JPH0518923A - Apparatus for diagnosing deterioration of coating film - Google Patents
Apparatus for diagnosing deterioration of coating filmInfo
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- JPH0518923A JPH0518923A JP3172972A JP17297291A JPH0518923A JP H0518923 A JPH0518923 A JP H0518923A JP 3172972 A JP3172972 A JP 3172972A JP 17297291 A JP17297291 A JP 17297291A JP H0518923 A JPH0518923 A JP H0518923A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は塗膜の劣化度合を客観的
に判断できるようにした塗膜劣化診断装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a coating film deterioration diagnosing device capable of objectively judging the degree of deterioration of a coating film.
【０００２】[0002]
【従来の技術】例えば、変圧器や配電盤など屋外に設置
される機器は、防食および美観のために塗装が施される
が、この塗膜は紫外線や水分などの影響を受けて経時的
に劣化する。このような塗膜の劣化を放置すれば、やが
て塗膜の剥離や下地金属が腐食し、機器の機能障害に至
る場合もある。このため、塗膜の劣化度を定量的に評価
し、適切な塗装の塗り替え時期やメンテナンス方法を検
討するために、塗膜の電気的インピーダンスを測定し、
その測定結果から劣化度を判断することが行われてい
る。2. Description of the Related Art For example, equipment installed outdoors such as transformers and switchboards is painted for corrosion protection and appearance, but this coating film deteriorates over time due to the influence of ultraviolet rays and moisture. To do. If such deterioration of the coating film is left as it is, the coating film may be peeled off or the underlying metal may be corroded, resulting in a malfunction of the device. Therefore, the degree of deterioration of the coating film is quantitatively evaluated, and in order to examine the appropriate coating repainting timing and maintenance method, the electrical impedance of the coating film is measured,
The degree of deterioration is determined from the measurement result.
【０００３】すなわち、塗膜の表面にプローブを宛が
い、塗膜の下地金属とプローブとの間に電圧ｅを印加す
ると、塗膜にはプローブを通して電流ｉが流れる。そこ
で印加電圧ｅと電流ｉから次式によりインピーダンスＺ
が求められる。 Ｚ＝ｅ／ｉ ………（１）That is, when a probe is applied to the surface of a coating film and a voltage e is applied between the base metal of the coating film and the probe, a current i flows through the probe through the coating film. Therefore, the impedance Z is calculated from the applied voltage e and the current i by the following equation.
Is required. Z = e / i ... (1)
【０００４】このようにして測定された塗膜インピーダ
ンスＺは、塗膜の劣化度合と相関関係があることから、
インピーダンスの測定周波数等と上記相関関係とを考慮
した所定の解析手順により、塗膜の劣化度を客観的に判
断することができる。The coating impedance Z thus measured has a correlation with the degree of deterioration of the coating.
The degree of deterioration of the coating film can be objectively determined by a predetermined analysis procedure that considers the impedance measurement frequency and the above correlation.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、この塗膜イ
ンピーダンス測定に使用する合成電圧波形は、予め記憶
しておいたデジタル情報に基づき、Ｄ／Ａ変換器によっ
て生成・合成されるものであるが、Ｄ／Ａ変換器の出力
波形は各周波数成分の変化点、言い換えれば波形データ
の変化点では電位変化率が極端に大きく、波形データの
変化点間では電位変化がほとんどないという状態にあ
る。塗膜は一般に容量性であり、特に正常な塗膜のイン
ピーダンスは容量成分が支配的である。容量成分に流れ
る電流は であるため、電位変化率（ｄｖ／ｄｔ）が大きい波形デ
ータの変化点では塗膜に非常に大きな電流が流れて電流
の大きなピークが現れ、これに対し、電位変化がほとん
どない波形データの変化点間では塗膜に流れる電流は０
となり、容量成分の測定ができなくなってしまう。この
ためサンプリングポイントによっては塗膜インピーダン
スの正確な測定ができないという問題があった。By the way, the composite voltage waveform used for measuring the coating film impedance is generated and composited by the D / A converter based on the digital information stored in advance. The output waveform of the D / A converter is in a state in which the potential change rate is extremely large at the changing points of the respective frequency components, in other words, the changing points of the waveform data, and there is almost no potential change between the changing points of the waveform data. The coating film is generally capacitive, and the impedance of a normal coating film is dominated by the capacitive component. The current flowing in the capacitive component is Therefore, at the change point of the waveform data with a large potential change rate (dv / dt), a very large current flows in the coating film and a large peak of the current appears, whereas the change in the waveform data with almost no potential change occurs. Between points, the current flowing in the coating film is 0
Therefore, the capacitance component cannot be measured. Therefore, there is a problem that the coating film impedance cannot be accurately measured depending on the sampling points.
【０００６】本発明は上述の点を考慮してなされたもの
で、印加電圧波形の発生方法を工夫して塗膜インピーダ
ンスの測定の不具合をなくした塗膜劣化診断装置を得る
ことを目的とする。The present invention has been made in consideration of the above points, and an object thereof is to obtain a coating film deterioration diagnosing device which eliminates the trouble of measuring the coating film impedance by devising a method of generating an applied voltage waveform. .
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明の塗膜劣化診断装
置は、塗膜の表面に宛われるプローブと、このプローブ
と塗膜の下地金属との間に異なる周波数を合成した電圧
を印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を測
定する電流測定手段と、少なくともこの電流測定手段の
測定結果から算出される塗膜インピーダンスに基づいて
前記塗膜の劣化度を判断する判断手段とを備えた装置に
おいて、前記電圧印加手段にＤ／Ａ変換器を使用し、そ
の出力側にローパスフィルターを設けて、その出力波形
データの変化点間の傾きが波形データの変化点間を直線
で結んだときの傾きと一致する時点で前記塗膜に流れる
電流を測定することを特徴とする。The coating film deterioration diagnosing device of the present invention applies a voltage composed of different frequencies between the probe directed to the surface of the coating film and the base metal of the coating film. A voltage applying means, a current measuring means for measuring a current flowing through the coating film, and a determining means for determining the degree of deterioration of the coating film based on the coating film impedance calculated from at least the measurement result of the current measuring means. In the provided apparatus, a D / A converter is used as the voltage applying means, a low-pass filter is provided on the output side, and the slope between the change points of the output waveform data connects the change points of the waveform data with a straight line. It is characterized in that the current flowing through the coating film is measured at the time when the inclination coincides with the above.
【０００８】[0008]
【作用】下地金属とプローブとの間に電圧印加手段によ
り合成電圧を印加すると、塗膜にはプローブを通して各
周波数成分に応じた電流が流れ、それが電流測定手段に
よって測定される。この場合、印加する合成電圧波形デ
ータの変化点間の傾きが波形データの変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するので、正確な電流測定が可能となる。When a composite voltage is applied between the base metal and the probe by the voltage applying means, a current corresponding to each frequency component flows through the probe through the probe, and the current is measured by the current measuring means. In this case, the current flowing through the coating film is measured at the time when the slope between the change points of the applied composite voltage waveform data matches the slope when the change points of the waveform data are connected by a straight line. It will be possible.
【０００９】[0009]
【実施例】以下、本発明の一実施例について図１を参照
して説明する。１はいわゆるラップトップ型あるいはブ
ック型と言われるパーソナルコンピュータで、本体ケー
ス（図示せず）内にＣＰＵ２，メモリ３，ＦＤＤ（フロ
ッピーディスクドライブ）４／ＨＤＤ（ハードディスク
ドライブ）５等を内蔵すると共に、液晶型のディスプレ
イ６及びキーボード７を備える一般的な構成である。こ
のパーソナルコンピュータ１の拡張スロット内には、Ｄ
／Ａ変換器（Ｄ／Ａ）、ローパスフィルター（ＬＰＦ）
及びＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ １，２）を備えるＩ／Ｆボ
ード８が挿入されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. Reference numeral 1 is a so-called laptop type or book type personal computer, in which a CPU 2, memory 3, FDD (floppy disk drive) 4, HDD (hard disk drive) 5, etc. are built in a main body case (not shown), This is a general configuration including a liquid crystal display 6 and a keyboard 7. In the expansion slot of this personal computer 1, D
/ A converter (D / A), low-pass filter (LPF)
And the I / F board 8 provided with the A / D converters (A / D 1, 2) is inserted.
【００１０】一方、劣化診断を行おうとする塗膜９の表
面にはプローブ１０が宛がわれる。このプローブ１０
は、各種の構造のものが知られているので（例えば特開
昭６１−１０８９５４号公報参照）詳しくは図示しない
が、基本的には本体容器内に導電性ゲルをしみこませた
スポンジ状電極を収納すると共に、その本体容器の開口
部周辺に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属
１１との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を
塗膜９の表面に密着させるようになっている。プローブ
１０から導出されたリード線と、下地金属１１に接続し
たリード線とはプリアンプ１２に接続されており、プロ
ーブ１０と下地金属１１との間に印加された合成電圧及
び塗膜９を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記パ
ーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード８に与えるよう
になっている。即ち、プリアンプ１２は下地金属１１と
プローブ１０間に印加した合成電圧を測定する電圧測定
手段および塗膜９を通じてプローブ１０に流れる電流を
測定するための電流測定手段として機能する。これらの
電圧値ｅおよび電流値ｉは塗膜９のインピーダンスＺを
計算するために必要な値であり、電圧測定用のアンプ１
４は高入力インピーダンス（10〜15Ω以上）アンプを使
用している。電流を測定するための電流−電圧抵抗Ｒお
よびその抵抗Ｒの両端に発生した電圧を増幅するプロク
ラマブルゲインアンプ１３は塗膜９の劣化度合に応じて
測定レンジが切り替え得るようになっている。本実施例
では、電流−電圧変換抵抗Ｒが１００Ω〜１ＭΩ、アン
プの増幅度が×１０〜×１０００倍で測定電流が１ｐＡ
〜１ｍＡの範囲（塗膜抵抗として１０ｋΩ〜１０ＧΩ以
上）で測定可能である。On the other hand, the probe 10 is applied to the surface of the coating film 9 to be subjected to the deterioration diagnosis. This probe 10
Since various types of structures are known (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 61-108954), although not shown in detail, basically, a sponge-like electrode in which a conductive gel is impregnated in a main body container is used. The permanent magnet is housed and provided with a permanent magnet around the opening of the main body container, and the sponge-like electrode is brought into close contact with the surface of the coating film 9 by the attractive force acting between the permanent magnet and the base metal 11. ing. The lead wire derived from the probe 10 and the lead wire connected to the base metal 11 are connected to the preamplifier 12, and the combined voltage applied between the probe 10 and the base metal 11 and the current flowing through the coating film 9 are applied. Is supplied to the I / F board 8 of the personal computer 1. That is, the preamplifier 12 functions as a voltage measuring means for measuring the combined voltage applied between the base metal 11 and the probe 10 and a current measuring means for measuring the current flowing through the coating film 9 to the probe 10. These voltage value e and current value i are values necessary for calculating the impedance Z of the coating film 9, and the amplifier 1 for voltage measurement is used.
4 uses a high input impedance (10-15 Ω or more) amplifier. The current-voltage resistor R for measuring the current and the programmable gain amplifier 13 for amplifying the voltage generated across the resistor R can switch the measuring range according to the degree of deterioration of the coating film 9. . In this embodiment, the current-voltage conversion resistance R is 100Ω to 1MΩ, the amplification degree of the amplifier is × 10 to × 1000 times, and the measured current is 1 pA.
It can be measured in the range of ˜1 mA (coating resistance of 10 kΩ to 10 GΩ or more).
【００１１】次に上記構成の塗膜劣化診断装置にて塗膜
９の診断を行う手順について説明する。まず劣化診断を
行なう現場にマイクロコンピュータ１、プリアンプ１２
およびプローブ１０を持込み、プローブ１０を塗膜９の
表面に宛ててプリアンプ１２を図１に示すように接続す
る。そして、ＦＤＤ４ないしはＨＤＤ５内にある測定プ
ログラムを実行させる。この測定プログラムの実行の結
果プローブ１０と下地金属１１との間に異なる周波数を
合成した電圧が印加され、その時の印加電圧値および塗
膜９に流れる各周波数に対応した電流を電圧値に変換し
た電圧信号がパーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード
８に与えられる。これらの電圧信号がＩ／Ｆボード８の
Ａ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換され、ＣＰＵ
２に伝送される。ＣＰＵ２はプリアンプ１２で測定され
た電圧値ｅと電流値ｉとから（１）式により各周波数に
対応した塗膜のインピーダンスＺを計算する。そして計
算結果はＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記憶装置に書き込
まれる。Next, a procedure for diagnosing the coating film 9 by the coating film deterioration diagnosing device having the above-mentioned configuration will be described. First, the microcomputer 1 and the preamplifier 12 are installed at the site where the deterioration diagnosis is performed.
Then, the probe 10 is brought in, the probe 10 is directed to the surface of the coating film 9, and the preamplifier 12 is connected as shown in FIG. Then, the measurement program stored in the FDD 4 or the HDD 5 is executed. As a result of the execution of this measurement program, a voltage having different frequencies combined is applied between the probe 10 and the base metal 11, and the current corresponding to the applied voltage value and each frequency flowing through the coating film 9 at that time is converted into a voltage value. The voltage signal is given to the I / F board 8 of the personal computer 1. These voltage signals are converted into digital signals by the A / D converter of the I / F board 8 and the CPU
2 is transmitted. The CPU 2 calculates the impedance Z of the coating film corresponding to each frequency from the voltage value e and the current value i measured by the preamplifier 12 according to the equation (1). Then, the calculation result is written in the external storage device such as the FDD 4 or the HDD 5.
【００１２】この様な塗膜インピーダンスの測定は塗膜
９の複数の箇所について行われ、また、この測定に合わ
せてマイクロコンピュータ１のキーボード７から塗膜の
種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等のデータを入力
しておき、これも同時にＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記
憶装置に書き込んでおく。Such a coating impedance is measured at a plurality of points on the coating 9, and the type of the coating, the film thickness, the probe area, and the measurement temperature are measured from the keyboard 7 of the microcomputer 1 in accordance with the measurement. And the like are input, and are also written in the external storage device such as the FDD 4 and the HDD 5 at the same time.
【００１３】上述したような塗膜インピーダンスの測定
が終了したらＣＰＵ２によりＨＤＤ４またはＦＤＤ５か
ら診断プログラムを読み出してこれを実行させる。この
診断プロクラムは、塗膜インピーダンスが抵抗と容量と
の並列回路からなる等価回路で表すことができることか
ら、塗膜が劣化することに伴い、その抵抗値が小さくな
ることによりインピーダンスが変化することを利用して
塗膜の種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等を加味し
て塗膜の劣化度合を診断するのである。そして最終的に
は塗膜の劣化度と塗替え時期および劣化要因が結果とし
てＬＣＤ表示器６に出力される。また、その結果や解析
途中のグラフはプリンターにも出力することができる構
成になっている。When the measurement of the coating film impedance as described above is completed, the CPU 2 reads the diagnostic program from the HDD 4 or FDD 5 and executes it. In this diagnostic program, since the coating impedance can be represented by an equivalent circuit consisting of a parallel circuit of resistance and capacitance, it is possible to detect that the impedance changes as the resistance of the coating deteriorates. The degree of deterioration of the coating film is diagnosed by taking the type of coating film, the film thickness, the probe area, the measured temperature, etc. into consideration. Finally, the degree of deterioration of the coating film, the timing of repainting, and the cause of deterioration are output to the LCD display 6 as a result. In addition, the result and the graph in the middle of analysis can be output to a printer.
【００１４】ところで、この塗膜インピーダンス測定に
使用する印加電圧波形は、予めＦＤＤ４やメモリー３等
に記憶されていたデジタル情報に基づき、Ｉ／Ｆボード
８のＤ／Ａ変換器からローパスフィルターを介して生成
・合成されており、高周波成分を除去し、波形をなだら
かにしたものである。そしてその出力波形データの変化
点間の傾き（出力電圧の時間変化）が変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するものである。この点について更に詳細に説明す
る。本実施例で印加される電圧波形は、周波数が０．１
Ｈｚ〜５０Ｈｚの範囲であって、パワースペクトルＰが Ｐ＝１／ｆ1/2 から Ｐ＝１／ｆ2 の間に存在するようにしている。By the way, in measuring the impedance of the coating film
The applied voltage waveform used is FDD4, memory 3, etc. in advance.
I / F board based on the digital information stored in
Generated from 8 D / A converters through a low-pass filter
・ Synthesized to remove high frequency components and smooth the waveform
It is a crab. And the change of the output waveform data
The slope between points (change in output voltage over time) is a straight line between points
The current flowing through the coating film at the time when it matches the inclination when tied
It is something to measure. This point will be explained in more detail.
It The voltage waveform applied in this embodiment has a frequency of 0.1.
In the range of Hz to 50 Hz, the power spectrum P is P = 1 / f1/2 To P = 1 / f2 Trying to exist between.
【００１５】図３にＤ／Ａ変換器によりパワースペクト
ルＰがＰ＝１／ｆとなるように合成した電圧波形を示
す。本実施例で使用している波形は１２ビットで４０９
６点のデジタルデータである。したがって、最高周波数
の５０Ｈｚは平均して約８点のデジタルデータで構成さ
れていることになる。FIG. 3 shows a voltage waveform synthesized by the D / A converter so that the power spectrum P becomes P = 1 / f. The waveform used in this embodiment is 409 with 12 bits.
It is digital data of 6 points. Therefore, the maximum frequency of 50 Hz is composed of about 8 points of digital data on average.
【００１６】今、図３の波形の一部を拡大してみると、
図４（ａ）に示すようにＤ／Ａ変換器の出力波形は波形
データの変化点（例えばＡ→ＢあるいはＣ→ＤやＥ→Ｆ
点）では電位変化率が極端に大きくなっており、また波
形データの変化点間（例えばＢ→ＣあるいはＤ→Ｅ点）
では電位変化がほとんどない。このため、波形データの
変化点では塗膜に流れる電流に大きなピークが現れ、ま
た波形データの変化点間では塗膜に流れる電流が０とな
っており、安定した電流測定を行なうことができない。
安定した電流測定を行なうには印加電圧波形データが図
４（ｃ）の破線（Ａ→Ｃ→Ｅ）のように波形データ間の
変化点間で一定の傾きをもっていることが望ましい。Now, enlarging a part of the waveform of FIG. 3,
As shown in FIG. 4A, the output waveform of the D / A converter is a change point of the waveform data (for example, A → B or C → D or E → F).
Point), the potential change rate is extremely large, and between the change points of the waveform data (for example, B → C or D → E points).
There is almost no change in potential. Therefore, a large peak appears in the current flowing through the coating film at the changing points of the waveform data, and the current flowing through the coating film becomes 0 between the changing points of the waveform data, so that stable current measurement cannot be performed.
In order to perform stable current measurement, it is desirable that the applied voltage waveform data have a constant slope between the change points between the waveform data as shown by the broken line (A → C → E) in FIG.
【００１７】そこで本実施例では、Ｄ／Ａ変換器からロ
ーパスフィルターを介して生成・合成して印加電圧波形
データをなだらかにし、その出力波形データの変化点間
の傾きが変化点間を直線で結んだときの傾きと一致する
タイミングでデータをサンプリングするようにしたもの
である。Therefore, in the present embodiment, the D / A converter is generated and synthesized through a low-pass filter to smooth the applied voltage waveform data, and the slope between the change points of the output waveform data is a straight line between the change points. The data is sampled at a timing that matches the inclination when tied.
【００１８】即ち図４に示すようにローパスフィルター
が無い場合のＤ／Ａ変換器の出力波形は同図（ａ）実線
で示す通りであり、この波形をローパスフィルターに入
力して得られる出力波形は同図（ｂ）のようになる。こ
のローパスフィルターの出力波形は波形データの変化点
（Ａ´，Ｃ´，Ｅ´）で傾きの絶対値がもっとも大きく
次第に減少していく。ローパスフィルターの時定数を適
切に選定することで、この傾きを図４（ａ）の点線の傾
き（変化点間を直線で結んだ一定の傾き）とほぼ同じよ
うにすることができる。この図４（ｂ）に示すローパス
フィルターの出力波形を塗膜に印加したときに流れる電
流ｉは同図（ｃ）の実線で示すようになる。図４（ｃ）
の点線は同図（ａ）の点線で示す電圧波形を塗膜に印加
したときに塗膜に流れる電流である。これらの図からわ
かるようにローパスフィルターの出力波形データの変化
点間の傾きが波形データの変化点を直線で結んだときの
傾きと一致する時点（波形データの変化点からｔ秒後）
で電流を測定することにより、点線で示す一定の傾きを
もつ波形を印加した場合と同じ電流値が測定できるので
ある。これにより正確な電流測定ひいてはインピーダン
ス測定が可能となる。この遅延時間ｔは実際にはデータ
を書き換える時間間隔（例えばＢ→Ｃ，Ｄ→Ｅ間の時
間）とローパスフィルターの時定数から一義的に決定さ
れるため、一度遅延時間ｔを設定すると、以後は変更す
る必要はない。具体的には、Ｄ／Ａ変換器の変換開始信
号でＣＲの時定数をｔ秒後に合わせたワンショットマル
チ回路をリセットし、その出力でＡ／Ｄ変換用ラッチ回
路でデータをラッチしＡ／Ｄ変換する。遅延時間ｔはワ
ンショットマルチ回路の抵抗Ｒを調整してローパスフィ
ルターの時定数に合わせている。その後、このサンプリ
ングポイントで測定した電流値ｉと同じタイミングで測
定した印加電圧値ｅとから塗膜インピーダンスＺがＣＰ
Ｕ２により（１）式に基づき計算される。That is, the output waveform of the D / A converter when there is no low-pass filter as shown in FIG. 4 is as shown by the solid line in FIG. 4A, and the output waveform obtained by inputting this waveform to the low-pass filter. Is as shown in FIG. The output waveform of the low-pass filter has the largest absolute value of the slope at the change points (A ′, C ′, E ′) of the waveform data and gradually decreases. By properly selecting the time constant of the low-pass filter, this slope can be made substantially the same as the slope of the dotted line in FIG. 4A (a constant slope in which the change points are connected by a straight line). The current i flowing when the output waveform of the low-pass filter shown in FIG. 4 (b) is applied to the coating film is as shown by the solid line in FIG. 4 (c). Figure 4 (c)
The dotted line indicates the current flowing through the coating film when the voltage waveform shown by the dotted line in FIG. As can be seen from these figures, when the slope between the change points of the output waveform data of the low-pass filter matches the slope when the change points of the waveform data are connected by a straight line (t seconds after the change point of the waveform data).
By measuring the current with, it is possible to measure the same current value as when a waveform having a constant slope shown by the dotted line is applied. This enables accurate current measurement and thus impedance measurement. This delay time t is actually uniquely determined from the time interval for rewriting data (for example, the time between B → C and D → E) and the time constant of the low-pass filter. Therefore, once the delay time t is set, Does not need to be changed. Specifically, the one-shot multi-circuit in which the time constant of CR is adjusted after t seconds is reset by the conversion start signal of the D / A converter, and the output is latched by the latch circuit for A / D conversion to D-convert. The delay time t is adjusted to the time constant of the low pass filter by adjusting the resistance R of the one-shot multi circuit. Then, the coating film impedance Z is CP from the current value i measured at this sampling point and the applied voltage value e measured at the same timing.
It is calculated by U2 based on the equation (1).
【００１９】尚、インピーダンスＺは測定する各周波数
について（１）式で計算するが、この計算に先だって測
定した電流および電圧波形はＦＦＴ（高速フーリエ変
換）で周波数スペクトルに変換をしている。本装置の場
合は、このＦＦＴは機械語プログラムにより計算を行っ
ている。本装置（ＣＰＵはインテル社製８０Ｃ８６）の
機械語プログラムによるＦＦＴの計算時間はデータ点数
１０２４点で約１秒である。The impedance Z is calculated by the equation (1) for each frequency to be measured, but the current and voltage waveforms measured prior to this calculation are converted into a frequency spectrum by FFT (Fast Fourier Transform). In the case of this device, this FFT is calculated by a machine language program. The FFT calculation time by the machine language program of this device (CPU is 80C86 manufactured by Intel) is about 1 second at 1024 data points.
【００２０】尚、上記実施例では、下地金属とプローブ
間に印加された電圧および塗膜に流れた電流の両方を測
定していたが、印加電圧は毎回測定する必要はなく、塗
膜の代わりに校正抵抗を接続して、その時に流れた電流
から印加電圧を計算することで、図２のように印加電圧
測定部分（Ａ／Ｄ ２）を不要とすることができる。In the above embodiment, both the voltage applied between the base metal and the probe and the current flowing in the coating film were measured, but the applied voltage does not have to be measured every time, and instead of the coating film, By connecting a calibration resistor to and calculating the applied voltage from the current flowing at that time, the applied voltage measuring portion (A / D 2) can be eliminated as shown in FIG.
【００２１】[0021]
【発明の効果】本発明の塗膜劣化診断装置によれば、下
地金属とプローブ間に印加する合成電圧をＤ／Ａ変換器
からローパスフィルターを介して生成・合成して、その
出力波形データの変化点間の傾きが波形データの変化点
間を直線で結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流
れる電流を測定することにより、正確な塗膜インピーダ
ンスの測定が可能となる。According to the coating film deterioration diagnosing device of the present invention, the combined voltage applied between the base metal and the probe is generated and combined from the D / A converter through the low-pass filter, and the output waveform data is output. By measuring the current flowing through the coating film at the time when the slope between the change points coincides with the slope when the change points of the waveform data are connected by a straight line, it is possible to accurately measure the coating film impedance.
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の他の実施例を示すブロック図FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
【図３】塗膜に印加される合成電圧波形の一例を示す図FIG. 3 is a diagram showing an example of a composite voltage waveform applied to a coating film.
【図４】（ａ）はＤ／Ａ変換器から出力された電圧波形
を示す図、（ｂ）はローパスフィルターから出力された
電圧波形を示す図、（ｃ）は（ａ）及び（ｂ）に示す電
圧を印加したときに塗膜に流れる電流を示す図4A is a diagram showing a voltage waveform output from a D / A converter, FIG. 4B is a diagram showing a voltage waveform output from a low-pass filter, and FIG. 4C is a diagram showing FIGS. The figure which shows the electric current which flows into the coating film when the voltage shown in is applied.
１はパーソナルコンピュータ、２はＣＰＵ（判断手
段）、３はメモリ、４は外部記憶装置（ＦＤＤ：フロッ
ピーディスクドライブ）、５は外部記憶装置（ＨＤＤ：
ハードディスクドライブ）、６は表示器、７はキーボー
ド、８はインターフェースボード、９は塗膜、１０はプ
ローブ、１１は下地金属、１２はプリアンプ、１３はプ
ログラマブルゲインアンプ、１４は高入力インピーダン
スアンプを示す。1 is a personal computer, 2 is a CPU (determination means), 3 is a memory, 4 is an external storage device (FDD: floppy disk drive), 5 is an external storage device (HDD:
Hard disk drive), 6 is a display, 7 is a keyboard, 8 is an interface board, 9 is a coating film, 10 is a probe, 11 is a base metal, 12 is a preamplifier, 13 is a programmable gain amplifier, and 14 is a high input impedance amplifier. ..
Claims (1)
プローブと塗膜の下地金属との間に異なる周波数を合成
した電圧を印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、少なくとも前記電流測
定手段の測定結果から算出される塗膜インピーダンスに
基づいて前記塗膜の劣化度を判断する判断手段とを備え
た装置において、前記電圧印加手段にＤ／Ａ変換器を使
用し、その出力側にローパスフィルターを設けて、その
出力波形データの変化点間の傾きが波形データの変化点
間を直線で結んだときの傾きと一致する時点で前記塗膜
に流れる電流を測定することを特徴とする塗膜劣化診断
装置。Claim: What is claimed is: 1. A probe directed to the surface of a coating film, a voltage applying means for applying a voltage having a different frequency synthesized between the probe and a base metal of the coating film, and the coating film. A voltage measuring means for measuring a current flowing through the device, and a judging means for judging the degree of deterioration of the coating film based on at least the coating film impedance calculated from the measurement result of the current measuring means, A D / A converter is used as the means, a low-pass filter is provided on the output side, and the slope between the change points of the output waveform data matches the slope when the change points of the waveform data are connected by a straight line. An apparatus for diagnosing deterioration of a coating film, characterized in that the current flowing through the coating film is measured.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297291A JP2911070B2 (en) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | Film deterioration diagnosis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297291A JP2911070B2 (en) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | Film deterioration diagnosis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0518923A true JPH0518923A (en) | 1993-01-26 |
| JP2911070B2 JP2911070B2 (en) | 1999-06-23 |
Family
ID=15951777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17297291A Expired - Fee Related JP2911070B2 (en) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | Film deterioration diagnosis |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2911070B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220083388A (en) * | 2020-12-11 | 2022-06-20 | 차강윤 | Apparatus and method of dectecting damages for underground pipeline using neo robust automation wireless pipeline current mapper |
-
1991
- 1991-07-15 JP JP17297291A patent/JP2911070B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220083388A (en) * | 2020-12-11 | 2022-06-20 | 차강윤 | Apparatus and method of dectecting damages for underground pipeline using neo robust automation wireless pipeline current mapper |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2911070B2 (en) | 1999-06-23 |
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