JPH05113392A - Method for evaluating durability of membrane - Google Patents

Method for evaluating durability of membrane

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JPH05113392A
JPH05113392A JP27381491A JP27381491A JPH05113392A JP H05113392 A JPH05113392 A JP H05113392A JP 27381491 A JP27381491 A JP 27381491A JP 27381491 A JP27381491 A JP 27381491A JP H05113392 A JPH05113392 A JP H05113392A
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JP
Japan
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sliding
thin film
durability
magnetic disk
roughness
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP27381491A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukio Nakamura
幸雄 中村
Minoru Takahashi
実 高橋
Naoyuki Yamamoto
尚之 山本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH05113392A publication Critical patent/JPH05113392A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To easily, quantitatively and accurately evaluate the durability of the surface protective membrane of a magnetic disk by a method wherein a slide member is slid on a membrane to be slid while the surface roughness of the membrane is measured and the terminal of sliding is decided on the basis of the measured value. CONSTITUTION:Since each member is received in a vacuum container 7, the magnetic head 4 equipped with a slider rail held by a spring arm 5 is not levitated from the surface of the surface protective membrane of the magnetic disk 3 even when a magnetic disk 3 is rotated at a high speed to slide on the magnetic disk 3. An optical measuring element 6 is connected to a computer 8 and the processing of the measured data of the surface roughness of the surface protective membrane of the disk is performed and the computer 8 decides the terminal of the sliding on the disk 3 of the head 4 and the durability of the surface protective membrane is evaluated from the slide time or the sliding number of times from the start of the sliding of the head 4 on the disk 3 to the terminal of the sliding of the head.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、例えばコンピュータ
の外部記憶装置などに使用されている磁気ディスクの表
面保護用などの薄膜の耐久性評価方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for evaluating the durability of a thin film for protecting the surface of a magnetic disk used in, for example, an external storage device of a computer.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンピュータの外部記憶装置である磁気
ディスク装置では、高記録密度・大容量化および高記録
密度・小型化などが進み性能向上の発展がめざましい。
磁気ディスク装置の記録密度(線記録密度)を向上させ
るには、磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔(浮上量)
を安定に微小化することが重要である。
2. Description of the Related Art In a magnetic disk device which is an external storage device of a computer, the performance improvement has been remarkable as the recording density / capacity is increased and the recording density / size is reduced.
To improve the recording density (linear recording density) of a magnetic disk device, the distance between the magnetic disk and the magnetic head (flying height)
It is important to miniaturize the size stably.

【0003】従来、高速回転させた磁気ディスク上に磁
気ヘッドを浮上させ、磁気ヘッドのスライダレール面の
前端部をそり状にして、その後端部に磁気ヘッド素子を
設けることにより(双胴スライダ)、前記性能向上の目
的を達成している。この方法は磁気ディスクと磁気ヘッ
ドのスライダレール面との間に介在する空気膜の剛性が
大きく取れるので、高い浮上安定性と1μm以下の微小
な浮上量(サブミクロン)を確保することができる。
Conventionally, a magnetic head is levitated on a magnetic disk rotated at high speed, the front end of the slider rail surface of the magnetic head is formed into a sled shape, and a magnetic head element is provided at the rear end of the magnetic head (two-body slider). The above-mentioned object of performance improvement is achieved. According to this method, since the rigidity of the air film interposed between the magnetic disk and the slider rail surface of the magnetic head can be made large, it is possible to secure high flying stability and a minute flying height (submicron) of 1 μm or less.

【0004】今後もさらに記録密度の向上を実現するに
は、磁気ヘッドの浮上量をさらに微小化する必要があ
り、磁気ディスクと磁気ヘッドとの関係の究極の姿とし
ては、磁気ヘッドを磁気ディスクに接触させた接触記録
方式が検討され始めている。この接触記録方式では磁気
ディスクと磁気ヘッドとの摩耗を如何に低減させるかが
課題であり、この課題を達成するために磁気ディスクの
表面保護膜の改良開発が重要となる。
In order to further improve the recording density in the future, it is necessary to further reduce the flying height of the magnetic head. The ultimate relationship between the magnetic disk and the magnetic head is the magnetic head. The contact recording method of contacting with the is beginning to be studied. In this contact recording method, how to reduce abrasion between the magnetic disk and the magnetic head is a problem, and in order to achieve this problem, it is important to improve and develop the surface protective film of the magnetic disk.

【0005】従来の磁気ディスクの表面保護膜の耐久性
評価方法は次のようにして行っていた。先ず、耐久性評
価を行う表面保護膜を形成した磁気ディスクを回転さ
せ、その表面保護膜に磁気ヘッドのスライダレール面を
摺動させ、その摺動は摺動時間や摺動回数を測定して行
い、その摺動の終点は磁気ヘッドのスライダレール面の
摺動により表面保護膜に生じた摩耗の有無を目視によっ
て判断していた。
The conventional method for evaluating the durability of the surface protective film of a magnetic disk is as follows. First, a magnetic disk having a surface protective film for durability evaluation is rotated, and the slider rail surface of the magnetic head is slid on the surface protective film. The end point of the sliding was visually judged whether or not the surface protective film was abraded by the sliding of the slider rail surface of the magnetic head.

【0006】すなわち、磁気ディスクの表面保護膜が摩
耗されて、その下の磁性層が見え出すと、光の反射率が
よくなり白く光り出す。それを目視していて磁気ディス
クが白く光り出した時に、磁気ヘッドの磁気ディスクへ
の摺動の終点とし、摺動の開始から終点までの摺動時間
や摺動回数によって表面保護膜の耐久性評価を行ってい
た。
That is, when the surface protective film of the magnetic disk is abraded and the magnetic layer underneath is exposed, the reflectance of light is improved and the light is emitted white. When observing it, when the magnetic disk glows white, the end point of sliding of the magnetic head on the magnetic disk is set as the end point, and the durability of the surface protective film depends on the sliding time and the number of times from the start to the end of sliding. I was doing an evaluation.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記磁気ディ
スクの表面は、表面保護膜の摩耗に従い徐々に白く光り
出すので、磁気ヘッドの磁気ディスクへの摺動の終点を
どこに決めるかが難しく、また、磁気ヘッドのスライダ
レール面の摺動の終点が測定者やその日の体調によって
変化するため、表面保護膜の耐久性評価に個人差が出た
り、正確なものではなかった。そこで、磁気ディスクの
表面保護膜の耐久性評価を容易に、かつ、定量的で正確
に評価する方法が求められている。
However, since the surface of the magnetic disk gradually shines white as the surface protective film is worn, it is difficult to decide where to end the sliding of the magnetic head on the magnetic disk. Since the end point of sliding of the slider rail surface of the magnetic head changes depending on the person who is measuring and the physical condition of the day, the evaluation of the durability of the surface protective film may vary from person to person and is not accurate. Therefore, there is a demand for a method of easily, quantitatively and accurately evaluating the durability of the surface protective film of the magnetic disk.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、この発明では、表面保護膜などに用いられる薄膜
の摺動による薄膜の耐久性評価方法において、被摺動薄
膜の表面粗さをリアルタイムで測定しながら摺動部材を
被摺動薄膜上に摺動させ、その測定値を基に摺動部材の
摺動の終点を判定し、摺動の開始から終点までの摺動時
間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価するようにし
たものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method for evaluating the durability of a thin film by sliding a thin film used for a surface protective film, etc. The sliding member slides on the thin film to be slid while measuring in real time, the end point of sliding of the sliding member is judged based on the measured value, and the sliding time from the start to the end of sliding or The durability of the thin film is evaluated from the number of times of sliding.

【0009】また、摺動部材が被摺動薄膜を摺動中にリ
アルタイムで測定した粗さ曲線から得られるある一定値
のスライスレベルを越える薄膜の表面の突起数が、摺動
前よりある一定割合減少した時点を薄膜上に摺動部材を
摺動させる終点とし、摺動の開始から終点までの摺動時
間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価するようにし
たものである。
In addition, the number of projections on the surface of the thin film, which exceeds a certain slice value obtained from the roughness curve measured in real time while the sliding member is sliding on the thin film to be slid, is more constant than before the sliding. The end point of sliding the sliding member on the thin film is defined as the time point at which the ratio is reduced, and the durability of the thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding.

【0010】また、摺動部材が被摺動薄膜を摺動中にリ
アルタイムで測定した粗さ曲線から得られる中心線平均
粗さRaや最大粗さRmaxなどの粗さパラメータ値
が、摺動前よりある一定値減少した時点を、薄膜上に摺
動部材を摺動させる終点とし、摺動の開始から終点まで
の摺動時間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価する
ようにしたものである。
Further, the roughness parameter values such as the center line average roughness Ra and the maximum roughness Rmax obtained from the roughness curve measured in real time by the sliding member during sliding of the thin film to be slid are the values before the sliding. The end point for sliding the sliding member on the thin film is defined as the time point when the value decreases by a certain value, and the durability of the thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. is there.

【0011】[0011]

【作用】この発明の薄膜の耐久性評価方法によると、従
来のように、摺動部材の被摺動薄膜への摺動の終点を、
摺動部材の摺動により薄膜に生じた摩耗の有無を目視に
よって判断しないで、被摺動薄膜の表面粗さを測定器に
よってリアルタイムで測定しながら摺動部材を摺動さ
せ、その測定値を基に摺動部材の接触摺動の終点を判定
しているので、従来のように、摺動の終点の判定が測定
者やその日の体調によって変化したり、個人差が出るこ
とがなくなり、摺動の開始から終点までの摺動時間また
は摺動回数から薄膜の耐久性を正しく評価することがで
きる。
According to the thin film durability evaluation method of the present invention, the end point of sliding of the sliding member on the thin film to be slid is determined as in the conventional case.
Do not visually judge the presence or absence of wear on the thin film due to the sliding of the sliding member, slide the sliding member while measuring the surface roughness of the thin film to be slid in real time, and measure the measured value. Since the end point of the contact sliding of the sliding member is determined based on the above, the determination of the end point of sliding does not change depending on the person measuring the subject or the physical condition of the day, and there is no individual difference. The durability of the thin film can be correctly evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of movement.

【0012】[0012]

【実施例】図1はこの発明の薄膜の耐久性評価方法を実
施するための薄膜の耐久性評価装置の一例を示す。1は
モーター2によって回転駆動されるスピンドルで、この
スピンドルに耐久性評価を行う表面保護薄膜を形成した
磁気ディスク3を保持する。4はこの磁気ディスク3の
表面保護薄膜との摺動相手となるヘッドスライダを備え
た磁気ヘッドで、この磁気ヘッドはスプリングアーム5
を介して図示しないヘッドアームに取付けられている。
このヘッドアームはシーク機能を有する図示しないキャ
リッジに取付けられ、磁気ヘッド4が摺動する磁気ディ
スク3のトラック位置を自由に変化させることができ
る。
FIG. 1 shows an example of a thin film durability evaluation apparatus for carrying out the thin film durability evaluation method of the present invention. A spindle 1 is rotated by a motor 2 and holds a magnetic disk 3 on which a surface protection thin film for durability evaluation is formed. Reference numeral 4 denotes a magnetic head having a head slider that slides on the surface protection thin film of the magnetic disk 3, and the magnetic head is a spring arm 5.
Is attached to a head arm (not shown) via.
This head arm is attached to a carriage (not shown) having a seek function, and the track position of the magnetic disk 3 on which the magnetic head 4 slides can be freely changed.

【0013】6は磁気ディスク3の回転方向に対して磁
気ヘッド4の後方に配設し、磁気ヘッド4と共に磁気デ
ィスク3の半径方向に移動し表面保護薄膜の表面の粗さ
の測定器である光学的測定素子で、この光学的測定素子
は周知のものが種々開発されているので、その詳細な説
明は省略するが、例えばレーザを表面保護薄膜の表面に
当て、その反射光の変化によって表面保護薄膜の表面の
粗さを測定するようにしている。
Reference numeral 6 denotes a measuring device which is disposed behind the magnetic head 4 with respect to the rotating direction of the magnetic disk 3 and moves in the radial direction of the magnetic disk 3 together with the magnetic head 4 to measure the surface roughness of the surface protective thin film. Since various well-known optical measurement elements have been developed, detailed description thereof will be omitted. For example, a laser is applied to the surface of the surface protection thin film, and the surface is changed by the change of the reflected light. The roughness of the surface of the protective thin film is measured.

【0014】以上説明した各部材は真空容器7の中に収
納されているので、前記スプリングアーム5に保持され
たスライダレールを備えた磁気ヘッド4は、磁気ディス
ク3が高速回転してもその表面保護薄膜の表面から浮上
しないで、磁気ディスク3を摺動するようになる。
Since each member described above is housed in the vacuum container 7, the magnetic head 4 provided with the slider rail held by the spring arm 5 has its surface even when the magnetic disk 3 rotates at a high speed. The magnetic disk 3 slides without flying above the surface of the protective thin film.

【0015】前記光学的測定素子6はコンピュータ8に
接続され、測定された磁気ディスク3の表面保護薄膜の
表面の粗さの測定データの処理を行い、後述するよう
に、このコンピュータ8が磁気ヘッド4の磁気ディスク
3への摺動の終点の判定を行うと、このコンピュータ8
に接続されたモータコントローラ9が磁気ディスク3を
保持したスピンドル1を回転駆動するモーター2の回転
を停止させる。10はコンピュータ8に接続されたディ
スプレイである。
The optical measuring element 6 is connected to a computer 8 and processes measured data of the surface roughness of the surface protective thin film of the magnetic disk 3, and as will be described later, the computer 8 uses the magnetic head. When the end point of the sliding of the magnetic disk 3 of 4 onto the magnetic disk 3 is determined, the computer 8
The motor controller 9 connected to stops the rotation of the motor 2 that rotationally drives the spindle 1 holding the magnetic disk 3. Reference numeral 10 is a display connected to the computer 8.

【0016】図2は磁気ディスク3と磁気ヘッド4と光
学的測定素子6とを摸式的に示したものであり、矢印は
磁気ディスク3の回転方向を示している。周知のよう
に、磁気ヘッド4が磁気ディスク3の表面に吸着しない
ようにするために、磁気ディスク3の製造工程の際にデ
ィスク基板の円周方向に微細な凹凸を形成し、その上に
順次磁性層と表面保護薄膜3aを形成するので、この表
面保護薄膜3aの表面にも図示のような凹凸が形成され
ている。
FIG. 2 schematically shows the magnetic disk 3, the magnetic head 4, and the optical measuring element 6, and the arrow indicates the direction of rotation of the magnetic disk 3. As is well known, in order to prevent the magnetic head 4 from sticking to the surface of the magnetic disk 3, fine concavities and convexities are formed in the circumferential direction of the disk substrate during the manufacturing process of the magnetic disk 3, and the fine concavities and convexities are sequentially formed on it. Since the magnetic layer and the surface protection thin film 3a are formed, the surface of the surface protection thin film 3a has irregularities as shown in the drawing.

【0017】図3は磁気ディスク3の表面保護薄膜3a
の粗さを前記光学的測定素子6で測定し、その測定デー
タをコンピュータ8で処理してディスプレイ10に表示
させた粗さ曲線を示すもので、(a)は磁気ディスク3
に磁気ヘッド4を摺動させる前の粗さ曲線、(b)は後
述する判定方法で判定した磁気ヘッド4の摺動の終点で
の粗さ曲線であり、Oは粗さ曲線の中心線で、Lはこの
中心線Oから一定高さのスライスレベルで、このスライ
スレベルを中心線平均粗さRaに定めている。
FIG. 3 shows the surface protection thin film 3a of the magnetic disk 3.
The roughness curve of the magnetic disk 3 is measured by the optical measuring element 6 and the measured data is processed by the computer 8 to be displayed on the display 10.
Is a roughness curve before sliding the magnetic head 4, (b) is a roughness curve at the end point of sliding of the magnetic head 4 determined by the determination method described later, and O is a center line of the roughness curve. , L are slice levels having a constant height from the center line O, and the slice level is defined as the center line average roughness Ra.

【0018】(a),(b)図に示す双方の粗さ曲線と
も磁気ディスク3の同じトラックでの一周分の粗さ曲線
であり、磁気ヘッドの摺動の前後の粗さの変化などによ
って磁気ヘッドの摺動の終点を判定する。この終点の判
定は、中心線平均粗さRaをスライスレベルLとし、こ
のスライスレベルLを越える突起数の減少率によって行
ったり、または中心線平均粗さRaや最大粗さRmax
などの粗さパラメータに基づいて行う。
Both of the roughness curves shown in FIGS. (A) and (b) are roughness curves for one round on the same track of the magnetic disk 3, and the roughness curves before and after the sliding of the magnetic head may change. Determine the end point of sliding of the magnetic head. The determination of the end point is performed by setting the centerline average roughness Ra to the slice level L and by the reduction rate of the number of protrusions exceeding the slice level L, or by determining the centerline average roughness Ra or the maximum roughness Rmax.
Based on roughness parameters such as.

【0019】磁気ヘッドの摺動の終点の判定方法の一例
として、前記光学的測定素子6で測定し、その測定デー
タをコンピュータ8で処理してディスプレイ10に表示
させた粗さ曲線に基づいて、 (1)スライスレベル(10nm)を越える突起数が摺
動前(100個)の50%の値(50個)になった場
合。 (2)中心線平均粗さRaが摺動前(10nm)の80
%の値(8nm) になった場合。 (3)最大粗さRmaxが摺動前(100nm)の80
%の値(80nm )になった場合。 の何れかの判断によって磁気ヘッドの摺動の終点とす
る。
As an example of a method for determining the end point of sliding of the magnetic head, based on a roughness curve measured by the optical measuring element 6, processed by the computer 8 and displayed on the display 10. (1) When the number of protrusions exceeding the slice level (10 nm) is 50% (50) before sliding (100). (2) The center line average roughness Ra is 80 before sliding (10 nm).
When the value (%) reaches 8%. (3) Maximum roughness Rmax is 80 before sliding (100 nm)
When the value reaches 80%. The end point of the sliding of the magnetic head is determined by any of the above.

【0020】そして、磁気ヘッドが磁気ディスクへの摺
動の開始から前記のような判断による摺動の終点までの
摺動時間または摺動回数から表面保護薄膜の耐久性を評
価するようにしたものである。
Then, the durability of the surface protection thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start of sliding of the magnetic head to the magnetic disk to the end of the sliding based on the above judgment. Is.

【0021】また、この実施例においては、磁気ヘッド
の磁気ディスクへの摺動の終点の決定用のパラメータと
して、粗さパラメータや粗さ曲線のスライスレベルを越
える突起数の変化を利用したが、磁気ディスクの表面保
護薄膜の表面形状を評価できるパラメータであれば、前
記の終点の判断の代替手段としてもよい。
In this embodiment, the roughness parameter and the change in the number of protrusions exceeding the slice level of the roughness curve are used as parameters for determining the end point of sliding of the magnetic head on the magnetic disk. Any parameter that can evaluate the surface shape of the surface protection thin film of the magnetic disk may be used as an alternative means for determining the end point.

【0022】図4はこの発明の薄膜の耐久性評価方法の
作業手順を示すものである。先ず、ステップ(1)にお
いて、スピンドル1に磁気ディスク3を取付け、次に、
ステップ(2)において、磁気ヘッド4が摺動する磁気
ディスク3上の摺動トラックを設定する。
FIG. 4 shows a working procedure of the thin film durability evaluation method of the present invention. First, in step (1), the magnetic disk 3 is attached to the spindle 1, and then
In step (2), a sliding track on the magnetic disk 3 on which the magnetic head 4 slides is set.

【0023】次に、ステップ(3)において、スライダ
を有する磁気ヘッド4および光学的測定素子6を磁気デ
ィスク3の摺動トラック上にセットする。次に、ステッ
プ(4)において、磁気ディスク3を回転させて磁気ヘ
ッド4を摺動させる前の磁気ディスク3の表面粗さを光
学的測定素子6によってトラック1周分測定し、その測
定データをコンピュータ8で処理し、中心線平均粗さR
aを算出し、この中心線平均粗さRaをスライスレベル
とし、このスライスレベルを越える磁気ディスク3の表
面保護薄膜3aの突起数を算出する。
Next, in step (3), the magnetic head 4 having the slider and the optical measuring element 6 are set on the sliding track of the magnetic disk 3. Next, in step (4), the surface roughness of the magnetic disk 3 before the magnetic disk 3 is rotated and the magnetic head 4 is slid is measured by the optical measuring element 6 for one track, and the measured data is obtained. Processed by computer 8, centerline average roughness R
a is calculated, this center line average roughness Ra is set as a slice level, and the number of protrusions of the surface protection thin film 3a of the magnetic disk 3 exceeding this slice level is calculated.

【0024】次に、ステップ(5)において、真空容器
7の中の空気を抜き、磁気ヘッド4のスライダレールが
スプリングアーム5のスプリング圧によって磁気ディス
ク3に当接するようにする。次に、ステップ(6)にお
いて、磁気ディスク3を回転させて、磁気ヘッド4の磁
気ディスク3への摺動を開始する。
Next, in step (5), the air in the vacuum container 7 is evacuated so that the slider rail of the magnetic head 4 contacts the magnetic disk 3 by the spring pressure of the spring arm 5. Next, in step (6), the magnetic disk 3 is rotated to start sliding the magnetic head 4 on the magnetic disk 3.

【0025】次に、ステップ(7)において、磁気ヘッ
ド4が磁気ディスク3を摺動中にリアルタイムで磁気デ
ィスク3の表面粗さを光学的測定素子6によって測定
し、その測定データをコンピュータ8で処理し、磁気ヘ
ッド4の摺動前に決定したスライスレベルを越える突起
数を算出する。
Next, in step (7), the surface roughness of the magnetic disk 3 is measured by the optical measuring element 6 in real time while the magnetic head 4 slides on the magnetic disk 3, and the measured data is measured by the computer 8. After processing, the number of protrusions exceeding the slice level determined before the sliding of the magnetic head 4 is calculated.

【0026】次に、ステップ(8)において、摺動後の
スライスレベルを越える突起数が摺動前のスライスレベ
ルを越える突起数の数の50%以下になったか否かをコ
ンピュータ8が判断し、50%以下になると(Ye
s)、ステップ(9)において、コンピュータ8がモー
タコントローラ9を介して磁気ディスク3を保持したス
ピンドル1を回転駆動するモーター2の回転を停止させ
る。すなわち、磁気ディスク3の磁気ヘッド4による摺
動の終点を決める。
Next, in step (8), the computer 8 judges whether or not the number of protrusions exceeding the slice level after sliding is 50% or less of the number of protrusions exceeding the slice level before sliding. , 50% or less (Ye
s), in step (9), the computer 8 causes the motor controller 9 to stop the rotation of the motor 2 that rotationally drives the spindle 1 holding the magnetic disk 3. That is, the end point of sliding of the magnetic disk 3 by the magnetic head 4 is determined.

【0027】そして、磁気ヘッド4による磁気ディスク
3の摺動の開始から終点までの摺動時間または摺動回数
から磁気ディスク3の表面に形成した薄膜の耐久性を評
価することができる。
Then, the durability of the thin film formed on the surface of the magnetic disk 3 can be evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding of the magnetic disk 3 by the magnetic head 4.

【0028】図5は磁気ディスクの表面保護薄膜の耐久
性評価装置のブロック図で、図6は磁気ディスクの表面
保護薄膜の表面粗さ曲線の取得から、磁気ヘッドの摺動
の終点の判定までの流れ図を示すものであり、以下、こ
れらの図に従って説明する。
FIG. 5 is a block diagram of an apparatus for evaluating the durability of the surface protection thin film of the magnetic disk, and FIG. 6 is from the acquisition of the surface roughness curve of the surface protection thin film of the magnetic disk to the determination of the end point of sliding of the magnetic head. The flow chart of FIG.

【0029】先ず、図6のステップ(1)において、磁
気ヘッド4が磁気ディスク3に摺動する前のトラック1
周の表面粗さ曲線を光学的測定素子6およびコンピュー
タ8によって測定し、その測定データをメモリー1に記
憶する。
First, in step (1) of FIG. 6, the track 1 before the magnetic head 4 slides on the magnetic disk 3
The surface roughness curve of the circumference is measured by the optical measuring element 6 and the computer 8, and the measured data is stored in the memory 1.

【0030】次に、ステップ(2)において、コンピュ
ータ8が前記測定した表面粗さ曲線に基づいて、中心線
平均粗さRaを算出し、ステップ(3)において、中心
線平均粗さRaをスライスレベルとし、これをメモリー
2に記憶する。
Next, in step (2), the computer 8 calculates the centerline average roughness Ra based on the measured surface roughness curve, and in step (3), the centerline average roughness Ra is sliced. The level is set and is stored in the memory 2.

【0031】次に、ステップ(4)において、コンピュ
ータ8がメモリー1に記憶しておいた表面粗さ曲線にお
けるスライスレベルを越える突起数を算出し、それをメ
モリー3に記憶する。
Next, in step (4), the computer 8 calculates the number of protrusions exceeding the slice level in the surface roughness curve stored in the memory 1, and stores it in the memory 3.

【0032】次に、ステップ(5)において、回転して
いる磁気ディスク3への磁気ヘッド4の摺動を開始す
る。そして、ステップ(6)において、前記メモリー1
に記憶しておいた摺動前の粗さ曲線の記憶は不必要とな
るのでそれをクリアする。
Next, in step (5), sliding of the magnetic head 4 on the rotating magnetic disk 3 is started. Then, in step (6), the memory 1
Since it is unnecessary to store the roughness curve before sliding stored in, clear it.

【0033】次に、ステップ(7)において、磁気ヘッ
ド4が磁気ディスク3を摺動中にトラック1周の表面粗
さ曲線を、光学的測定素子6およびコンピュータ8によ
って測定し、それをメモリー1に記憶する。
Next, in step (7), the surface roughness curve of one track is measured by the optical measuring element 6 and the computer 8 while the magnetic head 4 is sliding on the magnetic disk 3, and the measured surface roughness curve is stored in the memory 1. Remember.

【0034】次に、ステップ(8)において、コンピュ
ータ8が摺動中の表面粗さ曲線における、前記メモリー
2に記憶させておいたスライスレベルを越える突起数を
算出し、それをメモリー4に記憶する。
Next, in step (8), the computer 8 calculates the number of protrusions in the surface roughness curve during sliding, which exceeds the slice level stored in the memory 2, and stores it in the memory 4. To do.

【0035】次に、ステップ(9)において、メモリー
3に記憶しておいた摺動前の突起数と、メモリー4に記
憶しておいた摺動後の突起数とを比較し、摺動後のスラ
イスレベルを越える突起数が摺動前のスライスレベルを
越える突起数の数の50%以下になったか否かをコンピ
ュータ8が判断し、50%以下になると(Yes)、ス
テップ(10)において、磁気ヘッド4による磁気ディ
スク3の摺動の終点を決め、ステップ(11)におい
て、コンピュータ8がモータコントローラ9を介して磁
気ディスク3を保持したスピンドル1を回転駆動するモ
ーター2の電源を切って、モーター2の回転を停止また
はアラームを発生する。
Next, in step (9), the number of protrusions before sliding stored in the memory 3 is compared with the number of protrusions after sliding stored in the memory 4, and after sliding The computer 8 judges whether the number of projections exceeding the slice level of is less than 50% of the number of projections exceeding the slice level before sliding, and when it is less than 50% (Yes), in step (10). Then, the end point of the sliding of the magnetic disk 3 by the magnetic head 4 is determined, and in step (11), the computer 8 turns off the power of the motor 2 that rotationally drives the spindle 1 holding the magnetic disk 3 via the motor controller 9. , Stop the rotation of the motor 2 or generate an alarm.

【0036】摺動後のスライスレベルを越える突起数
が、摺動前のスライスレベルを越える突起数の数の50
%以下になっていない時には(No)、ステップ(1
2)において、メモリー4の記憶をクリアにし、ステッ
プ(6)に戻る。
The number of protrusions exceeding the slice level after sliding is 50 times the number of protrusions exceeding the slice level before sliding.
When it is not less than% (No), step (1
In 2), the memory of the memory 4 is cleared, and the process returns to step (6).

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、この発明は、表面
保護膜などに用いられる薄膜の摺動による薄膜の耐久性
評価方法において、被摺動薄膜の表面粗さをリアルタイ
ムで測定しながら摺動部材を被摺動薄膜上に摺動させ、
その測定値を基に摺動部材の摺動の終点を判定し、摺動
の開始から終点までの摺動時間または摺動回数から薄膜
の耐久性を評価するようにしたことを特徴とする薄膜の
耐久性評価方法。また、摺動部材が被摺動薄膜を摺動中
にリアルタイムで測定した粗さ曲線から得られるある一
定値のスライスレベルを越える薄膜の表面の突起数が、
摺動前よりある一定割合減少した時点を薄膜上に摺動部
材を摺動させる終点とし、摺動の開始から終点までの摺
動時間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価するよう
にしたことを特徴とする請求項1に記載の薄膜の耐久性
評価方法。また、摺動部材が被摺動薄膜を摺動中にリア
ルタイムで測定した粗さ曲線から得られる中心線平均粗
さRaや最大粗さRmaxなどの粗さパラメータ値が、
摺動前よりある一定値減少した時点を、薄膜上に摺動部
材を摺動させる終点とし、摺動の開始から終点までの摺
動時間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価するよう
にしたことを特徴とする請求項1に記載の薄膜の耐久性
評価方法。としたので、従来のように、摺動部材の被摺
動薄膜への摺動の終点を、摺動部材の摺動により薄膜に
生じた摩耗の有無を目視によって判断しないで、被摺動
薄膜の表面粗さを測定器によってリアルタイムで測定し
ながら摺動部材を摺動させ、その測定値を基に摺動部材
の摺動の終点を判定しているので、従来のように、摺動
の終点の判定が測定者やその日の体調によって変化した
り、個人差が出ることがなくなり、摺動の開始から終点
までの摺動時間または摺動回数から薄膜の耐久性を正し
く評価することができる。
As described above, according to the present invention, in the method for evaluating the durability of a thin film by sliding a thin film used for a surface protective film, etc., the surface roughness of the thin film to be slid is measured in real time. Slide the moving member on the thin film to be slid,
A thin film characterized in that the end point of sliding of the sliding member is determined based on the measured value and the durability of the thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. Durability evaluation method. In addition, the number of protrusions on the surface of the thin film that exceeds the slice level of a certain constant value obtained from the roughness curve measured in real time while the sliding member slides on the thin film to be slid is
The end point of sliding the sliding member on the thin film was defined as the end point at which it decreased by a certain percentage from before the sliding, and the durability of the thin film was evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. The durability evaluation method of the thin film according to claim 1, wherein Further, the roughness parameter values such as the center line average roughness Ra and the maximum roughness Rmax obtained from the roughness curve measured in real time while the sliding member is sliding on the thin film to be slid are
The time when the sliding member slides on the thin film is defined as the end point when it decreases by a certain value from before sliding, and the durability of the thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. The durability evaluation method for a thin film according to claim 1, wherein Therefore, unlike the conventional method, the end point of sliding of the sliding member to the thin film to be slid is not visually judged whether the thin film is worn due to the sliding of the sliding member. The sliding member is slid while measuring the surface roughness of the sliding member in real time, and the end point of sliding of the sliding member is determined based on the measured value. The determination of the end point does not change depending on the person measuring the condition or the physical condition of the day, and individual differences do not occur, and the durability of the thin film can be correctly evaluated from the sliding time from the start of sliding to the end point or the number of times of sliding. ..

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の薄膜の耐久性評価方法を実施するた
めの薄膜の耐久性評価装置の一例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an example of a thin film durability evaluation apparatus for carrying out the thin film durability evaluation method of the present invention.

【図2】磁気ディスクと磁気ヘッドと光学的測定素子と
を摸式的に示した図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a magnetic disk, a magnetic head, and an optical measuring element.

【図3】磁気ディスクの表面保護薄膜の摺動前後の粗さ
曲線を比較して示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a comparison of roughness curves before and after sliding of a surface protection thin film of a magnetic disk.

【図4】この発明の薄膜の耐久性評価方法の作業手順を
示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a work procedure of a thin film durability evaluation method of the present invention.

【図5】磁気ディスクの表面保護薄膜の耐久性評価装置
のブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram of an apparatus for evaluating the durability of a surface protective thin film of a magnetic disk.

【図6】磁気ディスクの表面保護薄膜の摺動の終点の判
定までの流れ図である。
FIG. 6 is a flow chart up to the determination of the sliding end point of the surface protection thin film of the magnetic disk.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スピンドル 2 モーター 3 磁気ディスク 3a 表面保護薄膜 4 磁気ヘッド 5 スプリングアーム 6 光学的測定素子 7 真空容器 8 コンピュータ 9 モータコントローラ 10 ディスプレイ 1 Spindle 2 Motor 3 Magnetic Disk 3a Surface Protection Thin Film 4 Magnetic Head 5 Spring Arm 6 Optical Measuring Element 7 Vacuum Container 8 Computer 9 Motor Controller 10 Display

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】表面保護膜などに用いられる薄膜の摺動に
よる薄膜の耐久性評価方法において、被摺動薄膜の表面
粗さをリアルタイムで測定しながら摺動部材を被摺動薄
膜上に摺動させ、その測定値を基に摺動部材の摺動の終
点を判定し、摺動の開始から終点までの摺動時間または
摺動回数から薄膜の耐久性を評価するようにしたことを
特徴とする薄膜の耐久性評価方法。
1. A method for evaluating the durability of a thin film by sliding a thin film used as a surface protective film, etc., wherein a sliding member is slid on the thin film to be slid while measuring the surface roughness of the thin film to be slid in real time. The end point of sliding of the sliding member is determined based on the measured value, and the durability of the thin film is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. Method for evaluating the durability of thin film.
【請求項2】摺動部材が被摺動薄膜を摺動中にリアルタ
イムで測定した粗さ曲線から得られるある一定値のスラ
イスレベルを越える薄膜の表面の突起数が、摺動前より
ある一定割合減少した時点を薄膜上に摺動部材を摺動さ
せる終点とし、摺動の開始から終点までの摺動時間また
は摺動回数から薄膜の耐久性を評価するようにしたこと
を特徴とする請求項1に記載の薄膜の耐久性評価方法。
2. The number of protrusions on the surface of the thin film, which exceeds a certain slice value obtained from the roughness curve measured in real time while the sliding member slides on the thin film to be slid, is constant before the sliding. The durability of the thin film is evaluated from the time when the sliding member slides on the thin film as the end point at which the ratio is reduced, and the thin film durability is evaluated from the sliding time or the number of times of sliding from the start to the end of sliding. Item 3. A method for evaluating the durability of a thin film according to Item 1.
【請求項3】摺動部材が被摺動薄膜を摺動中にリアルタ
イムで測定した粗さ曲線から得られる中心線平均粗さR
aや最大粗さRmaxなどの粗さパラメータ値が、摺動
前よりある一定値減少した時点を、薄膜上に摺動部材を
摺動させる終点とし、摺動の開始から終点までの摺動時
間または摺動回数から薄膜の耐久性を評価するようにし
たことを特徴とする請求項1に記載の薄膜の耐久性評価
方法。
3. A center line average roughness R obtained from a roughness curve measured in real time while the sliding member slides on the thin film to be slid.
The sliding time from the start to the end of sliding is defined as the end point of sliding the sliding member on the thin film when the roughness parameter value such as a or maximum roughness Rmax decreases by a certain value from before the sliding. Alternatively, the durability evaluation method of the thin film according to claim 1, wherein the durability of the thin film is evaluated from the number of times of sliding.
JP27381491A 1991-10-22 1991-10-22 Method for evaluating durability of membrane Withdrawn JPH05113392A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115683915A (en) * 2023-01-03 2023-02-03 山东德裕天虹新材料科技有限公司 Wrapping bag printing face resistance to wears detection device

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