JPH0513546A - Method for transferring wafers for wafer processing device - Google Patents

Method for transferring wafers for wafer processing device

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JPH0513546A
JPH0513546A JP16133091A JP16133091A JPH0513546A JP H0513546 A JPH0513546 A JP H0513546A JP 16133091 A JP16133091 A JP 16133091A JP 16133091 A JP16133091 A JP 16133091A JP H0513546 A JPH0513546 A JP H0513546A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
chamber
carrier
transfer
processing
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP16133091A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuyo Fujimaru
和代 藤丸
Masao Kanazawa
政男 金澤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0513546A publication Critical patent/JPH0513546A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a transfer method to enhance the throughput of wafer processing device whose processing chamber needs to be evacuated. CONSTITUTION:In the embodiment of Fig. 1, the titled device is provided with a carrier stage 3 on which a wafer carrier 2 is placed, and one end is opposed to the carrier 2 on the stage 3 and the other end is connected to a processing chamber 1, so that independent evacuation can be performed. Two transfer relay chambers 4 are provided to relay transferring of wafers between the carrier 2 and the chamber 1. One wafer is transferred through the carrier 2 to one chamber 4, and after the chamber 4 is evacuated the wafer is transferred to the evacuated chamber 1. These processes are performed through two chambers 4 alternately. In another embodiment, a carrier chamber that can perform evacuation while housing a wafer carrier and a transfer relay chamber independently evacuatable are provided together, thereby wafer transferring is smoothly performed without stagnation in the transfer relay chamber.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、処理室が真空排気を必
要とするウエーハ処理装置のウエーハ搬送方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer transfer method for a wafer processing apparatus in which a processing chamber requires vacuum evacuation.

【0002】半導体装置製造のウエーハプロセスでは、
ウエーハ上の成膜やドライエッチングに上記ウエーハ処
理装置を用いている。その装置は、一般に、処理対象の
ウエーハを大気中から供給されて処理室に搬送してお
り、ウエーハの雰囲気を真空排気する時間のためにスル
ープットが低下している。
In a wafer process for manufacturing a semiconductor device,
The above wafer processing apparatus is used for film formation and dry etching on a wafer. The apparatus generally supplies the wafer to be processed from the atmosphere and conveys it to the processing chamber, and the throughput is reduced due to the time for vacuuming the atmosphere of the wafer.

【0003】本発明は、上記ウエーハ搬送方法に工夫を
加えてスループットの向上を図ろうとするものである。
The present invention intends to improve the throughput by adding some ideas to the above-mentioned wafer transfer method.

【0004】[0004]

【従来の技術】処理室が真空排気を必要とするウエーハ
処理装置においては、一般に、処理対象のウエーハがウ
エーハキャリアに複数枚例えば25枚収容されて大気中
から供給され、そのウエーハキャリアからウエーハを1
枚ずつ処理室に搬送している。そしてその搬送は、処理
室の真空を破らないように予備排気室を設けて、ウエー
ハが処理室に入る前にウエーハの雰囲気を真空排気する
ようにしてある。
2. Description of the Related Art In a wafer processing apparatus in which a processing chamber requires vacuum evacuation, generally, a plurality of wafers to be processed are housed in a wafer carrier, for example, 25 wafers are supplied from the atmosphere, and the wafers are loaded from the wafer carrier. 1
They are conveyed to the processing chamber one by one. For the transfer, a preliminary exhaust chamber is provided so as not to break the vacuum of the processing chamber, and the atmosphere of the wafer is vacuum exhausted before the wafer enters the processing chamber.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このため、連続したウ
エーハ搬送ができず、予備排気室の真空排気に要する時
間がスループットを低下させるといった問題を生じてい
た。
For this reason, there has been a problem that continuous wafer transfer cannot be performed and the time required for vacuum evacuation of the preliminary evacuation chamber reduces throughput.

【0006】そこで本発明は、処理室が真空排気を必要
とするウエーハ処理装置のウエーハ搬送方法に関し、当
該装置のスループットを向上させるようにする方法の提
供を目的とする。
Therefore, the present invention relates to a wafer transfer method for a wafer processing apparatus which requires vacuum evacuation of the processing chamber, and an object thereof is to provide a method for improving the throughput of the apparatus.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるウエーハ処理装置のウエーハ搬送方法
は、処理室が真空排気を必要とするウエーハ処理装置の
ウエーハ搬送において、ウエーハキャリアを載置するキ
ャリアステージと、一端が該ウエーハステージ上のウエ
ーハキャリアに対向し他端が該処理室に接続して単独の
真空排気が可能であり、該ウエーハキャリアと該処理室
との間のウエーハ搬送の中継を行う搬送中継室を2個設
け、該ウエーハキャリアから1枚のウエーハを1個の該
搬送中継室に搬送し該搬送中継室を真空排気してから、
該ウエーハを真空排気されている該処理室に搬送する工
程を有し、該工程を2個の該搬送中継室の間で交互に行
うことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a wafer transfer method for a wafer processing apparatus according to the present invention is a wafer transfer method for a wafer processing apparatus which requires vacuum evacuation in a processing chamber. A carrier stage to be placed, one end of which faces the wafer carrier on the wafer stage, and the other end of which is connected to the processing chamber for single vacuum evacuation, and wafer transfer between the wafer carrier and the processing chamber. Two transfer relay chambers for relaying are transferred, one wafer is transferred from the wafer carrier to one transfer relay chamber, and the transfer relay chamber is evacuated,
The method is characterized by having a step of transferring the wafer to the processing chamber which is evacuated, and performing the step alternately between the two transfer relay chambers.

【0008】または、同ウエーハ搬送において、単独の
真空排気が可能でありウエーハキャリアを収容するキャ
リア室と、一端が該キャリア室に接続し他端が該処理室
に接続して単独の真空排気が可能であり、該ウエーハキ
ャリアと該処理室との間のウエーハ搬送の中継を行う搬
送中継室とを設け、該キャリア室に収容したウエーハキ
ャリアから1枚目のウエーハを該搬送中継室に搬送し
て、該キャリア室及び該搬送中継室を個別に真空排気す
る工程と、該搬送中継室が真空排気されたところで該1
枚目のウエーハを真空排気されている該処理室に搬送す
る工程と、該キャリア室が真空排気された後に、2枚目
以降のウエーハを該ウエーハキャリアから該処理室に搬
送する工程とを有することを特徴としている。
Alternatively, in the same wafer transfer, a single vacuum evacuation is possible, and a carrier chamber accommodating a wafer carrier is connected to one end of the carrier chamber and the other end is connected to the processing chamber to perform a single vacuum evacuation. It is possible to provide a transfer relay chamber for relaying wafer transfer between the wafer carrier and the processing chamber, and transfer the first wafer from the wafer carrier accommodated in the carrier chamber to the transfer relay chamber. And evacuating the carrier chamber and the transfer relay chamber individually, and the step of evacuating the transfer relay chamber
It has a step of transferring the first wafer to the processing chamber that is evacuated, and a step of transferring the second and subsequent wafers from the wafer carrier to the processing chamber after the carrier chamber is evacuated. It is characterized by that.

【0009】[0009]

【作用】前者においては、上記搬送中継室が前記予備排
気室に相当するが、その搬送中継室を2個設けて交互に
使用するため、一方の搬送処理室からのウエーハを処理
している間に他方の搬送中継室の真空排気を行うことに
なる。このことにより、個々の搬送中継室の真空排気に
時間を要しても、その時間は2枚目以降のウエーハに対
して実質的に無視できるようになり、装置のスループッ
トが向上する。
In the former case, the transfer relay chamber corresponds to the preliminary exhaust chamber, but since two transfer relay chambers are provided and used alternately, while the wafer from one of the transfer processing chambers is being processed. Then, the other transfer relay chamber is evacuated. As a result, even if it takes time to evacuate the individual transfer relay chambers, the time can be substantially ignored for the second and subsequent wafers, and the throughput of the apparatus is improved.

【0010】また後者においては、上記搬送中継室が前
記予備排気室に相当するが、上記キャリア室を設けてそ
こも真空排気するため、搬送中継室の真空排気をウエー
ハ毎に行う必要がなくなる。然も、キャリア室と搬送中
継室の真空排気の際のウエーハ配置を上記のようにする
ことにより、1枚目のウエーハを処理している間にキャ
リア室の真空排気が進むので、キャリア室の真空排気に
時間を要してもその時間は実質的に無視できるようにな
る。従って装置のスループットが向上する。
In the latter case, although the transfer relay chamber corresponds to the preliminary exhaust chamber, since the carrier chamber is provided and the chamber is also evacuated, it is not necessary to evacuate the transfer relay chamber for each wafer. However, by arranging the wafers during the vacuum exhaust of the carrier chamber and the transfer relay chamber as described above, the vacuum exhaust of the carrier chamber progresses while the first wafer is being processed. Even if it takes time to evacuate, the time can be practically ignored. Therefore, the throughput of the device is improved.

【0011】[0011]

【実施例】以下本発明の実施例について図1及び図2を
用いて説明する。図1は第1実施例を実施する装置の要
部構成図であり、図2は第2実施例を実施する装置の要
部構成図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a main part configuration diagram of an apparatus for implementing the first embodiment, and FIG. 2 is a main part configuration diagram of an apparatus for implementing the second embodiment.

【0012】図1において、1は処理室、2はウエーハ
キャリア、3はキャリアステージ、4は搬送中継室、で
ある。処理室1は毎葉処理の形態をなすものである。
In FIG. 1, 1 is a processing chamber, 2 is a wafer carrier, 3 is a carrier stage, and 4 is a transfer relay chamber. The processing chamber 1 is in the form of leaf processing.

【0013】ウエーハキャリア2は、処理対象となる複
数例えば25枚のウエーハを収容するものである。キャ
リアステージ3は、ウエーハキャリア2を載置して処理
室1へのウエーハ搬送の始点となるところである。ま
た、図示を省略してあるが、ウエーハキャリア2に収容
されているウエーハの数や位置を検出して搬送するウエ
ーハを選定できる機構を備えている。
The wafer carrier 2 accommodates a plurality of, for example, 25 wafers to be processed. The carrier stage 3 is a place on which the wafer carrier 2 is placed and which is a starting point of wafer transfer to the processing chamber 1. Although not shown, the wafer carrier 2 is provided with a mechanism capable of detecting the number and positions of the wafers accommodated therein and selecting the wafer to be transported.

【0014】搬送中継室4は、一端がウエーハステージ
3上のウエーハキャリア2に対向し他端が処理室1に接
続して単独の真空排気が可能であり、ウエーハキャリア
2と処理室との間のウエーハ搬送の中継を行うところで
ある。単独の真空排気のため、両端にゲートバルブを備
えている。然も、この搬送中継室4を並列させて2個設
けてある。
The transfer relay chamber 4 has one end facing the wafer carrier 2 on the wafer stage 3 and the other end connected to the processing chamber 1 so that a single vacuum evacuation is possible, and between the wafer carrier 2 and the processing chamber. It is about to relay the wafer transfer. Gate valves are provided at both ends for independent evacuation. Naturally, two transfer relay chambers 4 are provided in parallel.

【0015】ウエーハ処理を進めるためのウエーハキャ
リア2から処理室1へのウエーハ搬送は、ウエーハキャ
リア2から1枚のウエーハを1個の搬送中継室4に搬送
しその搬送中継室4を真空排気してから、そのウエーハ
を処理室1に搬送する手順で行う。処理室1は、予め真
空排気されており、ウエーハが搬入されたら直ちに処理
を開始する。そして、2個の搬送中継室4を交互に使用
する。即ち、一方の搬送処理室4からのウエーハを処理
している間に他方の搬送中継室の真空排気を行う。
The wafer transfer from the wafer carrier 2 to the processing chamber 1 for proceeding the wafer processing is carried by transferring one wafer from the wafer carrier 2 to one transfer relay chamber 4 and evacuating the transfer relay chamber 4. After that, the wafer is transferred to the processing chamber 1. The processing chamber 1 is evacuated in advance, and the processing is started immediately after the wafer is loaded. Then, the two transfer relay chambers 4 are alternately used. That is, while processing the wafer from one of the transfer processing chambers 4, the other transfer relay chamber is evacuated.

【0016】処理室1で処理されたウエーハは、真空排
気されている搬送中継室4に搬送し、搬送中継室4を常
圧に戻してからウエーハキャリア2に搬送する。ウエー
ハキャリア2内の処理対象となる複数のウエーハは、最
後のウエーハの処理が終了するまで1枚宛順次に上記の
手順で搬送する。
The wafer processed in the processing chamber 1 is transferred to the transfer relay chamber 4 which is evacuated, and the transfer relay chamber 4 is returned to normal pressure before being transferred to the wafer carrier 2. The plurality of wafers to be processed in the wafer carrier 2 are sequentially conveyed one by one in the above procedure until the processing of the last wafer is completed.

【0017】以上のことにより、個々の搬送中継室4で
真空排気に時間を要しても、その時間は2枚目以降のウ
エーハに対して実質的に無視できるようになり、装置の
スループットが向上する。
As described above, even if it takes time to evacuate the individual transfer relay chambers 4, the time can be substantially ignored for the second and subsequent wafers, and the throughput of the apparatus is increased. improves.

【0018】次に、図2において、1は第1実施例と同
様の処理室、5はキャリア室、6は搬送中継室、であ
る。キャリア室5は、単独の真空排気が可能であり、前
記ウエーハキャリア2を収容して処理室1へのウエーハ
搬送の始点となるところである。また、第1実施例のキ
ャリアステージ3と同様に、ウエーハキャリア2に収容
されているウエーハの数や位置を検出して搬送するウエ
ーハを指定できる機構を備えている。
Next, in FIG. 2, 1 is a processing chamber similar to that of the first embodiment, 5 is a carrier chamber, and 6 is a transfer relay chamber. The carrier chamber 5 is capable of being evacuated independently, and is a starting point of the wafer transfer to the processing chamber 1 by accommodating the wafer carrier 2. Further, similar to the carrier stage 3 of the first embodiment, it is provided with a mechanism capable of detecting the number and position of the wafers accommodated in the wafer carrier 2 and designating the wafers to be conveyed.

【0019】搬送中継室6は、一端がキャリア室5に接
続し他端が処理室1に接続して単独の真空排気が可能で
あり、ウエーハキャリア2と処理室との間のウエーハ搬
送の中継を行うところである。単独の真空排気のため、
両端にゲートバルブを備えている。
The transfer relay chamber 6 has one end connected to the carrier chamber 5 and the other end connected to the processing chamber 1 so that a single vacuum evacuation is possible, and the wafer transfer between the wafer carrier 2 and the processing chamber is relayed. Is about to do. Because of the single evacuation,
Equipped with gate valves at both ends.

【0020】ウエーハ処理を進めるためのウエーハキャ
リア2から処理室1へのウエーハ搬送は、キャリア室5
に収容したウエーハキャリア2から1枚目のウエーハを
搬送中継室6に搬送し、その状態でキャリア室5及び搬
送中継室6を個別に真空排気してから行う。
The wafer transfer from the wafer carrier 2 to the processing chamber 1 for proceeding the wafer processing is carried out in the carrier chamber 5
The first wafer is transferred from the wafer carrier 2 accommodated in 1 to the transfer relay chamber 6, and the carrier chamber 5 and the transfer relay chamber 6 are individually evacuated in that state.

【0021】即ち、先ず1枚目のウエーハを処理室1に
搬送する。処理室1は、予め真空排気されており、ウエ
ーハが搬入されたら直ちに処理を開始する。キャリア室
5の真空排気は、搬送中継室6の真空排気より時間を要
するが1枚目のウエーハを処理している間に進んで所定
圧に達する。そして、搬送中継室6及びキャリア室5は
真空排気されたままにしておく。従って、1枚目の戻り
搬送及び2枚目以降の1枚宛順次に行う搬送は、搬送中
継室6に滞留することなくそこを素通りさせることがで
きる。
That is, first, the first wafer is transferred to the processing chamber 1. The processing chamber 1 is evacuated in advance, and the processing is started immediately after the wafer is loaded. The vacuum evacuation of the carrier chamber 5 requires more time than the vacuum evacuation of the transfer relay chamber 6, but progresses to reach a predetermined pressure while processing the first wafer. Then, the transfer relay chamber 6 and the carrier chamber 5 are kept evacuated. Therefore, the return conveyance of the first sheet and the conveyance of the second sheet and the subsequent sheets one by one can be passed through without passing through the conveyance relay chamber 6.

【0022】以上のことにより、ウエーハ搬送で搬送中
継室6に滞留するウエーハは1枚目のみであり、然も、
キャリア室5の真空排気に時間を要してもその時間は実
質的に無視できるようになり、装置のスループットが向
上する。
As a result of the above, only the first wafer remains in the transfer relay chamber 6 during wafer transfer.
Even if it takes time to evacuate the carrier chamber 5, the time can be substantially ignored, and the throughput of the apparatus is improved.

【0023】ところで上述の二つの実施例にはそれぞれ
の持味があり、ウエーハキャリア2に収容するウエーハ
枚数の差などにより優劣がでてくる。そのことが問題に
なる場合は、一つの処理室1に対して第1実施例の搬送
機構と第2実施例の搬送機構との両者を設けて、1台の
装置で両方の搬送方法を行うことができるようにすれば
良い。
By the way, the above-mentioned two embodiments have their own characteristics, and are superior or inferior depending on the difference in the number of wafers accommodated in the wafer carrier 2. When that becomes a problem, both the transfer mechanism of the first embodiment and the transfer mechanism of the second embodiment are provided for one processing chamber 1, and both transfer methods are performed by one apparatus. It should be possible to do.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、処
理室が真空排気を必要とするウエーハ処理装置のウエー
ハ搬送方法に関し、当該装置のスループットを向上させ
るようにする方法が提供されて、例えば半導体装置の製
造において能率向上に寄与するところが大である。
As described above, according to the present invention, there is provided a wafer transfer method for a wafer processing apparatus in which the processing chamber requires vacuum exhaust, and a method for improving the throughput of the apparatus is provided, For example, it greatly contributes to the improvement of efficiency in the manufacture of semiconductor devices.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 第1実施例を実施する装置の要部構成図FIG. 1 is a configuration diagram of main parts of an apparatus for implementing a first embodiment.

【図2】 第2実施例を実施する装置の要部構成図FIG. 2 is a configuration diagram of main parts of an apparatus for implementing a second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 処理室 2 ウエーハキャリア 3 キャリアステージ 4,6 搬送中継室 5 キャリア室 1 processing room 2 wafer carrier 3 career stages 4, 6 Transport relay room 5 Carrier room

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理室が真空排気を必要とするウエーハ
処理装置のウエーハ搬送において、 ウエーハキャリアを載置するキャリアステージと、 一端が該ウエーハステージ上のウエーハキャリアに対向
し他端が該処理室に接続して単独の真空排気が可能であ
り、該ウエーハキャリアと該処理室との間のウエーハ搬
送の中継を行う搬送中継室を2個設け、 該ウエーハキャリアから1枚のウエーハを1個の該搬送
中継室に搬送し該搬送中継室を真空排気してから、該ウ
エーハを真空排気されている該処理室に搬送する工程を
有し、 該工程を2個の該搬送中継室の間で交互に行うことを特
徴とするウエーハ処理装置のウエーハ搬送方法。
1. A wafer carrier for a wafer processing apparatus, the processing chamber of which requires vacuum evacuation, a carrier stage on which a wafer carrier is mounted, one end of which faces the wafer carrier on the wafer stage and the other end of which is the processing chamber. Can be evacuated independently, and two transfer relay chambers for relaying wafer transfer between the wafer carrier and the processing chamber are provided, and one wafer is transferred from the wafer carrier. A step of transferring the wafer to the transfer relay chamber, evacuating the transfer relay chamber, and then transferring the wafer to the processing chamber that is evacuated; A wafer transfer method for a wafer processing apparatus, characterized in that the wafers are alternately processed.
【請求項2】 処理室が真空排気を必要とするウエーハ
処理装置のウエーハ搬送において、 単独の真空排気が可能でありウエーハキャリアを収容す
るキャリア室と、 一端が該キャリア室に接続し他端が該処理室に接続して
単独の真空排気が可能であり、該ウエーハキャリアと該
処理室との間のウエーハ搬送の中継を行う搬送中継室と
を設け、 該キャリア室に収容したウエーハキャリアから1枚目の
ウエーハを該搬送中継室に搬送して、該キャリア室及び
該搬送中継室を個別に真空排気する工程と、 該搬送中継室が真空排気されたところで該1枚目のウエ
ーハを真空排気されている該処理室に搬送する工程と、 該キャリア室が真空排気された後に、2枚目以降のウエ
ーハを該ウエーハキャリアから該処理室に搬送する工程
とを有することを特徴とするウエーハ処理装置のウエー
ハ搬送方法。
2. A wafer carrier of a wafer processing apparatus which requires vacuum evacuation in a processing chamber, wherein a single vacuum evacuation is possible and a carrier chamber accommodating a wafer carrier, one end of which is connected to the carrier chamber and the other end of which is A single vacuum exhaust is possible by connecting to the processing chamber, a transfer relay chamber for relaying the wafer transfer between the wafer carrier and the processing chamber is provided, and the wafer carrier stored in the carrier chamber is A step of transporting the first wafer to the transfer relay chamber and evacuating the carrier chamber and the transfer relay chamber individually; and evacuating the first wafer when the transfer relay chamber is evacuated. And a step of transporting the second and subsequent wafers from the wafer carrier to the processing chamber after the carrier chamber is evacuated. Wafer transfer method of the wafer processing apparatus according to.
JP16133091A 1991-07-02 1991-07-02 Method for transferring wafers for wafer processing device Withdrawn JPH0513546A (en)

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