JPH05118914A - アレー状電磁波センサ - Google Patents

アレー状電磁波センサ

Info

Publication number
JPH05118914A
JPH05118914A JP3282804A JP28280491A JPH05118914A JP H05118914 A JPH05118914 A JP H05118914A JP 3282804 A JP3282804 A JP 3282804A JP 28280491 A JP28280491 A JP 28280491A JP H05118914 A JPH05118914 A JP H05118914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
anode
electromagnetic wave
holes
photocathode
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3282804A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoyuki Hori
直行 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP3282804A priority Critical patent/JPH05118914A/ja
Publication of JPH05118914A publication Critical patent/JPH05118914A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Common Detailed Techniques For Electron Tubes Or Discharge Tubes (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 半導体を用いず、電磁波の2次元情報を高精
度に得ることが可能で、個々のセンサの特性のばらつき
が少なく、長期の使用等によっても劣化しにくいアレー
状電磁波センサを提供する。 【構成】 絶縁体層2に2次元状に複数の孔3を形成
し、この各孔内には陽極を臨ませ、絶縁体層2の上また
は下には光電陰極4を配置し、または陽極〜陰極間にダ
イノードを配置して、陽極から各孔位置における電磁波
の入射量に応じた光電流を取り出す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明はX線や光等の電磁波を
2次元的に検出することのできるアレー状電磁波センサ
に関する。
【0002】
【従来の技術】 X線や光の空間分布を検出するセンサ
としては、従来、化合物半導体センサやフォトダイオー
ド等の半導体センサを1次元または2次元状に並べたア
レー状センサがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】 ところで、半導体セ
ンサでは、一般に、Si 以外の物質では結晶の特性や均
一性において未だ不十分なものが多く、これをアレー状
センサとして用いた場合には、個々のセンサに特性のば
らつきが生じたり、あるいは製造歩留りが悪くなるとい
う問題がある。
【0004】また、半導体センサにおいては、入射光の
レートが高くなると検出感度が低下し、エネルギ分別が
不可能になったり、あるいは紫外線等により次第に劣化
してしまうという問題もある。
【0005】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
ので、半導体を用いず、微弱な光やX線等の電磁波の空
間分布を高精度に2次元的に検出することができ、個々
のセンサに特性のばらつきが少なく、高い歩留りのもと
に製造することができ、更には長期の使用によっても劣
化しにくいアレー状電磁波センサの提供を目的としてい
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】 上記の目的を達成する
ため、第1発明のアレー状電磁波センサでは、実施例図
面である図1に示すように、基板1上に形成された絶縁
体層2に、2次元状に複数個の孔3・・3を形成し、この
絶縁体層2と基板1の間、もしくは絶縁体層2の上方
に、各孔3・・3の一端部を覆うよう光電陰極4を配設
し、また、各孔3・・3の内部側面には、それぞれ個別の
陽極5と、その陽極5と光電陰極4との間に共通のグリ
ッド7とを臨ませて、その各陽極5・・5およびグリッド
7を絶縁体層2の上面に形成したパッド5a・・5aない
し7aに連通させた構造としている。
【0007】また、第2発明のアレー状電磁波センサで
は、同じく実施例図面である図3に示すように、基板3
1上に形成された絶縁体層32に、2次元状に複数個の
孔33・・33を形成するとともに、この絶縁体層32の
上方には、各孔33・・33の上面を覆うよう光電陰極3
4を配設し、また、各孔33・・33の下面にはそれぞれ
個別の陽極35を形成し、この各陽極35・・35を絶縁
体層32の上面に形成されたパッド35a・・35aに連
通させ、更に、各孔33・・33内には、光電陰極34か
ら放出された光電子を増幅するダイノード36(および
37)を配設した構造としている。
【0008】
【作用】 第1発明の構成において、図1の例では電磁
波が孔3を通ってその底の光電陰極4にぶつかると、そ
こから光電子が放出される。この光電子は、光電陰極4
と陽極5間に設けられたグリッド7によりエネルギ調整
がなされて陽極5に入る。各孔3・・3のそれぞれに配設
された陽極5・・5からパッド5a・・5aを介して取り出
された信号は、各孔3・・3の位置に対応した電磁波検出
データとなり、半導体センサを用いずに電磁波の2次元
情報が得られる。
【0009】この第1発明において、光電陰極4は図1
のように各孔3・・3の底部に位置させるほか、各孔3・・
3の上面を覆うような位置とする態様(図2参照)があ
るが、この場合でも同様な作用が得られる。
【0010】第2の発明の構成において、基板31の上
方に置かれた光電陰極34に電磁波が衝突すると同様に
して光電子が放出されるが、この光電子のうち、孔33
の上方のものはダイノード36(および37)に導か
れ、ここで2次電子を放出することにより増幅された
後、その下部の陽極35に入り、各陽極35からパッド
35aを介して取り出された信号は、各孔33・・33の
配設位置に対応する電磁波検出データとなる。
【0011】
【実施例】 図1は第1の発明の実施例の構造を示す部
分拡大縦断面図である。絶縁性の基板1の表面に光電陰
極4が形成されており、更にその上には絶縁体層2が形
成されている。この絶縁体層2には2次元状に多数個の
井戸状の孔3・・3が穿たれている。
【0012】各孔3・・3の内面には、上から第1の陽極
5、第2の陽極6、およびグリッド7が、それぞれ所定
の距離を開けて露出しており、このうち、第1と第2の
電極5と6については、それぞれの孔3・・3に対応して
絶縁体層2の表面に設けられたパッド5a・・5aまたは
6a・・6aにそれぞれ独立的に接続されている。また、
グリッド7については、各孔3・・3内に対して共通接続
されており、絶縁体層2の表面に1個だけ設けられたパ
ッド7aに連通している。
【0013】パッド5a・・5a,6a・・6aおよび7a
が形成された絶縁体層2の表面から所定の間隙を開けて
その上方には、各孔3・・3内で露出している光電陰極4
の表面に垂直な電磁波だけを検出することを目的とし
て、各孔3・・3の直上部分にのみ開口部8a・・8aを持
つ遮光板8が配設されている。
【0014】基板1の材質は絶縁性のものであればなん
でもよく、また、第1と第2の陽極5と6、およびグリ
ッド7については金属がよい。また、光電陰極4として
は光電子を放出しやすい公知の材料、例えばアルカリ−
アンチモン金属間化合物等が用いられる。
【0015】以上のような構造は、フォトリソグラフィ
ーやエッチング、および製膜等のIC製造プロセス技術
を用いることによって比較的容易に得ることができる。
すなわち、絶縁体層2は実際には複数層の絶縁体膜の積
層体であり、各層間にグリッド7や各陽極5,6等の金
属膜を形成してこれを適宜にパターニングし、その上層
に絶縁体膜を形成する手法により製造できる。
【0016】以上の構造において、各パッド5a・・5
a,6a・・6aおよび7aを介して、第1と第2の陽極
5と6にはそれぞれ正のバイアスが、グリッド7には負
のバイアスが印加される。そして、このアレー状電磁波
センサは、通常は真空中に置いて使用する。
【0017】このような使用状態で遮光板8の上方から
X線等の電磁波が到来すると、開口部8a・・8aを通過
した電磁波が各孔3・・3内に入り、その底部で露出して
いる光電陰極4にぶつかり、光電子eを放出する。この
光電子eは、グリッド7によりそのエネルギが調整さ
れ、ここのバイアス電圧で規定されたエネルギを持つ光
電子がその上方に向かって進行する。エネルギが高い光
電子ほど曲がりが少なく、光電陰極4からより遠い位置
にある第1の陽極5にまで至ってここで捕らえられる。
また、より低いエネルギを持つ光電子はそれよりも手前
側の第2の陽極6によって捕らえられる。このような光
電子の捕捉により、各陽極5・・5,6・・6には電流が流
れるので、この電流を各パッド5a・・5a,6a・・6a
を介して取り出せば、各孔3・・3の位置に対応する2次
元の電磁波情報を、エネルギ分別した状態で得ることが
できる。すなわち、光電子のエネルギの分布は、X線等
の電磁波のエネルギに依存するので、結局、光電子のエ
ネルギを分別することにより、被測定電磁波のエネルギ
分別が可能となるわけである。
【0018】以上の実施例において注目すべき点は、半
導体センサを用いていないので応答速度が速く、また、
グリッドと複数の陽極により明瞭にエネルギ分別を行う
ことができる点であり、これにより、電磁波の入射レー
トが高くても充分に使用可能で、しかも、高い入射レー
トでもエネルギ分別が容易となる。
【0019】図2は第1発明の他の実施例の構造を示す
部分拡大縦断面図で、図1と同一の機能を持つものは同
一の符号を付してその詳細説明を省略する。この例で
は、光電陰極4を絶縁体層2の上方に配置し、それに伴
って第1と第2の陽極5と6、およびグリッド7の位置
を逆転させている。この場合、光電陰極4と絶縁体層2
の間に、各孔3・・3の直上部分にのみ開口部9a・・9a
を持つ集束電極9を設け、この集束電極9には正のバイ
アスを印加して、光電陰極4への電磁波の入射による光
電子eが孔3・・3内にのみ入り、孔3・・3以外のパッド
5a・・5a等に捕らえられないようにするとともに、光
電子eを正しく孔3・・3内に導くように構成することが
望ましい。この構造によっても、図1の実施例と同等の
作用が得られる。
【0020】なお、以上の第1発明の各実施例におい
て、被測定電磁波が弱く、光電流が充分にとれない場合
には、センサを真空中ではなくガスの中に入れることに
より、その電離によって電流を増幅することができる。
【0021】また、各孔3・・3に配設される陽極の数
は、以上の実施例のように2つに限られることなく、エ
ネルギ分別が必要な任意数の陽極を設けることができ
る。図3は第2の発明の実施例の構成を示す部分拡大縦
断面図である。この第2の発明は、電磁波の中でも、特
に微弱光を測定するのに適している。
【0022】絶縁性の基板31の上には絶縁体層32が
形成されており、この絶縁体層32には、第1の発明と
同様に、2次元状に多数個の井戸状の孔33・・33が穿
たれている。そして、この各孔33・・33の底部には、
それぞれ陽極35が配設されており、この各陽極35・・
35は、絶縁体層32の表面に形成されたパッド35a
・・35aにそれぞれ個別に接続されている。
【0023】絶縁体層32の上方には、その表面と所定
の間隙を開けて一様に光電陰極34が配置されていると
ともに、この光電陰極34と絶縁体層32の間には集束
電極39が設けられている。この集束電極39には、各
孔33・・33の直上部分にのみ開口部39a・・39aが
形成されている。
【0024】そして、各孔33・・33の内部には、光電
陰極34と各陽極35の間を遮るように2つの透過型ダ
イノード36および37が配設されている。この実施例
において、基板31、光電陰極34、陽極35の材質は
第1の発明と同等でよく、また、透過型ダイノード3
6,37については、2次電子の放出しやすい金属等で
あればよい。
【0025】このようなアレー状センサは、第1の発明
のセンサと同様に真空雰囲気中で使用され、また、パッ
ド35a・・35aを介して陽極35には正のバイアス
が、また集束電極39にも正のバイアスが印加される。
更に、各透過型ダイノード36および37には、電子を
加速するためにそれぞれ適当なバイアスをかける。
【0026】このような使用状態において、光電陰極3
4の上方から光等の電磁波が到来すると、そこから光電
子eが放出されるが、この光電子eは次段の集束電極3
9により、各孔33・・33の上方で放出されたものだけ
が加速されて孔33・・33に入り、他のものはここでカ
ットされる。
【0027】孔33内に入った光電子eは、まず上側の
透過型ダイノード36に衝突して、ここで増幅された後
に下側の透過型ダイノード37に衝突し、更に増幅され
て陽極35に集められる。これにより、各陽極35・・3
5にはそれぞれの孔33・・33内に入った光電子の量、
従って各位置における被測定電磁波の量に応じた電流が
流れることになり、各パッド35a・・35aから各孔3
3・・33の位置に対応する2次元の電磁波情報を得るこ
とができる。
【0028】この実施例においても、半導体センサを使
用しないから応答速度が速く、透過型ダイノード36,
37を設けていることにより光電陰極34からの光電子
がねずみ算的に増幅されて陽極35に集められ、微弱光
等でも高感度の測定が可能となる。
【0029】なお、各貫通孔内における透過型ダイノー
ドの数は2に限られず、任意であることは言うまでもな
い。ここで、ダイノードとして透過型のもののほか、反
射型のダイノードを用いることができる。この場合、孔
33の側壁部分に1個または複数個の反射型ダイノード
を臨ませ、光電陰極34からの光電子eをここで反射さ
せつつ増幅して陽極35に集めるよう構成すればよい。
【0030】また、この第2の発明のアレー状センサの
上方にNaI等の放射線により傾向をハッスル物質を配
置すれば、2次元シンチレーションカウンタとしても使
用することができる。
【0031】
【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、絶縁体層に2次元状に穿った複数の孔内に陽極を臨
ませ、光電陰極への被測定電磁波の入射により放出され
る光電子を、各孔内に導いてそれぞれの陽極で集めるこ
とにより、各孔の配設位置における電磁波を個別に検出
して2次元的な電磁波の情報の採取を可能としているた
め、半導体センサを用いる場合に比して応答速度が速
く、高い入射レートでも感度が低下することがないとと
もに、結晶の特性や均一性を問題とする必要がなくな
り、高いスループットで製造することができる。また、
フォトダイオードのように紫外線等による劣化もない。
【0032】また、第1の発明において各孔内に複数の
陽極を設けることにより、エネルギ分別を明瞭に行うこ
とが可能となり、応答速度が速いことと併せてX線のカ
ウント数が多くなってもエネルギ分別が可能である。
【0033】第2の発明においては、ダイノードを複数
段に配設することにより、極めて微弱な光でも光感度の
もとに2次元的な情報を得ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第1の発明の実施例の構成を示す部分拡大縦
断面図
【図2】 第1の発明の他の実施例の構成を示す部分拡
大縦断面図
【図3】 第2の発明の実施例の構成を示す部分拡大縦
断面図
【符号の説明】
1・・・・基板 2・・・・絶縁体層 3・・3・・・・孔 4・・・・光電陰極 5・・5・・・・第1の陽極 5a・・5a・・・・パッド 6・・6・・・・第2の陽極 6a・・6a・・・・パッド 7・・・・グリッド 7a・・・・パッド 8・・・・遮光板 8a・・8a・・・・開口部 9・・・・集束電極 31・・・・基板 32・・・・絶縁体層 33・・33・・・・貫通孔 34・・・・光電陰極 35・・35・・・・陽極 35a・・35a・・・・パッド 36,37・・・・透過型ダイノード 39・・・・集束電極 39a・・39a・・・・開口部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に形成された絶縁体層に、2次元
    状に複数個の孔が形成されているとともに、この絶縁体
    層と上記基板の間、もしくは上記絶縁体層の上方に、上
    記各孔の一端部を覆うよう光電陰極が配設され、かつ、
    上記各孔の内部側面にはそれぞれ個別の陽極と、共通の
    グリッドが臨み、その各陽極およびグリッドは上記絶縁
    体層の上面に形成されたパッドに連通してなるアレー状
    電磁波センサ。
  2. 【請求項2】 基板上に形成された絶縁体層に、2次元
    状に複数個の孔が形成されているとともに、この絶縁体
    層の上方には、上記各孔の上面を覆うよう光電陰極が配
    設され、かつ、上記各孔の下面にはそれぞれ個別の陽極
    が形成され、この各陽極は上記絶縁体層の上面に形成さ
    れたパッドに連通し、また、上記各孔内には、上記光電
    陰極から放出された光電子を増幅するダイノードが配設
    されてなるアレー状電磁波センサ。
JP3282804A 1991-10-29 1991-10-29 アレー状電磁波センサ Pending JPH05118914A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3282804A JPH05118914A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 アレー状電磁波センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3282804A JPH05118914A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 アレー状電磁波センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05118914A true JPH05118914A (ja) 1993-05-14

Family

ID=17657309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3282804A Pending JPH05118914A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 アレー状電磁波センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05118914A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022517431A (ja) * 2019-01-18 2022-03-08 ユニヴェルシテ クロード ベルナール リヨン 1 素粒子検出器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022517431A (ja) * 2019-01-18 2022-03-08 ユニヴェルシテ クロード ベルナール リヨン 1 素粒子検出器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6998619B2 (en) Position sensitive solid state detector with internal gain
US5688698A (en) Method of fabricating a device having a wafer with integrated processing circuits thereon
US4881008A (en) Photomultiplier with plural photocathodes
TWI698905B (zh) 光電倍增管、光電倍增管陣列、夜視設備和製造光電倍增管的方法
US20090072141A1 (en) Neutron Detector and Neutron Imaging Sensor
EP0293094B1 (en) Radiation detector
JP3431228B2 (ja) 荷電粒子検出装置及び荷電粒子照射装置
JP2003536079A (ja) 放射線検出装置及び方法
CN111239792A (zh) 一种侧窗式穿越辐射气体探测器
JP2005010163A (ja) X線画像のサブピクセル分解能のための中心点装置及び方法
JPH05118914A (ja) アレー状電磁波センサ
US20160163492A1 (en) Detector and method for detecting ultraviolet radiation
US11906676B2 (en) Radiation detectors with scintillators
WO2007113899A1 (ja) 放射線検出器
US6586742B2 (en) Method and arrangement relating to x-ray imaging
JP4643809B2 (ja) 放射線測定装置
US8199882B2 (en) Integrated collimator
TWI717447B (zh) 光電倍增器和夜視設備
US11520060B2 (en) Radiation detectors with scintillators
JP2000019255A (ja) 放射線検出器
US4166218A (en) P-i-n diode detector of ionizing radiation with electric field straightening
JPH0221284A (ja) 粒子線検出装置
JP2590320B2 (ja) X線検出素子
JPH051428B2 (ja)
Martinengo et al. Position Sensitive Gaseous Photomultipliers