JPH0474435U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0474435U JPH0474435U JP11810490U JP11810490U JPH0474435U JP H0474435 U JPH0474435 U JP H0474435U JP 11810490 U JP11810490 U JP 11810490U JP 11810490 U JP11810490 U JP 11810490U JP H0474435 U JPH0474435 U JP H0474435U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- burn
- lsi
- test board
- signal generator
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は本考案のLSIバーンインテスト用基
板の構成図、第2図は本考案のLSIバーンイン
テスト用基板を用いてLSIのバーンインテスト
を行なうバーンインテスト装置の構成図、第3図
は従来のLSIバーンインテスト用基板の構成図
、第4図は従来のLSIバーンインテスト用基板
を用いてLSIのバーンインテストを行なうバー
ンインテスト装置の構成図、第5図は、バーンイ
ンテスト時のLSIの動作状態を示すタイムチヤ
ートである。 1……LSIリセツト信号発生回路、2……ク
ロツク信号発生回路、3……電源供給端子、4…
…GND接続端子、5……LSI、6……電源端
子、7……リセツト入力端子、8……クロツク入
力端子、9……GND端子、10……LSIバー
ンインテスト用基板、11……恒温槽、12……
電源供給用電源、13……LSIバーンインテス
ト用基板、21……LSIリセツト信号入力端子
、22……クロツク信号入力端子、23……電源
供給端子、24……GND接続端子、25……L
SI、26……電源端子、27……リセツト入力
端子、28……クロツク入力端子、29……GN
D端子、30……LSIバーンインテスト用基板
、31……恒温槽、32……電源供給用電源、3
3……LSIバーンインテスト用基板、34……
LSIリセツト信号発生器、35……クロツク信
号発生器。
板の構成図、第2図は本考案のLSIバーンイン
テスト用基板を用いてLSIのバーンインテスト
を行なうバーンインテスト装置の構成図、第3図
は従来のLSIバーンインテスト用基板の構成図
、第4図は従来のLSIバーンインテスト用基板
を用いてLSIのバーンインテストを行なうバー
ンインテスト装置の構成図、第5図は、バーンイ
ンテスト時のLSIの動作状態を示すタイムチヤ
ートである。 1……LSIリセツト信号発生回路、2……ク
ロツク信号発生回路、3……電源供給端子、4…
…GND接続端子、5……LSI、6……電源端
子、7……リセツト入力端子、8……クロツク入
力端子、9……GND端子、10……LSIバー
ンインテスト用基板、11……恒温槽、12……
電源供給用電源、13……LSIバーンインテス
ト用基板、21……LSIリセツト信号入力端子
、22……クロツク信号入力端子、23……電源
供給端子、24……GND接続端子、25……L
SI、26……電源端子、27……リセツト入力
端子、28……クロツク入力端子、29……GN
D端子、30……LSIバーンインテスト用基板
、31……恒温槽、32……電源供給用電源、3
3……LSIバーンインテスト用基板、34……
LSIリセツト信号発生器、35……クロツク信
号発生器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 LSIのバーンインテスト用基板において、
電源端子と、GND端子と、クロツク信号発生器
と、リセツト信号発生器とを含むことを特徴とす
るバーンインテスト用基板。 2 前記リセツト信号発生器は、前記クロツク信
号を計数するカウンタ手段から成ることを特徴と
する実用新案登録請求の範囲第1項記載のバーン
インテスト用基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11810490U JPH0474435U (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11810490U JPH0474435U (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0474435U true JPH0474435U (ja) | 1992-06-30 |
Family
ID=31866009
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11810490U Pending JPH0474435U (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0474435U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0758172A (ja) * | 1993-08-12 | 1995-03-03 | Nec Corp | 半導体装置試験用ユニバーサルバーンインボード |
-
1990
- 1990-11-09 JP JP11810490U patent/JPH0474435U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0758172A (ja) * | 1993-08-12 | 1995-03-03 | Nec Corp | 半導体装置試験用ユニバーサルバーンインボード |
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