JPH0454446A - Eddy current flaw detecting device - Google Patents

Eddy current flaw detecting device

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JPH0454446A
JPH0454446A JP16540990A JP16540990A JPH0454446A JP H0454446 A JPH0454446 A JP H0454446A JP 16540990 A JP16540990 A JP 16540990A JP 16540990 A JP16540990 A JP 16540990A JP H0454446 A JPH0454446 A JP H0454446A
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JP
Japan
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probe
axis
rotating frame
eddy current
subject
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JP16540990A
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Japanese (ja)
Inventor
Masashi Mizuno
正志 水野
Toshio Endo
敏夫 遠藤
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Daido Steel Co Ltd
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Daido Steel Co Ltd
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Publication of JPH0454446A publication Critical patent/JPH0454446A/en
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Abstract

PURPOSE:To accurately detect a lengthwise flaw of a body to be inspected which has section other than circular one by using an adjusting means which holds a probe and the surface of the body to be inspected at a constant distance. CONSTITUTION:A cam 15 makes one rotation when a rotary frame 12 makes one rotation. Then the outer peripheral shape of the cam 15 is made to correspond to the sectional shape of the body 11 to be inspected and then the probe 13 makes a scan plotting a track as shown by a dotted line. Namely, the probe 13 is held at the constant distance to the opposite surface of the body 11 to be inspected at any angle of rotation of the rotary frame 12. Then if there is a flaw on the surface of the body 11 to be inspected, an induced current which flows through the coil of the probe 13 varies, so that the flaw is detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属材料からなる長尺被検体表面の疵を検出す
る渦流探傷装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an eddy current flaw detection device for detecting flaws on the surface of a long object made of a metal material.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

鋼鉄、アルミニウム等の金属材料からなる長尺被検体表
面の疵を検出する方法の一つとして、渦流探傷方法があ
る。該渦流探傷方法とは金属等の導体に交流を流したコ
イルを近付けると、該コイルには渦電流と呼ばれる誘導
電流が発生するが、該導体表面に疵等の欠陥があると、
該コイルに該渦電流の電流の流れ方が変化する現象を利
用した方法である。上記渦流探傷方法は具体的にはプロ
ーブと呼ばれるコイルを金属材料からなる被検体表面に
一定の距離を介して走査することにより行なわれる。
Eddy current flaw detection is one of the methods for detecting flaws on the surface of a long object made of metal materials such as steel and aluminum. What is the eddy current flaw detection method? When a coil carrying an alternating current is brought close to a conductor such as metal, an induced current called an eddy current is generated in the coil, but if there is a defect such as a flaw on the surface of the conductor,
This method utilizes the phenomenon that the way the eddy current flows through the coil changes. Specifically, the eddy current flaw detection method described above is carried out by scanning a coil called a probe over a fixed distance over the surface of a test object made of a metal material.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来は金属材料からなる断面円形の長大被検体表面を渦
流探傷方法によって探傷する場合には、第12図に示す
ように該被検体(1)の軸Aと直交する面内において、
該被検体(1)を囲繞し該軸Aを中心として回転する回
転枠(2)にプローブ(3)を支持し、該被検体(1)
を軸方向に送りつシ該回転枠(2)を回転させることに
よって、該プローブ(3)を該被検体(1)の対向表面
と一定の距離を保持して走査する装置が用いられていた
Conventionally, when testing the surface of a long object with a circular cross section made of a metal material using the eddy current flaw detection method, as shown in FIG. 12, in a plane perpendicular to the axis A of the object (1),
A probe (3) is supported on a rotating frame (2) that surrounds the subject (1) and rotates around the axis A, and
A device was used in which the probe (3) was scanned by keeping the probe (3) at a fixed distance from the surface facing the object (1) by rotating the rotating frame (2) while feeding the probe (3) in the axial direction. .

しかしながら例えば断面が四隅にR(アール)を有する
正方形状である被検体では上記装置によればプローブと
被検体の対向表面との距離が一定にならない、そこで第
13図イ9口に示すように該被検体(11)を矢印a方
向に送りつN面部(11)Aは該面部(11)Aと所定
距離を介して平行な面内で面部(11)Aの巾Wを直径
とする円(矢印すて示す)軌道上で走査せしめられるプ
ローブ(3)Aにより探傷し、丸角部(11)Bは該丸
角部(11)8表面形状に適合する内面形状を有する鞍
型プローブ(3)Bを該丸角部(11)8表面と一定の
距離を介して配置することにより探傷する方法がとられ
ていた。
However, for example, in the case of a test object whose cross section is square with R (R) at the four corners, the distance between the probe and the facing surface of the test object is not constant according to the above device, so as shown in FIG. While sending the subject (11) in the direction of the arrow a, the N surface part (11)A is a circle whose diameter is the width W of the surface part (11)A in a plane parallel to the surface part (11)A at a predetermined distance. Flaws are detected by a probe (3) A that is scanned on the orbit (as indicated by the arrow), and the rounded corner part (11) B has a saddle-shaped probe ( 3) A method of flaw detection has been taken in which B is placed at a certain distance from the surface of the rounded corner (11) 8.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記従来の渦流探傷装置にあっては、プ
ローブ(3)Aは被検体(11)の面部(11)Aに沿
う円軌道上で走査せしめられるので、該被検体(11)
の長手方向の線状疵に対してプローブ(3)Aの走査方
向が直角に交わらない部分が存在して、該軸方向の傷が
正確に検出出来ないこと、プローブ(3)Bにあっては
その走査方向が被検体(11)の長手方向の線状疵とは
全く平行であるから、該線状疵を検出することは出来な
いこと、被検体(11)の全周面について探傷を行うに
はプローブ(3)Aが4個、プローブ(3)Bが4個の
計8個のプローブが必要であり、更にプローブ(3)A
を回転させる走査手段が4個必要となる。
However, in the above-mentioned conventional eddy current flaw detection device, the probe (3)A is scanned on a circular trajectory along the surface portion (11)A of the object (11).
There are parts where the scanning direction of probe (3) A does not intersect at right angles to the linear flaws in the longitudinal direction of the probe (3), and the flaws in the axial direction cannot be detected accurately. The scanning direction is completely parallel to the linear flaw in the longitudinal direction of the object (11), so the linear flaw cannot be detected. To do this, a total of 8 probes, 4 probes (3) A and 4 probes (3) B, are required.
Four scanning means are required to rotate the .

このように従来の渦流探傷装置にあっては、円形以外の
断面形状を有する被検体に対して一個の探傷装置を適用
しようとする場合には、該探傷装置に多数のプローブ、
および該プローブの走査手段を備えることが必要になり
、装置の機構が複雑になっていた。したがって、このよ
うな複雑な機構を有する探傷装置を用いる代りに、小数
のプローブを有する簡単な構造の探傷装置を用いて該被
検体の全表面を探傷可能とすることが求められていた。
As described above, in conventional eddy current flaw detection equipment, when one flaw detection equipment is to be applied to a test object having a cross-sectional shape other than circular, it is necessary to use a large number of probes,
Moreover, it is necessary to provide a scanning means for the probe, making the mechanism of the apparatus complicated. Therefore, instead of using a flaw detection device having such a complicated mechanism, it has been desired to be able to detect flaws on the entire surface of the object using a flaw detection device having a simple structure and having a small number of probes.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は上記従来の課題を解決する手段として、金属材
料からなる長尺被検体(11)の軸Aと直交する面内に
おいて、該被検体(11)を囲繞し該軸を中心として回
転する回転枠(12) 、 (22) 、 (32)と
2該回転枠(12) 、 (22) 、 (32)に該
軸Aの放射線上に移動可能に取付けられているプローブ
(13) 、 (23) 、 (33)と、該プローブ
(13) 、 (23) 、 (33)と該被検体(1
1)対向表面との距離を一定に保持するように該プロー
ブ(13) 、 (23) 、 (33)を移動せしめ
る調整手段とからなる渦流探傷装置を提供するものであ
り(第1図〜第6図参照)、該調整手段としては該被検
体(11)の断面形状に対応した形状を有するカム(1
5) 、 (25)によって該プローブ(13)、 (
23)を被検体(11)の軸Aの放射線上で移動せしめ
る手段、および移動用モーター(33)Jにより該プロ
ーブ(33)を該放射線上で移動せしめ、更に首振り用
モーター(33)Dにより、該プローブ(33)の先端
面と該被検体(11)対向表面とを平行にする手段等が
提供される。
As a means to solve the above-mentioned conventional problems, the present invention surrounds a long object (11) made of a metal material in a plane orthogonal to the axis A of the object (11) and rotates around the axis. Rotating frames (12), (22), (32) and probes (13), (2) movably attached to the rotating frames (12), (22), (32) on the radial line of the axis A; 23), (33), the probe (13), (23), (33), and the analyte (1).
1) An eddy current flaw detection device is provided, which comprises adjusting means for moving the probes (13), (23), and (33) so as to maintain a constant distance from the opposing surface (see Figs. 1 to 3). 6), the adjusting means includes a cam (1) having a shape corresponding to the cross-sectional shape of the subject (11).
5), (25) according to the probe (13), (
means for moving the probe (23) on the radiation of the axis A of the subject (11), a means for moving the probe (33) on the radiation by a movement motor (33)J, and a swinging motor (33)D This provides means for making the distal end surface of the probe (33) parallel to the surface facing the subject (11).

〔作用〕 金属材料からなる長尺被検体(11)の軸Aと直交する
面内において、該被検体(1])を囲繞する回転枠(1
2) 、 (22) 、 (32)を回転せしめれば、
該回転枠(12) 、 (22) 、 (32)に取り
付けられているプローブ(13) 、 (23) 、 
(33)も該軸Aを中心として該被検体(11)の回り
に回転する。そして調整手段によって該プローブ(13
) 、 (23) 、 (33)を該軸Aの放射線方向
に移動させて、該プローブ(13) 、 (23) 、
 (33)と該被検体(11)の対向表面との距離を一
定に保持する。
[Operation] In a plane perpendicular to the axis A of the elongated object (11) made of a metal material, the rotating frame (1) surrounding the object (1)
2) If we rotate , (22) and (32), we get
Probes (13), (23), attached to the rotating frames (12), (22), (32),
(33) also rotates around the subject (11) about the axis A. Then, the adjustment means adjusts the probe (13
), (23), (33) in the radial direction of the axis A, the probes (13), (23),
(33) and the opposing surface of the subject (11) is maintained constant.

該調整手段がカム(15) 、 (25)の場合には該
プローブ(13) 、 (23)はカム形状にならって
該放射線上で移動し、該調整手段が移動用モーター(3
3)Jと首振り用モーター(33)Dの場合には、モー
ター制御部(36)によって移動用モーター(33)J
を作動させ該プローブ(33)を該放射線上で移動させ
、かつ首振り用モーター(33)Dによって該プローブ
(33)を長尺被検体(11)の軸と平行な軸(33)
Cを中心として回転させる。
When the adjusting means is a cam (15), (25), the probe (13), (23) moves on the radiation line following the shape of the cam, and the adjusting means is moved by a moving motor (3).
3) In the case of the swing motor (33) D, the movement motor (33) J is controlled by the motor control section (36).
is actuated to move the probe (33) on the radiation, and the swing motor (33)D moves the probe (33) to an axis (33) parallel to the axis of the long subject (11).
Rotate around C.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

したがって本発明においては1個のプローブによって円
形以外の断面形状を有する被検体が有する長手方向の疵
を正確に探知することが出来るから、探傷装置の構造が
極めて簡単になり、実用性の高いものとなる。
Therefore, in the present invention, since longitudinal flaws in a specimen having a cross-sectional shape other than circular can be accurately detected using a single probe, the structure of the flaw detection device is extremely simple and highly practical. becomes.

〔実施例〕〔Example〕

第1図および第2図に本発明の第1実施例を示す。図に
おいて、(12)はリング状の回転枠であり、該回転枠
(12)は軸筒(12)Aを介して固定盤(14)に回
転可能に支持されており、該回転枠(12)は図示しな
い駆動装置によって軸筒(12)Aを介して−Aを中心
として矢印C方向に回転せしめられる。該回転枠(12
)の前面からはブラケット(12)Bが差出されており
、該ブラケット(12)Hにはプローブ(13)のロッ
ド(13)Aが摺動可能に支持されており、かくして該
プローブ(13)は軸Aの放射線上で移動可能になって
いる。そして該プローブ(13)はスプリング(13)
Hによって矢印d方向に付勢されている。
A first embodiment of the present invention is shown in FIGS. 1 and 2. FIG. In the figure, (12) is a ring-shaped rotating frame, and the rotating frame (12) is rotatably supported by a fixed plate (14) via a shaft tube (12)A. ) is rotated in the direction of arrow C around -A through the shaft tube (12)A by a drive device (not shown). The rotating frame (12
) A bracket (12)B is extended from the front surface of the probe (13), and a rod (13)A of the probe (13) is slidably supported on the bracket (12)H, thus allowing the probe (13) to is movable on the ray of axis A. And the probe (13) is connected to a spring (13).
It is urged in the direction of arrow d by H.

該回転枠(12)には更に回転軸(15)ムが回転可能
に支持されており、該回転枠(12)の前面側において
該回転軸(15)Aにはカム(15)が取付けられ、背
面側においてはギア(15)Bが取付けられ、該ギア(
15)Bは該固定盤(14)前面に取付けられているリ
ングギア(14)Aに噛合している。
A rotating shaft (15) A is further rotatably supported on the rotating frame (12), and a cam (15) is attached to the rotating shaft (15) A on the front side of the rotating frame (12). , gear (15) B is attached to the rear side, and the gear (
15) B meshes with the ring gear (14) A attached to the front surface of the stationary plate (14).

上記構成の探傷装置において、鋼鉄、アルミニウム等の
金属からなる断面丸角正方形の長尺被検体(11)表面
を探傷するには、該被検体(11)を該回転枠(12)
の軸筒(12)A内に送り込み、かつ図示しない駆動装
置によって軸筒(12)Aを介して該回転枠(12)を
矢印C方向に回転させる。該回転枠(12)の軸Aは該
被検体(11)の軸と一致しており、該回転枠(12)
はかくして軸Aに直交する面内において回転する。該回
転枠(12)を回転させるとそれにともなって該固定盤
(14)のリングギア(14)Aに噛合しているギア(
15)Bおよび回転軸(15)Aを介してカム(15)
が第1図矢印e方向に回転する。該リングギア(14)
Aと該ギア(15)Bとのギア比を1:1にとれば該カ
ム(15)は該回転枠(12)が1回転すると1回転す
ることになる。該カム(15)の回転にともない、該プ
ローブ(13)はロッド(13)Aが該カム(15)の
外周に押されることにより軸Aの放射線上で移動する。
In the flaw detection apparatus having the above configuration, in order to detect flaws on the surface of an elongated test object (11) made of metal such as steel or aluminum and having a square cross section with round corners, the test object (11) is moved to the rotary frame (12).
into the shaft tube (12) A, and the rotary frame (12) is rotated in the direction of arrow C via the shaft tube (12) A by a drive device (not shown). The axis A of the rotating frame (12) coincides with the axis of the subject (11), and the rotating frame (12)
It thus rotates in a plane perpendicular to axis A. When the rotating frame (12) is rotated, the gear (14) meshing with the ring gear (14) A of the stationary plate (14) is rotated.
15) Cam (15) via B and rotating shaft (15) A
rotates in the direction of arrow e in FIG. The ring gear (14)
If the gear ratio between A and the gear (15) B is 1:1, the cam (15) will rotate once when the rotating frame (12) rotates once. As the cam (15) rotates, the probe (13) moves on the radial line of the axis A as the rod (13) A is pushed against the outer periphery of the cam (15).

そして該カム(15)の外周形状を該被検体(11)の
断面形状に対応させることにより、プローブ(13)は
第1図点線に示すような軌跡を画いて走査される。即ち
プローブ(13)は回転枠(12)の如何なる回転角度
においても、被検体(11)の対向表面と一定の距離を
保持する。そして該被検体(11)表面に疵が存在する
と、プローブ(13)であるコイルを流れる誘導電流に
変動が起って該疵が検知される。
By making the outer peripheral shape of the cam (15) correspond to the cross-sectional shape of the subject (11), the probe (13) is scanned along a trajectory as shown by the dotted line in FIG. That is, the probe (13) maintains a constant distance from the opposing surface of the subject (11) at any rotation angle of the rotating frame (12). If a flaw exists on the surface of the object (11), the flaw is detected by fluctuations in the induced current flowing through the coil, which is the probe (13).

第3図および第4図に本発明の第2実施例を示す1図に
おいて、(22)はリング状の回転枠であり。
In FIGS. 3 and 4 showing a second embodiment of the present invention, (22) is a ring-shaped rotating frame.

該回転枠(22)は軸筒(22)Aを介して固定盤(2
4)に回転可能に支持されており、該回転枠(22)は
図示しない駆動装置によって軸筒(22)Aを介して軸
Aを中心として矢印f方向に回転せしめられる。該回転
枠(22)の前面からはブラケット(22)Bが差出さ
れており、該ブラケット(22)Hにはプローブ(23
)のロッド(23)Aが摺動可能に支持されており、か
くして該プローブ(23)は軸Aの放射線上で移動可能
になっている。そして該プローブ(23)はスプリング
(23)Bによって矢印g方向に付勢されている。
The rotating frame (22) is connected to the fixed platen (2) via the shaft cylinder (22)A.
4), and the rotating frame (22) is rotated in the direction of arrow f about the axis A via the shaft tube (22) A by a drive device (not shown). A bracket (22)B is extended from the front surface of the rotating frame (22), and a probe (23) is attached to the bracket (22)H.
) is slidably supported on the rod (23)A, so that the probe (23) is movable in the radial direction of the axis A. The probe (23) is urged in the direction of arrow g by a spring (23)B.

該回転枠(22)の前側にはリング状のカム(25)が
配置され、該カム(25)はアーム(26)を介して固
定型(24)に支持されており、該カム(25)の内周
には該プローブ(23)のロッド(23)Aの先端に取
り付けられている軸受け(23)Cに回転可能に支持さ
れているコロ(23)Dが当接している。
A ring-shaped cam (25) is arranged on the front side of the rotating frame (22), and the cam (25) is supported by a fixed mold (24) via an arm (26). A roller (23) D rotatably supported by a bearing (23) C attached to the tip of the rod (23) A of the probe (23) is in contact with the inner periphery of the probe (23).

上記構成の探傷装置において、第1実施例と同様に被検
体(11)を該回転枠(22)の軸筒(22)A内に送
り込み、かつ図示しない駆動装置によって軸筒(22)
Aを介して該回転枠(22)を矢印f方向に回転させる
。該回転枠(22)の軸Aは該被検体(11)の軸と一
致しており、該回転枠(22)は第1実施例と同様に軸
Aに直交する面内において回転する。該回転枠(22)
の回転にともない、該プローブ(23)のロッド(23
)Aのコロ(23)Dを介して該カム(25)の内周に
押されることにより軸Aの放射線上で移動する。
In the flaw detection device having the above configuration, the object (11) is fed into the shaft tube (22) A of the rotary frame (22) as in the first embodiment, and the shaft tube (22) is moved by a drive device (not shown).
The rotating frame (22) is rotated in the direction of arrow f via A. The axis A of the rotating frame (22) coincides with the axis of the subject (11), and the rotating frame (22) rotates in a plane perpendicular to the axis A, as in the first embodiment. The rotating frame (22)
As the rod (23) of the probe (23) rotates, the rod (23
)A moves on the radial line of axis A by being pushed by the inner periphery of the cam (25) via rollers (23)D.

そして該カム(25)の内周形状を該被検体(11)の
断面形状に対応させることにより、プローブ(23)は
第3図点線に示すような軌跡を画いて走査され、被検体
(11)の対向表面と一定の距離を保持して、該被検体
(11)の表面の疵を検出する。
By making the inner peripheral shape of the cam (25) correspond to the cross-sectional shape of the subject (11), the probe (23) is scanned along a trajectory as shown in the dotted line in Figure 3, ) to detect flaws on the surface of the object (11).

第5図および第6図に本発明の第3実施例を示す0図に
おいて、(32)はリング状の回転枠であり、該回転枠
(32)は軸筒(32)Aを介して固定盤(34)に回
転可能に支持されており、該回転枠(32)は図示しな
い駆動装置によって軸筒(32)Aを介して軸Aを中心
として矢印り方向に回転せしめられる。該回転枠(32
)の前面にはプローブ(33)およびモーター制御部(
36)が配置され、背面において被検体(11)進行方
向のや5前よりにはセンサ(35)が配置され、該プロ
ーブ(33)はピニオン(33)Bが取付けられて軸A
と平行な軸(33)Cを介して支持枠(33)Aに回転
可能に支持されており、該支持枠(33)Aには更に首
振り用モーター(33)Dが支持されており、該首振り
用モーター(33)Dの軸には該プローブ(33)のピ
ニオン(33)Bに噛合するウオームギア(33)Eが
取付けられている。該支持枠(33)Aには該回転枠(
32)前面にガイドレール(33)Fを介して軸Aの放
射線上に移動可能に取付けられており、該支持枠(33
)A上面からはスクリュー(33)Gが延設せられ。
In FIG. 0 showing the third embodiment of the present invention in FIGS. 5 and 6, (32) is a ring-shaped rotating frame, and the rotating frame (32) is fixed via a shaft cylinder (32) A. The rotary frame (32) is rotatably supported by a disk (34), and the rotary frame (32) is rotated in the direction indicated by the arrow around the axis A via the shaft tube (32) A by a drive device (not shown). The rotating frame (32
) The probe (33) and motor control unit (
36) is arranged, and a sensor (35) is arranged on the back side a little further forward in the direction of movement of the subject (11), and the probe (33) has a pinion (33) B attached to it and is connected to the axis A.
It is rotatably supported by a support frame (33)A via an axis (33)C parallel to the above, and a swinging motor (33)D is further supported by the support frame (33)A. A worm gear (33)E that meshes with the pinion (33)B of the probe (33) is attached to the shaft of the swing motor (33)D. The support frame (33)A has the rotation frame (
32) It is movably attached to the front surface via a guide rail (33)F on the radial line of the axis A, and the support frame (33)
) A screw (33) G is extended from the top surface of A.

該スクリュー(33)Gは軸受け(33)H,(33)
Iによって該放射線上に移動可能に支持されている。更
に該回転枠(32)前面には移動用モーター(33)J
が取付けられ、該移動用モーター(33)Jの軸のピニ
オン(33)Kは、軸(33)Mが回転枠(32)前面
に取付けられている軸受け(33)N、 (33)Pに
回転可能に支持されているウオームギア(33)Lと同
軸のピニオン(33)Qに噛合している。そしてセンサ
(35)はモーター制御部(36)の入力側に接続し、
モーター(33)D、 (33)Jは該モーター制御部
(36)の出力側に接続している。
The screw (33)G is a bearing (33)H, (33)
I is movably supported on the ray. Furthermore, a moving motor (33) J is mounted on the front of the rotating frame (32).
is attached, and the pinion (33)K of the shaft of the moving motor (33)J is connected to the bearings (33)N and (33)P with the shaft (33)M attached to the front surface of the rotating frame (32). It meshes with a pinion (33) Q that is coaxial with a worm gear (33) L that is rotatably supported. The sensor (35) is connected to the input side of the motor control section (36),
Motors (33)D and (33)J are connected to the output side of the motor control section (36).

上記構成の探傷装置において、第1実施例および第2実
施例と同様に被検体(11)を該回転枠(32)の軸筒
(32)A内に送り込み、かつ図示しない駆動装置によ
って軸筒(32)Aを介して該回転枠(32)を矢印り
方向に回転させる。モーター制御部(36)は被検体(
11)の断面形状寸法に応じて設定されたプログラムに
よってモーター(33)D、 (33)Jを駆動させる
。モーター(33)Dの駆動によってはウオームギア(
33)E、ピニオン(33)Bを介してプローブ(33
)は第5図矢印i方向に回動して首振り運動を行ない、
モーター(33)Jの駆動によってはピニオン(33)
K、(33)Q、ウオームギア(33)L、およびスク
リュー(33)Gを介し、ガイドレール(33)Fに沿
って、プローブ(33)は第5図および第6図矢印j方
向(軸Aの放射線上)に移動する。したがって該プロー
ブ(33)は該モーター(33)Jによって被検体(1
1)の対向表面と一定距離を保持するようにされ、モー
ター (33)Dによって該プローブ(33)の先端面
が被検体(11)の対向表面と平行になるようにされる
。しかし該被検体(11)の断面形状寸法がモーター制
御部(36)の設定プログラムからはずれた時はセンサ
(35)によって被検体(11)の対向表面との距離を
測定してモーター制御部(36)を介して移動用モータ
ー (33)Jを作動させ、プローブ(33)と被検体
(11)の対向表面との距離を補正する。なお該センサ
(35)としては通常渦流式のものが用いられる。
In the flaw detection apparatus having the above configuration, the object (11) is fed into the shaft tube (32)A of the rotating frame (32) as in the first and second embodiments, and the shaft tube is driven by a drive device (not shown). (32) Rotate the rotating frame (32) in the direction of the arrow via A. The motor control unit (36) controls the subject (
The motors (33)D and (33)J are driven according to a program set according to the cross-sectional shape and size of the motor (33)D and (33)J. Depending on the drive of the motor (33)D, the worm gear (
33)E, probe (33) via pinion (33)B
) rotates in the direction of arrow i in Figure 5 to perform a swinging motion,
Depending on the drive of the motor (33) J, the pinion (33)
K, (33) Q, worm gear (33) L, and screw (33) G, along the guide rail (33) F, the probe (33) moves in the direction of arrow j (axis A) in FIGS. (on the radiation of). Therefore, the probe (33) is moved to the subject (1) by the motor (33)J.
The distal end surface of the probe (33) is kept parallel to the opposing surface of the subject (11) by the motor (33)D. However, when the cross-sectional shape and dimensions of the object (11) deviate from the setting program of the motor control section (36), the sensor (35) measures the distance to the opposing surface of the object (11), and the motor control section ( The moving motor (33)J is operated via the probe (36) to correct the distance between the probe (33) and the facing surface of the subject (11). Note that a vortex type sensor is usually used as the sensor (35).

本実施例では上記のようにプローブ(33)が被検体(
11)の対向表面と一定距離を保持するに加えてプロー
ブ(33)の先端面が該被検体(11)の対向表面と平
行になるので、被検体(11)表面の疵は極めて精度よ
く検出される。
In this example, as described above, the probe (33) is connected to the subject (
In addition to maintaining a constant distance from the opposing surface of the object (11), the tip of the probe (33) is parallel to the opposing surface of the object (11), so flaws on the surface of the object (11) can be detected with extremely high accuracy. be done.

本実施例において、例えば被検体(11)の−辺の長さ
Lが150m、丸角部の半径Rが25mである場合、回
転枠(32)の回転部とプローブ(33)の矢印j方向
の移動量および矢印i方向の首振り量とは第7図のよう
に設定される。図中回転角0°とは第5図に示すセンサ
(35)が被検体(11)の真上に来た場合である。第
7図に示すように回転角90°毎にプローブ(33)は
j方向にストローク20゜7閣の往復運動を行い、±3
4°の首振りを行なうように設定されており、被検体(
11)の送り速度(探傷速度)を10m/分とし、チャ
ンネル数4として探傷ピッチを101とすれば、回転枠
(32)の回転速度は略4 rpsとなり、運動周波数
は16七となる。したがってj方向の移動速度は660
■/s、i方向の首振り速度は22oO°/Sとなる。
In this embodiment, for example, if the length L of the negative side of the object (11) is 150 m and the radius R of the rounded corner is 25 m, the rotating part of the rotating frame (32) and the probe (33) in the direction of arrow j The amount of movement and the amount of swing in the direction of arrow i are set as shown in FIG. In the figure, a rotation angle of 0° means that the sensor (35) shown in FIG. 5 is located directly above the subject (11). As shown in Fig. 7, the probe (33) performs a reciprocating motion of a stroke of 20 degrees in the j direction at every 90 degrees of rotation angle, and ±3
It is set to perform a 4° oscillation, and the subject (
If the feed rate (flaw detection speed) of 11) is 10 m/min, the number of channels is 4, and the flaw detection pitch is 101, then the rotation speed of the rotating frame (32) is approximately 4 rps, and the motion frequency is 167. Therefore, the moving speed in the j direction is 660
■/s, the swing speed in the i direction is 22oO°/s.

本発明に用いられるプローブ(33)としては第8図イ
2口に示すようにフェライトまたは珪素鋼等の磁性体か
らなる左右一対の鉄芯(331)A、 (331)Hの
外周に夫々コイル(332)A、 (332)Bを嵌着
し、更にその外側をカバー(333)で覆った構成のも
のが用いられるが、前記首振り機構を省き、精度良く探
傷するには、第9図に示すようにプローブ(33)の先
端面、即ち鉄芯(331)A、 (331)Bを左右両
縁にかけて円弧形状に面取り(334)A、 (334
)B L、でもよく、また第10図に示すように直線状
に面取り(335)A 、 (335)B してもよく
、更にまた第11図に示すように円形状(334)A、
 (334)Bに続いて、直線状(335)A、(33
5)Bに面取りしてもよい、またカバー(333)は鉄
芯(331)A、 (331)Hの下端まで被覆されて
もよい。4、図面の簡単な説明 第1図および第2図は本発明の第1実施例を示すもので
あり、第1図は正面図、第2図は第1図におけるA−A
断面上半図、第3図および第4図は本発明の第2実施例
を示すものであり、第3図は正面図、第4図は第3図に
おけるB−B断面上半図、第5図および第6図は本発明
の第3実施例を示すものであり、第5図は正面図、第6
図は第5図におけるC−C断面上半図、第7図は回転部
に対するセンサの運動量を示すグラフ、第8図イ。
The probe (33) used in the present invention has a pair of left and right iron cores (331)A and (331)H made of a magnetic material such as ferrite or silicon steel, each having a coil attached to its outer periphery, as shown in Figure 8 (A). (332)A and (332)B are fitted, and the outside thereof is covered with a cover (333), but in order to omit the swinging mechanism and perform flaw detection with high accuracy, the As shown in the figure, the tip surface of the probe (33), that is, the iron cores (331)A, (331)B, are chamfered in an arc shape on both the left and right edges (334)A, (334).
)B L, or linear chamfers (335)A, (335)B as shown in FIG. 10, or circular chamfers (334)A, (334)A, as shown in FIG.
Following (334)B, linear (335)A, (33
5) B may be chamfered, and the cover (333) may cover the lower ends of the iron cores (331)A and (331)H. 4. Brief description of the drawings Figures 1 and 2 show a first embodiment of the present invention, with Figure 1 being a front view and Figure 2 taken along line A-A in Figure 1.
3 and 4 show a second embodiment of the present invention, FIG. 3 is a front view, and FIG. 5 and 6 show a third embodiment of the present invention, with FIG. 5 being a front view and FIG.
The figures are an upper half view of the CC cross section in FIG. 5, FIG. 7 is a graph showing the amount of movement of the sensor with respect to the rotating part, and FIG. 8A.

口はプローブの説明図、第9図はプローブの他の実施例
の説明図、第10図はプローブの更に他の実施例の説明
図、第11図はプローブの更に他の実施例の説明図、第
12図は従来例の縦断面図、第13図は他の従来例を示
すものでイは部分平面図1口は縦断面図である。
The mouth is an explanatory diagram of a probe, FIG. 9 is an explanatory diagram of another embodiment of the probe, FIG. 10 is an explanatory diagram of yet another embodiment of the probe, and FIG. 11 is an explanatory diagram of yet another embodiment of the probe. , FIG. 12 is a longitudinal cross-sectional view of a conventional example, and FIG. 13 is a partial plan view of another conventional example.

図中、(11)・・・・・被検体。In the figure, (11)...subject.

(12) 、 (22) 、 (32)・・・・・回転
枠、(13) 、 (23) 、 (33)・・・・・
プローブ、(15) 、 (25)・・・・・カム、(
33)D・・・・首振り用モーター (33)J・・・・移動用モーター A・・・・・軸 第3図 特許出願人 大同特殊鋼株式会社 ←B 第40 第5同 第11図 334A 34B 明細書
(12), (22), (32)... Rotating frame, (13), (23), (33)...
Probe, (15), (25)...cam, (
33) D...Motor for swinging (33) J...Motor for movement A...Shaft Fig. 3 Patent applicant Daido Steel Co., Ltd.←B No. 40 No. 5 Fig. 11 334A 34B Specification

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、金属材料からなる長尺被検体の軸と直交する面内に
おいて、該被検体を囲繞し該軸を中心として回転する回
転枠と、該回転枠に該軸の放射線上に移動可能に取付け
られているプローブと、該プローブと該被検体対向表面
との距離を一定に保持するように該プローブを移動せし
める調整手段とからなることを特徴とする渦流探傷装置 2、該調整手段は該被検体の断面形状に対応した形状を
有するカムであり、該プローブは該回転枠の回転にとも
なって該カムにより該軸の放射線上で移動する特許請求
の範囲1に記載の渦流探傷装置 3、該調整手段は該プローブを該軸の放射線上で移動せ
しめる移動用モーターと、該プローブを前記該被検体の
該軸と平行な軸を中心として回転せしめる首振り用モー
ターと、該プローブ先端面と該被検体対向表面とが平行
になるように該首振り用モーターを作動させるモーター
制御部とからなる特許請求の範囲1に記載の渦流探傷装
置 4、該プローブの先端面において左右両縁にかけて面取
り部が形成されている特許請求の範囲1または2に記載
の渦流探傷装置
[Scope of Claims] 1. A rotating frame that surrounds the long subject made of a metal material and rotates around the axis in a plane orthogonal to the axis of the long subject, and a rotating frame that surrounds the subject and rotates around the axis; An eddy current flaw detection device 2 characterized by comprising a probe movably mounted on the top, and an adjusting means for moving the probe so as to maintain a constant distance between the probe and the surface facing the object. The adjusting means is a cam having a shape corresponding to the cross-sectional shape of the subject, and the probe moves on the radial line of the axis by the cam as the rotating frame rotates. The eddy current flaw detection device 3 includes a moving motor for moving the probe on a radiation line of the axis, and a swinging motor for rotating the probe about an axis parallel to the axis of the test object. The eddy current flaw detection device 4 according to claim 1, further comprising a motor control unit that operates the swinging motor so that the probe tip surface and the object-facing surface are parallel to each other, in the probe tip surface. The eddy current flaw detection device according to claim 1 or 2, wherein chamfered portions are formed over both left and right edges.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07151734A (en) * 1993-08-26 1995-06-16 Inst Dr F Foerster Pruefgeraet Gmbh Method and device for testing extending body having noncircular cross section

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07151734A (en) * 1993-08-26 1995-06-16 Inst Dr F Foerster Pruefgeraet Gmbh Method and device for testing extending body having noncircular cross section

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