JPH0449526Y2 - - Google Patents
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- JPH0449526Y2 JPH0449526Y2 JP1986185980U JP18598086U JPH0449526Y2 JP H0449526 Y2 JPH0449526 Y2 JP H0449526Y2 JP 1986185980 U JP1986185980 U JP 1986185980U JP 18598086 U JP18598086 U JP 18598086U JP H0449526 Y2 JPH0449526 Y2 JP H0449526Y2
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- gauge
- optical path
- gauges
- calibration gauge
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、光路を遮る試験体の影により試験体
の寸法を測定する光学式測定装置の校正を行う装
置に関する。[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention relates to a device for calibrating an optical measuring device that measures the dimensions of a test object using the shadow of the test object that interrupts the optical path.
従来の技術
一般に測定装置は、測定精度を維持するために
校正が必要であつて、上記の光学式測定装置も同
様である。この場合には校正のための手段として
サイズが既知の校正ゲージが用いられている。そ
の手順としては、装置に見合つた数種のサイズの
校正ゲージを用意し、各校正ゲージ毎に測定を行
つて、測定結果の示す値が校正ゲージの値をより
正確に示すように、装置内部の演算常数の補正を
行つている。2. Description of the Related Art Measuring devices generally require calibration in order to maintain measurement accuracy, and the same applies to the above-mentioned optical measuring devices. In this case, a calibration gauge of known size is used as a means for calibration. The procedure is to prepare several sizes of calibration gauges that match the equipment, take measurements for each calibration gauge, and check the inside of the equipment so that the value indicated by the measurement result more accurately represents the value of the calibration gauge. The arithmetic constants are corrected.
考案が解決しようとする問題点
上記の校正を行うに際しては、校正ゲージを測
定装置の光路上に置き表示部の値を読み取ること
になるのであるが、光路を形成し影の検出を行う
検出部は大掛りな機械装置等に取り付けられてい
ることが多く、表示部は演算部と共に制御室等に
設置されているが一般的であるため、校正ゲージ
の取り換えを行う毎に制御室と検出部との間を往
復する必要がある。あるいは1人が制御室に、そ
してもう1人が検出部の近くに居て校正ゲージの
取り換えをするという2人掛りの作業となる。ま
た校正ゲージはサイズに比例して大きさは異なる
もののその形状は極めて似ていることから、校正
に必要なサイズとは異なるサイズの校正ゲージを
取り付けてしまう場合がある。Problems that the invention aims to solve When performing the above calibration, the calibration gauge is placed on the optical path of the measuring device and the value on the display section is read. are often installed in large-scale mechanical equipment, etc., and the display section is usually installed in a control room, etc. together with the calculation section, so each time the calibration gauge is replaced, the control room and detection section are You need to go back and forth between the two. Alternatively, it is a two-person job, with one person in the control room and the other near the detection unit replacing the calibration gauge. Furthermore, although the sizes of the calibration gauges vary in proportion to their sizes, their shapes are very similar, so there are cases where a calibration gauge of a size different from that required for calibration is attached.
本考案は上記の問題点を解消するために着想さ
れたものであつて、その目的は自動でサイズの異
なる校正ゲージを光路上に位置させることのでき
る校正装置を提供することにある。 The present invention was conceived to solve the above problems, and its purpose is to provide a calibration device that can automatically position calibration gauges of different sizes on an optical path.
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するため本考案の校正装置は、
光路を遮る試験体の影により試験体の寸法を測定
する測定装置の校正を行う装置に適用し、互いに
代表寸法の異なる複数の円柱状の校正ゲージと、
この複数の校正ゲージのうちから1つの校正ゲー
ジを指定する設定部と、複数の校正ゲージがその
中心軸を略同一として取り付けられ、複数の校正
ゲージをこの校正ゲージの中心軸方向に沿つて移
動させることにより、設定部により指定された校
正ゲージを光路に位置させる駆動部とを備えた構
成とする。そして校正を行わないときには複数の
校正ゲージを円周に沿つて移動させることによ
り、校正ゲージを光路から取り除く。Means for Solving the Problems In order to achieve the above purpose, the calibration device of the present invention has the following features:
Applicable to a device that calibrates a measuring device that measures the dimensions of a test object using the shadow of the test object that blocks the optical path, the present invention includes a plurality of cylindrical calibration gauges each having different representative dimensions;
A setting part for specifying one calibration gauge from among the plurality of calibration gauges, a plurality of calibration gauges are attached with their center axes substantially the same, and the plurality of calibration gauges are moved along the direction of the center axis of the calibration gauge. By doing so, the configuration includes a driving section that positions the calibration gauge designated by the setting section on the optical path. When calibration is not to be performed, the plurality of calibration gauges are moved along the circumference to remove the calibration gauges from the optical path.
作 用
設定部によつて複数の校正ゲージの中から1つ
の校正ゲージを指定し、駆動部によつてその校正
ゲージを光路上に位置させる。そして光路上に置
かれたこの校正ゲージの代表寸法を基にして測定
装置の校正を行う。次に他の代表寸法の校正ゲー
ジを設定部によつて指定し、駆動部によつてその
校正ゲージを光路上に位置させ、同様に測定装置
の校正を行う。以後同様の作業を他の校正ゲージ
に対して繰り返すことにより測定装置の校正が行
われ、完了する。Operation One calibration gauge is specified from among a plurality of calibration gauges by the setting section, and the calibration gauge is positioned on the optical path by the driving section. The measuring device is then calibrated based on the representative dimensions of this calibration gauge placed on the optical path. Next, a calibration gauge with another representative dimension is designated by the setting section, and the driving section positions the calibration gauge on the optical path, and similarly calibrates the measuring device. Thereafter, the same operation is repeated for other calibration gauges to complete the calibration of the measuring device.
実施例
第1図は本考案の一実施例を示す外観斜視図で
ある。Embodiment FIG. 1 is an external perspective view showing an embodiment of the present invention.
図において、例えばハロゲンランプやレンズ等
(図示されていない)を用いて平行光線を発生す
る投光部121の投光側正面には、対向する位置
に受光窓123を持つ受光部122が取り付けら
れていて、平行光線は受光窓123を通り受光部
122内のセンサーに達する。光路12はこの平
行光線の通路であり、この通路を遮ると受光窓1
23に影が生じる。 In the figure, a light receiving section 122 having a light receiving window 123 at an opposing position is attached to the front surface of the light projecting side of a light projecting section 121 that generates parallel light beams using, for example, a halogen lamp, a lens, etc. (not shown). The parallel light passes through the light receiving window 123 and reaches the sensor in the light receiving section 122. The optical path 12 is a path for this parallel light beam, and when this path is blocked, the light receiving window 1
A shadow appears on 23.
互いに異なる代表寸法をそれぞれの直径で示す
3種の円柱状の校正ゲージ11a〜11c(以下
では単に校正ゲージ11と称する)は、1つの円
柱の削り出しによつて作製され、直径の異なる3
種の円柱がその直径の大きさに従つて軸方向に連
なつた形状となつている。校正ゲージ11は、支
持軸141を介して駆動機構142に取り付けら
れており、駆動機構142内に内蔵されたギア機
構およびモーター(図示されていない)により校
正ゲージ11は、校正ゲージ11の中心軸方向
(矢印98,99によつて示す方向)へ移動可能
になつている。 Three types of cylindrical calibration gauges 11a to 11c (hereinafter simply referred to as calibration gauges 11) each having a different representative dimension with their respective diameters are manufactured by machining a single cylinder, and have three different diameters.
The seed cylinders are connected in the axial direction according to their diameters. The calibration gauge 11 is attached to a drive mechanism 142 via a support shaft 141, and a gear mechanism and a motor (not shown) built into the drive mechanism 142 allow the calibration gauge 11 to be attached to the central axis of the calibration gauge 11. direction (direction indicated by arrows 98, 99).
駆動機構142は支持アーム16によつて回転
機構15の回転軸151に連結され、この回転軸
151を中心にして駆動機構142は回転が可能
となつている。つまり校正ゲージ11は、回転軸
151を中心とする円周に沿つて移動可能となつ
ている。 The drive mechanism 142 is connected to a rotation shaft 151 of the rotation mechanism 15 by the support arm 16, and the drive mechanism 142 can rotate around this rotation shaft 151. In other words, the calibration gauge 11 is movable along the circumference around the rotating shaft 151.
第2図は本考案の装置の機構部および電気的部
分を示すブロツク線図である。 FIG. 2 is a block diagram showing the mechanical and electrical parts of the device of the present invention.
校正ゲージ11を選択し指定するために設けら
れた設定部17からは、駆動機構142の制御を
行う制御部143と、回転機構15の制御を行う
制御部155との双方に向けて信号の送出が行わ
れている。2つの制御部143,155は、各々
の制御の対象となる駆動機構142、または回転
機構15に対して駆動のための出力を送出すると
共に、これらの機構部142,15から出力さ
れ、その動作位置を示す信号の入力を行つてい
る。駆動部14は、駆動機構142およびその制
御を行う制御部143とにより構成されている。 A setting unit 17 provided for selecting and specifying the calibration gauge 11 sends signals to both a control unit 143 that controls the drive mechanism 142 and a control unit 155 that controls the rotation mechanism 15. is being carried out. The two control units 143 and 155 each send out an output for driving the drive mechanism 142 or rotation mechanism 15 that is the target of control, and also output from these mechanism units 142 and 15 to control its operation. A signal indicating the position is being input. The drive unit 14 includes a drive mechanism 142 and a control unit 143 that controls the drive mechanism 142.
以下に本考案に係る装置の動作について説明す
る。 The operation of the device according to the present invention will be explained below.
第1図における光路12の中央、つまり校正ゲ
ージ11が置かれた位置は、丸棒等の被測定物の
通路となつていて、長手方向に移動しながら次々
と一定間隔毎にその直径の測定が行われるように
なつている。そのため通常の測定が行われている
時には、駆動機構142は光路12中心から離れ
た場所に置かれるようになつている。そのための
位置としては、第1図において左下方から見て回
転軸151が反時計方向に90度回つた位置が選ば
れ、光路12上の被測定物の目視等の邪魔になら
ないようになつている。 The center of the optical path 12 in FIG. 1, that is, the position where the calibration gauge 11 is placed, serves as a path for the object to be measured, such as a round bar, and its diameter is measured one after another at regular intervals while moving in the longitudinal direction. is now being carried out. Therefore, when normal measurements are being performed, the drive mechanism 142 is placed at a location away from the center of the optical path 12. The position for this purpose was selected so that the rotating shaft 151 was rotated 90 degrees counterclockwise when viewed from the lower left in FIG. There is.
校正を行う場合には、設定部17からの信号が
制御部155に出力されて回転機構15が動作
し、駆動機構142が第1図に示す位置へと移動
する。次に設定部17から校正を行おうとする代
表寸法を入力する。するとその代表寸法に対応す
る校正ゲージを光路12上に位置させるように制
御部143は駆動機構142の制御を行う。その
ため駆動機構142は支持軸141を介して校正
ゲージ11を、矢印98の方向、あるいは矢印9
9の方向に移動させる。第1図は校正ゲージ11
bが校正に用いられている場合を示しており、校
正ゲージ11bによつて生じた影13の長さを示
す測定値が代表寸法をより良く示すように測定装
置の演算常数の補正を行う。 When performing calibration, a signal from the setting section 17 is output to the control section 155, the rotation mechanism 15 is operated, and the drive mechanism 142 is moved to the position shown in FIG. Next, the representative dimensions to be calibrated are inputted from the setting section 17. Then, the control unit 143 controls the drive mechanism 142 so as to position the calibration gauge corresponding to the representative dimension on the optical path 12. Therefore, the drive mechanism 142 moves the calibration gauge 11 through the support shaft 141 in the direction of arrow 98 or in the direction of arrow 9.
Move it in the direction of 9. Figure 1 shows the calibration gauge 11
b shows the case where it is used for calibration, and the arithmetic constant of the measuring device is corrected so that the measured value indicating the length of the shadow 13 produced by the calibration gauge 11b better indicates the representative dimension.
引き続いて他の代表寸法に対する校正を行う場
合には駆動機構142により校正ゲージ11を移
動させる。校正ゲージ11cを用いる場合には矢
印99の方向に、校正ゲージ11aを用いる場合
には矢印98の方向への移動が行われる。この移
動は設定部17から出力される信号に従い制御部
142を介して行われる。 When subsequently performing calibration for other representative dimensions, the calibration gauge 11 is moved by the drive mechanism 142. When using the calibration gauge 11c, movement is performed in the direction of arrow 99, and when using calibration gauge 11a, movement is performed in the direction of arrow 98. This movement is performed via the control section 142 according to a signal output from the setting section 17.
そして校正が終了した時には、回転機構15に
よつて駆動機構142を移動させ、被測定物の通
過の邪魔にならないと共に、光路12の目視の妨
げとならない位置へともつていく。 When the calibration is completed, the drive mechanism 142 is moved by the rotation mechanism 15 to a position where it does not interfere with the passage of the object to be measured and where it does not obstruct visual observation of the optical path 12.
なお本考案は上記実施例に限定されず、校正ゲ
ージ11の種類については3種に限定されず、そ
の他の任意の種類として、例えば10種等とする構
成が可能である。 Note that the present invention is not limited to the above embodiment, and the types of calibration gauges 11 are not limited to three types, but can be configured to have any other types, such as 10 types.
また設定部を測定装置の制御部内に設けること
により、一定の期間ごとに自動で校正を行う光学
式測定装置に適用することが可能である。 Further, by providing the setting section in the control section of the measuring device, it is possible to apply the present invention to an optical measuring device that automatically calibrates at regular intervals.
また光路12はランプとレンズによる平行光線
によつて形成される場合について説明したが、レ
ーザー光により光路が形成される装置についても
適用可能である。 Furthermore, although the case where the optical path 12 is formed by parallel light beams from a lamp and a lens has been described, it is also applicable to an apparatus in which the optical path is formed by a laser beam.
考案の効果
本考案の校正装置は、互いに代表寸法の異なる
複数の校正ゲージの中から校正を行う代表寸法の
校正ゲージを設定部によつて選択し、その代表寸
法の校正ゲージを駆動部によつて光路に位置させ
る構成となつているので、自動で寸法の異なる校
正ゲージを光路に位置させることが可能になる。Effects of the invention In the calibration device of the invention, the setting unit selects a calibration gauge with a representative dimension to be calibrated from among a plurality of calibration gauges with different representative dimensions, and the calibration gauge with the representative dimension is selected by the drive unit. Since the configuration is such that calibration gauges having different dimensions can be automatically positioned in the optical path.
第1図は本考案の一実施例を示す外観斜視図、
第2図は本考案の装置の機構部および電気的部分
を示すブロツク線図である。
11……校正ゲージ、12……光路、13……
影、14……駆動部、17……設定部。
FIG. 1 is an external perspective view showing an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a block diagram showing the mechanical and electrical parts of the device of the present invention. 11... Calibration gauge, 12... Optical path, 13...
Shadow, 14... Drive section, 17... Setting section.
Claims (1)
を測定する測定装置の校正を行う装置において、
互いに代表寸法の異なる複数の円柱状の校正ゲー
ジと、この複数の校正ゲージのうちから1つの校
正ゲージを指定する設定部と、前記の複数の校正
ゲージがその中心軸を略同一として取り付けら
れ、前記複数の校正ゲージをこの校正ゲージの中
心軸方向に沿つて移動させることにより、前記設
定部により指定された校正ゲージを前記光路に位
置させる駆動部とを備え、校正を行わないときに
は前記複数の校正ゲージを円周に沿つて移動させ
ることにより、前記校正ゲージを前記光路から取
り除くことを特徴とする校正装置。 In a device that calibrates a measuring device that measures the dimensions of a test object using the shadow of the test object that blocks the optical path,
A plurality of cylindrical calibration gauges having mutually different representative dimensions, a setting section for specifying one calibration gauge from among the plurality of calibration gauges, and the plurality of calibration gauges are attached with their central axes substantially the same, a drive unit that positions the calibration gauge designated by the setting unit on the optical path by moving the plurality of calibration gauges along the central axis direction of the calibration gauge; A calibration device characterized in that the calibration gauge is removed from the optical path by moving the calibration gauge along a circumference.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986185980U JPH0449526Y2 (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986185980U JPH0449526Y2 (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6390107U JPS6390107U (en) | 1988-06-11 |
JPH0449526Y2 true JPH0449526Y2 (en) | 1992-11-20 |
Family
ID=31135117
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986185980U Expired JPH0449526Y2 (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0449526Y2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010133944A (en) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Gleason Asia Co Ltd | Apparatus for inspecting cutter blade |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59117908U (en) * | 1983-01-31 | 1984-08-09 | 安藤電気株式会社 | Length measuring machine with comb-shaped reference device |
JPS60112761U (en) * | 1983-12-29 | 1985-07-30 | 株式会社島津製作所 | Valve switching drive device |
-
1986
- 1986-12-01 JP JP1986185980U patent/JPH0449526Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010133944A (en) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Gleason Asia Co Ltd | Apparatus for inspecting cutter blade |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6390107U (en) | 1988-06-11 |
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