JPH0512641B2 - - Google Patents

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JPH0512641B2
JPH0512641B2 JP12276788A JP12276788A JPH0512641B2 JP H0512641 B2 JPH0512641 B2 JP H0512641B2 JP 12276788 A JP12276788 A JP 12276788A JP 12276788 A JP12276788 A JP 12276788A JP H0512641 B2 JPH0512641 B2 JP H0512641B2
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JP
Japan
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inspected
turntable
pedestal
inspection
indexing
Prior art date
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Application number
JP12276788A
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Japanese (ja)
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JPH01291110A (en
Inventor
Toshihiro Kajiura
Norio Taneda
Naohide Asari
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Kanebo Ltd
Original Assignee
Kanebo Ltd
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Publication date
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Priority to US07/226,821 priority patent/US4912318A/en
Priority to DE3887937T priority patent/DE3887937T2/en
Priority to EP88112647A priority patent/EP0303175B1/en
Publication of JPH01291110A publication Critical patent/JPH01291110A/en
Publication of JPH0512641B2 publication Critical patent/JPH0512641B2/ja
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、医薬品(バイアル、アンプル)、
食品(飲料水)などの主として瓶状製品や円柱状
製品の外観、寸法、欠陥の有無等の検査を行う検
査装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention is applicable to pharmaceuticals (vials, ampoules),
This invention relates to an inspection device that inspects the appearance, dimensions, presence of defects, etc. of mainly bottle-shaped products and cylindrical products such as food (drinking water).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来より、アンプルやバイアル中の異物の有無
等を検査するために、種々の検査装置が提案され
ている。たとえば特開昭57−11416号公報には、
液体が充填された透明容器を高速回転後、急停止
させ、この透明容器に光線を照射し、反対側から
光検知器で受光して、その受光量から内容液と共
に浮遊回転状態を持続する異物の存在を検出する
検査装置が開示されている。また、特開昭59−
183351号公報には、アンプルを検査ドラムの上下
一対のホルダで保持しながら、アンプルをその軸
心を中心として高速回転させ、ついで急停止させ
て、アンプルを所定方向から透過光を照射してテ
レビジヨンカメラで撮像しながら良品、不良品を
検査するアンプル検査装置が開示されている。
Conventionally, various inspection devices have been proposed for inspecting the presence or absence of foreign matter in ampoules or vials. For example, in Japanese Patent Application Laid-open No. 57-11416,
A transparent container filled with liquid is rotated at high speed, then suddenly stopped, a light beam is irradiated onto the transparent container, the light is received by a photodetector from the opposite side, and the amount of light received indicates a foreign object that continues to float and rotate with the liquid inside. An inspection device is disclosed for detecting the presence of. Also, JP-A-59-
Publication No. 183351 discloses that while the ampoule is held by a pair of upper and lower holders on the inspection drum, the ampoule is rotated at high speed around its axis, then abruptly stopped, and the ampoule is irradiated with transmitted light from a predetermined direction to be displayed on a television. An ampoule inspection device is disclosed that inspects non-defective products and defective products while taking images with a digital camera.

また、バイアルの検査のために、第6図および
第7図に示すように、バイアル40を斜め姿勢で
一対のバー41,41で保持し、下方より回転ロ
ール42をバイアル40の側面に当接させてバイ
アル40を回転させながら多数のバイアル40を
一列に並べて検査部に連続的に搬送し、目視にて
検査する検査装置が市販されている。
In order to inspect the vial, as shown in FIGS. 6 and 7, the vial 40 is held in an oblique position by a pair of bars 41, 41, and a rotating roll 42 is brought into contact with the side surface of the vial 40 from below. There is an inspection device on the market that carries out a visual inspection by arranging a large number of vials 40 in a line while rotating the vials 40 and continuously transporting them to an inspection section.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記特開昭57−11416号公報および特開昭59−
183351号公報に開示の検査装置では、透明容器や
アンプルを回転・搬送するためにこれらを上下か
らホルダーで把持する必要がある。このため、ア
ンプルを上方および下方から検査ができず、それ
ゆえ全面にわたる外観検査ができなかつた。ま
た、ホルダー等が邪魔になつて、これらの被検査
物の近傍まで照明装置を近づけて全面にわたる高
輝度で均質な照明ができないため、高精度な検査
が困難であつた。
The above-mentioned JP-A-57-11416 and JP-A-59-
In the inspection device disclosed in Publication No. 183351, in order to rotate and transport transparent containers and ampoules, it is necessary to grip them with holders from above and below. For this reason, the ampoule could not be inspected from above or below, and therefore the entire surface could not be visually inspected. In addition, the holders and the like get in the way, making it impossible to bring the illumination device close to the objects to be inspected and provide high-intensity, uniform illumination over the entire surface, making it difficult to perform highly accurate inspections.

また、第6図および第7図に示すような搬送形
態では、側面でバイアル40を保持しているため
に、その保持部分で検査できず、またバイアル4
0の把持が不充分であるためにバイアル40が検
査時にぶれるおそれがあつた。
In addition, in the conveyance mode shown in FIGS. 6 and 7, since the vial 40 is held on the side, it is not possible to inspect the vial 40 at that holding part, and the vial 40
0 was insufficiently gripped, there was a risk that the vial 40 would shake during the inspection.

したがつて、この発明の目的は被検査物を安定
に把持しかつ搬送するとともに、均質な照明条件
下で高精度な全面検査が可能な検査装置を提供す
ることである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide an inspection apparatus that can stably grip and transport an object to be inspected and can perform highly accurate full-surface inspection under homogeneous lighting conditions.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明の検査用搬送装置は、一方向は間欠回
転を行うとともに、全外周縁にわたつて複数の被
検査物載置用台座が一定間隔で配列されたインデ
クシヨンターンテーブルと、 このインデクシヨンターンテーブルの上部に同
心円状に配置され回転するとともに、外周面が前
記台座に載置した被検査物の底部近傍の周面に接
触して被検査物を自転させるデイスクターンテー
ブルと、 前記インデクシヨンターンテーブルの台座に載
置される前記被検査物を挟んで前記デイスクター
ンテーブルの外側でかつ前記台座の両側の位置に
互いに近接・離隔自在に設けられ、外周面が前記
被検査物の底部近傍の周面に接触する一対のロー
ラと、 前記インデクシヨンターンテーブルと部分的に
重なり合い、かつインデクシヨンターンテーブル
の間欠回転に連動して、インデクシヨンターンテ
ーブルとの第1の交差部で被検査物をインデクシ
ヨンターンテーブルに供給し、第2の交差部で被
検査物をインデクシヨンターンテーブルから回収
するスターホイルと、 前記インデクシヨンターンテーブルの周方向に
沿つてインデクシヨンターンテーブルの間欠回転
に伴う前記台座の停止位置ごとに配置され、台座
上に載置した前記被検査物の検査対象面を照明す
る複数の照明装置と、 これらの各照明装置で照明された前記被検査物
の検査対象面をそれぞれ撮像して画像信号を出力
する複数の撮像装置と、 この撮像装置から出力された画像信号を処理し
て被検査物の不良信号を発生する画像処理装置
と、 前記スターホイルの近傍に設けられ、スターホ
イルによつて回収された被検査物のうちから、前
記不良信号に応答して不良品を選別する選別装置
とを備えたものである。
The inspection conveyance device of the present invention includes an index turntable that performs intermittent rotation in one direction and has a plurality of test object mounting bases arranged at regular intervals over the entire outer periphery; a disk turntable arranged concentrically on the upper part of the mount and rotates, and whose outer circumferential surface contacts the circumferential surface near the bottom of the object placed on the pedestal to rotate the object to be inspected; They are provided outside the disk turntable and on both sides of the pedestal so as to be able to approach and separate from each other with the object to be inspected placed on the pedestal of the Dexion turntable sandwiching the object to be inspected. a pair of rollers that contact a peripheral surface near the bottom; and a pair of rollers that partially overlap the index turntable and interlock with the intermittent rotation of the index turntable, and a first intersection with the index turntable. a star foil that supplies the object to be inspected to the index turntable at a second intersection point and retrieves the object to be inspected from the index turntable at a second intersection; a plurality of lighting devices arranged at each stop position of the pedestal due to intermittent rotation of the Dexion turntable and illuminating the inspection target surface of the object to be inspected placed on the pedestal; a plurality of imaging devices each capturing an image of the surface to be inspected of the object to be inspected and outputting an image signal; and an image processing device processing the image signal output from the imaging device to generate a defect signal of the object to be inspected. and a sorting device that is provided near the star foil and selects defective products from the inspected objects collected by the star foil in response to the defect signal.

〔作用〕[Effect]

この発明によれば、間欠回転するインデクシヨ
ンターンテーブルの全外周縁にわたつて配列した
台座上に被検査物が載置される。前記台座は検査
ステーシヨンとなつて、インデクシヨンターンテ
ーブルの間欠回転に伴つて、照明装置および撮像
装置が設けられた部位ごとに順次停止し、停止の
間に照明装置で被検査物の検査対象面を照明し、
撮像装置にて撮像する。このとき台座上に載置さ
れた被検査物は一対のローラとデイスクターンテ
ーブルとによつてその底部近傍の周面で把持さ
れ、かつデイスクターンテーブルの回転によつて
自転させられる。
According to this invention, the objects to be inspected are placed on the pedestals arranged over the entire outer periphery of the index turntable that rotates intermittently. The pedestal serves as an inspection station, and as the index turntable rotates intermittently, the pedestal stops sequentially at each location where the illumination device and imaging device are installed, and during the stop, the illumination device illuminates the object to be inspected. illuminate the surface,
Capture an image using an imaging device. At this time, the object to be inspected placed on the pedestal is held by a pair of rollers and a disk turntable on its circumferential surface near the bottom, and is rotated by rotation of the disk turntable.

前記インデクシヨンターンテーブルへの被検査
物の供給および回収は、スターホイルによつて行
われる。すなわち、スターホイルはインデクシヨ
ンターンテーブルと部分的に重なり合つて設けら
れ、それらの第1の交差部および第2の交差部で
それぞれ被検査物の供給および回収を行う。
The object to be inspected is supplied to and recovered from the index turntable using a star wheel. That is, the star foil is provided so as to partially overlap the index turntable, and the test object is supplied and retrieved at the first and second intersections thereof, respectively.

スターホイルにて回収された被検査物は、前記
撮像装置からの画像信号を処理した画像処理装置
からの不良信号に応答する選別装置によつて不良
品と良品とに選別される。
The inspected objects collected by the star foil are sorted into defective items and non-defective items by a sorting device that responds to a defective signal from an image processing device that has processed the image signal from the imaging device.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの実施例における検査装置の全体構
成を示す平面図、第2図はこの検査装置における
被検査物の搬送機構を示す平面図、第3図は被検
査物の保持機構を示す一部破断斜視図である。
Fig. 1 is a plan view showing the overall configuration of the inspection device in this embodiment, Fig. 2 is a plan view showing the transport mechanism of the object to be inspected in this inspection device, and Fig. 3 is a plan view showing the holding mechanism of the object to be inspected. FIG. 3 is a partially cutaway perspective view.

この実施例の検査装置は、バイアルを被検査物
とするものであつて、第1図に示すように、被検
査物1を供給する供給コンベア2の先端には整流
テーブル3が設けられ、この整流テーブル3を介
してスクリユーフイーダ4が連接される。前記整
流テーブル3は被検査物1を一列に整列させ、被
検査物1をスクリユーフイーダ4に移送する。ス
クリユーフイーダ4は被検査物1を所定の間隔を
もつて順スターホイル5に移送する。
The inspection apparatus of this embodiment uses a vial as the object to be inspected, and as shown in FIG. A screw feeder 4 is connected via a rectifying table 3. The rectifying table 3 aligns the objects 1 to be inspected in a line and transfers the objects 1 to the screw feeder 4. The screw feeder 4 transfers the inspection object 1 to the star wheel 5 at a predetermined interval.

スターホイル5は一方向に間欠回転するととも
に、第2図に示すように、その周囲に所定間隔で
搬送ポケツト5aが設けられており、この搬送ポ
ケツト5aに被検査物1を保持する。このスター
ホイル5はインデクシヨンターンテーブル6と部
分的に重なり合い、かつこれと連動して間欠回転
している。
The star foil 5 rotates intermittently in one direction, and as shown in FIG. 2, transport pockets 5a are provided around it at predetermined intervals, and the object 1 to be inspected is held in the transport pockets 5a. This star wheel 5 partially overlaps the index turntable 6 and rotates intermittently in conjunction with the index turntable 6.

インデクシヨンターンテーブル6はその全周に
わたつて、第3図に示すように外周縁から半径方
向に突設された複数の被検査物載置用台座7を有
する。この台座7は回転する被検査物1の滑り性
等を考慮して、セラミツクス材等の摩擦抵抗の少
ない材質でつくられる。台座7の両側部には一対
のアーム8,8が配置され、これらのアーム8,
8の先端部上面にはそれぞれ外周面が被検査物1
の周面に接触するローラ9,9が取付けられる。
前記アーム8,8は先端部から相互に近接・離隔
自在に取付けられ、かつそれらの先端部間にばね
16が張設されて、前記ローラ9,9を互いに近
接する方向に付勢する。
The index turntable 6 has, over its entire circumference, a plurality of pedestals 7 for placing objects to be inspected, which protrude in the radial direction from the outer periphery, as shown in FIG. This pedestal 7 is made of a material with low frictional resistance, such as ceramics, in consideration of the slipperiness of the rotating object 1 to be inspected. A pair of arms 8, 8 are arranged on both sides of the pedestal 7, and these arms 8,
The outer circumferential surface of each of the top surfaces of the tips of 8 is the object to be inspected 1.
Rollers 9, 9 are attached to contact the peripheral surface of.
The arms 8, 8 are attached so as to be able to approach and separate from each other from their tips, and a spring 16 is stretched between the tips of the arms 8, urging the rollers 9, 9 toward each other.

また、インデクシヨンターンテーブル6の上方
には、これと同心円状でかつインデクシヨンター
ンテーブル6よりも半径が大きく、外周面が前記
被検査物1と接触するデイスクターンテーブル1
0が設けられる。このため、被検査物1はその底
部近傍の周面でローラ9,9とデイスクターンテ
ーブル10とによつて把持されており、かつデイ
スクターンテーブル10の回転によつて自転して
いる。
Further, above the index turntable 6, there is a disk turntable 1 which is concentric with the index turntable 6, has a larger radius than the index turntable 6, and whose outer peripheral surface is in contact with the object to be inspected 1.
0 is set. Therefore, the object 1 to be inspected is held by the rollers 9, 9 and the disk turntable 10 on its circumferential surface near the bottom, and is rotated by the rotation of the disk turntable 10.

前記スターホイル5からの台座7への被検査物
1の供給は、第2図に示すように、被検査物1を
保持した搬送ポケツト5aがインデクシヨンター
ンテーブル6とスターホイル5との第1の交差部
17に近づくと、前記一対のローラ9,9の間を
押し広げるようにして被検査物1を台座7上に載
置させ、ついでインデクシヨンターンテーブル6
が間欠回転を開始してスターホイル5から被検査
物1を離脱させるのである。
The object to be inspected 1 is supplied from the star foil 5 to the pedestal 7, as shown in FIG. 1, the object 1 to be inspected is placed on the pedestal 7 by pushing it apart between the pair of rollers 9, 9, and then placed on the index turntable 6.
starts intermittent rotation to detach the object 1 from the star foil 5.

前記インデクシヨンターンテーブル6は一方向
に間欠回転する円板状のものであつて、一定時間
ごとに停止と回転を繰り返す。そして、検査ステ
ーシヨンとなる各台座7の停止位置には、第1図
に示すように、照明装置11a〜11gと撮像装
置12a〜12g(ラインセンサカメラ等)が配
置される。各照明装置11a〜11gは被検査物
1の互いに異なる検査対象面を均質照明し、撮像
装置12a〜12gによつて各検査対象面を撮像
する。検査対象面としては、被検査物1がバイア
ルの場合、そのキヤツプ天面、頭部側面、容器の
肩口側面、側面、内容物の表面、底面などが可能
であり、これらの検査対象面から検査目的に応じ
て適宜選択することができる。
The index turntable 6 has a disc shape that rotates intermittently in one direction, and repeats stopping and rotating at regular intervals. As shown in FIG. 1, illumination devices 11a to 11g and imaging devices 12a to 12g (line sensor cameras, etc.) are arranged at the stopping positions of each pedestal 7 serving as an inspection station. Each of the illumination devices 11a to 11g uniformly illuminates different surfaces to be inspected of the object 1 to be inspected, and images of each surface to be inspected are captured by the imaging devices 12a to 12g. When the object to be inspected 1 is a vial, the top surface of the cap, the side surface of the head, the side surface of the shoulder of the container, the side surface, the surface of the contents, the bottom surface, etc. can be inspected from these surfaces. It can be selected as appropriate depending on the purpose.

第4図Aは被検査物1の側面を検査するための
撮像装置12aの位置を示しており、被検査物1
の前方に設けたミラー14aを介して撮像してい
る。また、第4図Bにおいて、矢印30は同図A
の撮像装置12aによる検査ラインである。第5
図Aは被検査物1の底面を検査するための撮像装
置12bの位置を示しており、被検査物1を載置
した台座7の底部に設けたスリツト15を経て下
方のミラー14b,14cを介して撮像してい
る。また、第5図Bにおいて、矢印31は同図A
の撮像装置12bによる検査ラインである。
FIG. 4A shows the position of the imaging device 12a for inspecting the side surface of the object to be inspected 1.
The image is captured through a mirror 14a provided in front of the camera. In addition, in FIG. 4B, the arrow 30 is
This is an inspection line by the imaging device 12a. Fifth
Figure A shows the position of the imaging device 12b for inspecting the bottom surface of the object 1 to be inspected. Images are taken through the In addition, in FIG. 5B, the arrow 31 is
This is an inspection line by the imaging device 12b.

このように、被検査物1の把持を前記一対のロ
ーラ9,9とデイスクターンテーブル10とで被
検査物1の底部近傍の周面を挟着して行い、かつ
デイスクターンテーブル10の回転により被検査
物1を自転させるため、被検査物1の把持が安定
するとともに、被検査物1にいかなる被検査面に
対しても必要な方向から高輝度で均質に照明でき
るため、全面検査が可能となる。
In this way, the object to be inspected 1 is gripped by pinching the peripheral surface of the object to be inspected near the bottom between the pair of rollers 9, 9 and the disk turntable 10, and by the rotation of the disk turntable 10. Since the object to be inspected 1 is rotated, the grip of the object to be inspected is stable, and any surface of the object to be inspected can be uniformly illuminated with high brightness from the required direction, making it possible to inspect the entire surface of the object to be inspected. becomes.

各検査ステーシヨンでの検査が終了した被検査
物1は、第2図に示すように、第2の交差部18
においてスターホイル5の搬送ポケツト5aで受
け、ついでスターホイル5が被検査物1を取り出
す方向に間欠回転して、被検査物1を台座5から
離脱させる。搬送ポケツト5aに回収された被検
査物1は、選別装置19によつて良品20と不良
品21とに選別される。すなわち、第1図に示す
ように、前記撮像装置12a〜12gから出力さ
れた画像信号を画像処理装置22で処理し、被検
査物1が良品と判定された場合は、選別装置19
に設けたゲート23を開いて(第2図を参照)、
良品20を良品排出ベルト24にてスターホイル
5から排出し、良品排出コンベア25で次工程に
搬送する。
The inspected object 1 that has been inspected at each inspection station is moved to the second intersection 18 as shown in FIG.
Then, the star foil 5 rotates intermittently in the direction in which the object to be inspected 1 is taken out, and the object to be inspected 1 is removed from the pedestal 5. The inspection object 1 collected in the transport pocket 5a is sorted into good items 20 and defective items 21 by the sorting device 19. That is, as shown in FIG. 1, when the image signals output from the imaging devices 12a to 12g are processed by the image processing device 22 and the inspected object 1 is determined to be a good product, the sorting device 19
Open the gate 23 provided in (see Figure 2),
The non-defective product 20 is discharged from the star foil 5 by a non-defective product discharge belt 24 and conveyed to the next process by a non-defective product discharge conveyor 25.

一方、不良と判定された場合には、不良信号に
応答してゲート23を閉じて不良品を通過させ、
不良品排出コンベア26にて排出する。
On the other hand, if it is determined to be defective, the gate 23 is closed in response to the defective signal and the defective product is allowed to pass through.
The defective products are discharged by the defective product discharge conveyor 26.

このように、スクリユーフイーダ4からスター
ホイル5を経てインデクシヨンターンテーブル6
の台座7に被検査物1を載置させ、検査したの
ち、同じスタートホイル5にて被検査物1を回収
し、選別装置19にて選別するので、装置のコン
パクト化を図ることができ、かつ被検査物1を安
定に搬送することができる。
In this way, the screw feeder 4 passes through the star foil 5 to the index turntable 6.
The object to be inspected 1 is placed on the pedestal 7, and after inspection, the object to be inspected 1 is collected by the same start wheel 5 and sorted by the sorting device 19, so that the device can be made more compact. Moreover, the object to be inspected 1 can be transported stably.

〔発明の効果〕 この発明によれば、スターホイルを経てインデ
クシヨンターンテーブルの台座に被検査物を間欠
的に移送し、検査したのち、同じスターホイルに
て被検査物を回収し、選別装置にて選別するの
で、装置全体がコンパクトになり、しかも被検査
物を安定に搬送することができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, the objects to be inspected are intermittently transferred to the pedestal of the indexing turntable via the star foil, and after being inspected, the objects to be inspected are collected by the same star foil and sorted. Since the sorting is done by the device, the entire device can be made compact and the objects to be inspected can be transported stably.

また、一対のローラとデイスクターンテーブル
とで被検査物の底部近傍の周面を把持し、かつデ
イスクターンテーブルの回転により被検査物を自
転させるため、被検査物の把持が安定するととも
に、被検査物のいかなる被検査面に対しても必要
な方向から高輝度で均質照明できるため、高精度
な全面検査が可能となる。
In addition, since a pair of rollers and a disk turntable grip the peripheral surface near the bottom of the object to be inspected, and the disk turntable rotates the object to be inspected, the object to be inspected can be held stably and the object to be inspected can be rotated. Since any surface of the object to be inspected can be illuminated uniformly with high brightness from the necessary direction, highly accurate full-surface inspection is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す概略説明
図、第2図はその搬送機構を示す平面図、第3図
は被検査物の把持機構を示す一部破断斜視図、第
4図AおよびBは被検査物の側面の撮像機構を示
す概略側面図および正面図、第5図AおよびBは
被検査物の底面の撮像機構を示す概略側面図およ
び底面図、第6図および第7図は従来の目視によ
る外観検査機構における被検査物の保持装置を示
す側面図および正面図である。 1……被検査物、4……スクリユーフイーダ、
5……スターホイル、6……インデクシヨンター
ンテーブル、7……台座、9……ローラ、10…
…デイスクターンテーブル、11a〜11g……
照明装置、12a〜12g……撮像装置、19…
…選別装置、22……画像処理装置。
FIG. 1 is a schematic explanatory diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view showing its conveyance mechanism, FIG. 3 is a partially cutaway perspective view showing a gripping mechanism for an object to be inspected, and FIG. 4A and B are schematic side views and front views showing the imaging mechanism on the side surface of the object to be inspected, FIGS. 5A and B are schematic side views and bottom views showing the imaging mechanism on the bottom surface of the object to be inspected, and FIGS. 6 and 7 The figures are a side view and a front view showing a holding device for an object to be inspected in a conventional visual appearance inspection mechanism. 1...Object to be inspected, 4...Screw feeder,
5... Star foil, 6... Index turntable, 7... Pedestal, 9... Roller, 10...
...Disc turntable, 11a to 11g...
Illumination device, 12a to 12g... Imaging device, 19...
... Sorting device, 22... Image processing device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一方向に間欠回転を行うとともに、全外周縁
にわたつて複数の被検査物載置用台座が一定間隔
で配列されたインデクシヨンターンテーブルと、 このインデクシヨンターンテーブルの上部に同
心円状に配置され回転するとともに、外周面が前
記台座に載置した被検査物の底部近傍の周面に接
触して被検査物を自転させるデイスクターンテー
ブルと、 前記インデクシヨンターンテーブルの台座に載
置される前記被検査物を挟んで前記デイスクター
ンテーブルの外側でかつ前記台座の両側の位置に
互いに近接・離隔自在に設けられ、外周面が前記
被検査物の底部近傍の周面に接触する一対のロー
ラと、 前記インデクシヨンターンテーブルと部分的に
重なり合い、かつインデクシヨンターンテーブル
の間欠回転に連動して、インデクシヨンターンテ
ーブルとの第1の交差部で被検査物をインデクシ
ヨンテーブルに供給し、第2の交差部で被検査物
をインデクシヨンターンテーブルから回収するス
ターホイルと、 前記インデクシヨンターンテーブルの周方向に
沿つてインデクシヨンターンテーブルの間欠回転
に伴う前記台座の停止位置ごとに配置され、台座
上に載置した前記被検査物の検査対象面を照明す
る複数の照明装置と、 これらの各照明装置で照明された前記被検査物
の検査対象面をそれぞれ撮像して画像信号を出力
する複数の撮像装置と、 この撮像装置から出力された画像信号を処理し
て被検査物の不良信号を発生する画像処理装置
と、 前記スターホイルの近傍に設けられ、スターホ
イルによつて回収された被検査物のうちから、前
記不良信号に応答して不良品を選別する選別装置
とを備えた検査装置。
[Scope of Claims] 1. An index turntable that rotates intermittently in one direction and has a plurality of pedestals for placing objects to be inspected arranged at regular intervals over the entire outer periphery; a disc turntable that is arranged concentrically on the top of the table and rotates, and whose outer circumferential surface contacts the circumferential surface near the bottom of the object placed on the pedestal to rotate the object to be inspected; and the indexer. They are provided outside the disk turntable and on both sides of the pedestal so as to be able to approach and separate from each other, with the object to be inspected placed on the pedestal of the turntable sandwiched therebetween, and the outer peripheral surface is near the bottom of the object to be inspected. a pair of rollers that are in contact with the peripheral surface of the index turntable; a star foil for supplying an object to be inspected to an indexing table and collecting the object to be inspected from the indexing turntable at a second intersection; and an indexing turn along the circumferential direction of the indexing turntable. A plurality of lighting devices are arranged at each stop position of the pedestal due to intermittent rotation of the table and illuminate the inspection target surface of the object to be inspected placed on the pedestal, and the object illuminated by each of these lighting devices. a plurality of imaging devices that respectively image the inspection target surface of the inspection object and output image signals; an image processing device that processes the image signals output from the imaging devices and generates a defect signal of the inspection object; An inspection device comprising: a sorting device that is provided near a star foil and selects defective products from among the inspected objects collected by the star foil in response to the defect signal.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2597763B2 (en) * 1991-03-29 1997-04-09 昭和アルミニウム株式会社 Work appearance inspection device
JPH04309851A (en) * 1991-04-05 1992-11-02 Hitachi Ltd External appearance/foreign matter composite type inspecting device
JPH04359109A (en) * 1991-06-04 1992-12-11 Showa Alum Corp Device for simultaneously inspecting appearance of both surfaces of work
JP2503091Y2 (en) * 1993-02-02 1996-06-26 株式会社エイチイーシー Shape inspection device for circular objects
JPH06288721A (en) * 1993-04-01 1994-10-18 Masahide Matsuda Automatic inspection device
EP1371041A4 (en) * 2001-02-02 2006-04-19 Bristol Myers Squibb Pharma Co Apparatus and methods for on-line monitoring of fluorinated material in headspace of vial
JPWO2005031328A1 (en) * 2003-09-30 2007-11-15 エーザイ・アール・アンド・ディー・マネジメント株式会社 Inspection system
JP5108215B2 (en) * 2005-08-19 2012-12-26 日本碍子株式会社 Method and apparatus for positioning columnar structure
EP2801790B1 (en) * 2013-01-30 2016-10-05 Nittan Valve Co., Ltd. Workpiece inspection equipment
CN104291108B (en) * 2014-09-30 2018-04-17 楚天科技股份有限公司 A kind of lamp inspection device and double lamp inspection machines
WO2017022046A1 (en) 2015-08-03 2017-02-09 日鍛バルブ株式会社 Flaw inspection method and device for engine valve shaft connection part
JP7376793B2 (en) * 2020-02-25 2023-11-09 愛知製鋼株式会社 A workpiece rotation device for inspection, a workpiece inspection device equipped with the workpiece rotation device for inspection, and a workpiece inspection method using the workpiece inspection device

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