JPH0477674A - プローブ - Google Patents
プローブInfo
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- JPH0477674A JPH0477674A JP19131990A JP19131990A JPH0477674A JP H0477674 A JPH0477674 A JP H0477674A JP 19131990 A JP19131990 A JP 19131990A JP 19131990 A JP19131990 A JP 19131990A JP H0477674 A JPH0477674 A JP H0477674A
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- Japan
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- measured
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 16
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 16
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Fuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明はプローブに関し、特にＩＣテスタやボードテス
タに用いられるテストアダプタ用のコンタクトプローブ
に関する。
タに用いられるテストアダプタ用のコンタクトプローブ
に関する。
従来技術
従来、この種のテストアダプタ用のコンタクトプローブ
は、被ｌＰ１定物の電気的特性をｉｌｌ定する際に被測
定物の観Ｍ１点に接触して電気的に接続する接触ｒを有
するコンタクト部と、導電性の筒状部を有するソケット
とから構成されている。そして、ソケットの底部はプリ
ント配線板に半１１付接続されている。
は、被ｌＰ１定物の電気的特性をｉｌｌ定する際に被測
定物の観Ｍ１点に接触して電気的に接続する接触ｒを有
するコンタクト部と、導電性の筒状部を有するソケット
とから構成されている。そして、ソケットの底部はプリ
ント配線板に半１１付接続されている。
また、例えば、プリント配線板から通電することで、ソ
ケットを介してコンタクト部に通電され、上部の接触子
から被測定物の接続端子に信号や電圧が印加される。
ケットを介してコンタクト部に通電され、上部の接触子
から被測定物の接続端子に信号や電圧が印加される。
さらにまた、従来のコンタクトプローブをテストアダプ
タに用いる時、通電する電流値は許容電流に対し通常余
裕ある電流値に設定されている。
タに用いる時、通電する電流値は許容電流に対し通常余
裕ある電流値に設定されている。
例えば、比較的電流値の小さい電気信号用コンタクトプ
ローブの場合は、電流値が許容値に文１゜１０分の１以
下と少ないためコンタクトブローブへの損傷はほとんど
無い。
ローブの場合は、電流値が許容値に文１゜１０分の１以
下と少ないためコンタクトブローブへの損傷はほとんど
無い。
しかし、電源供給用コンタクトプローブの場合には電圧
値及び電流値ともに大きい。よって、もし被測定物や電
源装置にショート等の異常が発生した場合には過電流が
流れ、コンタクトプローブが破損してしまうという欠点
がある。また、試験装置側にも致命傷を与えるという欠
点もある。さらにまた、被測定物の消費電力が大きい場
合には、被測定物を冷却する手段に不具合が発生すると
、被測定物の温度が異常に上昇し、コンタクトプローブ
、テストアダプタ更には被測定物を破損するという欠点
がある。
値及び電流値ともに大きい。よって、もし被測定物や電
源装置にショート等の異常が発生した場合には過電流が
流れ、コンタクトプローブが破損してしまうという欠点
がある。また、試験装置側にも致命傷を与えるという欠
点もある。さらにまた、被測定物の消費電力が大きい場
合には、被測定物を冷却する手段に不具合が発生すると
、被測定物の温度が異常に上昇し、コンタクトプローブ
、テストアダプタ更には被測定物を破損するという欠点
がある。
発明の目的
本発明は上述した従来の欠点を解決するためになされた
ものであり、その目的は過電流や過剰温度による試験装
置、被１１Ｆ１定物の破損を防止できるプローブを提供
することである。
ものであり、その目的は過電流や過剰温度による試験装
置、被１１Ｆ１定物の破損を防止できるプローブを提供
することである。
発明の構成
本発明によるプローブは、観測点に接触する接触子と、
前記接触子の電位を外部回路に伝達する伝達部とを有す
るプローブであって、流れる電流が所定値以上となると
溶断し前記接触子と前記外部回路とを電気的に断とする
溶断部材により前記伝達部を形成したことを特徴とする
。
前記接触子の電位を外部回路に伝達する伝達部とを有す
るプローブであって、流れる電流が所定値以上となると
溶断し前記接触子と前記外部回路とを電気的に断とする
溶断部材により前記伝達部を形成したことを特徴とする
。
本発明による他のプローブは、観測点に接触する接触子
と、前記接触子の電位を外部回路に伝達する伝達部とを
有するプローブであって、温度が所定位置」二となると
溶断し前記接触子と前記外部回路とを電気的に断とする
溶断部材により前記伝達部を形成したことを特徴とする
。
と、前記接触子の電位を外部回路に伝達する伝達部とを
有するプローブであって、温度が所定位置」二となると
溶断し前記接触子と前記外部回路とを電気的に断とする
溶断部材により前記伝達部を形成したことを特徴とする
。
実施例
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明によるプローブの一実施例の部分断面図
であり、１ビン分がプリント配線に半田付接続され、ま
た接触子が被１１＄１定物の接続端子に接触接続してい
る使用状態を示したものである。
であり、１ビン分がプリント配線に半田付接続され、ま
た接触子が被１１＄１定物の接続端子に接触接続してい
る使用状態を示したものである。
図において、接触子１は被測定物１１の接続端子１２に
接触し、電気的に接続されている。また、接触子１の他
端は錫や鉛等の合金で構成され、過電流で溶断するヒユ
ーズと同様な特性を有する合金線２を介して導電体３の
一端に接続される。この合金線２の周囲には接触子１と
導電体３とを固定する絶縁体４が設けられている。なお
、錫、鉛等の含有比率は試験装置の許容入力電圧値等に
応じて適当に定めれば良い。
接触し、電気的に接続されている。また、接触子１の他
端は錫や鉛等の合金で構成され、過電流で溶断するヒユ
ーズと同様な特性を有する合金線２を介して導電体３の
一端に接続される。この合金線２の周囲には接触子１と
導電体３とを固定する絶縁体４が設けられている。なお
、錫、鉛等の含有比率は試験装置の許容入力電圧値等に
応じて適当に定めれば良い。
また、導電体３の他端にはスプリング５が止着されてお
り、被測定物１１の接続端子１２と接触している接触子
１に圧力を加えている。これらスプリング５及び導電体
３は筒状の金属チューブ６に包含されている。
り、被測定物１１の接続端子１２と接触している接触子
１に圧力を加えている。これらスプリング５及び導電体
３は筒状の金属チューブ６に包含されている。
さらにまた、ソケット７は、その底部が半田１５により
プリント基板１３のプリント配線１４に接続されている
。ただし、交換可能となるよう上部が開放され、ここに
金属チューブ６が挿入接続されるように構成されている
。
プリント基板１３のプリント配線１４に接続されている
。ただし、交換可能となるよう上部が開放され、ここに
金属チューブ６が挿入接続されるように構成されている
。
つまり、本実施例のテストアダプタ用コンタクトプロー
ブは、被測定物に接触接続する接触子と、この接触子の
一端と接続し、かっ他端が導電体と接続し、過電流によ
り溶断する合金線を備え、前記導電体を可動するスプリ
ングとを筒状に包含する金属チューブを有し、この金属
チューブを着脱可能に収納するソケットより構成されて
いるのである。
ブは、被測定物に接触接続する接触子と、この接触子の
一端と接続し、かっ他端が導電体と接続し、過電流によ
り溶断する合金線を備え、前記導電体を可動するスプリ
ングとを筒状に包含する金属チューブを有し、この金属
チューブを着脱可能に収納するソケットより構成されて
いるのである。
以上の構成により、もし合金線２に過電流が流れた場合
には、ヒユーズ特性により溶断後、電流か遮断されるの
である。その結果、被？］Ｃ１定物やテストアダプタを
保護できるのである。
には、ヒユーズ特性により溶断後、電流か遮断されるの
である。その結果、被？］Ｃ１定物やテストアダプタを
保護できるのである。
また、合金線２が過剰温度で溶断する特性を有するなら
ば、被測定物の温度が異常に上昇した場合に合金線２は
溶断するため、被測定物への電流が遮断される。その結
果、被測定物やテストアダプタを保護できるのである。
ば、被測定物の温度が異常に上昇した場合に合金線２は
溶断するため、被測定物への電流が遮断される。その結
果、被測定物やテストアダプタを保護できるのである。
なお、合金線２の溶断後は、代りに別の新たな合金線を
含んで構成された金属チューブをソケットに挿入すれば
良い。
含んで構成された金属チューブをソケットに挿入すれば
良い。
発明の詳細
な説明したように本発明は、被測定物の観測点に接触接
続し、通電経路となる接触子の一端に過電流又は過剰温
度で溶断する合金線を備えることにより、試験中の被測
定物や試験装置を過電流や高温から保護できるという効
果がある。
続し、通電経路となる接触子の一端に過電流又は過剰温
度で溶断する合金線を備えることにより、試験中の被測
定物や試験装置を過電流や高温から保護できるという効
果がある。
第１図は本発明の実施例によるプローブの部分断面図で
ある。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・接触子 ２・・・・・・合金線 ３・・・・・・導電体 ４・・・・・・絶縁体 出願人 日本電気株式会社（外１名）
ある。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・接触子 ２・・・・・・合金線 ３・・・・・・導電体 ４・・・・・・絶縁体 出願人 日本電気株式会社（外１名）
Claims (2)
- （１）観測点に接触する接触子と、前記接触子の電位を
外部回路に伝達する伝達部とを有するプローブであって
、流れる電流が所定値以上となると溶断し前記接触子と
前記外部回路とを電気的に断とする溶断部材により前記
伝達部を形成したことを特徴とするプローブ。 - （２）観測点に接触する接触子と、前記接触子の電位を
外部回路に伝達する伝達部とを有するプローブであって
、温度が所定値以上となると溶断し前記接触子と前記外
部回路とを電気的に断とする溶断部材により前記伝達部
を形成したことを特徴とするプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19131990A JPH0477674A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19131990A JPH0477674A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0477674A true JPH0477674A (ja) | 1992-03-11 |
Family
ID=16272579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19131990A Pending JPH0477674A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0477674A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5461327A (en) * | 1992-08-31 | 1995-10-24 | Tokyo Electron Limited | Probe apparatus |
| JP2007127603A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 測定用端子 |
| JP2013229496A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| KR20160131544A (ko) * | 2015-05-07 | 2016-11-16 | (주)씨투와이드 | 과전류 차단기능을 갖는 프로브핀 |
-
1990
- 1990-07-19 JP JP19131990A patent/JPH0477674A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5461327A (en) * | 1992-08-31 | 1995-10-24 | Tokyo Electron Limited | Probe apparatus |
| JP2007127603A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 測定用端子 |
| JP2013229496A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| US9188624B2 (en) | 2012-04-26 | 2015-11-17 | Mitsubishi Electric Corporation | Inspection apparatus |
| KR20160131544A (ko) * | 2015-05-07 | 2016-11-16 | (주)씨투와이드 | 과전류 차단기능을 갖는 프로브핀 |
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