JPH0480708A - Light beam scanning device - Google Patents

Light beam scanning device

Info

Publication number
JPH0480708A
JPH0480708A JP19415290A JP19415290A JPH0480708A JP H0480708 A JPH0480708 A JP H0480708A JP 19415290 A JP19415290 A JP 19415290A JP 19415290 A JP19415290 A JP 19415290A JP H0480708 A JPH0480708 A JP H0480708A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
laser beam
laser light
monitor
optical filter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19415290A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michio Kondo
道雄 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
Priority to JP19415290A priority Critical patent/JPH0480708A/en
Publication of JPH0480708A publication Critical patent/JPH0480708A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To make a light beam scan with high accuracy by providing a light beam position detector which detects the position of monitor laser light passed through an optical filter. CONSTITUTION:A fixed mirror 14 is provided with a thin line type transmission part 112, the optical filter 106 which extracts the monitor light from laser light is provided behind the transmission part 112, and the light beam position detector 108 which detects the position of the monitor laser light 102 passed through the optical filter 106 is provided. In this case, a monitor laser light source is continuously oscillated without being intensity-modulated and the deflection angle of the monitor laser light 102 is monitored at all times. Consequently, the angle to be deflected of main laser light 104 is also monitored at all times, so the driving system 30 for a rotary mirror 10 is brought under feedback control based upon the angle monitor value to easily realize the equal-speed linear scan with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザビームプリンタ等に使用される光線走
査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a light beam scanning device used in a laser beam printer or the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、固定鏡と、その固定鏡に対向する回転軸をもつ回
転鏡と、その回転鏡を回転軸を中心に往復回転運動させ
、その回転角の制御可能な駆動手段とから成る走査ミラ
一部を有し、前記走査ミラ一部に入射されたレーザ光が
、回転鏡と固定鏡との間でジグザグ状に多重反射され、
偏拘される構成の光線走査装置が特開昭61−2155
16号等に記載されている。
Conventionally, a part of a scanning mirror consists of a fixed mirror, a rotating mirror having a rotating shaft opposite to the fixed mirror, and a driving means that rotates the rotating mirror reciprocatingly around the rotating shaft and whose rotation angle can be controlled. The laser beam incident on a part of the scanning mirror is multiple-reflected in a zigzag pattern between the rotating mirror and the fixed mirror,
A light beam scanning device with a biased configuration was disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-2155.
It is described in No. 16 etc.

このような従来技術を第5図を参照して説明すると、第
5図中、101は回転鏡であり、回転中心103を中心
に回転自在に取り付けられている。
Such a conventional technique will be explained with reference to FIG. 5. In FIG. 5, reference numeral 101 is a rotating mirror, which is attached to be rotatable about a rotation center 103.

そして、回転鏡101は積層圧電アクチュエータ(PZ
T)によって回転していた。
The rotating mirror 101 is a multilayer piezoelectric actuator (PZ
It was rotating by T).

一方、これに対向して固定鏡104が配置されており、
レーザ光発生器105から射出された光が回転鏡103
でまず第1回目の反射をうけ、その後、固定鏡104で
反射され、ジグザグ状に多重反射されレーザ光が偏向さ
れるようになっている。
On the other hand, a fixed mirror 104 is arranged opposite to this,
The light emitted from the laser beam generator 105 is transmitted to the rotating mirror 103.
The laser beam is first reflected by the fixed mirror 104, and is then reflected multiple times in a zigzag pattern so that the laser beam is deflected.

そして、その後、たとえばレーザマーカ装置においては
、偏向されたレーザ光が被マーキング面に照射されマー
キングするようになっている。
After that, for example, in a laser marker device, the surface to be marked is irradiated with a deflected laser beam to mark the surface.

マーキングするとき、そのレーザ光の被マーキング面で
の位置を把握するために、積層圧電アクチュエータに加
える電圧、あるいは、PZTに注入される電荷量をモニ
タして、マーキング面のどこにレーザ光が当たるかを判
断していた。PZTは、一種のコンデンサとみなすこと
ができ、その伸び縮みの量は、負荷が一定ならコンデン
サに蓄えられる電荷量に比例する。
When marking, in order to understand the position of the laser beam on the marking surface, the voltage applied to the laminated piezoelectric actuator or the amount of charge injected into the PZT is monitored to determine where on the marking surface the laser beam hits. was judging. PZT can be considered a type of capacitor, and the amount of expansion and contraction is proportional to the amount of charge stored in the capacitor if the load is constant.

このようにマーキングされる各点の位置精度はPZTの
制御精度に依存する。
The positional accuracy of each point marked in this way depends on the control accuracy of the PZT.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記した従来技術によれば、レーザ光が
マーキング面に当たる場所を判断する上で、マーキング
が細くなるほどこの精度を達成するのが困難であるとの
問題がある。
However, according to the above-mentioned conventional technology, there is a problem in that the thinner the marking, the more difficult it is to achieve this accuracy in determining the location where the laser beam hits the marking surface.

また、積層圧電アクチュエータ以外のアクチュエータで
も、そのレーザ光の位置を正確にモニタする手段かなく
高精度の光線走査を達成するのは困難であるとの問題が
ある。
Furthermore, even with actuators other than laminated piezoelectric actuators, there is a problem in that it is difficult to achieve highly accurate beam scanning without a means to accurately monitor the position of the laser beam.

本発明は上記した諸問題を解決するためになされたもの
であり、その目的とするところは、高精度の光線走査装
置を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and its purpose is to provide a highly accurate light beam scanning device.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を有する本発明は、固定鏡と、該固定鏡に対向
する回転可能な回転鏡と、回転可能な回転鏡を回転させ
る駆動部と、固定鏡に入射され、固定鏡と回転鏡の間で
多重反射して偏向した後光線走査を行なう光線走査装置
において、固定鏡に細線状の透過部分を設け、透過部分
の後方にレーザ光からモニタ光を取り出す光学フィルタ
を設け、光学フィルタを通過したモニタ用レーザ光の位
置を検出する光線位置検出器を備えた。
The present invention having the above objects includes: a fixed mirror, a rotatable rotating mirror facing the fixed mirror, a drive unit for rotating the rotatable rotating mirror, and a drive unit for rotating the rotatable rotating mirror; In a light beam scanning device that performs beam scanning after multiple reflections and deflections, a fixed mirror is provided with a thin line-shaped transmitting section, and an optical filter is installed behind the transmitting section to extract monitor light from the laser beam. Equipped with a beam position detector to detect the position of the monitoring laser beam.

C作用〕 上記の構成を有する本発明の光線走査装置において、モ
ニタ用レーザ光源は、強度変調されることな(、連続発
振させられていて、モニタ用レーザ光の被偏向角度が常
時モニタされ、したがって主レーザ光の被偏向角度も常
時モニタされることになるので、その角度モニタ値によ
って回転鏡の駆動系に帰還制御をかけ、高精度の等速直
線走査を容易に実現できる。そして、その角度モニタ値
によって主レーザ光に強度変調を加えれば、高精度の印
字あるいはマーキング等を容易に実現できる。その精度
は主に光線位置検出器の精度に依存する。
C Effect] In the beam scanning device of the present invention having the above configuration, the monitoring laser light source is not intensity-modulated (is continuously oscillated, and the deflection angle of the monitoring laser light is constantly monitored; Therefore, since the deflected angle of the main laser beam is also constantly monitored, feedback control is applied to the drive system of the rotating mirror based on the angle monitor value, making it possible to easily achieve highly accurate uniform-velocity linear scanning. By applying intensity modulation to the main laser beam using the angle monitor value, highly accurate printing or marking can be easily achieved.The accuracy mainly depends on the accuracy of the beam position detector.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を具体化した実施例を図面を参照して説明
する。
Embodiments embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の光線走査装置の実施例を説明する図で
あり、あらかじめ光軸の合わされた入射主レーザ光22
と入射モニタ用レーザ光100は回転鏡10に斜めに入
射され一回目の反射を受け、固定鏡14に向けられ、固
定鏡14で反射され、再び回転鏡10に向けられ、そこ
で第2回目の反射を受ける。以下同様に数回反射された
後に回転鏡10から出射される。回転鏡10は回転軸1
2に取り付けられており、回転軸12は2個の積層圧電
アクチュエータ18.2oにより偶力を受けて往復回転
運動されるようになっている。また、回転鏡10は駆動
負荷を低減するためにレーザ光があたらない部分を切り
落とした台形状の形状にしである。固定鏡14には細線
状の透過部分112が設けられ、その背後に光学フィル
タ106と光線位置検出器108が配置され、光線位置
検出器108は、第3図に断面図を示すように、透過部
分112を透過したモニタ用レーザ光102と主レーザ
光104の内、主レーザ光104は光学フィルタ106
で除去され、モニタ用レーザ光102のみが光線位置検
出器108でその光線位置が検出される。光線位置検出
器108は、例えば、リニアCCD、半導体光線位置検
出器(P S D 、 position 5ensi
tivedNector)等から構成される。そして、
光線位置検出器108は、駆動系制御回路3oと主レー
ザ光源制御回路31に接続されている。第1図を参照す
ると、光線位置検出器108で検出される光線位置は、
被偏向主レーザ光24の被偏向角に比例するので、光線
位置検出器108の光線位置検出信号、つまり角度モニ
タ値によって、回転鏡10を駆動する2個の積層圧電ア
クチュエータに帰還制御をかければ容易に高精度の等速
走査を実現できる。
FIG. 1 is a diagram illustrating an embodiment of the beam scanning device of the present invention, in which the incident main laser beam 22 whose optical axis is aligned in advance
The incident monitoring laser beam 100 is obliquely incident on the rotating mirror 10, undergoes the first reflection, is directed to the fixed mirror 14, is reflected by the fixed mirror 14, is directed again to the rotating mirror 10, and is then reflected for the second time. receive a reflection. Thereafter, the light is similarly reflected several times before being emitted from the rotating mirror 10. The rotating mirror 10 is the rotating shaft 1
2, and the rotating shaft 12 is subjected to a couple by two laminated piezoelectric actuators 18.2o so as to be rotated back and forth. Further, the rotating mirror 10 has a trapezoidal shape with the portion not hit by the laser beam cut off in order to reduce the driving load. The fixed mirror 14 is provided with a thin line-shaped transmission section 112, behind which an optical filter 106 and a beam position detector 108 are arranged. Of the monitoring laser beam 102 and the main laser beam 104 that have passed through the portion 112, the main laser beam 104 passes through the optical filter 106.
The beam position of only the monitoring laser beam 102 is detected by the beam position detector 108. The beam position detector 108 is, for example, a linear CCD, a semiconductor beam position detector (PSD, position 5ensi), etc.
tivedNector), etc. and,
The beam position detector 108 is connected to the drive system control circuit 3o and the main laser light source control circuit 31. Referring to FIG. 1, the light beam position detected by the light beam position detector 108 is
Since it is proportional to the deflection angle of the main laser beam 24 to be deflected, feedback control is applied to the two laminated piezoelectric actuators that drive the rotating mirror 10 using the beam position detection signal of the beam position detector 108, that is, the angle monitor value. Highly accurate uniform speed scanning can be easily achieved.

すなわち、マーキング面63のレーザビームが当たる位
置をマーキング用のレーザと光軸の合ったモニタ用レー
ザ光が光線位置検出器108としてのリニアCCDのど
の位置に当たるかによって判断する。
That is, the position on the marking surface 63 that is hit by the laser beam is determined based on which position on the linear CCD as the beam position detector 108 is hit by the monitoring laser beam whose optical axis is aligned with that of the marking laser.

次に、例えば、第1列、第n列、第2048列に縦線を
マーキングする例を第2図を参照して説明する。この場
合には、1行1列、1行n列、1行2048行、そして
、m行1列、m行n列、m行2048行でマーキングレ
ーザをパルス発振させる。この判断は、1行1列目でレ
ーザ発振した後1行n列かどうかを光線位置検出器10
8からの信号で判断し、1行n列ならレーザ光を発振し
、そうでなければ次の列に移動する。そして光線位置検
出器108の2048番目の列にきたと判断されれば、
その位置てレーザ光を射出する。
Next, an example of marking the first column, the nth column, and the 2048th column with vertical lines will be described with reference to FIG. 2. In this case, the marking laser is pulsed at row 1, column 1, row 1, column n, row 1, row 2048, and row 1, row m, column m, row m, row 2048. This judgment is made by using the beam position detector 10 to determine whether or not the laser oscillates at the 1st row and 1st column.
It is judged based on the signal from 8, and if it is in the 1st row and nth column, it oscillates a laser beam, and if it is not, it moves to the next column. If it is determined that the beam position detector 108 has reached the 2048th column,
A laser beam is emitted at that position.

光線位置検出器108の光線位置検出信号、つまり角度
モニタ値によって、入射主レーザ光22に強度変調を加
えることによっても、高精度の印字やマーキングを行な
うことかできる。
Highly accurate printing and marking can also be performed by applying intensity modulation to the incident main laser beam 22 using the beam position detection signal of the beam position detector 108, that is, the angle monitor value.

以上が走査ミラ一部38を構成するが、走査ミラ一部3
8から出射される被偏向主レーザ光24は、円弧状の歪
曲を生しているので、この後、図示されない円弧歪補正
レンズ系へ入射され、円弧状の歪曲が補正され、目的と
する走査面上で精度良く等速直線走査される。
The above constitutes the scanning mirror part 38, and the scanning mirror part 3
Since the deflected main laser beam 24 emitted from the main laser beam 24 has an arcuate distortion, it is then incident on an arcuate distortion correction lens system (not shown), the arcuate distortion is corrected, and the target scanning is performed. A uniform linear scan is performed on the surface with high precision.

第4図は、本発明の光線走査装置をレーザマーカに応用
した例を説明する説明図である。第4図において、高出
力パルスレーザ光源(YAG、炭酸ガスレーザ等)52
を出射した主レーザ光とモニタ用レーザ光源(He−N
eレーザ、可視半導体レーザ等)120を出射したモニ
タ用レーザ光は、ダイクロイックミラー118で光軸が
合わされ、集光レンズ54で400μm程度のコア径を
もつ大口径光ファイバ56に入射され、レーザマーカヘ
ット部102まで伝送される。大口径光ファイバ56の
他端は図示されないレーザマーカヘット部102の機枠
に固定されていて、大口径光ファイバ56を出射した、
光軸の合った主レーザ光とモニタ用レーザ光は集光レン
ズ58によって一旦被マーキング物62上に焦点を結ぶ
断面形状が円形のレーザ光にされて後、シリンドリカル
レンズ46を通って、図に矢印で示したマーキング物6
2の送り方向のビーム径のみ走査ミラ一部38内で焦点
を結ぶように調整される。回転鏡10は回転軸12に取
り付けられており、回転軸12は2個の積層圧電アクチ
ュエータ18.20により偶力を受けて往復回転運動さ
れ、主レーザ光とモニタ用レーザ光は偏向をうけ、走査
ミラー部38を出射して、円弧歪補正シリンドリカルミ
ラー60を通ってマーキング物62上に集光される。こ
こで、モニタ用レーザ光の一部は光線位置検出器でその
光線位置が検出され、したがって、主レーザ光もその光
線位置が検出されるので、その光線位置検出信号、つま
り角度モニタ値によって2個の積層圧電アクチュエータ
18.20に帰還制御をかければ、精度の良い等迷光線
走査か容易に達成される。あるいは光線位置検出信号、
つまり角度モニタ値によって高出力パルスレーザ光源5
2のパルス発振を制御することによっても、精度の良い
レーザマーキングか容易に達成される。
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an example in which the beam scanning device of the present invention is applied to a laser marker. In FIG. 4, a high-power pulsed laser light source (YAG, carbon dioxide laser, etc.) 52
The main laser beam emitted and the monitoring laser light source (He-N
The monitor laser beam emitted from the laser beam emitted from the laser beam (e.g., e-laser, visible semiconductor laser, etc.) 120 is aligned with its optical axis by the dichroic mirror 118, and is incident on the large-diameter optical fiber 56 with a core diameter of about 400 μm through the condensing lens 54, and is directed to the laser marker head. The data is transmitted to the section 102. The other end of the large diameter optical fiber 56 is fixed to the machine frame of the laser marker head section 102 (not shown), and the large diameter optical fiber 56 is emitted.
The main laser beam and the monitoring laser beam, whose optical axes are aligned, are first focused on the object to be marked 62 by the condensing lens 58, and are turned into laser beams with a circular cross-sectional shape. Marking object 6 indicated by arrow
Only the beam diameter in the two feed directions is adjusted so that it is focused within the scanning mirror portion 38. The rotating mirror 10 is attached to a rotating shaft 12, and the rotating shaft 12 is rotated back and forth under the force of a couple by two laminated piezoelectric actuators 18 and 20, and the main laser beam and the monitoring laser beam are deflected. The light is emitted from the scanning mirror section 38, passes through the circular arc distortion correction cylindrical mirror 60, and is focused onto the marking object 62. Here, the beam position of a part of the monitoring laser beam is detected by the beam position detector, and therefore the beam position of the main laser beam is also detected, so the beam position detection signal, that is, the angle monitor value, is used to detect the beam position of the main laser beam. By applying feedback control to the laminated piezoelectric actuators 18 and 20, highly accurate uniform stray ray scanning can be easily achieved. Or a beam position detection signal,
In other words, depending on the angle monitor value, the high output pulsed laser light source 5
Precise laser marking can also be easily achieved by controlling the pulse oscillation of step 2.

以上本発明をレーザマーカに応用した実施例を図面に基
づいて詳細に説明したが、これ以外に、レーザビームプ
リンター ファクシミリ、バーコードリーグ、光カード
読み取り器、レーザ顕微鏡、レーザマイクロ、光スィッ
チ、光交換器等にも好適に応用され得る。また本発明は
その他の態様で実施することもてきる。また、例えば、
第1図、第2図の各微小角回転鏡は、駆動系の駆動能力
が十分であれば台形形状でなく単純な矩形形状であって
もよいし、また、第1図に示した回転軸12に偶力を与
える2個の積層圧電アクチュエータ18.20は、適当
な回転軸受けを使用すれば積層圧電アクチュエータが1
個でも可能であるし、また、例えばテコ機構等を用いた
角度拡大機構と組合せ、積層圧電アクチュエータに要求
される駆動量を低減する構成もとりうる。また、アクチ
ュエータは積層圧電以外にも、ムービングマグネット、
あるいはムービングコイル、あるいはねじれ運動をする
ように電極をつけた圧電素子、あるいはTerfeno
l−Dを代表とする超磁歪合金、あるいは油圧、空気圧
、熱変形等が利用可能である。その他−々例示はしない
が本発明は当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を
加えた態様で実施することができる。
The embodiments in which the present invention is applied to a laser marker have been described in detail with reference to the drawings, but other applications include laser beam printers, facsimiles, barcode leagues, optical card readers, laser microscopes, laser micros, optical switches, and optical exchanges. It can also be suitably applied to vessels etc. Moreover, the present invention can be implemented in other embodiments. Also, for example,
Each of the micro-angle rotating mirrors shown in FIGS. 1 and 2 may have a simple rectangular shape instead of a trapezoidal shape, as long as the drive system has sufficient driving capacity, or the rotating shaft shown in FIG. The two laminated piezoelectric actuators 18 and 20 that provide a couple force to the
It is also possible to use the piezoelectric actuator individually, or it may be combined with an angle enlarging mechanism using a lever mechanism or the like to reduce the amount of drive required of the laminated piezoelectric actuator. In addition to laminated piezoelectric actuators, we also use moving magnets,
Alternatively, a moving coil, or a piezoelectric element with electrodes attached for torsional motion, or a Terfeno
Giant magnetostrictive alloys such as LD, hydraulic pressure, air pressure, thermal deformation, etc. can be used. Although not illustrated, the present invention can be implemented with various modifications and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したことから明らかなように、本発明によれば
、高精度の等速直線走査のできる光線走査装置を提供で
きる。
As is clear from the above detailed description, according to the present invention, it is possible to provide a beam scanning device capable of highly accurate uniform speed linear scanning.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の画像形成装置の第1実施例の構成を
説明する説明図、第2図は、本発明の画像形成装置の動
作説明図、第3図は、細線透過部分の詳細を説明する説
明図であり、第4図は、レーザマーカへの応用例を説明
する説明図、第5図は、従来技術の画像形成装置の斜視
図である。 10・・・回転鏡 12・・・回転鏡の回転軸 14・・・固定鏡 18・・・第1の積層圧電アクチュエータ20・・・第
2の積層圧電アクチュエータ22・・入射主レーザ光 24・・・被偏向主レーザ光 34・・・微小角回転鏡 36・・・微小角回転鏡の回転軸 38・・・走査ミラ一部 46・・・シリンドリカルレンズ 52・・・パルスレーサ発振器(YAG、炭酸ガス等) 54・・・集光レンズ 56・・・大口径光ファイバ 60・・・円弧歪補正シリンドリカルミラー62・・・
被マーキング物 100・・・入射モニタ用レーザ光 02・・・モニタ用レーザ光 04・・・主レーザ光 06・・・光学フィルタ 08・・・光線位置検出器 10・・・光線位置検出器の検出面 12・・・細線状透過部分 14・・・固定鏡あるいは微小回転鏡のガラス基盤 16・・・金蒸着面 18・・・ダイクロイックミラー 20・・・モニタ用レーザ光源 22・・・レーザマーカヘッド部
FIG. 1 is an explanatory diagram for explaining the configuration of the first embodiment of the image forming apparatus of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of the operation of the image forming apparatus of the present invention, and FIG. 3 is a detailed diagram of the thin line transparent portion. FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an example of application to a laser marker, and FIG. 5 is a perspective view of a conventional image forming apparatus. 10...Rotating mirror 12...Rotating mirror rotation axis 14...Fixed mirror 18...First laminated piezoelectric actuator 20...Second laminated piezoelectric actuator 22...Incoming main laser beam 24...・・Deflected main laser beam 34 ・・Micro-angle rotating mirror 36 ・・Rotating shaft 38 of the small-angle rotating mirror ・・Scanning mirror part 46 ・・Cylindrical lens 52 ・・・Pulse laser oscillator (YAG, carbon dioxide) gas, etc.) 54...Condensing lens 56...Large diameter optical fiber 60...Circular distortion correction cylindrical mirror 62...
Object to be marked 100...Laser beam for incident monitoring 02...Laser beam for monitoring 04...Main laser beam 06...Optical filter 08...Beam position detector 10...Beam position detector Detection surface 12...Thin linear transmission portion 14...Glass base 16 of a fixed mirror or minute rotating mirror...Gold deposition surface 18...Dichroic mirror 20...Laser light source for monitoring 22...Laser marker head Department

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 固定鏡と、該固定鏡に対向する回転可能な回転鏡と、回
転可能な回転鏡を回転させる駆動部と、固定鏡に入射さ
れ、固定鏡と回転鏡の間で多重反射して偏向した後光線
走査を行なう光線走査装置において、固定鏡に細線状の
透過部分を設け、透過部分の後方にレーザ光からモニタ
光を取り出す光学フィルタを設け、光学フィルタを通過
したモニタ用レーザ光の位置を検出する光線位置検出器
を設けたことを特徴とする光線走査装置。
A fixed mirror, a rotatable rotating mirror facing the fixed mirror, a drive unit for rotating the rotatable rotating mirror, and a beam incident on the fixed mirror, which is reflected multiple times between the fixed mirror and the rotating mirror, and then deflected. In a beam scanning device that performs beam scanning, a thin line-shaped transparent part is provided on a fixed mirror, an optical filter is installed behind the transparent part to extract the monitor light from the laser beam, and the position of the monitor laser beam that has passed through the optical filter is detected. 1. A beam scanning device characterized by being provided with a beam position detector.
JP19415290A 1990-07-23 1990-07-23 Light beam scanning device Pending JPH0480708A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19415290A JPH0480708A (en) 1990-07-23 1990-07-23 Light beam scanning device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19415290A JPH0480708A (en) 1990-07-23 1990-07-23 Light beam scanning device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0480708A true JPH0480708A (en) 1992-03-13

Family

ID=16319786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19415290A Pending JPH0480708A (en) 1990-07-23 1990-07-23 Light beam scanning device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0480708A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0565276A2 (en) * 1992-04-06 1993-10-13 AT&T Corp. Free-space optical switching apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0565276A2 (en) * 1992-04-06 1993-10-13 AT&T Corp. Free-space optical switching apparatus
EP0565276A3 (en) * 1992-04-06 1995-04-05 American Telephone & Telegraph Free-space optical switching apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5185676A (en) Beam scanning apparatus and apparatus for writing image information
JPH05173087A (en) Automatic focus scanning type optical device
US4329012A (en) Two-dimensional scanning device
JPS63241519A (en) Light beam recorder
JP2742006B2 (en) Cylindrical inner surface scanning device
JP2006224142A (en) Laser scanner and laser marking apparatus, and laser marking method
JPH0480708A (en) Light beam scanning device
JP2002144054A (en) Beam scanning type laser marking device
JPS60233616A (en) Optical scanning device
JPH0481808A (en) Beam scanner
EP0423054B1 (en) Method of producing printing plates by means of a laser beam
JPH06289305A (en) Scanning unit
JP2003161907A (en) Laser beam diameter varying device
JP3162779B2 (en) Optical head of optical radar system
JPS62278521A (en) Light beam scanning device
JP2939765B2 (en) Laser scanning spot diameter adjusting device
JPH0480709A (en) Light beam scanning device
JPH0820619B2 (en) Scanning optics
JP3313985B2 (en) Laser beam measuring device
JPH03194568A (en) Laser printer
JPH04184313A (en) Scanning optical device
JPH1128833A (en) Method and apparatus for imaging, and printing device
JPH0452618A (en) Light beam scanner
JPH05297306A (en) Optical scanning device
JPS62161117A (en) Light source device