JPH0477244U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0477244U JPH0477244U JP12051990U JP12051990U JPH0477244U JP H0477244 U JPH0477244 U JP H0477244U JP 12051990 U JP12051990 U JP 12051990U JP 12051990 U JP12051990 U JP 12051990U JP H0477244 U JPH0477244 U JP H0477244U
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- JP
- Japan
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- circuit board
- electric circuit
- semiconductor device
- jig
- measuring jig
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 2
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例の斜視図、第2図は
従来の特性測定治具の一例の斜視図である。 1……測定治具架台、2……電気回路基板、3
……金属板、4……貫通孔、5……金属ねじ。
従来の特性測定治具の一例の斜視図である。 1……測定治具架台、2……電気回路基板、3
……金属板、4……貫通孔、5……金属ねじ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 測定治具架台上に半導体装置の電極端子が接
続される電極端子を有する電気回路基板が固定さ
れた半導体装置用の特性測定治具において、前記
電気回路基板が脱着可能な構造となつていること
を特徴とする半導体装置用の特性測定治具。 2 前記電気回路基板が底面にねじ穴が形成され
た金属板を底面に有する二層構造をなし、測定治
具架台にねじ止めにて固定されたことを特徴とす
る請求項1記載の半導体装置用の特性測定治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12051990U JPH0477244U (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12051990U JPH0477244U (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0477244U true JPH0477244U (ja) | 1992-07-06 |
Family
ID=31868421
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12051990U Pending JPH0477244U (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0477244U (ja) |
-
1990
- 1990-11-16 JP JP12051990U patent/JPH0477244U/ja active Pending