JPH0454429A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、光源からの光パルスを被測定ファイバに入射
し、この被測定ファイバからの戻り光を検出することに
より、被測定ファイバの状態を観測する光パルス試験器
における特性の改良に関するものである。

「従来の技術」 近年、ダイナミックレンジを改良するため、符号列の自
己相関に基づいて符号圧縮を行う光パルス試験器が検討
されている。この光パルス試験器において用いられる符
号列としては、現在、以下に示す式■を満たす唯一の符
号であるゴーレー符号が知られている。

尚、ゴーレー符号の詳細については、Ｍ、Ｎａｚａｒａ
ｔｈｙその他が表し１コ”Ｒｅａｌ−ｔｉｍｅ　ｌｏｎ
ｇ　ｒａｎｇｅ　ｃｏｗｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ　ｃａｒ
ｒｅｌａｔｉｏｎ　ｏｐｔｉｃａｌ　　ｔｉｍｅ　ｄｏ
ｍａｉｎｒｅｆｌｅｃｔｏｓｅｔｅｒ　　　（ＩＥＥＥ
　　Ｊｏｕｒｎａｌ　　ｏｆ　　ＬｉｇｈｔｖａｖｅＴ
ｅｃｈｎｏｌｏｇｙ　ｖｏｌ、７．ｐｐ、２４−３８．
１９８９）を参照されたい。

ここで、第１図（ａ）および（ｂ）に８ビツトのゴーレ
ー符号列Ａ　＝　（２Ｌｄ＝　（１，１，１，−１，−
１，−１，１，−１）および符号列Ｂ　＝　（ｂ　＋）
＝　Ｈ，１，１，−１，１，１，−１，１）の自己相関
の一例を示す。以下、これらのパターンを一例として説
明を進める。尚、第１図（ｃ）は、符号列Ａと符号列Ｂ
とを式■に代入した場合の演算結果である。

次に、第２図に従来例として第１図に示した８ビツトの
ゴーレー符号を用いた光パルス試験器の構成ブロック図
を示す。第２図において、１は光源であり、この光源ｌ
からはパルスパターン発生器８の発生するパルスパター
ンの符号ｒＯＪ、ｒｌＪに従って光の振幅０．Ａ、にＡ
　Ｓ　Ｋ　（ＡＩＩｌｐｌｉｔｕｄｅ　５ｈｉＨＫｅｙ
ｉｎｇ）変調された光パルス列が送信される。

そして、送信パルスは、光ファイバｌＯおよび先カップ
ラ２を介して被測定ファイバ７に入射される。尚、パル
スパターン発生器８からは、上述したゴーレー符号列Ａ
およびＢに基づいて、以下に示す式■〜■に従って生成
される四つの符号列Ｕ＾、υ２．Ｕ″、ＵＢが出力され
る。

ＵＡ＝　（ｕ　Ａｉ）＝（＋　＋　ｉｔ　＋）／　２＝
　（１，１，１，０，０，０，１，０）　　　　　　　
　　　■ＵＡ＝　（ｕ　Ａ１）＝　（１−ａ　１）／　
２＝　（００，０，１，１，１゜０．１）　　　　　　
　　　　■υ””　（ｕ　”Ｉ）＝　（１＋　ｂ　＋）
／　２＝　（１，１，１，０，１，１，０，１）　　　
　　　　　　　■Ｕ　Ｂ＝　［ｕ　！ｌ＋）＝　（１ｂ
　＋）／　２＝　（０，０，０，１，０，０，１，０）
　　　　　　　　　　０次に、被測定光ファイバ７から
戻ってき１こフレネル反射光や後方散乱光（受信光）は
、光カップラ２および光ファイバ１１を介して受光器３
によって受光される。その結果、受光器３によって受光
されに後方散乱光は、光／電気変換されて電気信号とな
り、サンプリング装置４に導かれる。

尚、サンプリング装置４およびパルスパターン発生器８
の動作タイミングは、タイミノグ発生器９により制御さ
れる。

ここで、パルス幅τの単発パルスを被測定ファイバ７に
入射した時に、受光器３が受光する後方散乱光をＰ　、
（ｔ）とし、受光器３の受光感度をＲとすると、受光器
３の出力する後方散乱信号の強度ｈ　（ｔ）は以下に示
す式■で表される。

ｈ　（ｔ）＝　Ｒ−Ｐ　、（ｔ）　　　　　　　　　　
■このとき、符号列ＵＡに基づいた光パルス列に対する
後方散乱信号の強度ｘ　Ａ（ｔ）は、第３図および式■
に示すように、最初のパルスによる後方散乱光および最
初のパルスからτ秒後、２丁秒後、６丁秒後のそれぞれ
の時間経過後に被測定ファイバ７に入射したパルスによ
る後方散乱光の和で表される。また、符号列ＵＡ、ＵＢ
、Ｕ”に対する後方散乱信号の強度ｘ　Ａ（ｔ）、　ｘ
　ｌｌ（ｔ）、　ｘ　’（ｔ）も同様に表され、式で表
現すると以下に示す式■〜■となる。

ｘ　Ａ（ｔ）＝　ｈ　（ｔ）＋　ｈ　（ｔ−：）十　ｈ
（ｔ−２丁）＋　）］　　（］ｔ−６丁　　　　　　　
　　　　　■ｘ　　Ａ（ｔ）＝　　ｈ　　（ｔ−３：）
＋　　ｈ　　（ｔ−４＋）＋　ｈ　（ｔ−５り＋　ｈ　
（ｔ−７τ）　　　　　■ｘ　Ｂ（ｔ）＝　ｈ　（ｔ）
＋　ｈ　（ｔ−ｒ）十ｈ　（ｔ−２丁）十ｈ（ｔ−４τ
） ＋　ｈ　（ｔ−５τ）十ｈ　（ｔ−７τ）＠ｌｘ　”（
ｔ）＝　ｈ　（ｔ−３ｒ）＋　ｈ　（ｔ−６ｔ）　　　
　　　　　　０次に、サンプリング装置４においてサン
プリングされた受信信号は、信号処理装置５において平
均化され、以下に示す式＠〜■に従って相関処理が行わ
れる。

＝　　−ｈ　　（ｔ＋７ｒ）−ｈ　　（ｔ＋５ｔ）−３
ｈ　　（ｔ＋３ｒ）＋　　ｈ　　（を十τ）＋　　８　
　ｈ　　（Ｖ）十　ｈ　　（ｔ−τ）−３ｈ　（ｔ−３
ｒ）　−ｈ　（ｔ−５ｔ）　−ｈ　（ｔ−７＋）　　＠
＝　　ｈ　　（ｔ＋７＋）＋　　ｈ　　（ｔ＋５ｒ）＋
　　３　　ｈ　（ｔ＋３ｒ）ｈ　（ｔ＋ｒ）＋　８　ｈ
　（ｔ）−ｈ　（ｔ−τ）＋３　ｈ　（ｔ−３τ）＋　
ｈ　（Ｌ−５４）＋　ｈ　（ｔ−７丁）ｙ　（ｔ）＝　
ｙ　Ａ（ｔ）＋　ｙ　Ｂ（ｔ）＝Ｉ６ｈ（ｔ） ■ ■ そして、最終的に、信号処理装置５の出力ｙ　（ｔ）に
基づいて被測定ファイバ７の特性や破断点がどの位置に
あ・るか等をモニタ６等を用いて判断する。

このように、光パルス試験器においてＮビットのゴーレ
ー符号に基づく符号圧縮を適用することにより、単発の
パルスを用いた場合に比べて受信後の後方散乱信号の強
度が２Ｎ倍に拡大されることがわかる。

「発明が解決しようとする課題」 ところで、従来のゴーレー符号を用いた光パルス試験器
においては、後方散乱波形を観測するためには、４回パ
ルスパターンを送信する必要があるという欠点があった
。

本発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、符号圧
縮を適用した従来の光パルス試験器に対して、１回の後
方散乱波形を観測するのに必要な送信パルスパターンの
数を１／２に減らし、より効率的に後方散乱波形の観測
を行うことができる光パルス試験器を提供することを目
的としている。

「課題全解決するたぬの手段」 請求項１記載の発明は、光源からの光パルスを被測定フ
ァイバに入射し、前記被測定ファイバからの戻り光を検
出することにより前記被測定ファイバの状態を観測する
光パルス試験器において、狭スペクトル幅の出力光を発
生する光源と、該光源の出力光を２方向へ分岐する第１
の光カップラと、電気信号のｒｌＪ、ｒＯＪに従ってオ
ン、オフされ、前記第１の光カップラの第１のポートか
ら出力される光を入射してパルス化する光スイッチと、
該光スイッチから出力されるパルス光を電気信号のｒ＋
　Ｉ　Ｊ、ｒ−１ｊに従って位相０°と位相１８０°と
に位相変調する位相変調器と、該位相変調器から出力さ
れるパルス光を入射して前記被測定ファイバに導く第２
の光カップラと、該第２の光カップラを介して出力され
る前記被測定光ファイバからの戻り光を前記第１の光カ
ップラの第２のポートから出力される光と混合する第３
の光カップラと、該第３の光カップラから出力される混
合光を受光する受光器と、通常は「０」を出力し、測定
時刻に合わせて連続したＮ個の「１」を前記光スイッチ
に出力する第１のパルスパターン発生器と、「＋１」ま
たは「−１」のいずれかの値をとるＮ個の符号からなり
、式（１）の条件を満足する２種の符号列Ａ＝（ａｌ）
およびＢ＝（ｂｌ）（ｉ＝１．２．・・・、Ｎ）によっ
て表されるゴーレー符号列ＡおよびＢを別々の測定時刻
に合わせて前記位相変調器に出力する第２のパルス・パ
ターン発生器と、前記受光器から出力される後方散乱波
形信号のうち、前記符号列Ａに基づく後方散乱信号をｖ
Ａ（ｔ）とし、前記符号列Ｂに基づく後方散乱信号をｖ
　”（ｔ）としたとき、式（２）で表される信号処理を
施す信号処理手段とを具備することを特徴としている。

また、請求項２記載の発明は、光源からの光パルスを被
測定ファイバに入射し、前記被測定ファイバからの戻り
光を検出することにより前記被測定ファイバの状態を観
測する先パルス試験器において、狭スペクトル幅の出力
光を発生する光源と、該光源の出力光を２方向へ分岐す
る第１の光カップラと、電気信号のｒ　Ｉ　Ｊ、ｒＯＪ
Ｊ−Ｉ　Ｊに従って「位相０°でオン」汀オフ」、「位
相１８０°でオン」され、前記第】の光カップラの第１
のポートから出力される光を入射してパルス化する位相
変調光スイッチと、該位相変調光スイッチから出力され
るパルス光を入射して前記被測定ファイバに導く第２の
光カップラと、該第２の光カップラを介して出力される
前記被測定光ファイバからの戻り光を前記第１の光カッ
プラの第２のポートから出力される光と混合する第３の
光カップラと、該第３の光カップラから出力される混合
光を受光する受光器と、通常は「０」を出力し、別々の
測定時刻に合わせて「＋１」まｊ岨ｄｒ−１ｊのいずれ
かの値をとるＮ個の符号からなり、式（１）の条件を満
足する２種の符号列Ａ　’＝　（ａ　ｌ！およびＢ＝（
ｂＩ）（ｉ　＝　Ｉ　、２．−　・−Ｎ）によって表さ
れるゴーレー符号列ＡおよびＢを前記位相変調光スイッ
チに出力するパルスパターン発生器と、前記受光器から
出力される後方散乱波形信号のうち、前記符号列Ａに基
づく後方散乱信号をｖＡ（ｔ）とし、前記符号列Ｂに基
づく後方散乱信号をｖ　”（ｔ）としたとき、式（２）
で表される信号処理を施す信号処理手段とを具備するこ
とを特徴としている。

「作用」 請求項１記載の発明によれば、まず、光源の出力光は、
第１の光カップラにおいて２方向に分岐される。

そして、第１の光カップラの第１のポートから出力され
る光は、第１のパルスパターン発生器によってオン、オ
フされる光スイッチにおいてパルス化される。

次に、光スイッチから出力されるパルス光は、第２のパ
ルスパルス発生器から出力される符号列に従って位相変
調器において位相０°と位相１８０°とに位相変調され
た後、第２の光カップラを介して被測定ファイバに導か
れる。

そして、第２の光カップラを介して出力される被測定光
ファイバからの戻り光は、第３の光カップラにおいて第
１の光カップラめ第２のポートから出力される光と混合
される。

次に、第３の光カップラから出力される混合光は、受光
器において受光される。そして、受光器から出力される
後方散乱波形信号は、信号処理手段において所定の信号
処理が施される。

また、請求項２記載の発明によれば、まず、光源の出力
光は、第１の光カップラにおいて２方向に分岐される。

そして、第１の光カップラの第１のポートから出力され
る光は、パルス７くルス発生器から出力される符号列に
従って位相Ｏ゛でオン、オフおよび位相１８０°でオン
される位相変調光スイッチにおいてパルス化された後、
第２の光カップラを介して被測定ファイバに導かれる。

そして、第２の光カップラを介して出力される被測定光
ファイバからの戻り光は、第３の光カップラにおいて第
１の光カップラの第２のポートから出力される光と混合
される。

次に、第３の光カップラから出力される混合光は、受光
器において受光される。そして、受光器から出力される
後方散乱波形信号は、信号処理手段において所定の信号
処理が施される。

「実施例」 以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明す
る。第４図は本発明に係わる先パルス試験器の第１の実
施例を示す構成ブロック図であり、この図において、第
２図の各部に対応する部分には同一の符号を付け、その
説明を省略する。

第４図において、１２は狭スペクトル幅を持つコヒーレ
ント光を出射する半導体レーザ等の光源である。この光
源１２からの光は、先ファイバ２０を介して光カップラ
１３により２方向に分岐され、送信パルスとすべき一方
の光か光ファイバ２１を介して先スイッチ１４に入射し
、局部発振光とすべき他方の光が光ファイバ２４を介し
て光カップラ１６に入射する。

次に、光スイッチ１４は、パルスパターン発生器１９よ
り出力されるパターン幅τのｒｌＪ、ｒＯＪの符号列に
従って、オン、オフされる。尚、ノくルスパターン発生
器１９からは、８ビツトの符号列（１，１，１，１，１
，１，１，１）が出力される。

そして、光スイッチ１４のおいてパターン化された送信
パルス列は、光ファイバ２２を介して位相変調器１５に
入射する。位相変調器１５においては、パルスパターン
発生器１８より出力されるパターン幅τのｒ＋１　ｊ、
ｒ−Ｉ　Ｊの符号列に従って各入力パルスが位相０゜と
位相１８０°とに位相変調を受ける。尚、パルスパター
ン発生器１８からは、８ビツトのゴーレー符号列Ａ　＝
　（ａ　＋）＝　（１，１゜１−１．−１．−１．１．
−１）および符号列Ｂ　＝　（ｂ　Ｉ）＝　（＋、＋。

１１．１．１．−１．１）が別々に出力される。

次に、位相変調器１５二おいて位相変調された送信パル
ス列は、光フーイバ２３および光カップラ２を介して被
測定ファイバ７に入射する。そして、被測定ファイバ７
から戻ってきた後方散乱光は、光カップラ２および光フ
ァイバ】１を介して光カップラ１６に入射し、先に光カ
ップラ１３において分岐した局部発振光と混合され、光
ファイバ２５および２５を介して受光器１７に受光され
る。

その結果、受光器１７は、受信光と局部発振光のビート
信号を受光し、そのビート信号に応じ１こ電気信号がサ
ンプリング装置４に導かれる。尚、サンプリング装置４
とパルスパターン発生器】８および】９の動作タイミン
グは、タイミング発生器２８により制御される。

ここで、パターン幅τの単発パルスを被測定ファイバ７
に入射し１こ時に、受光器１７が受光する後方散乱光パ
ワーをｐ　、（ｔ）とし、受光器１７の受光感度をＲと
し、局部発振光パワーをＰＬとすると、受光器１７の出
力する後方散乱信号の強度ｈ　ｃ（ｔ）は次式で表され
る。

ｈ　ｃ（ｔ）＝　Ｒ・（Ｐ　５（ｔ）・Ｐ　Ｌ）”’　
　　　　　　■また、符号列Ａに基づいに光パルス列に
対する後方散乱光において、最初のパルスによる後方散
乱光および最初のパルスからτ秒後、２ｒ秒後、６ｒ秒
後のそれぞれの時間経過後のパルスによる後方散乱光は
位相０°で戻り、３ｒ秒後、４ｒ秒後、５ｒ秒後、７ｒ
秒後のそれぞれの時間経過後のパルスによる後方散乱光
は、位相１８０°で戻ってくる。そして、位相Ｏ°の後
方散乱光と位相１８０°の後方散乱光とは逆相のため、
光の状態で干渉を起こし、互いの強度が打ち消される。

この状態は、第５図に示すように、光が十と−の強度を
示したものと言える。これを式で表すと、符号列Ａに対
する後方散乱信号ｖＡ（ｔ）は、以下に示す式［相］と
なり、符号列Ｂに対する後方散乱信号ＶＢ（ｔ）は、以
下に示す式Ｏとなる。

ｖ　Ａ（ｔ）＝　ｈ　ｃ（ｔ）十ｈ　ｃ（ｔ−：）＋　
ｈ　ｃ（ｔ−２τ）ｈ　ｃ（ｔ−：ｂ）　　ｈ　ｃ（ｔ
−４＋）−ｈ　ｃ（ｔ−５＋）＋　ｈ　ｃ（ｔ−６τ）
−ｈ　ｃ（ｔ−７＋）　　　　　　　■Ｖ　’（ｔ）＝
　ｈ　ｃ（ｔ）＋　ｈ　ｃ（ｔ−：）十ｈ　ｃ（ｔ−２
ｒ）ｈ　ｃ（ｔ−３＋）＋　ｈ　ｃ（ｔ−４丁）＋　ｈ
　ｃ（ｔ−５＋）−ｈ　ｃ（ｔ−６ｒ）＋　ｌ＋　ｃ（
ｔ−７り　　　　　　　＠次に、サンプリング装置４に
おいてサップリングされた受信光は、信号処理装置２７
において、以下に示す式［株］〜Φに従って相関処理が
行われた後、平均化される。

ＷＡ（ｔ）＝Σ（ａ　＋、＋Ｖ　Ａ（ｔｗｉｔ））＝　
−ｈ　　ｃ（ｔｌ７τ）　　　ｈ　ｃ（ｔｌ５τ）−３
ｈ　ｃ（ｔ÷３丁）＋　ｈ　ｃ（ｔ＋τ）＋　８　ｈ　
ｃ（ｔ）＋　ｈ　ｃ（ｔ−τ）３　ｈ　ｃ（ｔ−３τ）
−ｈ　ｃ（ｔ−５ｒ）−ｈ　ｃ（ｔ−７τ）　　　　　
　　　　　　　　　　　　＠Ｗ　”（ｔ）　＝Σ（ｂ　
＋、＋・ＶＢ（ｔｗｉｔ））＝　ｈ　ｃ（ｔｌ７τ）＋
　ｈ　ｃ（ｔｌ５１）＋３ｈ　ｃ（ｔｌ３丁）ｈ　ｃ（
ｔｌＩ）＋　８　ｈ　ｃ（ｔ）　　ｈ　ｃ（ｔ−τ）＋
　３　ｈ　ｃ（ｔ−３丁）＋　ｈ　Ｃ（ｔ−５τ）＋　
ｈ　ｅ（ｔ−７：）　　　　　　　　　　　　　　　　
　　＠Ｗ　（ｔ）＝Ｗ　Ａ（ｔ）＋　Ｗ　ｔｌ（ｔ）＝
　１　６　ｈ　ｃ（ｔ）　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　Φそして、最終的に、信号処理装置２７の出
力に基づいて被測定ファイバ７の特性や破断点かどの位
置にあるか等をモニタ６等によって判定する。

このように、光パルス試験器においてＮビットのゴーレ
ー符号に基づく符号圧縮を適用することにより、単発の
パルスを用いた場合に比べて受信する後方散乱光の強度
が２Ｎ倍に拡大されることがわかる。

また、後方散乱波形を観測するために２回のパルスパタ
ーンを用いており、従来のゴーレー符号を用いた光パル
ス試験器に比べて、１回の後方散乱波形を観測するのに
必要な送信パルスパターンの数を１／２に減らし、より
効率的に後方散乱波形の観測を行うことができる。

次に、本発明の第２の実施例について説明する。

第６図は本発明に係わる光パルス試験器の第２の実施例
を示す構成ブロック図であり、第４図の各部に対応する
部分には同一の符号を付け、その説明を省略する。

第６図に示す光パルス試験器が第４図のものと異なる点
は、パルスパターン発生器１８および１９、タイミング
発生器２８、光スイッチ１４並びに位相変調器１５に代
えて、タイミング発生器３３、パターンパターン発生器
２９およびパルス化と位相変調とを同時に実施可能な音
響光学変調による位相変調光スイッチ３２を設けた点で
ある。

第６図において、光源１２からの光は、光ファイバ２０
を介して光カップラ１３により２方向に分岐され、送信
パルスとすべき一方の光が、光ファイバ３０を介して位
相変調光スイッチ３２に入射する。位相変調光スイッチ
３２においては、パルスパターン発生器２９より出力さ
れるパルス輻τのｒｌ　Ｊ、ｒＯＪ、ｒ−Ｉ　Ｊの符号
列に従って「位相０°でオン」、「オフ（消光状懸）」
汀位相１８０°でオン」される。尚、パターンパルス発
生器２９からは、通常は「０」が出力され、タイミング
発生器３３からのタイミング信号により、８ビツトのゴ
ーレー符号列Ａ＝（λｒ：＝　ｆｌ、１．］、−］１．
−１．−１．１．利）および符号列Ｂ−（ｂ　＋：＝　
（１，１，ｌ、−１，１，１，−１，１）が別々に出力
される。

次に、位相変調光スイッチ３２においてパルス化され、
位相変調されｆ二送信パルス列は、光ファイバ３Ｉおよ
び光カップラ２を介して被測定ファイバ７に入射する。

尚、パルス化および位相変調以外の構成およびその動作
は、第１の実施例と同様であるので、その説明を省略す
る。

以上説明した第２の実施例の構成の光パルス試験器にお
いては、第１の実施例と同様に、後方散乱波形を観測す
るために２回のパルスパターンを用いるため、従来のゴ
ーレー符号を用いて光パルス試験器に比べて、１回の後
方散乱波形を観測するために必要な送信パルスパターン
の数を１／２に減らし、より効率的に後方散乱波形の観
測を行うことができる。

また、第２の実施例によれば、光パルス試験器を第１の
実施例より簡単に構成することができる。

尚、上述しｆコ実施例においては、ゴーレー符号のある
特定のパターンについて説明したが、ゴーレー符号の他
のパターンであって、上述した式■を満たすパターンで
あれば同一の効果を得ることができる。

「発明の効果」 以上説明したように、本発明によれば、符号圧縮を適用
した従来の光パルス試験器に対して、１回の後方散乱波
形を観測するのに必要な送信パルスパターンの数を１／
２に減らし、より効率的に後方散乱波形の観測を行うこ
とができる。

従って、測定時間が半分に短縮できる。例えば、従来、
１波形とるのに２０分かかっていたものであれば、１０
分で測定が完了できる。

また、請求項２記戦の発明によれば、光パルス試験器を
簡単に構成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は本発明において用いられる
ゴーレー符号列の自己相関の一例を示す図、第１図（ｃ
）は第１図（ａ）に示すゴーレー符号列（ａＩ）と第１
図（ｂ）に示すゴーレー符号列（ｂ　１）とを上述した
式■に代入した場合の演算結果を示す図、第２図は従来
の光パルス試験器を示す構成ブロック図、第３図はゴー
レー符号を用いｌ−従来の光パルス試験器において戻っ
てくる後方散乱光を示す説明図、第４図は本発明に係わ
る光パルス試験器の第１の実施例を示す構成ブロック図
、第５図は本発明の光パルス試験器の第１の実施例にお
いて戻ってくる後方散乱光を示す説明図、第６図は本発
明に係わる光パルス試験器の第２の実施例を示す構成ブ
ロック図である。 １．１２・・・・・・光源、２，１３．１６・・・・・
・光カップラ、３．１７・・・・・受光器、４・・・・
・・サンプリング装置、５．２７・・・・・・信号処理
装置、６・・・・・・モニタ、７・・・・・・被測定フ
ァイバ、８．１８，１９．２９・・・・パルスパターン
発生器、９．２８．３３・・・・・・タイミング発生器
、１０，１１，２０〜２６，３０．３１・・・・・・光
ファイバ、１４・・・・光スイッチ、１５・・・・・・
位相変調器、３２・・・・・・位相変調光スイッチ。 ５τ １０τ ５ｒ 符号列ＵＡ　＝　（ｕＡ １　＝　１１，１，１，０，０，０，１，０１入射時の
後方散乱光Ｘ＾（Ｏ第３図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源からの光パルスを被測定ファイバに入射し、
   前記被測定ファイバからの戻り光を検出することにより
   前記被測定ファイバの状態を観測する光パルス試験器に
   おいて、 狭スペクトル幅の出力光を発生する光源と、該光源の出
   力光を２方向へ分岐する第１の光カップラと、 電気信号の「１」、「０」に従ってオン、オフされ、前
   記第１の光カップラの第１のポートから出力される光を
   入射してパルス化する光スイッチと、該光スイッチから
   出力されるパルス光を電気信号の「＋１」、「−１」に
   従って位相０゜と位相１８０゜とに位相変調する位相変
   調器と、 該位相変調器から出力されるパルス光を入射して前記被
   測定ファイバに導く第２の光カップラと、該第２の光カ
   ップラを介して出力される前記被測定光ファイバからの
   戻り光を前記第１の光カップラの第２のポートから出力
   される光と混合する第３の光カップラと、 該第３の光カップラから出力される混合光を受光する受
   光器と、 通常は「０」を出力し、測定時刻に合わせて連続したＮ
   個の「１」を前記光スイッチに出力する第１のパルスパ
   ターン発生器と、 「＋１」または「−１」のいずれかの値をとるＮ個の符
   号からなり、式（１）の条件を満足する２種の符号列Ａ
   ＝｛ａ＿ｉ｝およびＢ＝｛ｂ＿ｉ｝（ｉ＝１、２、・・
   ・、Ｎ）によって表されるゴーレー符号列ＡおよびＢを
   別々の測定時刻に合わせて前記位相変調器に出力する第
   ２のパルスパターン発生器と、 前記受光器から出力される後方散乱波形信号のうち、前
   記符号列Ａに基づく後方散乱信号をＶ＾Ａ（ｔ）とし、
   前記符号列Ｂに基づく後方散乱信号をＶ＾Ｂ（ｔ）とし
   たとき、式（２）で表される信号処理を施す信号処理手
   段と を具備することを特徴とする光パルス試験器。 ▲数式、化学式、表等があります▼（１≦ｊ≦Ｎ）（１
   ） ▲数式、化学式、表等があります▼（２）
2. （２）光源からの光パルスを被測定ファイバに入射し、
   前記被測定ファイバからの戻り光を検出することにより
   前記被測定ファイバの状態を観測する光パルス試験器に
   おいて、 狭スペクトル幅の出力光を発生する光源と、該光源の出
   力光を２方向へ分岐する第１の光カップラと、 電気信号の「１」、「０」、「−１」に従って「位相０
   ゜でオン」、「オフ」、「位相１８０゜でオン」され、
   前記第１の光カップラの第１のポートから出力される光
   を入射してパルス化する位相変調光スイッチと、該位相
   変調光スイッチから出力されるパルス光を入射して前記
   被測定ファイバに導く第２の光カップラと、 該第２の光カップラを介して出力される前記被測定光フ
   ァイバからの戻り光を前記第１の光カップラの第２のポ
   ートから出力される光と混合する第３の光カップラと、 該第３の光カップラから出力される混合光を受光する受
   光器と、 通常は「０」を出力し、別々の測定時刻に合わせて「＋
   １」または「−１」のいずれかの値をとるＮ個の符号か
   らなり、式（１）の条件を満足する２種の符号列Ａ＝｛
   ａ＿ｉ｝およびＢ＝｛ｂ＿ｉ｝（ｉ＝１、２、・・・、
   Ｎ）によって表されるゴーレー符号列ＡおよびＢを前記
   位相変調光スイッチに出力するパルスパターン発生器と
   、 前記受光器から出力される後方散乱波形信号のうち、前
   記符号列Ａに基づく後方散乱信号をＶ＾Ａ（ｔ）とし、
   前記符号列Ｂに基づく後方散乱信号をＶ＾Ｂ（ｔ）とし
   たとき、式（２）で表される信号処理を施す信号処理手
   段と を具備することを特徴とする光パルス試験器。 ▲数式、化学式、表等があります▼（１≦ｊ≦Ｎ）（１
   ） ▲数式、化学式、表等があります▼（２）