JPH047674A - 標準ブロツクライブラリ検索装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明に標準ブロックライブラリから検索者が希望す
る条件に適合するブロックを検索する標準ブロックライ
ブラリ検索装置に関するものである。

〔従来の技術〕

第１０図、第１１図は従来の標準ブロックライブラリ検
索方法を示す説明図およびデイスプレィの斜視図であり
、（至）は標準ブロックライブラリのドキュメン）、＄
４は作業者が検索したブロックの回路図又はレイアウト
図をＣＲＴ画面上に呼び出す端末である。

次に動作について説明する。

作業者は標準ブロックライブラリのドキュメント（至）
を１枚々めくりて、ライブラリに登録しである各ブロッ
クの回路図、レイアウト図、回路特性表と、自分が望む
ブロックの条件を照らし合わせ、条件に適するブロック
が見つかったら、そのブロックの回路図又はレイアウト
図を端末−の０１７画面に表示し１回路設計、レイアウ
ト設計に利用する。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の標準ブロックライブラリからのブロックの検索は
以上のような方法をとっていたので、検索に時間がかか
り、また、時間をかけて検索した結果、「希望条件を満
足するフロックは一つもない」ということも多々あり、
非常に非能率的であるという問題点があった０ この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
念もので、標準ブロックライブラリから、希望条件を満
足するブロックを効率的に検索し、又、条件を満足する
ブロックが存在しない場合は希望条件内の特性条件に近
いブロックを検索し、本来希望する特性条件を満足させ
るためには、そのブロックのどの素子についてどの様な
改訂を行えば良いのかの目安を示す標準ブロックライブ
ラリ検索装置を得ることを目的とする。

〔課題ｔ−屏決するための手段〕

この発明に係る標準ブロックライブラリ検索装置は、ま
ず作業者が設定する希望条件をライブラリ中の「特性デ
ータ」（ブロック名１機能。

製造プロセス、各種特性及びその籠と照らし合わせ、希
望条件を満足する特性データが存在するかどうかを検索
する作業をデータ及びその値を得る出力ピン名ｅｔｃ）
と照らし合わせ、希望条件を満足する特性データが存在
するかどうかを検索する作業をデータ検索部■で行う。

希望条件を満足する特性データが存在する場合はその特
性データが属するブロックの回路データ、レイアウトデ
ータ、特性データをデータ検索部ａで検索してデータ変
換部Ｉで画像処理を行ってＣＲＴ画面上に同時に表示す
る。

希望条件を満足する特性データが存在しない場合は１作
業者が設定する「緩和設定」条件に基づいて、当初の希
望条件の内の特性条件を、条件緩和部で緩和し、その結
果得た「緩和条件」を満足する特性データが存在するか
どうかをデータ検索部！で検索し、その結果得た特性デ
ータが属するブロックの回路データに対して。

回路解析部■で解析（感度解析）を行い、希望条件内に
設定された特性に対して最も影響を与える素子を抽出し
た後データ検索部ｍｖｃおいて１０］路データ、レイア
ウトデータ上でその素子を特定する。

希望条件のデータを元にＤＲＣルール選択部でＤＲＣル
ールを選択した後このＤＲＣルールにのっとって、レイ
アウトデータにおいて上記で特定した素子に相当するレ
イヤの幅の変更可能な範囲全判定部で判定し、重ね合わ
せ処理部においてこの判定結果を本来のレイアウトデー
タの上に重ね合わせる。素子定数抽出部において、レイ
ヤ幅変更に伴い変更するレイヤａの面積が最大、ｊｌ小
値をとる場合の素子定数を、レイアウトデータ′に！み
取って氷め、その結果を回路データ再作成部で回路図に
反映させて、同路解析部口において、希望条件内に設定
した特性について解析２行い特性１ｉＩ！を求める。

求める特性に最も影響を与える素子に相当するレイヤの
幅を変え、面積を最大・最小にした場むの、ブロックの
レイアウト図、回路図、特性１ｉ１’にデータに変換部
口で画像処理してＣＲＴ画面上に表示するものである。

〔作用〕

本発明−でおける標準ブロックライブラリ検索装置は、
ブロックのレイアウト図において、求める特性に最も影
ｊＩ＃を与える素子に相当するレイヤの幅の変更可能な
範囲ケ判定部でＤＲＯルールにのつとりて判定し１次い
で１幅の変更に伴い変動するレイヤｒｋＪＩｊｔが最大
・最小となる時の素子定数を素子定数抽出部で氷めた後
、回路データ再作成部で回路データに素子定数を反映さ
せ、結果得た回路データに対し解析を行い、特性データ
を抽出する。

本検索装置にこれらのデータをデータ変換部■で画像処
理してＣＲＴ画面上に表示し、作業者に当初設定した希
望条件に近いブロックと。

そのブロック内のどの素子をどう改訂すれば当初の希望
条件により一層近づくかの目安を表示する。

〔実施列〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。

第１図はこの発明の一実施例である標準ブロツライプラ
リ検索装置の処理を示すフローチャートで、図において
、ステップｌは検零の繰り返し回数（ｎ〉０．ｎｈ叡）
　　ステップ８はｆｎｓｍｎ−ＩＪの演算を行う演算部
、ステップ８はｒｍ−ｍ＋ＩＪの演算を行う演算部、ス
テップ４は作業者が設定するブロックについての希望条
件、ステップ５は標準ブロックライブラリで、登録しで
ある各ブロックの「回路データ」「特性データブロック
名１機能、製造プロセス、各種特性とその１ｉ１ｅｔｅ
）Ｊｒレイアウト　データ」から成っている。ステップ
６はステップ鳴の希望条件とステップｂのライブラリの
「特性データ」を照らし合わせ、希望条件を満足する特
性データが存在するかどうかを検索するデータ検索部Ｉ
、ステップ７はその検索結果Ｉ、ステップ８はステップ
嶋の希望条件を満足する特性データが属するブロックに
関する全データをステップ６のライブラリから検索する
データ検索部■、ステップ９はその検索結果■、ステッ
プｌＯはステップ検索結果ＩＩを画像処理するデータ変
換部！ステップ１１はデータ変換されて０１７画面上に
表示されるデータである。

ステップ１ｇはステップ４の希望条件内の特性条件を緩
和する条件を作業者が設定する緩和設定、ステップ１８
はステップ４の希望条件とステップ１８の緩和膜設をも
とに特性条件を緩める条件緩和部、ステップ１４はその
結果得られる緩和条件、ステップ１６はステップ４希望
条件で設定した特性に影響を与える素子を解析して抽出
する回路解析部Ｉ、ステップ１７はその結果である解析
結果！、ステップ１８はステップ１６の［０］路群解析
■で抽出した素子がステップ１８のデータ検索部ｍで求
めたブロックのレイアウトデータにおいてどの部分のレ
イヤに相当するかを検索するデータ検索部Ｉ、ステップ
１９はその結果得られる検索結果■、ステップ２０はス
テップ番の希望条件内に設定したプロセスに関する情報
を読み込んで、そのプロセスのデザインルールを選択す
るＤＲＣルール選択部、ステップ２１はその結果選択さ
れたデザインルールであるＤＲＣルールである。ステッ
プ２２はステップ１８のデータ検索部ｍで求めたレイヤ
幅の変更可能な範囲をステップ３１のＤＲＣルールにの
っとって判定する判定部、ステップｇ８はその結果であ
る判定結果、ステップｇ４はステップ２８０判定結果？
１本来のレイアウトデータ（ステップ９の検索結果ｎ）
ｖｃ電ね合わせる処理を行う重ね合わせ処理部、ステッ
プ２５はその結果得られるレイアウトデータである処理
結果、ステップ２６はステップ２８の判定結果をもとに
、レイヤの面積が最大又は最小になった場合の素子定数
をそれぞれ抽出する素子定数抽出部、ステップ２７はそ
の結果得られる素子定数、ステップ２ｇはステップｇ７
の素子定数をステップ１９の検索結果匝内の回路・デー
タに反映させて回路全再作成する回路データ再作成部、
ステップｓ９はその結果得る回路データ（仮）、ステッ
プ８０はステップ４の希望条件内に設定した解析条件？
用いて、求める特性について、ステップｇ９の回路デー
タ（仮）に対して解析を行う回路解析部ｎ、ステップ８
１はその結果得る特性値、ステップ８２はステップ８６
の処理結果、ステップｚ９の回路データ（仮）、ステッ
プ８１の特性値をデータ変侵して０１７画面上に表示す
るデータ変換部ｎである。

次に動作について説明する。

本実施例における標準ブロックライブラリ検索装置の利
用に当たり、作業者は最初にステップｌの検索回数ｎ（
ｎは正の整数）、ブロックに対するステップ４の希望条
件及びステップ１８の緩和設定を入力設定する（又、ｍ
−ｏと初期設定する）。

第８図にステップ４の希望条件設定の一例を示す。図中
（１）はブロックの機ｉ（オペアンプ）。

（Ｉｔ）　ｔ！　ｉ造プＯセＸ（ＶＹ）、＜ｉｉ＞ｒｓ
”１ｔｙｎ性ｍ＜カットオフ周波数が１００Ｍ）１２以
上）、糟は特性値（［ｉｌ）　ｋ得るために通常用いる
解析手法と、その場合の入力信号（目安で良い）（ＡＣ
！解析あ用ｈ１人力信号（４ｐｕｌｓｅ（０Δ５Δｇｎ
Δ２ｎΔ２ｎ△５０ｎΔ１００ｎ）を示し、この４項目
は必須とする。

第１図にお−で水装置はステップ６のデータ検索部ｌで
ステップ番の希望条件内に設定した（１）〜（ｉｉ＋）
の項目を満足する特性データ會、ステップｂの標準ブロ
ックライブラリ　（以下ライブラリ内略す）内の「各ブ
ロックの特性データ」機能、製造プロセス、特性と特性
値及びその特性日が得られる出力ビン名から検索し、ス
テップ７の検索結果ｌとして出力する。

ステップ７の検索結果ｌのデータ量が−でない、すなわ
ち希望条件を満足する特性データが「各ブロックの特性
データ」内に存在する場合、ステップ６の標準ブロック
ライブラリ内からその特性データが属するブロックの回
路データ。

レイアクトデータ金ステップ８のデータ検索部Ωで検索
し、ステップ７の検索結果Ｉにブロックの特性データと
合わせてステップ９の検索結果■として出力する。最初
に行う検索の場合（ｍ■す、ステップ９の検索結果［１
１−データ変換部Ｉで画像処理し、ＯＲＴ画面上にステ
ップ１１のデータとして表示する。ステップ７の検索結
果■のデータ量がφ、つまりステップ番の希望条件を満
足する特性データがステップ５のライブラリ内の「各ブ
ロックの特性データ」に存在しない場合は、ｒｎ＝ｎ−
ＩＪの演算（ｎｍｏの場合は当初設定した検索回数を終
了したものとし。

作業を終了する６　）　ｌｚｌ　＠　ｒ　１ｌｌｓ＊［
＋　ｌ　Ｊの演算１３＋を行い、当初作業者が設定した
ステップ１Ｂの緩和設定に従って、ステップ１８の条件
緩和部でステップ４の希望条件内の特性条件が少し緩和
されたステップ４の緩和条件０４１に出力する。

第８図にステップ１４の緩和設定の一例を示す。本実施
例によれば、最初に検索した時に「１００ＭＨ２以上」
と設定されていたカットオフ周波数が、Ｓ回目に検々す
る時はｒｌｏｏ−６（ｊ−１）−９！ｉＪよりｒ９６Ｍ
Ｈｚ以上」と設定されることになり、ＢＭＨｚ分条件が
緩和されることになる。

このステップ１４の緩和条件を用いて、ステップ４の希
望条件？用いた時と同様にステップ６のデータ検索部Ｉ
で検索を行う。ステップ７の検索結果Ｉのデータ量が再
度ψとなった場合は、「ｎｍｎ−ＩＪのステップ２演算
部でｒｎ−ＯＪの演算結果が出るまでステップ６のデー
タ検索部Ｉで検索を繰り返す。）検索の結呆、ステップ
７検索給果■のデータ量がψで１へすなわちステップ１
＄１の緩和条件を満足する特性データが存在すると判定
された場合、ステップ４の希望条件を用いた場合と同様
に、ステップ８のデータ検索部■でステップ９の検索結
果ＩＮを出力する。２回目以降に行う検索の場合（ｍ〜
ｌ）、ステップ１１の（−路解析部■においてステップ
９の検索結果■内の回路データから接続情報を抽出し、
特性データ内に定義しである出力ピンを出力変数として
感度解析等の解析を行い、求める特性に最も影響を与え
る素子をステップ７の解析結果ｌとして抽出する（抵抗
Ｒ１）。

第４図はステップ１６の回路解析部Ｉで用いる接続情報
とコントロールカードの一記述例である。図中、−で示
すｊ　８ＫＮ８Ｊ　ｉｊ感度解析実行のためのコントロ
ールであり、全てのブロック場合に適用されるものとし
て−る。父、−で示すｌ”ＶＯＵＴＪは感度解析の対象
となる変数であり、ステップ９の検索結果■として出力
されたブロックの「特性データ」内でカットオフ周波数
を求めた出力ピンのピン名として定義されたものを抽出
して流用している。

ステップ１Ｂのデーグ検索部団において、ステップ１７
解析結果■として求めた素子がブロックのレイアウトデ
ータにおいてどの部分のレイヤに相尚するのかを回路デ
ータと照合して検索し、ステップ１９の検索結果■とじ
て出力する。第６図はステップ１９の検索結果［Ｉを他
のレイヤと共に表示した一例です。図中Ｒ１ｒｉレイヤ
ａとコンタクトから成り、又、園ハレイヤＣ％ｎはレイ
ヤｂを示す。

ステップｇ２の判定部でステップ１９の検索結果」とし
て示されたレイヤの幅の変更、可能な範凹（始点・終点
・屈曲点＃−ｉ変えないものとする。）をステップｊｌ
ｌのＤＲＣルール（−デザインルール）にのっとって判
定する。この除用いるステップ２１のＤＲＣルールは、
ステップ番の希望条件内に必須データとして設定された
「製造プロセス」に関する情報〔第２図の（１１）参照
〕をステップ２００ＤＲＣルール選択部で読み取り、こ
の情報にのっとって選んだものである。第５図はステッ
プｊＩＯのＤＲＣルールの一例を示す。

第５図において、Ｒ１２Ｖｉレイヤａとレイヤｂの間隔
％Ｒ１３ｎレイヤａとレイヤＣの間隔、　Ｉ（１１はレ
イ・ヤａ同志の間隔についてのルール、　Ｗａはレイヤ
ａの幅についてのルールである。

ステップｓ８の判定結果をステップ１９の検索結果層に
、ステップＢ４の電ね合わせ処理部で重ね合わせ、ステ
ップ２５の処理結果を出力する。

第７図はステップｓ５の処理結果を表示した一例である
。口　は抵抗Ｒ１が取り得る最大の面積、厘　は抵抗Ｒ
１が取り得る最小の面積を示してお吟、どちらもステッ
プ！１のＤＲＣルールをもとに判定した結果である。

次に、レイヤａの面積が最大・最小となる場すの抵抗Ｒ
１の抵抗頃（−ステップｓ７の素子定数）をレイアウト
データから読み取る。

ステップｓ８の回路データ再作収都におりてステップ９
の検索結果口の１０］路データに、ステップｓ７の素子
定数を反映させて、ステップｓ９の回路データ（仮）を
出力する。

第８図はステップ２９０回路データ（仮）の−表示例で
あ夛、レイヤａの面積が最大になった時のＲ１の抵抗１
！　（Ｙｆｌ）、最小ＶＣナツタ時１７）Ｒ１の抵抗ｏ
ｉ（Ｚｎ）、本来の抵抗１１　（ＸΩ）を同時ＶＣ表示
している◎ このステップｊ９の回路データ（仮）に対しステップ８
０の回路解析部■においてステップ４の希望条件に設定
した解析データ〔第２図（ｉｖ）参照〕音用いて、求め
る特性についての解析を行い、ステップ８１の特性［を
求める。

ｎ＊ｙＦｆｌ’Ｊ 第９図にステップ８１の特性　　ある。

ステップ８２のデータ変換部■でステップ２８の処理結
果〔レイアウトデータ〕、ステップｇ９のｔｃＩｊ路デ
ータ（仮〕〔回路データ〕、ステップ８１の特性値〔特
性データ〕を画像処理し、ＣＲ７画面上にステップ１１
のデータとして同時に表示する。

作業者はこれらのデータを目安として、希望する条件を
総て満足させる為にブロックに対して改訂を行う。

また、上記実ＩＭ−」では抵抗のレイヤ幅を変更する場
むについて説明したが、トランジスタの面積を変更して
もよく、上記実施例と同様の効果を奏する。

〔発明の効果〕

以上のようにこの発明によれば、標準プロッライプラリ
からのプロツ検索時に、希望条件を満足するブロックが
自動的に検索され、また。

希望条件を満足するブロックが存在しなめ場合は、希望
条件に近いブロックを検索し、希望する特性条件を満足
するためにはそのブロックのどこをどの様に改訂すれば
よいかの目安を作業者に表示するので、設計効率の向上
に貢献するという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による標準ブロックライブ
ラリ検索装置の処理の７０−チャート、第２図は第１図
のステップ番の希望条件の一般定例を示す図、第８図に
第１図のステップ１Ｂの緩和設定の一般定例を示す図、
第４図に第１図のステップ１６の（ロ）路解析部ｌで用
いる接続情報とコントロールカードの一記述例を示す図
、第５図に第１図のステップ２０のデザインルールの一
例を示す図、第６図は第１図のステップ１ｇの検索結果
ａｔを他のレイヤと共に表示した一例を示す図、第７図
に第１図のステップ２５の処理結果の一表示例を示す図
、第８図は第１図のステップ８９の回路データ（仮）の
−表示例を示す図、第９図ハｆｉＸ１図のステップ８１
の特性値の一表示例を示す図、第１Ｏ図は従来の標準ブ
ロックライブラリ検索方法を示す説明図、第１１図は従
来のデイスプレィの斜視図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 標準ブロックライブラリ内の各ブロックについての特性
   データと作業者がブロックについて設定した希望条件を
   照合し、希望条件を満足する特性データを検索するデー
   タ検索部 I 、満足する特性データが存在する場合、そ
   の特性データが属するブロックの回路データとレイアウ
   トデータを検索するデータ検索部II、その検索結果を画
   像処理して端末のＣＲＴ画面上に表示するデータ変換部
   I 、又、希望条件を満足する特性データを満足する特
   性データが存在しない場合、作業者が設定した緩和設定
   ファイルを用いて希望条件内の特性条件を緩和する条件
   緩和部、緩和された条件を用いて検索した特性データと
   そのデータが属するブロックの回路データ、レイアウト
   データの内、回路データに対して解析を行い、希望条件
   内に設定した特性に対して最も影響を与える素子を抽出
   する回路解析部 I 、その結果抽出した素子が、属する
   ブロックのどの部分のレイヤに相当するのかを回路デー
   タと照合して検索するデータ検索部III、その結果得た
   レイヤの幅の変更可能な範囲を、希望条件内に設定した
   製造プロセスに関する情報をもとにＤＲＣルール選択部
   で選択したデザインルールを用いて判定する判定部、判
   定結果を本来のレイアウトデータ上に重ね合わせる重ね
   合わせ処理部、判定結果として得たレイヤ幅の変更可能
   な範囲からその素子の素子定数の最大値と最小値を抽出
   する素子定数抽出部、得た素子定数を本来の回路データ
   上に反映させる回路データ再作成部、結果得た回路デー
   タに対し希望条件内に設定した解析条件を用いて求める
   特性についての解析を行い、素子定数が最大、最小値を
   取つたそれぞれの場合の特性値を抽出する回路解析部I
   I、重ね合わせ処理後のレイアウトデータ、回路データ
   再作成後の回路データ、回路解析部IIにおける解析後の
   特性データを画像処理してＣＲＴ画面上に表示するデー
   タ変換部IIを備えたことを特徴とする標準ブロックライ
   ブラリ検索装置。