JPH05166819A - Wafer heat treatment device - Google Patents
Wafer heat treatment deviceInfo
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- JPH05166819A JPH05166819A JP33648591A JP33648591A JPH05166819A JP H05166819 A JPH05166819 A JP H05166819A JP 33648591 A JP33648591 A JP 33648591A JP 33648591 A JP33648591 A JP 33648591A JP H05166819 A JPH05166819 A JP H05166819A
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- heat treatment
- wafer
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- treatment device
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- Pending
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造工程におけ
るウエハの熱処理装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer heat treatment apparatus in a semiconductor manufacturing process.
【0002】[0002]
【従来の技術】図3はウエハの熱処理装置の従来例を示
す断面図である。この図において、1は熱処理されるウ
エハ、2は前記ウエハ1を乗せるボート、3は石英また
はSiCなどで形成されたチューブ、3aは前記チュー
ブ3の挿入口、4は前記チューブ3内にウエハ1のボー
ト2を挿入するためのフォーク、5は前記チューブ3を
封止するためのキャップ、6は温度コントロールするた
めのヒータで、抵抗加熱,高周波加熱等が用いられる。
7は前記チューブ3内に特定のガスを導入してガス雰囲
気の中に保持するためのガスシステム、8は前記チュー
ブ3内のガスを排出する排気システムである。2. Description of the Related Art FIG. 3 is a sectional view showing a conventional example of a wafer heat treatment apparatus. In this figure, 1 is a wafer to be heat-treated, 2 is a boat on which the wafer 1 is placed, 3 is a tube made of quartz or SiC, 3 a is an insertion port of the tube 3, 4 is the wafer 1 in the tube 3. Fork for inserting the boat 2 therein, 5 is a cap for sealing the tube 3, 6 is a heater for controlling the temperature, and resistance heating, high frequency heating or the like is used.
Reference numeral 7 is a gas system for introducing a specific gas into the tube 3 and maintaining it in a gas atmosphere, and 8 is an exhaust system for discharging the gas in the tube 3.
【0003】次に、動作について説明する。ウエハ1を
ボート2に乗せてからフォーク4で挿入口3aからチュ
ーブ3内へ挿入する。この時、キャップ5はチューブ3
に対して自動的にふたをするようになっている。また、
チューブ3内へはガスシステム7から必要なガスが自動
的に導入され、ウエハ1の熱処理を行っている。熱処理
完了後は、フォーク4でウエハ1の乗ったボート2を引
き出す。この時、キャップ5は自動的に取り外されるよ
うになっている。また、チューブ3は熱処理装置の構造
上ヒータ6に固定されているので、チューブ6の定期洗
浄,寿命がきたときの交換,または品種変更による用途
変更するときなどはヒータ6の温度を下げてから行って
いた。Next, the operation will be described. The wafer 1 is placed on the boat 2 and then inserted into the tube 3 from the insertion opening 3 a by the fork 4. At this time, the cap 5 is the tube 3
It is designed to automatically cover the lid. Also,
The necessary gas is automatically introduced into the tube 3 from the gas system 7 to heat the wafer 1. After the heat treatment is completed, the fork 4 pulls out the boat 2 on which the wafer 1 is mounted. At this time, the cap 5 is automatically removed. In addition, since the tube 3 is fixed to the heater 6 due to the structure of the heat treatment apparatus, the temperature of the heater 6 should be lowered after regular cleaning of the tube 6, replacement of the tube 6 when it reaches the end of its life, or when the application is changed by changing the product type. I was going.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来のウエハの熱処理
装置は、上記のように構成されているので、チューブ3
を交換するときは、チューブ3の温度を下げてから行う
ため、交換に長時間必要であり、その間使用できないと
いう問題点があった。また、ウエハの熱処理装置の使用
用途変更も簡単にできないという問題点があった。Since the conventional wafer heat treatment apparatus is constructed as described above, the tube 3 is used.
Since the tube 3 is exchanged after the temperature of the tube 3 is lowered, there is a problem that the exchange requires a long time and the tube cannot be used during that time. In addition, there is a problem that it is not possible to easily change the intended use of the wafer heat treatment apparatus.
【0005】本発明は、上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、ヒータの温度を下げることなく
熱処理チューブの交換と洗浄ができるとともに、品種変
更による用途変更も簡単にできるウエハの熱処理装置を
得ることを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and a heat treatment tube can be replaced and cleaned without lowering the temperature of the heater, and the application can be easily changed by changing the product type. The purpose is to obtain a heat treatment apparatus of.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明に係るウエハの熱
処理装置は、ウエハが装入され、ガスシステムでコント
ロールされたガスが導入されるガス処理ボックスと、こ
のガス処理ボックスを少なくとも一方向から挿入する挿
入口が形成され、かつヒータでコントロールされた温度
の中でウエハの熱処理を行う熱処理チューブとからなる
ものである。A wafer heat treatment apparatus according to the present invention includes a gas processing box in which a wafer is loaded and a gas controlled by a gas system is introduced, and the gas processing box is provided from at least one direction. The heat treatment tube is provided with an insertion port for inserting and heat-treats a wafer at a temperature controlled by a heater.
【0007】[0007]
【作用】本発明におけるウエハの熱処理装置は、ガスが
導入されたガス処理ボックスの中にウエハを挿入したの
で、熱処理チューブの交換,洗浄,または品種変更によ
る用途変更の場合でも、ヒータの温度を下げることなく
簡単に行える。Since the wafer heat treatment apparatus of the present invention inserts the wafer into the gas treatment box into which the gas is introduced, the temperature of the heater can be controlled even when the heat treatment tube is replaced, washed, or the application is changed by changing the product type. Easy to do without lowering.
【0008】[0008]
【実施例】図1は本発明の一実施例を示す断面図であ
る。この図において、図3と同一符号は同一部分を示
し、9は前記ウエハ1の熱処理を行う熱処理チューブ
で、9aは前記熱処理チューブ9の一方向に形成された
挿入口、10は前記ウエハ1のガス処理が行われるガス
処理ボックスで、ウエハ1が装着されたボート2が出し
入れできるように構成されているが、その詳細の図示は
省略してある。11は前記挿入口9aを封止するキャッ
プ、12は排気システムである。1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention. In this figure, the same reference numerals as those in FIG. 3 denote the same parts, 9 is a heat treatment tube for heat treating the wafer 1, 9a is an insertion port formed in one direction of the heat treatment tube 9, and 10 is the wafer 1 A gas processing box in which gas processing is performed is configured so that the boat 2 on which the wafer 1 is mounted can be taken in and out, but details thereof are not shown. Reference numeral 11 is a cap for sealing the insertion opening 9a, and 12 is an exhaust system.
【0009】次に、動作について説明する。ウエハ1を
乗せたボート2をガス処理ボックス10内に挿入し、ガ
スシステム7からのガスを導入してガス雰囲気内に保持
してからフォーク4でガス処理ボックス10をヒータ6
で加熱し、温度がコントロールされている熱処理チュー
ブ9の中へ挿入してウエハ1の熱処理を行う。また、温
度をより安定させるために、熱処理チューブ9の挿入口
9aをキャップ11で封止して熱処理を行う。なお、ガ
スシステム7からのガス処理ボックス10への各ガスの
流量,排気システム12によるガスの排気量のコントロ
ールと、ヒータ6による熱処理チューブ9の温度コント
ロールは、自動的にコントロールできるようになってい
る。次いで、熱処理完了後は、フォーク4でガス処理ボ
ックス10を熱処理チューブ9から取り出す。この時キ
ャップ11は自動的に開くようになっている。Next, the operation will be described. The boat 2 on which the wafer 1 is placed is inserted into the gas processing box 10, the gas from the gas system 7 is introduced and kept in the gas atmosphere, and then the gas processing box 10 is heated by the fork 4 to the heater 6
Then, the wafer 1 is heat-treated by being inserted into the heat treatment tube 9 whose temperature is controlled. Further, in order to further stabilize the temperature, the insertion port 9a of the heat treatment tube 9 is sealed with the cap 11 and heat treatment is performed. The flow rate of each gas from the gas system 7 to the gas processing box 10, the control of the gas exhaust amount by the exhaust system 12, and the temperature control of the heat treatment tube 9 by the heater 6 can be automatically controlled. There is. Next, after the heat treatment is completed, the gas treatment box 10 is taken out from the heat treatment tube 9 with the fork 4. At this time, the cap 11 is automatically opened.
【0010】そして、本発明のウエハの熱処理装置は、
上記のように構成されているため、熱処理チューブ9の
交換,洗浄,または品種変更による用途変更の場合はガ
ス処理ボックス10とボート2を交換するだけでよいの
で、ヒータ6の温度を下げる必要がない。The wafer heat treatment apparatus of the present invention is
Because of the above-described configuration, when the heat treatment tube 9 is replaced, washed, or the application is changed by changing the product type, it is only necessary to replace the gas processing box 10 and the boat 2, so that it is necessary to lower the temperature of the heater 6. Absent.
【0011】なお、上記図1の第1の実施例では、ガス
処理ボックス10を熱処理チューブ9へ出し入れするの
を一方向からのみ行っているが、図2の第2の実施例に
示すように、各ガス処理ボックス10を熱処理チューブ
13の両側に形成した挿入口13a,13bの両方向か
らそれぞれ別個に出し入れできる構造にしてもよい。こ
の時、用途の異なる複数のガス処理ボックス10を組み
合わせて使用することができる。また、用途変更におい
て、ガスシステム7の変更と排気システム12の変更、
例えば専用排気,排気に真空ポンプを取り付ける等によ
り、HCl酸化,減圧酸化,デポジション,LPCVD
等の変更も可能になる。また、熱処理チューブ9は温度
の安定性および熱の放出防止のため密閉状態にしている
が、オープン状態であってもよい。また、上記実施例で
は、ガス処理ボックス10を水平方向に移動させるよう
にした横型の熱処理装置の場合を示しているが、垂直方
向に移動させる縦型の熱処理装置でもよい。In the first embodiment shown in FIG. 1, the gas treatment box 10 is inserted into and removed from the heat treatment tube 9 only from one direction, but as shown in the second embodiment shown in FIG. The gas treatment boxes 10 may be structured so that they can be individually taken in and out from both directions of the insertion ports 13a and 13b formed on both sides of the heat treatment tube 13. At this time, a plurality of gas treatment boxes 10 having different purposes can be used in combination. Further, in changing the application, the gas system 7 and the exhaust system 12 are changed,
For example, exclusive exhaust, by attaching a vacuum pump to the exhaust, HCl oxidation, low pressure oxidation, deposition, LPCVD
It is also possible to change etc. Further, the heat treatment tube 9 is in a closed state for the purpose of temperature stability and heat release prevention, but it may be in an open state. Further, in the above embodiment, the case of the horizontal heat treatment apparatus in which the gas treatment box 10 is moved in the horizontal direction is shown, but a vertical heat treatment apparatus in which the gas treatment box 10 is moved in the vertical direction may be used.
【0012】[0012]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ウエハ
が装入され、ガスシステムでコントロールされたガスが
導入されたガス処理ボックスと、このガス処理ボックス
を少なくとも一方向から挿入する挿入口が形成され、か
つヒータでコントロールされた温度の中でウエハの熱処
理を行う熱処理チューブとからなるので、熱処理チュー
ブの定期洗浄や交換等のダウンタイムが短縮でき、かつ
使用用途の変更も簡単にできる効果がある。As described above, according to the present invention, a gas processing box in which a wafer is loaded and a gas controlled by a gas system is introduced, and an insertion port for inserting the gas processing box from at least one direction. Since the heat treatment tube is formed and heat-treats the wafer at the temperature controlled by the heater, downtime such as regular cleaning and replacement of the heat treatment tube can be shortened, and the use application can be easily changed. effective.
【0013】また、ガス処理ボックスを熱処理チューブ
の両方向からの挿入と取り出しができるようにすれば、
用途の異なるガス処理ボックスの使用ができる利点があ
る。If the gas treatment box can be inserted and removed from both sides of the heat treatment tube,
There is an advantage that gas treatment boxes having different applications can be used.
【図1】本発明の一実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の他の実施例を示す断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing another embodiment of the present invention.
【図3】ウエハの熱処理装置の従来例を示す断面図であ
る。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional example of a wafer heat treatment apparatus.
1 ウエハ 2 ボート 6 ヒータ 7 ガスシステム 9 熱処理チューブ 9a 挿入口 10 ガス処理ボックス 11 キャップ 12 排気システム 13 熱処理チューブ 13a 挿入口 13b 挿入口 1 Wafer 2 Boat 6 Heater 7 Gas System 9 Heat Treatment Tube 9a Insertion Port 10 Gas Processing Box 11 Cap 12 Exhaust System 13 Heat Treatment Tube 13a Insertion Port 13b Insertion Port
Claims (1)
トロールされたガスが導入されるガス処理ボックスと、
このガス処理ボックスを少なくとも一方向から挿入する
挿入口が形成され、かつヒータでコントロールされた温
度の中で前記ウエハの熱処理を行う熱処理チューブとか
らなることを特徴とするウエハの熱処理装置。1. A gas processing box into which a wafer is loaded and a gas controlled by a gas system is introduced,
An apparatus for heat treating a wafer, comprising: a heat treatment tube having an insertion port for inserting the gas treatment box from at least one direction and performing heat treatment of the wafer at a temperature controlled by a heater.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33648591A JPH05166819A (en) | 1991-12-19 | 1991-12-19 | Wafer heat treatment device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33648591A JPH05166819A (en) | 1991-12-19 | 1991-12-19 | Wafer heat treatment device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05166819A true JPH05166819A (en) | 1993-07-02 |
Family
ID=18299622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33648591A Pending JPH05166819A (en) | 1991-12-19 | 1991-12-19 | Wafer heat treatment device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05166819A (en) |
-
1991
- 1991-12-19 JP JP33648591A patent/JPH05166819A/en active Pending
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