JPH05172588A - アブソリュートエンコーダ - Google Patents

アブソリュートエンコーダ

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JPH05172588A
JPH05172588A JP34527791A JP34527791A JPH05172588A JP H05172588 A JPH05172588 A JP H05172588A JP 34527791 A JP34527791 A JP 34527791A JP 34527791 A JP34527791 A JP 34527791A JP H05172588 A JPH05172588 A JP H05172588A
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JP
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bit
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Mitsutaka Abe
満孝 阿部
Tetsuya Chiba
哲也 千葉
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Sokkia Co Ltd
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Sokkia Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 任意な分解能を有するシリアルコード形式の
アブソリュートエンコーダを得る。 【構成】 回転可能な目盛板1の周縁には、全周に亘っ
て広狭2種のスリット2が形成されている。広い幅のス
リットはビットの「1」、狭い幅のスリットは「0」に
対応する。この広狭2種のスリット2から成るビット系
列は、(2k−1)ビット(kは指数)の循環乱数コード
であるM系列の中の隣り合う(k−1)ビットが任意の
ビット列の隣り合う(k−1)ビットと同じコードのビ
ット列に来たとき前記任意のビット列に飛ばしてM系列
より小さい循環乱数コードを形成する。発光ダイオード
3から出射した光はスリット2を経てイメージセンサ7
に入力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、M系列コードを用いた
アブソリュートエンコーダに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、アブソリュートエンコーダとし
て、グレイコードを用いた目盛板を利用したものが知ら
れている。このエンコーダは、高い分解能を得ることが
困難であるため、内挿用の特別な目盛を設けて分解能を
上げていた。したがって、このエンコーダでは、目盛板
が複雑になり、高い精度の目盛板の製造が難しく、ま
た、目盛板読み取り装置も複雑でコストが高い欠点があ
った。
【0003】この欠点を改善するものとして、M系列コ
ードを用いたアブソリュートエンコーダが提案されてい
る(特開平2−132324号公報)。
【0004】これは、円盤にM系列に0を加えた数(例
えばkビットの場合は2k、但し、kは指数、以下同様)
のスリットを配列したもので、2kの分解能が得られ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記M系列コードを用
いたアブソリュートエンコーダは、スリットの数に対応
した分解能2kに限られるため、任意の分解能を得るこ
とが困難であった。本発明は、任意の分解能を得ること
ができるアブソリュートエンコーダを提供することをそ
の目的としたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1記載の発明は、(2k−1)ビット(kは
指数)の循環乱数コードであるM系列の中の任意の隣り
合う(k−1)ビットがこのM系列中の別の場所で全く
同じコードの隣り合う(k−1)ビットのビット列に来
たとき前記任意のビット列に飛ばしてM系列よりも小さ
い(k+1)〜(2k−2)の任意の長さの循環乱数コ
ードであるビット系列を作り、このビット系列を基板上
にパターンとして形成して成る目盛板と、該目盛板のパ
ターンを読み取る手段と、該手段で読み取ったビット列
のパターンから被測定体の絶対位置を求める手段とを具
備することを特徴とし、請求項2記載の発明は、(2k
−1)ビット(kは指数)の循環乱数コードであるM系
列の中の任意の隣り合う(k−1)ビットがこのM系列
中の別の場所で全く同じコードの隣り合う(k−1)ビ
ットのビット列に来たとき前記任意のビット列に飛ばし
てM系列より小さい(k+1)〜(2k−2)の任意の
長さの循環乱数コードであるビット系列を作り、このビ
ット系列を基板上に、ピッチが一定に配列され且つ広狭
2種の透光部又は不透光部から成るパターンとして形成
して成る目盛板と、該目盛板のパターン形成部を挾んで
光学的に対設された透光部及びイメージセンサと、該イ
メージセンサ上のビット列のパターンに対応した像から
被測定体の絶対位置を求めると共に該ビット列のパター
ンに対応した像の重心の、イメージセンサ上の基準位置
からの距離(重心位置)を求め、前記絶対位置から該重
心位置を差し引いて被測定体の高分解能絶対位置を求め
る手段とを具備することを特徴とする。
【0007】
【作用】M系列は、2k−1個のビットを並べ、その先
頭と後端とをつないでリング状にビットを並べたとき、
その隣り合ったk個のビット列のパターンが、リング状
に並べられたビット列の他のどの場所にも同じパターン
で並べられたビット列がないことを特徴としている。
【0008】このM系列において、隣り合ったk−1個
のビット列に注目すると、このM系列上にもう一ヶ所だ
け同じように並べられたパターンがあるはずである。す
なわち、k−1個のビット列の並びの次には、一方がビ
ット0ならば他方がビット1であるというように別々の
ビットがくるのはM系列の特性から当然である。このk
−1個のビット列から同じパターンのk−1個のビット
列までの間隔(あるk−1個のビット列の先頭から同じ
パターンで並んでいるビット列の先頭まで並んでいるビ
ット列の数)を、すべて0のビットを除いて(M系列上
に隣り合ったk個のビットが0のパターンはないので、
0がk−1個並んでいるパターンも1個所しかない)す
べてのk−1個のビットでできるビット列パターンにつ
いて調べてみると、その間隔が1〜2k−2まですべて
そろっていることが判る(あるk−1個のパターンから
それと同じ並びのパターンまでの間隔は、そのどちらか
ら数え始めるかによって2パターン存在する。)。
【0009】したがって、M系列の規則に従ってビット
列を並べると、2k−1個目で始めて先頭に戻ることに
なっている系列を、途中1個所で本来ビット0がくると
ころをビット1がくるようにすると、他の場所ではすべ
てM系列の規則に従わせても、いろいろな大きさのリン
グ状に並べられたビット列は、隣り合ったk個のビット
がすべてユニークな系列ができる。このリング状のビッ
ト列全体の大きさは、互いに同じパターンのk−1個の
ビット列の間隔が1〜2k−2までそろっていることに
より、k+1個(k個のビット列が2つ以上存在するた
めに最低必要な数)から2k−2個まで自由に選べるこ
とが判る。したがって、M系列で本来0が来るところを
ビット1が来るようにする時に、その場所の選び方によ
って、隣り合ったk個のビット列のパターンのユニーク
さを保ちながら自由な長さ(k+1個から2k−2個ま
で)のリング状の系列を作ることができ、所望の分解能
をもつ目盛板を作ることができる。
【0010】この目盛板のパターン形成部に対設するイ
メージセンサ上に形成されたビット列のパターンに対応
した像から被測定体の絶対位置が求められ、該ビット列
のパターンに対応した像の重心の、イメージセンサ上の
基準位置からの距離(重心位置)から内挿値を得ること
ができ、該被測定体の絶対位置から内挿値を差し引くこ
とによって高分解能の絶対位置が得られる。
【0011】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図1乃至図3において、1は図示しない回転軸に回
転自在に支承された目盛板で、この目盛板の周縁部に
は、全周に亘ってビット系列を形成するスリット2が設
けられている。目盛板1の下方には、発光ダイオード
3、コリメーションレンズ4及びプリズム5から成る送
光部6が配設され、上方には、例えばCCDのリニアイ
メージセンサ7、レンズ8、9及びプリズム10から成
る受光部11が配設され、発光ダイオード3から出射し
た光がコリメーションレンズ4、プリズム5を経てスリ
ット2を通り、プリズム10、レンズ8、9を経てリニ
アイメージセンサ7に入射するようになっており、目盛
板1のパターンを読み取る手段を構成している。前記ス
リット2は、図2に示すように、広狭2種のスリット2
1、22から成り、一定のピッチで形成されている。幅の
広いスリット21は、ビット「1」に対応し、幅の狭い
スリット22は、ビット「0」に対応する。分解能が1
0′のエンコーダでは、前記目盛板1のスリット数S
は、360度=S×分解能(10/60度)よりS=2
160個となる。M系列のビット数は、k=12のとき
は、212−1=4095、k=11のときは211−1=
2047であるので、k=12、即ち、12個のビット
列まで作ったM系列に注目する。このM系列は、「00
000 00000 01010………11100 1
0110 11011」となり、「00000 000
00 01」から「0000 00000 010」
「00000000 0101」を経て「00 101
10 11011」までの4095個の互いに異なるビ
ット列から成るコードが並ぶ循環乱数コードである。こ
こで、今、任意の「ab cdefg hijk
(a〜lはすべて「0」又は「1」である。)なる12
個のビット列から成るコードに注目する。この「abc
defg hijk」なるコードはM系列(4095
個のビット列)の中では唯一個しか存在しないが、最後
の「l」のみ異なるコード「ab cdefghijk
」(m≠l)は、M系列のどこにあるのか不明である
が、他の1個だけ存在する。そこで、最後の「l」を除
いた「ab cdefg hijk−」なるコードであ
って、これと前記「ab cdefg hijkl」と
の間のビット列の数が2160となるコードをコンピュ
ータで求める。12ビットのM系列では、「01 11
111 11000」と「01 11111 1100
1」との間が2160個のビット列として求められた。
そこで、「01 11111 11000」から「01
11111 11001」までの「0」と「1」のビ
ット列に相当するスリット2が目盛板1のガラス基盤に
形成することにより、10′の分解能のロータリエンコ
ーダが得られる。
【0012】図3は前記実施例のブロック図である。前
記リニアイメージセンサ7の出力は、増幅器12及びA
−Dコンバータ13を介してマイクロコンピュータ14
に接続されている。マイクロコンピュータ14は、発振
器15に接続されたタイミングゲート16をコントロー
ルし、タイミングゲート16はリニアイメージセンサ7
を駆動すると共にリニアイメージセンサ7のダイナミッ
クレンジを広くするために発光ダイオード3の発光時間
をコントロールするようになっている。前記マイクロコ
ンピュータ14は、リニアイメージセンサ7で読み取っ
たパターンから被測定体の絶対位置、この実施例では絶
対角度を算出する手段を構成し、この絶対角度はディス
プレス17に表示される。これを更に詳細に説明する
と、リニアイメージセンサ7上のスリット21、22の像
の明るさの分布は、例えば図4に示すような曲線Lにな
り、リニアイメージセンサ7の各受光セル(CCDセ
ル)は、ある大きさをもっているため棒グラフで示すよ
うな大きさの出力信号を出力する。マイクロコンピュー
タ14は、各受光セルの出力を順番に調べながら出力信
号の極小値と極大値をサーチし、それによってスリット
2の1つ1つを区別し、それぞれのスリットの像を出力
信号の集合から求める。すなわち、それぞれのスリット
1、22の像を、像に対応する出力信号の集合である棒
グラフの面積を計算することによってスリット2が広い
か狭いかを識別することができる。このスリット21
2の広狭の識別を目盛板1のシリアルコードの例えば
12ビットのビット列に対応するスリット像について行
ない、マイクロコンピュータ14のROM内にあるアブ
ソリュート角度のコードと比較することによりアブソリ
ュート角度を算出する。
【0013】この算出されるアブソリュート角度の分解
能は、360°/S(S;スリット数)であり、それ以
上の分解能を得るには、重心法による内挿を行なう。
【0014】図5に示すように、1つのスリットの像の
重心GP、すなわち、像の明るさの曲線Lの左右のバラ
ンスから見た中心位置は、各受光セルの出力である棒グ
ラフの全体の重心位置と一致しており、次のようにして
求められる。
【0015】 n;受光セル番号 CEL(n)=受光セル番号nの受光セルの出力 この重心GPの位置は、リニアイメージセンサ7の基準
位置から注目している像の中心位置までの距離を表わし
ている。
【0016】そこで、図6に示すようにリニアイメージ
センサ7上の例えば5個のスリット2の像i−2、i−
1、i、i+1、i+2の各重心のリニアイメージセン
サ7上の基準位置からの距離(重心位置)を前記のよう
にして求め、これらを平均することによって、全体の像
の重心GP位置すなわちリニアイメージセンサ7上の基
準位置から重心GPまでの距離D2を求めて内挿値を得
る。
【0017】分解能360°/Sの前記アブソリュート
角度D1は目標原点からリニアイメージセンサ7上の基
準位置からi番目のスリット位置までの角度を表わして
おり、i番目のスリット位置と全体の像の重心位置GP
とは一致しているので、D1−D2によって目盛原点から
リニアイメージセンサ7上の基準位置までの高分解能角
度データを得る。
【0018】以上の内挿値の計算が前記高分解能角度デ
ータはいずれも前記マイクロコンピュータ14によって
行なう。
【0019】重心法による内挿の分解能は、A−Dコン
バータ13の電圧分解能及びリニアイメージセンサ7の
分解能(セルの大きさ)によって決まる。A−Dコンバ
ータ13は、高分解能のものが容易に入手できる。リニ
アイメージセンサ7のCCDのセルの大きさは、細かい
もので数ミクロンであり、受光系レンズによって像を拡
大すれば、相対的に分解能が向上する。この重心法の内
挿によると、内挿用の特別な目盛や読み取り装置が不要
であるため、簡単な構造で実現でき、コストが下げられ
る。
【0020】上記実施例では、光を透過するスリットの
パターンでビット列を表現したが、透過/不透過が逆の
パターンでビット列を表現してもよい。また、上記実施
例では送光部6及び受光部11を1組設けたが目盛板1
の直径上の対向する位置にもう一組設けてもよく、この
ようにすれば目盛板の偏心誤差を計算で除くことができ
る。尚、本発明のエンコーダは、光反射型その他のエン
コーダにも適用できる。また、ロータリエンコーダだけ
でなく、リニアスケールを用いたエンコーダにも適用で
きる。
【0021】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、任意の分
解能のエンコーダを得ることができる。請求項2記載の
発明によれば、任意な高分解能のエンコーダを得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例の主要部の斜視図
【図2】 上記実施例の目盛板の一部の平面図
【図3】 上記実施例のブロック図
【図4】 リニアイメージセンサ上のスリットの像と各
受光セルの出力との関係図
【図5】 リニアイメージセンサ上の1スリットの像の
重心位置の説明図
【図6】 アブソリュート角度及び内挿値と高分解能角
度データとの関係の説明図
【符号の説明】
1 目盛板 2 スリット 21 幅の広いスリット 22 幅の狭いスリッ
ト 3 発光ダイオード 7 リニアイメージセ
ンサ 14 マイクロコンピュータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (2k−1)ビット(kは指数)の循環乱
    数コードであるM系列の中の任意の隣り合う(k−1)
    ビットがこのM系列中の別の場所で全く同じコードの隣
    り合う(k−1)ビットのビット列に来たとき前記任意
    のビット列に飛ばしてM系列よりも小さい(k+1)〜
    (2k−2)の任意の長さの循環乱数コードであるビッ
    ト系列を作り、このビット系列を基板上にパターンとし
    て形成して成る目盛板と、該目盛板のパターンを読み取
    る手段と、該手段で読み取ったビット列のパターンから
    被測定体の絶対位置を求める手段とを具備することを特
    徴とするアブソリュートエンコーダ。
  2. 【請求項2】 (2k−1)ビット(kは指数)の循環乱
    数コードであるM系列の中の任意の隣り合う(k−1)
    ビットがこのM系列中の別の場所で全く同じコードの隣
    り合う(k−1)ビットのビット列に来たとき前記任意
    のビット列に飛ばしてM系列より小さい(k+1)〜
    (2k−2)の任意の長さの循環乱数コードであるビッ
    ト系列を作り、このビット系列を基板上に、ピッチが一
    定に配列され且つ広狭2種の透光部又は不透光部から成
    るパターンとして形成して成る目盛板と、該目盛板のパ
    ターン形成部を挾んで光学的に対設された透光部及びイ
    メージセンサと、該イメージセンサ上のビット列のパタ
    ーンに対応した像から被測定体の絶対位置を求めると共
    に該ビット列のパターンに対応した像の重心の、イメー
    ジセンサ上の基準位置からの距離(重心位置)を求め、
    前記絶対位置から該重心位置を差し引いて被測定体の高
    分解能絶対位置を求める手段とを具備することを特徴と
    するアブソリュートエンコーダ。
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