JPH05143997A - 追記形光デイスクの最適記録パワ−検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】光ディスク１０への追記回数の減少や誤パワ−
による追記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パ
ワ−検出方法を提供すること。 【構成】光ディスク１０のリ−ドインエリア１２のスタ
−ト時間情報Ｔｓをもとにカウントエリア１４をアクセ
スし、その追記回数情報で既に何回追記されているかを
検出する第１工程と、第１工程の検出情報に対応したテ
ストエリア１６内のエリアにテスト信号を記録して再生
し、この再生信号と基準信号との比較出力に基づいて最
適記録パワ−を検出する第２工程と、この第２工程で検
出した最適記録パワ−情報をカウントエリア１４の対応
するエリアに記録する第３工程とからなる方法におい
て、第２工程の動作中にエラ−が発生した場合、第２工
程のテスト信号を記録して再生するためのエリアを、従
来の追記では記録を予定していない空きエリア２２、２
４、２６、２８に置換して第２工程を再実行する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ
Ｄｉｓｋ）−ＷＯ（Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ）装置のよ
うなユ−ザ−側において追加記録が可能な追記形光ディ
スク記録装置において、光ディスクにデ−タを記録する
ためのレ−ザ光の最適パワ−を検出する方法の改良に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の最適記録パワ−検出方法
は、図２に示すようにして行なわれていた。すなわち、 （イ）第１工程では、まず、図３に示す光ディスク１０
のアドレス情報（例えば時間情報）が記録されたトラッ
クの内周側に設けられたリ−ドインエリア１２からスペ
シャルインフォメ−ションデ−タを読み込み、このスペ
シャルインフォメ−ションデ−タ中のスタ−ト時間情報
Ｔｓに基づいてＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔ
ｉｏｎ Ａｒｅａ）内のカウントエリア（Ｃｏｕｎｔ
Ａｒｅａ）１４をアクセスする。

【０００３】このカウントエリア１４内には、追記の回
数情報を記録するためのエリアが単位の追記期間毎（例
えば単位の追記期間を１フレ−ム（１フレ−ムは（１／
７５）（秒）を表わす）として）に区分して、１番目か
ら１００番目まで設定されている。このカウントエリア
１４へのアクセスにより追記回数情報を読み出し、既に
何回追記されているかを検出する。例えば１番目から１
００番目までのエリアのうちのＮ番目（例えば５０番
目）のエリアまでＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔｔｏ Ｆｏｕｒｔ
ｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号が記録されている
ときは、追記回数Ｎが検出される。

【０００４】（ロ）つづくで第２工程では、まず、カウ
ントエリア１４内の追記回数情報をもとにしてＰＣＡ内
のテストエリア（Ｔｅｓｔ Ａｒｅａ）１６をアクセス
する。このテストエリア１６内には、パワ−レベルを複
数段階（例えば１５段階）に切り換えたテスト信号を記
録するためのエリアが単位の追記期間毎（例えば単位の
追記期間を１５フレ−ムとして）に区分して、１番目か
ら１００番目まで設定されている。

【０００５】このテストエリア１６へのアクセスによ
り、パワ−レベルを所定のパワ−レベル（例えばリ−ド
インエリア１２に記録されている推奨記録パワ−レベ
ル）を中心とした複数段階（例えば１５段階）に切り換
えたテスト信号（例えばＥＦＭ信号）が、カウントエリ
ア１４内の追記回数情報に対応したエリアに記録され
る。すなわち、カウントエリア１４内の追記回数情報が
Ｎ回（例えば、Ｎ＝５０）であるとすると（すなわち既
に追記された回数がＮ回であるとすると）、テストエリ
ア１６内のＮ＋１番目（例えば、５１番目）のエリアの
１５フレ−ムに、パワ−レベルの異なるテスト信号が１
レベル１フレ−ムの割合で記録される。

【０００６】（ハ）ついで、前記（ロ）によって記録さ
れたテストエリア１６内のＮ＋１番目のエリア（例えば
５１番目のエリア）からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力（アシンメトリ−信号）によって最
適記録パワ−が検出される。

【０００７】（ニ）つづく第３工程では、前記（ハ）で
検出された最適記録パワ−情報がカウントエリア１４内
のＮ＋１番目のエリア（例えば５１番目のエリア）に記
録される。例えば、前記（ハ）で検出された最適記録パ
ワ−を持つＥＦＭ信号が、最適記録パワ−情報としてカ
ウントエリア１４内の５１番目のエリアに記録される。
以上により、単位の追記期間についての最適記録パワ−
検出が終了し、以下この動作が追記期間毎に繰り返され
る。

【０００８】なお、図３において、ＰＭＡ（ ）は、光
ディスク１０のデ−タエリア１８に追記したデ−タに関
するリ−ドイン情報を一時的に書き込むためのエリア
で、すべての追記が終了した後にＰＭＡ内のリ−ドイン
情報は本来のリ−ドインエリア１２に転送される。ま
た、２０は光ディスク１０の最内周部分部分に設けられ
たクランプエリアで、このクランプエリア２０とＰＣＡ
との間には、アドレス情報が書き込まれたトラックの最
内周部分に位置する第１の空きエリア２２が設けられて
いる。

【０００９】この第１の空きエリア２２はメ−カ−によ
って異なるが、数十フレ−ム予想できる。また、２４、
２６、２８は、テストエリア１６内の内周側と外周側、
カウントエリア１４内の外周側にそれぞれ設けられた第
２、第３、第４の空きエリアで、これらの空きエリア２
４、２６、２８は、テストエリア１６やカウントエリア
１４へのサ−チを容易にするために、予め所定時間分
（例えばそれぞれ３０フレ−ム）設定されている。ま
た、３０は光ディスク１０の最外周部分に設けられたリ
−ドアウトエリアである。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ディ
スク１０のテストエリア１６に傷があったり埃が付いた
りして、テストエリア１６にテスト信号を記録したり再
生したりする工程においてエラ−が発生すると、最適記
録パワ−情報が検出できなかったり、誤った最適記録パ
ワ−情報がカウントエリア１４内の対応する追記回数番
号エリアに記録されるので、光ディスクに追記できる回
数が少なくなったり（例えば９９回追記できるところが
９８回になったり）、誤ったパワ−による追記がなされ
るという問題点があった。

【００１１】本発明は上述の問題点に鑑みなされたもの
で、光ディスクへの追記回数の減少や誤パワ−による追
記を防止できる追記形光ディスクの最適記録パワ−検出
方法を提供することを目的とするものである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、光ディスクの
アドレス情報が記録されたトラックに、スタ−ト時間情
報が記録されたリ−ドインエリアと、追記の回数情報を
記録するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設
定されたカウントエリアと、パワ−レベルを複数段階に
切り換えたテスト信号を記録するためのエリアが単位の
追記期間毎に区分して設定されたテストエリアとを設
け、前記リ−ドインエリアのスタ−ト時間情報をもとに
して前記カウントエリアをアクセスし、その追記回数情
報によって既に何回追記されているかを検出する第１工
程と、前記第１工程で検出した情報をもとにして前記テ
ストエリア内の対応するエリアに前記テスト信号を記録
して再生し、この再生信号と基準信号との比較出力に基
づいて最適記録パワ−を検出する第２工程と、この第２
工程で検出した最適記録パワ−情報を前記カウントエリ
アの対応するエリアに記録する第３工程とからなる追記
形光ディスクの最適記録パワ−検出方法において、前記
第２工程の動作中にエラ−が発生したときに、前記第２
工程におけるテスト信号を記録して再生するためのエリ
アを、前記カウントエリア、テストエリアまたはこれら
のエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリアに
置換して前記第２工程を再実行してなることを特徴とす
るものである。

【００１３】

【作用】光ディスクのテストエリアに傷ができたり埃が
付いたりして第２工程の動作中にエラ−が発生した場
合、第３工程に進行する前に、そのときのテスト信号を
記録して再生するためのエリアをテストエリアから空き
エリアに置換して、第２工程の動作が再実行される。こ
の空きエリアはカウントエリア、テストエリアまたはこ
れらのエリア以外のエリアに存在する設定外の空きエリ
アが選択される。例えば、テストエリア内の３番目のエ
リアへのテスト信号の記録再生時にエラ−が発生した場
合、光ディスクの最内周部分に予備的に設けられた空き
エリアやテストエリアの内周側に設けられた空きエリア
にテスト信号が記録されて再生され、その再生信号と基
準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ−が検出さ
れ、第３工程に移る。

【００１４】

【実施例】以下、本発明による追記形光ディスクの最適
記録パワ−検出方法の一実施例を図１及び図３を用いて
説明する。 （イ）第１工程では、まず、図３に示す光ディスク１０
のリ−ドインエリア１２からスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タを読み込み、このスペシャルインフォメ−シ
ョンデ−タ中のスタ−ト時間情報Ｔｓ（００：００：０
０（分：秒：フレ−ム））に基づいてＰＣＡ内のカウン
トエリア１４をアクセスする。例えばカウントエリア１
４内の１番目のエリアをアクセスするときのアドレス情
報はＴｓ−００：１３：５５となる。

【００１５】このカウントエリア１４へのアクセスによ
り追記回数情報を読み出し、既に何回追記されているか
を検出する。例えば、１番目から１００番目までのエリ
アのうちＮ番目のエリアまでＥＦＭ信号が記録されてい
るときは、追記回数Ｎが検出される。

【００１６】（ロ）つづくで第２工程では、まず、カウ
ントエリア１４内の追記回数情報をもとにしてＰＣＡ内
のテストエリア１６をアクセスする。例えばテストエリ
ア１６内の２番目のエリアをアクセスするときのアドレ
ス情報はＴｓ−００：１５：５０となる。このテストエ
リア１６へのアクセスにより、パワ−レベルを所定のパ
ワ−レベル（例えばリ−ドインエリア１２に記録されて
いる推奨記録パワ−レベル）を中心とした複数段階（例
えば１５段階）に切り換えたテスト信号（例えばＥＦＭ
信号）が、所定の割合で（例えば１レベル１フレ−ムの
割合で）、カウントエリア１４内の追記回数情報に対応
したＮ＋１番目（例えば５１番目）のエリアに記録され
る。

【００１７】（ハ）ついで、前記（ロ）によって記録さ
れたテストエリア１６内のＮ＋１番目のエリア（例えば
５１番目のエリア）からパワ−レベルが複数段階に異な
るテスト信号が再生される。そして、この再生信号と基
準信号との比較出力によって最適記録パワ−が検出され
る。

【００１８】（ニ）前記（ロ）及び（ハ）の第２工程に
おいてエラ−が発生しなければ、第３工程へ進む。この
第３工程では、前記（ハ）で検出された最適記録パワ−
情報がカウントエリア１４内のＮ＋１番目のエリア（例
えば５１番目のエリア）に記録される。例えば、前記
（ハ）で検出された最適記録パワ−を持つＥＦＭ信号
が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア１４内の
５１番目のエリアに記録される。以上により、単位の追
記期間についての最適記録パワ−検出が終了し、以下同
様の動作が単位の追記期間毎に繰り返される。

【００１９】（ホ）前記（ロ）及び（ハ）の第２工程に
おいてエラ−が発生した場合にはテスト信号を記録する
ためのエリアを空きエリアに置換して第２工程が再実行
される。すなわち、エラ−が発生した場合、まず、カウ
ントエリア１４内の追記回数情報をもとにして第１、第
２、第３、第４空きエリア２２、２４、２６、２８のい
ずれかのエリア（第１空きエリア２２に記録可能であれ
ば第１空きエリア２２が望ましい）をアクセスする。こ
の空きエリアへのアクセスにより、パワ−レベルを複数
段階（例えば１５段階）に切り換えたテスト信号（例え
ばＥＦＭ信号）が記録される。

【００２０】（ヘ）ついで、前記（ホ）によって記録さ
れた空きエリアからパワ−レベルが複数段階に異なるテ
スト信号が再生される。そして、この再生信号と基準信
号との比較出力（アシンメトリ−信号）によって最適記
録パワ−が検出される。以上の（ホ）、（ヘ）により第
２工程が再実行され、ついで、前記（ニ）と同様な第３
工程に進み、最適パワ−情報がカウントエリア１４内の
Ｎ＋１番目のエリア（例えば５１番目のエリア）に記録
される。

【００２１】例えば、テストエリア１６内の５１番目の
エリアへの記録再生動作中にエラ−が発生した場合に
は、テストエリア１６内の５１番目のエリアを第１、第
２、第３、第４空きエリア２２、２４、２６、２８のう
ちのいずれかのエリアに置換して前述の第２工程の再実
行動作が行なわれ、検出された最適記録パワ−を持つＥ
ＦＭ信号が、最適記録パワ−情報としてカウントエリア
１４内の５１番目のエリアに記録される。

【００２２】前記（ロ）及び（ハ）の第２工程において
エラ−が有ると判断されるのは次ぎの場合である。 カウントエリア１４内の追記回数情報をもとにＰＣＡ
内のテストエリア１６をアクセスしてパワ−レベルを複
数段階（例えば１５段階）に切り換えたテスト信号を記
録するときに、光ディスク１０に大きな傷が有ったり埃
が付いたりして、またはショックによって、所定のアド
レス情報が得られない場合（例えば書き込み時に検出し
たアドレス情報が対象となるアドレス情報と一致しない
場合）。

【００２３】光ディスク１０表面のコ−ティング不良
などの原因により、比較出力信号から最適記録パワ−が
見つからない場合（アシンメトリ−信号の変化点が見つ
からない場合）。今回検出した最適記録パワ−の値が前
回記録したエリアの最適記録パワ−の値からかけ離れて
いて最適記録パワ−が見つからない場合を含む。 カウントエリアの記録ミスにより本来は未記録でなけ
ればならないエリアに既に記録されている場合。

【００２４】

【発明の効果】本発明による追記形光ディスクの最適記
録パワ−検出方法は、上記のように、光ディスクのテス
トエリアに傷ができたり埃が付いたりして第２工程の動
作中にエラ−が発生した場合、第２工程においてテスト
信号を記録して再生するエリアを、カウントエリア、テ
ストエリアまたはこれらのエリア以外のエリアに存在す
る設定外の空きエリアに置換するようにしたので、第３
工程に進行する前に、そのときのテスト信号を記録して
再生するエリアをテストエリアから空きエリアに置換し
て、第２工程の動作が再実行される。このため、光ディ
スクへの追記回数の減少や誤パワ−による追記を防止で
きる

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による追記形光ディスクの最適記録パワ
−検出方法の一実施例を示すフロ−チャ−トである。

【図２】従来例の追記形光ディスクの最適記録パワ−検
出方法を示すフロ−チャ−トである。

【図３】追記形光ディスクの一般的な構成を説明する説
明図である。

【符号の説明】

１０…光ディスク、 １２…リ−ドインエリア、 １４
…カウントエリア、１６…テストエリア、 １８…デ−
タエリア、 ２０…クランプエリア、２２、２４、２
６、２８…空きエリア、 ３０…リ−ドアウトエリア、
ＰＣＡ…ＰｏｗｅｒＣａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅ
ａ、Ｔｓ…スタ−ト時間情報。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクのアドレス情報が記録されたト
   ラックに、スタ−ト時間情報が記録されたリ−ドインエ
   リアと、追記の回数情報を記録するためのエリアが単位
   の追記期間毎に区分して設定されたカウントエリアと、
   パワ−レベルを複数段階に切り換えたテスト信号を記録
   するためのエリアが単位の追記期間毎に区分して設定さ
   れたテストエリアとを設け、前記リ−ドインエリアのス
   タ−ト時間情報をもとにして前記カウントエリアをアク
   セスし、その追記回数情報によって既に何回追記されて
   いるかを検出する第１工程と、前記第１工程で検出した
   情報をもとにして前記テストエリア内の対応するエリア
   に前記テスト信号を記録して再生し、この再生信号と基
   準信号との比較出力に基づいて最適記録パワ−を検出す
   る第２工程と、この第２工程で検出した最適記録パワ−
   情報を前記カウントエリアの対応するエリアに記録する
   第３工程とからなる追記形光ディスクの最適記録パワ−
   検出方法において、前記第２工程の動作中にエラ−が発
   生したときに、前記第２工程におけるテスト信号を記録
   して再生するためのエリアを、前記カウントエリア、テ
   ストエリアまたはこれらのエリア以外のエリアに存在す
   る設定外の空きエリアに置換して前記第２工程を再実行
   してなることを特徴とする追記形光ディスクの最適記録
   パワ−検出方法。