JPH049728Y2 - - Google Patents

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JPH049728Y2
JPH049728Y2 JP10666486U JP10666486U JPH049728Y2 JP H049728 Y2 JPH049728 Y2 JP H049728Y2 JP 10666486 U JP10666486 U JP 10666486U JP 10666486 U JP10666486 U JP 10666486U JP H049728 Y2 JPH049728 Y2 JP H049728Y2
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detector
mass spectrometer
collision chamber
dynode
collision
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、第1の質量分析計(以下MS1と言
う)と第2の質量分析計(以下MS2と言う)を
シリーズに接続し、第1の質量分析計で特定のイ
オン(プリカーサイオン)を取り出して検出する
と共に、衝突室中で衝突ガスによりプリカーサイ
オンの解離イオン(娘イオン)を発生させ、この
娘イオンを第2の質量分析計で分析し得るように
した質量分析装置に係り、特に第1と第2の質量
分析計の接続部における狭いスペースに衝突室と
検出器を配置し得るようにした質量分析装置に関
する。
[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The invention connects a first mass spectrometer (hereinafter referred to as MS1) and a second mass spectrometer (hereinafter referred to as MS2) in series, and The first mass spectrometer extracts and detects specific ions (precursor ions), and the collision gas generates dissociated ions (daughter ions) of the precursor ions in the collision chamber, and these daughter ions are sent to the second mass spectrometer. The present invention relates to a mass spectrometer capable of performing analysis, and particularly to a mass spectrometer capable of disposing a collision chamber and a detector in a narrow space at the connection between a first and second mass spectrometer.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、MS1とMS2をシリーズに接続し、
MS1でプリカーサイオンを取り出し、衝突室中
でこのプリカーサイオンを解離して娘イオンに変
換し、この娘イオンをMS2で分析するMS/MS
質量分析が行われている。
Generally, MS1 and MS2 are connected in series,
MS/MS that extracts a precursor ion with MS1, dissociates this precursor ion in a collision chamber and converts it into a daughter ion, and analyzes this daughter ion with MS2.
Mass spectrometry is being performed.

このようなMS/MS質量分析においては、測
定の第1ステツプとしてMS1を通過したプリカ
ーサイオンを検出する使い方も行われる。その場
合、プリカーサイオンの検出は、MS2の検出器
側でも行うことができるが、MS2をプリカーサ
イオンが通過するようにするためにはいろいろな
面倒な条件設定が必要であるため、一般には
MS1の検出器を独自に設け、それに伴つて衝突
室も、MS1の検出器の近くに配置している。
In such MS/MS mass spectrometry, the first step of measurement is to detect precursor ions that have passed through MS1. In that case, precursor ion detection can also be performed on the MS2 detector side, but in order to allow the precursor ion to pass through MS2, various complicated condition settings are required, so it is generally not possible to detect the precursor ion.
A unique MS1 detector is installed, and the collision chamber is also located near the MS1 detector.

第3図は、例えばMS1として磁場Bを、MS2
として電場Eを用いた、所謂BE型のMS/MS質
量分析装置におけるMS1用の検出器と衝突室の
配置を示す図で、1はMS1のコレクタスリツト、
2はコンバージヨンダイノード、3は検出器、4
は衝突室である。
Figure 3 shows, for example, the magnetic field B as MS1, and the magnetic field B as MS2.
This is a diagram showing the arrangement of the detector and collision chamber for MS1 in a so-called BE type MS/MS mass spectrometer that uses electric field E as an electric field. 1 is the collector slit of MS1;
2 is a convergence dynode, 3 is a detector, 4
is the collision chamber.

図において、MS1のコレクタスリツト1を通
過したイオンビームは、コンバージヨンダイノー
ド2の電位に引かれて衝突し、その結果発生する
2次電子あるいは2次イオンが検出器3で検出さ
れ、MS1の分析が行われる。またMS2側では、
コンバージヨンダイノード2及び検出器3を共に
働かせずイオンビームが衝突室4の衝突ガスと衝
突して生じた娘イオンのエネルギスペクトルをと
ることにより質量分析を行う。一方二重収束質量
分析の場合には、検出器3も衝突室4も共に働か
せず、磁界と電場を同時に用いて単一の質量分析
装置として機能させ、高分解能の分析が行われ
る。
In the figure, the ion beam that has passed through the collector slit 1 of MS1 is attracted by the potential of the conversion dynode 2 and collides with it, and the resulting secondary electrons or secondary ions are detected by the detector 3, and the ion beam passes through the collector slit 1 of MS1. Analysis is performed. Also, on the MS2 side,
Mass spectrometry is performed by taking the energy spectrum of daughter ions produced when the ion beam collides with the collision gas in the collision chamber 4 without both the convergence dynode 2 and the detector 3 working. On the other hand, in the case of double convergence mass spectrometry, neither the detector 3 nor the collision chamber 4 is operated, and the magnetic field and electric field are used simultaneously to function as a single mass spectrometer, thereby performing high-resolution analysis.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

ところで、かかる質量分析装置は、前述したよ
うに、磁界と電場を同時に用いて二重収束質量分
析も行うが、そのため偏向磁場と電場の中間部に
はスペース上の制約があり、特に高分解能分析の
ための四極静電レンズを配置した質量分析装置等
の場合には、衝突室と検出器を同時に配置できる
ような空間的余裕がないという欠点があつた。
By the way, as mentioned above, such a mass spectrometer also performs double-focus mass analysis using a magnetic field and an electric field at the same time, but because of this, there is a space restriction in the middle part between the deflection magnetic field and the electric field, which is particularly difficult for high-resolution analysis. In the case of a mass spectrometer equipped with a quadrupole electrostatic lens, there is a drawback that there is not enough space to accommodate a collision chamber and a detector at the same time.

本考案は上記問題点を解決するためのもので、
スペース上の制約がある場合でも、MS1とMS2
の間に検出器と衝突室を容易に配置し得るように
した質量分析装置を提供することを目的とする。
This invention is intended to solve the above problems.
MS1 and MS2 even with space constraints
An object of the present invention is to provide a mass spectrometer in which a detector and a collision chamber can be easily placed between the two.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

そのために本考案の質量分析装置は、第1の質
量分析計と第2の質量分析計をシリーズに接続
し、該接続部に衝突室及び検出器を設ける質量分
析装置において、オフアクシス型検出器のコンバ
ージヨンダイノードを中空にし、内部に衝突ガス
を導入して衝突室として兼用すると共に、該コン
バージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移
動可能にしたことを特徴とする。
To this end, the mass spectrometer of the present invention is a mass spectrometer in which a first mass spectrometer and a second mass spectrometer are connected in series, and a collision chamber and a detector are provided at the connection part. The convergence dynode is hollow, and a collision gas is introduced into the interior to serve as a collision chamber, and the convergence dynode is movable in a direction intersecting the optical axis.

〔作用〕[Effect]

本考案の質量分析装置は、第1の質量分析計と
第2の質量分析計をシリーズに接続し、該接続部
に衝突室及び検出器を設ける質量分析装置におい
て、オフアクシス型検出器のコンバージヨンダイ
ノードを衝突室として兼用すると共に、該コンバ
ージヨンダイノードを光軸と交差する方向に移動
可能に構成することにより、スペース上の制約が
あつても衝突室と検出器を容易に配置できるよう
にしている。
The mass spectrometer of the present invention is a mass spectrometer in which a first mass spectrometer and a second mass spectrometer are connected in series, and a collision chamber and a detector are provided at the connection part. By using the convergence dye node as a collision chamber and configuring the conversion dye node to be movable in a direction intersecting the optical axis, the collision chamber and detector can be easily arranged even if there are space constraints. ing.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。 Examples will be described below with reference to the drawings.

第1図は本考案による衝突室と検出器の一実施
例を示す図で、同図Aは検出器として機能した場
合を示す図、同図Bは衝突室として機能した場合
を示す図である。図中、10はMS1側のコレク
タスリツト、11はコンバージヨンダイノード、
12は検出器、13は衝突室、14は細孔であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a collision chamber and a detector according to the present invention, in which Figure A shows a case in which it functions as a detector, and Figure B shows a case in which it functions as a collision chamber. . In the figure, 10 is the collector slit on the MS1 side, 11 is the conversion dynode,
12 is a detector, 13 is a collision chamber, and 14 is a pore.

図において、MS1の検出器としてオフアクシ
ス型検出器を用い、これをコンバージヨンダイノ
ード11と検出器12とで構成し、イオンビーム
軌道の両側に配置する。このコンバージヨンダイ
ノード11は中空とし、衝突ガスを導入できる構
造として衝突室13を形成し、その側面にイオン
通過用の細孔14を設ける。さらにこのダイノー
ドはイオン軌道に垂直に移動できる構造とし、図
Aに示すコンバージヨンダイノードとしての位置
と、図Bに示す衝突室としての位置の2点に設定
できる。またコンバージヨンダイノード11と検
出器12とは連動して移動し得るように構成され
ている。
In the figure, an off-axis type detector is used as the detector of MS1, which is composed of a convergence dynode 11 and a detector 12, and is arranged on both sides of the ion beam trajectory. The convergence dynode 11 is hollow and has a collision chamber 13 with a structure capable of introducing collision gas, and has a pore 14 on its side surface for passage of ions. Furthermore, this dynode has a structure that allows it to move perpendicular to the ion trajectory, and can be set at two positions: as a convergence dynode as shown in Figure A, and as a collision chamber as shown in Figure B. Further, the conversion dynode 11 and the detector 12 are configured to be able to move in conjunction with each other.

図Aの位置にある場合には、コレクタスリツト
10を通過したイオンビームはコンバージヨンダ
イノード11に引かれて衝突し、そのとき発生し
た2次電子あるいは2次イオンが検出器12によ
り検出されてMS1の分析が行われる。また図B
の位置では、コンバージヨンダイノード11の中
央部の孔が光軸上にきて、イオンビームが衝突室
13に照射され、衝突ガスとの衝突により発生し
た娘イオンが後段の検出器で検出されてMS2の
分析が行われる。このとき検出器12は光軸から
外れた位置に移動されている。
In the case of the position shown in FIG. Analysis of MS1 is performed. Also, Figure B
At the position, the hole in the center of the convergence dynode 11 is on the optical axis, the ion beam is irradiated into the collision chamber 13, and the daughter ions generated by the collision with the collision gas are detected by the detector at the subsequent stage. Analysis of MS2 is performed. At this time, the detector 12 has been moved to a position off the optical axis.

このように、コンバージヨンダイノード11を
衝突室として兼用し、コンバージヨンダイノード
11と検出器12をイオン軌道に垂直に移動可能
にすることにより、限られたスペース中にも検出
器と衝突室を有効に配置することができ、MS1
の分析とMS2の分析を選択的に行うことができ
る。なお、コンバージヨンダイノードと検出器
は、イオン軌道に垂直に一体に移動する構成とし
て説明したが、このことは必ずしも必要ではな
く、周囲の状況により、ダイノードの移動の方向
や、一体に移動させるか、或いは独立に移動させ
るか等は適宜決めればよいし、検出器は第1図A
の位置に固定しておき、ダイノードのみ移動する
ようにしてもよい。
In this way, the convergence dynode 11 is also used as a collision chamber, and by making the convergence dynode 11 and detector 12 movable perpendicular to the ion trajectory, the detector and collision chamber can be effectively used even in a limited space. Can be placed in MS1
and MS2 analysis can be performed selectively. Although the convergence dynode and the detector have been described as being configured to move together perpendicular to the ion trajectory, this is not always necessary, and depending on the surrounding circumstances, the direction of movement of the dynode and whether they should be moved together or not may be changed. , or whether to move them independently can be determined as appropriate.
Alternatively, the dynode may be fixed at the position and only the dynode may be moved.

第2図は第1図で示したコンバージヨンダイノ
ードと検出器を用いたMS/MS質量分析装置の
一実施例を示す図である。図中、第1図と同一番
号は同一内容を示し、21はイオン源、22はソ
ーススリツト、23は磁石、24はスリツト、2
5は電極、26はスリツト、27は磁石、28は
検出スリツト、29はイオン検出器である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of an MS/MS mass spectrometer using the convergence dynode and detector shown in FIG. 1. In the figure, the same numbers as in FIG. 1 indicate the same contents, 21 is the ion source, 22 is the source slit, 23 is the magnet, 24 is the slit, 2
5 is an electrode, 26 is a slit, 27 is a magnet, 28 is a detection slit, and 29 is an ion detector.

図示の質量分析装置は、偏向磁場B1、電場E、
偏向磁場B2からなる所謂BEB型であり、B1
MS1、EB2をMS2とする場合、B1EをMS1、B2
をMS2とする場合の2種類の組み合わせがあり、
B1とEおよびEとB2の間に衝突室と検出器を配
置する必要がある。そしてそれぞれの位置でスペ
ースの問題が発生するので、それに応じてコンバ
ージヨンダイノード11と検出器12を図示のよ
うにスリツト24の直後、或いはスリツト26の
直後に配置する。
The illustrated mass spectrometer has a deflection magnetic field B 1 , an electric field E,
It is a so-called BEB type consisting of a deflection magnetic field B 2 , and B 1
When MS1 and EB 2 are MS2, B 1 E is MS1 and B 2
There are two types of combinations when is set as MS2,
It is necessary to place a collision chamber and a detector between B 1 and E and E and B 2 . Since a space problem occurs at each position, the conversion dynode 11 and the detector 12 are placed immediately after the slit 24 or immediately after the slit 26 as shown in the figure.

この他にもMS/MS質量分析装置としては、
電場をE、磁場をB、四重極マスフイルタをQと
したとき、BE,EBE,BEBE(EBEB),EBQ
(BEQ),QQQ等の組み合わせが存在し、それぞ
れに特徴を有しており、本考案によるコンバージ
ヨンダイノードと検出器は、これらあらゆる組み
合わせに適用できることは言うまでもない。な
お、BEBE(EBEB)型の場合は通常B1E1とB2E2
の中間部に衝突室と検出器から成る独立した接続
部を配置することが多く、この場合はスペースの
問題は大きな限定要因とはならないが、この場合
にも接続部中のイオン通過率向上のため、MS1
(B1E1)とMS2(B2E2)の距離はできるだけ小さ
くしたいので、本考案の適用は極めて有効であ
る。
In addition to this, MS/MS mass spectrometers include:
When the electric field is E, the magnetic field is B, and the quadrupole mass filter is Q, BE, EBE, BEBE (EBEB), EBQ
There are combinations such as (BEQ) and QQQ, each with its own characteristics, and it goes without saying that the convergence dynode and detector according to the present invention can be applied to all of these combinations. In addition, in the case of BEBE (EBEB) type, usually B 1 E 1 and B 2 E 2
In many cases, an independent connection consisting of a collision chamber and a detector is placed in the middle of the connection, and in this case space issues are not a major limiting factor, but in this case too, it is possible to improve the ion passage rate through the connection. For MS1
Since the distance between (B 1 E 1 ) and MS2 (B 2 E 2 ) should be as small as possible, application of the present invention is extremely effective.

〔考案の効果〕 以上のように本考案によれば、オフアクシス型
検出器のコンバージヨンダイノードを衝突室とし
て兼用することにより、あらゆる型のMS/MS
質量分析において、狭いスペースでも衝突室と検
出器を容易に配置することができる。また特に
BEBE(EBEB)型に適用した場合には、MS1と
MS2の距離を短くでき通過率を向上させること
が可能となる。
[Effects of the invention] As described above, according to the invention, by using the conversion dynode of the off-axis detector as a collision chamber, it is possible to perform all types of MS/MS.
In mass spectrometry, the collision chamber and detector can be easily arranged even in a narrow space. Also especially
When applied to BEBE (EBEB) type, MS1 and
It is possible to shorten the distance of MS2 and improve the passing rate.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本考案による衝突室と検出器の一実施
例を示す図で、同図Aは検出器として機能した場
合を示す図、同図Bは衝突室として機能した場合
を示す図、第2図は第1図で示したコンバージヨ
ンダイノードと検出器を用いたMS/MS質量分
析装置の一実施例を示す図、第3図は従来の
MS/MS質量分析装置の検出器と衝突室の配置
を示す図である。 10……コレクタスリツト、11……コンバー
ジヨンダイノード、12……検出器、13……衝
突室、14……細孔、21……イオン源、22…
…ソーススリツト、23……磁石、24……スリ
ツト、25……電極、26……スリツト、27…
…磁石、28……検出スリツト、29……イオン
検出器。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a collision chamber and a detector according to the present invention. FIG. 1A is a diagram showing the case where it functions as a detector, FIG. Figure 2 shows an example of an MS/MS mass spectrometer using the convergence dynode and detector shown in Figure 1, and Figure 3 shows a conventional MS/MS mass spectrometer.
FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of a detector and a collision chamber of an MS/MS mass spectrometer. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Collector slit, 11... Conversion dynode, 12... Detector, 13... Collision chamber, 14... Pore, 21... Ion source, 22...
...Source slit, 23... Magnet, 24... Slit, 25... Electrode, 26... Slit, 27...
...Magnet, 28...Detection slit, 29...Ion detector.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 第1の質量分析計と第2の質量分析計をシリー
ズに接続し、該接続部に衝突室及び検出器を設け
る質量分析装置において、オフアクシス型検出器
のコンバージヨンダイノードを中空にし、内部に
衝突ガスを導入して衝突室として兼用すると共
に、該コンバージヨンダイノードを光軸と交差す
る方向に移動可能にしたことを特徴とする質量分
析装置。
In a mass spectrometer in which a first mass spectrometer and a second mass spectrometer are connected in series, and a collision chamber and a detector are provided at the connection part, the conversion dynode of the off-axis detector is made hollow, and the conversion dynode of the off-axis detector is made hollow. A mass spectrometer characterized in that a collision gas is introduced to serve as a collision chamber, and the conversion dynode is movable in a direction intersecting an optical axis.
JP10666486U 1986-07-11 1986-07-11 Expired JPH049728Y2 (en)

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JP10666486U JPH049728Y2 (en) 1986-07-11 1986-07-11

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JP10666486U JPH049728Y2 (en) 1986-07-11 1986-07-11

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Publication Number Publication Date
JPS6314359U JPS6314359U (en) 1988-01-30
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