JPH0463372B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0463372B2
JPH0463372B2 JP58082176A JP8217683A JPH0463372B2 JP H0463372 B2 JPH0463372 B2 JP H0463372B2 JP 58082176 A JP58082176 A JP 58082176A JP 8217683 A JP8217683 A JP 8217683A JP H0463372 B2 JPH0463372 B2 JP H0463372B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
output
integration
reference value
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58082176A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS59206808A (en
Inventor
Isamu Hashimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP8217683A priority Critical patent/JPS59206808A/en
Publication of JPS59206808A publication Critical patent/JPS59206808A/en
Publication of JPH0463372B2 publication Critical patent/JPH0463372B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は積分型受光素子列を用いて、被写体輝
度が変化しても一定レベルのコントラスト出力を
とり出して、自動的に焦点検出を行う装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an apparatus that uses an array of integral light receiving elements to extract a constant level of contrast output even when subject brightness changes, and automatically performs focus detection.

従来MOS型受光素子アレーあるいはCCD等の
積分型受光素子列を用いて、コントラスト法、三
角測距法等による焦点検出を行う装置が多数出願
され、又製品化されてきている。ところで積分型
受光素子の出力をVとすると、Cを形状、感度に
より定まる定数、Lを照射されている光の平均照
度、TをLの照度の光が照射されている時間とし
て、 V=C×L×T なる式で与えられる。そして、従来の一定の光積
分電圧Vを得る方法では、被写体の輝度の変化L
に対して積分時間Tを変える事により一定出力を
得ていた。ところで、この方法では、被写体輝度
が1/2に低下すると、必然的に積分時間は2倍に
ののびてしまい、特に低輝度の場合には、この積
分時間は非常に長いものとなつて、装置の応答速
度や、手ブレ等の影響により使用上不都合を生じ
ていた。又、積分時間を一定時間で限定すると、
光積分電圧が減少して、焦点検出ができないとい
う欠点を有していた。
BACKGROUND ART Many applications have been filed and products have been made for devices that perform focus detection using a contrast method, triangulation method, etc., using a conventional MOS type photodetector array or an integral type photodetector array such as a CCD. By the way, if the output of the integral type light receiving element is V, then C is a constant determined by the shape and sensitivity, L is the average illuminance of the irradiated light, and T is the time during which the light with the illuminance L is irradiated, V=C It is given by the formula ×L×T. In the conventional method of obtaining a constant light integrated voltage V, the change in brightness L of the subject is
A constant output was obtained by changing the integration time T. By the way, in this method, when the subject brightness decreases by half, the integration time inevitably doubles, and especially in the case of low brightness, this integration time becomes extremely long. This caused inconvenience in use due to the response speed of the device and the effects of camera shake. Also, if the integration time is limited to a certain time,
This method has the disadvantage that the optical integrated voltage decreases and focus detection cannot be performed.

本発明は以上の様な不都合を克服する為のもの
であり、その目的は、低揮度においても応答速度
が早く、手ブレの影響の少ない焦点検出を提供す
ると共に、低輝度時における焦点検出能力を高め
る事である。
The present invention is intended to overcome the above-mentioned disadvantages, and its purpose is to provide focus detection that has a fast response speed even at low volatility and is less affected by camera shake, and to provide focus detection at low brightness. It is about improving one's abilities.

以下本発明の焦点検出を添付図面に示す実施例
に従つて詳細に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Focus detection of the present invention will be described in detail below with reference to embodiments shown in the accompanying drawings.

まず、本発明の焦点検出の基本的な構成を第1
図を参照しながら説明する。第1図には、本発明
の焦点検出の基本的な構成が回路ブロツク図とし
て示されている。駆動回路100は積分型受光素
子列200と接続され、積分開始パルス、駆動パ
ルスを出力すると共に、モニタダイオード50
0、基準時間発生回路800、計時回路とも接続
され、積分開始パルスを出力する。積分型受光素
子列200は積分終了制御回路900と増幅器3
00とに接続され、積分終了信号を入力して積分
を終了し、出力を増幅器300に出力する。該増
幅器300は外部から設定可能な増幅率により増
幅を行ない一定レベルの光積分電圧を焦点検出回
路400に出力する。焦点検出回路400は増幅
器300からの入力電圧により焦点検出の処理を
行う。モニタダイオード500は比較回路600
に接続され、モニタ用の光積分電圧を出力する。
一方基準値変圧回路としての輝度変調レベル発生
回路700も、比較回路600に接続され、外部
から設定される基準値としての輝度変調レベルを
出力する。比較回路600は積分終了制御回路9
00と計時回路1000に接続され、モニタダイ
オード500の出力と、輝度変調レベル発生回路
700の出力の比較を行い出力を出す。基準時間
発生回路800は積分終了制御回路900と接続
され、積分時間がある設定時間に達した時に信号
を出力する。積分終了制御回路900は比較回路
600と基準時間発生回路800のどちらかの出
力が出た時点で積分型受光素子列900に積分終
了信号を出力する。計時回路1000は駆動回路
100の積分開始パルスから比較回路600の積
分終了信号が出るまでの計時を行う。制御手段と
しての機能を備えたコントローラ1100は各部
と接続され、積分時間の調整、増幅率の調整、輝
度変調レベルの調整やタイミングの管理を行う。
First, the basic configuration of the focus detection according to the present invention will be described in the first section.
This will be explained with reference to the figures. FIG. 1 shows the basic configuration of the focus detection according to the present invention as a circuit block diagram. The drive circuit 100 is connected to the integrating type light receiving element array 200, outputs an integration start pulse and a drive pulse, and also outputs a monitor diode 50.
0, a reference time generation circuit 800, and a clock circuit, and output an integration start pulse. The integrating type light receiving element array 200 includes an integration end control circuit 900 and an amplifier 3.
00, inputs an integration end signal to end the integration, and outputs the output to the amplifier 300. The amplifier 300 performs amplification using an externally settable amplification factor and outputs a constant level optical integrated voltage to the focus detection circuit 400. The focus detection circuit 400 performs focus detection processing using the input voltage from the amplifier 300. The monitor diode 500 is a comparison circuit 600
is connected to outputs an optically integrated voltage for monitoring.
On the other hand, a brightness modulation level generation circuit 700 as a reference value transformation circuit is also connected to the comparison circuit 600 and outputs a brightness modulation level as a reference value set from the outside. The comparison circuit 600 is the integration end control circuit 9
00 and the clock circuit 1000, and compares the output of the monitor diode 500 with the output of the brightness modulation level generation circuit 700 and outputs an output. The reference time generation circuit 800 is connected to the integration end control circuit 900 and outputs a signal when the integration time reaches a certain set time. The integration end control circuit 900 outputs an integration end signal to the integrating type light-receiving element array 900 when either the comparator circuit 600 or the reference time generating circuit 800 outputs an output. The clock circuit 1000 measures the time from the integration start pulse of the drive circuit 100 until the integration end signal of the comparator circuit 600 is output. A controller 1100, which has a function as a control means, is connected to each part and performs integration time adjustment, amplification factor adjustment, brightness modulation level adjustment, and timing management.

以上の如く構成された本発明の基本的な構成に
対して次に第2図を参照して機能を説明する。第
2図はx軸にモニタダイオード500の積分時
間、y軸にモニタダイオード500の出力あるい
は輝度変調レベル発生回路700の輝度変調レベ
ルをとつている。直線の傾きは大きい程明るく、
小さい程暗い事を示していて、モニタダイオード
500は明るさに対応する傾きで積分を行い、設
定されている輝度変調レベルに達した時、積分を
終了する。図の太い実線部分1〜3,4〜7,8
〜11,12〜15,16〜19,20〜23,
……は、本発明の焦点検出を動作させた時のモニ
タダイオード500のとりうる積分終了点を連ね
たもので、輝度変調レベルに対応する直線部分の
集まりである。又、図の点線部分は同じ明るさの
積分に対して、輝度変調レベルが一段変化した時
の積分終了点の遷移を示している。さらに、輝度
変調レベル1,1/2,1/4,……に対して一定の出
力を得る為の増幅率1,2,4,……と、その時
の一定出力1,1,1,……が輝度変調レベルに
対応する形でグラフ右側に示されている。第2図
では説明の簡略化の為輝度変調レベルが初期値1
で一段当り1/2倍の変化で、増幅率を初期値1で
一段当り2倍の変化として出力1を得ているが、
より一般的には輝度変調レベル初期値mで一段当
り1/n倍、増幅率初期値kで一段当りn倍とし
て、一定出力mkとする事ができる。まず、明る
さが低下していつた場合には、任意の設定輝度変
調レベル内で、積分時間が長くなつてゆき→T1
→T2→T3→T4の方向に積分終了点が移動する。
そして、積分時間が第1の規定時間としてのT4
あるいはT4以上かかる場合には、基準時間発生
回路800の出力がコントローラ1100にゆ
き、該コントローラ1100の制御により輝度変
調レベルが一段下げられ、同じ明るさに対しては
積分時間はT4からT2に短かくなる。こ時コント
ローラ1100の出力は増幅器300に送られ、
増幅率が一段上げられる為、出力は変化しない。
さらに暗くなつていつた場合は同様にT2→T3
T4の変化の後、T4かT4より積分時間が長くなつ
た時に輝度変調レベルが一段下げられ、同じ明る
さに対しては積分時間はT4→T2に短かくなる。
従つて、非常に明るい状態から暗い状態に輝度が
低下していつた場合に、積分終了点は1→2→3
→5→6→7→9→10→11→13→14→15→17→18
→19→21→22→23に従つて移動する。次に、明る
さが増していつた場合について説明する。明るく
なつていつた場合には、任意の輝度変調レベル内
で積分時間が短かくなつてゆき、→T4→T3→T2
→T1の方向に積分終了点が移動する。そして、
積分時間が第2の規定時間としてのT1あるいは
T1より短かくなつていつた場合には、計時回路
1000の出力が前記コントローラ1100に行
き、該コントローラ1100の制御により輝度変
調レベルが一段上げられ、同じ明るさに対して
は、積分時間はT1からT3に長くなる。この時該
コントローラ1100の出力は増幅器300に送
られ、増幅率が一段下げられる為、出力は変化し
ない。さらに明るくなつていつた場合には、同様
に、T3→T2→T1の変化の後、T1かT1より積分時
間が短かくなつた時に、輝度変調レベルが一段上
げられ、同じ明るさに対しては、積分時間はT1
→T3に長くなる。従つて、非常に暗い状態から
非常に明るい状態に変化していつた場合に、積分
終了点は、23→22→21→20→18→17→16→14→13
→12→10→9→8→6→5→4→3→2→1に従
つて移動する。
Next, the functions of the basic structure of the present invention constructed as described above will be explained with reference to FIG. In FIG. 2, the x-axis shows the integration time of the monitor diode 500, and the y-axis shows the output of the monitor diode 500 or the brightness modulation level of the brightness modulation level generation circuit 700. The greater the slope of the line, the brighter it is.
The smaller the brightness, the darker it is, and the monitor diode 500 performs integration with a slope corresponding to the brightness, and ends the integration when the set brightness modulation level is reached. Thick solid line parts 1-3, 4-7, 8 in the diagram
~11,12~15,16~19,20~23,
. . . is a series of possible integration end points of the monitor diode 500 when the focus detection of the present invention is operated, and is a collection of straight line portions corresponding to the brightness modulation level. Furthermore, the dotted line portion in the figure shows the transition of the integration end point when the brightness modulation level changes by one step for the same brightness integration. Furthermore, for brightness modulation levels 1, 1/2, 1/4, . . ., amplification factors 1, 2, 4, . . . to obtain a constant output, and constant outputs 1, 1, 1, . . . ... is shown on the right side of the graph in a form corresponding to the brightness modulation level. In Figure 2, the initial value of the brightness modulation level is 1 to simplify the explanation.
With a change of 1/2 times per stage, an output of 1 is obtained with the amplification factor at the initial value of 1 and a change of 2 times per stage.
More generally, a constant output mk can be obtained by setting the brightness modulation level initial value m to 1/n times per stage, and the initial value k of the amplification factor to n times per stage. First, as the brightness decreases, the integration time becomes longer within the arbitrarily set brightness modulation level → T 1
The integration end point moves in the direction of →T 2 →T 3 →T 4 .
And the integral time is T 4 as the first specified time
Alternatively, if it takes T 4 or more, the output of the reference time generation circuit 800 is sent to the controller 1100, and the brightness modulation level is lowered by one step under the control of the controller 1100, and the integration time is changed from T 4 to T for the same brightness. It will be shortened to 2 . At this time, the output of the controller 1100 is sent to the amplifier 300,
Since the amplification factor is increased by one step, the output does not change.
If it gets even darker, T 2 →T 3
After a change in T 4 , the brightness modulation level is lowered by one step when the integration time becomes longer than T 4 or T 4 , and for the same brightness, the integration time becomes shorter from T 4 to T 2 .
Therefore, when the brightness decreases from a very bright state to a dark state, the integration end point will change from 1 → 2 → 3.
→5→6→7→9→10→11→13→14→15→17→18
Move according to →19→21→22→23. Next, a case where the brightness increases will be explained. As the brightness increases, the integration time becomes shorter within a given brightness modulation level, →T 4 →T 3 →T 2
→The integration end point moves in the direction of T 1 . and,
The integral time is T 1 as the second specified time or
When the time becomes shorter than T 1 , the output of the timing circuit 1000 goes to the controller 1100, and the brightness modulation level is increased by one step under the control of the controller 1100. For the same brightness, the integration time becomes shorter than T1. It becomes longer from 1 to T 3 . At this time, the output of the controller 1100 is sent to the amplifier 300, and the amplification factor is lowered by one step, so the output does not change. Similarly, when the brightness becomes even brighter, after the change from T 3 → T 2 → T 1 , when the integration time becomes shorter than T 1 or T 1 , the brightness modulation level is raised by one step and the brightness remains the same. For , the integration time is T 1
→Lengthens to T 3 . Therefore, when changing from a very dark state to a very bright state, the integration end point is 23 → 22 → 21 → 20 → 18 → 17 → 16 → 14 → 13
Move according to →12→10→9→8→6→5→4→3→2→1.

以上述べた如き動作により、明るさに対応した
輝度変調レベルを設定する事により、常に一定の
時間T4より短かい時間で積分出力を得る事が可
能となり、輝度変調レベルに対応した増幅率を持
たせる事により、出力の低下を防止し、常に一定
の積分出力電圧を得る事ができる。なお、レベル
遷移の時間条件が図の如くヒステリシスを有する
為、遷移の後、多少明るさが変化しても、設定さ
れたレベルの中にとどまり、より安定した出力が
得られる。
By the operation described above, by setting the brightness modulation level corresponding to the brightness, it is possible to always obtain the integrated output in a time shorter than the fixed time T4 , and the amplification factor corresponding to the brightness modulation level can be set. By providing this, a drop in output can be prevented and a constant integrated output voltage can always be obtained. Note that since the time condition for level transition has hysteresis as shown in the figure, even if the brightness changes somewhat after the transition, it remains within the set level and a more stable output can be obtained.

次に本発明の具体的な実施例を第3図から第2
1図を参照しながら詳細に説明する。
Next, specific embodiments of the present invention are shown in FIGS. 3 to 2.
This will be explained in detail with reference to FIG.

第3図は本発明の増幅器300の構成例であ
る。オペアンプ302とオペアンプ304の反転
入力端子は抵抗R3306を介して接続され、
各々のオペアンプの非反転入力端子の入力電圧の
差が抵抗R3306の両端に加えられ、これによ
り生ずる電流を各々のオペアンプ302,304
の出力と反転入力端子間に接続された抵抗R4
08,310に供給する事により(R3+2R4)/
R3倍の差動増幅を行う。この増幅された点Aと
点Bの電圧は次段の反転増幅器320に入力され
る。該反転増幅器320はオペアンプ322とオ
ペアンプ322の反転入力端子とオペアンプ30
2の出力の間に接続された抵抗R1324と、反
転入力端子と出力間に接続された抵抗326と、
非反転入力端子とオペアンプ304の出力間に接
続された抵抗R1328と非反転入力端子とGND
間に接続された抵抗R2330とにより構成され、
増幅率R2/R1で反転増幅し、次段の抵抗分割器
340に出力を出す。該抵抗分割器340はオペ
アンプ322とGND間に直列に接続された抵抗
4R342,2R344,R346,R348と、
各抵抗の分割点と次段のオペアンプバツフア36
0の非反転入力端子間に接続され、4ビツトレジ
スタ350の出力によりスイツチングを制御する
MOSスイツチ352,354,356,358
により構成される。各抵抗の分割点の電位は、
MOSスイツチ352に対応する電圧を1として、
1,1/2,1/4,1/8で与えられそれぞれ、B3,
B2,B1,B0の信号により選択される。4ビツト
レジスタ350は前記コントロール回路1100
により制御され、B3〜B0に出力されているデー
タがCS端子の操作により書き込まれる。前記オ
ペアンプバツフア360は初段増幅器と次段反転
増幅器と最終段の抵抗分割器によつて最終的に得
られる出力をバツフアとしてとり出す。以上の構
成により増幅器300は積分型受光素子列200
から入力する信号と雑音の差を {(R3+2R4)/R3}(R2/R1) ×(設定減衰率)倍 (1,1/2,1/4,1/8) 増幅して出力を出す。
FIG. 3 shows an example of the configuration of an amplifier 300 according to the present invention. The inverting input terminals of the operational amplifier 302 and the operational amplifier 304 are connected through a resistor R 3 306,
The difference in the input voltages of the non-inverting input terminals of each operational amplifier is applied across a resistor R 3 306, and the resulting current is applied to each operational amplifier 302, 304.
A resistor R 4 3 connected between the output and the inverting input terminal of
By supplying 08,310 (R 3 +2R 4 )/
R Performs 3x differential amplification. The amplified voltages at points A and B are input to the inverting amplifier 320 at the next stage. The inverting amplifier 320 connects the operational amplifier 322 and the inverting input terminal of the operational amplifier 322 to the operational amplifier 30.
a resistor R 1 324 connected between the output of 2, and a resistor 326 connected between the inverting input terminal and the output;
Resistor R 1 328 connected between the non-inverting input terminal and the output of the operational amplifier 304, the non-inverting input terminal and GND
and a resistor R 2 330 connected between the
It is inverted and amplified with an amplification factor of R 2 /R 1 and output to the resistor divider 340 at the next stage. The resistor divider 340 is a resistor connected in series between the operational amplifier 322 and GND.
4R342, 2R344, R346, R348,
Dividing point of each resistor and next stage operational amplifier buffer 36
0 non-inverting input terminal, and controls switching by the output of the 4-bit register 350.
MOS switch 352, 354, 356, 358
Consisted of. The potential at the dividing point of each resistor is
Assuming that the voltage corresponding to the MOS switch 352 is 1,
Given by 1, 1/2, 1/4, 1/8 respectively, B3,
Selected by signals B2, B1, and B0. The 4-bit register 350 is connected to the control circuit 1100.
The data output to B3 to B0 is written by operating the CS terminal. The operational amplifier buffer 360 takes out as a buffer the output finally obtained by the first stage amplifier, the next stage inverting amplifier, and the final stage resistor divider. With the above configuration, the amplifier 300 is integrated with the integrating type photodetector array 200.
Amplify the difference between the signal input from and the noise by {(R 3 + 2R 4 )/R 3 } (R 2 /R 1 ) × (set attenuation rate) times (1, 1/2, 1/4, 1/8) and print the output.

第4図は増幅器300の別の構成例である。オ
ペアンプ372、オペアンプ378の非反転入力
には第3図と同様積分型受光素子列200の雑音
出力と信号出力がそれぞれ入力されている。又、
抵抗分割器370の内部構成は第3図の抵抗分割
器340の構成と同じである。オペアンプ372
の反転入力端子には抵抗分割器370のMOSス
イツチの共通端子が接続され、出力端子には抵抗
374を介して抵抗分割器370の抵抗分割部の
4R380側が接続されている。オペアンプ37
8の反転入力端子には抵抗分割器370の抵抗分
割部のR386側が接続されている。オペアンプ
378の出力と反転入力端子間には抵抗4R37
6が接続されている。この構成により16R/Z倍
(Z=R,2R,4R,8R)の増幅を行い、反転増
幅器320に出力を出す。反転増幅器320は第
3図で説明したものと同じものである。以上の構
成により信号と雑音の差は(16R/Z)×(R2
R1)倍に増幅されて出力される。
FIG. 4 shows another configuration example of the amplifier 300. As in FIG. 3, the noise output and signal output of the integral type photodetector array 200 are input to the non-inverting inputs of the operational amplifier 372 and the operational amplifier 378, respectively. or,
The internal configuration of resistive divider 370 is the same as that of resistive divider 340 in FIG. operational amplifier 372
The common terminal of the MOS switch of the resistor divider 370 is connected to the inverting input terminal of the resistor divider 370, and the common terminal of the MOS switch of the resistor divider 370 is connected to the output terminal of the resistor divider 370 via the resistor 374.
4R380 side is connected. operational amplifier 37
The R386 side of the resistance dividing section of the resistance divider 370 is connected to the inverting input terminal of No. 8. A resistor 4R37 is connected between the output of the operational amplifier 378 and the inverting input terminal.
6 is connected. This configuration performs amplification of 16R/Z times (Z=R, 2R, 4R, 8R) and outputs the result to the inverting amplifier 320. Inverting amplifier 320 is the same as that described in FIG. With the above configuration, the difference between signal and noise is (16R/Z) x (R 2 /
R1 ) is amplified and output.

次に、モニタダイオード500の実施例につい
て第5図〜第7図を参照して説明する。第5図は
積分が低電位から高電位に行なわれる場合の例
で、モニタダイオード502は電源とMOSスイ
ツチ間に接続され、該MOSスイツチの他端は
GNDに接続されている。MOSスイツチのゲート
がHighになると、モニタダイオード502がチ
ヤージされLowになると積分が行なわれる。第
6図は積分が高電位から低電位に行なわれる場合
の例で、モニタダイオード502はMOSスイツ
チの一端とGND間に接続され、該MOSスイツチ
の他端は電源に接続されている。MOSスイツチ
のゲートがLowになると、モニタダイオード5
02がチヤージされ、Highになると積分が行な
われる。第7図は積分が低電位から高電位に行な
われる場合で、いくつかのモニタダイオードの平
均の積分値により出力を出す場合である。いくつ
かのモニタダイオード502は並列に接続され、
一端を電源に、他端をMOSスイツチに接続され、
MOSスイツチの他端はGNDに接続されている。
MOSスイツチのゲートがHighになると、モニタ
ダイオード502がチヤージされ、Lowになる
と積分を開始する。
Next, an embodiment of the monitor diode 500 will be described with reference to FIGS. 5 to 7. FIG. 5 shows an example where integration is performed from a low potential to a high potential, and a monitor diode 502 is connected between the power supply and a MOS switch, and the other end of the MOS switch is
Connected to GND. When the gate of the MOS switch goes high, the monitor diode 502 is charged, and when it goes low, integration is performed. FIG. 6 shows an example in which integration is performed from a high potential to a low potential, and a monitor diode 502 is connected between one end of a MOS switch and GND, and the other end of the MOS switch is connected to a power supply. When the gate of the MOS switch goes low, the monitor diode 5
02 is charged and becomes High, integration is performed. FIG. 7 shows a case in which integration is performed from a low potential to a high potential, and an output is produced based on the average integrated value of several monitor diodes. Several monitor diodes 502 are connected in parallel,
One end is connected to the power supply and the other end is connected to the MOS switch.
The other end of the MOS switch is connected to GND.
When the gate of the MOS switch goes high, the monitor diode 502 is charged, and when it goes low, it starts integrating.

次に比較回路600の実施例について第8図〜
第10図を参照しながら説明する。第8図、第9
図は市販のバイポーラのコンパレータを用いて実
現するもので、信号Sが基準電圧Rに対して高い
時にLowの出力を得るのが第8図の回路で、
Highの出力を得るのが第9図の回路である。第
8図、第9図がバイポーラのコンパレータにより
実現する回路なのに対し、第10図はCMOSで
実現する回路である。信号Sと基準電圧Rはそれ
ぞれSW1,SW2を介して交流増幅器610を
構成するコンデンサC612の一端に接続されて
いる。前記交流増幅器610は前記コンデンサC
612とそれに連なるインバータ614とインバ
ータの入出力間に接続されたスイツチSW3とか
ら構成され、増幅結果をフリツプフロツプ620
のD端子に出力する。まず最初はSW3が閉じら
れ、インバータ614の入出力電位がVDD/2に
設定される。次にSW1が閉じると、コンデンサ
C612は信号電位とVDD/2の電位差に充電さ
れる。この状態でSW3,SW1を開き次にSW2
を閉じると、コンデンサC612の一端は基準電
位Rに変化するが、コンデンサC612の他端は
高インピーダンスのインバータ614の入力が接
続されているのみで電流が流れてゆく場所がない
為、コンデンサC612の電位は変化しない。従
つて、コンデンサC612の一端に加えられる信
号電圧の差がコンデンサC612の持つ電位に加
えられて他端に出力される。インバータ614は
スレツシユホールドレベルに対して与えられるこ
のの電位変化により出力を反転させ、フリツプフ
ロツプ620に比較結果を出し、フリツプフロツ
プはクロツク端子に入力される信号φ3により結
果を保持し出力を出す。
Next, an example of the comparison circuit 600 is shown in FIGS.
This will be explained with reference to FIG. Figures 8 and 9
The figure is realized using a commercially available bipolar comparator, and the circuit in Figure 8 obtains a low output when the signal S is higher than the reference voltage R.
The circuit shown in FIG. 9 obtains a High output. 8 and 9 are circuits realized by bipolar comparators, whereas FIG. 10 is a circuit realized by CMOS. The signal S and the reference voltage R are connected to one end of a capacitor C612 constituting an AC amplifier 610 via SW1 and SW2, respectively. The AC amplifier 610 is connected to the capacitor C.
612, an inverter 614 connected to it, and a switch SW3 connected between the input and output of the inverter, and the amplification result is transferred to a flip-flop 620.
output to the D terminal. First, SW3 is closed and the input/output potential of inverter 614 is set to V DD /2. Next, when SW1 is closed, capacitor C612 is charged to a potential difference between the signal potential and V DD /2. In this state, open SW3 and SW1, then SW2
When the capacitor C612 is closed, one end of the capacitor C612 changes to the reference potential R, but the other end of the capacitor C612 is connected only to the input of the high impedance inverter 614 and there is no place for current to flow, so the capacitor C612 Potential does not change. Therefore, the difference in signal voltages applied to one end of capacitor C612 is added to the potential of capacitor C612 and output to the other end. The inverter 614 inverts the output due to the potential change applied to the threshold level, and outputs the comparison result to the flip-flop 620. The flip-flop holds the result by the signal .phi.3 inputted to the clock terminal and outputs the result.

次に輝度変調レベル発生回路700の実施例に
ついて第11図〜第13図を参照しながら説明す
る。第11図は基準電圧をGNDを基準に発生さ
せる回路で、電源からGNDに直列に接続された
抵抗R0712,4R714,2R716,R71
8,R720からなる抵抗分割器710と、一端
が抵抗分割器710の各分割点に接続され、他端
が出力につながるMOSスイツチ722と、MOS
スイツチ722のゲートに選択信号を出力する4
ビツトレジスタ730とからなり、4ビツトレジ
スタ730のチツプセレクト端子をコントロール
してコントローラ1100からの設定データを受
けとり、MOSスイツチのゲートを制御して基準
電圧を出力する。
Next, an embodiment of the brightness modulation level generation circuit 700 will be described with reference to FIGS. 11 to 13. Figure 11 shows a circuit that generates a reference voltage based on GND.Resistors R 0 712, 4R714, 2R716, R71 are connected in series from the power supply to GND.
8, a resistor divider 710 consisting of R720, a MOS switch 722 whose one end is connected to each dividing point of the resistor divider 710, and whose other end is connected to the output,
Outputting a selection signal to the gate of switch 722 4
It controls the chip select terminal of the 4-bit register 730, receives setting data from the controller 1100, controls the gate of the MOS switch, and outputs a reference voltage.

第12図は基準電圧を電源を基準に発生させる
回路で、第11図の抵抗分割器710の部分の別
の実施例である。電源からGNDに直列にR74
2,R744,2R746,4R748,R0750
が接続され、抵抗分割による電圧を発生する。
FIG. 12 shows a circuit for generating a reference voltage based on the power supply, and is another embodiment of the resistor divider 710 shown in FIG. R74 in series from power supply to GND
2, R744, 2R746, 4R748, R 0 750
is connected to generate a voltage by resistor division.

第13図は輝度変調レベル発生回路700の別
の実施例で前記コントローラとデータのやりとり
を行う8ビツトレジスタ750と、その8ビツト
レジスタ750と接続され設定されているデジタ
ル量に対応するアナログ電圧を発生する8ビツト
D/Aコンバータ760とからなり、前記コント
ローラの制御で輝度変調レベルを発生する。
FIG. 13 shows another embodiment of the brightness modulation level generation circuit 700, including an 8-bit register 750 that exchanges data with the controller, and an analog voltage that is connected to the 8-bit register 750 and that corresponds to the set digital amount. The brightness modulation level is generated under the control of the controller.

次に基準時間発生回路の具体的な実施例である
第14図について説明する。発振器802はカウ
ンタ804のクロツク端子に接続され、カウンタ
804に基準クロツクを送る。カウンタ804に
は駆動回路100の積分開始信号がリセツト端子
に接続され、積分開始の同期がとられる。カウン
タ804はある設定時間の後に積分終了制御回路
900に出力を出す。
Next, FIG. 14, which is a specific embodiment of the reference time generation circuit, will be described. Oscillator 802 is connected to the clock terminal of counter 804 and provides a reference clock to counter 804. An integration start signal from the drive circuit 100 is connected to a reset terminal of the counter 804, and the start of integration is synchronized. Counter 804 outputs an output to integral end control circuit 900 after a certain set time.

次に積分終了制御回路900の具体的な実施例
について説明する。第15図はOR回路で実現す
る場合で、比較回路600の出力がHighか基準
時間発生回路800の出力がHighの時に積分終
了制御信号Highを積分型受光素子列200に出
力する場合である。第16図はAND回路により
実現する場合で、前記比較回路600の出力が
Lowか基準時間発生回路800の出力がLowの
時、積分終了制御信号Lowを積分型受光素子列
200に出力する。
Next, a specific example of the integration end control circuit 900 will be described. FIG. 15 shows a case where an OR circuit is used, and when the output of the comparison circuit 600 is High or the output of the reference time generation circuit 800 is High, the integration end control signal High is output to the integrating type light receiving element array 200. FIG. 16 shows a case where the output of the comparison circuit 600 is realized by an AND circuit.
When the output of the reference time generating circuit 800 is Low, an integration end control signal Low is output to the integrating type light receiving element array 200.

次に計時回路1000の具体的な実施例である
第17図について説明する。分周カウンタ100
2は発振器802の出力を入力し、分周してOR
回路1004の入力に出力する。OR回路100
4には、比較回路600の出力が入力され、積分
時間中のみ分周カウンタ1002の出力をゲーテ
イングしてカウンタ1006のクロツク端子に出
力を出す。カウンタ1006は前記駆動回路の積
分開始信号がリセツト端子に入力され、該積分開
始信号と同期して積分時間の計時を行う。3ステ
ートバツフアはカウンタ1006の出力が入力さ
れ、CS端子が選択された時に出力を出す。
Next, FIG. 17, which is a specific example of the clock circuit 1000, will be described. Frequency division counter 100
2 inputs the output of the oscillator 802, divides it and ORs it.
Output to the input of circuit 1004. OR circuit 100
4 receives the output of the comparison circuit 600, gates the output of the frequency division counter 1002 only during the integration time, and outputs the output to the clock terminal of the counter 1006. The counter 1006 receives the integration start signal from the drive circuit at its reset terminal, and measures the integration time in synchronization with the integration start signal. The 3-state buffer receives the output of the counter 1006 and outputs an output when the CS terminal is selected.

最後にコントローラ1100の実施例である第
18図について説明する。第18図はコントロー
ラ1100をワンチツプマイクロコンピユータ8
049を用いて実現したものであり、このワンチ
ツプマイクロコンピユータのプログラムのフロー
チヤートを第19図〜第21図に示す。このワン
チツプマイクロコンピユータのT0端子には駆動
回路100の積分開始パルスが入力され、システ
ムの動作と同期がとられる。T1端子は外部タイ
マー割り込み端子で、基準時間発生回路800の
出力を入力し、Lowレベルの入力を検出してタ
イマー割り込み処理ルーチンを実行する。INT
端子は、外部割り込み端子で、比較回路600の
出力を入力し、Lowレベルの入力を検出して、
外部割り込み処理ルーチンを実行する。前記タイ
マー割り込み処理ルーチン及び前記外部割り込み
処理ルーチンは1回の積分に対して、どちらか片
方の処理ルーチンが実行される。ポート1の0〜
2ビツト(P10〜P12)は各々、増幅器300の
レジスタのCS端子、輝度変調レベル発生回路7
00のレジスタのCS端子、計時回路1000の
レジスタのCS端子と接続され、それぞれのレジ
スタに対する読み書きの制御を行う。この時に読
み書きされるデータはバスポート(BUS)の8
ビツトのラインの全部又は一部を使つて転送され
る。
Finally, FIG. 18, which is an embodiment of the controller 1100, will be described. FIG. 18 shows a controller 1100 connected to a one-chip microcomputer 8.
The program flowchart of this one-chip microcomputer is shown in FIGS. 19 to 21. The integration start pulse of the drive circuit 100 is input to the T0 terminal of this one-chip microcomputer, and the operation of the system is synchronized. The T1 terminal is an external timer interrupt terminal, which inputs the output of the reference time generation circuit 800, detects a low level input, and executes a timer interrupt processing routine. INT
The terminal is an external interrupt terminal, which inputs the output of the comparator circuit 600, detects a low level input, and
Execute external interrupt handling routine. Either the timer interrupt processing routine or the external interrupt processing routine is executed for one integration. Port 1 0~
2 bits (P10 to P12) are respectively connected to the CS terminal of the register of the amplifier 300 and the brightness modulation level generation circuit 7.
It is connected to the CS terminal of the register 00 and the CS terminal of the register of the clock circuit 1000, and controls reading and writing to each register. The data read and written at this time is bus port (BUS) 8.
Transferred using all or part of a line of bits.

次に、上記構成の本焦点検出装置の動作を、第
19図ないし第21図のフローチヤートを用い、
ハード構成の動作とともに説明する。なお、この
フローチヤートに基づく処理は、コントローラ1
100によつて制御される。
Next, the operation of the present focus detection device having the above configuration will be explained using the flowcharts shown in FIGS. 19 to 21.
This will be explained along with the operation of the hardware configuration. Note that the processing based on this flowchart is performed by the controller 1.
100.

第19図はメインルーチンのフローチヤートで
ある。においてパワーオンになると、ステツプ
S11およびS12で輝度変調レベルと増幅率の初期
設定を行なう。輝度変調レベルの初期値は第1図
の輝度変調レベル発生回路700の内部レジスタ
R2に記憶され、増幅率の初期値は同増幅器30
0の内部レジスタR3に記憶される。
FIG. 19 is a flowchart of the main routine. When the power is turned on, the step
In S11 and S12, the brightness modulation level and amplification factor are initialized. The initial value of the brightness modulation level is stored in the internal register R2 of the brightness modulation level generation circuit 700 in FIG.
0 internal register R3.

この初期設定が終了すると、結合子からの
間のステツプで、積分型受光素子列200による
積分開始前のハード設定の終了および積分開始を
待つ。まずステツプS13、S14において、割り込
みを禁止してから積分時間計時用のタイマー(計
時回路1000)をセツトし、ステツプS15、
S16において積分開始を待つ。コントローラ(マ
イコン)1100は、T0端子(図18参照)を
モニタし、T0端子がHighレベルになつた後、
Lowレベルに立ち下がつたことを検知して積分
開始を知る。前述のようにT0端子には、駆動回
路100の積分開始パルスが入力されており、こ
の処理によつてシステムの動作と同期がとられ
る。
When this initial setting is completed, in the step between the coupler and the connector, the process waits for the completion of the hardware setting before the start of integration by the integrating type light receiving element array 200 and the start of integration. First, in steps S13 and S14, interrupts are prohibited, and then a timer (clock circuit 1000) for measuring the integral time is set, and in steps S15,
Wait for the start of integration in S16. The controller (microcomputer) 1100 monitors the T0 terminal (see Fig. 18), and after the T0 terminal becomes high level,
The start of integration is known by detecting that the signal has fallen to the low level. As mentioned above, the integration start pulse of the drive circuit 100 is input to the T0 terminal, and this processing synchronizes the operation of the system.

積分が開始されると、割り込みを可能にし(ス
テツプS17)、タイマーをスタートする(ステツ
プS18)。この後は、ステツプS19において、割り
込み動作を待つ。なお、この割込み待ち処理で
は、INT端子またはT1端子に、基準時間発生回
路800または比較回路600から割込み信号が
入るのを待つ。そして、基準時間発生回路800
からの割込みが入つたときには図20のタイマー
割込み処理ルーチン(結合子からの処理)をス
タートし、比較回路600から割込み信号が入つ
たときには図21の外部割込み処理ルーチン(結
合子からの処理)をスタートする。
When integration is started, interrupts are enabled (step S17) and a timer is started (step S18). After this, in step S19, an interrupt operation is awaited. Note that in this interrupt wait process, the CPU waits for an interrupt signal to be input from the reference time generation circuit 800 or the comparison circuit 600 to the INT terminal or the T1 terminal. Then, the reference time generation circuit 800
When an interrupt is received from the comparator circuit 600, the timer interrupt processing routine (processing from the connector) shown in FIG. 20 is started, and when an interrupt signal is received from the comparison circuit 600, the external interrupt processing routine (processing from the connector) shown in FIG. Start.

タイマがスタートすると、前述のように、モニ
タダイオード500が受光する被写体輝度に応じ
て、比較回路600または基準時間発生回路80
0からパルス(割込み信号)を受けた積分終了制
御回路900が積分型受光素子列200の積分を
終了させる。
When the timer starts, as described above, the comparison circuit 600 or the reference time generation circuit 80 is activated depending on the subject brightness received by the monitor diode 500.
The integration end control circuit 900 that receives the pulse (interrupt signal) from 0 ends the integration of the integrating type light receiving element array 200.

基準時間発生回路800の出力により積分が終
了するのは、前述のように、積分が規定時間T4
内に終了しなかつたとき(モニタダイオードの出
力が規定時間T4内に輝度変調レベルに達しなか
つたとき)、つまり被写体が低輝度の場合である。
この場合コントローラ1100は、T1端子に基
準時間発生回路800からLowレベル信号が入
力されたことを検出し、第20図のタイマー割込
み処理ルーチンをスタートする。
As mentioned above, the reason why the integration ends with the output of the reference time generation circuit 800 is when the integration reaches the specified time T 4
This is the case when the brightness of the subject is low (when the output of the monitor diode does not reach the brightness modulation level within the specified time T4 ).
In this case, the controller 1100 detects that a low level signal is input from the reference time generation circuit 800 to the T1 terminal, and starts the timer interrupt processing routine shown in FIG. 20.

このタイマー割り込み処理ルーチンでは、被
写体が低輝度であるので、増幅器300による積
分型受光素子列200の出力の増幅率を変化(ア
ツプ)させ、同時に、積分が規定時間T4内に終
了しないので、積分が規定時間T4内に終了する
方向に、輝度変調レベル発生回路700による輝
度変調レベルを変化(ダウン)させる。
In this timer interrupt processing routine, since the subject has low brightness, the amplifier 300 changes (increases) the amplification factor of the output of the integrating type light receiving element array 200, and at the same time, since the integration does not end within the specified time T4 , The brightness modulation level by the brightness modulation level generation circuit 700 is changed (down) in the direction that the integration ends within the specified time T4 .

このために、まずステツプS20で、現在の増幅
器300による増幅率が最大であるか否かを判断
する。この増幅率が最大であれば、積分型受光素
子列200の出力の増幅率をさらにアツプさせる
ことはできないので、ステツプ24に飛んで、現在
の輝度変調レベル発生回路700による輝度変調
レベルが最小であるか否かの判断に移る。
For this purpose, first, in step S20, it is determined whether the current amplification factor by the amplifier 300 is the maximum. If this amplification factor is the maximum, it is not possible to further increase the amplification factor of the output of the integrating type photodetector array 200, so the process jumps to step 24 and sets the current brightness modulation level generated by the brightness modulation level generation circuit 700 to the minimum value. Let's move on to determining whether or not there is.

一方、ステツプS20で、増幅率が最大でないと
判断された場合には、ステツプS21からS23で増
幅率をアツプし、その記憶値を変更する。増幅率
を1段アツプすると、積分型受光素子列200の
出力がこれまでの2倍に増幅されて焦点検出回路
400に与えられるので、低輝度被写体に対処す
ることができる。
On the other hand, if it is determined in step S20 that the amplification factor is not the maximum, the amplification factor is increased in steps S21 to S23 and its stored value is changed. When the amplification factor is increased by one step, the output of the integrating type light receiving element array 200 is amplified twice as much as before and is applied to the focus detection circuit 400, so that it is possible to deal with low brightness objects.

ステツプS24で、輝度変調レベルが最小である
と判断された場合には、積分時間を規定時間T4
より短縮する方向への輝度変調レベルの変化は不
能であるから(第2図の最下方の横線と時間軸
T4とが交わる地点23よりも積分時間が長い場
合に相当)、ステツプS28において、割り込みを
禁止し、スタツク操作をしてメインフローの結合
子に戻る。
If it is determined in step S24 that the brightness modulation level is the minimum, the integration time is set to the specified time T4 .
It is impossible to change the brightness modulation level in the direction of further shortening (the lowermost horizontal line and time axis in Figure 2).
(This corresponds to the case where the integration time is longer than the point 23 where T4 intersects), in step S28, interrupts are prohibited, a stack operation is performed, and the return is made to the connector of the main flow.

ステツプS24で、輝度変調レベルが最小でない
と判断された場合には、ステツプS25〜S27で輝
度変調レベルを1段下げて、これを記憶する。こ
の処理は、第2図において、例えば、輝度変調レ
ベルが1でモニタダイオード500の積分直線が
地点I1、I2、I3を通るときに、地点I1(規定時間
T4)で積分が終了していたのを、輝度変調レベ
ルを1/2に下げて地点I2(積分時間T2)で積分を終
了するように調整することを意味する。つまり、
同一の明るさの被写体に対して、積分時間がT4
より短くなる方向(ただし、最短積分時間はT1
に変更し、同時に、積分時間が短縮される分増幅
率を上げて、焦点検出回路400への出力レベル
を一定に保持している。
If it is determined in step S24 that the brightness modulation level is not the minimum, the brightness modulation level is lowered by one step in steps S25 to S27, and this is stored. In FIG. 2, for example, when the brightness modulation level is 1 and the integral line of the monitor diode 500 passes through points I 1 , I 2 , I 3 , the point I 1 (specified time
This means that the luminance modulation level is reduced to 1/2 and the integration is adjusted to end at point I 2 (integration time T 2 ), whereas the integration was completed at point I 2 (integration time T 2 ). In other words,
For objects of the same brightness, the integration time is T 4
In the direction of becoming shorter (however, the shortest integration time is T 1 )
At the same time, the amplification factor is increased by the reduction in the integration time, and the output level to the focus detection circuit 400 is held constant.

以上の処理は、積分時間がT4より短くなるま
で続けられるため、焦点検出回路400は、低輝
度の被写体であつても、適正な積分時間による適
正レベルの積分型受光素子列200の出力を得る
ことができる。
The above processing is continued until the integration time becomes shorter than T 4 , so the focus detection circuit 400 can detect the output of the integration type photodetector array 200 at an appropriate level with an appropriate integration time even for a low-luminance object. Obtainable.

次に、積分終了制御回路900が比較回路60
0からのパルス出力を受けたときに積分が終了す
るのは、前述のように、積分時間が第1の規定時
間T4より短い場合、つまり被写体が高輝度の場
合である。この場合には、コントローラ1100
は、先にINT端子を介して比較回路600から
Lowレベル信号が出力されたことを検出し、第
21図の外部割込み処理ルーチン(結合子から
の処理)をスタートさせる。
Next, the integration end control circuit 900
Integration ends when a pulse output from 0 is received, as described above, when the integration time is shorter than the first specified time T4 , that is, when the subject is of high brightness. In this case, the controller 1100
is first sent from the comparison circuit 600 via the INT terminal.
The output of the low level signal is detected and the external interrupt processing routine (processing from the connector) shown in FIG. 21 is started.

この高輝度外部割込み処理ルーチンでは、積
分時間が第2の規定時間T1より短くなるほど高
輝度のときには、積分時間が長くなる方向に輝度
変調レベル発生回路700による輝度変調レベル
を変化(アツプ)させ、同時に増幅器300によ
る積分型受光素子列200の出力の増幅率を変化
(ダウン)させる。なお、積分時間がT1以上のと
き、つまりT1以上T4以下のときには通常時間内
なのでなにもしない。
In this high-brightness external interrupt processing routine, when the brightness is so high that the integration time becomes shorter than the second specified time T1 , the brightness modulation level generated by the brightness modulation level generation circuit 700 is changed (increased) in the direction that the integration time becomes longer. At the same time, the amplification factor of the output of the integrating type light receiving element array 200 by the amplifier 300 is changed (down). Note that when the integration time is greater than or equal to T 1 , that is, greater than or equal to T 1 and less than or equal to T 4 , nothing is done because it is within normal time.

このルーチンでは、ステツプS30でまず計時回
路1000で計時された現在の積分時間(モニタ
ダイオード00の出力の積分レベルが設定輝度変調
レベルに達した時間)を入力し、この現在の積分
時間が第2の規定時間T1より長いか否かをステ
ツプS31で判断する。高輝度被写体において、こ
の現在の積分時間が第2の規定時間T1よりも長
ければ、積分時間を長くする必要はない(規定時
間T4よりも長いときにはタイマー割込み処理ル
ーチンに入る)から、ステツプS40に飛んで、
割り込みを禁止し、スタツク操作をしてメインフ
ローの結合子に戻る。
In this routine, first, in step S30, the current integral time measured by the clock circuit 1000 (the time when the integral level of the output of monitor diode 00 reaches the set brightness modulation level) is input, and this current integral time is secondly counted. In step S31, it is determined whether or not the specified time T1 is longer than the specified time T1 . For a high-brightness subject, if the current integration time is longer than the second specified time T1 , there is no need to lengthen the integration time (if it is longer than the specified time T4 , the timer interrupt processing routine is entered). Fly to S40,
Disable interrupts, perform stack operations, and return to the main flow connector.

一方、ステツプS31で、現在の積分時間が規定
時間T4より短いと判断されれば、ステップS32に
おいて、現在の増幅器300による増幅率が最小
であるか否かを判断する。この増幅率が最小であ
れば、積分型受光素子列200の出力の増幅率を
下げることはできないので、ステツプ36に飛ん
で、現在の輝度変調レベル発生回路700による
輝度変調レベルが最大であるか否かの判断に移
る。
On the other hand, if it is determined in step S31 that the current integration time is shorter than the specified time T4 , it is determined in step S32 whether the current amplification factor by the amplifier 300 is the minimum. If this amplification factor is the minimum, the amplification factor of the output of the integrating type photodetector array 200 cannot be lowered, so the process jumps to step 36 and checks whether the current brightness modulation level generated by the brightness modulation level generation circuit 700 is the maximum. Let's move on to the decision whether or not.

一方、ステツプS32で、増幅率が最小でないと
判断された場合には、ステツプS33からS35で増
幅率をダウンし、その記憶値を変更する。増幅率
を1段ダウンすると、積分型受光素子列200の
出力がこれまでの1/2倍になつて焦点検出回路4
00に与えられるので、高輝度被写体に対処する
ことができる。
On the other hand, if it is determined in step S32 that the amplification factor is not the minimum, the amplification factor is decreased in steps S33 to S35 and its stored value is changed. When the amplification factor is decreased by one stage, the output of the integrating type photodetector array 200 becomes 1/2 times that of the previous one, and the output from the focus detection circuit 4 increases.
00, it is possible to deal with high-brightness objects.

ステツプS32で、輝度変調レベルが最大である
と判断された場合には、積分時間をT1より長く
する方向への輝度変調レベルの変化(ダウン)は
不能であるから(第2図の最上方の横線が時間軸
T1と交わる地点より積分時間が短い場合に相
当)、ステツプS40において、割り込みを禁止し、
スタツク操作をしてメインフローの結合子に戻
る。
If it is determined in step S32 that the brightness modulation level is the maximum, it is impossible to change (down) the brightness modulation level in the direction of making the integration time longer than T1 (as shown in the uppermost part of Fig. 2). The horizontal line is the time axis
(corresponds to the case where the integration time is shorter than the point where it intersects T 1 ), interrupts are prohibited in step S40,
Perform a stack operation and return to the main flow connector.

ステツプS6で、輝度変調レベルが最大でない
と判断された場合には、ステツプS37〜S39で輝
度変調レベルを1段上げて、これを記憶する。こ
の処理は、第2図において、例えば、輝度変調レ
ベルが1/4でモニタダイオード500の積分直線
が地点I1、I2、I3を通るときに、地点I3(積分時間
T0)で積分が終了していたのを、輝度変調レベ
ルを1/2に上げて地点I2(積分時間T2)で積分が終
了するように調整することを意味する。つまり、
同一の明るさの被写体に対して、積分時間がT1
より長くなる方向(ただし、最長積分時間はT4
に変更し、同時に、積分時間が伸長される分増幅
率を下げることにより焦点検出回路400への出
力レベルを一定に保持している。
If it is determined in step S6 that the brightness modulation level is not the maximum, the brightness modulation level is increased by one step in steps S37 to S39, and this is stored. In FIG. 2, for example, when the brightness modulation level is 1/4 and the integral straight line of the monitor diode 500 passes through the points I 1 , I 2 , I 3 , the point I 3 (the integral time
This means that the luminance modulation level is increased to 1/2 so that the integration ends at point I 2 (integration time T 2 ), whereas the integration ends at point I 2 (integration time T 2 ). In other words,
For objects of the same brightness, the integration time is T 1
In the direction of increasing length (however, the longest integration time is T 4 )
At the same time, the output level to the focus detection circuit 400 is held constant by lowering the amplification factor by the length of the integration time.

以上の処理は、積分時間がT1より長くなるま
で続けられるため、焦点検出回路400は、高輝
度の被写体であつても、適正な積分時間による適
正レベルの積分型受光素子列200の出力を得る
ことができる。
The above processing is continued until the integration time becomes longer than T 1 , so the focus detection circuit 400 can detect the output of the integration type photodetector array 200 at an appropriate level with an appropriate integration time even for a high-brightness object. Obtainable.

以上の通り本実施例によると、積分時間がT4
以上かかるときには積分時間を1/2倍に変更する
とともに増幅率を現在の2倍に変更し、積分時間
がT1よりも短いときには積分時間を2倍に変更
するとともに増幅率を現在の1/2倍に変更するの
で、積分時間T1〜T4の範囲内で適正レベルの測
距データを得ることができる。
As described above, according to this embodiment, the integration time is T 4
If it takes longer than T1, change the integration time to 1/2 and change the amplification factor to twice the current value. If the integration time is shorter than T1 , change the integration time to 2 times and change the amplification factor to 1/2 of the current value. Since the change is made twice, distance measurement data at an appropriate level can be obtained within the integration time T 1 to T 4 .

以上述べた如く、本発明のカメラの焦点検出装
置は、増幅器の出力レベルを一定範囲に保つよう
に、前記計測時間が第1の規定時間よりも長くな
るときには、前記基準値を所定段下げるとともに
前記増幅率を所定段上げ、前記計測時間が、前記
第1の規定時間よりも短い第2の規定時間よりも
短くなるときには、前記基準値を所定段上げると
ともに、前記増幅率を所定段下げるので、常に第
1の規定時間(T4)以内かつ第2の規定時間
(T1)以上で所望のデータが得られるで、応答の
速い焦点検出装置を現することができる。また、
被写体輝度に応じてダイナミツクレンジを変えら
れるため、より暗い被写体に対する焦点検出も可
能となり、焦点検出能力が向上する。また、デー
タの検出時間を常にある設定時間T4よりも短く
できるため、手ブレ等の影響を防止するとともに
高速の焦点検出を可能にし、さらに使用感に優れ
た装置の提供ができる。
As described above, in order to maintain the output level of the amplifier within a certain range, the camera focus detection device of the present invention lowers the reference value by a predetermined step when the measurement time becomes longer than the first specified time. When the amplification factor is increased by a predetermined step and the measurement time becomes shorter than a second predetermined time shorter than the first predetermined time, the reference value is increased by a predetermined step and the amplification factor is lowered by a predetermined step. Therefore, desired data can always be obtained within the first specified time (T 4 ) and at least the second specified time (T 1 ), thereby providing a focus detection device with fast response. Also,
Since the dynamic range can be changed according to the brightness of the subject, it is also possible to detect focus on darker subjects, improving focus detection ability. Furthermore, since the data detection time can always be shorter than the set time T4 , it is possible to prevent the effects of camera shake, etc., to enable high-speed focus detection, and to provide a device that is more user-friendly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はクレーム対応の構成図、第2図は本発
明の構成による機能を説明するグラフ、第3図か
ら第18図は本発明の夫々の構成要素の一実施例
図、第19図かから第21図はコントローラの一
実施例を説明する為のフローチヤート。 100……駆動回路、200……積分型受光素
子、300……増幅器、400……焦点検出回
路、500……モニターガイド、600……比較
回路、700……輝度変調レベル発生回路、80
0……基準時間発生回路、900……積分終了制
御回路、1000……計時回路、1100……コ
ントローラ。
Fig. 1 is a block diagram corresponding to the claims, Fig. 2 is a graph explaining the functions of the structure of the present invention, Figs. 3 to 18 are illustrations of one embodiment of each component of the present invention, and Fig. 19 21 are flowcharts for explaining one embodiment of the controller. 100... Drive circuit, 200... Integral type light receiving element, 300... Amplifier, 400... Focus detection circuit, 500... Monitor guide, 600... Comparison circuit, 700... Brightness modulation level generation circuit, 80
0... Reference time generation circuit, 900... Integration end control circuit, 1000... Timing circuit, 1100... Controller.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 積分型受光素子列; 該積分型受光素子列の平均照度に対応する積分
電圧を出力するモニタダイオード; 基準値を段階的に変更可能な基準値設定回路; 前記モニタダイオードの出力と基準値設定回路
により設定された基準値とを比較して、前記モニ
タダイオードの出力が前記基準値に達したことを
検出する比較回路; 前記モニタダイオードの積分開始から前記検出
時までの時間を計測する計時回路; 前記検出時、または前記計測時間が第1の規定
時間を越えたときに前記積分受光素子列の積分を
停止させる積分終了制御回路; 前記積分型受光素子列の積分出力を増幅する増
幅率を段階的に変更可能な増幅器;および、 前記増幅器の出力レベルを一定範囲に保つよう
に、前間計測時間が第1の規定時間よりも長くな
るときには、前記基準値を所定段下げるとともに
前記増幅率を所定段上げ、 前記計測時間が、前記第1の規定時間よりも短
い第2の規定時間よりも短くなるときには、前記
基準値を所定段上げると共に前記増幅率を所定段
下げる制御手段; を備えていることを特徴とする焦点検出装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載の制御手段は、
前記計測時間が第1の規定時間よりも長くなると
きには、前記基準値を1/2倍に変更するとともに
前記増幅率を2倍し、前記計測時間が、前記第2
の規定時間の1/2倍の時間よりも短い第2の規定
時間よりも短くなるときには、前記基準値を2倍
すると共に前記増幅率を1/2倍にする焦点検出装
置。
[Claims] 1. An integral type light receiving element array; A monitor diode that outputs an integrated voltage corresponding to the average illuminance of the integral type light receiving element array; A reference value setting circuit that can change a reference value in steps; The monitor diode a comparison circuit that detects that the output of the monitor diode has reached the reference value by comparing the output of the monitor diode with a reference value set by the reference value setting circuit; a clock circuit that measures time; an integration end control circuit that stops the integration of the integrating light receiving element array at the time of the detection or when the measured time exceeds a first specified time; an integral output of the integrating type light receiving element array an amplifier capable of changing stepwise the amplification factor for amplifying; and, in order to maintain the output level of the amplifier within a certain range, when the pre-measurement time becomes longer than the first specified time, the reference value is set to a predetermined value; When the measurement time becomes shorter than a second specified time that is shorter than the first specified time, the reference value is increased by a predetermined step and the amplification factor is increased by a predetermined step. A focus detection device comprising: control means for lowering the focus; 2. The control means recited in claim 1 is:
When the measurement time becomes longer than the first specified time, the reference value is changed to 1/2, the amplification factor is doubled, and the measurement time becomes longer than the second specified time.
The focus detection device doubles the reference value and increases the amplification factor by 1/2 when the time becomes shorter than a second prescribed time that is shorter than 1/2 of the prescribed time.
JP8217683A 1983-05-11 1983-05-11 Focus detector Granted JPS59206808A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8217683A JPS59206808A (en) 1983-05-11 1983-05-11 Focus detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8217683A JPS59206808A (en) 1983-05-11 1983-05-11 Focus detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59206808A JPS59206808A (en) 1984-11-22
JPH0463372B2 true JPH0463372B2 (en) 1992-10-09

Family

ID=13767120

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8217683A Granted JPS59206808A (en) 1983-05-11 1983-05-11 Focus detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59206808A (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3832517B2 (en) * 1996-07-05 2006-10-11 セイコーエプソン株式会社 Robot controller and control method thereof

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4897529A (en) * 1972-03-28 1973-12-12
JPS5068326A (en) * 1973-10-19 1975-06-07
JPS5315131A (en) * 1976-07-27 1978-02-10 Canon Inc Detecting method for sharpness of objective image
JPS5445127A (en) * 1977-09-17 1979-04-10 Canon Inc Focus detector by photo sensor alley
JPS5688121A (en) * 1979-11-30 1981-07-17 Honeywell Inc Lowwcontrasttbias automatic focusing device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4897529A (en) * 1972-03-28 1973-12-12
JPS5068326A (en) * 1973-10-19 1975-06-07
JPS5315131A (en) * 1976-07-27 1978-02-10 Canon Inc Detecting method for sharpness of objective image
JPS5445127A (en) * 1977-09-17 1979-04-10 Canon Inc Focus detector by photo sensor alley
JPS5688121A (en) * 1979-11-30 1981-07-17 Honeywell Inc Lowwcontrasttbias automatic focusing device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59206808A (en) 1984-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4916307A (en) Light intensity detecting circuit with dark current compensation
EP1158789B1 (en) Photodetector device
JPH0560049B2 (en)
US4847483A (en) Device for measuring light intensity received by a photosensor
US4763154A (en) Focus detecting device and image signal amplifier circuit therefor
JPH0463372B2 (en)
JP4664017B2 (en) Optical semiconductor integrated circuit device
US5028948A (en) Photoelectric transducer apparatus for focus detection
JPH04207791A (en) Luminance level measuring circuit
JPS6224989B2 (en)
JPH0682875A (en) Exposure quantity measuring instrument
JPH07234979A (en) Heat sensor
US4945378A (en) Circuit for detecting back light
JPH0765964B2 (en) Dimming smoke detector
JPH01305328A (en) Detecting circuit for intensity of light
JP2895999B2 (en) Image sensor circuit
JPS63282622A (en) Photometer
JPH01123109A (en) Distance measuring equipment
JPS62225081A (en) Output adjusting circuit of ccd image sensor
JPH02288579A (en) White balance control circuit
JP2833057B2 (en) Timing control circuit of polygon mirror rotary scanning type infrared imaging device
JPH0236681A (en) Storage time control for photoelectric converter and storage signal processing unit
JP2663108B2 (en) Flash emission control device
JPH0565857B2 (en)
JPS62200312A (en) Picture signal amplifying circuit for focus detector