JPH05182192A - Thin film forming method and device therefor - Google Patents
Thin film forming method and device thereforInfo
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- JPH05182192A JPH05182192A JP35987291A JP35987291A JPH05182192A JP H05182192 A JPH05182192 A JP H05182192A JP 35987291 A JP35987291 A JP 35987291A JP 35987291 A JP35987291 A JP 35987291A JP H05182192 A JPH05182192 A JP H05182192A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は薄膜形成方法及びその装
置に関し、例えば蒸着テープ等の金属磁性薄膜上に保護
膜を形成する際に好適な方法及びその装置に関するもの
である。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film forming method and an apparatus thereof, and more particularly to a method and an apparatus suitable for forming a protective film on a metal magnetic thin film such as a vapor deposition tape.
【0002】[0002]
【従来技術】ビデオテープレコーダにおいては、高密度
記録化による画質の向上が進められており、これに対応
すべく、例えば8ミリVTR用の磁気記録媒体として金
属磁性薄膜を磁性層とする、いわゆる蒸着テープが実用
化されている。2. Description of the Related Art In video tape recorders, image quality is being improved by high density recording, and in order to cope with this, a so-called metal magnetic thin film is used as a magnetic layer as a magnetic recording medium for 8 mm VTR, for example. Vapor-deposited tape has been put to practical use.
【0003】蒸着テープは、これまで広く用いられてき
た塗布型の磁気テープに比べて磁気特性に優れ、また磁
性層の厚さも薄いことから、電磁変換特性の点で塗布型
の磁気テープを上回る性能を発揮するものと期待されて
いる。The vapor-deposited tape is superior in magnetic properties to the widely used coating type magnetic tape and has a thin magnetic layer, so that it is superior to the coating type magnetic tape in terms of electromagnetic conversion characteristics. It is expected to perform well.
【0004】こうした蒸着テープにおいて、金属磁性薄
膜の耐久性を向上させるために、従来から、ECRプラ
ズマCVD、イオンプレーティング、スパッタリング等
によって保護膜を設けることが知られている。In order to improve the durability of the metal magnetic thin film in such a vapor deposition tape, it has been conventionally known to provide a protective film by ECR plasma CVD, ion plating, sputtering or the like.
【0005】ところが、上記した保護膜を形成するに際
し、例えばスパッタ装置においてターゲットから叩き出
された飛翔粒子はフィルム基板(非磁性の支持体)上の
所定の領域に堆積する他、堆積領域以外の配設部材にも
付着してしまう。例えば、ドラム状のキャンによって基
板を接触支持しながら案内するとき、キャンの両サイド
をキャンマスクで覆うが、このキャンマスクに上記の粒
子が付着する。However, when forming the above-mentioned protective film, flying particles knocked out from a target in a sputtering apparatus, for example, are deposited in a predetermined region on a film substrate (nonmagnetic support) and other than the deposition region. It will also adhere to the mounting members. For example, when the substrate is guided while being contacted and supported by a drum-shaped can, both sides of the can are covered with a can mask, and the above particles adhere to the can mask.
【0006】このような付着粒子は剥離して落下し易
く、ターゲット上に付着した場合には放電異常を起こす
ことがある。この傾向は、投入パワーを増大させて成膜
スピードを上げる程強くなるため、投入パワーを増大さ
せ難くなり、生産性を低下させる要因ともなる。[0006] Such adhered particles are likely to be peeled off and fall, and when adhered to the target, abnormal discharge may occur. This tendency becomes stronger as the input power is increased and the film formation speed is increased, which makes it difficult to increase the input power and also becomes a factor of lowering productivity.
【0007】[0007]
【発明の目的】本発明の目的は、上記した保護膜の如き
第2の薄膜を形成するときに、堆積物質を所定の領域に
堆積させると共に付着物質の落下を減少させることがで
きる方法及びその装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method for depositing a deposition material in a predetermined area and reducing the fall of the deposition material when forming a second thin film such as the above-mentioned protective film. To provide a device.
【0008】[0008]
【発明の構成】即ち、本発明は、支持体上に形成した第
1の薄膜上に、気相からの堆積法によって第2の薄膜を
形成するに際し、堆積領域を規定する開口部を有しかつ
堆積物質の付着力が大きいマスク部材を前記支持体の近
傍に配置する薄膜形成方法に係るものである。That is, according to the present invention, when the second thin film is formed on the first thin film formed on the support by the deposition method from the vapor phase, it has an opening for defining a deposition region. In addition, the present invention relates to a method for forming a thin film, in which a mask member having a large adherence of deposited substances is arranged near the support.
【0009】また、本発明は、第1の薄膜を形成した支
持体の近傍に、第2の薄膜を形成するための堆積領域を
規定する開口部を有しかつ堆積物質の付着力が大きいマ
スク部材が配置されている薄膜形成装置も提供するもの
である。Further, according to the present invention, a mask having an opening near the support on which the first thin film is formed and defining a deposition region for forming the second thin film and having a large adhesive force of the deposited substance. The present invention also provides a thin film forming apparatus in which members are arranged.
【0010】本発明の方法及び装置においては、支持体
を案内するキャンの両縁部を覆うキャンマスクの近傍に
マスク部材を配置することができる。In the method and apparatus of the present invention, the mask member can be arranged in the vicinity of the can mask covering both edges of the can for guiding the support.
【0011】また、上記した粒子の付着防止効果を一層
向上させるためには、マスク部材を加熱するか、或いは
マスク基体の表面の少なくとも一部に、堆積物質の付着
力を増すための処理を施すことが望ましい。In order to further improve the effect of preventing the particles from adhering, the mask member is heated, or at least a part of the surface of the mask substrate is subjected to a treatment for increasing the adhering force of the deposited substance. Is desirable.
【0012】更に、本発明では、第1の薄膜を金属磁性
薄膜として真空蒸着法で形成し、第2の薄膜を保護膜と
してスパッタリングで形成することができる。Further, in the present invention, the first thin film can be formed as a metal magnetic thin film by a vacuum deposition method, and the second thin film can be formed as a protective film by sputtering.
【0013】[0013]
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below.
【0014】図1は、金属磁性薄膜を磁性層とする蒸着
テープに保護膜を形成するためのスパッタ装置を概略的
に示すものである。このスパッタ装置は、中央部に配設
された基板案内兼クーリング用のキャン87と間仕切り板
82で区切られた真空槽81a、81bとを有し、各真空槽81
a、81bにそれぞれ真空排気系83a、83bが接続されて
なるものである。FIG. 1 schematically shows a sputtering apparatus for forming a protective film on a vapor deposition tape having a magnetic metal thin film as a magnetic layer. This sputter device has a can 87 and a partition plate arranged in the center for guiding and cooling the substrate.
It has vacuum tanks 81a and 81b divided by 82, and each vacuum tank 81
Vacuum exhaust systems 83a and 83b are connected to a and 81b, respectively.
【0015】また、一方の真空槽81aには、金属磁性薄
膜付きのベースフィルムBの供給ロール84及び巻取りロ
ール85が設けられており、さらにはベースフィルムBを
上記クーリングキャン87に沿わせて走行させるためのガ
イドロール86a、86bが設置されている。Further, one of the vacuum chambers 81a is provided with a supply roll 84 and a take-up roll 85 for the base film B having a metal magnetic thin film. Further, the base film B is placed along the cooling can 87. Guide rolls 86a and 86b for traveling are installed.
【0016】上記真空槽81bには、上記クーリングキャ
ン87と対向してカーボン等のターゲット88がカソード90
(実際にはバッキングプレート)上に設置されていて、
上記キャン87との間に高周波電圧(図示せず)又は直流
電圧が印加される。この場合、電子を効率良くターゲッ
ト近傍に集中させるためにマグネトロン型スパッタ方式
が採用されてよい。In the vacuum chamber 81b, a target 88 of carbon or the like faces a cathode 90, facing the cooling can 87.
It's actually installed on the backing plate,
A high frequency voltage (not shown) or a DC voltage is applied to the can 87. In this case, a magnetron type sputtering method may be adopted to efficiently concentrate the electrons in the vicinity of the target.
【0017】そして、キャン87の両側縁位置には、ター
ゲット88側にキャンマスク91が配置され、基板Bの搬送
方向に沿ってスパッタによる余分の粒子がキャン幅方向
へ飛散しないようにしている。Then, a can mask 91 is arranged on the target 88 side at both side edge positions of the can 87 so that extra particles due to sputtering are not scattered in the can width direction along the carrying direction of the substrate B.
【0018】また、キャンマスク91のターゲット88側に
は、本発明に基いて、スパッタによる飛翔粒子の堆積領
域を規定する開口部92を有するマスク93が配置されてい
る。このマスク93の開口部92は、図2に明示するように
基板B上の粒子堆積領域を規定するように形成され、か
つ基板Bの幅に対応した幅サイズを有している。ターゲ
ットは仮想線88で示したように、開口部92の直下に位置
している。Further, on the target 88 side of the can mask 91, a mask 93 having an opening 92 for defining a deposition region of flying particles by sputtering is arranged according to the present invention. The opening portion 92 of the mask 93 is formed so as to define the particle deposition region on the substrate B as clearly shown in FIG. 2 and has a width size corresponding to the width of the substrate B. The target is located immediately below the opening 92, as shown by the phantom line 88.
【0019】このマスク93は金属製であって、例えばス
テンレス鋼(SUS)を板状に加工したものからなって
いてよい。また、このマスク93は、ターゲット88からの
飛翔粒子を所定の領域のみに堆積させるために用いられ
るために、それ以外の不所望な領域への粒子付着を効果
的に防止できる。このため、マスク93はターゲット88の
真上位置にあってスパッタ時のグロー放電領域よりも広
いサイズに形成されている。従って、飛翔粒子はマスク
93以外の領域へは実質的に飛散せず、キャンマスク91へ
の付着は少なくて問題とならない。The mask 93 is made of metal, and may be made of, for example, stainless steel (SUS) processed into a plate shape. Further, since the mask 93 is used to deposit the flying particles from the target 88 only in a predetermined area, it is possible to effectively prevent the particles from adhering to other undesired areas. Therefore, the mask 93 is located directly above the target 88 and is formed in a size larger than the glow discharge region during sputtering. Therefore, the flying particles are masked
It does not substantially scatter to the area other than 93, and the adhesion to the can mask 91 is small, which is not a problem.
【0020】スパッタ時には、ターゲット88の成分粒子
がAr等のスパッタガスによって叩き出され、マスク93
の開口部92を通して基板B(実際には金属磁性薄膜)上
に堆積する。図3には、基板B上の金属磁性薄膜102 上
にスパッタによる保護膜103を形成した状態が示されて
いる。保護膜103 の材料としては、SiO2、Si3N4 、SiN
x、BN、ZnO2、カーボン、TiN 等がある。保護膜103 の
厚さは50Å以上がよく、また再生時のスペーシングロス
の点で300 Å以下が望ましい。At the time of sputtering, the component particles of the target 88 are blown out by the sputtering gas such as Ar, and the mask 93
And is deposited on the substrate B (actually a metal magnetic thin film) through the opening 92 of the. FIG. 3 shows a state in which the protective film 103 is formed by sputtering on the metal magnetic thin film 102 on the substrate B. Materials for the protective film 103 include SiO 2 , Si 3 N 4 , and SiN.
x, BN, ZnO 2 , carbon, TiN, etc. The thickness of the protective film 103 is preferably 50 Å or more, and is preferably 300 Å or less in terms of spacing loss during reproduction.
【0021】上記のスパッタ時には、マスク93上にも飛
翔粒子が付着するが、この付着粒子が落下しないように
(即ち、粒子の付着力を大きくするために)次の如き工
夫が施されるのが望ましい。 (1) マスク93を冷却しないで加熱することによって、飛
翔粒子の付着力を高めること。加熱温度は70℃以上がよ
く、150 ℃以上が好ましい。但し、この加熱温度はマス
ク93の融点以下とする。 (2) マスク93の表面の少なくともターゲット側に、粒子
の付着力を高める表面処理を施すこと。At the time of the above-mentioned sputtering, flying particles adhere to the mask 93, but the following measures are taken to prevent the adhered particles from falling (that is, in order to increase the adhesive force of the particles). Is desirable. (1) To increase the adhesive force of flying particles by heating the mask 93 without cooling it. The heating temperature is preferably 70 ° C or higher, more preferably 150 ° C or higher. However, the heating temperature is set to be equal to or lower than the melting point of the mask 93. (2) At least the target side of the surface of the mask 93 is subjected to a surface treatment for enhancing the adhesive force of particles.
【0022】上記の(1) については、図4に示すよう
に、マスク93の周辺部にステンレスパイプ94を溶接等で
固定し、そのパイプ中に温水95を通すことによって、マ
スク93を所定温度に加熱できる。この加熱温度を100 ℃
以上としたいときは、パイプ94中に水蒸気や加熱された
油等を通すことができる。また、パイプ94に代えて抵抗
加熱線からなるヒーター等による電気的加熱も可能であ
る。As for the above (1), as shown in FIG. 4, a stainless steel pipe 94 is fixed to the peripheral portion of the mask 93 by welding or the like, and hot water 95 is passed through the pipe to keep the mask 93 at a predetermined temperature. Can be heated to This heating temperature is 100 ℃
When it is desired to set the above, steam or heated oil can be passed through the pipe 94. Further, instead of the pipe 94, electric heating with a heater or the like made of a resistance heating wire is also possible.
【0023】上記の(2) については、図5に示すよう
に、マスク基体(例えばSUS製)の表面に、予めZn、
Pb等をメッキで表面処理した銅箔96を接着し、これによ
って飛翔粒子を付着し易くする。或いは、マスク基体の
表面にZnやPb等を直接表面処理したものを用いてもよ
い。Regarding the above item (2), as shown in FIG. 5, Zn, in advance, is formed on the surface of the mask substrate (for example, made of SUS).
A copper foil 96, which is surface-treated with Pb or the like by plating, is adhered, which facilitates attachment of flying particles. Alternatively, a mask substrate whose surface is directly treated with Zn, Pb, or the like may be used.
【0024】なお、上記したスパッタリングを行う基板
Bには前以って金属磁性薄膜102 を真空蒸着で形成する
が、この真空蒸着には図6に示す装置を用いることがで
きる。The metal magnetic thin film 102 is previously formed by vacuum vapor deposition on the substrate B on which the above-mentioned sputtering is performed. For this vacuum vapor deposition, the apparatus shown in FIG. 6 can be used.
【0025】この真空蒸着装置は、図6においてクーリ
ングキャン87をはじめ、装置の上部の構成は図1のスパ
ッタ装置と同様であってよいので、同様の部分には同じ
符号を付して説明を省略する。但し、下方の真空槽81b
には蒸発源188 が設置されており、クーリングキャン87
の近傍位置には、蒸発金属の入射角を規制するための遮
蔽板190 や、蒸着粒子を細かくして安定に蒸着させるた
めの酸素ガスの導入パイプ191 が設けられている。蒸発
源188 は、鉄、コバルト、ニッケルの単体金属、Co−Ni
系合金等の合金、さらには他の元素との混合物が使用可
能である。図中の193 は予備加熱ヒータである。The structure of the upper part of the vacuum vapor deposition apparatus including the cooling can 87 in FIG. 6 may be the same as that of the sputtering apparatus of FIG. Omit it. However, the lower vacuum chamber 81b
An evaporation source 188 is installed in the
A shield plate 190 for controlling the incident angle of the evaporated metal and an oxygen gas introduction pipe 191 for finely and stably depositing vapor deposition particles are provided in the vicinity of the position. The evaporation source 188 is a single metal of iron, cobalt, and nickel, Co-Ni.
It is possible to use alloys such as series alloys, and also mixtures with other elements. Reference numeral 193 in the figure is a preheating heater.
【0026】従って、上記クーリングキャン87に沿って
ベースフィルムBを走行させるとともに、蒸発源188 を
電子銃192 からの電子ビーム189 によって加熱蒸発せし
めることで、ベースフィルム上に金属磁性薄膜が斜め蒸
着される。θmin はベースフィルムに対する蒸発金属の
入射角(最小値)を示す。Therefore, by running the base film B along the cooling can 87 and heating and evaporating the evaporation source 188 by the electron beam 189 from the electron gun 192, the metal magnetic thin film is obliquely vapor-deposited on the base film. It θ min represents the incident angle (minimum value) of the evaporated metal on the base film.
【0027】以上に説明したように、本発明に基いて、
金属磁性薄膜上にスパッタ法で保護膜を堆積させるに際
して、粒子付着力の大きいマスク93を設けているので、
スパッタされた飛翔粒子が不所望な箇所へ付着するのを
防止し、かつマスクに付着した粒子が剥離によってター
ゲット上に落下して既述した如き放電異常が生じるのを
抑制することができる。As explained above, according to the present invention,
When depositing the protective film on the metal magnetic thin film by the sputtering method, since the mask 93 having a large particle adhesion is provided,
It is possible to prevent the sputtered flying particles from adhering to an undesired portion, and to suppress the particles adhering to the mask from falling onto the target due to peeling and causing the discharge abnormality as described above.
【0028】特に、マスク93を加熱したり、或いはZn等
を表面処理することで、マスク93に対して飛翔粒子が付
着し易くなり、このために付着粒子が落下することを一
層有効に防止することができ、落下物の激減により安定
した成膜が可能となる。In particular, by heating the mask 93 or surface-treating Zn or the like, the flying particles are easily attached to the mask 93, and therefore the attached particles are more effectively prevented from falling. It is possible to achieve stable film formation by drastically reducing falling objects.
【0029】次に上記した薄膜形成の具体的な実験例を
説明する。実施した各処方は以下の通りであった。Next, a specific experimental example of the above thin film formation will be described. Each prescription carried out was as follows.
【0030】1.金属磁性薄膜の形成 図6に示した連続巻取式の蒸着装置において、10μm厚
のポリエチレンテレフタレートベース上にCo80Ni20を酸
素ガス中で次の条件で斜方蒸着した。 真空度:1×10-4Torr ベースに対する蒸発金属の入射角θmin :45° 酸素ガス導入量:250cc/分 蒸着膜の厚み:2000Å1. Formation of Metallic Magnetic Thin Film In the continuous winding type vapor deposition apparatus shown in FIG. 6, Co 80 Ni 20 was obliquely vapor-deposited in oxygen gas on a polyethylene terephthalate base having a thickness of 10 μm under the following conditions. Degree of vacuum: 1 × 10 -4 Torr Incident angle of vaporized metal on the base θmin: 45 ° Oxygen gas introduction rate: 250cc / min Deposition film thickness: 2000Å
【0031】2.保護膜の形成 図1に示した連続巻取式のスパッタ装置において、上記
で成膜した金属磁性薄膜付きのベース上に次の条件で保
護膜を形成した。 スパッタ法:DCマグネトロンスパッタリング ガス圧(Ar):10mTorr パワー密度:6.8W/cm2まで変化させた 保護膜の厚み:0.01〜0.015 μm ターゲット−ベース間距離:8cm ターゲット材:カーボン クーリングキャン:図2のもの マスク形状:図2のもの2. Formation of Protective Film In the continuous winding type sputtering apparatus shown in FIG. 1, a protective film was formed on the base with the metal magnetic thin film formed above under the following conditions. Sputtering method: DC magnetron sputtering Gas pressure (Ar): 10 mTorr Power density: 6.8 W / cm 2 Protective film thickness: 0.01-0.015 μm Target-base distance: 8 cm Target material: Carbon cooling can: Fig. 2 Mask shape: as shown in Figure 2
【0032】なお、上記の磁性層が形成されたベース
に、例えばカーボン及びエポキシ系バインダーからなる
バックコートと、パーフルオロポリエーテルからなる潤
滑剤のトップコートとを施した後、これを8mm幅に裁断
して磁気テープを作成することができる。The base on which the above-mentioned magnetic layer is formed is coated with a back coat made of, for example, carbon and an epoxy binder, and a lubricant top coat made of perfluoropolyether. A magnetic tape can be created by cutting.
【0033】上記において、マスクの種類と放電パワー
を変化させたところ、下記表に示す結果が得られた。 When the mask type and the discharge power were changed in the above, the results shown in the following table were obtained.
【0034】上記の結果から明らかなように、ベ
ースのターゲット側にマスクを配し、このマスクを冷却
をせずに成膜することにより、安定な放電が確保出来、
高速成膜が可能となった。さらに、Zn等により付着力を
高めるための表面処理を施すことにより、さらに高速か
つ安定な成膜が出来、生産性が向上した。As is clear from the above results, a stable discharge can be secured by disposing a mask on the target side of the base and forming a film without cooling this mask.
High-speed film formation became possible. Furthermore, by applying a surface treatment with Zn etc. to increase the adhesive force, a faster and more stable film formation was possible and the productivity was improved.
【0035】以上に述べた例においては、図2に示した
ようにキャンマスク91とマスク93とを別々に配置した
が、これらを1つにして各機能を兼用させることもでき
る。In the above-described example, the can mask 91 and the mask 93 are separately arranged as shown in FIG. 2, but these can be integrated into one and have the same function.
【0036】図7は、そのような例を示し、いわばマス
ク93を本来のキャンマスクの領域に亘って延長してキャ
ンマスクの機能を発揮し、かつ開口部92によって堆積領
域を規定している点は上述した例と同様である。この場
合も、上述した例と同様に飛翔粒子の付着力を高めるた
めの処理をマスク93に施すことによって、スパッタリン
グを安定して行うことができる。また、両マスクの兼用
によって、マスクの設置が容易となり、構造が簡単とな
る。FIG. 7 shows such an example, so to speak, the mask 93 is extended over the area of the original can mask to exert the function of the can mask, and the opening 92 defines the deposition area. The points are the same as the above-mentioned example. Also in this case, the sputtering can be stably performed by subjecting the mask 93 to the treatment for increasing the adhesive force of the flying particles as in the above-described example. In addition, since both masks are used in common, the mask can be easily installed and the structure is simplified.
【0037】以上、本発明の実施例を説明したが、上述
の実施例は本発明の技術的思想に基いて種々変形が可能
である。Although the embodiments of the present invention have been described above, the above embodiments can be variously modified based on the technical idea of the present invention.
【0038】例えば、上述の保護膜はスパッタリングで
形成したが、他の堆積方法であるECRプラズマCV
D、イオンプレーティング、真空蒸着等によって保護膜
を形成することができる。また、この保護膜の材質は上
述したもの以外にも、2層目の磁性膜として形成しても
よい。また、保護膜は複数層(例えば下層はNi等の耐蝕
性金属、上層はカーボン、SiO2等)としてもよい。For example, although the above-mentioned protective film is formed by sputtering, another deposition method such as ECR plasma CV is used.
The protective film can be formed by D, ion plating, vacuum deposition or the like. Further, the material of this protective film may be formed as the second-layer magnetic film other than the above-mentioned materials. Further, the protective film may have a plurality of layers (for example, the lower layer is a corrosion-resistant metal such as Ni, the upper layer is carbon, SiO 2, etc.).
【0039】この保護膜の堆積時に用いるマスクは、上
述した形状、材質は上述したものに限定されることはな
い。図7を更に変形して、従来のキャンマスク自体に上
述した堆積物質の付着力を高める処理を施しても、本発
明の範囲に含まれる。また、マスクは上述の例ではター
ゲット1つに対し1個設けたが、この対をキャンに沿っ
て複数配することもできる。The shape and material of the mask used for depositing this protective film are not limited to those described above. Even if FIG. 7 is further modified and the conventional can mask itself is subjected to the above-described treatment for increasing the adhesion force of the deposited material, it is within the scope of the present invention. Further, although one mask is provided for each target in the above example, a plurality of pairs may be arranged along the can.
【0040】また、上述した例では、真空蒸着装置での
処理とスパッタ装置での処理とを別々にかつバッチ式で
行うことになるが、各装置間でベースフィルムを連続的
に通して各処理を順次行うこともできる。Further, in the above-mentioned example, the processing in the vacuum vapor deposition apparatus and the processing in the sputtering apparatus are carried out separately and in a batch system, but the base film is continuously passed between the respective apparatuses to carry out each processing. Can also be performed sequentially.
【0041】[0041]
【発明の作用効果】本発明は上述したように、気相から
の堆積法で第2の薄膜を堆積させるに際し、堆積領域を
規定する開口部を有しかつ堆積物質の付着力の大きいマ
スク部材を用いているので、堆積物質が不所望な箇所へ
付着し、また剥離によってターゲット上等に落下して既
述した如き放電異常等を生じるのを抑制することができ
る。As described above, according to the present invention, when depositing the second thin film by the deposition method from the vapor phase, the mask member has an opening for defining a deposition region and has a large adhesive force for the deposited substance. Since it is used, it is possible to prevent the deposited substance from adhering to an undesired portion and dropping onto the target or the like due to peeling to cause the discharge abnormality as described above.
【図1】本発明の実施例による保護膜形成用のスパッタ
装置の概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view of a sputtering apparatus for forming a protective film according to an embodiment of the present invention.
【図2】同スパッタ装置に用いるマスクを下方からみた
底面図である。FIG. 2 is a bottom view of the mask used in the sputtering apparatus as seen from below.
【図3】蒸着テープの拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view of a vapor deposition tape.
【図4】好ましいマスクの一例の平面図である。FIG. 4 is a plan view of an example of a preferred mask.
【図5】他の好ましいマスクの断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of another preferred mask.
【図6】上記蒸着テープの金属磁性薄膜形成用の真空蒸
着装置の概略断面図である。FIG. 6 is a schematic sectional view of a vacuum vapor deposition apparatus for forming a metal magnetic thin film on the vapor deposition tape.
【図7】マスクの他の例を示す底面図である。FIG. 7 is a bottom view showing another example of the mask.
81a、81b・・・真空槽 82・・・間仕切り板 84・・・供給ロール 85・・・巻き取りロール 87・・・キャン 88・・・ターゲット 91・・・キャンマスク 92・・・開口部 93・・・マスク 94・・・パイプ 95・・・温水 96・・・銅箔 102・・・金属磁性薄膜 103・・・保護膜 188・・・蒸発源 189・・・電子ビーム 190・・・遮蔽板 B・・・ベースフィルム(基板) 81a, 81b ... Vacuum chamber 82 ... Partition plate 84 ... Supply roll 85 ... Winding roll 87 ... Can 88 ... Target 91 ... Can mask 92 ... Opening 93・ ・ ・ Mask 94 ・ ・ ・ Pipe 95 ・ ・ ・ Hot water 96 ・ ・ ・ Copper foil 102 ・ ・ ・ Metal magnetic thin film 103 ・ ・ ・ Protective film 188 ・ ・ ・ Evaporation source 189 ・ ・ ・ Electron beam 190 ・ ・ ・ Shielding Board B: Base film (substrate)
Claims (10)
相からの堆積法によって第2の薄膜を形成するに際し、
堆積領域を規定する開口部を有しかつ堆積物質の付着力
が大きいマスク部材を前記支持体の近傍に配置する薄膜
形成方法。1. When forming a second thin film on a first thin film formed on a support by a vapor deposition method,
A method for forming a thin film, comprising arranging a mask member having an opening defining a deposition region and having a large adhesion force of a deposition substance in the vicinity of the support.
キャンマスクの近傍にマスク部材を配置する、請求項1
に記載の方法。2. A mask member is arranged in the vicinity of a can mask which covers both edges of a can for guiding a support.
The method described in.
に記載の方法。3. The method according to claim 1, wherein the mask member is heated.
The method described in.
増すための処理を施す、請求項1又は2に記載の方法。4. The method according to claim 1, wherein the substrate of the mask member is subjected to a treatment for increasing the adhesion of the deposited substance.
着法で形成し、第2の薄膜を保護膜としてスパッタリン
グで形成する、請求項1〜4のいずれかに記載の方法。5. The method according to claim 1, wherein the first thin film is formed as a metal magnetic thin film by a vacuum vapor deposition method, and the second thin film is formed as a protective film by sputtering.
第2の薄膜を形成するための堆積領域を規定する開口部
を有しかつ堆積物質の付着力が大きいマスク部材が配置
されている薄膜形成装置。6. The vicinity of the support on which the first thin film is formed,
A thin film forming apparatus in which a mask member having an opening defining a deposition region for forming a second thin film and having a large adhesive force of a deposited substance is arranged.
キャンマスクの近傍にマスク部材を配置する、請求項6
に記載の装置。7. A mask member is arranged in the vicinity of a can mask which covers both edges of the can for guiding the support.
The device according to.
記載の装置。8. The apparatus according to claim 6, wherein the mask member is heated.
増すための処理を施す、請求項6又は7に記載の装置。9. The apparatus according to claim 6, wherein the substrate of the mask member is subjected to a treatment for increasing the adhesion of the deposited substance.
に、スパッタリングで保護膜を形成する、請求項6〜9
のいずれかに記載した装置。10. The protective film is formed by sputtering on the metal magnetic thin film formed by the vacuum deposition method.
The device described in any of 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35987291A JPH05182192A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Thin film forming method and device therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35987291A JPH05182192A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Thin film forming method and device therefor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05182192A true JPH05182192A (en) | 1993-07-23 |
Family
ID=18466736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35987291A Pending JPH05182192A (en) | 1991-12-27 | 1991-12-27 | Thin film forming method and device therefor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05182192A (en) |
-
1991
- 1991-12-27 JP JP35987291A patent/JPH05182192A/en active Pending
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