JPH05144695A - Aligner - Google Patents

Aligner

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JPH05144695A
JPH05144695A JP3301582A JP30158291A JPH05144695A JP H05144695 A JPH05144695 A JP H05144695A JP 3301582 A JP3301582 A JP 3301582A JP 30158291 A JP30158291 A JP 30158291A JP H05144695 A JPH05144695 A JP H05144695A
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JP
Japan
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reticle
library
exposure apparatus
exposure
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP3301582A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshikazu Sano
義和 佐野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP3301582A priority Critical patent/JPH05144695A/en
Publication of JPH05144695A publication Critical patent/JPH05144695A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/38Masks having auxiliary features, e.g. special coatings or marks for alignment or testing; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/70741Handling masks outside exposure position, e.g. reticle libraries

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Library & Information Science (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PURPOSE:To speed up exposure work and keep a reticle normal, by a method wherein, when the reticle is extracted or accommodated, a recognition mark of the reticle is read in the state that the end portion of the reticle is exposed from a reticle library and stopped. CONSTITUTION:A lot of reticles 1 contained in reticle cassettes 3 are accommodated in a reticle library 4. The position of the reticle cassette 3 is registered in a data storing part 13. The reticle 1 is drawn out by the minimum range capable of reading a bar code 2. Data obtained by reading each bar code 2 and the position of the reticle library 4 are made to correspond with each other, and stored in the data storing part 13. When a specified reticle 1 is taken out from the reticle library 4 and transferred to a reticle stage 10, the data in the data storing part 13 and the data in an exposure condition storing part 15 are compared by a data comparator 16. When coincidence is obtained, exposure conditions are sent from the exposure condition storing part 15 to a temporary storage device 17.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置、液晶表示装
置その他の製造工程においてパターン形成に使用する露
光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure apparatus used for pattern formation in the manufacturing process of semiconductor devices, liquid crystal display devices and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置などの製造工
程において基板上に微細なレジストパターンを形成する
方法に、マスクを基板に密着し露光する密着露光法、マ
スクを基板から少し離して露光する近接露光法または光
学系を用いてレチクルを基板に縮小投影する投影露光法
がある。
2. Description of the Related Art As a method of forming a fine resist pattern on a substrate in a manufacturing process of a semiconductor device, a liquid crystal display device, etc., a contact exposure method of exposing a mask by closely contacting it with the substrate and exposing the mask slightly away from the substrate There is a proximity exposure method or a projection exposure method for reducing and projecting a reticle on a substrate using an optical system.

【0003】近年、パターンの微細化が進むにつれて、
投影露光法においてもレチクルを1:1で基板に投影す
る方法からレチクルを1/5または1/10に縮小して投影す
る方法が主流になってきている。この場合、実際に基板
上に形成するパターンの5倍または10倍のパターンを
クロムまたは酸化クロムなどの薄膜でガラス上に形成し
たレチクルを使用する。一方、露光装置もほぼ完全にコ
ンピュータ制御され、レチクルをセットすることも自動
で行なわれるようになっている。
In recent years, as patterns have been miniaturized,
Also in the projection exposure method, a method of projecting the reticle on the substrate at a ratio of 1: 1 to a method of reducing the reticle to 1/5 or 1/10 has become the mainstream. In this case, a reticle in which a pattern five times or ten times as large as the pattern actually formed on the substrate is formed on glass by a thin film of chromium or chromium oxide is used. On the other hand, the exposure apparatus is almost completely computer-controlled, and the reticle is set automatically.

【0004】以下に従来の露光装置について説明する。
図9は従来の露光装置に使用されるレチクル確認装置の
概略斜視図である。図9において、21はレチクルカセ
ット、22はレチクルカセット21の側面に形成された
バーコード、23はバーコードリーダ、24はレチク
ル、25はレチクル24の表面端部に形成されたバーコ
ード、26はカセット24の受け皿、27はバーコード
リーダ、28a、28bはデコーダである。
A conventional exposure apparatus will be described below.
FIG. 9 is a schematic perspective view of a reticle confirmation apparatus used in a conventional exposure apparatus. In FIG. 9, 21 is a reticle cassette, 22 is a bar code formed on the side surface of the reticle cassette 21, 23 is a bar code reader, 24 is a reticle, 25 is a bar code formed on the surface end of the reticle 24, and 26 is The tray of the cassette 24, 27 is a bar code reader, and 28a and 28b are decoders.

【0005】以上のように構成されたレチクル確認装置
について、以下その動作について説明する。通常レチク
ル24は受け皿26に載せられた状態でレチクルカセッ
ト21に納められており、このレチクルカセット21は
露光装置(図示せず)の通常レチクルライブラリと称す
る収納庫(図示せず)に収納されている。図9はレチク
ルライブラリからレチクルカセット21をA方向に引出
し、さらにレチクルカセット21から受け皿26をA方
向に引き出した状態を示している。まずレチクルカセッ
ト21が引き出される途中でレチクルカセット21の側
面に形成されたバーコード22がバーコードリーダ23
によって読み取られ、次に受け皿26が引き出される途
中でレチクル24の表面端部に形成されたバーコード2
5をバーコードリーダ27で読み取る。このようにして
読み取られた信号はデコーダ28a、28bによって信
号変換され、それぞれのバーコード22、25に書かれ
たデータが読みだされる。
The operation of the reticle confirming apparatus constructed as above will be described below. The normal reticle 24 is stored in a reticle cassette 21 in a state of being placed on a tray 26, and the reticle cassette 21 is stored in a storage box (not shown) called a normal reticle library of an exposure device (not shown). There is. FIG. 9 shows a state in which the reticle cassette 21 is pulled out in the A direction from the reticle library, and the tray 26 is pulled out in the A direction from the reticle cassette 21. First, while the reticle cassette 21 is being pulled out, the barcode 22 formed on the side surface of the reticle cassette 21 is read by the barcode reader 23.
Read by the bar code 2 formed on the surface end of the reticle 24 while the tray 26 is being pulled out next time.
5 is read by the barcode reader 27. The signals thus read are converted by the decoders 28a and 28b, and the data written in the respective bar codes 22 and 25 are read out.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、レチクルライブラリからレチクルカセッ
トを取り出してバーコードを読み取った段階ではそのレ
チクルカセットの中に所定のレチクルが入っているかど
うか確認できず、次にレチクルカセットからレチクルを
引き出した段階でレチクルに形成されたバーコードを読
み取った段階でやっと必要とするレチクルであるかどう
かを判定しており、2重の作業を必要とする上間違った
レチクルであれば差替えのための作業が必要となるな
ど、工程および制御システムが煩雑になるという課題を
有していた。
However, in the above-mentioned conventional configuration, at the stage of taking out the reticle cassette from the reticle library and reading the bar code, it cannot be confirmed whether or not a predetermined reticle is contained in the reticle cassette. Next, when the reticle is pulled out from the reticle cassette, the bar code formed on the reticle is read, and then it is determined whether or not it is the reticle that is finally needed. In that case, there is a problem that the process and the control system become complicated, such as a work for replacing.

【0007】本発明は上記の従来の課題を解決するもの
で、レチクルカセットに納められたレチクルをレチクル
ライブラリに収納した直後にレチクルライブラリの位置
とレチクルとを対応させることのできる露光装置を提供
することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and provides an exposure apparatus capable of associating the position of the reticle library with the reticle immediately after the reticle stored in the reticle cassette is stored in the reticle library. The purpose is to

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の露光装置は、端部に認識マークを有するレチ
クルをレチクルカセットに納めた状態で複数個収納する
レチクルライブラリと、複数個のレチクルから所定の1
枚を選択するレチクル選択手段と、レチクルライブラリ
からレチクルを引き出しまたは収納するための移送治具
と、レチクルを引き出しまたは収納する際にその端部を
レチクルライブラリから露出させて停止した状態でレチ
クルの認識マークを読み取る認識マーク読み取り手段
と、露光光路中に設けられレチクルを固定するレチクル
ステージと、レチクルステージとレチクルライブラリと
の間でレチクルを移送するレチクル移送手段とを備えた
構成を有している。
In order to achieve this object, an exposure apparatus of the present invention comprises a reticle library for accommodating a plurality of reticles each having a recognition mark at its end in a reticle cassette, and a plurality of reticle libraries. 1 from the reticle
Reticle selection means for selecting sheets, a transfer jig for pulling out or storing the reticle from the reticle library, and reticle recognition when the reticle is pulled out or stored and its end is exposed from the reticle library and stopped It has a structure including a recognition mark reading means for reading a mark, a reticle stage provided in the exposure optical path for fixing the reticle, and a reticle transfer means for transferring the reticle between the reticle stage and the reticle library.

【0009】[0009]

【作用】この構成によって、レチクルカセットに納めら
れたレチクルをレチクルライブラリに収納した直後に、
移送治具によってレチクルの端部に形成された認識マー
クが見える程度にレチクルカセットからレチクルを引き
出し、認識マークを読み取って、レチクルライブラリ内
の位置と対応づけて露光装置を制御するコンピュータに
接続されたデータ記憶部に記憶させておくことができ
る。この段階でレチクルライブラリに収納された全ての
レチクルのデータがレチクルライブラリ内の位置と対応
づけられたことになる。
With this configuration, immediately after the reticle stored in the reticle cassette is stored in the reticle library,
The reticle was pulled out from the reticle cassette to the extent that the recognition mark formed on the end of the reticle by the transfer jig was visible, the recognition mark was read, and it was connected to the computer that controls the exposure device in association with the position in the reticle library. It can be stored in the data storage unit. At this stage, the data of all the reticles stored in the reticle library are associated with the positions in the reticle library.

【0010】[0010]

【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図1は本発明の一実施例における露
光装置の要部構成図である。図1において、1はレチク
ル、2はレチクル1の表面の端部に形成されたバーコー
ド、3はレチクル1を納めたレチクルカセット、4は多
数個のレチクルカセット3を収納するレチクルライブラ
リ、5はバーコードリーダ、6、7はレチクル1をレチ
クルカセット3から引き出し移送する移送治具、8aは
露光装置のコンデンサレンズ、9は露光装置の露光光
路、10はレチクルステージ、11はレチクルステージ
10にセットされたレチクル、12はレチクル1の表面
に塵埃が付着しているかどうかを検査する塵埃検査機、
8bは露光装置の縮小投影レンズである。なお露光装置
には以上の構成要素以外に、所定のレチクル1を選択す
るレチクル選択手段、レチクル1を移送する移送手段、
一連の動作を制御するコンピュータを含む制御手段があ
るが、図1では簡単のために省略した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1 is a reticle, 2 is a bar code formed on the end of the surface of the reticle 1, 3 is a reticle cassette containing the reticle 1, 4 is a reticle library for storing a large number of reticle cassettes 3, and 5 is a reticle library. A bar code reader, 6 and 7 are transfer jigs for pulling out and transferring the reticle 1 from the reticle cassette 3, 8a is a condenser lens of the exposure apparatus, 9 is an exposure optical path of the exposure apparatus, 10 is a reticle stage, and 11 is set on the reticle stage 10. The reticle 12 is a dust inspection machine for inspecting whether or not dust is attached to the surface of the reticle 1.
Reference numeral 8b is a reduction projection lens of the exposure apparatus. In the exposure apparatus, in addition to the above components, reticle selecting means for selecting a predetermined reticle 1, transfer means for transferring the reticle 1,
Although there is control means including a computer for controlling a series of operations, it is omitted in FIG. 1 for simplicity.

【0011】以上のように構成された露光装置につい
て、以下にその動作について説明する。レチクルライブ
ラリ4にはレチクルカセット3に納められたレチクル1
が多数個収納されているが、そのレチクルカセット3の
位置は後述のデータ記憶部13に登録されている。全て
のレチクルカセット3を収納し終わったら、移送治具6
がレチクル1の端部をレチクルカセット3から1枚づつ
引き出してバーコードリーダ5がバーコード2を透過光
または反射光で読み取り、元のレチクルカセット3へレ
チクル1を戻す。このときレチクル1はバーコード2が
読み取れる最小限だけ引き出されていればよい。このよ
うにして、1枚づつバーコード2を読み取り、そのデー
タとレチクルライブラリ4の位置とを対応させて後述の
データ記憶部13に記憶しておく。
The operation of the exposure apparatus configured as described above will be described below. Reticle library 4 has reticle 1 stored in reticle cassette 3
, But the position of the reticle cassette 3 is registered in the data storage unit 13 described later. When all reticle cassettes 3 have been stored, transfer jig 6
Draws the ends of the reticle 1 one by one from the reticle cassette 3, the bar code reader 5 reads the bar code 2 with transmitted light or reflected light, and returns the reticle 1 to the original reticle cassette 3. At this time, the reticle 1 has only to be pulled out to the minimum so that the barcode 2 can be read. In this manner, the barcodes 2 are read one by one, and the data and the position of the reticle library 4 are made to correspond to each other and stored in the data storage unit 13 described later.

【0012】実際の露光に際しては、1枚のレチクル1
がレチクルライブラリ4から引き出され、レチクルステ
ージ10へ送られるのであるが、必要な場合塵埃検査機
12を通すことになる。次にレチクル1を交換して次の
露光を行なうときは、レチクルステージ10の上のレチ
クル1を移送治具7が取り出す一方、移送治具6が次の
レチクル1をレチクルライブラリ4から引き出す。また
移送治具6、7が移送経路中で衝突しないように、移送
治具待避経路を設けておく必要がある。
In actual exposure, one reticle 1
Are taken out from the reticle library 4 and sent to the reticle stage 10. If necessary, they are passed through the dust inspection machine 12. Next, when the reticle 1 is exchanged and the next exposure is performed, the transfer jig 7 takes out the reticle 1 on the reticle stage 10, while the transfer jig 6 pulls out the next reticle 1 from the reticle library 4. Further, it is necessary to provide a transfer jig retreat path so that the transfer jigs 6 and 7 do not collide with each other in the transfer path.

【0013】次に本実施例におけるデータのやりとりに
ついて、図2に示すデータ処理装置のブロック図を参照
しながら説明する。図2に示すように、バーコードリー
ダ5で読み込まれたレチクル1のデータは、データ記憶
部13に記憶されているレチクルライブラリ4の位置に
関するデータとデータ比較器14で比較される。データ
記憶部13にレチクル1のデータが入ってないときには
そのデータを書き込み、すでにレチクル1のデータが入
っているときには両者が照合される。一方データベース
の露光条件記憶部15には原則として所有している全て
のレチクルの露光条件が記憶されている。レチクルライ
ブラリ4から所定のレチクル1が取り出されてレチクル
ステージ10へ移送されるときにデータ記憶部13のデ
ータと露光条件記憶部15のデータとがデータ比較器1
6で比較され、一致していれば露光条件記憶部15から
露光装置内の一時記憶装置17へ露光条件が送られる。
ただし、露光条件を一時的に変更する時には、その都度
露光条件入力18を行なう。
Data exchange in this embodiment will be described below with reference to the block diagram of the data processing apparatus shown in FIG. As shown in FIG. 2, the data of the reticle 1 read by the barcode reader 5 is compared with the data about the position of the reticle library 4 stored in the data storage unit 13 by the data comparator 14. When the data of the reticle 1 is not stored in the data storage unit 13, the data is written, and when the data of the reticle 1 is already stored, both are collated. On the other hand, the exposure condition storage unit 15 of the database stores the exposure conditions of all the reticles in principle. When the predetermined reticle 1 is taken out from the reticle library 4 and transferred to the reticle stage 10, the data in the data storage unit 13 and the data in the exposure condition storage unit 15 are compared with each other in the data comparator 1.
6, the exposure conditions are sent from the exposure condition storage unit 15 to the temporary storage device 17 in the exposure apparatus if they match.
However, when the exposure condition is temporarily changed, the exposure condition input 18 is performed each time.

【0014】次に本実施例の露光装置の細部の動作につ
いて、図3〜図7に示すフローチャートを参照しながら
説明する。なおこれらのフローチャートの説明に使用す
る符号は図1または図2に示す符号と同一である。また
S30などはステップを示す符号である。
Next, detailed operations of the exposure apparatus of this embodiment will be described with reference to the flow charts shown in FIGS. The reference numerals used in the description of these flowcharts are the same as those shown in FIG. 1 or FIG. Also
S30 and the like are symbols indicating steps.

【0015】図3は本実施例の露光装置におけるレチク
ル収納作業のフローチャートである。このフローチャー
トは、露光工程に先立って必要とするレチクル1をレチ
クルライブラリ4に収納する作業を示しているが、その
他にも新たにレチクル1を追加する時にも同様の作業が
必要である。まずS30で作業が開始となり、S31でレチク
ル1を収納したレチクルカセット3をレチクルライブラ
リ4に収納する。全てのレチクルカセット3が収納され
たら、次にS32で1個のレチクルカセット3の扉(図1
には図示せず)を開ける。次にS33で移送治具6により
レチクル1の端部を引き出し、S34でレチクル1上のバ
ーコード2をバーコードリーダ5で読み取った後、S35
で読み取ったデータとそのレチクル1が収納されていた
場所とを対応させて図2のデータ記憶部13に記憶す
る。次にS36で引き出されていたレチクル1をレチクル
カセット3に戻し、レチクルカセット3の扉を閉める。
S32〜S37までのステップをレチクルライブラリ4に収納
した全てのレチクル1について行い、最後にS38でレチ
クル収納作業が完了する。
FIG. 3 is a flow chart of the reticle storage work in the exposure apparatus of this embodiment. Although this flow chart shows the work of storing the reticle 1 required in the reticle library 4 prior to the exposure process, the same work is required when a new reticle 1 is added. First, the work starts in S30, and the reticle cassette 3 storing the reticle 1 is stored in the reticle library 4 in S31. When all the reticle cassettes 3 have been stored, the door of one reticle cassette 3 (see FIG.
(Not shown). Next, in S33, the end of the reticle 1 is pulled out by the transfer jig 6, and in S34, the barcode 2 on the reticle 1 is read by the barcode reader 5, and then S35.
The data read in step 1 and the place where the reticle 1 was stored are stored in the data storage unit 13 of FIG. 2 in association with each other. Next, the reticle 1 pulled out in S36 is returned to the reticle cassette 3, and the door of the reticle cassette 3 is closed.
The steps from S32 to S37 are performed for all the reticles 1 stored in the reticle library 4, and finally the reticle storage operation is completed in S38.

【0016】図4は本実施例の露光装置におけるレチク
ル選択作業のフローチャートである。このフローチャー
トは、露光工程で必要とするレチクル1を選択する作業
を示している。まずS40で作業が開始となり、S41で露光
作業開始を指示する。次にS42でレチクル名がデータ記
憶部13から引き出されてS43で表示部(CRTと略
す)に表示される。次にS44で希望のレチクル1がある
かどうかをCRT上で判定し(YesまたはNoの判定)、
もしあればS45でレチクル1を選択する。この選択によ
って、移送治具6が所定のレチクル1の端部を引き出
し、S47でそのレチクル1の端部に形成されたバーコー
ド2をバーコードリーダ5で読み取る。このデータはC
RT上に表示されるが、S48でそのデータがS45で選択し
たレチクル1と一致しているかどうかを判定し、一致し
ていればS49でレチクル選択作業が終了する。一方S44で
CRT上に表示された中に希望のレチクル1がない場合
は、図3に示すS30に戻って新規にレチクル1をレチク
ルライブラリ4に追加することになる。またS48におい
て読み込まれたデータが希望するレチクル1のそれとは
異なっている場合、S481で無視して作業を進めるかどう
かを判定し、無視して進めるのであれば後述の図6に示
すS60へ進むが、無視しないときにはS482で再確認する
かどうかを判定する。再確認しない場合は、図3に示す
S30に戻って新規にレチクル1をレチクルライブラリ4
に追加することになるが、再確認する場合には後述の図
5に示すS50に進む。
FIG. 4 is a flowchart of the reticle selection work in the exposure apparatus of this embodiment. This flowchart shows the work of selecting the reticle 1 required in the exposure process. First, the work is started in S40, and the start of the exposure work is instructed in S41. Next, in S42, the reticle name is extracted from the data storage unit 13 and displayed in the display unit (abbreviated as CRT) in S43. Next, in S44, it is determined whether or not there is the desired reticle 1 on the CRT (Yes or No determination),
If so, select reticle 1 in S45. By this selection, the transfer jig 6 pulls out the end of the predetermined reticle 1, and the bar code 2 formed on the end of the reticle 1 is read by the bar code reader 5 in S47. This data is C
Although it is displayed on the RT, it is determined in S48 whether the data matches the reticle 1 selected in S45, and if they match, the reticle selection operation ends in S49. On the other hand, if the desired reticle 1 is not displayed on the CRT in S44, the process returns to S30 shown in FIG. 3 and the reticle 1 is newly added to the reticle library 4. If the data read in S48 is different from that of the desired reticle 1, it is determined in S481 whether or not to proceed with the work, and if ignored, the process proceeds to S60 shown in FIG. 6 described later. However, if not ignored, it is determined in S482 whether to reconfirm. If you do not reconfirm, see Figure 3.
Return to S30 and newly install reticle 1 reticle library 4
However, in the case of reconfirmation, the process proceeds to S50 shown in FIG. 5 described later.

【0017】図5は本実施例の露光装置のレチクル再確
認作業のフローチャートである。このフローチャート
は、主として図4のS482の続きの作業である。まずS50
で作業が開始となり、S51でレチクル1の端部に記載さ
れたバーコード2がバーコードリーダ5で読み取られ、
S52でそのデータが一時記憶される。S53でレチクル1は
レチクルカセット3に戻され、S54でレチクルカセット
3の扉が閉められ、レチクルライブラリ4へ戻される。
次にS55でデータ記憶部13のデータ訂正が行われ、S56
でレチクル再確認作業が終了し、図4に示すS41に戻
る。
FIG. 5 is a flowchart of the reticle reconfirmation work of the exposure apparatus of this embodiment. This flowchart is mainly a work subsequent to S482 in FIG. First S50
Then, the work starts, and in S51, the barcode 2 written on the end of the reticle 1 is read by the barcode reader 5,
The data is temporarily stored in S52. The reticle 1 is returned to the reticle cassette 3 in S53, the door of the reticle cassette 3 is closed in S54, and it is returned to the reticle library 4.
Next, in S55, the data in the data storage unit 13 is corrected, and S56 is performed.
Then, the reticle reconfirmation work is completed, and the process returns to S41 shown in FIG.

【0018】図6は本実施例の露光装置における塵埃検
査作業のフローチャートである。まずS60で作業が開始
となり、S61で塵埃検査を実施するかどうかを判定す
る。塵埃検査を実施しない場合はS67でレチクル1を待
機させた状態で後述の図7に示すS70へ進むが、実施を
選択した場合はS62でレチクル1が塵埃検査機12に送
り込まれ、S63で塵埃検査を受ける。次にS64で塵埃がレ
チクル1上にあるかどうかが判定され、もしパターン形
成に影響する塵埃があれば後述の図7に示すS73へ進
み、なければS65でレチクル1を塵埃検査機12から取
り出し、S66で塵埃検査作業が終了するが、このときに
もレチクルはS68で待機状態になる。
FIG. 6 is a flowchart of the dust inspection work in the exposure apparatus of this embodiment. First, the work starts in S60, and it is determined in S61 whether or not to perform the dust inspection. If the dust inspection is not performed, the reticle 1 is kept waiting in S67 and the process proceeds to S70 shown in FIG. 7, which will be described later. Undergo an inspection. Next, in S64, it is determined whether or not the dust is on the reticle 1. If there is dust that affects the pattern formation, the process proceeds to S73 shown in FIG. 7 described later, and if not, the reticle 1 is taken out from the dust inspection machine 12 in S65. , The dust inspection work is completed in S66, but the reticle is also in the standby state in S68 at this time.

【0019】図7は本実施例の露光装置のレチクルステ
ージからレチクルを除去するレチクル除去作業のフロー
チャートである。まずS70で作業を開始し、S71で露光装
置のコンデンサレンズ8と縮小投影レンズ13の間にあ
って露光光路9内に設置されたレチクルステージ10の
上にレチクル11があるかどうかを判定し、なければ後
述の図8に示すS80へ進むが、あればS72でレチクル11
をレチクルステージ10から除去する。この作業は移送
治具6または移送治具7のいずれか空いてる方(図1の
場合は移送治具7)で行われ、S73でレチクル11をレ
チクルライブラリ4の方向へ移送する。この時移送経路
中に他の移送治具(この場合は移送治具6)が存在すれ
ば、移送治具6がバイパスへ逃げるようにしておくこと
が必要である。このようにしてレチクルライブラリ4の
所定の位置に納入される前に、S74で戻ってきたレチク
ル11のバーコード2を読み取り、S75でデータ記憶を
行う。必要であれば、データ記憶部13のデータを書き
直す。最後にレチクル11をレチクルカセット3に収納
し、さらにレチクルライブラリ4に収納してS78でレチ
クル除去作業が終了するのであるが、その後再びS70へ
戻りS71を経てS80へ進むことになる。
FIG. 7 is a flow chart of the reticle removing work for removing the reticle from the reticle stage of the exposure apparatus of this embodiment. First, in S70, the work is started, and in S71, it is determined whether or not the reticle 11 is on the reticle stage 10 installed in the exposure optical path 9 between the condenser lens 8 and the reduction projection lens 13 of the exposure apparatus. The process proceeds to S80 shown in FIG. 8 to be described later, but if there is, the reticle 11 is sent in S72.
Are removed from the reticle stage 10. This operation is performed by either the transfer jig 6 or the transfer jig 7 which is free (the transfer jig 7 in the case of FIG. 1), and transfers the reticle 11 toward the reticle library 4 in S73. At this time, if another transfer jig (in this case, the transfer jig 6) is present in the transfer path, it is necessary to allow the transfer jig 6 to escape to the bypass. Before being delivered to the predetermined position of the reticle library 4 in this manner, the barcode 2 of the reticle 11 returned in S74 is read and data is stored in S75. If necessary, the data in the data storage unit 13 is rewritten. Finally, the reticle 11 is stored in the reticle cassette 3, and further stored in the reticle library 4, and the reticle removal work is completed in S78. After that, the process returns again to S70 and then S71 to S80.

【0020】図8は本実施例の露光装置における露光作
業のフローチャートである。まずS80で作業が開始とな
り、S81で図6に示すS67またはS68に待機させてあるレ
チクル1を取りに行く。次にS82でレチクルステージ1
0上にレチクル1をセットする。次にS83で決められた
露光条件通りで作業するかどうか判定し、その条件通り
で作業するのであればS84で露光作業し、露光作業終了
後レチクルステージ10上のレチクル11を除去する。
除去されたレチクル11は移送治具7によってレチクル
カセット3に収納されるが、端部は露出した状態で停止
しており、バーコードリーダ5によりバーコード2が読
み取られる。読み取られたデータは一時的にデータ記憶
され、データ記憶部13のデータと比較された後必要な
らばデータ記憶装置13内の対応するデータを書き直
す。最後にS89でレチクル11をカセット3に収納してS
90で露光作業が終了する。一方S83で決められた露光条
件通りに作業しないときには、一時的にS91で露光条件
を変更し、S92で変更した露光条件を露光装置内の一時
記憶装置17に記憶させる。次にS93でデータベースの
露光条件記憶部15の露光条件を書き換えるかどうかを
判定し、書き換えないのであればS84の露光作業に進む
が、書き換えるのであれば書き換えた後S84に進む。
FIG. 8 is a flowchart of the exposure work in the exposure apparatus of this embodiment. First, the work is started in S80, and in S81, the reticle 1 waiting in S67 or S68 shown in FIG. 6 is taken. Next, in S82, reticle stage 1
Set reticle 1 on 0. Next, in S83, it is determined whether or not the work is to be performed under the exposure conditions determined, and if the work is performed under the conditions, the exposure work is performed in S84, and after the exposure work is completed, the reticle 11 on the reticle stage 10 is removed.
The removed reticle 11 is stored in the reticle cassette 3 by the transfer jig 7, but the end is stopped with the end exposed, and the barcode 2 is read by the barcode reader 5. The read data is temporarily stored as data, and after being compared with the data in the data storage unit 13, the corresponding data in the data storage device 13 is rewritten if necessary. Finally, in S89, store the reticle 11 in the cassette 3 and S
At 90, the exposure work is completed. On the other hand, when the exposure conditions determined in S83 are not met, the exposure conditions are temporarily changed in S91, and the changed exposure conditions in S92 are stored in the temporary storage device 17 in the exposure apparatus. Next, in S93, it is determined whether or not the exposure condition of the exposure condition storage unit 15 of the database is rewritten. If not rewritten, the process proceeds to the exposure operation of S84, but if rewritten, if rewritten, the process proceeds to S84.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように本発明は、パターン形成に
使用する多数のレチクルを収納したレチクルライブラリ
からレチクルを引き出しまたは収納する際にその端部を
レチクルライブラリから露出させて停止した状態でレチ
クルの認識マークを読み取る認識マーク読み取り手段を
設けた構成により、レチクルライブラリにレチクルを収
納した直後にレチクルライブラリの位置とレチクルとを
対応させることができるため、露光作業の迅速化とレチ
クルを正常に保つことのできる優れた露光装置を実現で
きるものであり、半導体装置、液晶表示装置などのパタ
ーン形成工程に用いて優れた効果を発揮するものであ
る。
As described above, according to the present invention, when a reticle is pulled out from or stored in a reticle library that stores a large number of reticles used for pattern formation, the reticle is stopped with its end exposed from the reticle library. With the configuration provided with the recognition mark reading means for reading the recognition mark, the position of the reticle library and the reticle can be made to correspond to each other immediately after the reticle is stored in the reticle library, so that the exposure work can be speeded up and the reticle can be kept normal. It is possible to realize an excellent exposure apparatus that can be used, and it exhibits an excellent effect when used in a pattern forming process for a semiconductor device, a liquid crystal display device, or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における露光装置の要部構成
FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】同露光装置におけるデータ処理装置のブロック
FIG. 2 is a block diagram of a data processing device in the exposure apparatus.

【図3】同露光装置におけるレチクル収納作業のフロー
チャート
FIG. 3 is a flowchart of a reticle storage operation in the exposure apparatus.

【図4】同露光装置におけるレチクル選択作業のフロー
チャート
FIG. 4 is a flowchart of reticle selection work in the exposure apparatus.

【図5】同露光装置のレチクル再確認作業のフローチャ
ート
FIG. 5 is a flowchart of a reticle reconfirmation work of the exposure apparatus.

【図6】同露光装置における塵埃検査作業のフローチャ
ート
FIG. 6 is a flowchart of a dust inspection work in the exposure apparatus.

【図7】同露光装置におけるレチクル除去作業のフロー
チャート
FIG. 7 is a flowchart of reticle removal work in the exposure apparatus.

【図8】同露光装置における露光作業のフローチャートFIG. 8 is a flowchart of an exposure work in the exposure apparatus.

【図9】従来の露光装置に使用されるレチクル確認装置
の概略斜視図
FIG. 9 is a schematic perspective view of a reticle confirmation device used in a conventional exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レチクル 2 バーコード(認識マーク) 3 レチクルカセット 4 レチクルライブラリ 5 バーコードリーダ(認識マーク読み取り手段) 6 移送治具 7 移送治具 9 露光光路 10 レチクルステージ 1 reticle 2 bar code (recognition mark) 3 reticle cassette 4 reticle library 5 bar code reader (recognition mark reading means) 6 transfer jig 7 transfer jig 9 exposure optical path 10 reticle stage

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レチクルカセットに納められた端部に認
識マークを有するレチクルを複数個収納するレチクルラ
イブラリと、前記複数個のレチクルから所定の1枚を選
択するレチクル選択手段と、前記レチクルライブラリか
らレチクルを引き出しまたは収納するための移送治具
と、レチクルを引き出しまたは収納する際にその端部を
レチクルライブラリから露出させて停止した状態でレチ
クルの認識マークを読み取る認識マーク読み取り手段
と、コンデンサレンズと縮小投影レンズとの間にあって
露光光路中に設けられたレチクルを固定するレチクルス
テージと、前記のレチクルステージとレチクルライブラ
リとの間でレチクルを移送するレチクル移送手段とを備
えた露光装置。
1. A reticle library for accommodating a plurality of reticles each having an identification mark at an end of a reticle cassette, a reticle selecting means for selecting a predetermined one of the plurality of reticles, and a reticle library. A transfer jig for pulling out or storing the reticle, a recognition mark reading unit for reading the recognition mark of the reticle when the reticle is pulled out or stored, with its end exposed from the reticle library and stopped, and a condenser lens. An exposure apparatus provided with a reticle stage for fixing a reticle provided in an exposure optical path between a reduction projection lens and a reticle transfer means for transferring the reticle between the reticle stage and the reticle library.
【請求項2】 レチクルの認識マークによるデータが、
適用製品、処理工程等を示すレチクル番号である請求項
1記載の露光装置。
2. The data by the reticle recognition mark is
The exposure apparatus according to claim 1, which is a reticle number indicating an applied product, a processing step, and the like.
【請求項3】 レチクルに設けた認識マークがバーコー
ドまたは光学的に読み取り可能な記号または文字である
請求項1記載の露光装置。
3. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the recognition mark provided on the reticle is a bar code or an optically readable symbol or character.
【請求項4】 レチクルライブラリとレチクルステージ
との間のレチクル移送路中またはバイパス路中に塵埃検
査機を有する請求項1記載の露光装置。
4. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising a dust inspection device in a reticle transfer path or a bypass path between the reticle library and the reticle stage.
【請求項5】 レチクルカセットに納められたレチクル
をレチクルライブラリに収納した後に、移送治具により
認識マークが読み取れる程度にレチクルの端部をレチク
ルカセットから引き出す操作と、認識マークを認識マー
ク読み取り手段で読み取る操作と、レチクルをレチクル
カセットに戻す操作とを制御する制御手段を有する請求
項1記載の露光装置。
5. The operation of pulling out the end portion of the reticle from the reticle cassette to the extent that the transfer jig can read the recognition mark after the reticle stored in the reticle cassette is stored in the reticle library, and the recognition mark is read by the recognition mark reading means. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising control means for controlling a reading operation and an operation of returning the reticle to the reticle cassette.
【請求項6】 認識マーク読み取り手段が移送治具に設
けられた請求項1記載の露光装置。
6. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the recognition mark reading means is provided on the transfer jig.
【請求項7】 レチクル移送手段が独立した複数個の移
送治具を有し、一方の移送治具がレチクルライブラリか
らレチクルステージへレチクルを移送しているときに、
他方の移送治具がレチクルステージからレチクルカセッ
トへレチクルを移送するものである請求項1記載の露光
装置。
7. The reticle transfer means has a plurality of independent transfer jigs, and when one transfer jig is transferring the reticle from the reticle library to the reticle stage,
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the other transfer jig transfers the reticle from the reticle stage to the reticle cassette.
【請求項8】 レチクルの認識マークから読み取ったデ
ータと、前記レチクルが収納されていたレチクルライブ
ラリの位置関係と、前記レチクルを用いた露光作業にお
ける露光条件とを記憶するデータ記憶部を付加した請求
項1記載の露光装置。
8. A data storage unit for storing data read from a recognition mark of a reticle, a positional relationship of a reticle library in which the reticle is stored, and an exposure condition in an exposure operation using the reticle. Item 1. The exposure apparatus according to item 1.
【請求項9】 データ記憶部と一時記憶装置とが付加さ
れ、かつレチクルステージにレチクルが固定されたと
き、前記レチクルに対応する露光条件が前記データ記憶
部から前記一時記憶装置に転送されるものである請求項
1記載の露光装置。
9. An exposure condition corresponding to the reticle is transferred from the data storage unit to the temporary storage device when a data storage unit and a temporary storage device are added and the reticle is fixed to the reticle stage. The exposure apparatus according to claim 1, wherein
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