JPH0450720A - Optical length measuring instrument - Google Patents

Optical length measuring instrument

Info

Publication number
JPH0450720A
JPH0450720A JP15967290A JP15967290A JPH0450720A JP H0450720 A JPH0450720 A JP H0450720A JP 15967290 A JP15967290 A JP 15967290A JP 15967290 A JP15967290 A JP 15967290A JP H0450720 A JPH0450720 A JP H0450720A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
light
light source
photodiodes
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15967290A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Shiratori
白鳥 和男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Futaba Corp
Original Assignee
Futaba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Futaba Corp filed Critical Futaba Corp
Priority to JP15967290A priority Critical patent/JPH0450720A/en
Publication of JPH0450720A publication Critical patent/JPH0450720A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To make the optical length measuring instrument easy to assembly and to eliminate the adverse influence of stray light by providing plural lenses which serve as both a collimation lens and a condenser lens, providing a common light source at the center position of the respective lenses, and providing plural photodetecting elements. CONSTITUTION:Lenses L which have the same focal length (f) are arranged above a main scale 2 and an index scale 3 so that their optical axes 4 are parallel to one another and the focuses are on the same plane perpendicular to the optical axes 4. Further, photodiodes PD detect light-dark patterns at four positions which are 90 deg. out of phase. The photodiodes PD at positions which are 180 deg. out of phase are connected to a 1st amplifier 8 to obtain the (a)-phase signal of only an AC signal and the photodiodes PD at the positions which are 90 deg. out of phase are connected to a 2nd amplifier 9 to obtain a (b)- phase signal which is 90 deg. out of phase. Then the leading or delay of the (a)- and (b)-phase signals is detect to discriminate the moving directions of both the scales 2 and 3 and the signals are counted to measure the movement distance.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、対面して配設された2つの格子の相対移動に
伴って発生する明暗パターンの変化を検出し、各格子の
相対移動距離を測定する光学式測長装置に関するもので
ある。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention detects changes in brightness and darkness patterns that occur due to the relative movement of two gratings arranged facing each other, and detects the relative movement distance of each grating. This invention relates to an optical length measuring device that measures .

〔従来の技術〕[Conventional technology]

例えば、工作機械などの加工テーブルの移動量を高精度
で読取る装置として、光学格子を用いた測長装置が知ら
れている。
For example, a length measuring device using an optical grating is known as a device for highly accurately reading the amount of movement of a processing table of a machine tool or the like.

第6図はこの種の光学式測長装置の一例を示している。FIG. 6 shows an example of this type of optical length measuring device.

この測長装置は、はぼ同一ピッチの刻線によって格子が
それぞれ形成され、所定間隔をおいて互いに対向して配
設されたメインスケール100とインデックススケール
101を有している。インデックススケール101の上
方には複数のフォトダイオード102が受光面を下に向
けて設けられ、さらにその上方にはコリメーションレン
ズ103と光源104が設けられている。
This length measuring device has a main scale 100 and an index scale 101, each of which has a grating formed by scored lines having the same pitch, and which are disposed facing each other at a predetermined interval. A plurality of photodiodes 102 are provided above the index scale 101 with their light-receiving surfaces facing downward, and further above the photodiodes 102 are provided a collimation lens 103 and a light source 104.

光源104からの光は、コリメーションレンズ103を
通って平行光となり、フォトダイオード102の間を通
過する。そして、インデックススケール101を通フて
メインスケール100の刻線で反射し、再びインデック
ススケール101を通ってフォトダイオード102に入
る。
Light from the light source 104 passes through the collimation lens 103 to become parallel light, and passes between the photodiodes 102 . The light then passes through the index scale 101 and is reflected by the marked lines of the main scale 100, passes through the index scale 101 again, and enters the photodiode 102.

ここで、メインスケール100とインデックススケール
101が相対的に移動すると、フォトダイオード102
に入射する反射光には明暗のパターンがあられれ、フォ
トダイオード102はこのパターンの変化に対応した電
気信号を圧力する。
Here, when the main scale 100 and the index scale 101 move relatively, the photodiode 102
The reflected light incident on the photodiode 102 has a bright and dark pattern, and the photodiode 102 generates an electric signal corresponding to the change in this pattern.

なお、位置測定のためには、位相が90°ずれた2相体
号が必要である。ここでは、4個のフォトダイオード1
02が90°位相差の0゜90°  180°、270
°信号をそれぞれ検出し、互いに180°ずれた信号を
差動増幅することにより、バックグラウンドの明るさに
相当する検出信号中の直流成分を除去し、DCオフセッ
トの少ない安定した2相体号を得ているものである。
Note that for position measurement, a two-phase body symbol whose phase is shifted by 90° is required. Here, four photodiodes 1
02 is 90° phase difference 0°90° 180°, 270
By detecting each ° signal and differentially amplifying the signals that are shifted by 180 degrees from each other, the DC component in the detection signal corresponding to the background brightness is removed, and a stable two-phase signal with little DC offset is obtained. That's what you're getting.

これ以外の従来の光学式測長装置としては、第7図に示
すようにコリメーションレンズ103とインデックスス
ケール101の間にハーフミラ−105を置き、フォト
ダイオード102をその側方に配設したものかある。ま
た、第8図に示すように、コリメーションレンズ103
の光軸を傾けて、フォトダイオード102を入射経路か
ら外ねた位置に設けたものもある。さらに、第9図に示
すように、コリメーションレンズ103の光軸を傾ける
とともに、光軸を傾けた集光レンズ106を用いてフォ
トダイオード107に光を集めるようにしたものもある
Other conventional optical length measuring devices include one in which a half mirror 105 is placed between a collimation lens 103 and an index scale 101, and a photodiode 102 is placed on the side thereof, as shown in FIG. . In addition, as shown in FIG. 8, a collimation lens 103
There is also one in which the optical axis of the photodiode 102 is tilted so that the photodiode 102 is located away from the incident path. Furthermore, as shown in FIG. 9, there is also one in which the optical axis of the collimation lens 103 is tilted, and a condensing lens 106 with the optical axis tilted is used to collect light on a photodiode 107.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

第6図に示した装置によれば、フォトタイオー)? 1
02をコリメーションレンズ103とインデックススケ
ール101の間の中空に配設しなければならず、また光
線がフォトダイオード102で遮られてしまうという問
題があった。
According to the apparatus shown in FIG. 1
02 had to be disposed in a hollow space between the collimation lens 103 and the index scale 101, and there was also the problem that the light beam was blocked by the photodiode 102.

第7図に示した装置によれば、ハーフミラ−105を使
用するため、光量が行きて局、帰りてさらにその%にな
り、フォトダイオード102に入る光量が少くなってし
まう。このため、フォトダイオード102のサイズを大
きくしなければならず、応答速度が遅くなるという問題
かあつた。
According to the apparatus shown in FIG. 7, since a half mirror 105 is used, the amount of light goes to the station and returns to the station, and becomes even % of that amount, and the amount of light that enters the photodiode 102 decreases. Therefore, the size of the photodiode 102 had to be increased, resulting in a problem of slow response speed.

第8図に示した装置によれば、所定の角度で部品を斜め
に配設しなければならず、組立てが難しいという問題が
あった。
According to the apparatus shown in FIG. 8, there was a problem in that the parts had to be arranged diagonally at a predetermined angle, making assembly difficult.

第9図に示した装置によれば、受光側に集光レンズ10
6を用いることで迷光を受光しないようにし、フォトダ
イオード107のサイズを小さくして応答速度を速くす
ることができるが、光源104とフォトダイオード10
7が1対1の関係で対応していなければならず、二相信
号が必要な場合にはこの組合せが2組以上必要となる。
According to the device shown in FIG. 9, a condenser lens 10 is provided on the light receiving side.
By using the light source 104 and the photodiode 10, stray light can be prevented from being received and the size of the photodiode 107 can be reduced to increase the response speed.
7 must correspond in a one-to-one relationship, and if two-phase signals are required, two or more of these combinations are required.

従って、複数組の検出系の温度特性や経時変化に対する
対策が新たに必要となるという問題があった。
Therefore, there is a problem in that new countermeasures against temperature characteristics and changes over time of the plurality of detection systems are required.

本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであり
、組立てやすく小型化ができ、一つの光源に対して複数
の受光素子が配設でき、集光した光を受光することによ
フて受光素子のサイズを小さくするとともに迷光の悪影
響を排除した光学式測長装置を提供することを目的とし
ている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and is easy to assemble and can be miniaturized. A plurality of light receiving elements can be arranged for one light source, and a light beam can be illuminated by receiving condensed light. It is an object of the present invention to provide an optical length measuring device in which the size of a light receiving element is reduced and the adverse effects of stray light are eliminated.

(課題を解決するための手段) 本発明の光学式測長装置は、対面して配設された2つの
格子の相対移動に伴フて発生する明暗パターンの変化を
検出し、各格子の相対移動距離を測定する光学式測長装
置において、共通の光源と、前記光源からの光を前記格
子に導くとともに、前記格子からの反射光を集光する複
数のレンズと、前記各レンズの共通の焦点面上で、前記
各レンズの各光軸に関して前記光源と対称な各位置にそ
れぞれ設けられた複数の光検出素子とを具備している。
(Means for Solving the Problems) The optical length measuring device of the present invention detects a change in a brightness pattern that occurs due to the relative movement of two gratings disposed facing each other, and An optical length measuring device that measures moving distance includes a common light source, a plurality of lenses that guide light from the light source to the grating and condense reflected light from the grating, and a common light source for each of the lenses. A plurality of photodetecting elements are provided on the focal plane at positions symmetrical to the light source with respect to the optical axes of the lenses.

〔作  用〕[For production]

共通の光源から出た光は、各レンズにそれぞれ入射して
平行光線となり、格子で反射する。反射光は、各レンズ
によってそれぞれ焦光され、各レンズの各光軸に関して
前記光源と対称な各位置にある焦点面上の各光検出素子
にそれぞれ入射する。
Light emitted from a common light source enters each lens, becomes parallel rays, and is reflected by the grating. The reflected light is focused by each lens and is incident on each photodetector element on a focal plane located at each position symmetrical to the light source with respect to each optical axis of each lens.

(実施例) 本発明の第1実施例に係る光学式測長装置1を第1図及
び第2図によって説明する。
(Example) An optical length measuring device 1 according to a first example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

第1図において、2及び3は相対移動自在とされたメイ
ンスケール及びインデックススケールである。これら両
スケール2.3にはそれぞれ格子が形成され、モアレ縞
のような明暗のパターンが両スケール2,3の相対移動
に伴って変化するようになっている。
In FIG. 1, 2 and 3 are a main scale and an index scale that are relatively movable. A grating is formed on each of these scales 2 and 3, and a bright and dark pattern such as moiré fringes changes as the scales 2 and 3 move relative to each other.

前記両スケール2.3の上方には、4個のレンズLが設
けられている。これら4個のレンズLは、焦点距離fが
同じであり、各々の光軸4は互いに平行で、各焦点が光
軸4に垂直な同一平面内に入るようになっている。即ち
、各レンズLは焦点面5を共有しており、第2図に示す
ように焦点面と平行な平面内において正方形の各頂点に
各光軸4が位置するようなパターンで配設されている。
Four lenses L are provided above both scales 2.3. These four lenses L have the same focal length f, their respective optical axes 4 are parallel to each other, and their focal points lie within the same plane perpendicular to the optical axis 4. That is, each lens L shares a focal plane 5, and is arranged in a pattern such that each optical axis 4 is located at each vertex of a square in a plane parallel to the focal plane, as shown in FIG. There is.

なお、これら4個のレンズLは、一体に成形されており
装置の構成部品としては1個になっている。
Note that these four lenses L are integrally molded and constitute one component of the device.

前記レンズLの上方には焦点面5と平行に基板6が設け
られており、その下面には1個の光源7と、光検出素子
としてのフォトダイオードP。
A substrate 6 is provided above the lens L in parallel with the focal plane 5, and on its lower surface is provided with one light source 7 and a photodiode P as a light detection element.

D、が4個設けられている。光源7とフォトダイオード
PDは前記焦点面5内に位置している。そして、光源7
は各レンズLの中央の位置に設けられ、4個の各フォト
ダイオードPDは、各レンズLの各光軸4に関して前記
光源7と対称な4箇所の位置にそれぞれ配設されている
There are four D. The light source 7 and photodiode PD are located within the focal plane 5. And light source 7
is provided at the center of each lens L, and the four photodiodes PD are arranged at four positions symmetrical to the light source 7 with respect to each optical axis 4 of each lens L.

上述した4個のフォトダイオードPDは、前記両スケー
ル2,3に生しる明暗のパターンを90°の位相差をお
いた4箇所の位置で検出するようになっている。そして
、位相が180°異なる0°の位置と180°の位置に
ある2個のフォトダイオードPDが第1の増幅器8に接
続され、これによって両フォトダイオードPD、PDの
出力は差動的に処理されて直流分が相殺され、交流信号
のみの一方の信号(a相信号)が得られるようになって
いる。また、90°の位置と270゜の位置にある2個
のフォトダイオードPDが第2の増幅器9に接続され、
同様にして前記a相信号とは90°位相の異なるb相信
号が得られるようになっている。
The four photodiodes PD described above are designed to detect the bright and dark patterns occurring on both scales 2 and 3 at four positions with a phase difference of 90°. Then, two photodiodes PD located at the 0° position and the 180° position, which differ in phase by 180°, are connected to the first amplifier 8, whereby the outputs of both photodiodes PD and PD are processed differentially. The direct current component is canceled out, and one signal (a-phase signal) consisting only of an alternating current signal is obtained. Furthermore, two photodiodes PD at 90° and 270° positions are connected to the second amplifier 9,
Similarly, a b-phase signal having a phase difference of 90° from the a-phase signal is obtained.

従って、a相信号及びb相信号の進み、遅れを検出する
ことによって両スケール2.3の移動方向が判別でき、
またこの二相信号を計数することによって移動距離を測
定できる。
Therefore, by detecting the advance and delay of the a-phase signal and the b-phase signal, the moving direction of both scales 2.3 can be determined.
Further, by counting this two-phase signal, the distance traveled can be measured.

次に、以上の構成における作用を説明する。第1図に示
すように、焦点面5内における光軸4と光源7の距離を
hとする。共通の光源7から呂だ光は各レンズLを通り
、各光軸4と角度Wをもつ平行光線となり、それらの関
係は次式で表わされる。
Next, the operation of the above configuration will be explained. As shown in FIG. 1, the distance between the optical axis 4 and the light source 7 in the focal plane 5 is h. Light from the common light source 7 passes through each lens L and becomes a parallel ray having an angle W with respect to each optical axis 4, and the relationship between them is expressed by the following equation.

h=−ftanW この光はインデックススケール3を経てメインスケール
2で反射される。反射された光は、再び各レンズLを通
り、各光軸4と−Wなる角度をもつ平行光線となる。そ
して、この光は、各レンズLの各光軸4に関して光源7
と対称な位置にある各フォトオードPDに集光する。
h=-ftanW This light passes through the index scale 3 and is reflected by the main scale 2. The reflected light passes through each lens L again and becomes a parallel ray having an angle -W with each optical axis 4. Then, this light is transmitted to the light source 7 with respect to each optical axis 4 of each lens L.
The light is focused on each photoode PD located at a symmetrical position.

このように、本実施例によれば、1個の光源7に対して
4個のフォトダイオードPDを対応させることができる
In this way, according to this embodiment, one light source 7 can be associated with four photodiodes PD.

次に、本発明の第2実施例を第3図によフて説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.

この実施例は、3個のレンズL及び3個のフォトダイオ
ードPDI〜3を有している点と、各フォトダイオード
PDI〜3の出力信号を処理する回路構成が前記第1実
施例と異なっている。
This embodiment differs from the first embodiment in that it includes three lenses L and three photodiodes PDI~3, and in the circuit configuration for processing the output signal of each photodiode PDI~3. There is.

各レンズLの焦点面が共通てあり、焦点面のほぼ中央に
共通の光源10があり、焦点面に設けられた3個のフォ
トダイオードPDか各レンズLの各光軸4に関して共通
の光源10と対称の位置にある点等は、前記第1実施例
の場合と同しである。
Each lens L has a common focal plane, and a common light source 10 is located approximately in the center of the focal plane, and the common light source 10 is provided for each optical axis 4 of each lens L. The points located symmetrically to the above are the same as in the first embodiment.

2個のフォトダイオードPC1,PD2は、直流分に交
流分が重なった明暗のパターンを90゜位相の異なる位
置から検出するようになっている。もうひとつのフォト
ダイオードPD3は基準用で、直流分を検出するように
なっている。そして、前記フォトダイオードPDI、P
D2の各出力は、それぞれ演算増幅器11.12の反転
入力端子に入力され、前記基準用のフォトダイオードP
D3の出力はそれぞれ抵抗R1,R2を介して各演算増
幅器11.12の反転入力端子に入力されている。これ
によって、フォトダイオードPDI、PD2からの出力
と、フォトダイオードPD3からの出力を適宜増幅して
演算処理すれば、各演算増幅器11.12からは直流分
を含まない互いに90”の位相差をもった交流信号を得
ることができる。なお、本実施例における信号処理の回
路構成等の詳細については、本出願人の呂願に係る特公
昭61−5081号を参照されたい。
The two photodiodes PC1 and PD2 are configured to detect a bright and dark pattern in which a direct current component and an alternating current component are superimposed, from positions with a 90° phase difference. The other photodiode PD3 is for reference and is designed to detect DC components. And the photodiodes PDI, P
Each output of D2 is input to the inverting input terminal of operational amplifiers 11 and 12, respectively, and the reference photodiode P
The output of D3 is input to the inverting input terminal of each operational amplifier 11, 12 via resistors R1 and R2, respectively. As a result, if the outputs from the photodiodes PDI and PD2 and the output from the photodiode PD3 are appropriately amplified and processed, the respective operational amplifiers 11 and 12 will have a phase difference of 90'' from each other, excluding the DC component. For details of the signal processing circuit configuration and the like in this embodiment, please refer to Japanese Patent Publication No. 61-5081 filed by the present applicant.

次に、第4図は本発明の第3実施例を示している。この
装置は焦点位置に絞り2oが設けられているので、特に
外部光による悪影響を受けにくい。その他の構成及び作
用効果は第1実施例と同様である。
Next, FIG. 4 shows a third embodiment of the present invention. Since this device is provided with an aperture 2o at the focal point, it is not particularly susceptible to adverse effects from external light. Other configurations and effects are the same as in the first embodiment.

次に、第5図は本発明の第4実施例を示している。この
装置は共通の光源21とレンズLの間に一枚の補助レン
ズ22を設けたもので、これによってレンズLの焦点面
5よりもレンズLに近接した位置に光源21を設けるこ
とかてき、設計上の自由度か増大する。その他の構成及
び作用効果は第1実施例と同様である。
Next, FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention. This device has a single auxiliary lens 22 between a common light source 21 and a lens L, which allows the light source 21 to be provided at a position closer to the lens L than the focal plane 5 of the lens L. The degree of freedom in design increases. Other configurations and effects are the same as in the first embodiment.

〔発明の効果] 本発明によれば、コリメーションレンズと集光レンズを
兼ねたレンズを複数設け、各レンズの中心位置に共通の
光源を設け、各レンズの各光軸に関して光源と対称な焦
点面内の各位置に複数の受光素子を設けるようにしであ
る。従って本発明によれば、次のような効果かある。
[Effects of the Invention] According to the present invention, a plurality of lenses that serve as collimation lenses and condensing lenses are provided, a common light source is provided at the center position of each lens, and a focal plane that is symmetrical to the light source with respect to each optical axis of each lens is provided. A plurality of light receiving elements are provided at each position within the space. Therefore, according to the present invention, there are the following effects.

■共通の光源と複数の受光素子を同一焦点面内に組むこ
ともできるし、補助レンズを用いれば光源をレンズに近
い位置に設けることもできる。即ち、部品配置の自由度
が大きく、組立てやすい配置を採用できる。また、従来
のように部品を所定角度に傾けた状態で取付ける必要が
ないのて組立てやすい。
■A common light source and multiple light receiving elements can be assembled in the same focal plane, and if an auxiliary lens is used, the light source can be placed close to the lens. That is, there is a large degree of freedom in arranging parts, and an arrangement that is easy to assemble can be adopted. Furthermore, it is easy to assemble because there is no need to attach the parts while tilting them at a predetermined angle as in the conventional case.

■S6図及び第7図に示したような部品配置の従来の装
置に比べて、装置をより小型にすることができる。
(2) The device can be made more compact compared to conventional devices with component arrangements as shown in FIGS. S6 and 7.

■集光しているので、受光素子のサイズを小さくできる
。小さいと、受光素子の接合容量が小さくなるので、応
答時間を短くできる。また、迷光を受光しにくくなる。
■Since light is focused, the size of the light receiving element can be reduced. If it is small, the junction capacitance of the light receiving element will be small, so the response time can be shortened. In addition, it becomes difficult to receive stray light.

■ひとつの光源に対して複数の受光素子を配置できるの
で、温度特性や経時変化に対する対応が行いやすい。
■Multiple light-receiving elements can be arranged for one light source, making it easy to respond to temperature characteristics and changes over time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1実施例を示す断面図、第2図は同
実施例におけるレンズ等の配置を示す図、第3図は同第
2実施例におけるレンズ等の配置を示す図、第4図は同
第3実施例を示す断面図、第5図は同第4実施例を示す
断面図、第6図は従来の光学式測長装置の一例における
部品配置を示す斜視図、第7図はハーフミラ−を用いた
他の従来例を示す図、第8図はレンズの光軸を傾けた他
の従来例を示す図、第9図は集光レンズを用いた他の従
来例を示す図である。 1・・・光学式測長装置、   4・・・光軸、5・・
・焦点面、 7.10.21−・・光源、 L・・・レンズ、PD、
PDI〜3・・・光検比素子としてのフォトダイオード
。 特許出願人 双葉電子工業株式会社 代理人・弁理士 西  村  教  光第 匡 第 図 叩(270”) 第 図 第 図 第 図 PO2(基準) 第6図 り104
FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of lenses, etc. in the same embodiment, and FIG. 3 is a diagram showing the arrangement of lenses, etc. in the second embodiment. 4 is a sectional view showing the third embodiment, FIG. 5 is a sectional view showing the fourth embodiment, FIG. 6 is a perspective view showing the arrangement of parts in an example of a conventional optical length measuring device, and FIG. Fig. 7 shows another conventional example using a half mirror, Fig. 8 shows another conventional example in which the optical axis of the lens is tilted, and Fig. 9 shows another conventional example using a condensing lens. FIG. 1... Optical length measuring device, 4... Optical axis, 5...
・Focal plane, 7.10.21-...Light source, L...Lens, PD,
PDI~3...Photodiode as a photodetection element. Patent Applicant Futaba Electronics Co., Ltd. Agent/Patent Attorney Norihiro Nishimura No. 270” No. 6 No. 104

Claims (1)

【特許請求の範囲】 対面して配設された2つの格子の相対移動に伴って発生
する明暗パターンの変化を検出し、各格子の相対移動距
離を測定する光学式測長装置において、 共通の光源と、 前記光源からの光を前記格子に導くとともに、前記格子
からの反射光を集光する複数のレンズと、 前記各レンズの共通の焦点面上で、前記各レンズの各光
軸に関して前記光源と対称な各位置にそれぞれ設けられ
た複数の光検出素子とを具備する光学式測長装置。
[Claims] An optical length measuring device that detects changes in brightness and darkness patterns that occur due to the relative movement of two gratings disposed facing each other, and measures the relative movement distance of each grating, comprising: a light source; a plurality of lenses that guide light from the light source to the grating and condense reflected light from the grating; An optical length measuring device comprising a plurality of photodetecting elements provided at respective positions symmetrical to a light source.
JP15967290A 1990-06-20 1990-06-20 Optical length measuring instrument Pending JPH0450720A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15967290A JPH0450720A (en) 1990-06-20 1990-06-20 Optical length measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15967290A JPH0450720A (en) 1990-06-20 1990-06-20 Optical length measuring instrument

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0450720A true JPH0450720A (en) 1992-02-19

Family

ID=15698814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15967290A Pending JPH0450720A (en) 1990-06-20 1990-06-20 Optical length measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0450720A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002081964A (en) * 2000-06-21 2002-03-22 Mitsutoyo Corp Optical encoder
JP2010151817A (en) * 2008-12-23 2010-07-08 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Reflective optical encoder systems, devices and methods
US7995212B2 (en) * 2008-04-14 2011-08-09 Sony Corporation Optical displacement measuring device
JP2011227068A (en) * 2010-03-29 2011-11-10 Mitsutoyo Corp Optical encoder
JP2018518705A (en) * 2015-05-18 2018-07-12 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Sensor arrangement and method for determining the position of each of a number of mirrors in a lithography system

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002081964A (en) * 2000-06-21 2002-03-22 Mitsutoyo Corp Optical encoder
US7995212B2 (en) * 2008-04-14 2011-08-09 Sony Corporation Optical displacement measuring device
JP2010151817A (en) * 2008-12-23 2010-07-08 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Reflective optical encoder systems, devices and methods
JP2011227068A (en) * 2010-03-29 2011-11-10 Mitsutoyo Corp Optical encoder
JP2018518705A (en) * 2015-05-18 2018-07-12 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Sensor arrangement and method for determining the position of each of a number of mirrors in a lithography system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3478567B2 (en) Rotation information detection device
US4955718A (en) Photoelectric measuring system with integrated optical circuit including and illuminating system
EP0591832B1 (en) Signal processing method and displacement information measuring device
US5229836A (en) Position detecting apparatus for a moving body
US5127733A (en) Integrated optical precision measuring device
JPS61128105A (en) Edge detector of optical measuring instrument
US4729654A (en) Laser interferometer
EP0234562B1 (en) Displacement sensor
EP1447648A1 (en) Optical Encoder
JPH0450720A (en) Optical length measuring instrument
JPH0431335B2 (en)
JPH01272917A (en) Reflection type xy encoder
US5184014A (en) Opto-electronic scale reading apparatus
JPS6128923B2 (en)
JPS6117016A (en) Averaged diffraction moire position detector
EP1795872B2 (en) Photoelectric rotary encoder
JPS63153419A (en) Non-contact displacement gauge
JP2507394B2 (en) Ranging device
JPH0418252B2 (en)
JP3418234B2 (en) Length measuring device
JP2551276B2 (en) Optical position detector
JPS60179603A (en) Linear type interference position indicator
JP2901747B2 (en) Distance measuring device
JPH0317210Y2 (en)
JP3204726B2 (en) Edge sensor