出しクロック発生
部141の電気的構成を模式的に示したブロック図であ
る。同図において、位置ズレ補正データメモリ1411
には、予め位置ズレ補正データVPODが格納されてい
る。この位置ズレ補正データVPODの格納処理は、次
の様にして行われる。
FIG. 12 is a block diagram schematically showing the electrical configuration of the data read clock generator 141. In the figure, the positional deviation correction data memory 1411
The position shift correction data VPOD is stored in advance. The storage process of the position shift correction data VPOD is performed as follows.

【0090】即ち、CCDカメラ50によって測定され
た1024個のビーム位置に関するデータVPOが、入
力インタフェース330を介してCPU310へ伝送さ
れる。そしてCPU310は、これらのビーム位置に関
するデータVPOに基づき、位置ズレ補正データVPO
Dを算出し、これらのデータVPODを出力インタフェ
ース340を介して位置ズレ補正データメモリ1411
に出力する。以上の処理により、位置ズレ補正データV
PODが、位置ズレ補正データメモリ1411の対応す
るアドレスに記憶される。
That is, the data VPO regarding the 1024 beam positions measured by the CCD camera 50 is transmitted to the CPU 310 via the input interface 330. Then, the CPU 310, based on the data VPO relating to these beam positions, corrects the positional deviation data VPO.
D is calculated, and these data VPOD are stored in the position shift correction data memory 1411 via the output interface 340.
Output to. By the above processing, the positional deviation correction data V
The POD is stored at the corresponding address of the positional deviation correction data memory 1411.

【0091】ここで、位置ズレ補正データメモリ141
1自身は1400個のアドレスを有しており、それに対
応して、補正データVPODもまた1400個のデータ
からなる。しかし、1400個のデータVPODの内、
意味のあるデータVPODは、CCDカメラ50の測定
結果VPOより算出される1024個のデータであり、
これらは、位置ズレ補正データメモリ1411のS番目
(デコーダ127が有するS値に相等)のアドレスより
順次記憶されている。尚、CCDカメラ50によるビー
ム位置の測定方法や位置ズレ補正データVPODの算出
方法の詳細については、後述される。
Here, the positional deviation correction data memory 141
One itself has 1400 addresses, and correspondingly, the correction data VPOD is also composed of 1400 data. However, of the 1400 data VPODs,
The meaningful data VPOD is 1024 pieces of data calculated from the measurement result VPO of the CCD camera 50,
These are sequentially stored from the S-th address (equivalent to the S value of the decoder 127) of the positional deviation correction data memory 1411. The details of the method of measuring the beam position by the CCD camera 50 and the method of calculating the positional deviation correction data VPOD will be described later.

【0092】次に位置補正コントローラ1416は、走
査信号コントローラ123から送られて来る走査開始信
号STに同期して、位置ズレ補正データメモリ1411
の第1番目のアドレスに格納されているデータを読出
し、当該データをECLラッチ1412へ送信する。
尚、以後の話を一般化するため、当該データを記号VP
OD(J)(J番目のアドレスに格納されたデータ)と
記載する。
Next, the position correction controller 1416 synchronizes with the scanning start signal ST sent from the scanning signal controller 123, and the positional deviation correction data memory 1411.
The data stored in the first address of is read and the data is transmitted to the ECL latch 1412.
In addition, in order to generalize the following story, the data is represented by the symbol VP.
Described as OD (J) (data stored at the Jth address).

【0093】ECLラッチ1412は、200MHzの
ECLクロックCLK(ラッチ信号)に応じて、送信さ
れてきたデータVPOD(J)(TTLロジック)をラ
ッチするとともに、ECLロジックのデータVPOE
(J)に変換する。そして、ECLラッチ1412は、
当該データVPOE(J)をECLカウンタ1413に
セットする。
The ECL latch 1412 latches the transmitted data VPOD (J) (TTL logic) according to the 200 MHz ECL clock CLK (latch signal), and also the ECL logic data VPOE.
Convert to (J). Then, the ECL latch 1412 is
The data VPOE (J) is set in the ECL counter 1413.

【0094】又、位置補正コントローラ1416は、走
査開始信号STに応じてイネーブル信号ENをカウンタ
コントローラ1417に出力する。そして、カウンタコ
ントローラ1417は、そのイネーブル信号ENに同期
して、カウントイネーブル信号CENをECLカウンタ
1413及びデューティコントロール用カウンタ141
8へ出力する。これにより、両カウンタ1413、14
18は、カウント動作開始状態となる。
The position correction controller 1416 also outputs an enable signal EN to the counter controller 1417 in response to the scan start signal ST. Then, the counter controller 1417 synchronizes the count enable signal CEN with the ECL counter 1413 and the duty control counter 141 in synchronization with the enable signal EN.
Output to 8. As a result, both counters 1413, 14
18 is in a counting operation start state.

【0095】ここでECLカウンタ1413は、セット
される位置ずれ補正データVPOD(J)の値を変える
ことにより、5nsec.(周波数に換算すると200
MHz)の整数倍の時間だけデータ読出しクロックSD
Rの立上りタイミングをシフトさせることを目的とした
ものである。そこでECLカウンタ1413は、描画点
Pi毎に適切なデータ読出しクロックSDRの立上がり
タイミングを決定するために、先ず位置ズレ補正データ
VPOE(J)をカウントするとともに、そのカウント
数に相当するキャリー信号CSJをJ−K−FF(フリ
ップフロップ)1414のJ端子へ出力する。尚、上記
目的ないしは5nsec.という時間単位の意義につい
ては、後述する走査方法の説明において一層明らかなも
のとされる。
Here, the ECL counter 1413 changes the value of the positional deviation correction data VPOD (J) to be set to 5 nsec. (200 when converted to frequency
MHz) Data read clock SD for an integral multiple of time
The purpose is to shift the rising timing of R. Therefore, the ECL counter 1413 first counts the positional deviation correction data VPOE (J) and determines the carry signal CSJ corresponding to the count number in order to determine the appropriate rising timing of the data read clock SDR for each drawing point Pi. Output to the J terminal of the JK-FF (flip-flop) 1414. The above-mentioned purpose or 5 nsec. The significance of the time unit will be made clearer in the description of the scanning method described later.

【0096】同様にキャリー信号CSJは、デューティ
コントロール用カウンタ1418にもセットされる。こ
のデューティコントロール用カウンタ1418は、デー
タ読出しクロックSDRのデューティを調整することを
目的としたものである。従って、デューティコントロー
ル用カウンタ1418は、キャリー信号CSJがJ−K
−FF1414のJ入力端子にセットされた後、そのキ
ャリー信号CSDJに応じて定まる時間(デューティに
相当)後にLレベルからHレベルへと立上がるキャリー
信号CSDJを、J−K−FF1414のK入力端子へ
出力する。
Similarly, carry signal CSJ is also set in duty control counter 1418. The duty control counter 1418 is intended to adjust the duty of the data read clock SDR. Therefore, the duty control counter 1418 indicates that the carry signal CSJ is JK.
The carry signal CSDJ rising from the L level to the H level after being set to the J input terminal of the FF1414 (corresponding to the duty) after being set according to the carry signal CSDJ is input to the K input terminal of the JK-FF1414. Output to.

【0097】ここでJ−K−FF1414の動作は、次
の通りである。
The operation of the JK-FF 1414 is as follows.

【0098】先ず、J入力端子にキャリー信号CSJが
セットされた時点では、J入力端子はHレベルであり、
K入力端子はLレベルにある。従って、J−K−FF1
414の出力は、ECLクロックCLK(ラッチ信号)
のタイミングでセットされる。一方、キャリー信号CS
DJがLレベルからHレベルになった時点では、J−K
−FF1414のJ端子のレベルはLレベルにあるた
め、J−K−FF1414の出力は、ECLクロックC
LKのタイミングでリセットされる。即ち、J−K−F
F1414のセットによりデータ読出しクロックSDR
の立上がりタイミングが決定され、J−K−FF141
4のリセットによりデータ読出しクロックSDRのデュ
ーティが調整されることとなる。
First, when the carry signal CSJ is set to the J input terminal, the J input terminal is at the H level,
The K input terminal is at the L level. Therefore, J-K-FF1
The output of 414 is the ECL clock CLK (latch signal)
It is set at the timing of. On the other hand, carry signal CS
When DJ goes from L level to H level, J-K
Since the level of the J terminal of the -FF1414 is at the L level, the output of the JK-FF1414 is the ECL clock C
It is reset at the timing of LK. That is, JKF
Data read clock SDR by setting F1414
Rise timing is determined, and JK-FF141
By resetting 4, the duty of the data read clock SDR is adjusted.

【0099】尚、J−K−FF1414の出力信号は、
ECLクロックCLKとの同期を良くするために、一端
D−FF1415に入力された上で、データ読出しクロ
ックSDRJとして出力される。ここで、記号SDRJ
とは、J番目のアドレスに相当するデータ読出しクロッ
クSDRであることを意味している。
The output signal of the JK-FF 1414 is
In order to improve the synchronization with the ECL clock CLK, the data is first input to the D-FF 1415 and then output as the data read clock SDRJ. Where the symbol SDRJ
Means that it is the data read clock SDR corresponding to the Jth address.

【0100】更にデータ読出しクロックSDRは、位置
ズレ制御カウンタ1419に入力される。この位置ズレ
制御カウンタ1419は、システムクロックSCLKに
同期する位置補正コントローラ1416からのラッチ信
号CPにより、カウントイネーブルの制御を行う。実際
には、データ読出しクロックSDRJの立上りによって
カウント動作を行い、そのカウンタ出力ADDを位置ズ
レ補正データメモリ1411へ出力する。このカウンタ
出力ADDは、位置ズレ補正データメモリ1411の次
のアドレス、即ち、(J+1)番目のアドレスを指示す
る信号である。
Further, the data read clock SDR is input to the position shift control counter 1419. The position shift control counter 1419 controls the count enable by the latch signal CP from the position correction controller 1416 synchronized with the system clock SCLK. Actually, the count operation is performed by the rising of the data read clock SDRJ, and the counter output ADD is output to the misalignment correction data memory 1411. The counter output ADD is a signal for instructing the next address of the positional deviation correction data memory 1411, that is, the (J + 1) th address.

【0101】即ち、位置ズレ補正データメモリ1411
の(J+1)番目のアドレスに格納されている位置ズレ
補正データVPOD(J+1)がカウンタ出力ADDの
タイミングに応じて読み出されるとともに、ECLラッ
チ1412を介してECLカウンタ1413へセットさ
れる。その後、位置ズレ補正データVPOE(J+1)
についても同様に一連の処理がなされ、データ読出しク
ロックSDR(J+1)が出力されることとなる。従っ
て、データ読出しクロックSDRは、その立上がりタイ
ミングが位置ずれ補正データVPOEの値により5ns
ec.(200MHz)の整数倍の時間だけシフトした
信号となり、且つそのハイレベルの保持時間はデューテ
ィコントロール用カウンタ1418により一定とされ
る。即ち、VPOE(J)の値により、立上りタイミン
グと周期とが制御され、又、VPOE(J)の値による
データ読出しクロックSDR(J)のシフト量は順次累
積される。
That is, the positional deviation correction data memory 1411
The positional deviation correction data VPOD (J + 1) stored in the (J + 1) th address of is read according to the timing of the counter output ADD, and is set in the ECL counter 1413 via the ECL latch 1412. After that, the positional deviation correction data VPOE (J + 1)
Similarly, a series of processes is performed for the data read clock SDR (J + 1). Therefore, the rising timing of the data read clock SDR is 5 ns depending on the value of the positional deviation correction data VPOE.
ec. The signal is shifted by an integral multiple of (200 MHz), and the high-level holding time is made constant by the duty control counter 1418. That is, the rising timing and the cycle are controlled by the value of VPOE (J), and the shift amount of the data read clock SDR (J) by the value of VPOE (J) is sequentially accumulated.

【0102】データ読出しクロック発生部141の構成
と動作とについては、以上述べた通りであり、この様な
回路構成とすることにより、位置ズレを補正することが
できるとともに、同時にスキャン幅の調整も行えること
ができるわけである。
The structure and operation of the data read clock generator 141 are as described above. With such a circuit structure, the positional deviation can be corrected and the scan width can be adjusted at the same time. It can be done.

【0103】 次に、図11に基づき、ディジタルA
OM制御部140の構成と動作とについて説明する。
Next, based on FIG. 11, the digital A
The configuration and operation of the OM control unit 140 will be described.

【0104】先ず、データ読出しクロックSDRは、デ
ータ読出しコントローラ142に入力される。このデー
タ読出しコントローラ142は、最初の描画点P1に相
当するアドレスSを指示するデータスタート信号DST
に同期してデータ読出し開始状態になるとともに、同時
にデータ読出しクロックSDRに同期した画像読出しク
ロックIRを、FIFOメモリ144及びドット変換器
146へ出力する。又、データ読出しコントローラ14
2は、同じくデータ読出しクロックSDRに同期したカ
ウントアップ信号DCNTをドット数カウンタ143へ
出力して、ドット数(描画点数)をカウントする。
First, the data read clock SDR is input to the data read controller 142. The data read controller 142 uses the data start signal DST for designating the address S corresponding to the first drawing point P1.
The data read start state is synchronized with the data read clock SDR, and at the same time, the image read clock IR synchronized with the data read clock SDR is output to the FIFO memory 144 and the dot converter 146. In addition, the data read controller 14
Similarly, 2 outputs a count-up signal DCNT synchronized with the data read clock SDR to the dot number counter 143 to count the number of dots (the number of drawing points).

【0105】従って、FIFOメモリ144からは、ラ
スター信号化された画像信号Raが画像読出しクロック
IRのタイミングで順次読出され、ドット変換器146
へ順次送信される。
Therefore, the raster image signal Ra is sequentially read from the FIFO memory 144 at the timing of the image read clock IR, and the dot converter 146 is read.
Are sequentially transmitted to.

【0106】更にドット変換器146において、画像信
号Raは画像読出しクロックIRのタイミングで順次ド
ット化され、ドット変換器146よりON,OFF信号
であるドット信号DOT1が出力される。
Further, in the dot converter 146, the image signal Ra is sequentially formed into dots at the timing of the image reading clock IR, and the dot converter 146 outputs the dot signal DOT1 which is an ON / OFF signal.

【0107】すなわち、ドット変換器146において
は、FIFOメモリ144からの画像信号Raが画像読
出クロックIRのタイミングで読出された後に、ドット
変換器146においても画像読出しクロックIRの立上
りタイミングで画像信号Ra(J)とRa(J+1)と
の排他的論理和をとることにより、ドット信号DOT1
が形成される。
That is, in the dot converter 146, after the image signal Ra from the FIFO memory 144 is read at the timing of the image reading clock IR, the dot converter 146 also reads the image signal Ra at the rising timing of the image reading clock IR. The exclusive OR of (J) and Ra (J + 1) is used to obtain the dot signal DOT1.
Is formed.

【0108】(C−5) 掃引信号発生部 図13は、掃引信号発生部160の電気的構成をデータ
処理部300と共に模式的に示したブロック図である。
同図に示す通り、掃引信号発生部160は、掃引信号V
Tを作成する部分と掃引信号VMを作成する部分とに大
別される。
(C-5) Sweep Signal Generation Unit FIG. 13 is a block diagram schematically showing the electrical configuration of the sweep signal generation unit 160 together with the data processing unit 300.
As shown in the figure, the sweep signal generator 160 uses the sweep signal V
It is roughly divided into a part that creates T and a part that creates the sweep signal VM.

【0109】先ず、直線性補正用メモリ161には、予
め掃引信号VTに関する1400個の直線性補正データ
VTDが、出力インターフェース340を介してCPU
310により与えられている。これらの直線性補正デー
タVTDは、電圧制御発振器(VCO)166に於ける
制御電圧に対する周波数特性の非線形性を補正するため
の信号である。そして、直線性補正データVTDは、デ
ータ読出信号DRのタイミングに応じて、即ち、50n
sec.毎に直線性補正用メモリ161より順次読み出
され、D/A変換器163aによりアナログ信号に変換
された上でPGA164aに入力される。ここでPGA
164aもまた、アナログAOM制御部130のPGA
133と同様に、AOD270の規格に応じてそのゲイ
ン及びそのオフセットを補正するためのゲインレジスタ
167a及びオフセットレジスタ168aを有してい
る。
First, in the linearity correction memory 161, 1400 pieces of linearity correction data VTD relating to the sweep signal VT are previously stored in the CPU via the output interface 340.
It is given by 310. These linearity correction data VTD are signals for correcting the non-linearity of the frequency characteristic with respect to the control voltage in the voltage controlled oscillator (VCO) 166. Then, the linearity correction data VTD corresponds to the timing of the data read signal DR, that is, 50n.
sec. The data is sequentially read from the linearity correction memory 161 for each time, converted into an analog signal by the D / A converter 163a, and then input to the PGA 164a. Where PGA
164a is also the PGA of the analog AOM control unit 130.
Like 133, it has a gain register 167a and an offset register 168a for correcting its gain and its offset according to the standard of AOD270.

【0110】その後、PGA164aにより増幅された
直線性補正データVTDは、ローパスフィルタ165a
を介してVCO166に入力される。この直線性補正デ
ータVTDにより、VCO166の周波数特性はリニア
とされ、VCO166より掃引信号VTが発生する。
After that, the linearity correction data VTD amplified by the PGA 164a is the low-pass filter 165a.
Is input to the VCO 166 via. The frequency characteristic of the VCO 166 is made linear by the linearity correction data VTD, and the sweep signal VT is generated from the VCO 166.

【0111】この様に掃引信号発生部160において
は、AOD270の一走査時間内に(70μse
c.)、1400個の直線性補正データVTDがシステ
ムクロックSCLKのタイミングで次々にD/A変換さ
れ、掃引信号VTが形成される。
As described above, in the sweep signal generator 160, (70 μse) is reached within one scanning time of the AOD 270.
c. ) 1400 pieces of linearity correction data VTD are sequentially D / A converted at the timing of the system clock SCLK to form the sweep signal VT.

【0112】一方、回折効率補正用メモリ162に関し
ても、掃引信号VMに関する1400個の回折効率補正
データVMDが、出力インターフェース340を介して
CPU310により予め与えられている。
On the other hand, also for the diffraction efficiency correction memory 162, 1400 pieces of diffraction efficiency correction data VMD relating to the sweep signal VM are given in advance by the CPU 310 via the output interface 340.

【0113】そして、回折効率補正データVMDもま
た、データ読出信号DRのタイミングに応じて、50n
sec.毎に回折効率補正用メモリ162より順次読み
出され、D/A変換器163bによりアナログ信号に変
換された上でPGA164bに入力される。ここでPG
A164bもまた、同様の理由により、ゲインレジスタ
167b及びオフセットレジスタ168bを有してい
る。そして、PGA164bにより増幅された回折効率
補正データVMDは、ローパスフィルタ165bを経
て、掃引信号VMとしてAODドライバ271に掃引信
号VTと共に出力される。
The diffraction efficiency correction data VMD is also 50n depending on the timing of the data read signal DR.
sec. The data is sequentially read from the diffraction efficiency correction memory 162 for each time, converted into an analog signal by the D / A converter 163b, and then input to the PGA 164b. PG here
The A 164b also has a gain register 167b and an offset register 168b for the same reason. Then, the diffraction efficiency correction data VMD amplified by the PGA 164b is output to the AOD driver 271 together with the sweep signal VT as the sweep signal VM through the low pass filter 165b.

【0114】D. 走査方法 図14は、描画システム10における走査手順を示した
フローチャートである。以下、各ステップごとに、適宜
構成図面を参照しつつその走査手順を説明する。
D. Scanning Method FIG. 14 is a flowchart showing a scanning procedure in the drawing system 10. Hereinafter, the scanning procedure for each step will be described with reference to the configuration drawings as appropriate.

【0115】(D−1) ステップS1 本ステップは、次のステップS2をも含めて、走査開始
のための準備ステップに相当する。
(D-1) Step S1 This step, including the following step S2, corresponds to the preparation step for starting scanning.

【0116】先ず、走査に必要な各種データが設定され
る。即ち、直線性補正データVTD及び回折効率補正デ
ータVMDが、それぞれ直線性補正用メモリ161及び
回折効率補正用メモリ162にCPU310より与えら
れる。又、画像信号SVが、画像入力装置400よりラ
スター変換部170に入力される。更にラスター変換さ
れた画像信号SVRa,SVRbが、それぞれFIFO
メモリ142,152に格納される。尚、これらのプロ
セス(図示しない)は、CPU310によってコントロ
ールされている。
First, various data required for scanning are set. That is, the linearity correction data VTD and the diffraction efficiency correction data VMD are given from the CPU 310 to the linearity correction memory 161 and the diffraction efficiency correction memory 162, respectively. Further, the image signal SV is input to the raster conversion unit 170 from the image input device 400. Further, the raster-converted image signals SVRa and SVRb are respectively transferred to the FIFO.
It is stored in the memories 142 and 152. Note that these processes (not shown) are controlled by the CPU 310.

【0117】(D−2) ステップS2 本ステップでは、位置ズレ補正データVPODの作成を
行う。この作成は、図15〜図18に示した手順に従い
行われる。以下、各手順の詳細を説明する。
(D-2) Step S2 In this step, the positional deviation correction data VPOD is created. This creation is performed according to the procedure shown in FIGS. The details of each procedure will be described below.

【0118】 ステップS21〜S27 i) 先ず、位置ズレ補正データメモリ1411の各ア
ドレスJ(J:1〜1400)に0値をセットする(ス
テップS21)。即ち、位置ズレ補正データVPOD
は、VPOD(J)=0(J:1〜1400)となる。
このセッティング自体は、既述した通り、CPU310
によって行われる。
Steps S21 to S27 i) First, a 0 value is set to each address J (J: 1 to 1400) of the positional deviation correction data memory 1411 (step S21). That is, the positional deviation correction data VPOD
Is VPOD (J) = 0 (J: 1 to 1400).
This setting itself is, as described above, the CPU 310.
Done by

【0119】ii) 次に、ステップS21で設定した
位置ズレ補正データVPOD(J)に基づきレーザービ
ームLB5を走査し、各描画点Piの実際の位置X
(i)を測定する。この場合、位置ズレ補正データVP
ODは全て0値であるため、データ読出クロック発生部
141においてはデータ読出クロックSDRの立上がり
タイミングの補正は行われない。従って、システムクロ
ックSCLKに同期したディジタル変調制御信号VD
a,VDbにより、それぞれディジタルAOM140,
150が駆動される。
Ii) Next, the laser beam LB5 is scanned based on the positional deviation correction data VPOD (J) set in step S21, and the actual position X of each drawing point Pi is scanned.
Measure (i). In this case, the positional deviation correction data VP
Since all the OD values are 0, the data read clock generator 141 does not correct the rising timing of the data read clock SDR. Therefore, the digital modulation control signal VD synchronized with the system clock SCLK
a, VDb, digital AOM140,
150 is driven.

【0120】ここで、描画点Piと位置ズレ補正データ
メモリ1411のアドレスJとの関係は、J=i+S−
1(i:1〜1024)の式で与えられる。又、描画点
Piの位置(ビーム位置)X(i)とは、既述した走査
開始の原点からのX方向への距離を意味している。
Here, the relationship between the drawing point Pi and the address J of the positional deviation correction data memory 1411 is J = i + S-
1 (i: 1 to 1024). Further, the position (beam position) X (i) of the drawing point Pi means the distance in the X direction from the origin of the scan start described above.

【0121】その様な測定の概念を示した図が、図21
である。同図においては、走査光学系200を固定した
上で、1024個の描画点Piの方向に対して1点ずつ
レーザービームLB5aをAOD270より出射すると
ともに、CCDカメラ50を1点毎に遂一移動すること
によって、各描画点Piにおける実際のビーム位置X
(i)を測定する方法が記載されている。
FIG. 21 is a diagram showing the concept of such measurement.
Is. In the figure, while fixing the scanning optical system 200, the laser beam LB5a is emitted from the AOD 270 one by one in the direction of the 1024 drawing points Pi, and the CCD camera 50 is moved one by one. By doing so, the actual beam position X at each drawing point Pi
A method for measuring (i) is described.

【0122】その際、ディジタルAOM240には、掃
引信号VT,VMに同期したディジタル変調制御信号V
DS(第1のディジタル変調制御信号に相当)が印加さ
れる。このディジタル変調制御信号VDSは、後述する
補正前のドット信号DOT0に相当するものである。
又、AOD270には、システムクロックSCLKに同
期した掃引信号VT,VM(偏向制御信号に相当)が印
加されている。
At this time, the digital AOM 240 has a digital modulation control signal V synchronized with the sweep signals VT and VM.
DS (corresponding to the first digital modulation control signal) is applied. The digital modulation control signal VDS corresponds to the dot signal DOT0 before correction, which will be described later.
Further, sweep signals VT and VM (corresponding to deflection control signals) synchronized with the system clock SCLK are applied to the AOD 270.

【0123】しかし、実際にはCCDカメラ50は固定
されているため、本実施例では、以下に示す通り、逆に
走査光学系200を1点毎に遂一移動することによっ
て、各ビーム位置X(i)を測定することとしている。
尚、CCDカメラ50の受光面は、感材1と等価な位置
に固定されている。
However, since the CCD camera 50 is actually fixed, in the present embodiment, as shown below, the scanning optical system 200 is moved one point at a time to reverse each beam position X. (I) is to be measured.
The light receiving surface of the CCD camera 50 is fixed at a position equivalent to that of the photosensitive material 1.

【0124】先ず、走査光学系200をCCDカメラ5
0の受光面上に移動し、最初の描画点P1の位置を測定
できる状態にセットする(ステップS22)。尚、以後
の説明を一般化するために、最初の描画点P1を描画点
Piと表すものとする(ステップS23)。
First, the scanning optical system 200 is set to the CCD camera 5
It moves to the light receiving surface of 0 and sets the position of the first drawing point P1 in a measurable state (step S22). In order to generalize the following description, the first drawing point P1 is represented as the drawing point Pi (step S23).

【0125】以上の準備ができた段階で、実際にレーザ
ービームLB5をCCDカメラ50の受光面上に照射し
(ステップS24)、描画点Piの実際の位置(ビーム
位置)X(i)をCCDカメラ50によって測定する
(ステップS25)。尚、CCDカメラ50によって測
定されたビーム位置X(i)に関する信号VPOは、入
力インタフェース330を介してCPU310に送ら
れ、メモリ320に記憶される。
When the above preparation is completed, the light receiving surface of the CCD camera 50 is actually irradiated with the laser beam LB5 (step S24), and the actual position (beam position) X (i) of the drawing point Pi is determined by the CCD. The measurement is performed by the camera 50 (step S25). The signal VPO relating to the beam position X (i) measured by the CCD camera 50 is sent to the CPU 310 via the input interface 330 and stored in the memory 320.

【0126】次に、(i+1)番目の描画点Piが描画
終了点、即ち、1024番目の描画点P1024である
か否かが判断される(ステップS26,S27)。
Next, it is judged whether or not the (i + 1) th drawing point Pi is the drawing end point, that is, the 1024th drawing point P1024 (steps S26 and S27).

【0127】ここで描画点P(i+1)が描画終了点P
1024でないと判断された場合にはステップS23へ
移り、描画点Piが描画終了点P1024になるまで一
連のステップS23〜S27が続行される。これによ
り、描画点Piごとに、実際のビーム位置X(i)の測
定が行われることとなる。
Here, the drawing point P (i + 1) is the drawing end point P.
When it is determined that it is not 1024, the process proceeds to step S23, and the series of steps S23 to S27 is continued until the drawing point Pi becomes the drawing end point P1024. As a result, the actual beam position X (i) is measured for each drawing point Pi.

【0128】 ステップS28〜S218 ステップS28からステップS218までの各ステップ
は、全てCPU310内において行われる処理である。
Steps S28 to S218 Steps S28 to S218 are all processes performed in the CPU 310.

【0129】i) 先ず、ステップS27、S28で
は、描画点Piに関する位置ズレZ(i)が算出され
る。即ち、CPI310は、メモリ320に予め記憶さ
れている描画点Piの理想的なビーム位置XO(i)と
同じくメモリ320に記憶されている描画点Piの実際
のビーム位置X(i)とに基づき、 Z(i)=XO(i)−X(i)(i:1〜1024) で与えられる位置ズレZ(i)を算出する。
I) First, in steps S27 and S28, the positional deviation Z (i) regarding the drawing point Pi is calculated. That is, the CPI 310 is based on the ideal beam position XO (i) of the drawing point Pi previously stored in the memory 320 and the actual beam position X (i) of the drawing point Pi also stored in the memory 320. , Z (i) = XO (i) −X (i) (i: 1 to 1024) The positional deviation Z (i) is calculated.

【0130】ここで図19は、各描画点Piの理想的な
ビーム位置XO(i)と実際のビーム位置X(i)との
関係を模式的に示した図である。同図は、丁度、各描画
点Piの実際のビーム位置X(i)が理想的なビーム位
置X0(i)よりも(−X)方向にずれた場合を示して
いる。但し、描画点P1については、実際のビーム位置
X(1)と理想的なビーム位置XO(1)とが等しい。
又、同図(a)に示す理想的なビーム間隔dは、一般的
には、ビーム径Rに対してd=n・R(n:自然数)の
関係を満足する様に設定される値である。
Here, FIG. 19 is a diagram schematically showing the relationship between the ideal beam position XO (i) of each drawing point Pi and the actual beam position X (i). The figure shows a case where the actual beam position X (i) of each drawing point Pi is deviated from the ideal beam position X0 (i) in the (-X) direction. However, at the drawing point P1, the actual beam position X (1) and the ideal beam position XO (1) are equal.
Further, the ideal beam spacing d shown in FIG. 4A is generally a value set to satisfy the relationship of d = n · R (n: natural number) with respect to the beam diameter R. is there.

【0131】一方、本描画システム10では、理想的な
ビーム間隔dは、図20(a)に示す様に、ビームスポ
ット径R(2μm)に等しくなる様に設定されている
(n=1)。従って、レーザービームLB5a又はLB
5bのX方向への理想的な配列は、図20(b)に示す
様になる。
On the other hand, in the present drawing system 10, the ideal beam interval d is set to be equal to the beam spot diameter R (2 μm) as shown in FIG. 20A (n = 1). .. Therefore, the laser beam LB5a or LB
The ideal arrangement of 5b in the X direction is as shown in FIG.

【0132】又、掃引信号VTの周波数は20MHz、
従って、その周期は50nsec.であるので、理想的
なビーム間隔d(2μm)は、時間単位に換算すれば、
50nsec.に相当していることになる。
The frequency of the sweep signal VT is 20 MHz,
Therefore, the cycle is 50 nsec. Therefore, the ideal beam interval d (2 μm) is converted into time units,
50 nsec. Is equivalent to.

【0133】ii) 次に、ステップS210では、描
画点Piに関する位置ズレ累積値W(i)が算出され
る。この位置ズレ累積値W(i)とは、 W(i)=W(i−1)+Z(i−1)−Z(i) で定義される値である。但し、描画点P1では、位置ズ
レZ(1)は0値であり、W(1)=0と定義される。
Ii) Next, in step S210, the positional deviation accumulated value W (i) for the drawing point Pi is calculated. The positional deviation accumulated value W (i) is a value defined by W (i) = W (i-1) + Z (i-1) -Z (i). However, at the drawing point P1, the positional shift Z (1) has a value of 0 and is defined as W (1) = 0.

【0134】例えば、描画点P2、P3、P4に関する
各位置ズレ累積値W(2)、W(3)、W(4)は、次
の通りとなる。
For example, the respective positional deviation accumulated values W (2), W (3), W (4) for the drawing points P2, P3, P4 are as follows.

【0135】 W(2)=W(1)+Z(1)−Z(2)=−Z(2) W(3)=W(2)+Z(2)−Z(3)=−Z(2)+Z(2)−Z(3 )=−Z(3) W(4)=W(3)+Z(3)−Z(4)=−Z(4) 従って、位置ズレ累積値W(i)は、W(i)=−Z
(i)と表されることになる。
W (2) = W (1) + Z (1) -Z (2) =-Z (2) W (3) = W (2) + Z (2) -Z (3) =-Z (2 ) + Z (2) -Z (3) =-Z (3) W (4) = W (3) + Z (3) -Z (4) =-Z (4) Therefore, the positional deviation accumulated value W (i) Is W (i) =-Z
It will be expressed as (i).

【0136】参考として、図22に、補正前の位置ズレ
Z(i)の測定結果より算出した各描画点Pi毎の位置
ズレ累積値W(i)の一例を示す。本図の場合は、全て
の描画点Piの実際のビーム位置X(i)が理想的なビ
ーム位置XO(i)よりも常に縮む方向にずれた場合に
相当している。尚、掃引信号VTの周波数範囲によって
は、実際のビーム位置X(i)が理想的なビーム位置X
O(i)よりも伸長する方向にずれる場合も生じる。
For reference, FIG. 22 shows an example of the positional deviation accumulated value W (i) for each drawing point Pi calculated from the measurement result of the positional deviation Z (i) before correction. This case corresponds to the case where the actual beam positions X (i) of all the drawing points Pi are always displaced from the ideal beam positions XO (i) in the shrinking direction. Depending on the frequency range of the sweep signal VT, the actual beam position X (i) may be the ideal beam position X (i).
It may occur in the direction of extension from O (i).

【0137】iii) 次に、位置ズレ累積値W(i)
に基づいて、位置ズレ補正データVPOD(i)の補正
を行う(ステップS211〜S218)。この補正は、
以下に述べる通り、位置ズレ累積値W(i)と位置ズレ
補正最小単位Mの1/2の値との比較を通じて行われ
る。尚、この時点では、各位置ズレ補正データVPOD
(i)は全て補正されていない状態、即ち、VPOD
(i)=0である。又、描画点Piに対応しないアドレ
スJ〔J:1〜(S−1)、(S+1024)〜140
0〕に記憶されている位置ズレ補正データVPOD
(J)については、補正は行われない。
Iii) Next, the positional deviation accumulated value W (i)
The position shift correction data VPOD (i) is corrected based on the above (steps S211 to S218). This correction is
As will be described below, this is performed by comparing the positional deviation accumulated value W (i) with a value of 1/2 of the minimum positional deviation correction unit M. At this point in time, each positional deviation correction data VPOD
(I) is a state where all are not corrected, that is, VPOD
(I) = 0. Further, an address J [J: 1 to (S-1), (S + 1024) to 140 that does not correspond to the drawing point Pi is used.
0] the positional deviation correction data VPOD stored in
No correction is made for (J).

【0138】ここで、位置ズレ補正最小単位Mとは、一
般的には、理想的なビーム間隔dの1/10に相当する
値である。従って、本実施例では、位置ズレ補正最小単
位Mは0.2μmである。この値は、時間に換算すれ
ば、5nsec.である。即ち、位置ズレ補正最小単位
Mは、200MHzECLクロックCLKの周期に対応
している。そして、位置ズレ補正最小単位Mの1/2、
即ち、0.1μmを、許容できる位置ズレのリミット値
であるとして取り扱う。
Here, the minimum unit of positional deviation correction M is generally a value corresponding to 1/10 of the ideal beam interval d. Therefore, in this embodiment, the minimum unit of positional deviation correction M is 0.2 μm. This value is 5 nsec. Is. That is, the minimum unit of positional deviation correction M corresponds to the cycle of the 200 MHz ECL clock CLK. Then, 1/2 of the minimum unit of positional deviation correction M,
That is, 0.1 μm is treated as the limit value of the allowable positional deviation.

【0139】先ず、ステップS211においては、位置
ズレ累積値W(i)の絶対値|W(i)|と位置ズレ補
正最小単位Mの1/2との大小を判定する。
First, in step S211, the magnitude of the absolute value | W (i) | of the positional deviation accumulated value W (i) and 1/2 of the minimum positional deviation correction unit M is determined.

【0140】そして、絶対値|W(i)|が位置ズレ補
正最小単位Mの1/2未満であると判定された場合に
は、ステップS217、S218へと移る。即ち、この
場合には、描画点Piの位置ズレは許容できる範囲内に
あるため、位置ズレ補正データVPOD(i)の補正を
行う必要がない。従って、位置ズレ補正データVPOD
(i)は、全て0値とされる。
If it is determined that the absolute value | W (i) | is less than 1/2 of the minimum unit of positional deviation correction M, the process proceeds to steps S217 and S218. That is, in this case, since the positional deviation of the drawing point Pi is within the allowable range, it is not necessary to correct the positional deviation correction data VPOD (i). Therefore, the positional deviation correction data VPOD
(I) is set to 0 value.

【0141】一方、絶対値|W(i)|が位置ズレ補正
最小単位Mの1/2以上であるときには、位置ズレが許
容範囲を越えているため、位置ズレ補正データVPOD
(i)を補正するためのステップS212へと移る。
On the other hand, when the absolute value | W (i) | is equal to or larger than 1/2 of the minimum unit M of positional deviation correction, the positional deviation exceeds the allowable range, and therefore the positional deviation correction data VPOD.
The process moves to step S212 for correcting (i).

【0142】ステップS212では、位置ズレ累積値W
(i)が位置ズレ補正最小単位Mの(−1/2)の値以
上であるか否かが判定される。ここで、「YES」と判
定された場合には、CPU320内の処理はステップS
213へと移る。
In step S212, the positional deviation accumulated value W
It is determined whether or not (i) is greater than or equal to the value (-1/2) of the minimum unit of positional deviation correction M. Here, when the determination is “YES”, the processing in the CPU 320 is step S
Move to 213.

【0143】ステップS213では、位置ズレ補正デー
タVPOD(i)に+1を加算する。この+1を加算す
るということは、描画点Piから描画点P1024まで
の実際のビーム位置X(i)〜X(1024)を全て
0.2μmだけ+X方向に移動させることに対応してい
る。この点の詳細に関しては、更に後述される。
In step S213, +1 is added to the positional deviation correction data VPOD (i). Adding +1 corresponds to moving all the actual beam positions X (i) to X (1024) from the drawing point Pi to the drawing point P1024 by 0.2 μm in the + X direction. Details of this point will be described later.

【0144】その様な加算を行う理由は次の通りであ
る。即ち、W(i)≦(−M/2)の場合には、描画点
Piの実際のビーム位置X(i)が理想的なビーム位置
XO(i)よりも縮んだ状態にあるため、描画点Piの
ビーム位置X(i)を理想的なビーム位置XO(i)の
方向へ移動させる必要があるからである。
The reason for performing such addition is as follows. That is, when W (i) ≦ (−M / 2), the actual beam position X (i) of the drawing point Pi is in a state of being contracted from the ideal beam position XO (i), This is because it is necessary to move the beam position X (i) at the point Pi toward the ideal beam position XO (i).

【0145】更に+1を加算後は、位置ズレ累積値W
(i)に位置ズレ補正最小単位M(0.2μm)を加算
する(ステップS214)。この演算は、描画点Piの
ビーム位置X(i)が0.2μmだけ+X方向に移動す
ることに伴い、位置ズレ累積値W(i)を許容範囲(−
M/2)〜(+M/2)内の値とするための処理であ
る。そして、その加算結果は、新たな位置ズレ累積値W
(i)としてメモリ320に格納される。
Further, after adding +1, the positional deviation accumulated value W
The minimum unit of positional deviation correction M (0.2 μm) is added to (i) (step S214). In this calculation, as the beam position X (i) of the drawing point Pi moves by 0.2 μm in the + X direction, the positional deviation accumulated value W (i) is set within the allowable range (−).
This is a process for setting a value within M / 2) to (+ M / 2). Then, the addition result is the new positional deviation cumulative value W.
It is stored in the memory 320 as (i).

【0146】一方、ステップS212に於いて「NO」
と判定された場合、即ち、W(i)≧(+M/2)の場
合には、CPU320内の処理はステップS215へと
移る。
On the other hand, "NO" in the step S212.
When it is determined that, that is, when W (i) ≧ (+ M / 2), the processing in the CPU 320 moves to step S215.

【0147】このステップS215においては、位置ズ
レ補正データVPOD(i)に−1を加算する処理が行
われる。即ち、W(i)≧(+M/2)の場合には、逆
に描画点Piの実際のビーム位置X(i)が理想的なビ
ーム位置XO(i)よりも+X方向に進んだ状態にある
ため、−1を加算することによって、描画点Piのビー
ム位置X(i)を理想的なビーム位置XO(i)の方向
へ近づけようとするものである。この−1の加算によ
り、描画点Piから描画点P1024までの実際のビー
ム位置X(i)〜X(1024)は、全て0.2μmだ
け−X方向に移動することになる。
In step S215, a process of adding -1 to the positional deviation correction data VPOD (i) is performed. That is, when W (i) ≧ (+ M / 2), the actual beam position X (i) of the drawing point Pi is, on the contrary, advanced to the + X direction from the ideal beam position XO (i). Therefore, the beam position X (i) of the drawing point Pi is made to approach the ideal beam position XO (i) by adding -1. By this addition of -1, the actual beam positions X (i) to X (1024) from the drawing point Pi to the drawing point P1024 all move in the -X direction by 0.2 μm.

【0148】更に−1を加算後は、位置ズレ累積値W
(i)より位置ズレ補正最小単位M(0.2μm)を減
算する(ステップS216)。この減算は、描画点Pi
のビーム位置X(i)が0.2μmだけ−X方向に移動
することに伴い、位置ズレ累積値W(i)を許容範囲
(−M/2)〜(+M/2)内の値とするための処理で
ある。そして、その加算結果は、新たな位置ズレ累積値
W(i)としてメモリ320に格納される。
After further adding -1, the positional deviation accumulated value W
The minimum unit of positional deviation correction M (0.2 μm) is subtracted from (i) (step S216). This subtraction is the drawing point Pi
As the beam position X (i) of No. moves by 0.2 μm in the −X direction, the positional deviation accumulated value W (i) is set to a value within the allowable range (−M / 2) to (+ M / 2). This is processing for. Then, the addition result is stored in the memory 320 as a new positional deviation accumulated value W (i).

【0149】その後、描画点Piに関する位置ズレ補正
データVPOD(i)の補正処理が完了した段階で、次
の描画点Pi+1に関する位置ズレ補正データVPOD
(i+1)の補正処理が行われる(ステップS217、
S218)。この一連の補正処理は、描画終了点P10
24についての補正処理が完了するまで行われる。
After that, when the correction processing of the positional deviation correction data VPOD (i) for the drawing point Pi is completed, the positional deviation correction data VPOD for the next drawing point Pi + 1 is obtained.
The correction process of (i + 1) is performed (step S217,
S218). This series of correction processing is performed at the drawing end point P10.
The correction process for 24 is performed until it is completed.

【0150】 位置ズレ補正データVPOD(i)の
作成方法については以上述べた通りであるが、その様な
作成方法の理解を一層明確化するため、以下、具体的に
説明する。
The method of creating the positional deviation correction data VPOD (i) has been described above, but in order to further clarify the understanding of such a creating method, it will be specifically described below.

【0151】i) ここで図23は、補正前後に於ける
位置ズレ累積値W(i)の一例を示した図である。同図
に於いて、折れ線(a)上の黒点は補正前の位置ズレ累
積値W(i)を、折れ線(b)上の白点は、折れ線
(a)の結果に基づき補正した後の位置ズレ累積値W
(i)を表している。そこで、これらの結果を各描画点
Pi毎に説明する。
I) Here, FIG. 23 is a diagram showing an example of the positional deviation accumulated value W (i) before and after the correction. In the figure, the black dots on the polygonal line (a) indicate the position deviation accumulated value W (i) before correction, and the white dots on the polygonal line (b) indicate the position after correction based on the result of the polygonal line (a). Deviation cumulative value W
It represents (i). Therefore, these results will be described for each drawing point Pi.

【0152】先ず、描画点P(1)、P(2)について
は、いずれも位置ズレ累積値W(1)、W(2)の絶対
値が許容範囲内(M/2未満)にあるので、補正は行わ
れない。従って、補正データVPOD(1)、VPOD
(2)には、0値がセットされる。
First, regarding the drawing points P (1) and P (2), the absolute values of the positional deviation accumulated values W (1) and W (2) are both within the allowable range (less than M / 2). , No correction is made. Therefore, the correction data VPOD (1), VPOD
A zero value is set in (2).

【0153】次の描画点P(3)では、描画点P(2)
に於いて生じた位置ズレに描画点P(3)自身の位置ズ
レがそのまま累積された形で位置ズレが生じるため、位
置ズレ累積値W(3)が許容範囲の下限値−M/2を越
えることとなる。従って、位置ズレ補正データVPOD
(3)に+1が加算されるとともに、補正前の位置ズレ
累積値W(3)に位置ズレ補正最小単位Mが加算され
る。この結果、補正後の位置ズレ累積値W(3)は、0
から+M/2までの範囲内の値となる。
At the next drawing point P (3), the drawing point P (2)
Since the position deviation of the drawing point P (3) itself is accumulated as it is in the position deviation generated in the above, the position deviation accumulated value W (3) is equal to the lower limit value -M / 2 of the allowable range. Will be exceeded. Therefore, the positional deviation correction data VPOD
+1 is added to (3), and the minimum unit of positional deviation correction M is added to the positional deviation cumulative value W (3) before correction. As a result, the corrected positional deviation accumulated value W (3) is 0.
It becomes the value within the range from to + M / 2.

【0154】一方、次の描画点P(4)では、描画点P
(3)における位置ズレ補正の際に許容された位置ズレ
に対して描画点P(4)自身の位置ズレが累積されるこ
ととなるため、位置ズレ累積値W(4)は許容範囲の下
限値−M/2を越えていない。従って、描画点P(4)
の位置ズレ補正データVPOD(4)には、0値がセッ
トされる。以下、描画点P(5)〜P(7)に関しても
同様に処理され、描画点P(5)〜P(7)の各位置ズ
レ補正データVPOD(5)〜VPOD(7)には、そ
れぞれ+1、0、0値がセットされる。
On the other hand, at the next drawing point P (4), the drawing point P
Since the position deviation of the drawing point P (4) itself is accumulated with respect to the position deviation allowed in the position deviation correction in (3), the position deviation cumulative value W (4) is the lower limit of the allowable range. It does not exceed the value -M / 2. Therefore, the drawing point P (4)
A zero value is set in the positional deviation correction data VPOD (4). Hereinafter, the drawing points P (5) to P (7) are similarly processed, and the positional deviation correction data VPOD (5) to VPOD (7) of the drawing points P (5) to P (7) are respectively set. +1, 0, 0 values are set.

【0155】ii) 次に、図23の例に基づき各位置
ズレ補正データVPOD(i)を作成した場合に於ける
各信号のタイミングチャートを、図24に示す。同図に
於いて、(a)はシステムクロックSCLKを、(b)
は補正前の位置ズレ補正データVPOD(i)(VPO
D(i)=0)に基づき作成されたドット信号DOT0
(第1のディジタル変調制御信号に相当)を(参考
用)、(c)は補正後の位置ズレ補正データVPOD
(i)に基づき作成されたドット信号DOT1(第2の
ディジタル変調制御信号に相当)を、(d)は時間軸
を、(e)は描画点をそれぞれ表している。以下、図1
1、図12を参照しつつ、描画点P(1)より順次説明
する。
Ii) Next, FIG. 24 shows a timing chart of each signal when each positional deviation correction data VPOD (i) is created based on the example of FIG. In the figure, (a) shows the system clock SCLK and (b) shows
Is the position deviation correction data before correction VPOD (i) (VPO
Dot signal DOT0 created based on D (i) = 0)
(Corresponding to the first digital modulation control signal) (for reference), (c) is the corrected positional deviation correction data VPOD
The dot signal DOT1 (corresponding to the second digital modulation control signal) created based on (i), (d) represents the time axis, and (e) represents the drawing point. Below, Figure 1
1, the drawing point P (1) will be sequentially described with reference to FIG.

【0156】先ず、時刻t1に於いて、描画点P(1)
の位置ズレ補正データVPOD(1)が位置ズレ補正デ
ータメモリ1411より読み出され、ECLカウンタ1
413にセットされる。しかし、この位置ズレ補正デー
タVPOD(1)は0値であるので、J−K−FF14
14より出力されるデータ読出クロックSDRの立ち上
がりタイミングは、システムクロックSCLKの立ち上
がりタイミングと同じとなる。即ち、描画点P(1)に
関しては、ドット信号DOT1はシステムクロックSC
LKに同期している。又、同じく描画点P(2)の位置
ズレ補正データVPOD(2)も0値であるので、描画
点P(2)に関しても、ドット信号DOT1はシステム
クロックSCLKに同期している(時刻t2)。
First, at time t1, the drawing point P (1)
Of the positional deviation correction data VPOD (1) is read from the positional deviation correction data memory 1411, and the ECL counter 1
413 is set. However, since this positional deviation correction data VPOD (1) has a 0 value, JK-FF14
The rising timing of the data read clock SDR output from 14 is the same as the rising timing of the system clock SCLK. That is, for the drawing point P (1), the dot signal DOT1 is the system clock SC.
It is synchronized with LK. Further, since the positional deviation correction data VPOD (2) of the drawing point P (2) also has a value of 0, the dot signal DOT1 is also synchronized with the system clock SCLK at the drawing point P (2) (time t2). ..

【0157】次に、描画点P(3)に関しては、位置ズ
レ補正データVPOD(3)は+1である。従って、E
CLカウンタ1413は、位置ズレ補正データVPOD
(3)をカウントすることにより、カウント数を0から
1へとカウントアップするとともに、時刻t30から時
間Δt(5nsec.)だけ遅延した時刻t3のときに
J−K−FF1414のJ端子をHレベルにする。その
結果、データ読出クロックSDR、従ってドット信号D
OT1の立ち上がりタイミングは、時刻t3となる。そ
してこの立ち上がりタイミングの遅延時間Δtは、その
ままレーザービームLB5のAOD270への入射時間
の遅延時間となり、描画点P(1)のビーム位置X
(3)の位置ズレは、許容範囲内となる。
Next, regarding the drawing point P (3), the positional deviation correction data VPOD (3) is +1. Therefore, E
The CL counter 1413 displays the positional deviation correction data VPOD.
By counting (3), the count number is incremented from 0 to 1, and the J terminal of the JK-FF 1414 is set to the H level at the time t3 delayed by the time Δt (5 nsec.) From the time t30. To As a result, the data read clock SDR and hence the dot signal D
The rising timing of OT1 is time t3. The delay time Δt of the rising timing becomes the delay time of the incident time of the laser beam LB5 on the AOD 270 as it is, and the beam position X of the drawing point P (1) is obtained.
The positional deviation of (3) is within the allowable range.

【0158】次に、描画点P(4)に関しては、位置ズ
レ補正データVPOD(4)は0値である。従って、E
CLカウンタ1413のカウント数は依然1である。そ
の結果、ドット信号DOT1の立ち上がりタイミングも
又、時刻t40から時間Δtだけ遅延した時刻t4とな
り、描画点P(4)のビーム位置X(4)の位置ズレ
も、許容範囲内となる。
Next, regarding the drawing point P (4), the positional deviation correction data VPOD (4) has a zero value. Therefore, E
The count number of the CL counter 1413 is still 1. As a result, the rising timing of the dot signal DOT1 also becomes the time t4 delayed by the time Δt from the time t40, and the positional deviation of the beam position X (4) of the drawing point P (4) is also within the allowable range.

【0159】一方、描画点P(5)に関しては、位置ズ
レ補正データVPOD(5)は+1であるため、ECL
カウンタ1413のカウント数は2となる。その結果、
ドット信号DOT1の立ち上がりタイミングは、時刻t
50から時間2Δtだけ遅延した時刻t5となる。
On the other hand, regarding the drawing point P (5), since the positional deviation correction data VPOD (5) is +1, ECL
The count number of the counter 1413 is 2. as a result,
The rising timing of the dot signal DOT1 is time t
The time t5 is delayed from 50 by a time 2Δt.

【0160】以下、描画点P(6)、P(7)について
は、位置ズレ補正データVPOD(6)、VPOD
(7)は共に0値であるので、ドット信号DOT1の立
ち上がりタイミングの遅延時間は時間2Δtである。
Hereinafter, for the drawing points P (6) and P (7), the positional deviation correction data VPOD (6) and VPOD
Since both (7) are 0 values, the delay time of the rising timing of the dot signal DOT1 is time 2Δt.

【0161】iii) 最後に、図24に示したドット
信号DOT1を用いてレーザービームLB5aを走査し
た場合のビームスポットを、ドット信号DOT0を用い
た場合と共に、図25に例示する。即ち、図25(a)
がドット信号DOT0を用いた場合(従来例に相当)の
結果である。但し、破線で記載した円は、理想的なビー
ム位置にある場合のビームスポットを示している。又、
図25(b)がドット信号DOT1を用いた場合の結果
である。尚、図25(c)は、X座標軸を意味してい
る。
Iii) Finally, FIG. 25 illustrates the beam spot when the laser beam LB5a is scanned using the dot signal DOT1 shown in FIG. 24 together with the case where the dot signal DOT0 is used. That is, FIG. 25 (a)
Is the result when the dot signal DOT0 is used (corresponding to the conventional example). However, a circle described by a broken line shows a beam spot when the beam is in an ideal beam position. or,
FIG. 25B shows the result when the dot signal DOT1 is used. 25 (c) means the X coordinate axis.

【0162】同図より明白な通り、ドット信号DOT1
を用いた場合には、各描画点P(1)〜P(5)のビー
ム位置X(1)〜X(5)は、いずれも許容範囲内に存
在する。即ち、各描画点P(1)〜P(5)の位置ズレ
は0.1μm未満である。この位置ズレは十分無視でき
る量であり、レーザービームLB5aは、走査中は常に
正確に理想的なビーム位置X0(i)上に照射されてい
ると言うことができる。
As is clear from the figure, the dot signal DOT1
When using, the beam positions X (1) to X (5) of the drawing points P (1) to P (5) are all within the allowable range. That is, the positional deviation between the drawing points P (1) to P (5) is less than 0.1 μm. This positional deviation is an amount that can be sufficiently ignored, and it can be said that the laser beam LB5a is always accurately and accurately irradiated onto the ideal beam position X0 (i) during scanning.

【0163】(D−3) ステップS3 前ステップにより最適なディジタル変調制御信号VD
a、VDb(第2のディジタル変調制御信号に相当)が
決定されたので、本ステップにおいて、走査が開始され
る。
(D-3) Step S3 The optimum digital modulation control signal VD is obtained in the previous step.
Since a and VDb (corresponding to the second digital modulation control signal) are determined, scanning is started in this step.

【0164】ここで図27は、描画システム10を用い
て感材1に描画を行う場合の感材1と描画ヘッド33の
(±X)方向の移動経路位置を示している。
FIG. 27 shows the movement path positions of the photosensitive material 1 and the drawing head 33 in the (± X) direction when drawing is performed on the photosensitive material 1 using the drawing system 10.

【0165】先ず、同図(a)に示す通り、描画ヘッド
33が感材1の左下隅付近の走査開始位置(走査原点)
に来る様に、感材1がY方向へ移動される。そして、走
査が開始される。
First, as shown in (a) of the figure, the drawing head 33 starts the scanning start position (scanning origin) near the lower left corner of the photosensitive material 1.
, The photosensitive material 1 is moved in the Y direction. Then, the scanning is started.

【0166】(D−3) ステップS4〜S5 走査は、レーザービームLB5a、LB5bをX方向へ
走査しつつ、感材1を(±Y)方向へ送ることにより実
行される。尚、感材1を+Y方向又は−Y方向へ送りな
がらX方向へ走査しても、各描画点Piは走査線L上か
ら外れることなく一列に形成される様に、本描画システ
ム10は設定されている。その様な技術は、本出願人の
出願に係る特願平1−140099の文献に開示されて
いるので、ここでは説明を省略する。
(D-3) Steps S4 to S5 The scanning is carried out by scanning the laser beams LB5a and LB5b in the X direction while sending the photosensitive material 1 in the (± Y) directions. The drawing system 10 is set so that the drawing points Pi are formed in a line without deviating from the scanning line L even when the photosensitive material 1 is scanned in the X direction while being fed in the + Y direction or the -Y direction. Has been done. Since such a technique is disclosed in the document of Japanese Patent Application No. 1-140099 filed by the present applicant, its explanation is omitted here.

【0167】先ず、感材1は、描画開始と同時に(−Y
方向)へ送られる。その様な状態を示したのが、図27
(b)である。従って、最初のストライプに関する描画
はY方向へ進行し、感材1上の−Y方向への送りが完了
した時点では、図27(c)に示した状態となってい
る。
First of all, the photosensitive material 1 (-Y
Direction). FIG. 27 shows such a state.
It is (b). Therefore, the drawing for the first stripe proceeds in the Y direction, and when the feeding in the -Y direction on the photosensitive material 1 is completed, the state shown in FIG. 27C is obtained.

【0168】次に、描画ヘッド33が、図27(d)に
示す通り、X方向に所定の距離ΔXだけ移動する。この
距離ΔXは、ストライプ間の相互配列間隔に等しい距離
に設定されている。
Next, the drawing head 33 moves in the X direction by a predetermined distance ΔX, as shown in FIG. 27 (d). This distance ΔX is set to a distance equal to the mutual arrangement interval between stripes.

【0169】その後、感材1が逆にY方向に送られ、こ
れにより第2番目のストライプについての描画が完了す
る(図27(e))。
After that, the photosensitive material 1 is sent in the Y direction in reverse, whereby the drawing of the second stripe is completed (FIG. 27 (e)).

【0170】以後、同様の往復走査が他のストライプに
ついても繰り返され(図27(f))、最終的には描画
エリア内に所望の画像が記録された状態となり、走査完
了となる(ステップS5)。
Thereafter, the same reciprocal scanning is repeated for the other stripes (FIG. 27 (f)), and finally the desired image is recorded in the drawing area, and the scanning is completed (step S5). ).

【0171】E. 変形例 (E−1) 本実施例では、レーザービームLBの光量
を感材1の感度に適した光量値に調整するため、アナロ
グAOM220を使用しているが、これに限定されるも
のではない。例えば、光減衰器や光フィルタ等を、アナ
ログAOM220の代わりに用いることも可能である。
E. Modified Example (E-1) In this embodiment, the analog AOM 220 is used to adjust the light amount of the laser beam LB to a light amount value suitable for the sensitivity of the photosensitive material 1, but the present invention is not limited to this. .. For example, an optical attenuator, an optical filter, or the like can be used instead of the analog AOM 220.

【0172】(E−2) 本実施例では、レーザービー
ムLB5を高速走査する場合(走査時間70μse
c.)に関していた。しかし、本発明は、高速走査に限
定されるものではなく、従来技術の適用範囲であった低
速走査の場合にも適用できることは明白である。この場
合にも、各描画点に於ける位置ズレ発生を防止すること
ができる。
(E-2) In this embodiment, when the laser beam LB5 is scanned at high speed (scanning time 70 μse
c. ). However, it is obvious that the present invention is not limited to the high speed scanning, and can be applied to the case of the low speed scanning which is the range of application of the prior art. Also in this case, it is possible to prevent the occurrence of positional deviation at each drawing point.

【0173】(E−3) 本実施例では、2本のレーザ
ービームLB5a、LB5bを走査する場合について関
していたが、これに限定されるものでもない。即ち、1
本のレーザービームLB5aの走査のみによって描画す
るようにしてもよい。この場合には、ビームスプリッタ
等が不要となる。又、3本以上の複数のレーザービーム
を走査する様にしてもよい。この場合には、レーザービ
ームの本数に対応した数のディジタルAOMを用意する
必要がある。
(E-3) In this embodiment, the case where two laser beams LB5a and LB5b are scanned has been described, but the present invention is not limited to this. That is, 1
Drawing may be performed only by scanning the laser beam LB5a of the book. In this case, a beam splitter or the like becomes unnecessary. Also, a plurality of laser beams of three or more may be scanned. In this case, it is necessary to prepare as many digital AOMs as the number of laser beams.

【0174】[0174]

【発明の効果】この発明によれば、各走査点ごとに測定
したビーム位置に基づいて第1のディジタル変調制御信
号の出力タイミングを補正し、その補正後の信号を第2
のディジタル変調制御信号として光変調素子に印加する
ようにしたので、光偏向素子によって感材上に走査され
る光ビームは、常に理想的な走査位置に照射されること
になる。即ち、本発明は、全ての走査点について、位置
ズレの発生を防止することができる効果を奏する。
According to the present invention, the output timing of the first digital modulation control signal is corrected based on the beam position measured for each scanning point, and the corrected signal is output as the second signal.
Since the signal is applied to the light modulation element as the digital modulation control signal, the light beam scanned on the photosensitive material by the light deflection element is always applied to the ideal scanning position. That is, the present invention has an effect that it is possible to prevent the occurrence of positional deviation at all scanning points.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】走査光学系の主要構成部分を示したブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing main components of a scanning optical system.

【図2】この発明の一実施例である描画システムの機械
的構成を示した斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a mechanical configuration of a drawing system which is an embodiment of the present invention.

【図3】描画システムの電気的構成を模式的に示した構
成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram schematically showing an electrical configuration of a drawing system.

【図4】描画システムにおける描画の基本的原理を示し
た説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the basic principle of drawing in the drawing system.

【図5】走査光学系の光学的構成を具体的に示した構成
図である。
FIG. 5 is a configuration diagram specifically showing an optical configuration of a scanning optical system.

【図6】走査光学系の光学的構成を具体的に示した構成
図である。
FIG. 6 is a configuration diagram specifically showing an optical configuration of a scanning optical system.

【図7】走査光学系の光学的構成を具体的に示した構成
図である。
FIG. 7 is a configuration diagram specifically showing an optical configuration of a scanning optical system.

【図8】描画制御装置の全体構成を示したブロック図で
ある。
FIG. 8 is a block diagram showing an overall configuration of a drawing control device.

【図9】クロックの構成図である。FIG. 9 is a configuration diagram of a clock.

【図10】走査信号発生部の電気的構成図である。FIG. 10 is an electrical configuration diagram of a scan signal generator.

【図11】ディジタルAOM制御部の電気的構成図であ
る。
FIG. 11 is an electrical configuration diagram of a digital AOM control unit.

【図12】データ読出しクロック発生部の電気的構成図
である。
FIG. 12 is an electrical configuration diagram of a data read clock generator.

【図13】掃引信号発生部の電気的構成図である。FIG. 13 is an electrical configuration diagram of a sweep signal generator.

【図14】描画システムにおける走査手順を示したフロ
ーチャートである。
FIG. 14 is a flowchart showing a scanning procedure in the drawing system.

【図15】ディジタル変調制御信号の決定方法を示した
フローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart showing a method for determining a digital modulation control signal.

【図16】ディジタル変調制御信号の決定方法を示した
フローチャートである。
FIG. 16 is a flowchart showing a method for determining a digital modulation control signal.

【図17】ディジタル変調制御信号の決定方法を示した
フローチャートである。
FIG. 17 is a flowchart showing a method for determining a digital modulation control signal.

【図18】ディジタル変調制御信号の決定方法を示した
フローチャートである。
FIG. 18 is a flowchart showing a method of determining a digital modulation control signal.

【図19】理想的なビーム位置と実際のビーム位置との
関係を示した説明図である。
FIG. 19 is an explanatory diagram showing a relationship between an ideal beam position and an actual beam position.

【図20】ビーム間隔及びビームスポット径との関係を
示した説明図である。
FIG. 20 is an explanatory diagram showing a relationship between a beam interval and a beam spot diameter.

【図21】CCDカメラによるビーム位置測定方法を示
した説明図である。
FIG. 21 is an explanatory diagram showing a beam position measuring method using a CCD camera.

【図22】位置ズレ累積値の算出結果の一例を示した説
明図である。
FIG. 22 is an explanatory diagram showing an example of the calculation result of the positional deviation accumulated value.

【図23】位置ズレ累積値の算出方法を具体的に示した
説明図である。
FIG. 23 is an explanatory diagram specifically showing a method of calculating a positional deviation accumulated value.

【図24】補正前のドット信号と補正後のドット信号と
の関係を示したタイミングチャートである。
FIG. 24 is a timing chart showing a relationship between a dot signal before correction and a dot signal after correction.

【図25】補正前のビームスポットと補正後のビームス
ポットとの関係を示した説明図である。
FIG. 25 is an explanatory diagram showing a relationship between a beam spot before correction and a beam spot after correction.

【図26】この発明の技術的着眼点を明確化するために
模式的に示した説明図である。
FIG. 26 is an explanatory view schematically showing in order to clarify the technical point of view of the present invention.

【図27】感材と描画ヘッドとの相対的動きを示した説
明図である。
FIG. 27 is an explanatory diagram showing the relative movement of the photosensitive material and the drawing head.

【図28】AODにおける超音波と入射レーザービーム
との関係を示した説明図である。
FIG. 28 is an explanatory diagram showing a relationship between ultrasonic waves and an incident laser beam in AOD.

【図29】従来の走査光学系の構成を示したブロック図
である。
FIG. 29 is a block diagram showing a configuration of a conventional scanning optical system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 感材 100 描画制御装置 200 走査光学系 210 レーザー発振器 220 アナログAOM 270 AOD LB5 レーザービーム VD ディジタル変調制御信号 VDa ディジタル変調制御信号 VDb ディジタル変調制御信号 VT 掃引信号 VM 掃引信号 CLK ECLクロック SCLK システムクロック 1411 位置ズレ補正データメモリ 50 CCDカメラ 161 直線性補正用メモリ 162 直線性補正用メモリ VPOD 位置ズレ補正データ 1 Sensitive Material 100 Drawing Control Device 200 Scanning Optical System 210 Laser Oscillator 220 Analog AOM 270 AOD LB5 Laser Beam VD Digital Modulation Control Signal VDa Digital Modulation Control Signal VDb Digital Modulation Control Signal VT Sweep Signal VM Sweep Signal CLK ECL Clock SCLK System Clock 1411 Position shift correction data memory 50 CCD camera 161 Linearity correction memory 162 Linearity correction memory VPOD Position shift correction data

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森田 典雄 京都市南区久世築山町465番地の1 大日 本スクリーン製造株式会社久世工場内 (72)発明者 足立 禎秀 京都市南区久世築山町465番地の1 大日 本スクリーン製造株式会社久世工場内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Norio Morita, No. 465, Kuze Tsukiyama-cho, Minami-ku, Kyoto 1 Dainichi Moto Screen Manufacturing Co., Ltd., Kuze Plant (72) Inventor Sadahide Adachi, Kuze Tsukiyama-cho, Minami-ku, Kyoto No. 465, 1 Dainichi Honshu Manufacturing Co., Ltd., Kuze Factory

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光変調素子を介して光偏向素子に光ビー
ムを入射することにより光ビームを感材上に走査する光
ビーム走査方法であって、 (a) 前記光偏向素子及び前記光変調素子にそれぞれ
所定の偏向制御信号及び前記所定の偏向制御信号に同期
した第1のディジタル変調制御信号を印加し、前記光偏
向素子より出射される光ビームの前記感材上に於けるビ
ーム位置を走査範囲内の各走査点について測定するステ
ップと、 (b) 前記ステップ(a)により測定されたビーム位
置と当該ビーム位置に対応する理想位置との差より定ま
る位置ズレを、前記走査点の全てについて算出するステ
ップと、 (c) 前記算出結果に基づき前記第1のディジタル変
調制御信号の出力タイミングを補正し、補正後の第1の
ディジタル変調制御信号を第2のディジタル変調制御信
号に決定するステップと、 (d) 前記光変調素子及び前記光偏向素子にそれぞれ
前記第2のディジタル変調制御信号及び前記所定の偏向
制御信号を印加することにより、光ビームを前記感材上
に走査するステップとを、 備えたことを特徴とする光ビーム走査方法。
1. A light beam scanning method for scanning a light beam onto a light-sensitive material by injecting the light beam into a light deflecting element via a light modulating element, comprising: (a) the light deflecting element and the light modulating element. A predetermined deflection control signal and a first digital modulation control signal synchronized with the predetermined deflection control signal are applied to the respective elements, and the beam position of the light beam emitted from the light deflection element on the photosensitive material is adjusted. A step of measuring each scanning point within the scanning range; and (b) a positional deviation determined by a difference between the beam position measured in the step (a) and an ideal position corresponding to the beam position. And (c) correcting the output timing of the first digital modulation control signal based on the calculation result, and correcting the corrected first digital modulation control signal to the second value. Determining a digital modulation control signal, and (d) applying the second digital modulation control signal and the predetermined deflection control signal to the light modulation element and the light deflection element, respectively, to sense the light beam. And a step of scanning on the material.
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