JPH0478092A - Semiconductor memory device - Google Patents
Semiconductor memory deviceInfo
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- JPH0478092A JPH0478092A JP2186308A JP18630890A JPH0478092A JP H0478092 A JPH0478092 A JP H0478092A JP 2186308 A JP2186308 A JP 2186308A JP 18630890 A JP18630890 A JP 18630890A JP H0478092 A JPH0478092 A JP H0478092A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体記憶装置の特にDRAMのシリアルア
クセスモードに関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a serial access mode of a semiconductor memory device, particularly a DRAM.
第3図は従来のシリアルアクセスモードを有するDRA
Mのブロック図である。Figure 3 shows a DRA with conventional serial access mode.
It is a block diagram of M.
図において、Vccは電源電圧、Vssは接地レベル、
A、〜A9は内部のメモリセルを選択するためのアドレ
ス入力信号、D Q +〜D Q aはデータ人出力信
号、RAS、CAS、W、OEの4侶号は動作モードを
決定するための入カイ3号、(1)はRAS、CASの
制御信号により動作モードを決定するクロックジェネレ
ータ回路、(2)はアドレス入力信号を内部に取り込む
アドレスバッファ、(3)はワード線を選択するロウデ
コーダ、(4)はヒツト線を選択するコラムデコーダ、
(5)は選択されたメモリセルの情報を増幅するセンス
アンプ、(6)はメモリセルへの読み出し及び書き込み
を制御するI10コントロール、(7)はデータ人力を
内部に取り込むデータインバッファ、(8)は読み出さ
れたデータを出力するデータアウトバッファ、(11)
はメモリセル群である。In the figure, Vcc is the power supply voltage, Vss is the ground level,
A, ~A9 are address input signals for selecting internal memory cells, DQ+~DQa are data output signals, and RAS, CAS, W, and OE are for determining the operation mode. Input number 3, (1) is a clock generator circuit that determines the operation mode based on RAS and CAS control signals, (2) is an address buffer that takes in address input signals, and (3) is a row decoder that selects a word line. , (4) is a column decoder that selects the hit line,
(5) is a sense amplifier that amplifies the information of the selected memory cell; (6) is an I10 control that controls reading and writing to the memory cell; (7) is a data in buffer that takes in data input; (8) ) is a data out buffer that outputs the read data, (11)
is a memory cell group.
次に動作について説明する。従来のDRAMにてシリア
ルアクセスモートを用いた場合、信号RASか“H”か
ら“L”に変化した時ROWアドレスをアドレスバッフ
ァ(2)に取り込み1つのロウデコーダ(3)を選択し
、ワード線を立ち上げ、メモリセル(11)の情報をビ
ット線に伝える。Next, the operation will be explained. When a serial access mode is used in a conventional DRAM, when the signal RAS changes from "H" to "L", the ROW address is loaded into the address buffer (2), one row decoder (3) is selected, and the word line is , and transmits the information of the memory cell (11) to the bit line.
次に信号CASを“H”から“L”に変化させ、最初の
COLアドレスをアドレスバッファ(2)にとり込み、
選択されたコラムアドレスのコラムデコーダ(4)を選
択し、センスアンプ(5)により増幅されたメモリセル
情報を外部へ読み出す。次に信号RASは“L”のまま
信号CASを“L”→“H”→“L ”とすると、コラ
ムアドレスが1つ進み、次のコラムアドレスか選択され
る。以降信号CASを制御することにより、外部よりア
ドレスを人力すること無く次のアドレスがアクセスされ
、読み出しくあるいは書込み)動作を行う。Next, change the signal CAS from "H" to "L", take the first COL address into the address buffer (2),
The column decoder (4) of the selected column address is selected, and the memory cell information amplified by the sense amplifier (5) is read out. Next, when the signal RAS is kept at "L" and the signal CAS is changed from "L" to "H" to "L", the column address advances by one and the next column address is selected. Thereafter, by controlling the signal CAS, the next address is accessed without manually inputting the address from the outside, and a read or write operation is performed.
このようにあるロウアドレスを選択し、最初のコラムア
ドレスを選択したら、以降アドレスを人力することなく
次のアドレスを内部で進めて行って選択して行くモード
をシリアルアクセスモートと呼んている。This mode in which a certain row address is selected, the first column address is selected, and the next address is internally advanced and selected without manually inputting the address is called serial access mode.
第4図は第3図の回路のシリアルアクセスのRead時
の出力の状態を示すタイミング波形図で、図に示すよう
に、RAS、CASをLowに下げる時に取り込んたロ
ウアドレス、コラムアドレスで選択されるメモリセルの
データであるデータ1かます出力される。次のCASの
サイクルでコラムアドレスか1つ進んで、次のコラムア
ドレスのデータであるデータ2か、次のCASのサイク
ルてデータ3という風に圧力され、最初に指定されたロ
ウアドレス上のコラムのデータをシリアルに出力する。Figure 4 is a timing waveform diagram showing the output state of the circuit in Figure 3 during serial access read. One piece of data, which is the data of the memory cell, is output. In the next CAS cycle, the column address advances by one, and the data at the next column address is data 2, or the data at the next CAS cycle is data 3. output the data serially.
従来の半導体記憶装置のシリアルアクセスモートは以上
のように構成されていたので、複数のロウアドレスにま
たかりシリアルアクセスを行う場合、一度次のロウアド
レスを選択するために、シリアルアクセスモートを抜は
ロウアドレスを外部より人力する必要があり、内部で自
動発生していたコラムアドレスを外部で管理する手間か
必要であるという問題点かあった。The serial access mode of conventional semiconductor storage devices is configured as described above, so when performing serial access across multiple row addresses, it is necessary to disconnect the serial access mode in order to select the next row address. There were problems in that row addresses had to be input manually from outside, and column addresses, which were automatically generated internally, had to be managed externally.
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、1度ロウアドレスとコラムアドレスを指定す
れば、連続的にシリアルアクセスができる半導体記憶装
置を得ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a semiconductor memory device that allows continuous serial access once a row address and a column address are specified.
(課題を解決するための手段〕
この発明に係るDRAMのシリアル・アクセス・モード
は、選択ワード線を複数に分割し、シリアル・アクセス
が終了したワード線グループは次のロウアドレスを選択
するように構成したので、ロウアドレス方向にも連続し
てシリアルアクセスが可能となるようにしたものである
。(Means for Solving the Problems) In the serial access mode of the DRAM according to the present invention, the selected word line is divided into a plurality of parts, and the word line group for which serial access has been completed selects the next row address. With this structure, continuous serial access is possible also in the row address direction.
又、DRAMに必要なリフレッシュ動作は内部で自動的
に行われるよう構成することにより、外部よりリフレッ
シュを考慮する必要なく永久的にシリアルアクセスか可
能となる。Furthermore, by configuring the DRAM so that refresh operations necessary for the DRAM are automatically performed internally, serial access becomes possible permanently without the need to consider external refresh operations.
この発明におけるシリアルアクセスモードは、内部で発
生したコラムアドレスにより、ワード線を変更する機能
を有し、コラムアドレスがアクセス終了したグループの
ワード線を次のアドレスに変更することにより、連続的
にシリアルアクセスが可能となる。The serial access mode in this invention has the function of changing the word line using an internally generated column address, and by changing the word line of the group whose column address has been accessed to the next address, the serial access mode Access is possible.
(実施例) 以下、この発明の一実施例を図について説明する。(Example) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はこの発明の一実施例であるシリアルアクセスモ
ートを有するDRAMのブロック図て、説明を容易にす
るためセンスアンプ(5)、I10コントロール(6)
およびメモリセル群(11)を2分割にした場合を示す
。FIG. 1 is a block diagram of a DRAM having a serial access mode, which is an embodiment of the present invention, and includes a sense amplifier (5), an I10 control (6), and
and shows the case where the memory cell group (11) is divided into two.
図において、Vccは電源電圧、Vssは接地レベル、
Ao−A9は内部のメモリセルを選択するためのアドレ
ス入力信号、D Q r〜DQ4はデータ入出力信号、
RAS、CAS、W、OEの4信号は動作モートを決定
するための入力信号、(1)はRAS、CASの制御信
号により動作モードを決定するクロックジェネレータ回
路、(2)はアドレス入力信号を内部に取り込むアドレ
スバッファ、(3)はワード線を選択するロウデコーダ
、(4)はビット線を選択するコラムデコーダ、(5)
は選択されたメモリセルの情報を増幅するセンスアンプ
、(6)はメモリセルへの読み出し及び書き込みを制御
するI10コントロール、(7)はデータ人力を内部に
取り込むチータインバッファ、(8)は読み出されたデ
ータを出力するデータアウトバッファ、(9)は内部で
発生されたコラムアドレスを受けてロウアドレスをイン
クリメントする内部ロウアドレス制御回路、(10)は
シリアルアクセスモート時、自動的にリフレッシュ動作
を行うためのオートリフレッシュ制御回路、(冊)はメ
モリセル群である。In the figure, Vcc is the power supply voltage, Vss is the ground level,
Ao-A9 is an address input signal for selecting an internal memory cell, DQr-DQ4 are data input/output signals,
The four signals RAS, CAS, W, and OE are input signals for determining the operating mode. (1) is a clock generator circuit that determines the operating mode by the control signals of RAS and CAS, and (2) is the internal address input signal. (3) is a row decoder that selects a word line, (4) is a column decoder that selects a bit line, (5)
is a sense amplifier that amplifies the information of the selected memory cell, (6) is the I10 control that controls reading and writing to the memory cell, (7) is the input buffer that takes the data internally, and (8) is the read A data out buffer outputs the output data, (9) is an internal row address control circuit that receives an internally generated column address and increments the row address, and (10) automatically refreshes during serial access mode. The auto-refresh control circuit for performing this is a memory cell group.
第2図は第1図の回路のシリアルアクセスのRead時
出力状態を示すタイミンク波形図である。FIG. 2 is a timing waveform diagram showing the output state of the circuit shown in FIG. 1 during read of serial access.
なお、上記実施例ではワード線を2分割してロウアドレ
ス制御を行った場合を示したが、3分割以上に分割して
も同様の効果を奏する。Note that although the above embodiment shows the case where the word line is divided into two to perform row address control, the same effect can be obtained even if the word line is divided into three or more.
又、」二記実施例ては、クロックジェネレータ回路(1
)により内部発生したコラムアドレスによりシリアルア
クセスを行う場合について説明したか、シルアルアクセ
スメモリを有し、1度にシリアルアクセスメモリにメモ
リセルの内容をブロック転送し、シリアルアクセスメモ
リよりシiノアルにデータをやり取りするような方式の
シリアル・アクセス・モートの場合に置いて、メモリセ
ル群(+1)のワード線を複数に分割し、ロウアドレス
制御を行い、シリアルアクセスメモリとデータのやり取
りを行うようなりRAMのシリアルアクセスモートも同
様の効果を奏する。In addition, in the second embodiment, the clock generator circuit (1
) has explained the case where serial access is performed using an internally generated column address. In the case of a serial access mote that exchanges data, the word line of the memory cell group (+1) is divided into multiple parts, row addresses are controlled, and data is exchanged with the serial access memory. A RAM serial access mode has a similar effect.
(発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、DRAMのシリアルア
クセスモートは、連続的にシリアルアクセスを行うこと
を可能にできるという効果かある。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the DRAM serial access mode has the advantage that serial access can be performed continuously.
第1図はこの発明の一実施例によるDRAMのブロック
図、第2図は第1図の回路のシリアルアクセスRead
時のタイミング波形図、第3図は従来のDRAMのブロ
ック図、第4図は第3図の回路のシリアルアクセスRe
ad時のタイミンク波形図である。
図において、(1)はクロックジェネレータ回路、(2
)はアドレスバッファ、(3)はロウデコーダ、(4)
はコラムテコーダ、(5)はセンスアンプ、(6)はI
10コントロール、(7)はデータインバッファ、(8
)はデータアウトバッファ、(9)は内部ロウアドレス
制御回路、(10)はオートリフレッシュ制御回路、(
11)はメモリセル群を示す。
なお、図中、同一符号は同一、または相当部分をボす。
第1図FIG. 1 is a block diagram of a DRAM according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a serial access read diagram of the circuit of FIG.
Figure 3 is a block diagram of a conventional DRAM, Figure 4 is a serial access Re of the circuit in Figure 3.
It is a timing waveform diagram at the time of ad. In the figure, (1) is a clock generator circuit, (2
) is the address buffer, (3) is the row decoder, (4)
is a column tecoder, (5) is a sense amplifier, (6) is an I
10 controls, (7) data in buffer, (8
) is a data out buffer, (9) is an internal row address control circuit, (10) is an auto-refresh control circuit, (
11) shows a memory cell group. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Figure 1
Claims (1)
体記憶装置において、一度ROWアドレスを設定すると
、リフレッシュもROWアドレスの設定もすることなく
連続的に次のアドレスをアクセスすることを特徴とする
半導体記憶装置。A semiconductor memory device having a function of serially accessing addresses, wherein once a ROW address is set, the next address is continuously accessed without refreshing or setting the ROW address.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2186308A JPH0478092A (en) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2186308A JPH0478092A (en) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | Semiconductor memory device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0478092A true JPH0478092A (en) | 1992-03-12 |
Family
ID=16186057
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2186308A Pending JPH0478092A (en) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | Semiconductor memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0478092A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005004164A1 (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-13 | Fujitsu Limited | Semiconductor storage device |
-
1990
- 1990-07-11 JP JP2186308A patent/JPH0478092A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005004164A1 (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-13 | Fujitsu Limited | Semiconductor storage device |
JPWO2005004164A1 (en) * | 2003-06-30 | 2006-08-17 | 富士通株式会社 | Semiconductor memory device |
US7102960B2 (en) | 2003-06-30 | 2006-09-05 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device |
US7570541B2 (en) | 2003-06-30 | 2009-08-04 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor memory device |
JP4511462B2 (en) * | 2003-06-30 | 2010-07-28 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Semiconductor memory device |
US7848176B2 (en) | 2003-06-30 | 2010-12-07 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor memory device |
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