JPH0463555B2 - - Google Patents

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JPH0463555B2
JPH0463555B2 JP57019752A JP1975282A JPH0463555B2 JP H0463555 B2 JPH0463555 B2 JP H0463555B2 JP 57019752 A JP57019752 A JP 57019752A JP 1975282 A JP1975282 A JP 1975282A JP H0463555 B2 JPH0463555 B2 JP H0463555B2
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JP
Japan
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ray
electrode
particles
sensor
lower electrode
Prior art date
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JP57019752A
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English (en)
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JPS58137781A (ja
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Mario Fuse
Mutsuo Takenochi
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018Scintillation-photodiode combinations

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、薄膜型固体X線センサー、特に医用
X線センサーに関する。さらに詳しくは、本発明
は、X線CTスキヤナ用センサーとして、螢光体
粒子及び光導電体粒子を分散させた有機電荷輸送
体の薄膜を(金層)電極でサンドイツチ状に挟ん
で構成した薄膜型固型X線センサーに関する。
従来のX線写真は、3次元像を、単純に2次元
平面に投影した画像であつた。これに対し、X線
CTスキヤナは、各方面から細いX線ビームを照
射することによつて得られる被写体の1次元投影
像を、コンピユータ処理して被写体を輪切りにし
た断面像を再構成するものである。
これにより、被写体の軟組織におけるわずかな
X線吸収の差を区別し、脳しゆようや、脳出血な
どの極めて鮮明な像を提供することができる。
このため、X線CTスキヤナは、医学診断装置
としての地位をますます向上している。
X線CTスキヤナには、周知のように、被写体
を透過したX線を高感度で、高性能に検出できる
X線センサーが不可欠である。それ故に、X線
CT装置の高性能化のため、従来より、各種のX
線センサーが開発され、その一部が実用化されて
いる。
第1図は、X線CTスキヤナの原理を示す概観
図である。
図において、10は被写体、11はX線管、1
1Aは発生されたX線を被写体10に指向させる
ためのコリメータ、12は被写体10に照射され
るX線ビーム、13は被写体10を透過したX線
ビーム、14は透過X線13を検出するX線セン
サーである。
また、15は前記X線センサー14へのX線入
射方向を規定するためのコリメータ、16はX線
センサー14の検出出力を増巾する増巾器、17
は増巾された検出出力を入力され、所定の画像処
理を実行するコンピユーター、18は被写体10
の断面像を表示するビデオモニターである。
同図からも明らかなように、X線管11とX線
センサー14とを、被写体10の両側に対向して
配置し、ペンシルビーム状のX線ビーム12を被
写体10に照射しながら、X線センサー14を、
直線移動と回転を組み合わせて移動させる。
このようにして、被写体10のあらゆる方向か
ら、X線吸収データをとつた後、コンピユーター
17において所定の処理を行なうことにより、断
面像をビデオモニター18上に表示することがで
きる。なお、この場合、X線センサー14として
は、検出効率の高いNaI(Tι)シンチレータ検出
器が、広く使用されている。
しかし、この方式だと、1回の撮影時間が5分
程度と長くなる欠点がある。これを改善するため
に、ペンシルビームの代りに扇状ビームを使用し
たり、検出器を固定し、X線管を高速回転したり
することによつて、撮影時間の短縮化が図られて
いる。
前述のように、検出器を固定配置とする場合に
は、X線センサーとして、シンチレーシヨン検出
器を用いる代わりに、半導体センサーを利用する
ことも試みられている。
何故なら、この場合、X線センサーが被写体の
周囲に固定配置されるため、これを高密度実装す
る必要があるが、シンチレーターと光電子増倍管
を組み合わせたシンチレーシヨン検出器では、形
状や占有容積が大きくなり、高密度実装には不適
だからである。
また、シンチレーターとシリコンフオトダイオ
ードとを組み合わせた検出器の利用も考えられ
る。しかし、この場合は、微弱信号を検出するた
め、新たに低雑音増巾回路をつけ加える必要が生
じる。したがつて、実際上十分な高密度実装を行
なうことはできない。
別のアプローチとして、シンチレーター無しで
X線を検出することも考えられている。すなわ
ち、半導体X線センサーとして、シリコン(Si)、
カドミウム・テルル(CdTe)などの半導体結晶
を用いたダイオードの検討もなされている。しか
し、この種のセンサーは、未だ実用化されていな
い。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、高密度実装の可
能な薄膜型固体X線センサーを提供することにあ
る。
本発明の他の目的は、小型化の容易な高感度の
薄膜型固体X線センサーを提供することにある。
又、本発明のさらに他の目的は、形状加工が自
由に行なえる薄膜型固体X線センサーを提供する
ことにある。
以下に、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。第2図は本発明の一実施例の断面図である。
第2図において、1は遮光性且つ絶縁性の支持
体、2は前記支持体1上に、分割して形成された
下部電極、3は前記分割下部電極2を覆うように
形成されたX線検知層である。
前記X線検知層3は、水素ドープn型アモルフ
アスシリコン、周期律表三族元素をドープしたp
型アモルフアスシリコン、Se,Se−Te−As,
ZnOあるいはCdS等からなる光導電体粒子3a、
及びGd2O2S:Tb,〔ZnCd〕SiAgあるいはZnS:
Ag等からなる螢光体粒子3bを、透明な有機電
荷輸送物質3c内に分散させて構成されたもので
ある。
なお、前記有機電荷輸送物質は、螢光体の螢光
発光(発光スペクトルのピーク波長)を透過し、
かつ螢光が光導体粒子にあたつて、発生する電子
−正孔体を上部および下部電極まで輸送する能力
をもつものなら何でも良い。
この様な有機電荷輸送物質としては、芳香族ア
ミンが知られており、具体的にはヒドラゾンピラ
ゾリン、トリフエニルメタン、オキサジアゾール
等が用いられる。
4は、X線検知層3の上に設けられた遮光性の
上部電極である。
つぎに、本発明の動作を説明する。ここでは説
明の便宜上、仮に上部電極4が正になり、分割下
部電極2が負になるように、直流電圧が印加され
ているものとする。
また、第1図のX線管11から放射されて被写
体10を透過したX線13は、第2図のように、
上部電極4の側から入射するものとする。入射X
線13のほとんどは、上部電極4を透過し、X線
検知層3を通過する。
前記X線13が、X線検知層3を通過する際、
螢光体粒子3bと相互作用して、螢光6を発す
る。明らかなように、X線13と作用して螢光を
発する領域は、X線検知層3の厚さ方向全体にわ
たつているため、X線検出効率が向上する。
前述のようにして、螢光を発している螢光体粒
子3b付近の光導電体粒子3aに螢光が照射され
ると、この光導電体粒子3aから、電子−正孔対
が生成される。この電子−正孔対は、上部電極4
および下部電極2間の印加電場により分離され、
電子は上部電極4へ、また正孔は下部電極2へ、
それぞれ導かれる。
なお、この場合、下部電極2を前述のように分
割することにより、各セグメント毎の検出が可能
となり、解像度の向上をはかることができる。
また、本発明において、支持体1及び上部電極
4を遮光性にするのは、X線検知層3に可視光が
入射しないようにするためである。
なぜならば、X線検知層3に可視光が入射する
と、同層中の螢光体粒子3bが発光し、前述と同
様にして、同層中の光導体粒子3aから、電子−
正孔対が生成され、誤信号(X線非照射時に生ず
る信号電流)を生ずるからである。
なお、上部電極4を遮光性にする方法として
は、金属電極を或る程度厚く、即ちX線は透過
し、可視光は通過させる程度の厚みに、着膜する
ことが考えられる。
以上の説明から明らかなように、X線検知層3
中の光導電体粒子3aは、螢光体粒子3bの螢光
発光スペクトルのピーク波長に、分光感度のピー
クを有するような材料のものであることが必要で
ある。
例えば、螢光体としてGdO2S:Tbを用いた場
合の発光スペクトルのピークは、550nm近辺に
ある。一方、光導電体として、Se−Teや、Hを
ドープしたアモルフアスシリコンSi:Hを用いた
場合の分光感度ピークは550nmである。
したがつて、これらの材料を用いて、第2図の
螢光体粒子3bおよび光導電体粒子3aを構成す
れば、高い検出感度のX線センサーを得ることが
できる。
上記の構成を有するセンサーを多数配置したセ
ンサーアレイから得られる電気信号は、明らかな
ように、被写体10のX線吸収度の分布を示すも
のである。したがつて、公知の手法にしたがつ
て、これをコンピユーター処理すれば、被写体の
断層像が得られる。
次に、本発明のさらに具体的な実施例について
説明する。
支持体1としてのセラミツク基板上に、Cr膜
を2000Å真空蒸着したのち、通常のフオトリソグ
ラフイ技術を用いて、8本/mmのピツチの分割電
極2にパターニングする。
次に、Pをドープした光導電物質としての非晶
質Si:H粒子及び螢光物質としてのGdO2S:Tb
粒子を分散した透明な有機電荷輸送物質を、X線
検知層3として10μmの厚さに塗布する。
なお、前記有機電荷輸送物質としては、ヒドラ
ゾンをポリカーボネート中に50%分子分散したも
のを用いた。
更に、その上に、低温マグネトロンスパツタ法
を用いて、上部電極4としてのAιを3000Åの厚
さに着膜した。
上記プロセスによつて得られた薄膜型固体X線
センサーは、螢光体と光導電体の二層構造よりな
る固体X線センサーや、従来のシンチレーシヨン
検出器に比較して格段に高いX線感度をもつこと
がわかつた。
これは、主に、第2図に示す如く、X線通路に
対し、多数の螢光体及び光導電対粒子が対応して
いる為であると考えられる。
また、本発明の構成では、分割下部電極として
8本/mmのパターン、すなわち解像度を得ること
は、容易である。したがつて、本発明によれば、
従来方式の場合の解像度が1画素/2mm程度であ
つたものに比較して、著しい解像度の向上が実現
される。
さらに、光導電物質および蛍光物質を有機電荷
輸送物質に分散させてX線検知層を形成したの
で、光導電物質で発生した電子および正孔が上部
および下部電極までそれぞれ輸送される間でトラ
ツプされにくい。したがつて、入射X線に対する
感度が良くなるし、電子および正孔の移動によつ
て得られるX線検出信号の応答特性を向上させる
こともできる。
なお、以上ではX線13が上部電極4の側から
入射される例について述べたが、反対に、支持体
1の側から入射されてもよいことは明らかであ
る。
また、下部電極2を一体電極とし、上部電極4
を分割電極としても、全く同様の作用、効果が達
成されることも明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は、X線CTスキヤナの原理を示す概観
図、第2図は、本発明の一実施例の断面図であ
る。 1……支持体、2……分割下部電極、3……X
線検知層、3a……光導電体粒子、3b……螢光
体粒子、3c……透明有機電荷輸送物質、4……
上部電極、10……被写体、11……X線管、1
4……X線センサー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 支持体と、支持体上に形成された下部電極
    と、前記下部電極に対向して配置された上部電極
    と、前記下部および上部電極間に介挿されたX線
    検知層とを具備し、前記X線検知層が、透明電荷
    輸送物質と、該透明電荷輸送物質に分散させた螢
    光体粒子および光導電体粒子とからなり、前記透
    明電荷輸送物質によつて前記光導電体粒子で発生
    された電子および正孔が前記上部電極および下部
    電極まで輸送されるように構成したことを特徴と
    する薄膜型固体X線センサー。 2 上部および下部電極の一方が分割電極である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄
    膜型固体X線センサー。
JP57019752A 1982-02-12 1982-02-12 薄膜型固体x線センサ− Granted JPS58137781A (ja)

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JP57019752A JPS58137781A (ja) 1982-02-12 1982-02-12 薄膜型固体x線センサ−

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JPS58137781A JPS58137781A (ja) 1983-08-16
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2018151233A (ja) * 2017-03-13 2018-09-27 株式会社東芝 放射線測定装置

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