JPH0517506B2 - - Google Patents
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- JPH0517506B2 JPH0517506B2 JP63279553A JP27955388A JPH0517506B2 JP H0517506 B2 JPH0517506 B2 JP H0517506B2 JP 63279553 A JP63279553 A JP 63279553A JP 27955388 A JP27955388 A JP 27955388A JP H0517506 B2 JPH0517506 B2 JP H0517506B2
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- Japan
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- reflector
- curved surface
- concave curved
- reflecting plate
- antenna
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0878—Sensors; antennas; probes; detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Aerials With Secondary Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、伝送線路やデジタル機器などから漏
れて来る電磁波を測定する際に好適な、漏れ電磁
波測定装置に関する。
れて来る電磁波を測定する際に好適な、漏れ電磁
波測定装置に関する。
［従来の技術］
エレクトロニクス社会が進むについて、電磁ノ
イズ障害が新しい産業公害になりつつある。この
電磁ノイズ障害には二種類あつて、ひとつはデジ
タル機器などに直接に接続された電源線からの伝
導と、もうひとつはデジタル機器などから自然に
発生してしまう漏れ電磁波の輻射とがある。いず
れにしても、このような電磁ノイズ障害によつ
て、他のデジタル機器に対して悪影響を与えて、
機器の誤動作を誘発することがある。そこで防止
対策を必要とする場合、伝導に対しては各種のノ
イズフイルターなどによつて、比較的に簡単に防
止できるが、輻射に対しては漏れ電磁波を発する
デジタル機器はもちろん、漏れ電磁波を受けるデ
ジタル機器についてもさまざまの防止対策を施し
ているが、なかなか困難な場合が多い。その輻射
の防止対策の際には、まずそれらのデジタル機器
などから発生する漏れ電磁波を正しく測定する必
要性がある。
イズ障害が新しい産業公害になりつつある。この
電磁ノイズ障害には二種類あつて、ひとつはデジ
タル機器などに直接に接続された電源線からの伝
導と、もうひとつはデジタル機器などから自然に
発生してしまう漏れ電磁波の輻射とがある。いず
れにしても、このような電磁ノイズ障害によつ
て、他のデジタル機器に対して悪影響を与えて、
機器の誤動作を誘発することがある。そこで防止
対策を必要とする場合、伝導に対しては各種のノ
イズフイルターなどによつて、比較的に簡単に防
止できるが、輻射に対しては漏れ電磁波を発する
デジタル機器はもちろん、漏れ電磁波を受けるデ
ジタル機器についてもさまざまの防止対策を施し
ているが、なかなか困難な場合が多い。その輻射
の防止対策の際には、まずそれらのデジタル機器
などから発生する漏れ電磁波を正しく測定する必
要性がある。
従来、デジタル機器などからの漏れ電磁波を測
定する際には、例えば国際無線障害特別委員会
（CISPR）規格−Pub1.22の測定方法のように、
その被測定デジタル機器とアンテナ他の測定器と
測定者とを、大きいシールドルームの中に入れた
上で、その被測定デジタル機器に通電して、実際
の漏れ電磁波による放射電界強度を測定する方法
や、または、例えばミル規格（MIL）−Ｔ−
81490の高周波用伝送線路用の漏れ電磁波の測定
方法のように、アンテナとなる一定の形状の黄銅
の管の中にデジタル機器に接続するための高周波
用伝送線路の一部を入れて、信号伝送時の漏れ電
磁波の電力値を測定する方法や、その他には国際
無線障害特別委員会（CISPR）規格−Pub1.16の
吸収クランプ法や、ミル規格（MIL）−Ｃ−
85485の表面伝達インピーダンス法や、ナスダ規
格（NASDA）−QTS−1012の電界法や、ドイツ
技術者協会（VDE）規格VG95373−Part15のク
ロストーク測定法など、様々の測定方法があり信
号の性質や周波数帯などを把握して、実装状況に
最も適応するように測定方法を選択している。
定する際には、例えば国際無線障害特別委員会
（CISPR）規格−Pub1.22の測定方法のように、
その被測定デジタル機器とアンテナ他の測定器と
測定者とを、大きいシールドルームの中に入れた
上で、その被測定デジタル機器に通電して、実際
の漏れ電磁波による放射電界強度を測定する方法
や、または、例えばミル規格（MIL）−Ｔ−
81490の高周波用伝送線路用の漏れ電磁波の測定
方法のように、アンテナとなる一定の形状の黄銅
の管の中にデジタル機器に接続するための高周波
用伝送線路の一部を入れて、信号伝送時の漏れ電
磁波の電力値を測定する方法や、その他には国際
無線障害特別委員会（CISPR）規格−Pub1.16の
吸収クランプ法や、ミル規格（MIL）−Ｃ−
85485の表面伝達インピーダンス法や、ナスダ規
格（NASDA）−QTS−1012の電界法や、ドイツ
技術者協会（VDE）規格VG95373−Part15のク
ロストーク測定法など、様々の測定方法があり信
号の性質や周波数帯などを把握して、実装状況に
最も適応するように測定方法を選択している。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、例えば、前記の国際無線障害特
別委員会（CISPR）規格−Pub1.22の測定方法で
は、高価で広い面積を占めるシールドルームを用
意しなければ測定することもできないことになる
し、また、前記のミル規格（MIL）−Ｔ−81490
の測定方法は、高周波用伝送線路についての測定
方法であつて一般のデジタル機器については測定
することができないし、周波数について掃引する
ことができない。その他の公的な規格の測定方法
についても、例えば準静電界と誘導電磁界の影響
を排除し切れないので、漏れ電磁波を他の標準と
するデジタル機器の漏れ電磁波の電力値に対する
相対的な電力値との比較するので、絶対的な電力
値を求めることができず比較しにくいなど、ひと
つの測定方法が必ず全てを満足するという測定方
法は無い。
別委員会（CISPR）規格−Pub1.22の測定方法で
は、高価で広い面積を占めるシールドルームを用
意しなければ測定することもできないことになる
し、また、前記のミル規格（MIL）−Ｔ−81490
の測定方法は、高周波用伝送線路についての測定
方法であつて一般のデジタル機器については測定
することができないし、周波数について掃引する
ことができない。その他の公的な規格の測定方法
についても、例えば準静電界と誘導電磁界の影響
を排除し切れないので、漏れ電磁波を他の標準と
するデジタル機器の漏れ電磁波の電力値に対する
相対的な電力値との比較するので、絶対的な電力
値を求めることができず比較しにくいなど、ひと
つの測定方法が必ず全てを満足するという測定方
法は無い。
本発明は上記の問題点に鑑み、これらの問題点
を解決するために開発されたもので、シールドル
ームを必要とせず、広い周波数について掃引する
ことができ、準静電界と誘導電磁界の影響を排除
し、絶対的な電力値を求めることができる漏れ電
磁波測定装置を提供しようとするものである。
を解決するために開発されたもので、シールドル
ームを必要とせず、広い周波数について掃引する
ことができ、準静電界と誘導電磁界の影響を排除
し、絶対的な電力値を求めることができる漏れ電
磁波測定装置を提供しようとするものである。
［課題を解決するための手段］
本発明は上記課題を達成するためになされたも
ので、被測定物を収納対向する凹曲面を有する一
次反射板と、この一次反射板の凹曲面に向かい合
い且つこの一次反射板位置近傍を焦点とする凹曲
面を有する二次反射板と、この二次反射板の凹曲
面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三
次反射板と、この三次反射板の凹曲面に向かい合
い且つこの三次反射板の焦点近傍位置に配した凹
曲面を有する四次反射板と、この四次反射板の凹
曲面に対向して配したアンテナと、このアンテナ
に高周波電磁波を入力して、アンテナより発射さ
れて被測定物に至る電磁波を計測する測定器とを
備える漏れ電磁波測定装置を構成する。
ので、被測定物を収納対向する凹曲面を有する一
次反射板と、この一次反射板の凹曲面に向かい合
い且つこの一次反射板位置近傍を焦点とする凹曲
面を有する二次反射板と、この二次反射板の凹曲
面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三
次反射板と、この三次反射板の凹曲面に向かい合
い且つこの三次反射板の焦点近傍位置に配した凹
曲面を有する四次反射板と、この四次反射板の凹
曲面に対向して配したアンテナと、このアンテナ
に高周波電磁波を入力して、アンテナより発射さ
れて被測定物に至る電磁波を計測する測定器とを
備える漏れ電磁波測定装置を構成する。
［作用］
本発明によれば、被測定物を収納対向する凹曲
面を有する一次反射板と、この一次反射板の凹曲
面に向かい合い且つこの一次反射板位置近傍を焦
点とする凹曲面を有する二次反射板と、この二次
反射板の凹曲面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲
面を有する三次反射板と、この三次反射板の凹曲
面に向かい合い且つこの三次反射板の焦点近傍位
置に配した凹曲面を有する四次反射板と、この四
次反射板の凹曲面に対向して配したアンテナと、
このアンテナに高周波電磁波を入力して、アンテ
ナより発射されて被測定物に至る電磁波を計測す
る測定器とを備える漏れ電磁波測定装置を構成す
るので、まず、被測定物を一次反射板の凹曲面に
置き、次に四次反射板の凹曲面にある標準機器と
してのアンテナに例えばスイープオシレーターな
どを接続して、アンテナから発する漏れ電磁波が
四次反射板、三次反射板、二次反射板、一次反射
板の順番に反射されて最終的に被測定物に集まる
ので、この被測定物に接続した例えばネツトワー
クアナライザーなどの測定器を用いて電磁波の電
力値を求めることによつて、漏れ電磁波の絶対的
な全電力値を求めることができる。また、必要に
応じて周波数について掃引することや、例えばＸ
−Ｙレコーダーなどによつて記録することもでき
る。
面を有する一次反射板と、この一次反射板の凹曲
面に向かい合い且つこの一次反射板位置近傍を焦
点とする凹曲面を有する二次反射板と、この二次
反射板の凹曲面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲
面を有する三次反射板と、この三次反射板の凹曲
面に向かい合い且つこの三次反射板の焦点近傍位
置に配した凹曲面を有する四次反射板と、この四
次反射板の凹曲面に対向して配したアンテナと、
このアンテナに高周波電磁波を入力して、アンテ
ナより発射されて被測定物に至る電磁波を計測す
る測定器とを備える漏れ電磁波測定装置を構成す
るので、まず、被測定物を一次反射板の凹曲面に
置き、次に四次反射板の凹曲面にある標準機器と
してのアンテナに例えばスイープオシレーターな
どを接続して、アンテナから発する漏れ電磁波が
四次反射板、三次反射板、二次反射板、一次反射
板の順番に反射されて最終的に被測定物に集まる
ので、この被測定物に接続した例えばネツトワー
クアナライザーなどの測定器を用いて電磁波の電
力値を求めることによつて、漏れ電磁波の絶対的
な全電力値を求めることができる。また、必要に
応じて周波数について掃引することや、例えばＸ
−Ｙレコーダーなどによつて記録することもでき
る。
また、前記の一次反射板、二次反射板、三次反
射板、四次反射板の形状は、例えば空洞の球を二
つに分割させた球の内面の凹曲面を用いるとか、
放物線の軸を中心に回転させた放物曲面を内面と
する凹曲面を用いるとか、被測定電気製品が長い
場合のためには、管を長手方向に二つに分割させ
た内面の凹曲面を用いるとか、平板をたわませて
内面の切断面を常に一定の放物線にした放物曲面
状の凹曲面を用いるとか、その他、焦点をもつ凹
曲面を用いることが好ましく、少なくとも二次反
射板には、前記の焦点をもつ凹曲面を用いること
とする。また、これらの各反射板は、全て同じ形
状や同じ大きさの物ばかりではなく、必要に応じ
て異なる形状や異なる大きさの反射板を組み合わ
せても構わない。さらに、これらの各反射板の焦
点位置は、一直線上に並ぶ必要性はなく、それぞ
れ向かい合う反射板同志の関係を保ち、且つそれ
以前からの漏れ電磁波を受けて、それを次の反射
板に全てまたは一定の率だけ送り出すことが守ら
れていれば、それぞれ角度をもつても構わない。
射板、四次反射板の形状は、例えば空洞の球を二
つに分割させた球の内面の凹曲面を用いるとか、
放物線の軸を中心に回転させた放物曲面を内面と
する凹曲面を用いるとか、被測定電気製品が長い
場合のためには、管を長手方向に二つに分割させ
た内面の凹曲面を用いるとか、平板をたわませて
内面の切断面を常に一定の放物線にした放物曲面
状の凹曲面を用いるとか、その他、焦点をもつ凹
曲面を用いることが好ましく、少なくとも二次反
射板には、前記の焦点をもつ凹曲面を用いること
とする。また、これらの各反射板は、全て同じ形
状や同じ大きさの物ばかりではなく、必要に応じ
て異なる形状や異なる大きさの反射板を組み合わ
せても構わない。さらに、これらの各反射板の焦
点位置は、一直線上に並ぶ必要性はなく、それぞ
れ向かい合う反射板同志の関係を保ち、且つそれ
以前からの漏れ電磁波を受けて、それを次の反射
板に全てまたは一定の率だけ送り出すことが守ら
れていれば、それぞれ角度をもつても構わない。
［実施例］
第１図は本発明による一実施例を示す漏れ電磁
波測定装置の斜視図である。第１図に基ずいて説
明すると、凹曲面を有する一次反射板１と、この
一次反射板１の凹曲面に向かい合い且つこの一次
反射板１を焦点近傍位置とする凹曲面を有する二
次反射板２と、この二次反射板２の凹曲面に向か
い合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三次反射板
３と、この三次反射板３の凹曲面に向かい合い且
つこの三次反射板３の焦点近傍位置に配した凹曲
面を有する四次反射板４と、この四次反射板４の
凹曲面に対向して配したアンテナ５とを備え、前
記の一次反射板１の凹曲面と前記の四次反射板４
の凹曲面とを向き合わない方向に配してなること
を特徴とする漏れ電磁波測定装置６を構成する。
波測定装置の斜視図である。第１図に基ずいて説
明すると、凹曲面を有する一次反射板１と、この
一次反射板１の凹曲面に向かい合い且つこの一次
反射板１を焦点近傍位置とする凹曲面を有する二
次反射板２と、この二次反射板２の凹曲面に向か
い合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三次反射板
３と、この三次反射板３の凹曲面に向かい合い且
つこの三次反射板３の焦点近傍位置に配した凹曲
面を有する四次反射板４と、この四次反射板４の
凹曲面に対向して配したアンテナ５とを備え、前
記の一次反射板１の凹曲面と前記の四次反射板４
の凹曲面とを向き合わない方向に配してなること
を特徴とする漏れ電磁波測定装置６を構成する。
この漏れ電磁波測定装置６は、主として、線状
のデジタル機器から発生する漏れ電磁波の測定用
に適したものである。また、実際は漏れ電磁波測
定装置６の各部品は図示しない支柱や梁などによ
つて支えられている。
のデジタル機器から発生する漏れ電磁波の測定用
に適したものである。また、実際は漏れ電磁波測
定装置６の各部品は図示しない支柱や梁などによ
つて支えられている。
今、一例として漏れ電磁波測定装置６の具体的
な寸法と形状と材質を示す。一次反射板１及び四
次反射板４は、長さ1000mm、内径27mmの黄銅管を
長さ方向に半分に切断した物をそれぞれ用いる。
さらに、この四次反射板４の内壁面に、外径
0.912mmφの銀めつき軟銅線と多孔質四ふつ化樹
脂誘電体を装着することによつて、特性インピー
ダンス150Ωの伝送線路とし、これをアンテナ５
とした。なお、アンテナ５の終端には、150Ωの
抵抗を接続した。また、二次反射板２及び三次反
射板３は、幅1300mm、高さ1000mm、焦点距離300
mmを持つ放物曲面状の凹曲面を有する金属板をそ
れぞれ用いる。
な寸法と形状と材質を示す。一次反射板１及び四
次反射板４は、長さ1000mm、内径27mmの黄銅管を
長さ方向に半分に切断した物をそれぞれ用いる。
さらに、この四次反射板４の内壁面に、外径
0.912mmφの銀めつき軟銅線と多孔質四ふつ化樹
脂誘電体を装着することによつて、特性インピー
ダンス150Ωの伝送線路とし、これをアンテナ５
とした。なお、アンテナ５の終端には、150Ωの
抵抗を接続した。また、二次反射板２及び三次反
射板３は、幅1300mm、高さ1000mm、焦点距離300
mmを持つ放物曲面状の凹曲面を有する金属板をそ
れぞれ用いる。
これらの各部品の配置は、図の一点鎖線で示す
ように、一次反射板１と二次反射板２と三次反射
板３と四次反射板４とアンテナ５との各中心線が
一平面上に平行に離間して配することとし、一次
反射板１の中心線から二次反射板２の中心線まで
の距離と、二次反射板２の中心線から四次反射板
４の中心線までの距離と、四次反射板４の中心線
から三次反射板３の中心線までの距離とを、それ
ぞれ600mmとする。
ように、一次反射板１と二次反射板２と三次反射
板３と四次反射板４とアンテナ５との各中心線が
一平面上に平行に離間して配することとし、一次
反射板１の中心線から二次反射板２の中心線まで
の距離と、二次反射板２の中心線から四次反射板
４の中心線までの距離と、四次反射板４の中心線
から三次反射板３の中心線までの距離とを、それ
ぞれ600mmとする。
この漏れ電磁波測定装置６を用いて、図示の高
周波用伝送線路７の電磁波の漏れを測定するにあ
たつては、まず、被測定物である高周波用伝送線
路７を一次反射板１の凹曲面に例えば粘着テープ
で固定し、次に高周波用伝送線路７に例えば図示
しないネツトワークアナライザーなどの測定器を
接続して、次にアンテナ５に図示しないスイープ
オシレーターなどによつて信号を流し、アンテナ
５から発する漏れ電磁波を四次反射板４、三次反
射板３、二次反射板２、一次反射板１の順番に反
射されて最終的に被測定物である高周波用伝送線
路７に集め、この高周波用伝送線路７に接続した
測定器を用いて電磁波の電力値を求めることによ
つて高周波用伝送線路７の漏れ電磁波の絶対的な
全電力値を求めることができる。また、必要に応
じて周波数について掃引することもできるし、ま
たは、例えば図示しないＸ−Ｙレコーダーなどに
よつて記録することもできる。
周波用伝送線路７の電磁波の漏れを測定するにあ
たつては、まず、被測定物である高周波用伝送線
路７を一次反射板１の凹曲面に例えば粘着テープ
で固定し、次に高周波用伝送線路７に例えば図示
しないネツトワークアナライザーなどの測定器を
接続して、次にアンテナ５に図示しないスイープ
オシレーターなどによつて信号を流し、アンテナ
５から発する漏れ電磁波を四次反射板４、三次反
射板３、二次反射板２、一次反射板１の順番に反
射されて最終的に被測定物である高周波用伝送線
路７に集め、この高周波用伝送線路７に接続した
測定器を用いて電磁波の電力値を求めることによ
つて高周波用伝送線路７の漏れ電磁波の絶対的な
全電力値を求めることができる。また、必要に応
じて周波数について掃引することもできるし、ま
たは、例えば図示しないＸ−Ｙレコーダーなどに
よつて記録することもできる。
また、これらの測定の前に、この漏れ電磁波測
定装置６や各測定器などを校正する必要性がある
場合は、例えば四次反射板４部にあるアンテナ５
と同じ構造のアンテナを一次反射板１に取りつけ
て、それを基準アンテナとしてもよい。
定装置６や各測定器などを校正する必要性がある
場合は、例えば四次反射板４部にあるアンテナ５
と同じ構造のアンテナを一次反射板１に取りつけ
て、それを基準アンテナとしてもよい。
また、これらの各反射板は、全て同じ形状や同
じ大きさの物ばかりではなく、必要に応じて異な
る形状や異なる大きさの反射板を組み合わせても
構わない。さらに、これらの各反射板の焦点位置
は、一直線上に並ぶ必要性はなく、それぞれ向か
い合う反射板同志の関係を保ち、且つそれ以前か
らの漏れ電磁波を受けて、それを次の反射板に全
てまたは一定の率だけ送り出すことが守られてい
れば、それぞれ角度をもつても構わない。
じ大きさの物ばかりではなく、必要に応じて異な
る形状や異なる大きさの反射板を組み合わせても
構わない。さらに、これらの各反射板の焦点位置
は、一直線上に並ぶ必要性はなく、それぞれ向か
い合う反射板同志の関係を保ち、且つそれ以前か
らの漏れ電磁波を受けて、それを次の反射板に全
てまたは一定の率だけ送り出すことが守られてい
れば、それぞれ角度をもつても構わない。
発明者は、前記の基準アンテナと、シールド密
度60％の一重編組シールド付50Ω同軸ケーブル
と、シールド密度95％の一重横巻シールド付50Ω
同軸ケーブルと、シールド密度95％の一重編組シ
ールド付50Ω同軸ケーブルと、シールド密度95％
の二重編組シールド付50Ω同軸ケーブルと、50Ω
セミリジツトケーブルとを、前記の寸法構造の漏
れ電磁波測定装置６を用いてネツトワークアナラ
イザーによつて測定した結果、8GHzから18GHz
の間、共振すること無く連続的に測定され、この
測定結果は再現性があることを確認した。また、
ノイズレベルがマイナス120dBに維持されてお
り、このことにより、シールドルーム無しで測定
することが可能であることを示している。さら
に、この測定結果はミル規格（MIL）−Ｔ−
81490による漏れ電磁波の測定結果と比較したと
き、良い相関を示した。さらに、この測定結果は
理論的に比較調査されて、準静電界と誘導電磁界
の影響を排除し、理想的な漏れ電磁波のみを測定
することを確認した。
度60％の一重編組シールド付50Ω同軸ケーブル
と、シールド密度95％の一重横巻シールド付50Ω
同軸ケーブルと、シールド密度95％の一重編組シ
ールド付50Ω同軸ケーブルと、シールド密度95％
の二重編組シールド付50Ω同軸ケーブルと、50Ω
セミリジツトケーブルとを、前記の寸法構造の漏
れ電磁波測定装置６を用いてネツトワークアナラ
イザーによつて測定した結果、8GHzから18GHz
の間、共振すること無く連続的に測定され、この
測定結果は再現性があることを確認した。また、
ノイズレベルがマイナス120dBに維持されてお
り、このことにより、シールドルーム無しで測定
することが可能であることを示している。さら
に、この測定結果はミル規格（MIL）−Ｔ−
81490による漏れ電磁波の測定結果と比較したと
き、良い相関を示した。さらに、この測定結果は
理論的に比較調査されて、準静電界と誘導電磁界
の影響を排除し、理想的な漏れ電磁波のみを測定
することを確認した。
第２図は本発明による一実施例を示す異なる漏
れ電磁波測定装置の斜視図である。第２図に基ず
いて説明すると、凹曲面を有する一次反射板８
と、この一次反射板８の凹曲面に向かい合い且つ
この一次反射板８を焦点近傍位置とする凹曲面を
有する二次反射板９と、この二次反射板９の凹曲
面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三
次反射板１０と、この三次反射板１０の凹曲面に
向かい合い且つこの三次反射板１０の焦点近傍位
置に配した凹曲面を有する四次反射板１１と、こ
の四次反射板１１の凹曲面に配したアンテナ１２
とを備え、前記の一次反射板８の凹曲面と前記の
四次反射板１１の凹曲面とを向き合わない方向に
配してなることを特徴とする漏れ電磁波測定装置
１３を構成する。
れ電磁波測定装置の斜視図である。第２図に基ず
いて説明すると、凹曲面を有する一次反射板８
と、この一次反射板８の凹曲面に向かい合い且つ
この一次反射板８を焦点近傍位置とする凹曲面を
有する二次反射板９と、この二次反射板９の凹曲
面に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三
次反射板１０と、この三次反射板１０の凹曲面に
向かい合い且つこの三次反射板１０の焦点近傍位
置に配した凹曲面を有する四次反射板１１と、こ
の四次反射板１１の凹曲面に配したアンテナ１２
とを備え、前記の一次反射板８の凹曲面と前記の
四次反射板１１の凹曲面とを向き合わない方向に
配してなることを特徴とする漏れ電磁波測定装置
１３を構成する。
ただし、前記の一次反射板８、二次反射板９、
三次反射板１０、四次反射板１１の形状は、例え
ば空洞の球を二つに分割させた球の内面の凹曲面
を用いるとか、放物線の軸を中心に回転させた放
物曲面を内面とする凹曲面を用いるとか、その
他、焦点をもつ凹曲面を用いることが好ましく、
少なくとも二次反射板には、前記の焦点をもつ凹
曲面を用いることとする。また、これらの各反射
板は、全て同じ形状や同じ大きさの物ばかりでは
なく、必要に応じて異なる形状や異なる大きさの
反射板を組み合わせても構わない。さらに、これ
らの各反射板の中心は、一直線上に並ぶ必要性は
なく、それぞれ向かい合う反射板同志の関係を保
ち、且つそれ以前からの漏れ電磁波を受けて、そ
れを次の反射板に全てまたは一定の率だけ送り出
すことが守られていれば、それぞれ角度をもつて
も構わない。
三次反射板１０、四次反射板１１の形状は、例え
ば空洞の球を二つに分割させた球の内面の凹曲面
を用いるとか、放物線の軸を中心に回転させた放
物曲面を内面とする凹曲面を用いるとか、その
他、焦点をもつ凹曲面を用いることが好ましく、
少なくとも二次反射板には、前記の焦点をもつ凹
曲面を用いることとする。また、これらの各反射
板は、全て同じ形状や同じ大きさの物ばかりでは
なく、必要に応じて異なる形状や異なる大きさの
反射板を組み合わせても構わない。さらに、これ
らの各反射板の中心は、一直線上に並ぶ必要性は
なく、それぞれ向かい合う反射板同志の関係を保
ち、且つそれ以前からの漏れ電磁波を受けて、そ
れを次の反射板に全てまたは一定の率だけ送り出
すことが守られていれば、それぞれ角度をもつて
も構わない。
この漏れ電磁波測定装置１３は、主として、実
際上に点状であると判断できるデジタル機器から
発生する漏れ電磁波のためである。また、実際は
漏れ電磁波測定装置１３の各部品は図示しない支
柱や梁などによつて支えられている。この漏れ電
磁波測定装置１３を使用する際には、まず、図示
しない被測定物であるデジタル機器を一次反射板
８の凹曲面に置き、次に四次反射板１１の凹曲面
にあるアンテナ１２に例えば図示しないスイープ
オシレーターなどを接続して、そのアンテナ１２
から発する電磁波を四次反射板１１、三次反射板
１０、二次反射板９、一次反射板８の順番に反射
されて最終的に被測定物に集め、被測定物に接続
した例えばネツトワークアナライザーなどの測定
器を用いて電磁波の電力値を求めることによつ
て、図示しない被測定物の漏れ電磁波の絶対的な
全電力値を求めることができる。また、必要に応
じて周波数について掃引することもできるし、ま
たは、例えば図示しないＸ−Ｙレコーダーなどに
よつて記録することもできる。
際上に点状であると判断できるデジタル機器から
発生する漏れ電磁波のためである。また、実際は
漏れ電磁波測定装置１３の各部品は図示しない支
柱や梁などによつて支えられている。この漏れ電
磁波測定装置１３を使用する際には、まず、図示
しない被測定物であるデジタル機器を一次反射板
８の凹曲面に置き、次に四次反射板１１の凹曲面
にあるアンテナ１２に例えば図示しないスイープ
オシレーターなどを接続して、そのアンテナ１２
から発する電磁波を四次反射板１１、三次反射板
１０、二次反射板９、一次反射板８の順番に反射
されて最終的に被測定物に集め、被測定物に接続
した例えばネツトワークアナライザーなどの測定
器を用いて電磁波の電力値を求めることによつ
て、図示しない被測定物の漏れ電磁波の絶対的な
全電力値を求めることができる。また、必要に応
じて周波数について掃引することもできるし、ま
たは、例えば図示しないＸ−Ｙレコーダーなどに
よつて記録することもできる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、被測定
物を収納対向する凹曲面を有する一次反射板と、
この一次反射板の凹曲面に向かい合い且つこの一
次反射板の凹曲面に向かい合い且つこの一次反射
板を焦点近傍する凹曲面を有する二次反射板と、
この二次反射板の凹曲面に向かい合い且つ焦点を
もつ凹曲面を有する三次反射板と、この三次反射
板の凹曲面に向かい合い且つこの三次反射板の焦
点近傍位置に配した凹曲面を有する四次反射板
と、この四次反射板の凹曲面に配したアンテナと
を備え、前記の一次反射板の凹曲面と前記の四次
反射板の凹曲面とを向き合わない方向に配してな
ることを特徴とする漏れ電磁波測定装置を構成す
るので、シールドルームを必要とせず、広い周波
数について掃引することができ、準静電界と誘導
電磁界の影響を排除し、漏れ電磁波を他の標準と
するデジタル機器の漏れ電磁波の電力値に対する
相対的な電力値との比較するのではなく、絶対的
な電力値を求めることができるなどの特有の効果
を有する。
物を収納対向する凹曲面を有する一次反射板と、
この一次反射板の凹曲面に向かい合い且つこの一
次反射板の凹曲面に向かい合い且つこの一次反射
板を焦点近傍する凹曲面を有する二次反射板と、
この二次反射板の凹曲面に向かい合い且つ焦点を
もつ凹曲面を有する三次反射板と、この三次反射
板の凹曲面に向かい合い且つこの三次反射板の焦
点近傍位置に配した凹曲面を有する四次反射板
と、この四次反射板の凹曲面に配したアンテナと
を備え、前記の一次反射板の凹曲面と前記の四次
反射板の凹曲面とを向き合わない方向に配してな
ることを特徴とする漏れ電磁波測定装置を構成す
るので、シールドルームを必要とせず、広い周波
数について掃引することができ、準静電界と誘導
電磁界の影響を排除し、漏れ電磁波を他の標準と
するデジタル機器の漏れ電磁波の電力値に対する
相対的な電力値との比較するのではなく、絶対的
な電力値を求めることができるなどの特有の効果
を有する。
なお、本発明は、上記実施例に限定されるもの
ではなく、例えば各反射板やアンテナの寸法構造
や材料を変えることや、めつきや被覆を施すと
か、漏れ電磁波測定装置の周囲に壁や箱を設ける
ことなど、本発明の技術思想内で様々の変更はも
ちろん可能である。
ではなく、例えば各反射板やアンテナの寸法構造
や材料を変えることや、めつきや被覆を施すと
か、漏れ電磁波測定装置の周囲に壁や箱を設ける
ことなど、本発明の技術思想内で様々の変更はも
ちろん可能である。
第１図は本発明による一実施例を示す漏れ電磁
波測定装置の斜視図、第２図は本発明による一実
施例を示す異なる漏れ電磁波測定装置の斜視図で
ある。 １，８……一次反射板、２，９……二次反射
板、３，１０……三次反射板、４，１１……四次
反射板、５，１２……アンテナ、７……高周波用
伝送線路、６，１３……漏れ電磁波測定装置。
波測定装置の斜視図、第２図は本発明による一実
施例を示す異なる漏れ電磁波測定装置の斜視図で
ある。 １，８……一次反射板、２，９……二次反射
板、３，１０……三次反射板、４，１１……四次
反射板、５，１２……アンテナ、７……高周波用
伝送線路、６，１３……漏れ電磁波測定装置。
Claims (1)
- １ 被測定物を収納対向する凹曲面を有する一次
反射板と、この一次反射板の凹曲面に向かい合い
且つこの一次反射板位置近傍を焦点とする凹曲面
を有する二次反射板と、この二次反射板の凹曲面
に向かい合い且つ焦点をもつ凹曲面を有する三次
反射板と、この三次反射板の凹曲面に向かい合い
且つこの三次反射板の焦点近傍位置に配した凹曲
面を有する四次反射板と、この四次反射板の凹曲
面に対向して配したアンテナと、このアンテナに
高周波電磁波を入力して、アンテナより発射され
て被測定物に至る電磁波を計測する測定器とを備
える漏れ電磁波測定装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279553A JPH02126164A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 漏れ電磁波測定装置 |
| AU41154/89A AU4115489A (en) | 1988-11-02 | 1989-09-07 | Device for measuring electromagnetic wave leakage |
| US07/408,631 US4970455A (en) | 1988-11-02 | 1989-09-18 | Device for measuring electromagnetic wave leakage |
| EP89310856A EP0367462A1 (en) | 1988-11-02 | 1989-10-20 | Measurement of electromagnetic wave leakage |
| GB8923680A GB2224580A (en) | 1988-11-02 | 1989-10-20 | Measuring electromagnetic fields |
| KR1019890015940A KR910010194A (ko) | 1988-11-02 | 1989-11-02 | 누설 전자파 측정장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279553A JPH02126164A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 漏れ電磁波測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02126164A JPH02126164A (ja) | 1990-05-15 |
| JPH0517506B2 true JPH0517506B2 (ja) | 1993-03-09 |
Family
ID=17612570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63279553A Granted JPH02126164A (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | 漏れ電磁波測定装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4970455A (ja) |
| EP (1) | EP0367462A1 (ja) |
| JP (1) | JPH02126164A (ja) |
| KR (1) | KR910010194A (ja) |
| AU (1) | AU4115489A (ja) |
| GB (1) | GB2224580A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100446617B1 (ko) * | 2001-11-01 | 2004-09-04 | 삼성전자주식회사 | 안테나 장치 |
| JP2006242677A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 漏洩電磁界情報評価方法およびこの方法が実装された漏洩電磁界情報評価システム |
| US7323884B2 (en) * | 2005-12-30 | 2008-01-29 | Psion Teklogix Inc. | RF test chamber |
| US8229690B2 (en) * | 2008-09-18 | 2012-07-24 | Airbus Operations Gmbh | Test device and a method for carrying out a function test on a communication system |
| DE102008042208B4 (de) * | 2008-09-18 | 2015-06-03 | Airbus Operations Gmbh | Testvorrichtung und Verfahren zur Durchführung eines Funkionstests eines Kommunikationssystems |
| KR101009630B1 (ko) * | 2008-11-04 | 2011-01-21 | 한국전자통신연구원 | 안테나 방사 성능 측정 장치 및 그 설계 방법 |
| CN112763810A (zh) * | 2020-12-28 | 2021-05-07 | 河北科技师范学院 | 一种计算机数字视频信息电磁泄漏检测装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3276022A (en) * | 1964-05-13 | 1966-09-27 | Aeronca Mfg Corp | Dual frequency gregorian-newtonian antenna system with newtonian feed located at common focus of parabolic main dish and ellipsoidal sub-dish |
| GB1421897A (en) * | 1973-05-24 | 1976-01-21 | Bruker Physik Ag | Spectrometers |
| US4311387A (en) * | 1979-12-14 | 1982-01-19 | The Perkin-Elmer Corporation | Flow-through sample cell and collecting and illuminating optics for liquid chromatography |
| US4305660A (en) * | 1980-06-27 | 1981-12-15 | Farrand Optical Co., Inc. | Recording transmission and emission spectra |
-
1988
- 1988-11-02 JP JP63279553A patent/JPH02126164A/ja active Granted
-
1989
- 1989-09-07 AU AU41154/89A patent/AU4115489A/en not_active Abandoned
- 1989-09-18 US US07/408,631 patent/US4970455A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-10-20 EP EP89310856A patent/EP0367462A1/en not_active Withdrawn
- 1989-10-20 GB GB8923680A patent/GB2224580A/en not_active Withdrawn
- 1989-11-02 KR KR1019890015940A patent/KR910010194A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4970455A (en) | 1990-11-13 |
| GB2224580A (en) | 1990-05-09 |
| KR910010194A (ko) | 1991-06-29 |
| JPH02126164A (ja) | 1990-05-15 |
| EP0367462A1 (en) | 1990-05-09 |
| GB8923680D0 (en) | 1989-12-06 |
| AU4115489A (en) | 1990-05-10 |
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