JPH0460267B2 - - Google Patents
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- JPH0460267B2 JPH0460267B2 JP5102683A JP5102683A JPH0460267B2 JP H0460267 B2 JPH0460267 B2 JP H0460267B2 JP 5102683 A JP5102683 A JP 5102683A JP 5102683 A JP5102683 A JP 5102683A JP H0460267 B2 JPH0460267 B2 JP H0460267B2
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Description
【発明の詳細な説明】
<発明の技術分野>
本発明は、例えば小切手等に押された印鑑の真
偽を判別する場合において、小切手から印影を読
み取つて画像化し、印影画像から輪郭線が急峻に
変化する点(以下特異点という)を抽出して、印
影等の照合処理を実行する図形の特異点抽出方法
に関する。
偽を判別する場合において、小切手から印影を読
み取つて画像化し、印影画像から輪郭線が急峻に
変化する点(以下特異点という)を抽出して、印
影等の照合処理を実行する図形の特異点抽出方法
に関する。
<発明の背景>
従来この種特異点抽出方法は、例えば印影を画
像化した後、画像全体につき印影の輪郭線をデー
タ抽出し、然る後輪郭線をデータ追跡することに
より、輪郭線が急峻に変化する部分を検出して、
これを特異点としている。これがため特異点の抽
出処理が複雑化して、処理効率が悪く、またメモ
リの大容量化を招く等の不利があつた。
像化した後、画像全体につき印影の輪郭線をデー
タ抽出し、然る後輪郭線をデータ追跡することに
より、輪郭線が急峻に変化する部分を検出して、
これを特異点としている。これがため特異点の抽
出処理が複雑化して、処理効率が悪く、またメモ
リの大容量化を招く等の不利があつた。
そこで発明者は、画像化された図形に対し、矩
形状視野をもつマスクを設定し、マスク内を走査
してマスク内のパターン輪郭線およびマスク各辺
と交叉する図形パターンの端点を検出すると共
に、端点間の中点からパターン輪郭線までの距離
計算を実行し、しかる後その極大距離にかかる点
を特異点として抽出する方法を開発した。
形状視野をもつマスクを設定し、マスク内を走査
してマスク内のパターン輪郭線およびマスク各辺
と交叉する図形パターンの端点を検出すると共
に、端点間の中点からパターン輪郭線までの距離
計算を実行し、しかる後その極大距離にかかる点
を特異点として抽出する方法を開発した。
この方法によれば、画像全体の輪郭線を抽出す
る必要がなく、また輪郭線上をデータ追跡してゆ
く必要もないから、特異点抽出処理が簡略化さ
れ、処理効率の向上、メモリ容量の節減を実現で
きる。ところがこの方法において、前記距離計算
の結果、極大点が2以上存在することがあり、か
かる場合には特異点の特定が困難であり、特異点
抽出不能として処理することにしていた。このた
め特異点の抽出数が少なく、印鑑等の照合精度が
低下する等の不利があつた。
る必要がなく、また輪郭線上をデータ追跡してゆ
く必要もないから、特異点抽出処理が簡略化さ
れ、処理効率の向上、メモリ容量の節減を実現で
きる。ところがこの方法において、前記距離計算
の結果、極大点が2以上存在することがあり、か
かる場合には特異点の特定が困難であり、特異点
抽出不能として処理することにしていた。このた
め特異点の抽出数が少なく、印鑑等の照合精度が
低下する等の不利があつた。
<発明の目的>
本発明は、矩形状マスクを用いた特異点の抽出
方法に更に改良を加えて、特異点の抽出数を増す
ことによつて、特異点抽出処理の効率向上並びに
メモリ容量の節減を実現すると共に、印鑑等の照
合精度を向上させた新規な図形の特異点抽出方法
を提供することを目的とする。
方法に更に改良を加えて、特異点の抽出数を増す
ことによつて、特異点抽出処理の効率向上並びに
メモリ容量の節減を実現すると共に、印鑑等の照
合精度を向上させた新規な図形の特異点抽出方法
を提供することを目的とする。
<発明の構成および効果>
上記目的を達成するため、本発明では、極大点
が2つ以上存在するような場合、各極大点間の中
点を求め、これを特異点として抽出するようにし
た。
が2つ以上存在するような場合、各極大点間の中
点を求め、これを特異点として抽出するようにし
た。
本発明によれば、画像全体の輪郭線をデータ抽
出する旧来の方式に比較して、特異点抽出処理が
簡略化され、処理効率の向上、メモリ容量の節減
を実現し得ると共に、特異点の抽出数減少による
印鑑等の照合精度の低下を防止できる等、発明目
的を達成した優れた効果を奏する。
出する旧来の方式に比較して、特異点抽出処理が
簡略化され、処理効率の向上、メモリ容量の節減
を実現し得ると共に、特異点の抽出数減少による
印鑑等の照合精度の低下を防止できる等、発明目
的を達成した優れた効果を奏する。
<実施例の説明>
第1図は、小切手に抽された印鑑が真正印鑑
か、偽造印鑑かを判別する装置例を示す。
か、偽造印鑑かを判別する装置例を示す。
図示例の装置は、ケース10内に収容した複数
枚の小切手1を最下部より1枚づつ取り出して、
搬送ベルト11上へ送り出す。
枚の小切手1を最下部より1枚づつ取り出して、
搬送ベルト11上へ送り出す。
各小切手1は、その搬送途中において、小切手
に押された印影がチエツクされ、搬送路下流の振
分け装置2が判別結果に基づき、真正印鑑が使用
された小切手、偽造印鑑が使用された小切手およ
び、判別不能な小切手の3種に振り分け、夫々回
収ケース21,22,23へ送り込む。
に押された印影がチエツクされ、搬送路下流の振
分け装置2が判別結果に基づき、真正印鑑が使用
された小切手、偽造印鑑が使用された小切手およ
び、判別不能な小切手の3種に振り分け、夫々回
収ケース21,22,23へ送り込む。
前記の搬送路途中には、小切手1に印字された
コード番号を光学的若しくは磁気的方法にて読み
取る読取装置50と、小切手1に押印された印影
を画像化するカメラ装置3とが配備してあり、読
取装置50の出力は外部メモリ5へ、またカメラ
装置3の出力は画像プロセツサ4へ、夫々データ
バス40を介して送られる。前記外部メモリ5に
は、複数個の参照印影が格納されており、読取装
置50で読み取られたコード番号に基づき、対応
する参照印影の画像データが取り出されて、画像
プロセツサ4へ送られる。
コード番号を光学的若しくは磁気的方法にて読み
取る読取装置50と、小切手1に押印された印影
を画像化するカメラ装置3とが配備してあり、読
取装置50の出力は外部メモリ5へ、またカメラ
装置3の出力は画像プロセツサ4へ、夫々データ
バス40を介して送られる。前記外部メモリ5に
は、複数個の参照印影が格納されており、読取装
置50で読み取られたコード番号に基づき、対応
する参照印影の画像データが取り出されて、画像
プロセツサ4へ送られる。
前記カメラ装置3は、第2図に示す如く、読取
ラインセンサ31と二値化回路32とを含み、読
取ラインセンサ31は被照合印影を画像化し、こ
の印影画像を行毎に走査することにより画像構成
に応じた光信号を取り出すと共に、この光信号を
光電変換してアナログ量の画像信号i1を出力す
る。また二値化回路32は、画像信号を二値化
し、この二値信号i2を列対応のビツトシリアルに
データバス40を介して画像プロセツサ4へ送出
する。図中発振器33は、読取ラインセンサ31
に読出しパルスを供給すると共に、現信号のポイ
ント座標を計算するためのX軸座標カウンタ34
にクロツクパルスを供給する。更にこのX軸座標
カウンタ34からは桁上げ信号i2が出力され、か
な桁上げ信号i3はY軸座標を計算するためのY軸
座標カウンタ35に供給され、これらX軸座標カ
ウンタ34およびY軸座標カウンタ35の各出力
は、データバス40を介して画像プロセツサ4に
入力される。
ラインセンサ31と二値化回路32とを含み、読
取ラインセンサ31は被照合印影を画像化し、こ
の印影画像を行毎に走査することにより画像構成
に応じた光信号を取り出すと共に、この光信号を
光電変換してアナログ量の画像信号i1を出力す
る。また二値化回路32は、画像信号を二値化
し、この二値信号i2を列対応のビツトシリアルに
データバス40を介して画像プロセツサ4へ送出
する。図中発振器33は、読取ラインセンサ31
に読出しパルスを供給すると共に、現信号のポイ
ント座標を計算するためのX軸座標カウンタ34
にクロツクパルスを供給する。更にこのX軸座標
カウンタ34からは桁上げ信号i2が出力され、か
な桁上げ信号i3はY軸座標を計算するためのY軸
座標カウンタ35に供給され、これらX軸座標カ
ウンタ34およびY軸座標カウンタ35の各出力
は、データバス40を介して画像プロセツサ4に
入力される。
画像プロセツサ4は、第6図および第7図に示
す特異点抽出用プログラム、更には印影の照合や
真偽判別に必要な各種プログラムを格納するプロ
グラムメモリ41と、印影画像XY座標と対応さ
せて特定するためのデータをストアするエリアA
(第10図に示す)、後記するマスクのサイズや各
辺の座標に関するデータをストアするエリアB,
Cおよび、特異点に関するデータをストアするエ
リアD,Eを有する画像メモリ43と、画像メモ
リ43よりデータ読み出しプログラムを解読実行
して特異点押出更には印影照合にかかる各種演算
や一連の処理を制御する演算制御部42(以下単
にCPUという)とから構成され、CPU42は更
に印鑑の真偽判別結果に基づき、出力機器24を
介して前記振分け装置2へ制御命令を下す。
す特異点抽出用プログラム、更には印影の照合や
真偽判別に必要な各種プログラムを格納するプロ
グラムメモリ41と、印影画像XY座標と対応さ
せて特定するためのデータをストアするエリアA
(第10図に示す)、後記するマスクのサイズや各
辺の座標に関するデータをストアするエリアB,
Cおよび、特異点に関するデータをストアするエ
リアD,Eを有する画像メモリ43と、画像メモ
リ43よりデータ読み出しプログラムを解読実行
して特異点押出更には印影照合にかかる各種演算
や一連の処理を制御する演算制御部42(以下単
にCPUという)とから構成され、CPU42は更
に印鑑の真偽判別結果に基づき、出力機器24を
介して前記振分け装置2へ制御命令を下す。
第3図は特異点抽出方法の一例を示す。図示例
では、印影画像を含む画面60上に縦aビツト、
横bビツトの矩形状視野をもつマスク6を横方向
に走査してゆき、走査過程において、第4図1,
2に示す如く、マスク6の視野内に特異点を有す
る字画部分7が含まれたとき、マスク6内を走査
して特異点の存在位置を検出する。
では、印影画像を含む画面60上に縦aビツト、
横bビツトの矩形状視野をもつマスク6を横方向
に走査してゆき、走査過程において、第4図1,
2に示す如く、マスク6の視野内に特異点を有す
る字画部分7が含まれたとき、マスク6内を走査
して特異点の存在位置を検出する。
第5図はマスク6内に含まれた特異点Pを有す
る字画部分7のパターン例を示し、第5図1〜4
に示す第1〜第4のパターンは特異点Pが字画部
分7の右端、下端、上端、に夫々存在位置し、第
5図5〜8に示す第5〜第8のパターンは字画部
分7の右下端、左下端、左上端、右上端に夫々存
在位置する。
る字画部分7のパターン例を示し、第5図1〜4
に示す第1〜第4のパターンは特異点Pが字画部
分7の右端、下端、上端、に夫々存在位置し、第
5図5〜8に示す第5〜第8のパターンは字画部
分7の右下端、左下端、左上端、右上端に夫々存
在位置する。
上記パターンにおいて、第1〜第4のパターン
は字画部分7がマスク6の1辺と交叉し、第5〜
第8のパターンは字画部分7がマスク6の隣接す
る2辺と交叉している。
は字画部分7がマスク6の1辺と交叉し、第5〜
第8のパターンは字画部分7がマスク6の隣接す
る2辺と交叉している。
第6図および第7図は特異点抽出動作の具体例
を示す。
を示す。
まず第6図のステツプ80において、前記マス
ク6の視野サイズ等、各種初期値が画像メモリ4
3のエリアA等に設定された後、ステツプ81で
マスク6が画面60上を1列分走査したか否かを
チエツクする。図示例の場合、CPU42内のメ
モリエリア44(第9図に示す)に列カウンタM
を設定し、列カウンタMの内容が設定値mに達し
たか否かを判定することにより、画面1列分の走
査完了を判断している。この場合、ステツプ81
の判定は“NO”であるから、ステツプ82へ進
み、つぎに横フラグFHがセツト済か否かをチエ
ツクする。この横ブラグFHは、マスク内に第1
〜第8のいずれかパターンが含まれたときにセツ
トされるフラグであり、この場合、ステツプ82
の「FH=1」の判定は“NO”となつて、ステツ
プ83へ進み、マスク6が1/2マスク分(1/2b
ビツト)横移動し、更にステツプ84で列カウン
タMの内容が1加算される。
ク6の視野サイズ等、各種初期値が画像メモリ4
3のエリアA等に設定された後、ステツプ81で
マスク6が画面60上を1列分走査したか否かを
チエツクする。図示例の場合、CPU42内のメ
モリエリア44(第9図に示す)に列カウンタM
を設定し、列カウンタMの内容が設定値mに達し
たか否かを判定することにより、画面1列分の走
査完了を判断している。この場合、ステツプ81
の判定は“NO”であるから、ステツプ82へ進
み、つぎに横フラグFHがセツト済か否かをチエ
ツクする。この横ブラグFHは、マスク内に第1
〜第8のいずれかパターンが含まれたときにセツ
トされるフラグであり、この場合、ステツプ82
の「FH=1」の判定は“NO”となつて、ステツ
プ83へ進み、マスク6が1/2マスク分(1/2b
ビツト)横移動し、更にステツプ84で列カウン
タMの内容が1加算される。
つぎのステツプ85はマスク6が画面60上の
全行に亘る走査を完了したか否かをチエツクする
ものであり、図示例の場合、メモリエリア44内
に設定された行カウンタNの内容が設定値nに達
したか否かをもつて判断する。この、場合ステツ
プ85の判定は“NO”であるから、ステツプ8
6へ進み、マスク6内に第1〜第8のいずれかパ
ターンが含まれているか否かの判断処理に移る。
この処理は、まずマスク6の各辺を順次走査し、
4辺の内1辺または隣接する2辺のみ印影の構成
点(以下「黒画素」と称する)が存在する場合
に、マスク6内に特異点を有する字画画部7が含
まれていると推定する。つぎにステツプ87で前
記4辺走査の結果に基づき、マスク6内に第1〜
第8のパターンのいずれかに相当する字画部分が
存在したか否かを判定し、その判定が“NO”で
あると、ステツプ81へ戻ることになる。
全行に亘る走査を完了したか否かをチエツクする
ものであり、図示例の場合、メモリエリア44内
に設定された行カウンタNの内容が設定値nに達
したか否かをもつて判断する。この、場合ステツ
プ85の判定は“NO”であるから、ステツプ8
6へ進み、マスク6内に第1〜第8のいずれかパ
ターンが含まれているか否かの判断処理に移る。
この処理は、まずマスク6の各辺を順次走査し、
4辺の内1辺または隣接する2辺のみ印影の構成
点(以下「黒画素」と称する)が存在する場合
に、マスク6内に特異点を有する字画画部7が含
まれていると推定する。つぎにステツプ87で前
記4辺走査の結果に基づき、マスク6内に第1〜
第8のパターンのいずれかに相当する字画部分が
存在したか否かを判定し、その判定が“NO”で
あると、ステツプ81へ戻ることになる。
同様の操作が繰り返し実行され、画面1列分の
走査が完了すると、列カウンタMの内容が設定値
mに達して、ステツプ81の判定が“YES”と
なり、ステツプ88へ進み、つぎに縦フラグFv
がセツト済か否かをチエツクする。この縦フラグ
Fvは、各行の走査において、特異点Pが抽出さ
れたときにセツトされるフラグであり、ステツプ
88の「Fv=1」の判定が“NO”の場合、ステ
ツプ89へ進み、マスク6が1/2マスク分(1/2
aビツト)縦移動し、更にステツプ90で行カウ
ンタNの内容が1加算される。
走査が完了すると、列カウンタMの内容が設定値
mに達して、ステツプ81の判定が“YES”と
なり、ステツプ88へ進み、つぎに縦フラグFv
がセツト済か否かをチエツクする。この縦フラグ
Fvは、各行の走査において、特異点Pが抽出さ
れたときにセツトされるフラグであり、ステツプ
88の「Fv=1」の判定が“NO”の場合、ステ
ツプ89へ進み、マスク6が1/2マスク分(1/2
aビツト)縦移動し、更にステツプ90で行カウ
ンタNの内容が1加算される。
上記マスク6の走査過程において、ステツプ8
7の判定が“YES”となつて、マスク6内に特
異点を有する字画部分が存在する可能性があると
判断されたとき、ステツプ91へ進み、特異点と
しての条件を充足すれば、その特異点の座標デー
タを算出する。
7の判定が“YES”となつて、マスク6内に特
異点を有する字画部分が存在する可能性があると
判断されたとき、ステツプ91へ進み、特異点と
しての条件を充足すれば、その特異点の座標デー
タを算出する。
斯くて特異点の条件を充足せず、特異点の抽出
がなかつたときは、ステツプ92の判定が
“NO”となり、ステツプ81へ戻るが、特異点
を抽出できたとき、ステツプ92の判定が
“YES”となり、ステツプ93で横フラグFHが、
ステツプ94で縦フラグFvが夫々セツトされる。
これによりステツプ82の「FH=1」の判定が
“YES”となり、ステツプ95で横フラグFHがク
リアされた後、ステツプ96でマスク6は1マス
ク分(bビツト)横移動し、ステツプ97で列カ
ウンタMの内容が2加算される、かかるステツプ
96,97の処理は、マスク6が同一の特異点を
2度抽出しないことを考慮したものである。また
前記ステツプ94で縦フラグFvがセツトされて
いるから、走査がつぎの行へ進む際ステツプ88
の「Fv=1」の判定が“YES”となり、同様の
趣旨から、ステツプ98で縦フラグFvをクリア
した後、ステツプ99でマスク6を1マスク分
(aビツト)縦移動し、ステツプ100で列カウ
ンタNの内容を2加算する。
がなかつたときは、ステツプ92の判定が
“NO”となり、ステツプ81へ戻るが、特異点
を抽出できたとき、ステツプ92の判定が
“YES”となり、ステツプ93で横フラグFHが、
ステツプ94で縦フラグFvが夫々セツトされる。
これによりステツプ82の「FH=1」の判定が
“YES”となり、ステツプ95で横フラグFHがク
リアされた後、ステツプ96でマスク6は1マス
ク分(bビツト)横移動し、ステツプ97で列カ
ウンタMの内容が2加算される、かかるステツプ
96,97の処理は、マスク6が同一の特異点を
2度抽出しないことを考慮したものである。また
前記ステツプ94で縦フラグFvがセツトされて
いるから、走査がつぎの行へ進む際ステツプ88
の「Fv=1」の判定が“YES”となり、同様の
趣旨から、ステツプ98で縦フラグFvをクリア
した後、ステツプ99でマスク6を1マスク分
(aビツト)縦移動し、ステツプ100で列カウ
ンタNの内容を2加算する。
第7図のフローチヤートは特異点抽出動作の詳
細を示す。まずステツプ110でマスク6内の字
画部分7を走査して輪郭線を構成する黒画素の座
標を抽出する。つぎに、第4図1,2に示す如
く、字画部分7を含むマスク6の1辺若しくは隣
接2辺につき、両端に位置する黒画素の点Q,R
を検出し、線分QR間の長さSを算出する。そし
てこの長さSが一定の条件を充足するとき、つぎ
のステツプ111で線分QRの中心点Gの相対座
標(x0,y0)を算出する。ついでステツプ112
において、字画部分7の各輪郭点の相対的座標を
(xi,yi)(但しi=1,2……,n)とすると、
中心点Cから各輪郭点までの距離diを次式をもつ
て算出して、画像メモリ43のエリアEへストア
する。
細を示す。まずステツプ110でマスク6内の字
画部分7を走査して輪郭線を構成する黒画素の座
標を抽出する。つぎに、第4図1,2に示す如
く、字画部分7を含むマスク6の1辺若しくは隣
接2辺につき、両端に位置する黒画素の点Q,R
を検出し、線分QR間の長さSを算出する。そし
てこの長さSが一定の条件を充足するとき、つぎ
のステツプ111で線分QRの中心点Gの相対座
標(x0,y0)を算出する。ついでステツプ112
において、字画部分7の各輪郭点の相対的座標を
(xi,yi)(但しi=1,2……,n)とすると、
中心点Cから各輪郭点までの距離diを次式をもつ
て算出して、画像メモリ43のエリアEへストア
する。
di=√(1−0)2+(1−0)2
d2=√(2−0)2+(2−0)2
di=√(−0)2+(−0)2
dn=√(−0)2+(−0)2
つぎにステツプ113において、上記の各距離
値中、その極大値Tを1乃至複数抽出する。今第
11図に示す如く、2個の極大値T1,T2を抽出
したと仮定すると、つぎのステツプ114の「極
大値複数個か」の判定が“YES”となり、ステ
ツプ115へ進み、極大点U1,U2間を結ぶ線分
の中点を特異点Pとして抽出する。一方1個の極
大値のみが抽出されたとき、ステツプ114の判
定が“NO”となり、ステツプ116でその極大
点を特異点Pとして抽出する。
値中、その極大値Tを1乃至複数抽出する。今第
11図に示す如く、2個の極大値T1,T2を抽出
したと仮定すると、つぎのステツプ114の「極
大値複数個か」の判定が“YES”となり、ステ
ツプ115へ進み、極大点U1,U2間を結ぶ線分
の中点を特異点Pとして抽出する。一方1個の極
大値のみが抽出されたとき、ステツプ114の判
定が“NO”となり、ステツプ116でその極大
点を特異点Pとして抽出する。
今特異点Pの相対的座標を(xi,yi)とする
と、つぎのステツプ117ではこの相対座標を画
面60における絶対座標(Xi,Yi)に変換する。
この絶対座標(Xi,Yi)は、画面60上におけ
るマスク6の始端点Z(第8図に示す)の絶対座
標を(i,j)、画面60の原点0の絶対座標
(1,1)とすると、次式で与えられる。
と、つぎのステツプ117ではこの相対座標を画
面60における絶対座標(Xi,Yi)に変換する。
この絶対座標(Xi,Yi)は、画面60上におけ
るマスク6の始端点Z(第8図に示す)の絶対座
標を(i,j)、画面60の原点0の絶対座標
(1,1)とすると、次式で与えられる。
Xi=i+xi−1
Yi=j+yi−1
上記の演算によつて、特異点Pの絶対座標が算
出され、かかる座標データは画像メモリ43のエ
リアDへストアされる。
出され、かかる座標データは画像メモリ43のエ
リアDへストアされる。
第1図は印鑑照合装置の構成を示す説明図、第
2図はカメラ装置の回路ブロツク図、第3図およ
び第4図1,2は特異点抽出方法を示す説明図、
第5図1〜8はマスク内のパターン例を示す説明
図、第6図および第7図は特異点抽出動作を示す
フローチヤート、第8図は座標変換の原理を示す
説明図、第9図および第10図はメモリ構成を示
す説明図、第11図は本発明にかかる特異点抽出
方法を示す説明図である。 6……マスク、P……特異点。
2図はカメラ装置の回路ブロツク図、第3図およ
び第4図1,2は特異点抽出方法を示す説明図、
第5図1〜8はマスク内のパターン例を示す説明
図、第6図および第7図は特異点抽出動作を示す
フローチヤート、第8図は座標変換の原理を示す
説明図、第9図および第10図はメモリ構成を示
す説明図、第11図は本発明にかかる特異点抽出
方法を示す説明図である。 6……マスク、P……特異点。
Claims (1)
- 1 画面上に画像化された図形から輪郭線が急峻
に変化する点を特異点として抽出する方法であつ
て、前記画像に対して矩形状視野をもつマスクを
設定し、マスク内を走査してマスク内のパターン
輪郭線およびマスク各辺と交叉する図形パターン
の端点を検出すると共に、端点間の中点からパタ
ーン輪郭線までの距離計算を実行した後、距離の
極大値を抽出し、然る後2以上の極大値が存在す
るとき、各極大点間の中点を特異点として抽出す
ることを特徴とする図形の特異点抽出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5102683A JPS59176879A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 図形の特異点抽出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5102683A JPS59176879A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 図形の特異点抽出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59176879A JPS59176879A (ja) | 1984-10-06 |
JPH0460267B2 true JPH0460267B2 (ja) | 1992-09-25 |
Family
ID=12875291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5102683A Granted JPS59176879A (ja) | 1983-03-25 | 1983-03-25 | 図形の特異点抽出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59176879A (ja) |
-
1983
- 1983-03-25 JP JP5102683A patent/JPS59176879A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59176879A (ja) | 1984-10-06 |
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