JPH04501470A - 表面クラックの生長パラメータの測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 表面クラックの生長パラメータの測定装置技術分野 本発明は測定に関し、特に、表面クラックの生長パラメータを測定するための装 置に関する。

本発明は、表面クラックの生長パラメータを自動的に決定し、その後の処理に適 する情報を得る必要のある構造物のテストまたは運転において有利に利用され得 る。これは例えば臨界状態の機械装置および要素、および航空機の翼および胴体 、ロケットのフレーム、気体輸送管、船体、気体状および液状物の貯蔵に用いら れる圧力容器、等々の構造物のための新規な構造材料の抗クラック特性の解析に おいて、より特には、表面クシツクの長さまたは生長経路を高精度に自動測定し その後の処理のためにこれらパラメータに比例した電気信号を得るために必要と される。

背景技術 表面クラックのパラメータを測定するための装置としてはいくつかの形式が公知 であるが、それらは光学要素、超音波振動および電流を使用するとともに構造体 上に固定され試験中に構造体とともに損傷を受ける特殊な変換器を使用している 。

例えば、テレビジョン設備を使用した表面クラックのパラメータの測定装置が知 られており（ＧＢ、　Ａ、　２０５７１２４参照）、これにおいては、試験に先 立って試験片には表面クランクの生成が予想される領域に特殊なフェスが塗布さ れ、その後、試験片は試験機に保持される。クランクの生成が予想される試験片 の表面が顕微鏡を介してテレビカメラで撮影される。次に、表面クラックの画像 は特殊な装置によって各々が表面クラックの長さに比例したパルス列の形の電気 信号に変換される。前述の装置はテレビカメラに接続された光学ユニットの動き を制御する機械的調節機構とともに電気的変換器とパルスカウンタを具備してい る。

この装置は試験片の調製と装置の調整が繁雑である。さらに、運転において高価 な特殊設備が必要であるという問題がある。

導電材料のストリップと共に形成された検知要素が絶縁層を介して試験片に取り 付けられる表面クラックのパラメータの測定装置もまた公知である（ＤＥ、Ａ、 ２７４５２４４参照）。検知要素は試験中に表面クランクが生成する部位におい て試験片とともに損傷を受ける。クランクの生成とともに検知要素の電気抵抗が 変化し、それは適切な態様で測定される。検知要素は表面クラックの生長領域を 取り囲む測定部を有し、それが変形することによってその抵抗は表面クランクの 大きさに本質的に線形に比例して増加する。測定部は表面クラックの生長が予想 される方向に関して対称でなければならない。電流が検知要素に供給され表面ク ラックの周囲の測定部に流れる。

表面クラックのパラメータは検知要素の試験電極間の電圧を測定することによっ て決定される。表面クラックの長さに対する出力電圧の直線性を改善するために は、付加的な電極間の電圧に応じて供給電圧が調節される。

開示された装置は特殊な設備を必要とし、その線形測定範囲は表面クラックの直 線的な生長に対して検知要素の測定部の面積の約７０％となる。さらにこのよう な装置においては或、る場合に要求されるような試験片の表面のクシツクの生長 を視覚的に観察することがかなり困難である。

最も簡潔で最も近い従来技術の装置は端部が互いに結合され測定回路に接続され た多数の平行な抵抗性のストリップからなる検知要素を具備しており、該検知要 素は所与の表面クランクの生長に比例した電気信号を得るために用いられる（Ｕ Ｓ、　Ａ、　２９８６９２Ｂ参照）。この検知要素は表面クラックが発生し生長 しそうな領域の試験片の表面に固定される。特定の表面クラックが発生し生長す ると、抵抗性ストリップが連続的に破壊され、そのために検知要素の全抵抗値が 変化する。電気抵抗の変化量が所与の表面クシツクのパラメータを決定するため に測定される。

しかしながら、最後に述べた装置は検知要素の電気抵抗の変化が小さいために表 面クラックのパラメータの測定精度が低く、長い表面クラックの場合には抵抗性 ストリップが早く破壊されるので直線性がなく信顛性に乏しいという問題がある 。

発明の開示 本発明の目的は、検知要素の新規な具現化物とその電気的特性が実質的に精度を 向上せしめ、表面クランクの生長のパラメータの測定範囲を拡げるような表面ク ラックの生長パラメータの測定装置を創出することにある。

本発明によれば誘電体基部に貼付され表面クラックの生長が見込まれる点に固定 され複数の導電体からなる検知要素と検知要素に電気的に接続された測定回路と を具備する表面クランクの生長パラメータの測定装置において、検知要素の導電 体のリードは主ジャンパー線によって電気的に直列に相互に接続され、検知要素 はその各々が主ジャンパー線の各々の反対側で接続される付加ジャンパー線を具 備する表面クラックの生長パラメータの測定装置が提供される。

本発明に係る装置は表面クラックの生長パラメータの正確な測定を提供し信顛性 が高い。

検知要素の導電体は等間隔であることが有利である。

これにより、出力電気信号のパラメータはその後の記録のため表面クラックの長 さに直接的に比例する。

該導電体は距離が単調に変化するように相対配置することもまた有利である。

検知要素のこのような配置を採用すれば、出力電気信号を表面クラックの長さに 対して予め定められた形で変化させることが可能となり、それによってそのその 後の処理が実質的に簡略化し、所与の表面クラックの実長の測定精度が改善され る。

前記導電体の幅を単調に変化させることもさらに有利である。

これにより、検知要素の信頼性が高められる。

導電体の幅と導電体間の距離との比を一定にすることが好適である。

これにより、異なった長さの表面クラックに対する検知要素と装置全体の信頼性 が高められる。

導電体の幅と導電体間の距離との比を単調に変化させることも好適である。

これにより、異なった長さの表面クラックに対して検知要素の導体の最適な機械 的特性が保証される。

導体の長さを表面クラックの生長方向に関して単調に変化させることもさらに好 適である。

これにより、表面クシツクの生長過程においてそれが検知要素の範囲を超える確 率が減少される。

偶数番目の導電体は奇数番目の導電体に関して予め定められた角度で回転される ことが成る場合に要求される。

結果として、表面クラックの先端の方向が検知要素に関連する基準システムにお いて決定される。

主ジャンパー線と対向する付加ジャンパー線との電気抵抗の差を一定にすること も要求される。

これにより、測定精度はかなりに改善される。

主ジャンパー線と対向する付加ジャンパー線との電気抵抗の差を単調に変化させ ることも有利である。

これにより、出力電気信号を表面クシツクの長さに応じて変化させることが可能 となる。

表面クランクの生長の方向において最後の導電体は大および小アームを有する分 圧器であることが要求される。

測定回路内に挿入された該分圧器により測定精度が改善される。

表面クシツクの生長方向において最初の導電体に直列抵抗が接続され、該直列抵 抗は導電体の総数が偶数であるとき分圧器の小アームの側に接続され、導電体の 総数が奇数であるとき分圧器の大アームの側に接続されることが要求される。

このような配置にすることにより、測定回路として使用される電気的ブリッジよ り正確な平衡が得られる。

検知要素の片側に配置された付加ジャンパー線は偶数番目の導電体のリードを相 互接続するために用い、検知要素の反対側に配置された付加ジャンパー線は奇数 番目の導電体のリードを相互接続するために用いることも要求される。

結果として、電気信号のレベルが実質的に増加する。

図面の簡単な説明 添付図を参照して本発明をその特定の具体例についてさらに記述する。

第１図は本発明に係り、試験片に固定され測定回路に接続された検知要素を有す る表面クラックの生長パラメータの測定装置の好適な一興体例を表わす図、 第２図は本発明に係り、検知要素と測定回路として用いられる電気的ブリッジと のその接続の好適な一興体例を表わす第３図は本発明に係り、電気的ブリッジに 接続された検知要素を有する装置の出力電気信号を表わす図、第４図は本発明に 係り、表面クランクの生長方向において長さが単調に増加する導電体を有する検 知要素の他の好適な具体例を表わす図、 第５図は本発明に係り、表面クラックの生長の向きを決定するための検知要素の さらに他の好適な具体例を表わす図、第６図は本発明に係り、表面クラックの生 長の向きを決定する装置の出力電気信号のパラメータの変化を表わす図、第７図 は本発明に係り、検知要素の主および付加ジャンパー線の電気抵抗の差が増加す る装置の出力電気信号のパラメータの変化を表わす図、 第８図は本発明に係り、検知要素における導電体の総数が奇数である場合の直列 抵抗の好適な接続の１つを表わす図、第９図は本発明に係り、検知要素における 導電体の総数が偶数である場合の主および付加ジャンパー線と直列抵抗との好適 な接続の１つを表わす図、 第１Ｏ図は本発明に係り、検知要素における導電体の総数が奇数である場合の主 および付加ジャンパー線と直列抵抗との好適な接続の１つを表わす図。

発明を実施する最良の形態 提案する表面クランクの生長パラメータの測定装置（第１図）は、誘電体基部２ に貼付された検知要素１と検知要素１に電気的に接続された測定回路とを具備し ている。検知要素Ｉは主ジャンパー線５と付加ジャンパー線６とで順次相互に接 続された多数の導電体４がらなっている。検知要素ｌは電気接触子７．８．９お よび１０を有しそれらによって測定回路３に接続されている。表面クランク１１ のパラメータを測定するため、検知要素１は誘電体基部２を介して実験サンプル １２または運転構造体に直接取り付けられ、そこにおいて、負荷Ｐの作用で矢印 Ａに沿って表面クランク１１が生長する。検知要素１は固定されているので表面 クラック１１は主ジャンパー線５と対応する付加ジャンパー線６との間で導電体 ４に直角に伸びる。

導電体４の大きさと形は例えば直線、円或いはそれらの一部が破線であるもの、 楕円、様々な幅の線、等々の様に任意に選択することができる。

検知要素１０部品、特に、導電体４、主ジャンパー線５と付加ジャンパー線６、 および他の必要な要素は公知の方法で製造することができる。

検知要素１は任意の従来技術、例えば、所与の形式の固定法として推奨される技 術を用いた試験片の表面の粘着層を介して固定される。その後、該検知要素は測 定回路３に接続される。

測定回路３は電気抵抗およびその増分を測定するための任意の公知の方法にもと ずくものである。発明の理解を容易にするため、測定回路３は抵抗Ｒ１、Ｒｚ　 、ＲｓおよびＲ４によって各アームが形成される電気的ブリッジ（第２図）とし を以後記述する。

第２図は検知要素１と、抵抗Ｒ＋　、Ｒｚ　、Ｒｓ　、Ｒａ　、電源１３および レコーダ１４を含むブリッジ回路との接続を示す。

検知要素１はその接触子７，８を介して抵抗Ｒｒ、Ｒｔからなる隣接するブリッ ジのアームに接続される。装置の出力電気信号はブリッジの一方の対角対の接続 点ＢおよびＣの間に発生しレコーダ１４で測定される。電源１３は点りとＥの間 のブリッジの他の対角対の接続点に接続される。

本発明の主題となる装置は次の様に動作する。

表面クラック１１が矢印Ａに沿って生長すると、第１の導電体４′は破壊され電 気抵抗ｒ、を有する主ジャンパー線５′が対応するブリッジアームを横切って抵 抗Ｒ８に接続され、電気抵抗ｒ２を有する付加ジャンパー線６′が他のブリッジ アームを横切って抵抗Ｒ２に接続される。

電気抵抗ｒ、は電気抵抗ｒ２と等しくないので、電気的ブリッジの平衡はくずれ る。出力電気信号Ｕ０の大きさＵ。

（第３図）は電気抵抗ｒ、とｒ２の相違により増加する。表面クラックがさらに 生長すると第２の導電体４″　（第２図）が破壊される。電気抵抗ｒ、を有する 主ジャンパー線５″は対応するブリッジアームを横切って抵抗Ｒｚに接続され、 電気抵抗ｒ２を有する付加ジャンパー線６が他のブリッジアームを横切って抵抗 Ｒ１に接続される。電気的ブリッジは平衡し、装置の出力電気信号Ｕ０は反対の 方向へ急激に変化する（第３図）。表面クランクがさらに生長すると、検知要素 １の導電体４が連続的に破壊され、出力電気信号Ｕ０の大きさＵｌに急激な変化 が起こる。

このようにして、装置の出力電気信号Ｕ、（第３図）は次の性質を有する一連の 方形の電気的パルスとなる：立ち上がりエツジの数ＦＩ、立ち下がりエツジの数 Ｆｔ、エツジの総数に＝Ｆ、−Ｆ、　、信号の大きさＵ、。

これらは発生時刻、長さおよび生長速度のような表面クラックのパラメータを指 示するものである。

測定回路３はＤＢ、　Ａ、　３５１３００５に詳細に記述される検知要素１の接 触子７，８．９および１０の電気的ポテンシャルの測定装置（図示せず）でも良 い。

装置の測定回路３は接触子７−８．７−１０間等の検知要素１の電気抵抗の変化 を直接測定するためにも用いられる。このような測定はオームメータの使用を含 んでおり、表面クランク１１の生長の過程で導電体４が破壊されるときに測定さ れる（図示せず）。

測定回路が電気的ブリッジ（第２図）であるとき、表面クラック１１の長さｆ、 の現在値は次式から決定される。

Ｉｌ、　＝　（ｋ−１）（ａ−ｂ）　−１，（１）ここでｋは出力電気信号Ｕ　 ｏ　（第３図）の立ち上がりエツジＦＩと立ち下がりエツジＦｔの総数であり、 表面クランク１１によって破壊される導電体４の数に依存し、ａは導電体４の幅 であり、ｂは隣接する導電体間の距離であり、１０は第１の導電体４の破壊の前 の表面クランク１１の初期長さである。

提案された装置を使用して生長する表面クラック１１の長さβ□を決定するため には表面クランク１１の生長が予想される場所に検知要素１が固定され検知要素 １がブリッジ回路（第２図）に挿入された後における出力電気信号Ｕｏ（第３図 ）の立ち上がりエツジの数ＦＩと立ち下がりエツジの数Ｆ２の総数を計算する必 要がある。

導電体４間の総距離（ａ−ｂ）は表面クラック１１の長さ！五が本発明に係る式 （１）における値ｋに直接比例するように（第２図）一定量として選択される。

初めの段階においては、導電体４は正確に等間隔に配置され、その場合には表面 クラック１１の長さｉ、ｉが正確に測定される。物理的な理由により表面クラッ ク１１の前進速度は多くの場合その生長とともに増加することが良く知られてい る。表面クラックの生長の初期段階において（導電体４間の距離（ａ−ｂ）が等 間隔であるとき）、最初の導電体４′の破壊と次の導電体の破壊との間の時間は 最後より１つ前の導電体４ｎ−１と最後の導電体４′１との破壊時間間隔よりも かなり長いであろう。長さ！！、が短かい表面クラック１１のパラメータの決定 における相対誤差は容認出来ない値に達する場合もある。したがって、表面クラ ンク１１の生長がしだいに早くまたは遅くなることが知られているときは、本発 明に係る導電体４は検知要素ｌの長さしにわたって距離（ａ−ｂ）が単調に変化 （増加または減少）するように設定される。言い換えれば、距離（ａ−ｂ）＝ｆ 　（Ｌ）である。

クランク抵抗について最近の構造材料をテストしたときの表面クランクの生長の 研究に関する多くの実際的な問題において、生長する表面クラック１１の先端の 前方に可塑ゾーンが形成される。このゾーンにおける変形により、その下に表面 クラックが形成されていないにもかかわらず検知要素１の導体４の破壊が引き起 こされる。可塑ゾーンは表面クラック１１の長さｊ２．とともに通常増加する。

検知要素１の導体４の早過ぎる破壊の確率を減らすため、すなわち、表面クラッ クの先端における材料の可塑的変形を伴なう検知要素１の信頬性を改善するため に、本発明によれば、導電体４の幅は検知要素１の長さしとともに変化する。こ のことは導電体間の距離（ａ＋ｂ）が一定である場合でも検知要素１の長さしに わたって変化する場合でも値すにより可能である。

このことから、導電体４の幅ａと導電体４の端部間の距離すとの間の他の関係も 考えられる。本発明によれば、各導電体４の幅ａと次の導電体４の端部までの距 離すとの比を一定にすること、或いは導電体４の幅ａと次の導電体４の端部まで の距離すとの比を単調に変化させることが可能である。

表面クランク１１の生長を実際の構造体で解析すると、表面クランクの生長経路 はしばしば直線的ではない。そのずれは表面クラックの生長の過程で増加する場 合もある。表面クランク１１は検知要素１の範囲を超えないことが必要である。

これを防止するため、提案される装置における導電体４（第４図）の長さは単調 に増加する。

さらに、表面クラックの生長経路を観察し続けることがしばしば必要である。表 面クランク１１（第５図）の生長が直線に沿っていないならば、表面クランク１ １の直角な生長からのずれＹ□とともに表面クラック１１の長さ２ｉを矢印Ａで 示す直線上に投影した長さＸを考慮しなければならない。

検知要素１の座標系Ｘ、Ｙ上で上記の２つのパラメータを決定するために、本発 明によれば、奇数番目および偶数番目の導電体４は互いに角度αをなすように回 転される。隣接する偶数番目（４”、４Ｉｖ・・・）または奇数番目（４’、４ ”’・・・）の導電体４間のギャップ内の表面クランク１１の生長速度が本質的 に変わることを考慮すれば、表面クランクのパラメータは次の関係式から決定さ れる（第６図）：Ｌ　＝　（ｋ−１）（ａ＋ｂ）　＋４２゜ここでａ＝導電体４ の幅； ｂ＝隣接する導電体４間の距離； に＝出力電気信号Ｕ０の立ち上がりエツジＦ、と立ち下がりエツジＦ２の総数； ｍ＝奇数番目（４′）から偶数番目（４”）の導電体４までの表面クラック１１ の生長の時間；ｎ＝偶数番目（４”）から偶数番目（４”’　）の導電体４まで の表面クラック１１の生長の時間；！。＝検知要素１の最初の導電体までの表面 タラツク１１の初期長さ。

出力電気信号Ｕ０の大きさＵ、は、本発明により主ジャンパー線５と付加ジャン パー線６の抵抗差（ｒｉ　ｒｚ）が一定の性質であるとき、測定回路（電気的ブ リッジを除く）内の表面タラツク１１の長さ！ｉに直接的に比例する。検知要素 が電気的ブリッジ内に挿入されるとき、主ジャンパー線５と付加ジャンパー線６ との抵抗差（ｒｌ　ｒｚ）は出力電気信号Ｕ、（第３図）の大きさＵｌすなわち 、ブリッジの不平衡を決定する。この差を増加または減少すれば提案された装置 の感度を変化させることができる。

走査モードにおいていくつかの生長する表面クランク１１のパラメータを決定す るときに、第１および第２の検知要素１に順次接続される１つの電気的ブリッジ を使用することができる。

本発明によれば、このことは主ジャンパー線５の電気抵抗ｒ、と対向する付加ジ ャンパー線６の電気抵抗ｒｔとを単調に変化させることによって達成される。付 加ジャンパー線６との抵抗差（ｒｉ　ｒｚ）を単調に変化させることも可能であ る。第７図は提案する装置の出力電気信号Ｕ、の変化を表わす。

この場合において表面クラック１１の長さ２□の測定は出力電気信号Ｕ０の立ち 上がりエツジＦ＋　と立ち下がりエツジＦ、の総数にの決定を含まない。なぜな らば、出力電気信号Ｕ０の大きさＵ、を測定すれば充分であり、それを次のよう に表面クランク１１の長さ２ｉを見い出すために用いる二ｆｉ＝ｌＵｉｌｓ ここで１Ｕｉｌ＝出力電気出力電気金さの絶対値、Ｓ＝ニスケールファク タ定回路として電気的ブリッジを使用する場合には、表面クランク１１の生長の 過程で主ジャンパー線５と付加ジャンパー線６を抵抗Ｒ１とＲｚ（第２図）に接 続することによって発生する電気抵抗ｒ、およびｒ２には成る制限が課せられる 。

測定回路の直線性は表面クランク１１が生長している間係たれなければならない 。これを防止するため、最後の導電体４″はより大きいアームＲ６とより小さい アームＲ６を有する分圧器とする９電気的ブリツジを具備する測定回路３の出力 信号Ｕ０の直線性を提供する付加的な方法は、本発明によれば、導電体４の総数 が偶数であるとき直列抵抗Ｒ？（第８図）が第１の導体４′の分圧器の小アーム Ｒ６の側に接続され導電体の総数が奇数のときは直列抵抗Ｒ’？（第１０図）が 分圧器の大アームＲ５の側に挿入されることからなっている。

検知要素１においてその一方に配置された付加ジャンパー線６が偶数番目の導電 体４″、４′Ｖのリード線を相互に接続し、検知要素１の他方に配置されたジャ ンパー線が奇数番目の導電体４ｔ、４ｎｒを相互に接続することでも提案する装 置の感度が改善される。これにより、導電体の数が偶数（第９図）であっても奇 数（第１０図）であっても主ジャンパー線５（第１図）の電気抵抗ｒ、と比較し て付加ジャンパー線６の電気抵抗ｒ！を大きくすることができる。同時に、主ジ ャンパー線５（第９．１０図）の電気抵抗ｒ、は付加ジャンパー線６（第１図） の電気抵抗ｒ２に等しい。付加ジャンパー線６と主ジャンパー線５（第９，１０ 図）の電気抵抗差（ｒｉ−ｒｚ）が主ジャンパー線５と付加ジャンパー線６（第 １図）の電気抵抗差（ｒｉ　ｒｚ）よりも大きいことにより、出力電気信号Ｕ、 （第３図）の大きさＵ、はより大きくなる。かくして、装置全体の感度は実質的 に改善される。

産業上の利用可能性 本発明は実験室および現場の条件下の特殊な試料と構造要素の試験に最も有利に 利用され得る。表面クラックの生長への個々の因子およびそれらの組み合わせの 影響にもとすく効果が実験室の試験において研究される。本発明に係る装置を使 用することにより、例えば負荷パラメータ、腐喰媒体、温度等の表面クラックの 生長に影響を及ぼす最も明白な因子の影響にさらされた最も危機的な構造体の運 転における表面クランクのパラメータを決定することができる。

実験室的試料および構造要素がクラック抵抗について試験されるとき、主要な問 題は負荷条件に依存する生長クランクのパラメータを記録することである。構造 要素の破壊は突然に発生するのであるから、生長する表面クランクの直接観察は 著しく困難であり、安全の見地からしばしば容認し難い。

したがって、緊急を要する現在の問題は妥当な設備費と必要な精度で試験中の表 面クランクの生長パラメータを自動的に測定することである。

手続補正書（方式） 平成３年１０月８日

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. １．表面クラック（１１）の生長が見込まれる場所の誘電体基部（２）に貼付さ れ多数の導電体（４′，４′′，…４ｎ）からなる検知要素（１）と検知要素（ １）に電気的に接続された測定回路（３）とを具備する表面クラックの生長パラ メータの測定装置において、 検知要素（１）内で導電体（４′，４′′′，…４ｎ）のリードは主ジャンパー 線（５′，５′′，…５ｎ−１）によって電気的に直列に相互に接続され、検知 要素はその各々が主ジャンパー線（５′，５′′，…５ｎ−１）の各々の反対側 で接続される付加ジャンパー線（６′，６′′，…６ｎ−１）を具備することを 特徴とする表面クラックの生長パラメータの測定装置。
2. ２．導電体（４′，４′′，…４ｎ）間の距離は一定である請求の範囲第１項に 記載の装置。
3. ３．導電体（４′，４′′，…４ｎ）間の距離は単調に変化する請求の範囲第１ 項に記載の装置。
4. ４．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の幅は単調に変化する請求の範囲第１項に 記載の装置。
5. ５．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の幅とそれらの間の距離との比は一定であ る請求の範囲第１，２または３項記載の装置。
6. ６．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の幅とそれらの間の距離との比は単調に変 化する請求の範囲第１，２または３項に記載の装置。
7. ７．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の長さは単調に変化する請求の範囲第１項 に記載の装置。
8. ８．偶数番目の導電体（４′′，４ＩＶ…）は奇数番目の導電体（４′，４′′ ′，…）に関して予め定められた角度で回転される請求の範囲第１項に記載の装 置。
9. ９．主ジャンパー線（５，５′′）と対向する付加ジャンパー線（６′，６′′ ）との電気抵抗の差は一定である請求の範囲第１〜８項に記載の装置。
10. １０．主ジャンパー線（５′，５′′，…，５ｎ−１）と対向する付加ジャンパ ー線（６′，６′′，…，６ｎ−１）との電気抵抗の差は単調に変化する請求の 範囲第１〜８項に記載の装置。
11. １１．表面クラック（１１）の生長の方向において最後の導電体（４ｎ）は大ア ーム（Ｒ５）と小アーム（Ｒ６）を有する分圧器となる請求の範囲第９項に記載 の装置。
12. １２．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の総数が偶数であるとき直列抵抗（Ｒ７ ）は分圧器の小アーム（Ｒ６）の例で第１の導電体（４′）に接続される請求の 範囲第１１項に記載の装置。
13. １３．導電体（４′，４′′，…４ｎ）の総数が奇数のとき直列抵抗（Ｒ７）は 分圧抵抗の大アーム（Ｒ５）の回で第１の導電体（４′）に接続される請求の範 囲第１１項に記載の装置。
14. １４．検知要素（１）の片側に配置された主ジャンパー線（６′，６′′，…， ６ｎ−１）は偶数番目の導電体（４′′，４ＩＶ，）のリードを相互に接続し検 知要素（１）の反対側に配置されたものは奇数番目の導電体（４′，４′′′） のリードを相互に接続する請求の範囲第１１項に記載の装置。